DE3140349A1 - Einrichtung zum auslesen und/oder einschreiben einer optisch auslesbaren informationsstruktur - Google Patents

Einrichtung zum auslesen und/oder einschreiben einer optisch auslesbaren informationsstruktur

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DE3140349A1 DE19813140349 DE3140349A DE3140349A1 DE 3140349 A1 DE3140349 A1 DE 3140349A1 DE 19813140349 DE19813140349 DE 19813140349 DE 3140349 A DE3140349 A DE 3140349A DE 3140349 A1 DE3140349 A1 DE 3140349A1
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Description

PHN 9862 * \ 21.2.1981
Einrichtung zum Auslesen und/oder Einschreiben einer optisch auslesbaren Informationsstruktur
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Auslesen und/- oder Einschreiben einer optisch auslesbaren und in Spuren geordneten Informationsstruktur auf einem Aufzeichnungsträger· mit einer, ein optisches Bündel liefernden Strahlungsquelle, einem Objektivsystem zum Fokussieren des Bündels zu einem Strahlungsfleck in der Ebene der Informationsstruktur, einem einstellbaren Element zum Verschieben des Strahlungsflecks quei' zur Spurrichtung und mit einem Strahlungsfleck-Detektorsystem zum Bestimmen der Position des Strahlungsflecks in bezug auf eine Spur, welches Detektorsystem mit einer Elektronikschaltung zum Erzeugen eines Steuersignals für das einstellbare Element verbunden ist.
Das einstellbare Element kann durch ein gesondertes Element gebildet -werden, z.B. durch einen kippbaren Spiegel oder ein kippbares Prisma, oder durch ein bereits im .Strahlungsweg befindliches Element, dessen Stellung einstellbar ist. Als Beispiele können ein quer zur Spurrichtung bewegbares Objektivsystem oder eine quer zur Spurrichtung bewegbare Strahlungsquelle, beispielsweise ein Diodenlaser, erwähnt werden.
Unter einem Spurfolgeservosystem sei ein System zur Bestimmung einer Abweichung zwischen der Mitte des Strahlungsflecks und der Mi.tte eines auszulesenden Spurabschnitts und zum Erzeugen eines Steuersignals, das dieser Abweichung proportional ist, verstanden.
Eine derartige Einrichtung zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers , in den ein Videoprogramm eingeschrieben ist, ist u.a. aus der US-PS 3 931 k59 bekannt. Das Spurfolgeservosystem enthält dort zwei strahlungsempfindliche Detektoren, die im "fernen" Feld der Informationsstruktur angeordnet sind, an beiden Seiten einer Linie, die der Spurriclit-Uiifi proportional, is L. Dur Uji I urHchitM-l zwisclnüi den Ausgangssignalen dieser Detektoren stellt die Grosse und
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die Richtung der Abweichung der Stellung des Ausleseflecks in bezug auf die Mitte einer auszulesenden Informationsspur dar. Dieses Signal wird, gegebenenfalls nach der Verstärkung, einem Antriebselement für einen zwischen der Strahlungsquelle
■5 und dem Objektivsystem angeordneten kippbaren Spiegel zugeführt, mit dem die Lage des Ausleseflecks nachgeregelt werden kann. .
Die Einrichtung nach der US-PS 3 931 459 ist zum Auslesen eines strahlungsdurchlassigen Aufzeichnungsträgers ausgelegt, bei dem der kippbare Spiegel an einer Seite und die Spurfol-gedetektoren an der anderen Seite des Aufzeichnungsträgers angeordnet sind. Bei einer Kippung des Spiegels aus seiner Mittelstellung ändert sich die Richtung der.Bündelachse und somit die Position dieser Achse in bezug auf die Spurfolge-
^ detektoren.Ein gleicher Effekt ergibt sich in einer Einrichtung zum Auslesen eines Strahlungsreflektierenden Aufzeichnungsträgers, in dem ein kippbares, halbdurchlässiges Elemsib zur Verschiebung des Strahlungsflecks benutzt wird, und der Bündelteil, der von der Informationsstruktur reflektiert ist und vom halbdurchlässigen Element durchgelassen wird,für die Spurf olgedetektion- benutzt wird. In einer Einrichtung zum Auslesen eines strahlungsreflektxerenden Aufzeichnungsträgers, in dem ein kippbarer und völlig reflektierender . Spiegel zum Verschieben des Strahlungsflecks benutzt wird,
wird, wenn dieser Spiegel sich nicht genau in der Brennflache des Objektivsystems befindet, bei der Kippung des Spiegels die Bündelachse sich in bezug auf die Spurfolgedetektoren verschieben. Steht der kippbare Spiegel in der letztgenannten Einrichtung tatsächlich in der Brennfläche des Ob- .
jektivsystems, aber ist die Intensitätsverteilung innerhalb des Bündels asymmetrisch, beispielsweise wenn die Strahlungsquelle ein Diodenlaser ist, so hat eine Kippung des Spiegels eine Änderung in der Intensitätsverteilung über die Spurfolgedetektoren zur Folge, die von der Lage des Strahlungsflecks in bezug auf eine auszulesende Informationsspur unabhängig ist. Wird die Verschiebung des Strahlungsflecksquer zur Spurrichtung durch Verschiebung des Objektivsystems oder -cli'i- S 1,I1JiIiJ uiifvnqtiellOherbeigeführt, so führt diese Versehie-
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bung zu einer Verschiebung der Bündelachse gegen die Spurfolgedetektoren, die von der Lage des Strahlungsflecks in bezug auf die Mitte einer Informationsspur unabhängig ist. In allen erwähnten Einrichtungen zum Einschreiben und/oder Auslesen ist das mittels der Spurfolgedetektoren erzeugte Spurfolgesignal ausser von der Lage des Ausleseflecks in bezug auf eine auszulesende Informationsspur v?eiter noch von der Stellung des einstellbaren Elements zum Verschieben des Strahlungsflecks quer zur Spurrichtung ab-
^ hängig. Dadurch kann der Auslesefleck nach einer. Lage nachgeregelt werden, die nicht mit der Mitte einer auszulesenden ^r., Informationsspur zusammenfällt, d.h. die Mitte des Ausleseflecks bewegt sich neben der Mitte der Informationsspur. Venn die Änderung in der Stellung des einstellbaren Elements
'^ zum Verfolgen von Informationsspuren mit grossen Exzentrizitäten gross ist, kann der Einfluss dieser'Änderung auf die Intensitätsverteilung über die Spurfolgedetektoren sogar grosser sein als die der Abweichung zwischen der Mitte des Ausleseflecks und der Mitte der Informationsspur. Die Stellung des einstellbaren Elements ist die Winkelstellung eines kippbaren Elements oder die Stellung eines verschiebbaren Elements quer zur optischen Achse des Systems, das durch die übrigen Elemente im Strahlungsweg gebildet wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Auslese- und/oder Einschreibeinrichtung zu 'schaffen, in der der Einfluss der Stellung des einstellbaren Elements auf das Steuersignal für dieses Element beseitigt werden kann.
Diese Aufgabe wird bei der Einrichtung nach der Erfindung dadurch gelöst, dass in dieser Einrichtung ein Stellungdetektionssystem zur Bestimmung der Stellung des einstellbaren Elements, von welchem Detektionssystem der Ausgang mit einem Eingang der Elektronikschaltung verbunden ist, so dass diese Schaltung ein für die Stellung des einstellbaren Elements korrigiertes Steuersignal erzeugen kann. Die Eri'iijdunü' wird mil verschiedenen Ausl'Ühi'uii^,-,-
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formen nach Fig. 1 , 2 und 3 a-n Hand einer Einrichtung zum Auslesen eines strahlungsreflektierenden Aufzeichnungsträgers näher erläutert.
In Fig. 1 ist ein Aufzeichnungsträger 1 in radialem Schnitt dargestellt. Die Informationsstruktur besteht aus einer Vielzahl von Informationsspuren 2, die selbst wieder aus nicht dargestellten Informationsgebieten abwechselnd mit Zwischengebieten aufgebaut sind. Die Informationsstruktur kann sich an der Oberseite des Aufzeichnungsträgers befinden, so dass durch das" durchsichtige Substrat 3 des Aufzeichnungsträgers hindurch ausgelesen wird, wobei das Substrat als Schutzschicht dient. Die Informationsstruktur wird mit einem Auslesestrahl 7 aus einer Strahlungsquelle 6, beispielsweise einem Heliüm-Neon-Laser, angestrahlt. Das Bündel 7 wird von einem schematisch mit einer einzigen Linse angegebenen Objektivsystem 9 zu einem Auslesefleck V auf der Informationsstruktur fokussiert.
In den Strahlungsweg ist ein Bündeldeflektlonselement aufgenommen. Dieses Element hat die Form eines Spiegels 10, der um seine Achse 11 in Richtung des Pfeiles 12 mit Hilfe des schematisch angegebenen Antriebs 4i kippbar ist. Der Spiegel 10 kann beispielsweise dadurch angetrieben werden, dass er mit einer Drahtwicklung umwickelt ist, die sich in einem Magnetfeld befindet, das von ein Polschuhpaar erzeugt wird. Das Durchfliessen der Wicklung mit einem elektrischen Strom bewirkt die Beschleunigung oder Verzögerung der Drehung des Spiegels. Ein derartiger Spiegelantrieb ist beispielsweise in der US-PS 4 123 1^-6 beschrieben.
Das von der Informationsstruktur reflektierte Bündel durchstrahlt das Ob-jektivsystern zum zweiten Male und wird anschliessend vom Spiegel 10 in Richtung auf die Strahlungsquelle 6 reflektiert. Zum Trennen des reflektierten, von der Informationsstruktur modulierten, Bündels von dem von der Quelle 6 ausgestrahlten Bündel können im R'trahlungswefj auf bekannte Weise ein polarisationsempfindliches Teilprisrna 13 und eine 7X /4-Plat'te 14 angebracht
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sein, in der Λ. die Wellenlänge des Auslesebündels darstellt. Das Prisma 13 reflektiert das vom Aufzeichnungsträger herrührende Bündel nach einem strahlungsempfindlichen Detektorsystem 15· Bei der Drehung des Aufzeichnungsträgers mittels einer von einem Motor 5 getriebenen Achse k variiert das Ausgangssignal des Detektorsystems entsprechend der Aufeinanderfolge von Informationsgebieten und Zwischengebieten in einer Informationsspur.
Zum Detektieren der Lage des Ausleseflecks in · bezug auf eine zu lesende Informationsspur besteht das Detektorsystem 15 aus zwei Detektoren, beispielsweise Photodioden 16 und 17, die im sogenannten "fernen Feld" der Informationsstruktur angeordnet sind. Dies bedeutet, dass die Detektoren in einer Ebene angeordnet sind, in ; der die Zentren der verschiedenen Beugungsordnungen, die: gebildet werden, wenn der Auslesefleck auf ein kleines Informationsgebiet projiziert wird, ausreichend getrennt sind. Beispielsweise können die Detektoren in einer Abbildung der Eintrittspupille des Objektivsystems angeordnet sein. Gemäss der Beschreibung in der US-PS 3 93I ^59, wird die Intensitätsverteilung auf die Detektoren 16 und 17 durch die Lage des Ausleseflecks V in bezug auf die Mitte einer auszulesenden Informationsspur 2 bestimmt. Die Ausgangssignale der Detektoren 16 und 17 gelangen an eine Subtraktionsschaltung 18, deren Ausgangssignal, oder Spurfolgesignal, S durch die Grosse und die Richtung einer Abweichung zwischen der Mitte des Ausleseflecks und der Mitte der auszulesenden Informationsspur bestimmt wird. Dieses Signal wird, gegebenenfalls über einen Verstärker 19, einem Antrieb hl zum Kippen des Spiegels 10 derart zugeführt, dass das Signal S gleich 0 vird. Ein Signal S., das die ausgelesene Information darstellt, kann durch Addition der Signale der Detektoren 16 und 17 in der Schaltung 20 erhalten werden.
Aus praktischen Gründen ist es oft nicht möglich, die Mitte des Spiegels 10 in die Brennebene des Objektivsystems zu bringen. Dabei wird die Position des' vom Aufzeichnungsträger und vom Spiegel 10 reflektierten
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Bündels, also auch die Position des auf die Detektoren und 17 fallenden Bündels, von der Stellung des Spiegels .10 abhängig sein, wodurch die Inteftsitätsverteilung auf die Detektoren 16 und 17 mit durch die Stellung des Spiegels 10 bestimmt wird. Wenn die Intensitätsverteilung in "dem von der Quelle 6 ausgestrahlten Bündel asymmetrisch ist, ist die Intensitätsverteilung auf die Detektoren und .17 auch von der Stellung- des Spiegels 10 abhängig, sogar wenn die Mitte des Spiegels 10 sich tatsächlich in der Brennebene des Objektivsystems befindet. In den erwähnten Fällen ist das Spurfolgesignal. S , und damit das Steuersignal S , also von der Stellung des Spiegels 10 ab-
.hängig.
Zur Beseitigung dieser Abhängigkeit enthält die Einrichtung ein Winkelstellungsdetektionssystem 21. Dieses System enthält eine Strahlungsquelle 22, beispielsweise eine lichtemittierende Diode, die ein Bündel k2 ausstrahlt, eine Linse 23 und zwei Detektoren 2k und 25» beispielsweise Photodioden. Die Rückfläche 45 des Spiegels 10 ist reflektierend gemacht und sendet das von der Quelle 22 ausgestrahlte Bündel zur Fläche der Detektoren 2k und 25,' bei denen das Bündel von der.Linse 23 in dieser Fläche fokussiert wird. Das System kann so eingerichtet sein, dass, wenn sich der Spiegel 10 in der Mittelstellung befindet, das Bündel 42 in bezug auf die Detektoren 24 und 25 symmetrisch ist. Bei der Kippung des Spiegels 10 aus seiner Mittelstellung bekommt das reflektierte Bündel 42 eine andere Richtung, wodurch einer der Detektoren 24 und;25 mehr Strahlung als der andere empfängt» Die'Signale der Detektoren 24 und 25 gelangen an eine Subtraktionsschaltung-26. Das Ausgangssignal S dieser Schaltung wird durch die Grosse und die Richtung des Kippwink.els des Spiegels 10 bestimmt. Dieses Signal, das genau so gross ist wie diese Komponente im Signal S , die die Folge der Kippung des Spiegels 10 ist, gelangt an eine Subtraktionsschaltung 27, der auch das Signal S zugeführt wird.. Das Aus-
^angssignal S der Schaltung 27 ist dann von der Winlcelc .
stellung des Spiegels 10 unabhängig.
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Hinsichtlich der Abhängigkeit des Signals S von der Stellung des den Auslesefleck V verschiebenden Elements 10 ist die Einrichtung nach Fig. 1 einer Einrichtung vergleichbar, in der das Objektivsystem oder die Strahlungsquelle zur Verschiebung der Lage des Ausleseflecks quer zur Spurrichtung bewegt wird. Die Verschiebung des Objektivsystems oder der Strahlunsgquelle quer zur Spurrichtung kann auf bekannte Weise gemessen werden, beispielsweise mit einem induktiven Aufnehmer oder auf optischem Wege durch Anbringen eines Spiegels auf dem Objektivsystems oder auf der Strahlungsquelle und durch Zuführen eines Strahlungsbündels zu diesem Spiegel unter einem spitzen Winkel. Im Weg des vom Spiegci-l" reflektierten Bündels sind zwei s trahlungs empfind liehe Detektoren derart angeordnet, dass beim Bewegen des Objektivsystems oder der Strahlungsquelle quer zur Spurrichtung sich das Bündel quer zur Trennlinie der Detektoren über diese Detektoren verschiebt.
In der Einrichtung nach Fig. 1 ist die Abhängigkeit des Signals S von der Lage des den Auslesefleck verschiebenden Elements kleiner als in einer Einrichtung zum Auslesen eines strahlungsdurchlässigen Aufzeichnungs- * trägers oder in der Anordnung nach Fig. 2, in der jener Teil des vom Aufzeichnungsträgers reflektierten Bündels, das durch das Bündelablenkelement 30 hindurchf ällt, für die Spurfolgedetektion benutzt wird. In Fig. 2 arbeitet das Ablenkelement 30 auch als Bündelteiler. Dieses Element besteht aus zwei Teilen 3I und 32, die unter Zwischenfügung einer bundeltrennenden Schicht 33 zu einem Kubus zusammengefügt sind. Ein derartiges Ablenkelement hat bei einem gegebenen Steifheitsmass eine geringere Massenträgheit als ein flacher Spiegel mit gleicher Steifheit und kann bewegt werden, ohne dass dabei grosse Streuresonanzen auftreten, was aus re^eltechnischem Blick-' prinkt vorteilhaft ist. Ausserdem ist nunmehr die bündel-' trennende Schicht völlig eingeschlossen, wodurch sie atmosphärischen Einflüssen nicht unterworfen ist und auch nicht mechanisch beschädigt werden kann. Die bündeltrennende
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2P 25
Schi chi. 'VJ kann durch eint? teilweise reflektierende Schicht oder durch eine polarisationsempfindliche Schien-1 gebildet werden, wobei im letzten Pail wieder eine 7K/k-Platte vor dem Objektivsystem angebracht sein muss. Der Kubus kann mit Hilfe nicht dargestellter elektromagnetischer Mittel gekippt werden» Vorzugsweise haben diese Mittel die Form gemäss der Beschreibung in der älteren nicht vorveröffentlichen niederländischen Patentanmeldung 80 O2958, deren Inhalt als Teil der vorliegenden Beschreibung betrachtet wird.
Die Rückfläche Jk des Kubus 30 ist reflektierend gemacht und über die Stellung dieser Ebene wird die Winkelstellung der Schicht 33 mit Hilfe der Strahlungsquelle 22, der Lins.e 23, der Detektoren 2k und 25 und der Subtraktionsschaltung 26 wie in der Einrichtung nach Pig. 1 detektiert.
Um zu erreichen, dass das Signal S nur von der Kippung der Fläche 3^ und nicht von anderen Bewegungen des Kubus 32, beispielsweise von einer Bewegung dieses Kubus in Richtung auf die Quelle 35 abhängig ist, werden die Elemente des Stellungsdetektorsystems derart angeordnet, dass die Mitte der Quelle 22 und die Trennlinie der
. Detektoren 2k und 25 in einer Ebene liegen, die parallel ·
zur Drehungsachse 11 des Kubus·verlauft. In Fig. 2 befinden sieh die Strahlungsquelle 22 und die Linse 23 beispielsweise hinter der Zeichenebene, wie mit den gestrichelten Linien angegeben, während dabei die Detektoren 2k und 25 vor der Zeichenebene liegen. Auch in der Einrichtung nach Fig. T können die Elemente 22, 23, 24 und 25 in bezug auf die Drehachse 11 analog der Fig. 2". angeordnet sein.
In der Einrichtung nach Fig. 2 wird die Strahlungsquelle durch einen Halbleiterdiodenlaser gebildet. Eine derart i.r;ti Strahlungsquelle kann auch in der Einrich-Lung nach Fig. 3 benutzt werden. In dieser Einrichtung arbeitet das Ablenkelement 36 wieder als Bündelteiler. Dieses Element besteht aus einer planparallelen durchsichtigen Platte 37j auf der eine teilweise reflektierende
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Schicht 38 angebracht ist.
In der Einrichtung nach Fig. 3 enthält das Stellungdetektionssystem keine getrennte Strahlungsquelle, sondern wird der Teil 7' des Auslesebündels 7» das von der Schicht 38 durchgelassen wird, für die Stellungdetektion benutzt. Dieser Bündelteil trifft die zwei Detektoren 2k und 25 des Stellungdetektxonssystems. Der Bündelteil 7' wird von der Platte 37 parallel zu sich selbst verschoben, wobei die Verschiebung eine Funktion des Einfallswinkels des Bündels 7 auf der Platte 37 ist. Wenn die Platte 37 beispielsweise in ihrer Mittelstellung steht, verlässt der Bündelteil 7' diese Platte, die mit den ausgezogenen Linien angegeben ist, und trifft symmetrisch die Detektoren 2k und *25· Mit den gestrichelten Linien ist der Verlauf des Bündelteils 71 angegeben, für den Fall die Platte 37 linksherum gedreht ist. Statt einer planparallelen Platte "3.7 kann in der Einrichtung nach Fig. 3 auch ein Kubus benutzt werden.
Zum Detektieren der Stellung des Ablenkelements kann auch die geringe Strahlungsmenge, die an der Frontfläche k3 des Kubus 3P reflektiert wird, benutzt werden. Diese Frontfläche kj bildet dabei einen spitzen Winkel mit der Achse des Bündels J, wie in Fig. 2 mit gestrichelten Linien angegeben ist. Die von der Fläche 43 reflektierte Strahlung wird von der Linse 8 zu einem Strahlungsfleck in der Ebene der mit gestrichelten Linien angegebenen Detektoren 2k und 25 des Stellungdetektorsystems fokussiert. Wenn die Quelle 35 ein Diodenlaser ist, können die Detektoren 2k und 25 mit dieser Quelle auf einer Scheibe aus Halbleitermaterial integriert sein.
Wenn das einstellbare Element von einer Magnetspule angetrieben wird, wobei ein festes Verhältnis zwischen der Stellung dieses Elements und der Xmpe.da.nz oder Selbstinduktivität der Spule besteht, kann die Stellung des einstellbaren Elements elektronisch aus der Selbstinduktivität abgeleitet werden.
Die Erfindung ist auch in einer Einrichtung zum Einschreiben von Informationen in einen Aufzeichnungs-
·: : · Γ: Γ 3Η03Α9
PHN 9862 yd 4Z 20. 2.1 98I.
I rMf.1;«ί'!< <"> t'por v(M.'w«'iifl1mT', dor mit etiiiu· opt i sell dot.ek(.i er-
f ' baren Servospur versehen ist, in die oder neben der die Information eingeschrieben werden muss, feine derartige Einschreibeinrichtung kann gemäss der beschriebenen Ausleseeinrichtungen aufgebaut sein, vie beispielsweise die nach Fig. 3, aber in der die Strahlungsquelle eine höhere Intensität als diejenige ausstrahlt, die zum Auslesen ausreicht. Im Strahlungsweg muss, wenn die Strahlungsquelle beispielsweise ein Gaslaser ist, ein Intensitätsmodulator 39j beispielsweise ein akustisch-optischer oder magnetooptischer Modulator angebracht sein, dessen Eingangsanschlüssen ho das einzuschreibende Signal, das ein Audio-, "w ein Video- oder ein Datensignal sein kann, zugeführt wird. Ist die 'Strahlungsquelle ein Diodenlaser, wird kein Modulator benötigt und kann der Diodenlaser vom Audiosignal, Videosignal oder Datensignal gesteuert werden. Es ist dafür gesorgt, dass der Bündelverteiler 38 der grösste Teil der Strahlung reflektiert und nur einen geringen . Teil durchlässt. Der Aufzeichnungsträgerkörper reflek-. ■ tiert auch beim Einschreiben genügend Strahlung, um die
" oben beschriebene Spurverfolgung- zu ermöglichen.
25
30
35

Claims (3)

  1. PHN 9862 KT- 21.2.19S1
    PATENTANSPRÜCHE
    /Π Λ Einrichtung zum Auslesen und/oder Einschreiben einer optisch auslesbaren und in Spuren geordneten Informationsstruktur auf einem Aufzeichnungsträger, mit einer ein optisches Bündel liefernden Strahlungsquelle, einem Objektiv-Λ system zum Fokussieren des Bündels zu einem Strahlungsfleck in der Ebene der Informationsstruktur, einem einstellbaren Element zum Verschieben des Strahlungsflecks quer zur Spurrichtung, und mit einem Strahlungsfleck-Detektorsystem zum bestimmen der Position des Strahlungsflecks in bezug auf eine Spur, welches Detektorsystem mit einer Elektronikschaltung zum Erzeugen eines Steuersignals für das einstellbare Element, dadurch gekennzeichnet, dass in dieser Einrichtung ein Stellungdetektionssystem (21 , 22, 23 ,"24, 25, 26) zur Bestimmung der Stellung des einstellbaren Elements (10,30»36) verbunden ist,
    ^ von welchem Detektorsystem (27) der Ausgang mit einem Eingang der Elektronikschaltung verbunden ist, so dass diese Schaltung ein für die Stellung des einstellbaren Elements korrigiertes Steuersignal (S ) erzeugen kann. ;■
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, in der das einstellbare= Element durch ein kippbares und teilweise reflektierendes Element gebildet wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Stellungsdetektionssystem aus zwei strahlungsempfindlichen Detektoren (24,25) besteht, die im Weg des von der Strahlungsquelle ,(35) ausgestrahlten und vom kippbaren Element (36)' durchgelassenen Bündelteils (.7 ' ) angeordnet ist, von welchen Detektoren die Ausgänge mit einer Subtraktionsschaltung (d^ verbunden sind.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, in der das einstellbare
    Element aus einem kippbaren Prisma mit einer teilweise reflektierenden Fläche besteht, dadurch gekennzeichnet, dass die auf die Strahlungsquelle (35) gerichtete Fläche (43) des Prismas (30) einen spitzen Winkel mit der Achsu des von dc;r Strahlungsquelle ausgesandten Bündels (7) bildet und dass"
    PHN yö62 ys. 2, 21.2.1981
    das Stellungdetektionssystem zwei im Weg des von der erwähnten Fläche (^3) des Prismas reflektierten Bündelteils angeordnete, s tr ahlungs empfindliche !Detektoren (24, 25) und eine Subtraktionsschaltung (26) enthält, deren Eingänge mit den Ausgängen der Detektoren verbunden sind.
    K. Einrichtung nach Anspruch 1, in der'das einstellbare Element church ein kippbares und zumindest teilweise reflektierendes Element gebildet wird, dadurch gekennzeichnet,, dass eine von der Strahlungsquelle abgewandte Fläche (-^5, 3*0 des kippbaren Elements (10, 30") reflektierend ist und dass das Stellungsdetektionssystem eine Hilfsstrahlungsquelle (22) und zwei strahlungsempfindliche Detektoren • (2h,- 25) enthält, die im Weg des von der Hilfsstrahlungsquelle ausgestrahlten und von der reflektierenden Fläche (4-5, 34) reflektierten Bündels (42) angeordnet ist, von welchen Detektoren die Ausgänge mit den Eingängen einer Subtraktionsschaltung (26) verbunden sind, und dass die HiIfsstrahlungsquelle und die Trennlinie der Detektoren in einer Eebene liegen, die parallel zur Drehachse (11) des kippbaren Elements verläuft. \
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