DE3143583C2 - Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung - Google Patents

Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung

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DE3143583C2
DE3143583C2 DE3143583A DE3143583A DE3143583C2 DE 3143583 C2 DE3143583 C2 DE 3143583C2 DE 3143583 A DE3143583 A DE 3143583A DE 3143583 A DE3143583 A DE 3143583A DE 3143583 C2 DE3143583 C2 DE 3143583C2
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/081Analogue circuits
    • G03B7/083Analogue circuits for control of exposure time

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Abstract

Eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung (1) für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung weist einen ersten Schalter (4), der zur Wahl einer bestimmten Belichtungsmeßart benutzt wird, und einen zweiten Schalter (5) auf, der mit einem in einer Punktbelichtungsmeßschaltung (3) enthaltenden Speicherschalter (3a) zusammengeschlossen ist. Wenn nicht die beiden Schalter (4, 5) betätigt werden, um die Punktbelichtungsmeßart herzustellen, wird die Kamera veranlaßt, nach der Integralbelichtungsmeßart zu arbeiten.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Bclichtungsmeßart-Umschaltcinrichuing für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, bei der bei der Lichtmessung eine Wahl zwischen Integralbelichtungsmessung und Punktbelichtungsmessung möglich ist.
Bekanntlich läßt sich die Belichtungsmessung bei Kameras mit automatischer Belichtungssteuerung in zwei Klassen unterteilen, nämlich Integralbelichtungsmessung und Punktbelichtungsmessung (manchmal auch Spotmessung genannt). Bei der lntegralbeUchtungsmessung wird für normale zu photographierende Objekte ein annehmbares Ergebnis erzielt, wobei diese Mcßurt leichter anzuwenden ist als die Punktbelichtungsmessung. Andererseits kann die Punktbelichtungsmessung von Vorteil sein, wenn das aufzunehmende Objekt einen großen Kontrastumfang hat und ein spezielles Detail bildwichtig ist.
Da sich das bildwichtige Detail, das mit der Punktbelichtungsmessung angemessen werden soll, häufig nicht in der Mitte des Meßkreises befindet, muß bei einer Kamera gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 zusätzlich zum Meßart-Wahlschalter ein Speichorschalter vorgesehen sein, der bei der Punktbelichtungsmessung von Hand betätigt wird. Hierdurch können folgende Fehlerquellen entstehen:
1. Wenn der Benutzer der Kamera eine Aufnahme mit Integralbelichtungsmessung machen möchte, kann er fälschlich davon ausgehen, daß die Kamera auf lntegralbeUchtungsmessung eingestellt ist, während tatsächlich sich der Meßart-Wahlschalter in der Punktbelichtungs-Stcllung befindet. Wenn er dann den Verschluß unmittelbar auslost, erhält er eine falsche Belichtung, da der Speicherschalter, der zum Speichern von Belichtungsdaten benutzt wird, nicht von Hand betätigt worden ist und die Kamera in der Punktbelichtungsmeßart je nach Modell entweder ohne Belichtungsinformation oder mit einer auf ein Bild unwichtiges Detail abgestellten Belichtung arbeitel.
2. Wenn der Renutzer der Kamera eine Aufnahme mit Punklbelichiung machen möchte, kann er unter Umständen vergessen, daß der Speieherschalter nicht betätigt worden ist. um die Belichtungsdaten eines bildwichtigen Details zu speichern. Vieh in diesem Falle führt die Verschlußbetätigung au einer falschen Belichtung.
Der Benutzer der Kamera kann also die Betätigung des Meßan-Wahlschalters oder des Speichursehalters vergessen. In jedem Falle ergibt sich unter Umständen eine falsche Belichtung, die dadurch entsteht, daß bei Punktbelichtungsmessung ein bildunwichliges Detail angemessen worden ist.
Eine Kamera anderer Gattung ist au··; der DE-OS 28 38 227 bekanntgeworden. Bei dieser Kamera ist zwar ebenfalls eine Umschaltung zwischen Punktbelichtungsmessung und Integralbelichtungsmessung möglich, die bei dieser Kamera vorgesehenen .^halter S 2 und 56 wirken aber nicht als Speicherschalter im Sinne einer Kamera gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Punktbelichtungsmeßart-Umschalteinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weitet zubilden, daß Fehlbedienungen nicht zu im bildwichtigen Teil falschbelichteten Aufnahmen führen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst Durch die erfindungsgemäß vorgesehene Umschaltlogikschaltung erhält man eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung mit Priorität der Integralbelichtungsmessung. Hierdurch wird erreicht, daß immer dann, wenn der Benutzer der Kamera eine Fehlbedienung ausführt, die Belichtung entsprechend dem Integral erhaltenen Belichtungswert erfolgt, so daß Fehlbelichtungen wie bei dem vorstehend erläuterten Beispiel, bei dem die Belichtung nach einem bildunwichtiger. Teil erfolgen kann, ausgeschlossen sind. Anders ausgedrückt erlaubt die Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung gemäß Patentanspruch 1 die Durchführung einer Aufnahme mit Punktbelichtungsmessung nur dann, wenn vorher eine Anmessung und Speicherung in der Punktbelichtungs-Betriebsart erfolgt ist.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben. ^o
Im folgenden ist die Erfindung mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten anhand eines schcmatisch dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
In den Zeichnungen zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung mit einer Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung; :s
F i g. 2 ein Schaltdiagramm eines in einer Kamera gemäß F i g. 1 enthaltenen bestimmten Schaltkreises:
F i g. 3 einen schematischen Schnitt durch eine Kamera zur Erläuterung der Anordnung photometrischer oder photoelektrischer Wandlerelemente gemäß F i g. 2.
In einer Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung ist eine Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 mit dem Ausgang einer lntegralbelichtungsmeßschaltung 2 und einer Punktbelichtungsmeßschaltung 3 verbunden. Der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ist ein Speichersehalter 3a zugeordnet, der zum Speichern eines photometrischen Wertes benutzt wird, welcher die Helligkeit eines aufzunehmenden Objektes darstellt. Die Umschalteinrichtung 1 weist einen ersten Schalter 4, der zur Wahl einer bestimmten Belichtungsmeßart benutzt wird, einen zweiten Schalter 5, der mit dem Spcicherschalter 3,7 zusammengeschlossen ist, und eine Umschaltlogikschaltung 6 auf, die auf die Ausgangssignale des ersten und zweiten Schalters 4 und 5 so anspricht, daß sie entweder das Ausgangssignal der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 oder der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 an eine Verschlußantriebsschaltung 7 weitergibt. Es sei darauf hingewiesen, daß sowohl der erste als auch der zweite Schalter 4, 5 an der Außenseite der Kamera an einer für die Handbetätigung leicht zugänglichen Sieiie vorgesehen ist. Die beiden Belichtungsmeßschaltungen 2 und 3 erhallen als Eingangssignal ein Ausgangssignal von einer Belichtungsinformation-Vorcinstellschaltung 8.
Eine bestimmte Schaltkreisanordnung der in Fig. I gezeigten Kamera ist in Fig. 2 dargestellt. Wie Fig. 2 zeigt, weist für Zwecke der Integrallichtmcssung die Integralbelichiungsmeßschaltung 2 einen Operationsverstärker 21 auf, der einen invertierenden und einen nichtinvertierenden Eingiingsanschluß hat, an die ein lichtelektrisches Wandlerelement 20 angeschlossen ist. dessen Anode mit dem invertierenden Eings ngsanschluß verbunden ist. Zusätzlich ist eine logarithmische Verdichtungsschaltung mit einem NPN-Transistor 22 an den Ausgangsanschluß und den invertierender Eingangsanschluß des Funktionsverstärkers 21 angeschlossen, wobei der Kollektor und die Basis des Transistors 22 miteinander und mit dem invertierenden Eingangsanschluß verbunden sind, während der Emitter mit dem Ausgangsanschluß des Operationsverstärkers verbunden ist. Wie aus Fig.3 zu entnehmen ist, geht Licht von einem aufzunehmenden Gegenstand, welches auf die Kamera 10 auftrifft, durch ein Aufnahmeobjektiv 11 und wird dann von einem beweglichen Spiegel 12 in Richtung auf ein Scharfeinstellscheibe 14 reflektiert, die an einer Stelle einem Film 13 zugeordneten Stelle angeordnet. Ferner weist die Kamera ein Pentaprisma 15 sowie ein Okular 16 eines Suchers auf. Das Wandlerelement 20 ist innerhalb des Suchers z. B. zwischen dem Pentaprisma 15 und dem Okular angeordnet, so daß es einen Teil des erwähnten Lichts empfängt, wodurch die Lichtmessung in einem verhältnismäßig groß ausgedehnten Bereich der Abbildung eines aufzunehmenden Objekts oder im wesentlichen im gesamten Bildfeld vorgenommen wird.
Wie F i g. 2 zeigt, ist der Ausgangsanschluß des Funktionsverstärkers 21 über einen Aufnahmeinformütionsanzeiger 23 geerdet und außerdem über einen Speicherschalter 24 mit einem Ende eines Speicherkondensators 25 und mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß eines weiteren Operationsverstärkers 26 verbunden. Der Speicherschalter 24 ist in Abhängigkeit von der Aufwärtsbewegung des beweglichen Spiegels 12 (siehe F i g. 3) t>o aus seiner geschlossenen in seine geöffnete Stellung bewegbar und kehrt in die geschlossene Stellung zurück, wenn der zweite Verschlußvorgang läuft. Das andere Ende des Speicherkondensators 25 ist geerdet. Da der Operationsverstärker 26 einen mit einem Ausgangsansehluß verbundenen invertierenden Eingangsanschluß hat, entsteht ein Scheinwiderstandsumwandler, der bewirkt, daß die Aufnalimcdatcn während einer längeren Zeitspanne am Speicherkondensator 25 gespeichert werden. Die Spannung am nichtinvertierenden Eingangsan- h3 Schluß entspricht also der Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 26. Der Ausgangsansehluß des Operationsverstärkers 26 ist mif dem Emitter eines NPN-Transistors 27 verbunden, welcher eine logarythmische Expansion ermöglicht. Die Basis des Transistors 27 ist geerdet, während der Kollektor mit einem Anschluß eines
Integrationskondensators 28 verbunden ist, dessen anderer Anschluß geerdet ist, und ist außerdem über einen Schalter 29 mit einem Anschluß 30 verbunden, an dem eine Bezugsspannung VR 1 anliegt. Der Schalter 29 wechselt von geschlossenem in geöffneten Zustand über, wenn die Aufwärtsbewegung des beweglichen Spiegels 12 beendet ist. Der Kollektor des Transistors 27 ist auch mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß eines
5 Operationsverstärkers 31 verbunden, während der invertierende Eingangsanschluß und der Ausgangsanschluß so miteinander verbunden sind, daß sie ähnlich wie beim Operationsverstärker 26 einen Scheinwiderstandsumwandler bilden. Der Ausgangsanschluß des Operationsverstärkers 31 ist mit dem invertierenden Eingangsanschluß einer Vergleichsschaltung 32 verbunden, deren nichtinveriierender Eingangsanschluß mit einem Anschluß 33 verbunden ist, an dem eine Bezugsspannung VR 2 anliegt. Die Vergleichsschaltung 32 vergleicht die an
ίο ihren invertierenden Eingangsanschluß angelegte Spannung mit der Bezugsspannung VR 2 und erzeugt an ihrem Ausgangsanschluß immer dann ein Signal von »L«-Niveau, wenn der Pegel am invertierenden Eingang höher ist als die Bezugsspannung und ein Signal von »H«-Niveau, wenn die Bezugsspannung VR 2 höher ist. Der Ausgangsarischluß der Vergleichsschaltung 32 ist mit einem Eingang eines NAND-Gatters 65 verbunden, welcher einen der Signaleingängc für die Umsehaltlogikschaltung 6 darstellt.
is Die Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ist im wesentlichen ähnlich aufgebaut wie die lntegralbelichtungsmeßschaltung 2. Insbesondere weist die Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ein lichtelektrisches Wandlerelement 40 auf. welches für die Punktbelichiungsmcssung benutzt wird, einen Operationsverstärker 41 zur logarithmischen Verdichtung, einen NPN-Transistor 42, einen Aufnahmeinformationsanzeiger 43, einen Speicherkondensator 45, einen Operationsverstärker 46, der als Scheinwiderstandsumwandler wirkt, einen NPN-Transistor 47 zur logarithmischen Expansion, einen Integrationskondensator 48, einen weiteren Operationsverstärker 51, der gleichfalls als Scheinwiderstandsumwandler wirkt, und eine Vergleichsschaltung 52. die alle ebenso angeschlossen und verbunden sind, wie die entsprechenden Teile in der Intcgralbelichtungsmcßschaltung 2, so daß eine nochmalige Beschreibung unnötig ist. Der einzige Unterschied zwischen der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 und der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 besteht darin, daß das Wandlerclemcnt 40, welches bei der Punktlichtmeßart benutzt wird, außerhalb des Weges des Aufnahmelichtes bzw. unterhalb des beweglichen Spiegels 12 angeordnet ist. um einen Bruchteil des durch das Aufnahmeobjektiv 11 hindurchtretenden Lichtes aufzunehmen, den ein in der Mitte des beweglichen Spiegels 12 ausgebildeter, halbdurchlässiger Spiegel 12a durchgelassen hat und der von einem photometrischen Spiegel 17 reflektiert worden ist. welcher an der Rückseite des beweglichen Spiegels 12 angeordnet ist, wie Fig.3 zeigt. Auf diese Weise kann das Wandlerelement Licht aus einem
jo verhältnismäßig stark eingegrenzten Bereich der Abbildung eines aufzunehmenden Objekts empfangen, d. h. im wesentlichen aus dem zentralen Bereich des Bildfeldes. In F i g. 2 entspricht der Speicherschalter 44 dem für die Integralbelichtungsmeßschaltung 2 gezeigten Speicherschaltcr 24. ist jedoch im Gegensatz zu diesem vor einer Aufnahme von Hand zu betätigen, auch wenn der Speicherschaltcr 24 geöffnet wird, wenn sich der bewegliche Spiegel 12 nach oben zu bewegen beginnt. Der Speicherschalter 44 entspricht also dem in Fig. 1 gezeigten
j-; Speicherschalter 3a. Allerdings sei erwähnt, daß der Speicherschalter 24 nicht allein betätigt wird, sondern in synchronisiertem Verhältnis mit dem Schließen eines zweiten Schallers 82 (5) geöffnet wird, wie weiter unten noch näher erläutert wird. Der zweite Schalter 82 wird ebenso wie der Speicherschalter 44 geöffnet, wenn der zweite Verschlußvorgang abläuft. Da der Kollektor des Transistors 47 mit dem Kollektor des in der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 enthaltenen Transistors 27 verbunden ist, wird die Bezugsspannung VR 1 über den Schalter 29 der Integralbelichtungsmeßsehaltung 2 an den Kollektor des Transistors 47 angelegt. Der Ausgangsanschluß einer Vergleichsschaltung 32. der den Ausgangsanschluß der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 darstellt, ist mit einem Eingang eines NAN D-Gatters 66 verbunden, der den anderen Signaleingang der Umsehaltlogikschaltung 6 darstellt.
Mit dem nichtinvertierenden Eingangsanschluß der Operationsverstärker 21,41 der beiden Belichtungsmeßschaltungen 2 und 3 ist der Ausgangsansehluß eines Operationsverstärkers 54 verbunden, der die Belichtungsinformation-Voreinstellschaltung 8 bildet. Dieser Operationsverstärker 54 hat einen invertierenden Eingangsanschluß, der über einen Widerstand 55 mit einem Anschluß 56 verbunden ist. an dem eine Bezugsspannung VR 3 anliegt, und hat außerdem einen nichtinvertierenden Eingangsanschluß, der geerdet ist. Eine Reihenschaltung aus einem Regelwiderstand 57, welcher entsprechend der Filmempfindlichkeit eingestellt ist, einem Regelwiderstand 58, der zur Bestimmung der Blendenöffnung dient, und einem halbfesten Widerstand 59. ist an den Ausgangsanschluß und der. invertierenden Eingangsiänschlüß des Operationsverstärkers 54 angeschlossen, wodurch ein invertierender Verstärker geschaffen wird. Auf diese Weise liefert die Belichtungsinformation-Voreinstellschaltung 8 Belichtungsdaten hinsichtlich der Filmempfindlichkeit und Blendenöffnung, die logarithmisch verdichtet sind, an die beiden Belichtungsmcßschaltungen 2 und 3.
Zu der Umsehaltlogikschaltung 6 der Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 gehört im wesentlichen ein Meßart-Wahlschaltkreis 63 mit NAND-Galtern 60,61 und 62 und ein Schaltkreis 68 mit einem Inverter 64 und NAND-Gattern 65, 66 und 67, die an die Ausgangsseite des Schaltkreises 63 angeschlossen sind. Die NAND-Gatter 60 und 61 sind mit einem ihrer Eingänge mit dem Ausgang des anderen Gatters verbunden, so daß sie ein R-S-Flipflop bilden. Der andere Eingangsanschluß des NAND-Gatters 60 ist über einen Widerstand 70 mit
oo einem Anschluß 71 verbunden, an den eine Zufuhrspannung Vcc angelegt wird, und ist außerdem über einen Schalter 82 geerdet. Wie schon erwähnt, stellt der Schalter 82 den zweiten Betätigungsschalter 5 dar (siehe F i g. 1) und ist mechanisch mit dem Speicherschalter 44 (3a) verriegelt, der in der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 enthalten ist. Normalerweise ist der zweite Schaller 82, wie gezeigt, offen, wenn der Speicherschalter 44 geschlossen ist. Der andere Eingangsanschluß des NAND-Gatters 61 ist mit einem Anschluß 72 verbunden, an
b5 den beim Einschalten der Einrichtung ein negativer Rückstcllimpuh R 1 angelegt wird. Das R-S-Flipflop erzeugt ein Ausgangssignal vom NAND-Gatter 60, der davon abhängt, ob der Schalter 82 offen oder geschlossen ist Im einzelnen hat das Ausgangssignal des NAND-Gatters 60, jedesmal wenn die Einrichtung eingeschaltet wird, »L«-Niveau. wenn der Schalter 82 offen ist (Speicherschalter 44 geschlossen), und hat »H«-Niveau. wenn der
Schalter 82 geschlossen ist (Spcicherschaller 44 offen). Der Ausgangsanschluß des NAND-Gatters 60 ist mit einem Eingangsanschluß des NAND-Gatlers 62 verbunden, dessen anderer Eingangsanschluß über einen Widerstand 73 geerdet ist. und ist außerdem über einen Schalter 81 mit dem Anschluß 71 verbunden, an dem die Speisespannung Vw anliegt. Der Schalter 81 entspricht dem im Zusammenhang mit F ig. I erwähnten ersten Schalter 4. der zur Wahl der Belichtungsmcßan benutzt wird. Wenn er offen ist. ist die lntegrallichtmeßan > gewählt, während durch Schließen des Schalters 81 die Punktlichtmeßari gewählt werden kann. Das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 hängt von der Stellung des ersten Schalters 81 und dem Ausgangssignal des NAN D-Gatters 60 oder der Stellung des zweiten Schalters 82 ab. Wenn der erste Schalter, wie gezeigt, offen ist, um die lntegrallichtmeßan herzustellen, hat ein Eingangssignal des NAND-Gatters 62 »L«-Niveau, so daß das Ausgangssignaides NAND-Gatters62unabhängig vom Ausgangssignaides NAND-Gatters60und unabhängig von der Stellung des zweiten Schalters 82 »H«-Niveau annimmt. Wenn umgekehrt der erste Schalter 81 geschlossen ist, um die Punktlichtmeßart herzustellen, wird ein Eingangssignal von »H«-Niveau über den Schalter 81 an das NAND-Gatter 62 angelegt, und folglich hängt das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 60 bzw. der geöffneten oder geschlossenen Stellung des zweiten Schalters 82 ab. Insbesondere sind zwei Eingangssignal des Gatters 62 bei geöffnetem zweitem Schalter 82 auf »H«- bzw. »L«-Niveau, während, wenn der zweite Schalter 82 geschlossen ist, beide Eingangssignale des NAND-Gatters auf »H«-Niveau sind. Bei geschlossenem erstem Schalter 80 hat also das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 »H«-Niveau, wenn der zweite Schalter 82 offen ist, und »L«-Niveau, wenn der zweite Schalter 82 geschlossen ist. Das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 läßt sich anhand der Stellung des ersten und zweiten Schalters 81 bzw. 82 wie in der nachfolgenden Tabelle gezeigt zusammenfassen.
zweiter Schalter 82 erster Schalter 81
(Speichersehalter 44) offen geschlossen
offen HH
(geschlossen) (Integral) (Integral)
geschlossen H L
(offen) (Integral) (Punkt-
messung) J0
Der Ausgangsanschluß des NAND-Gatters 62 ist mit dem anderen Eingang des NAND-Gatters 65 verbunden, dessen übriger Eingang mit dem Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 verbunden ist. und ist außerdem über einen Inverter 64 an den anderen Eingang des N AN D-Gatters 66 angeschlossen, dessen anderer Eingang mit dem Ausgangsanschluß der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 verbunden ist. Da ein Ausgangssignal mit »L«-Niveau des NAND-Gatters 62 entweder am NAND-Gatter 65 oder am NAND-Gatter 66 anliegt, hat das Ausgangssignal desjenigen der NAND-Gatter 65 und 66, an dem das Ausgangssignal mit »L«-Niveau anliegt, ein »H«-Niveau unabhängig vom Ausgangssignal der zugehörigen Lichtmeßschaltung. Andererseits hängt das Ausgangsniveau des anderen der NAND-Gatter 65 und 66, an welchem das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 von »H«-Niveau anliegt, vom Ausgangssignal der zugehörigen Beüchtungsmcßschaltung ab. Mit anderen Worten, jedesmal wenn das NAND-Gatter 62 ein Ausgangssignal mit »H«-Niveau hat, ist das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 66 auch »H«, unabhängig vom Ausgangssignal der Punktbelichtungsmeßschaltung 3, während das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 65 vom Ausgangssignal der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 abhängt. Wenn umgekehrt das NAND-Gatter 62 ein Ausgangssignal »L«-Niveau hat, hat das -»5 Ausgangssignal des NAND-Gatters 65 »H«-Niveau, unabhängig vom Ausgangssignal der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, während das Ausgangsniveau des NAND-Gatters 66 vom Ausgangssignal der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 abhängt. Folglich wird entweder der Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, wenn der Ausgang des NAND-Gatters 62 »H«-Niveau hat, oder der Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3, wenn der Ausgang des NAND-Gatters 62 »L«-Niveau hat, an den Ausgangsanschluß des einen oder anderen NAND-Gatters 65 oder 66 verbunden. Diese Ausgongsanschlilsse sind mit zwei Eingängen eines NAND-Gatters 67 verbunden, dessen Ausgangsanschluß übe"r einen Widerstand 75 mit der Basis eines in der Verschlußantriebsschaltung 7 enthaltenen PNP-Transistors 76 verbunden ist. Der Kollektor des Transistors 76 ist über einen Elektromagneten 77 geerdet, welcher den zweiten Verschlußvorhang am Laufen hindert, während der Emitter mit dem Anschluß 71 verbunden ist, an dem die Zufuhrspannung Vcc anliegt.
Bei Benutzung der erfindungsgemäßen Einrichtung nehmen nach-beendetem Filmaufzug und vor Beginn der Belichtung die Schalter 24, 29,44 und 82 die in F i g. 2 gezeigten Stellungen ein. Betrachtet man zunächst die Integrallichtmeßart, so ist der erste Schalter 81 offen. Wenn die Einrichtung unter diesen Umständen eingeschaltet wird, erfolgt eine Integrallichtmessung. Wie in der obigen Tabelle angegeben, hat das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 ein »H«-Niveau, so daß die Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung 1 eine Belichtungssteuerung mit Hilfe der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 ermöglicht.
In Abhängigkeit vom Beginn des Verschlußauslösebetriebs wird der Speicherschalter 24 geöffnet, wenn der bewegliche Spiegel 12 (siehe F i g. 3) sich nach oben zu bewegen beginnt. Belichtungsdaten, die logarithmisch verdichtet werden, werden am Speicherkondensator 25 gespeichert. Es erfolgt ein Stromfluß in einer Art ähnlich der Spannung am Speicherkondensator 25 vom Anschluß 30 über den Schalter 29 in den Kollektor des Transi- *>s stors 27. Bei Beendigung der Aufwärlsbewegung des Spiegels 12 wird der Schalter 29 geöffnet, wodurch der erste Verschlußvorhang zu laufen beginnt, was eine Belichtung in Gang setzt. Der Integrationskondensator 28 wird anfangs auf das Niveau der Bezugsspannung VR 1 geladen und beginnt sich über den Transistor 27 in
Abhängigkeit von Belichtungsdaten zu entladen, die am Speicherkondensator 25 gespeichert sind. Beim Entladen des Integrationskondensators 28 nimmt die Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 31 allmählich ab. Vor dem Verstreichen der logarithmisch expandierten Belichtungszeitspanne bleibt die Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 31 höher als die Bezugsspannung VR 2, die an der Vergleichsschaltung 32 anliegt, welche folglich ein Ausgangssignal mit »L«-Niveau erzeugt. In diesem Zeitpunkt hat das Ausgangssignal des NAND-Gatters 65 »H«-Niveau, so daß das Ausgangssignal des NAND-Gatters 67 »L«-Niveau hat, wodurch der Transistor 76 durchgeschaltet wird, um den Elektromagneten 77 erregt zu halten und dadurch den zweiten Verschlußvorhang am Laufen zu hindern. Wenn die logarithmisch expandierte Belichtungsperiode verstreicht, sinkt die Spannung am Integrationskondensator 28 oder die Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 31 ·· ίο unter das Niveau der Bezugsspannung VR 2, woraufhin das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung 32 auf »H«-Niveau umschaltet. Infolgedessen ändert das Ausgangssignal des NAND-Gatters 65 sein Niveau zu »L«; r und dadurch ändert das Ausgangssignal des NAN D-Gatters 67 sein Ausgangsniveau zu »H«, was den Transistor
abschaltet, um den Elektromagneten 77 zu entregen, so daß der zweite Verschlußvorhang zum Schließen des ; Verschlusses ablaufen kann.
H 15 Betrachtet man nun die Punktbelichtungsmeßart, so wird diese durch anfängliches Schließen des ersten j''; Schalters 81 hergestellt. Wenn die Einrichtung eingeschaltet wird, wird der zweite Schalter 82 geschlossen. Da
-:■; der zweite Schalter 82 mit dem in der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 enthaltenen Speicherschalter 44 zusam-
ς· mengeschlossen ist, wird der Schalter 82 betätigt, wenn die Kamera so auf ein aufzunehmendes Objekt gerichtet
■ή ist, daß die Abbildung des Objekts zentral im Bildfeld angeordnet ist. Ist der erste und zweite Schalter 8t, 82
ί;ΐ 20 geschlossen, so läßt die obige Tabelle erkennen, daß das Ausgangssignal des N AN D-Gatters 62 »L«-Niveau hat, [| was eine Belichtungssteuerung mit Hilfe der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 ermöglicht.
η Der Speicherschalter 44 wird in Abhängigkeit vom Schließen des zweiten Schalters 82 geschlossen, so daß
p: durch Punktbelichtungsmessung erhaltene und logarithmisch verdichtete Belichtungsinformation am Speicher-
kondensator 45 gespeichert wird. Anschließend bewegt der Benutzer der Kamera diese so. daß eine gewünschte
ö 25 photographische Komposition durch Bewegen der Abbildung des aufzunehmenden Objekts zu einer geeigneten $ Stelle im Bildfeld erzielt wird, ehe der Verschluß ausgelöst wird. Da der anschließende Betrieb ähnlich ist wie im
Fall der Integralbelichtungsmeßschaltung 2, wird er nicht näher erläutert.
l| Ehe die logarithmisch expandierte Belichtungszeitspanne verstreicht, die von den am Speicherkondensator 45
IJ gespeicherten Belichtungsdaten bestimmt wird, hat das Ausgangssignal der Vergleichsschaltung 52 »L«-Niveau
JO und das Ausgangssignal des NAND-Gatters 66 »H«-Niveau, so daß das Ausgangssignal des NAND-Gatters 67 auf »L«-Niveau liegt, was den Elektromagneten 77 erregt hält, um den zweiten Verschlußvorhang am Laufen zu hindern. Wenn die Belichtungszeitspanne verstreicht, ändert der Ausgang der Vergleichsschaltung 52 sein Niveau zu »H«, was ein Entregen des Elektromagneten 77 bewirkt, wodurch der zweite Verschlußvorhang sich zum Schließen des Verschlusses bewegen kann.
Schließlich soll noch der Zustand erörtert werden, der sich einstellt, wenn die Betätigung des ersten und/oder zweiten Schalters 81, 82 vergessen wird. Wie schon gesagt, kann es auf zweierlei Weise zur Nichtbetätigung dieser Schalter kommen.
1. Wenn ein Benutzer der Kamera eine Aufnahme im Wege der Integralbelichtungsmessung machen möchte, kann er den Verschluß unter der Bedingung auslösen, daß der die jeweilige Belichtungsmeßart bestimmende erste Schalter 81 geschlossen ist. wodurch die Punkibelichtungsmeßart durch Unachtsamkeit oder Vergessen hergestellt wird. Hierbei ist der erste Schalter 81 geschlossen, während der zweite Schalter 82 offen ist, so daß, wie aus der obigen Tabelle erkennbar ist, das Ausgangssignal des NAND-Gatters 62 der Umschaltlogikschaltung 6 auf »H«-Nivcau liegt, wodurch das NAND-Gatter 65 aufgesteuert wird, um eine Belichtungssteuerung in Übereinstimmung mit dem Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 zu ermöglichen. Da der zweite Schalter 82 nicht betätigt worden ist. bleibt in diesem Zeitpunkt der Speicherschalter 44 der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 geschlossen, so daß Belichtungsinformation in Form eines am Speicherkondensator 45 gespeicherten Wertes unbestimmt ist, was dazu führt, daß die Punktbelichtungsmeßschaltung einen irreführenden Belichtungssteuerausgang an die Umschaltlogikschaltung 6 liefert.
so Dieser Ausgang wird jedoch vom NAND-Gatter 66 blockiert, welches dann zugesteuert wird und verhindert, daß der Verschluß in Übereinstimmung mit diesem falschen Belichtungssteuerausgang gesteuert wird. Auf diese We"'se wird die vom Benutzer beabsichtigte Belichtungssteuerung gemäß der integraibeiichtungsmeßart erzielt.
2. Wenn ein Benutzer der Kamera eine Aufnahme nach der Punktbelichtungsmeßart machen möchte, kann er den Verschluß auslösen, ehe der zweite Schalter 82 betätigt bzw. geschlossen wurde, da er fälschlicherweise annimmt, daß der zweite Schalter bereits geschlossen ist, obwohl im klar ist, daß der erste Schalter 81 in geschlossene Stellung gebracht wurde, das der Punktbelichtungsmeßart entspricht. Unter diesen Umständen bleibt die geöffnete oder geschlossene Stellung des ersten und zweiten Schalters 81,82 die gleiche wie oben erwähnt, so daß der Ausgang der Punktbelichtungsmeßschaltung 3 vom NAND-Gatter 66 Dlockiert wird, welches dann zugesteuert ist, während ein Ausgang der Integralbelichtungsmeßschaltung 2 durch das NAND-Gatter 65 geleitet werden kann, um zur Belichtungssteuerung benutzt zu werden. Es ist erkennbar, daß unter diesen Umständen zwar eine Belichtungssteuerung erfolgt, die nicht auf der vom Benutzer beabsichtigten Punktbelichtungsmeßart beruht, daß aber die Verschlußsteuerung entsprechend einer falschen Belichtungszeit, die sonst bei der Punktbelichtungsmessung erfolgen würde, vermieden werden kann.
to Es kann also ein akzeptabler Aufnahmevorgang nach der Integralbelichtungsmeßart erreicht werden.
Wenn, wie schon erwähnt, erfindungsgemäß der erste Schalter 81 in die der Punktbelichtungsmessung
:ntsprechende Stellung gebracht wird, erfolgt immer eine Belichtungssteuerung in Übereinstimmung mit der
ntegralbelichtungsmessung, wenn nicht der zweite Schalter 82, der einmalig für die Punktbelichtungsmessung
.orgesehen ist, positiv betätigt wird, um eine falsche Belichtungssteuerung zu vermeiden, die sonst geschehen
cönnte, wenn der zweite Schalter bei der Punktbelichtungsmcßart nicht betätigt würde.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:
1. Belichtungsmeßari-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung, bei der ein von Hand betätigbarer Wählschalter (4,81) die Umschaltung zwischen lntegralbeUchtungsmessung und Punktbelichtungsmessung ermöglicht, und die erhaltene Selichtungsinformation in Abhängigkeit von der Betätigung eines Speicherschalters (3a, 44) speicherbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise der Speicherschalter (3a, 44) von Hand betätigbar und eine Umschaltlogikschaltung (6) vorgesehen ist, die auf die Ausgangssignale des Wahlschalters (4, 81) und des Speicherschalters (3a, 44) anspricht, und die nur dann eine Punktbelichtungsmessung ermöglicht, wenn sich der Wahlschalter (4,81) in der Punktbelichtungsstellung befindet und der Speicherschalter (3a, 44) vor der Aufnahme betätigt worden ist.
2. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein mit dem Speicherschalter (3a, 44) gemeinsam betätigter Zusatzschalter (5,82) vorgesehen ist, dessen Ausgangssignal an der Umschaltlogikschaltung (6) anliegt.
3. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichiung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschaltlogikschaltung (6) einen Belichtungsmeßartschaltkreis (63), der ein erstes logisches Ausgangssignal immer dann erzeugt, wenn der Wahlschalter (4,81) und der Zusatzschalter (5,82) bzw. der Speicherschalter (3a, 44) in Stellungen gebracht sind, die der Punktbelichtungsmeßart entsprechen, und sonst ein zweites logisches Ausgangssignal, sowie einen Schaltkreis (68) mit zwei Eingängen, an denen ein Ausgangssignal bzw. ein weiteres Ausgangssignal des Belichiungsmeßartschaltkreises (63) anliegt, und zwei weiteren Eingängen aufweist, an denen Ausgangssignale anliegen, die bei Integralbelichtungsmessung bzw. Punktbelichtungsmessung erzeugt werden, und der wahlweise dann ein Ausgangssignal zur Punktbelichlungsmessung angibt, wenn das erste logische Ausgangssignal vom Punktbelichtungsmeßartschaltkreis (63) erzeugt wird, und immer dann ein Ausgangssignal für lntegralbeUchtungsmessung, wenn das zweite logische Ausgangssignal vom Punktbelichtungsmeßartschaltkreis (63) erzeugt wird.
4. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Belichlungsmeßartschaltkreis (63) ein R-S-Flipflop (60,61), das in Abhängigkeit von der Stellung des Zusatzschalters (82) ein Signal erzeugt, und ein NAND-Gatter (62) aufweist, das einen ersten Eingangsanschluß, an dem das Ausgangssignal des Flipflops anliegt, und einen zweiten Eingangsanschluß aufweist, an dem ein der Stellung des Wahlschalters (81) entsprechendes Signal anliegt.
5. Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Schaltkreis (68) einen Inverter (64), der den Ausgang des Belichtungsmeßartschaltkreises (63) invertiert, zwei NAND-Gatter (65, 66), an deren einem Eingangsanschlußpaar ein nichtinvertiertes bzw. ein vom Inverter (64) invertiertes Ausgangssignal des Belichtungsmcßartschalikrcises (3) anliegt, während an deren anderem Eingangspaar ein bei lntegralbeUchtungsmessung erhaltenes Ausgangssignal bzw. ein bei Punktbelichtungsmessung erhaltenes Ausgangssignal anliegt, und ein NAND-Gatter (67) aufweist, deren beide Eingangsanschlüsse mit dem jeweiligen AusgangsanschlulJ der beiden NAND-Gatter(65,66) verbunden sind.
DE3143583A 1980-11-08 1981-11-03 Belichtungsmeßart-Umschalteinrichtung für eine Kamera mit automatischer Belichtungssteuerung Expired DE3143583C2 (de)

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