DD213543A5 - Einrichtung zum auslesen und/oder einschreiben einer optisch auslesbaren informationsstruktur - Google Patents

Abstract

Es wird eine Einrichtung zum Auslesen und / oder Einschreiben einer optisch auslesbaren und in Informationsspuren geordneten Informationsstruktur auf einem Aufzeichnungstraeger beschrieben, die ein Buendelablenkelement enthaelt,das von einem Steuersignal aus einem Spurfolgeservosystem gesteuert wird. Die Einrichtung ist mit einem Stellungsdetektionssystem zum Detektieren der Stellung des Ablenkelements versehen, und das Signal dieses Detektionssystems gelangt an einen Eingang des Servosystems zum Erzeugen eines von der erwaehnten Stellung unabhaengigen Steuersignals.

Description

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Einrichtung zum Auslesen und/oder Einschreiben einer optisch auslesbaren Informationsstruktur .

Anwendungsgebiet der Erfindung

DieErfindung betrifft eine Einrichtung zum Auslesen und/oder Einschreiben einer optisch auslesbaren und in Spuren geordneten Informations struktur auf einem Aufzeichnungsträger mit einer, ein optisches Bündel liefernden Strahlungsquelle, einem Objektivsystem zum Fokussieren des Bündels zu einem Strahlungsfleck in der Ebene der Informationsstriiktur, einem einstellbaren Element zum Verschieben des Strahlungsflecks quer zur Spurrichtung und mit einem Strahlungsfleck-Detektorsystem zum Bestimmen der Position des Strahlungsflecks in bezug auf eine Spur, welches Detektorsystem mit einer Elektronikschaltung zum Erzeugen eines Steuersignals für das einstellbare Element verbunden ist«,

Das einstellbare Element kann durch ein gesondertes Element gebildet werden, z. B. durch einen kippbaren Spiegel oder ein kippbares Prisma, oder durch ein breites im Strahlungsweg befindliches Element, dessen Stellung einstellbar ist» Als [Beispiele können ein quer zur Spurrichtung bewegbares Objektivsystem oder eine quer zur Spurrichtung bewegbare Strahlungsquelle, beispielsweise ein Diodenlaser, erwähnt werden« ' -V" '·/ . '. .:'

Unter einem Spurfolgeservosystem sei ein System zur Bestimmung einer Abweichung zwischen der Mitte des Strahlungsflecks und der Mitte eines auszulesenden Spurabschnitts und zum Erzeugen eines Steuersignals, das dieser Abweichung proportional ist» verstanden·

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Charakteristik der bekannten technischen -Lösungen,

Eine derartige Einrichtung zum Auslesen eines Aufzeichnungsträgers, in dem ein Videoprogramm eilige schrieben ist, ist u. a. aus der US-PS 3 931 459 bekannt. Das SpurfοIgeservosystem enthält dort zwei strahlungsempfinäliche Detektoren, die im ^rtfernen" Feld der Informationsstruktur angeordnet sind, an beiden Seiten einer Linie, die der Spurrichtung proportional ist* Der Unterschied zwischen dem Ausgangssignalen dieser Detektoren stellt die Größe und die Richtung der Abweichung der Stellung des Ausleseflecks in bezug auf die Mittel einer auszulesenden Informationespur dar. Dieses Signal wird, gegebenenfalls nach der Verstärkung, einem Antriebselement für einen zwischen der Strahlungsquelle und dem Objektivsystem angeordneten kippbaren Spiegel zugeführt, mit dem die Lage des^Ausleseflecksι nachgeregelt werden kann.

Die Einrichtung nach der US-PS 3 931 459 ist zum Auslesen eines strahlungsdurchlassigen Aufzeichnungsträgers ausgelegt, bei dem der kippbare Spiegel an einer Seiteund die Spurfölgedetektoren an der anderen Seite des Aufzeichnungsträgers angeordnet sind. Bei einer Kippung des Spiegels aus seiner Mittelstellung ändert sich die Sichtung der Bündelachse und somit die Position dieser Achse in bezug auf die Spurfolge«- detektoren. Ein gleicher Effekt ergibt sich in einer Einrichtung zum Auslesen eines strahlungsreflektierenden Aufzeichnungsträgers, in dem ein kippbares, halbdurcklässiges Element zur Verschiebung des Strahlungsflecks benutzt wird, und der Bündelteil, der von der Informationsstruktu!. reflektiert ist und vom halbdurchlässigen Element durchgelassen wird, für die Spurfolgedetektoren benutzt wird. In einer Einrich·» tung zum Auslesen eines Strahlungsreflektierenden Aufzeichnungsträgers, in dem ein kippbarer und völlig reflektierender

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Spiegel zum Versehieben des Strahlungsflecks benutzt wird, wird sich, wenn dieser Spiegel eich nicht genau in der Brennfläche des Objektivsystems befindet, bei der Kippung des Spiegels die Bündelachse in bezug auf die Spurfolgedetektoren verschieben. Steht der kippbare Spiegel in der letztgenannten Einrichtung tatsächlich in der Brennfläche des Objektivsystems, aber ist die Intensitätsverteilung innerhalb des Bündels asymmetrisch, beispielsweise wenn die Strahlungsquelle ein Diodenlaser ist, so hat eine Kippung des Spiegels eine Änderung in der Intensitätsverteilung über die Spurfolgedetektoren zur Folge, die von der Lage des Strahlungsflecks in bezug auf eine auszulesende Informationsspur unabhängig ist· Wird die Verschiebung des Strahlungsflecks quer zur Spurrichtung durch Verschiebung des Objektiv-Systems oder der Strahlungsquelle herbeigeführt, so führt diese Verschiebung zu einer Verschiebung der Bündelachse gegen die Spurfolgedetektoren, die von cte'jf Lage des Strahlungs». flecks in bezug auf die Mitte einer Informationsspurunabhängig ist. . . .^: - -' ..·. : . ".' / -^:;- ; ·' · ' ^:'

In allen erwähnten Einrichtungen zum Einschreiben und/oder Auslesen ist das mittels der Spurfoigedetektoren erzeugte Spurfolgesignal außer von der Lage des Ausleseflecks in bezug auf eine auszulesende Informationsspur weiter noch von der Stellung des einstellbaren Elements zum Verschieben des Strahlungsflecks quer zur Spurrichtung abhängig. Dadurch kann der Auslesefleck nach einer Lage nachgeregelt werden, die nicht mit der Mitte einer auszulesenden Informationsspur zusammenfällt, d» tu die Mitte des Ausleseflecks bewegt sich neben der Mitte der Informationsspur* Wenn die Änderung in der Stellung des einstellbaren Elements zum Verfolgen von Informationsspuren mit großen Exzentrizitäten groß ist, kann der Einfluß dieser Änderung auf die Inten-

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sitätsverteilung über die Spurfolgedetektoren sogar größer sein als die der Abweichung zwischen der Mitte des Auslese- ; flecks und der Mitte der Infarmationsspur« Ί

Die Stellung des einstellbaren Elements ist die Winkelstellung eines kippbaren Elements oder die Stellung eines verschiebbaren Elements quer zur optischen Achse des Systems, das durch die übrigen Elemente im Strahlungsweg gebildet

Ziel der Erfindung Γ

Ziel der Erfindung ist es,v.d.i'e vorgenairinteh lachteile des Standes der Technik zu vermeidene " : . :

Darlegung dee Wesens der Erfindung;;

Der Erfindung liegt die. Aufgabe.zugrunde, eine Auslese- und/oder Einschreibeeinrichtung zu schaffen, in der der Einfluß der Stellung des einstellbaren Elements auf das Steuersignal für dieses Element beseitigt werden kann»

Diese Aufgabe wird bei der Einrichtung nach der Erfindung dadurch gelöst, daß in dieser Einrichtung ein Stellungsdetektionssystem zur Bestimmung der Stellung des einstellbaren Elements, von welchem Detektionssystem der Ausgang mit einem Eingang der Elektronikschaltung verbunden Ist·, so daß diese Schaltung ein für die Stellung des einstellbaren Elements korrigiertes Steuersignal erzeugen kannv

Die Einrichtung ist weiter dadurch gekennzeichnet, daß das Stellungsdetektionssystem aus zwei strahlungsempfindlichen Detektoren besteht, die im Weg des von der Strahlungsquelle

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auBgestrsLhlten und vom kippbaren Element durchgelässenen Bündelteils angeordnet ist/ von welchen Detektoren die Ausgänge mit einer Substraktionsschaltung verbunden Bind. Die auf die Strahlungequelle gerichtete Fläche des Prismas bildet einen spitzen Winkel mit der Achse des von der Strahlungsquelle ausgesandten Bündels, Das Stellungsdetektionssystem enthält zwei im Weg des von der erwähnten Fläche des Prismas reflektierten Bündelteils angeordnete, strahlungsempfindliche Detektoren und eine Substraktionsschaltung,. deren Eingänge mit den Ausgängen der Detektoren verbunden sind. Eine von der Strahlungsquelle abgewandte Fläche des kippbaren Elements ist reflektierend. Das Stellungsdetektiönssystem enthält eine Hilfsstrahlungsquelle und zwei strahlungsempfindliche Detektoren, die im Weg des von der Hilfsstrahlungsquelle ausgestrahlten und von der reflektierenden Fläche reflektierten Bündels angeordnet ist. Die Ausgänge der Detektoren sind mit den Eingängen einer Substraktionsschaltung verbunden. Die Hilfsstrahlungsquelle und die Trennlinie der Detektoren liegen in einer Ebene, die parallel zur Drehachse des kippbaren Elements verläuft.

Ausführunffs be isp ieI

Die Erfindung wird mit verschiedenen Ausführungsformen nach Fig. 1, 2 und 3 an Hand einer Einrichtung zum Auslesen eines Strahlungsreflektierenden Aufζeichriungsträgers näher erläutert. . . . ·.·'.. .· " ' /,· · -" ^: .' ' ' ;. .. " " ·^:' ^: ' .' ;:' , ' ' . -

In Fig. 1 ist ein Aufzeichriungsträger 1 in radialem Schnitt dargestellt. Die Informationöstrukt^ur bestöht aus einer Vielzahl von Inforinationsspuren 2, die selbst wieder aus nicht dargestellten Informationsgebieten abwechselnd mit Zwischengebieten aufgebaut sind. Die Informationsstruktur kann sich

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an der Oberseite des Aufzeichnungsträgers befinden,' so daß durch das durchsichtige Substrat 3 des Aufzeichnungsträgers hindurch ausgelesen wird, wobei daß Substrat als Schutz« schicht dient» Die Informationsstruktur wird mit einem Auslesestrahl 7 aus einer Strahlungsquelle 6_$ beispielsweise einem HeIium-Neon-» Laser, angestrahlt. Der AuBlesestrahl 7 wird von einem schematisch mit einer einzigen Linse angege> benen Objektivsystem 9 zu einem Auslesefleck V auf der Informationsstruktur fokussiert.

In den Strahlungsweg ist ein BÜndeldeflektionselement aufgenommen. Dieses Element hat die Form eines Spiegels 10, der um seine Achse 11 in Richtung des Pfeiles 12 mit Hilfe des schematisch angegebenen Antriebs 41 kippbar "ist« Der Spiegel 1.0; kann beispielsweise dadurch angetrieben werden, daß er mit einer Drahtwicklung umwickelt istj die sich in einem Magnetfeld befindet, das von einem Polschuhpaar erzeugt wird. Das Durchfließen der Wicklung mit einem elektrischen Strom bewirkt die Beschleunigung oder Verzögerung der Drehung des Spiegels, Ein derartiger Spiegelantrieb ist beispielsweise in der US-PS 4 123 146 beschrieben·

Das von der Informationästraktur reflektierte Bündel durchstrahlt das Objektivsystem zum zweiten Male und wird anschließend vom Spiegel.10 in Richtung auf die Strahlungsquelle 6 reflektiert«, Zum Trennen des reflektierten, von der Informationsstruktur modulierten» Bündels von dem von der Quelle 6 ausgestrahlten Bündel können im Strahlungsweg auf bekannte Weise ein polarisationsempfindliches Teilprisma 13 und eine 5t /4-Platte 14 angebracht sein, in der % die Wellenlänge des Auislesebündels darstellt« Das Prisma 13 reflektier t das vom Aufzeichnungsträger herrührende Bündel nach einem strahlungsempfindliehen Detektoraystem 15« Bei

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der Drehung des Aufzeichnungsträgers mittels einer von einem Motor 5 getriebenen Achse 4 variiert das Ausgangssignal des Detektorsystems entsprechend der Aufeinanderfolge von Inforraationsgebieten und Zwischengebieten in einer Informationsspur· . :'.. "' ' ".. / :: ;^:.^;. ·" "' ;.' ^-^'.'V· ' · ^:

Zum Detektieren der Lage des Ausleseflecks in bezug auf eine zu lesende Informationsspiir besteht das Detektorsystem 15 aus zwei Detektoren, beispielsweise Photodioden 16 und 17» die im sogenannten "fernen Feld" der Informationsstruktur angeordnet sind. Dies bedeutet, daß 'die Detektoren in einer Ebene angeordnet sind, in der die Zentren der verschiedenen Beugungsordnungen, die gebildet werden, wenn der Auslesefleck auf ein kleines Informätionsgebiet projiziert wird, ausreichend getrennt sind· Beispielsweise können die Detektoren in einer Abbildung der Eintrittspupille des Objektivsystems angeordnet sein. Gemäß der Beschreibung in der US~PS 3 931 459» wird die IhtensiLtätsverteilung auf die Detektoren 16 und 17 durch die Lage des Ausleseflecke Y in bezug auf die Mitte einer auszulesenden Informationsspur 2 bestimmt. Die Ausgangssignale der Detektoren 16 und 17 gelangen an eine Substraktionsschaltung 18, deren Ausgangssignal, oder Spurfolgesignal, S^ durch die Größe und die Richtung einer Abweichung zwischen der Mitte des Ausleseflecks und der Mitte der auszulesenden Informationsspur bestimmt wird· Dieses Signal wird, gegebenenfalls über einen Verstärker 19, einem Antrieb 41 zum Kippen des Spiegels 10 derart zugeführt, daß das Signal S gleich 0 wird· Ein Signal S^, das die ausgelesene Information darstellt, kann durch Addition der Signale der Detektoren 16 und 17 in der Schaltung 20 erhalten werden·

Aus praktischen Gründen ist es oft nicht möglich, die Mitte des Spiegels 10 in die Brennebene des Objektivsystems zu

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bringen· Dabei wird die Position des vom Aufzeichnungsträger imd vom Spiegel 10 reflektierten Bündels^ also auch die Position des auf die Detektoren i6 und 17 fallenden Bündels, von der Stellung des Spiegels 10 abhängig sein, wodurch die Intensitätsverteilüng auf die Detektoren 16 und 17 mit durch die Stellung des Spiegeln 10 beetimmt wird. Wenn die Intensitätsverteilung in dem von der Quelle 6 ausgestrahlten Bün*° 'del asymmetrisch ist» ist die Intensitätsverteilung auf die Detektoren 16 und 17 auch von der Stellung des Spiegels 10 abhängig, sogar wenn die Mitte des Spiegels 10 sich tatsächlich in der Brennebene des Objektivsystems befindet. In den erwähnten Fällen ist dass Spurfolgesignal S_r und damit das Steuersignal S„, also von der Stellung des Spiegels 10 abhängig, 7" 'V:;"--/;' ' '^:*^; .,:·;;. . '. ·:.::;·' ' . \ .... .'-. , '

Zur Beseitigung dieser Abhängigkeit enthält die Einrichtung ein Winkelsteilungsdetektionssystem 21« Dieses System ent- > hält eine Strahlungsquelle 22, beispielsweise eine lichtemittierende Diode, die ein Bündel 42 ausstrahlt, eine Linse 23 und zwei Detektoren 24 und 2,5, beispielsweise Photodioden« Die Rückfläche 45 des Spiegels 10 Ist reflektierend gemacht und sendet das von der'Quelle 22 aiASgestrahlte Bündel zur Fläche der Detektoren24 und 25, beidenen das Bündel von der Linse 23 in dieser Fläche fpkussiert wird« Das System kann so eingerichtet SeIn₈ daß, wenn sich der Spiegel 10 in der Mittelstellung befindet» das Bündel 42 in beaug auf die Detektoren 24 und 25 symmetrisch ist_e Bei der Kippusg des Spiegels 10 aus seiner Mittelstellung bekommt das reflektierte Bündel 42 eine andere Richtung, wodurch einer der Detektoren 24 und 25 mehr Strahlung als der andere empfängt» Die Signale der Detektoren 24 und 25 gelangen a'n eine Subtraktionsschaltung 26, Das Ausgangssignal: S-, dieser Schaltung wird durch die Größe und die Richtung des Kippwinkels des

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Spiegels TO bestimmt. Dieses Signal, das genau so groß ist wie diese Komponente im Signal S_r, die die Folge der Kippung des Spiegels 10 ist, gelangt an eine Sub traktionsschal <tung 27, der auch das Signal S₃, zugeführt wird· Das Ausgangssignal S_ der Schaltung 27 ist dann von der Winkelstein lung des Spiegels Ip unabhängig,

Hins ichtlich der Abhängigkeit des Signals S_r von der Steilung des den Auslesefleck V verschiebenden Elementes 10 ist die Einrichtung nach Fig. 1 einer Einrichtung vergleichbar, in der das Objektivsystem oder die Strahlungsquelle zur Verschiebung der Lage des Äuslesefiecks quer zur Spurrichtung bewegt wird» Die Verschiebung des Objektivsystems oder der Strahlungsquelle quer zur Spurrichtung kann auf bekannte Weise gelassen werden, beispielsweise mit einem induktiven Aufnehmer oder auf optischem Wege durch Anbringen eines Spiegels auf dem Objektivsystem öder auf der Strahlungsquelle und durch Zuführen eines Strahlungsbündels zu diesem Spiegel unter einem spitzenWinkel, Im Weg des vom Spiegel reflektierten Bündels sind zwei st$ahlungsempfindliche Detektoren derart angeordnet, daß sich beim Bewegen des Objektivsystems öder der Strahlungsquelle quer zur Spurrichtung das Bündel quer zur Trennlinie der Detektoren über diese Detektoren verschiebte

In der Einrichtung nach Pig, 1 ist die Abhängigkeit des Signals S₃, von der Lage des den Ausleaefleck verschiebenden Elements kleiner als in einer Einrichtung zum Auslesen eines etrahlungsdurchlässigen Aufzeichnungsträgers oder in der Anordnung nach Pig, 2, in der jener Teil des vom Aufzeichnungsträger reflektierten Bündels, das durch das Bundelablenke 1ement 30 hindürchfallt, für d ie Spurfolgede tektlon

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benutzt wird» In-Fig,2 arbeitet das Ablenkelement 30 auch als Bündelteiler„ Dieses Element besteht aus zwei Teilen 31 und 32, die unter Zwischenfügung einer blind el trennend en Schicht 33 zu einem Kubus zusammengefügt sind» Ein derartiges Ablenkelement hat bei einem gegebenen Steifheitsmaß eine geringere Massenträgheit als ein flacher Spiegel mit gleicher Steifheit und kann bewegt werden, ohne daß dabei große Streuresonanzen auftreten* was aus regeltechnischem Blickpunkt vorteilhaft ist* Außerdem ist nunmehr die bündeltrennende Schicht völlig eingeschlossen, wodurch sie atmosphärischen Einflüssen nicht unterworfen ist und auch nicht mechanisch beschädigt werden kann» Die bündeltrennende Schicht 33 kann durch eine teilweise reflektierende Schicht oder durch eine polarisationsempfindliche Schicht gebildet werden, wobei im letzten Teil wieder eine iC/4-Pla.tte vor dem Objektivsystem angebracht sein muß« Der Kubus kann mit Hilfe nicht dargestellter elektromagnetischer Mittel gekippt werden« Vorzugsweise haben diese Mittel die Form gemäß der Beschreibung in der älteren nicht vorveröffentlichten niederländischen Patentanmeldung 80 02958, deren Inhalt als Teil der vorliegenden Beschreibung betrachtet wird» ^r

Die %ckflache 34 des Kubus 30 ist reflektierend gemacht und über die Stellung dieser Ebene wird die Winkelstellung der Schicht 33 mit Hilfe der Strahlungsquelle 22V der Linse 23, der Detektoren 24 und 25 und der Subtrakticmsschaltung 26 wie in der Einrichtung nach Fig« 1 detektiert.

Um zu erreichen, daß das Signal S nur von der Kippung der Fläche 34 und nicht von anderen Bewegungen des Kubus 32* beispielsweise von einer Bewegung dieses Kubus in Richtung auf die Quelle 35 abhängig ist„ werden die Elemente des

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Stellungßdetektorsystems derart angeordnet, daß die Mitte der Quelle 22 und die Trennlinie de* Detektoren 24 und 25 in einer Ebene liegen, die parallel zur Drehachse 11 des Kubus verläuft· In Fig* 2 befinden sich die Strahlungsquelle 22 und die Linse 23 beispielsweise hinter der Zeichenebene, wie mit den gestrichelten.Linien angegeben, während dabei die Detektoren 24 und 25 vor der Zöichenebene liegen, Auch >in der Einrichtung nach Fig· 1 können die Elemente 22, 23, 24 und 25 in bezug auf die Drehachse 11 analog der Fig· 2 angeordnet sein» i\, /./. ..'.' ·/ .;.:"λ V ^: '.' ·' :.^:/:. . ' ^: \ ;-

In der Einrichtung nach Fig· 2wird die Strahlungsquelle durch einen Halbleiterdiödenlaser gebildet. Eine derartige Strahlungsquelle kann auch in der Einrichtung nach Fig. 3 benutzt werden·.In dieser Einrichtung arbeitet das Ablenkelement 36 wieder als Bündelteiler. Dieses Element besteht aus einer plänparallelen durchsichtigen !Platte 37, auf der eine teilweise reflektierende Schicht 38 angebracht ist.

In der Einrichtung nach Fig· 3 enthält das Stellungsdetek« tionssystem keine getrennte Strahlungsquelle, sondern wird der Teil 7' des Auslesebündels 7, das von der Schicht 38 durchgelassen wird, für die Steilungsäetektion benutzt· Dieser Bündelteil trifft die zwei Detektoren 24 und 25 des Stellüngsdetektionssystems· Der Bund elteil 7 ♦ wird von der Platte 37 parallel zu sich selbst Yerschöben* wobei die Verschieb bung eine Funktion des Einfallwinkels des Bündels 7 auf der Platte 37 ist· Wenn die Platte37 beispielsweise in ihrer Mitt eis teilung steht» verläßt der Bündelteil 7^f diese Platte, die mit den ausgezogenen Linien angegeben ist, und trifft symmetrisch die Detektoren 24 und 25· Mit den gestrichelten Linien ist der Verkauf des Bündelteils 7« angegeben, für den

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Fall die Platte 37 ' linksherumgedreht 'ist«, Statt einer plan-»: parallelen Platte' 37 .kann in· der Einrichtung nach 'Fig« 3 ' auch. ein-Kubus benut2t-.werd.e-ni,.: .' · .·,· 'Y. ':. / ' . ' '"' -.'/

Zum Detektieren der Stellung des 'Ablenkelement?' kann auch ... die geringe Strahlungsm.enge,, die an'.der..Prontflache 43 des Kubus 30 reflektiert; wird₉..:'benutatwerden_e Biese Frontfläche 43 bildet dabei einen-spiteen Winkel mit.der Achse des Bündels 7j. wie in Fig« ;2 mit gestrichelten Linien angegeben ist« Die von der Fläche 43 reflektierte .Strahlung.-wird:von der ·..

Linse 8 su einem Strahlungsfleck In der Ebene des? miΐ gestrichelten Linien angegebenen Detektoren 24 und 25 des . Stellungsdetektorsystems fokussiert» Wenn die Quelle 35 ein Diodenlaser ist, können die Detektoren 24 und 25 -'Mt dieser Quelle auf einer Scheibe aus HalbleiteMaterial integriert eein© " .· .'.' . ;' ;/./. ' ' -..'' . ; '·,' · ''. ;.''..' : '·/' ^: '.'' .. . ·,^:·-·.-'" -. .

Wenn das einstellbare Element von e.iner Magnetspule angetrie-.ben^wird, wobei ein festes Verhältnis zwischen der'-.Stellung' . dieses Elements und der Impedanz oder Selbstinduktivität der Spule besteht, kann die Stellung des einstellbaren Elements elektronisch aus der Selbstinduktivität' abgeleitet, -werden·'

Die Erfindung .ist auch in einer Einrichtung zm Einschreiben von Informationen in einen Aufzeicimimgsträgerkörper verwendbar, der mit einer optisch:detektierbaren. Servospur versehen ist, in die oder neben.der die Information eingeschrieben werden muß« Eine derartige Einschreibeinrichtung kann genäß der beschriebenen Ausleseeinrichtungen aufgebaut sein₉ wie .beispielsweise, die nach Fig« 3, aber in der die.Strahlungsquelle eine höhere Intensität als diejenige .ausstrahlt, die. zum Auslesen ausreicht_s Im Strahlungsweg muß ₉ wenn die Strah»

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iungsquelle beispielsweiße ein Gasiasei¹ ist, ein Intenöitätsmodülator 39» beispielsweise ein afcustisch~optischer oder magneto-optischer Modulator aagebracht sein, dessen Eingangsanschlüssen 40 das einzuschreibende Signal, das ein Audio-, ein Video-oder ein Paterisignai sein kann» zugeführt wird. Ist die Strahlungsquelle ein Diodenlaser, wird kein Modulator benötigt und kann der ,Diodenlaser vom Audiosignal» Videosignal oder Datensighal gesteuert werden» Es ist dafür gesorgt, daß der Bündelverteiler 38 den größten Teil der Strahlung reflektiert und nur einen geringen Teil durchläßt. Der Aufzeichnüngsträgerkörper reflektiert auch beim Einschreiben genügend Strahlung, um die oben beschriebene Spurverfolgung isu ermöglichen· ;

Claims (1)

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-Einrichtung zum Auslesen :ü&d/ö:ä«r Einschreiben einer optisch aüslesbaren und in Spuren geordneten Informationsstruktur auf einem Äüfgeichnungsträger^ mit einer ein optisches Bündel liefernden Strahl üagequelle^ einem Ob-. -./'.' jektiysystem zum'Fokussieren des Hlndale ku einem Strahlungsfleck in der Ebene der Iöformationsstruktio?_s einem einstellbaren Element sum Verschieben des Strahlungsfiicks quer zur Spurrichtung₉ und mit einem Strahlungsfleck-. Detektorsystem zum Bestimmen der Position des Strahlungsflecks in bezug auf eine:Spurv welches Detektorsystem mit einer Elektronikschaltung zum^: Erzeugea eines Steuersignals für das einstellbare Element versehen ist* gekennzelehnet dadurch, daß in dieser Einrichtung ein Stellüngsdetektions« system (21, 22, 23, 24₉ 25, 26) zur Bestimmung der Stel» .,-lung des einstellbaren Elements (10; 301 36) verbunden is-t, von welchem Detektorsystem (27) der Ausgang mit einem Eingang der Elektronikschaltung verbunden ist, so daß diese Schaltung ein 'für' die Stellung des einstellbaren Y Elements korrigiertes Steuersignal (S-), erzeugen kann» :

Einrichtung nach Punkt 1, in dea?- das einstellbare Element durch ein kippbares und teilweise reflektierendes Element gebildet wird, gekennzeichnet dadurch, daß das Stellungs» detektionssystem aus, zwei strahlungsempfindlichen Detektoren (24i 25) besteht, die im feg des von der Strahlungs-» quelle (35) ausgestrahlten und vom kippbaren Element (36) durchgelassenen Bünäelteils (7^r) angeordlnat ist, von welchen Detektoren die Ausgänge miteiner Subträktionsschaltung (26) verbunden sind,, ^! " ^;

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Einrichtung nach Punkt 1, in der das einstellbare Element aus einem kippbaren Prisma mit einer teilweieen reflektierenden Fläche besteht, gekennzeichnet dadurch, daß die auf die StrahlungBquelle (35) gerichtete Fläche (43) des Prismas (30) einen spitzen Winkel mit der Achse des von der Strahlungßquelle auegesandten Mndels (7) bildet und daß das Stellungsdetektionssystem zwei im Weg des von der erwähnten Fläche (43) des Prismas reflektierten Bündelteilö angeordnete, strahlungsempfindliche Detektoren (24; 25) und eine Subtraktionsso-haltung (26) enthält, deren Eingänge mit den Ausgängen der Detektoren verbünden sind,

Einrichtung nach Punkt 1,in der das einstellbare Element durch ein kippbares und zumindest teilweise reflektierendes Element gebildet wird, gekennzeichnet dadurch, daß eine von der Strahlungsquelle abgewandte Fläche (45; 34) des kippbaren Elements(10; 30) reflektierend ist und daß das Stellungsdetektionssystem eine Hilfsstrahlungsquelle (22) und zwei strahlungsempfihdliche Detektoren (24; 25) enthält, die im Weg des von der Hilfsßtrahlungsquelle ausgestrahlten und von der reflektierenden Fläche (45i 34) reflektierten BündelsL(42) angeordnet ist, von welchen Detektoren die Ausgänge ait den Eingängen einer Subtraktionsschaltung (26) verbunden sind, und daß die Hilfsstrahlungsquelle und die Trennlinie der Detektoren in einer Ebene liegen, die parallel zur Drehachse (11) des kippbaren Elements verläuft.

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