DE3014629C2 - Schaltungsanordnung zur Erkennung der Lage einer Objektoberfläche - Google Patents
Schaltungsanordnung zur Erkennung der Lage einer ObjektoberflächeInfo
- Publication number
- DE3014629C2 DE3014629C2 DE3014629A DE3014629A DE3014629C2 DE 3014629 C2 DE3014629 C2 DE 3014629C2 DE 3014629 A DE3014629 A DE 3014629A DE 3014629 A DE3014629 A DE 3014629A DE 3014629 C2 DE3014629 C2 DE 3014629C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- coincidence
- pattern
- object surface
- standard pattern
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67144—Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
- H01L21/681—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
fisch und eigentümlich ist und die bei den anderen Mustern auf dem Objekt nicht existiert. Hinsichtlich
einer derartigen Positionsrelation, die Pur das Zielbild
Ib spezifisch ist, kann ohne weiteres auch ein Dreick berücksichtigt werden, das zwischen ihm und anderen
Mustern als den genannten Mustern 2?und 2/gebiIdet wird, beispielsweise den Mustern lh und Ii oder den
Mustern lh und Ig.
Ein Satz von typischen Punkten, welche die obige spezifische Positionsrelation für das Zielmuster erfüllen,
wird aus einer Vielzahl von typischen Punkten herausgesucht, welche als Punkte gespeichert sind, die
mit dem Standardmuster Koinzidenz zeigen, und das Zielmuster wird auf der Basis der relativene Positionsrelation unter den entsprechenden typischen Punkten
in diesem Satz identifiziert.
Bei der Zeichen- oder Mustererkennung unter Verwendung
einer BiidaufnahmeeiiiricMiurig ist es schwierig,
ein tatsächlich aufgenommenes Muster perfekt in Koinzidenz mit dem Standardmuster zu bringen, und
zwar aufgrund verschiedener Schwankungsfaktoren, auch wenn es das richtige Zielbild ist. Daher kann man
nicht umhin, ein bestimmtes Fehlerausmaß zum Zwecke des Vergleichs zwischen dem Teilbild oderTeilmuster
und dem Standardmuster zuzulassen. Wenn in diesem Falle ein System verwendet wird, bei dem sämtliche
Teilmuster, deren Grade der Koinzidenz mit dem Standardmuster zumindest einen vorgegebenen Wert
besitzen, mit ihren Positionskoordinaten gespeichert sind, werden die Positionskoordinaten der großen
Anzahl von Teilmustern, welche um eine Teilmusterposition herum und aus ihrer Nähe ausgeschnitten werden,
welche den höchsten Grad der Koinzidenz angibt, in einem Speicher gespeichert, und der Speicher muß
eine große Speicherkapazität besitzen. Darüber hinaus ist es bei einem dersrti°en System erforderlich daß aus
einer Gruppe von Koordinatendaten die Positionskoordinaten des höchsten Grades an Koinzidenz im entsprechenden
Zentrum abgetastet werden und daß die Daten richtig angeordnet werden, so daß eine einzelne Koordinatenposition
für ein Muster auf der Objektoberfläche bleiben kann.
Um derartige Nachteile auszuräumen ist vorgesehen, daß nur dann, wenn der Grad der Koinzidenz zwischen
einem lokalen MusterundeinemStandardmustereinen Maximalwert in der Nähe des speziellen lokalen
Musters erreicht, die Positionskoordinaten des lokalen Musters abgetastet werden.
Um die Koordinaten am Punkt des maximalen Grades der KoinziJenz zwischen dem lokalen Muster und
dem Standardmuster abzutasten, kann man beispielsweise die Maßnahme verwenden, daß der Suchbereich
eines Musters in eine Vielzahl von Bereichen, etwa «1
Bereiche in K-Richtung und n> Bereiche in X-Richtung,
eingeteilt wird und die Positionskoordinaten der Teilmuster, deren Grade an Koinzidenz mit dem
Standardmuster einen Maximalwert erreichen, für die entsprechenden Bereiche ausgewertet werden, um die
Teilmuster abzutasten, deren Grade an Koinzidenz zumindest einen vorgegebenen Wert haben.
F i g. 2 zeigt ein Beispiel, bei dem das aufgenommene Bild der Objektoberfläche 10 nach F i g. 1 in 5x6
Bereiche unterteilt ist. Die Größe mit der Höhe d\ und der Breite di jedes Bereiches ist bestimmt durch die
Abmessungen und Positionsreiationen der Muster, weiche dasselbe Merkmal wie das Zielmuster haben,
von dem man erwartet, daß es in dem Suchbereich existiert. Beispielsweise sind, wie in der Zeichnung dargestellt,
die Dimensionen d\ und di des Bereiches oder der Sektion so angesetzt, daß sie folgenden Beziehungen
genügen:
d\ < w\ cos θ
di < W2 COS Θ,
wobei >V| den Abstand zwischen entsprechenden typischen
Punkten 4cund 4/der Miuster bezeichnet, die in vertikaler Richtung der Objektoberfläche am dichtesten
liegen, W2 den Abstand zwischen den entsprechenden
typischen Punkten 4/und 4g der Muster bezeichnet, die in horizontaler Richtung am dichtesten liegen, und θ
den maximal zulässigen Winkel der Rotationsabweichung der Objektoberfläche bezeichnet, welche im
Gesichtsfeld liegen. Somit können auch dann, wenn bei der Objektoberfläche eine Positionsabweichung oder
eine Rotationsabweichung vorliegt, die typischen Punkte sämtlicher abzutastender Muster in sämtlichen
Bereichen einer nach dem anderen in der Weise erhalten werden, daß zwei oder mehr Punkte niemals in
einem Bereich enthalten sind. Wenn dementsprechend ein Teilmuster, das den maximalen Grad der Koinzidenz
mit dem Standardmuster zeigt, aus den Teilmustern abgetastet wird, welche nacheinander ausgeschnitten
werden und deren typische Punkte zu demselben Bereich gehören, kann keinerlei Fehler bei
der abtastung der Position eines Musters auftreten. In
F i g. 2 ist, um den Gegensatz zur Objektoberfläche 10 in F i g. 1 klarzumachen, das Teilbild oder Teilmuster 3
in dem Zustand dargestellt, iii dem es relativ zur aufgenommenen
Bildfläche geneigt ist. Die tatsächliche herausgeschnittene Position des Teilmusters aus dem
aufgenommenen Bild verläuft jedoch längs der A'-Achse
und der K-Achse, wie es mit 3' angegeben ist.
Die obigen Darlegungen beziehen sich auf ein Beispie!,
bei dem die gesamte Objektoberfiäche innerhalb eines Gesichtsfeldes aufgenommen ist und bei dem ein
Satz von Positionskoordinaten, die in der für das Zielmuster eigentümlichen Positionsrelation liegen, aus
den Positionskoordinaten abgetastet werden, welche innerhalb desselben Gesichtsfeldes abgetastet werden.
Die Erfindung ist jedoch auch auf Fälle anwendbar, bei denen in der nachstehend beschriebenen Weise Teile
einer Objektoberfläche vergrößert und abgebildet werden und dann ein Satz von Positionskoordinaten, die
in einer für ein Zielmuster eigentümlichen oder spezifischen Positionsrelation liegen, unter den Positionskoordinaten
herausgefunden werden, welche in den einzelnen Gesichtsfeldern abgetastet werden.
Als Beispiel hierfür zeigt F i g. 3 die Oberfläche einer Halbleiteranordnung oder Halbleiterpille, bei der
Laschen oder Ansätze Ax bis A„undBi bis Bn regelmäßig
an beiden Seiten eines ein Schaltelement bildenden Bereiches 11 vorgesehen sind. Bei der Halbleiterpille
werden beispielsweise die beiden Anschlüsse A\ und B\, die sich im größten Abstand /befinden, als Zielmuster
verwendet, und Mustersuchbereiche HA und 12ß werden in Positionen vorgesehen, welche die entsprechenden
Laschen oder Ansätze im wesentlichen als zentrale Teile enthalten. Es wird nun davon ausgegangen, daß
zuerst das Bild des Suchbereiches YLA vergrößert und aufgenommen und dann das aufnehmende Gesichtsfeld
um einen vorgegebenen Abstand bewegt und das Bild des Suchbereiches 125 aufgenommen wird. Dann
werden in dem Falle, wo beispielsweise die Halbleiterpille
eine Positionsabweichung nach rechts um die Komponente eines Ansatzes aus der Position nach
F i g. 3 erfahren hat, Muster in den Suchbereichen HA
bzw. 125 aufgenommen, wie sie in F i g. 4a und 4b dargeteilt
sind. Wenn andererseits die Halbleiterpille eine Positionsabweichung nach links um die Komponente
eines Ansatzes erfahren hat, wird man Muster innerhalb der entsprechenden Suchbereiche erhalten, wie sie in
F i g. 5a und 5b dargestellt sind.
Wjp lieh aus diesen Figuren entnehmen läßt, treten
die Mujter mit demselben Merkmal in den entsprechenden Suchbereichen in Anzahlen auf, die sich jedesmal
in Abhängigkeit von den Positionsahweichungen der Objektoberfläche ändern, und daher können die
Zielansätze A\ und B\ in den einzelnen Bereichen nicht identifiziert werden. Wenn vorgegeben ist, daß das ganz
linke Muster der Zielansatz im Suchbereich MA ist, während das ganz rechte Muster es im Suchbereich 125 ι ϊ
ist, so steht eine fehlerhafte Erkennung zu befürchten, wenn ein Rausch- oder Störbild vorhanden ist. Wenn
jedoch ein Satz von Positionskoordinaten, die in der Positionsrelation des Abstandes /liegen, unter den Positionskoordinaten
der Ansätze abgetastet werden, :o welche in den Suchbereichen MA und 125 enthalten
sind, können diejenigen des Suchbereiches MA im Satz von Positionskoordinaten als dem Ansatz A\ entsprechend
und diejenigen des Suchbereiches 125 als dem Ansatz B\ entsprechend identifiziert werden.
Nachstehend wird ein Ausfuhrungsbeispiel einer Schaltungsanordnung zur Lageerkennung einer Objektoberfläche
anhand von F i g. 6 erläutert. Darin bezeichnet das Bezugszeichen 40 eine Bildaufnahmeeinrichtung,
beispielsweise eine Fernsehkamera, und das Bezugszeichen 41 einen Taktgenerator. Ein Taktsignal
415, das vom Taktgenerator 41 geliefert wird, wird an einen eine Zuordnungsstufe bildenden X-Y- Koordinatenzähler
42 angelegt. Der A'-K-Koordinatenzähler 42
weist einen X-Abszissenzähler, der die Taktsignalimpulse
415 zählt, um die Abszissenwerte einer abgebildeten Bildfläche zu erhalten, sowie einen
Y- Ordinatenzähler auf, der die Übertragungsimpulse
42C des A"-Abszissenzählers zählt, um die Ordinatenwerte
der abgebildeten Bildoberfläche zu erhalten. Das Bezugszeichen 43 bezeichnet einen Synchronsignalgenerator,
der ein Synchronisationssignal 435, das zur Bildflächenabtastung der Bildaufnahmeeinrichtung 40
erforderlich ist, auf der Basis der Zählwerte des X-Y-Koordinatenzählers
42 erzeugt.
Die Bildaufnahmeeinrichtung 40 führt eine Rasterabtastung der Bildfläche synchron mit dem Synchronisationssignal
435 durch und liefert ein Bildsignal 405. Das Bildsignal 405 wird von einer Schwellwert- oder
Empfindlichkeitsschaltung 44 in ein binäres Signal 445 umgewandelt, das angibt, ob das Bild eines Bildelementes
»weiß« oder »schwarz« ist; das binäre Signal wird einem Bildspeicher 45 zugeführt.
Als Bildspeicher 45 und Teilbild-Auswahlstufe, wie sie mit dem B ezugszeichen 46 bezeichnet ist, lassen sich
Baugruppen verwenden, wie sie beispielsweise in der US-PS 38 98 617 im einzelnen erläutert sind.
Genauer gesagt besteht der B ildspeicher 45 aus (n -1)
Schieberegistern, die in Reihe miteinander verbunden sind und die dazu dienen, zeitweilig binär kodierte Bildinformation
zu spichern, welche (n - 1) Abtastzeilen entspricht. Die Ausgangssignale dieser Schieberegister
und die binären Signale 445 entsprechen den «Bildelementen, die in der Positionsrelation liegen, in der sie in
vertikaler Richtung auf der aufgenommenen Biidoberfläche
angeordnet sind. Wenn dementsprechend die Signale der nBildelemente parallel vom Bildspeicher45
abgerufen werden, werden sie der Teilbild-Auswahlstufe 46 zugeführt, die aus /; Schieberegistern mit
jeweils einer Länge von «Bits besteht, und sie werden als Parallelinformation von (n X n) Bits abgerufen:
daraufhin werden dieTeilbilderoderder(nX n) Bildelemente,
die den Abtastpositionen des Bildes entsprechen, nacheinander herausgenommen.
Das Bezugszeichen 47 bezeichnet ein Register zum Halten eines Referenz- oder Standardmusters, das aus
der Information von (n x n) Bildelementen besteht, die
mit den Teilmustern zu vergleichen sind. Der Inhalt dieses Registers 47 und der Ausgang derTeilbild-Auswahlstufe
46 werden mittels einer Entscheidungsstufe 48 verglichen und bei den jeweils entsprechenden Bits
überprüft. Die Gesamtzahl von Bits, bei deren Inhalt Koinzidenz vorgelegen hat, wird von der Entscheidungsstufe
48 als Signal 485 abgegeben, welches den Grad der Koinzidenz zwischen dem Teilmuster und
dem Standardmuster angibt. Da die Stufen 45.46 und 48
synchron mit dem Taktsignal 415 arbeiten, werden die Koinzidenzsignale 485 nacheinander parallel mit der
Abtastung der Bildfläche geliefert.
Mit dem Bezugszeichen 50 ist eine Suchbereich-Teilerschaltung bezeichnet, deren genauer Aufbau
nachstehend unter Bezugnahme auf F i g. 7 erläutert wird. Diese Schaltung arbeitet synchron mit dem Taktsignal
415 und entscheidet, ob der vorliegende Abtastpunkt in einen Suchbereich hineinfallt oder nicht, auf
der Basis des Übertragssignals 42C des J-Koordinatenzählers und eines A'-K-Koordinatensignals 49 (49ΛΓ,
49)0, welche vom A'-K-Koordinatenzähler 42 geliefert
werden. Wenn der vorliegende Abtastpunkt im Suchbereich liegt, wird ein Koinzidenzvergleich-Befehlssignal
51 geliefert. Ferner unterteilt diese Schaltung den Suchbereich in eine Vielzahl von Bereichen und erzeugt ein
Adressensignal 52 (52Λ\ 52)0, das angibt, zu welchem
Bereich der Abtastpunkt gehört. Das Adressensignal 52 wird an einen Koinzidenzspeicher 56 und einen Koordinatenspeicher
57 über einen Adressenschalter55 angelegt.
Der Koinzidenzspeicher 56 hat Speicherbereiche, die den Adressensignalen 52 entsprechen, und kann die
maximalen Grade an Koinzidenz zwischen dem Teilmuster und dem Standardmuster bis zum vorliegenden
Zeitpunkt für die entsprechenden Bereiche speichern, die den Adressen im Suchbereich entsprechen.
Genauer gesagt werden die Inhalte der adressierten Speicherbereiche des Koinzidenzspeichers 56 als
Signale 565 ausgelesen und an einen Komparator 59 zusammen mit den Koinzidenzsignalen 485 angelegt,
welche nacheinander von der Schaltung 48 geliefert werden. Der Komparator 59 liefert Impulssignale 595,
wt,nn der Grad der neu erhaltenen Koinzidenz der Koinzidenzsignale
485größer ist. Die Impulssignale 595 werden an ein AND-Gatter 54 angelegt, das vom Koinzidenzvergleich-Befehlsignal
51 eingeschaltet oder abgeschaltet wird. Es wird vom AND-Gatter 54 nur während
der Ausgangsperiode des Koinzidenzvergleich-Befehlsignals
51 geliefert und erzeugt Impulssignale 545, die es ermöglichen, die Daten der beiden Speicher 56 und
57 auf den neuesten Stand zu bringen. In Abhängigkeit von den Impulssignalen 545 kann dementsprechend der
Koinzidenzspeicher 56 den durch das Koinzidenzsignal 485 gegebenen neuen Grad der Koinzidenz im Speicherbereich
speichern, der dem Adressensignal 52 entspricht
Andererseits hat der Koordinatenspeicher 57 wie der Koinzidenzspeicher 56 Koordinaten-Speicherbereiche,
die den Adressensignalen 52 entsprechen. Wenn der Koordinatenspeicher 57 das Impulssignal 545 erhalten
hat, speichert er die Daten des Koordinatensignals 49, die vom A'-K-Koordinatenzähler 42 geliefert werden, in
seinem adressierten Speicherbereich.
Die Abtastung der Bildfläche erfolgt wiederholt in X-Richtung,
wiihrend die Positionen in K-Richtung verschoben werden, so daß die Adressen der Bereiche
innerhalb cbs Suchbereiches sich fortschreitend gemäß
der Abtastung der Bildfläche ändern. Zu dem Zeitpunkt, wo die Abtastung von einerBildoberfläche beendet
ist, sind die maximalen Grade der Koinzidenz zwisehen dem Standardmuster und dem Teilmuster und
die Positionskoordinaten der Teilmuster bezüglich sämtlicher Bereiche in den beiden Speichern 56 und 57
gespeichert.
Mit dem Bezugszeichen 60 ist eine Steuerung bezeichnet, bei der es sich um eine Einrichtung handelt,
welche die Funktionen der Eingabe/Ausgabe, Abfolgesteuerung und numerischen Steuerung der Information
sowie die Datenentscheidung hat, beispielsweise einen elektronischen Computer. Bei Erhalt eines externen
Startsignals 6\A beginnt die Steuerung 60 mit den Steueroperationen gemäß einer vorher programmierten
Prozedur. Zuerst werden ein erforderliches Standardbild oder Standardmuster 62 dem Register 47 zugeführt
und Parameter, wie z. B. die Dimensionen d\ und di des r.
Bereiches, die Zahlen der Unterteilungen «ι und «2
sowie die Koordinaten Xs und Y, des Startpunktes des
Suchbereiches, über eine Signalleitung 63 der Suchbereich-Teilerschaltung 50 zugeführt. Freigabe- oder
Löschsignale 64 und 65 werden jeweils an den Koinzi- jo
denzspeicher56 und den Koordinatenspeicher 57 angelegt,
um die Inhalte der Speicher zu löschen, woraufhin ein Schaltsignal 66 geliefert wird, um es dem Adressenschalter
55 zu ermöglichen, eine Adresse von der Suchbereich-Teilerschaltung 50 zu liefern. η
Wenn diese vorbereitenden Operationen beendet sind, liefert die Steuerung 60 der Suchbereich-Teilerschaltung
50 ein Startbefehlsignal 67 für eine Musterabtastoperation. Bei Erhalt des Startbefehlsignals 67
beginnt die Suchbereich-Teilerschaltung 50 die Operation zur Abtastung eines Musters zu dem Zeitpunkt, wo
die Bildflächenabtastung der Bildaufnahmeeinrichtung 40 in ihre Anfangs- oder Ausgangsstellung zurückgekehrt
ist. Wenn die Abtastung von einer Bildoberfläche beendet ist, liefert die Suchbereich-Teilerschai- 4>
tung 50 ein Endsignal 53, um die Steuerung über die Beendigung der Musterabtastoperation zu informieren.
Bei Erhalt des Endsignals 53 liefert die Steuerung 60 das Schaltsignal 66, um den Zustand auszubilden, in
dem der Adressenschalter 55 Zugriff zu den Speichern 56 und 57 nehmen kann, indem erein von derSteuerung
geliefertes Adressensignal 68 verwendet. Somit liest die Steuerung 60 die Grade der Koinzidenz der entsprechenden
Bereiche, welche im Koinzidenzspeicher 56 gespeichert sind, und entscheidet, ob sie zumindest
einen vorgegebenen Wert haben oder nicht. Wenn sie zumindest den vorgegebenen Wert besitzen, werden die
Koordinatendaten aus dem Koordinatenspeicher 57 ausgelesen und in einer Speicherstufe 69 neben der
Steuerung 60 eingeschrieben.
In dem Falle, wo die Mustersuchbereiche in getrennte, abzubildende Gesichtsfelder des Objektes
gesetzt worden sind, können folgende Maßnahmen ergriffen werden. Und zwar werden die Positionskoordinatendaten,
die im ersten Suchbereich abgetastet wer- bs den, in einen ersten Datenbereich der Speicherstufe 69
eingeschrieben, woraufhin die Steuerung 60 ein Steuersignal 61ß liefert, um das abzubildende Gesichtsfeld in
den zweiten Suchbereich· zu bringen. Dann wird die obige Operation wiederholt, damit die Suchbereich-Teilerschaltung
50 die Musterabtastoperation im zweiten Suchbereich durchführt, und es werden die Koordinatendaten
aus dem Koordinatenspeicher ausgelesen und in einen zweiten Datenbereich der Speicherstufe 69
eingeschrieben. In dem Falle, wo drei Suchbereiche auf dem Objekt vorgegeben worden sind, werden die gleichen
Operationen wie oben Tür den dritten Suchbereich wiederholt.
Wenn die Koordinatendaten-Abtastverarbeitung in der vorstehend beschriebenen Weise beendet worden
ist, überprüft die Steuerung 60 sequentiell die relativen Positionsrelationen der Koordinaten innerhalb der
Speicherstufe 69, findet einen Satz von Koordinaten, der der vorgegebenen Positionsrelation genügt, und identifiziert
sie als die Positionskoordinaten des Zielmusters. Nimmt man dip. Form an, bei der das abzubildende
Gesichtsfeld bewegt wird, um einen Suchbereich in einen anderen Suchbereich umzuschalten, sind die in
den entsprechenden Suchbereichen erhaltenen Positionskoordinaten der Muster Werte, deren Ursprünge
die Abtast-Startpunkte der entsprechenden abzubildenden Gesichtsfelder sind, und somit müssen die Koordinatenwerte
in den zweiten und dritten Suchbereichen entsprechend den Beträgen der Bewegungen der
Gesichtsfelder korrigiert werden. Die Korrekturen dieser Koordinatenwerte können entweder zu dem Zeitpunkt
erfolgen, wo die Daten aus dem Koordinatenspeicher 57 in der Speicherstufe 69 gebracht werden, oder
im Zeitpunkt der Bestimmung der relativen Positionsrelationen unter den Koordinaten.
Beider Bestimmung der relativen Positionsrelationen unter den Koordinaten werden beispielsweise die ersten
Koordinaten aus dem ersten Suchbereich ausgewählt und die Abstände zwischen ihnen und den entsprechenden
Koordinaten des zweiten Suchbereiches nacheinander berechnet, um damit einen Satz von Koordinaten
herauszufinden, der den vorgegebenen Abstand / hat. Wenn ein derartiger Satz nicht gefunder» wird, kann die
Prozedur wiederholt werden, wobei die nächsten Koordinaten aus dem ersten Suchbereich ausgewählt und die
Relationen mit den entsprechenden Koordinaten des zweiten Suchbereiches unter Bezugnahme auf die ausgewählten
Koordinaten bestimmt werden. Sofern ein dritter Suchbereich angegeben worden ist, wird nur der
Satz, der in der vorgegebenen Positionsrelation in den ersten und zweiten Suchbereichen liegt, mit der Relation
der Koordinaten des dritten Suchbereiches bestätigt.
Sofern die Objektoberfläche dem abzubildenden Gesichtsfeld mit hoher positionsmäßiger Genauigkeit
zugeführt und die Abtastreihenfolge der Koordinaten entsprechend den Zielmustern unter den abzutastenden
Koordinaten in den entsprechenden Suchbereichen im wesentlichen fest ist, kann die Verarbeitungszeit der
Daten verkürzt werden, indem man die Prozedur so einstellt, daß diese Koordinaten erst der Entscheidung
bzw. Bestimmung der relativen Positionsrelation unterworfen werden können und daß dann, wenn die vorgegebene
Positionsrelation nicht erfüllt ist, die anderen Koordinaten bestimmt werden können.
Wenn die Positionen von zwei festen Punkten auf der Objektoberfläche bekannt sind, kann die Größe der
Abweichung von der Standardposition der Objektoberfläche berechnet werden, und die tatsächliche Position
eines anderen, vorher bekannten, festen Punktes in einem Standardkoordinatensystem kann mit einer
Koordinatentransformation berechnet weiden. Dementsprechend ist es in einem Falle, wo die Steuerung 60
verwendet wird, um eine Verdrahtungseinrichtung für Halbleiteranordnungen zu steuern, möglich, die Größe
der Positionsabweich ang der Halbleiteranordnung oder
Halbleiterpille und die tatsächlichen Positionen der entsprechenden anzuschließenden Ansätze aus den
Pcsitionskoordinaten der beiden Zielmuster zu berechnen
und das Maß der Bewegung eines A'-l'-Tisches für
eine Kapillare auf der Basis der berechneten Ergebnisse zu steuern.
Eine konkrete Anordnung der Suchbereich-Teilerschaltung
wird nachstehend unter Bezugnahme auf F i g. 7 näher erläutert.
Die Schaltung besteht aus einem A'-Adressen-Steuerteil
und einem y-Adressen-Steuerteil. Mit 70A1 und 7OK
sind Register zum Speichern der Koordinaten Xs bzw. Ys
des Startpunktes der Suche bezeichnet, während TlX
und 71Y Register bezeichnen, die zum Speichern der Abmessungen di und d\ von einem unterteilten Bereich
in Ablichtung bzw. y-Richtung dienen, während 72 X
und 72 Y Register bezeichnen, welche die Zahlen n. und
«ι der Bereiche in A"-Richtung bzw. K-Richtung speichern.
Die in diesen Registern festzuhaltenden Parameter werden von der Steuerung 60 über die Signalleitung
63 übertragen. Mit 73*, 73X,74*,74Y,ISX und 75Ksind
Koinzidenzabtastschaltungen, mit 76A\ Ί6Υ, TTX und
77V Zähler, mit 78A-, 787 und 79 Flip-Flops, mit 8OA",
80 Y, 81 und 84 AND-Gatter und mit 82A\ 82/, 83A" und
83 Y OR-Gatter bezeichnet.
Zunächst wird die Operation des A"-Adressen-Steuerteils
näher erläutert. Die Koinzidenzabtastschaltung 73A" vergleicht den A*-Abszissenwert49A'des vom Koordinatenzähler
42 gelieferten Abtastpunktes und den AV Abszissenwert des im Register 7OA" gehaltenen Startpunktes
der Suche und liefert bei Koinzidenz ein Impulssignal 9OA". Dieses Impulssignal 90A- setzt das
Flip-Flop 78A' und setzt außerdem über die OR-Gatter 82.V bzw. 83A" die Werte der Zähler 76A" und 77A" auf
Null. Wenn das Flip-Flop 78A" in den gesetzten Zustand gebracht worden ist, so schaltet sein Ausgang das AND-Gatter
8OA' ein und die fundamentalen Taktsignale 415 werden nacheinander an den Zähler 76A" so angelegt, so
daß die Zähloperation durchgeführt wird.
Die Koinzidenzabtastschaltung 74A* liefert ein Impulssignal 91 A\ wenn der Wert des Zählers 76A" Koinzidenz
mit der seitlichen Breite di von einem abgeteilten
Bereich ergibt, welcher im Registe^lA"gespeichert
ist. Dieses Impulssignal 91A- wird an den Zähler 77X
angelegt, um seinen Zählerwert um 1 zu erhöhen, und wird außerdem verwendet, um den Rücksetzanschluß
des Zählers 76A" über das OR-Gatter 82A" zurückzusetzen.
Dementsprechend wiederholt der Zähler 76A" die Zähloperation bei jedem Zählwert, der gleich der
seitlichen Breite des abgeteilten Bereiches ist, und er erhöht den Wert des Zählers 77X jedesmal dann, wenn
sich der Abtastpunkt von einem Bereich zum nächsten Bereich in Ä'-Richtung verschiebt. Der Inhalt des Zählers
77A" wird ein Wert, der angibt, welcher Bereich in seitlicher Richtung der Abtastung bearbeitet wird, und
dieser Wert wird als Signal 52A" zur Verfugung gestellt,
welches die ^-Adresse des Bereiches angibt.
Die Koinzidenzabtastschaltung 75A- vergleicht den
Wert des Zählers 77X· und die für die Ä'-Richtung zugeteilte
Zahl m des Bereiches, die im Register 72A" gespeichert
ist, und liefert ein Impulssignal 92A" bei Koinzidenz. Das Impulssignal 92A" wird über das OR-Gatter
83A- an den Rücksetzanschluß des Zählers 77A* angelegt.
um den Wert des Zählers zurückzustellen und setzt außerdem das Flip-Flop T%X zurück, um das AND-Gatter
βΟΑ" abzuschalten und den Eingang des fundamentalen
Taktsignals 41s zu blockieren. Da diese Operationen bei jeder horizontalen Abtastzeile wiederholt
werden, werden wiederholt die Adressensignale 52A" geliefert, welches die A"-Adressen der unterteilten
Bereiche innerhalb des Suchbereiches angeben.
Nachstehend wird der K-Adressen-Steuerbereich
Nachstehend wird der K-Adressen-Steuerbereich
ίο näher erläutert. Im y-Adressen-Steuerbereich wird
dann, wenn das Startbefehlsignal 67 zum Starten der Abtastoperation von der Steuerung 60 geliefert worden
ist, das Flip-Flop 79 gesetzt und das AND-Gatter 84 eingeschaltet.
Die Koinzidenzabtastschaltung 73 Y vergleicht die vom Koordinatenzähler42 gelieferte Y-Ord'inate
49>'des Abtastpunktes und die Ordinate Ys des im
Register 70Y gespeicherten Suchstartpunktes und liefert
ein Impulssignal 90V bei Koinzidenz. Dieses Impulssignal 90 Y setzt die Zähler 76 Y und 77 Y über die
OR-Gatter 82Y bzw. 83Y zurück, und wenn das AND-Gatter
84 eingeschaltet ist, wird mit diesem Signal das Flip-Flop IiYgesetzt. Dann wird das AND-Gatter 80Y
eingeschaltet und die Übertragssignale 42C vom Koordinatenzähler 42 bei den entsprechenden horizontalen
Abtastzeilen nacheinander an den Zähler 76 Y angelegt, so daß die Zähloperation durchgeführt wird.
Die Koinzidenzabtastschaltung 74Y liefert ein
Impulssignal 91Y, wenn der Wert des Zählers 76 Y Koinzidenz
mit dem Wert des im Register71 ^gespeicherten Wertes für die vertikale Höhe d\ von einem unterteilten
Bereich hat. Dieses Impulssignal wird an den Zähler 77 Y angelegt, um den Zählwert um 1 zu erhöhen, und
außerdem über das OR-Gatter 82 Y an den Rücksetzanschluß des Zählers 76K angelegt, um seinen Wert
zurückzusetzen. Dementsprechend wiederholt derZähler 76Y die Zähloperationen, wobei die Perioden die
Zählwerte sind, die gleich der vertikalen Höhe des unterteilten Bereiches sind, und er sorgt dafür, daß der
Zähler 77 Y die Zähloperation jedesmal dann vornimmt, wenn sich der Abtastpunkt aus einem Bereich zum
nächsten Bereich in K-Richtung verschoben hat. Der Inhalt des Zählers 77Y nimmt einen Wert an, der
anzeigt, welcher Bereich in vertikaler Richtung der Abtastung bearbeitet wird, und dieser Wert wird als
Adressensignal 52Kgeliefert, welches die K-Adresse des
Bereiches angibt. Das Adressensignal 52Y wird dem
Koinzidenzspeicher 56 und dem Koordinatenspeicher 57 nach F i g. 6 zusammen mit dem Adressensignal 52A'
als Angabe für die A"-Adresse zugeführt.
Die Koinzidenzabtastschaltung 75Y vergleicht den
Wert des Zählers 77 Y und die im Register 72 Y gespeicherte entsprechende Zahl «ι für die vertikakle Richtung
und liefert bei Koinzidenz ein Impu!«signal 92Y.
Dieses Impulssignal 92K setzt den Zähler 77 Y über das OR-Gatter S3Y zurück und setzt gleichzeitig die Flip-Flops
78y und 79 zurück. Ferner wird das Impulssignal
als Endsignal 53 der Musterabtastverarbeitung an die Steuerung 60 angelegt.
Da das Flip-Flop 78K gerade für eine Abtastperiode des Suchbereiches im Einschalt-Zustand ist, wird das Koinzidenzvergleich-Befehlssignal 51 erhalten, indem man vom AND-Gatter 81 das AND-Verknüpfungssignal zwischen einem Ausgangssignal 93 des Flip-Flops 78Yund einem Ausgangssignal 94 des AND-Gatters 8OA" des A"-Adressen-Steuerbereiches abgreift.
Da das Flip-Flop 78K gerade für eine Abtastperiode des Suchbereiches im Einschalt-Zustand ist, wird das Koinzidenzvergleich-Befehlssignal 51 erhalten, indem man vom AND-Gatter 81 das AND-Verknüpfungssignal zwischen einem Ausgangssignal 93 des Flip-Flops 78Yund einem Ausgangssignal 94 des AND-Gatters 8OA" des A"-Adressen-Steuerbereiches abgreift.
Bei der oben beschriebenen Ausführungsform ist erläutert worden, daß die Vergleiche mit den Teilbildern
oder Teilmustern unter Verwendung eines einzel-
nen Standardmusters durchgeführt werden, um das Zielbild oder Zielmuster abzutasten. Beim erfindungsgemäßen
Bildabtastsystem kann jedoch ein hoher Grad an B ild- oder Mustererkennung erreicht werden, indem
man eine Vielzahl von Arten von Standardmustern vorbereitet.
Beispielsweise wird das von der Steuerung 60 dem Register 47 zu übermittelnde Standardmuster geändert,
so daß ein Zielbild oder Zielmuster mit einer anderen Eigenschaft oder einem anderen Merkmal von der
Objektoberfläche abgetastet werden kann. Die F i g. 8a bis 8c zeigen ein Beispiel dafür. Unter Verwendung
eines Standardmusters 100 gemäß Fig. 8b bei der
ersten Bildflächenabtastung können die Positionskoordinaten der Muster 21c bis He auf einer Objektober- is
fläche 20 gemäß F i g. 8a abgetastet werden, und unter Verwendung eines Standardmusters 101 nach F i g. 8c
können bei der nächsten Bildflächenabtastung die Positionskoordinaten
der Muster 22a bis22f abgetastet werden. Auf diese Weise kann eine Zielmusterposition, die
in einer Positionsrelation zwischen den Mustern liegt, mit unterschiedlichen Merkmalen oder Eigenschaften
abgetastet werden.
Falls die Abweichung der Objektoberfläche in Rotationsrichtung eine besti mmte G renze überschritten hat,
kann ein Zielmuster, das tatsächlich in einem Suchbereich enthalten ist, nicht abgetastet werden, wenn der
Schwellwert für die Entscheidung des Grades der Koinzidenz streng bzw. klein gewählt wird, weil der Grad der
Koinzidenz beim Vergleich mit einem Standardmuster in seiner normalen Position unzureichend ist. Ferner
kann in einem solchen Falle das Erkennungsvermögen Ι Ά der Weise gesteigert werden, daß eine Vielzahl von
Arten von Standardmustern, die den Neigungen der Objektoberfläche entsprechen, vorher vorbereitet wird
und daß dann, wenn das Zielmuster nicht mit dem ersten Standardmuster abgetastet werden kann, die
übrigen Standardmuster zu Vergleichszwecken verwendet werden.
In dem Falle, wo Objektoberfläche 30 kleine Bilder oder Muster aufweist, wie es in F i g. 9a dargestellt ist,
kann das Auflösungsvermögen gesteigert werden, indem man für eine Vergrößerung und Abbildung der
Umgebungen von einem Zielmuster 31a und Mustern 31i» und 31csorgt, die in einer gegebenen Positionsrelation
zum Zielmuster liegen. Wenn in diesem Falle beabsichtigt ist, das gesamte Zielmuster mit einem Standardmuster
zu vergleichen, müssen große Teilmuster ausgeschnitten werden. In einem solchen Falle werden
zwei Arten von kleinen Standardmustern 102 und 103, die den Merkmalen eder Eigenschaften von Teilen des
Zielmusters entsprechen, vorbereitet, wie es beispielsweise in den F i g. 9b und 9c angegeben ist, wobei das
Standardmuster 102 bei der ersten Bildflächenabtastung verwendet wird, um die Positionskoordinaten
der damit koinzidenten Muster zu erhalten, während das Standardmuster 103 bei der nächsten Bildflächenabtastung
verwendet wird, um damit die Positionskoordinaten von damit koinzidenten Mustern zu erhalten,
und es werden diejenigen Koordinaten abgetastet, welche Paare von bestimmten Positionsrelationen bilden,
so daß die Muster 31a;316 und 31c^';getastet werden
können. Wenn die unterteilten Bereiche des Suchbereiches bei Verwendung des Standardmusters 102
und diejenigen bei Verwendung des Standardmusters 103 vorher in einer Weise vorgegeben werden, daß eine
Verschiebung innerhalb des abgebildeten Gesichtsfeldes gemäß den spezifischen Positionsrelationen erfolgt,
können Paaren von Positionskoordinaten 32a und 33a; 326 und 336 oder 32cund 33c; die bei demselben Muster
auf der Objektoberfläche abzutasten sind, in dem Bereich eine identische Adresse zugewiesen werden,
und die Entscheidung für die Positionsrelation wird erleichtert.
Da die Bildinformationsbearbeitungsvorrichtung, die
unter Bezugnahme auf F i g. 6 erläutert worden ist, die Suchbereiche der M uster innerhalb des einzelnen abzubildenden
Gesichtsfeldes willkürlich vorgeben kann, kann sie Muster aus den Suchbereichen in Positionen
abtasten, die für die entsprechenden Bildflächen unterschiedlich sind, während das Gesichtsfeld fest bleibt,
und sie kann die Standardmuster bei sämtlichen Gelegenheiten ändern. Dementsprechend können in dem
Falle, wo sämtliche vorgegebenen Suchbereiche auf der Objektoberfläche in dasselbe Gesichtsfeld der Bildaufnahmeeinrichtung
fallen, die Positionskoordinaten von unterschiedlichen Suchbereichen abgetastet werden,
indem lediglich die Bildflächenabtastungen wiederholt werden, und die Musterpositionen können innerhalb
kurzer Zeit abgetastet werden.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Schaltungsanordnung zur Erkennung der Lage einer Objektoberfläche, die ein mit einem vorgegebenen
Standärdmuster koinzidierendes Muster enthält, umfassend
a) eine Auswählstufe (46), die aus einem von der Objektoberfläche aufgenommenen Bild nacheinander
Teilbilder entnimmt,
b) eine Zuordnungsstufe (42), die dem jeweiligen Teilbild entsprechende Lagekoordinaten erzeugt,
c) eine Entscheidungsstufe (48), die die Teilbilder mit dem Standardmuster vergleicht und den
Koinzidenzgrad jedes Teilbildes ermittelt, und
d) eine Lagebestimmungseinrichtung, die aus der Reh1 ion der Positionskoordinaten mindestens
zweier ermittelter Teilbilder mit vorgegebenem Koinzidenzgrad die Lage der Objektoberfläche
bestimmt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Lagebestimmungseinrichtung
e) eine Speicherstufe (69), die die Positionskoordinaten mehrerer aus dem Bild der Objektoberfläche
entnommenen Teilbilder speichert, deren Koinzidenzgrad mit dem Standardmuster mindestens
einen vorgegebenen Wert aufweist, J0 sowie
0 eineSteuerung«,60)enlialt, die aus diesen Teilbildern
mit rrindesU-nr, dem vorgegebenen Koinzidenzgrad
diejenige Gruppe von Teilbildern zur Lagebestimmung der Objektoberfläche auswählt,
zwischen denen eine vorgegebene Positionsrelation besteht.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei zwei Standardmuster vorgegeben sind, dadurch
gekennzeichnet, daß die von derSteuerung (60) ausgewählte G ruppe ein Teilbild mit dem vorgegebenen
Koinzidenzgrad bezüglich eines der beiden Standardmuster und ein Teilbild mit dem vorgegebenen
Koinzidenzgrad bezüglich des anderen Standardmusters enthält.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch I oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Suchbereich-Teilerschaltung (50), die das ausgenommene Bild in eine Vielzahl von Bereichen
unterteilt, sowie eine Auswertstufe (55 ... 57) vorgesehen sind, die innerhalb jedes Bereiches die
Koordinaten desjenigen Teilbildes ermittelt, das mit dem Standardmuster maximale Koinzidenz aufweist,
und
daß die Steuerung (60) der Speicherstufe (69) die Koordinaten derjenigen in den Bereichen ermittelten
Teilbilder zuführt, die den vorgegebenen Koinzidenzgrad aufweisen.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Suchbereich- ω Teilerschaltung (50) das . aufgenowene Bild in
Bereiche derartiger Größe unterteilt, daß in jedem Bereich höchstens ein mit dem Standardmuster
koinzidierendes Teilbild enthalten ist.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3 oder 4, b5
dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertstufe
eine Speicherstufe (56, 57) mit einer Vielzahl von Datenspeicherbereichen zum Speichern der Koinzidenzgrade
und der Positionskoordinaten iin Zusammenhang mit den Bereichsadressen, und
einen Adressenschalter (55) umfaßt, der die die Koinzidenzgrade angebenden Daten ai.s denjenigen Datenspeicherbereichen innerhalb der Speicherstufe (56,57) ausliest, die den Bereichsadressen entsprechen, sie mit den jeweils neuen Koinzidenzgraden vergleicht, und die Inhalte der Datenspeicherbereiche in Abhängigkeit von den Vergleichsergebnissen durch die neuen Koinzidenzgraden und die von der Zuordnungsstufe (42) erzeugten Positionskoordinaten ersetzt.
einen Adressenschalter (55) umfaßt, der die die Koinzidenzgrade angebenden Daten ai.s denjenigen Datenspeicherbereichen innerhalb der Speicherstufe (56,57) ausliest, die den Bereichsadressen entsprechen, sie mit den jeweils neuen Koinzidenzgraden vergleicht, und die Inhalte der Datenspeicherbereiche in Abhängigkeit von den Vergleichsergebnissen durch die neuen Koinzidenzgraden und die von der Zuordnungsstufe (42) erzeugten Positionskoordinaten ersetzt.
6. Schaltungsanordnung nach Ansprach 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Taktgenerator (41) zur Erzeugung von Taktimpulsen vorgesehen ist, die die Betriebszeiten der
Auswählstufe (46) und der Zuordnungsstufe (42) bestimmen,
daß die Zuordnungsstufe (42) einen Zähler enthält, der die Taktimpulse zählt und AVAbszissenwerte und
Übertragungsimpulse liefert, und der die Übertragungsimpulsq zählt und K-Ortiinatenwerte liefert,
und
daß die Suchbereich-Teilerschaltung (50) folgende Baugruppen enthält:
ein erstes und ein zweites Register (70X 70)0 zum
Speichern eines AVAbszissenwertes und eines K-Ordinatenwertes des mit dem Standardmuster zu
vergleichenden ersten Teilbildes,
ein drittes und ein viertes Register (71A\ 71K) zum Speichern von Werten, um die Dimensionen von einem Bereich in Ablichtung und K-Riehtung vorzugeben,
ein drittes und ein viertes Register (71A\ 71K) zum Speichern von Werten, um die Dimensionen von einem Bereich in Ablichtung und K-Riehtung vorzugeben,
eine erste Abtasteinrichtung. (73A0, die den Inhalt des ersten Registers (7'0AO und den von der Zuordnungsstufe
(42) gelieferten AVAbszissenwert vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert,
einen ersten Zähler (76A0, der von dem Impulssignal der ersten Abtasteinrichtung (73A0 zurückgesetzt
wird und die Taktimpulse zählt,
eine zweite Abtasteinrichtung (74A0, die den Inhalt des ersten Zählers (76A0 und den Inhalt des dritten Registers (71A0 vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert, das den ersten Zähler (76A0 zurücksetzt,
eine zweite Abtasteinrichtung (74A0, die den Inhalt des ersten Zählers (76A0 und den Inhalt des dritten Registers (71A0 vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert, das den ersten Zähler (76A0 zurücksetzt,
einen zweiten Zähler (77A0, der vom Ausgangsimpuls der ersten Abtasteinrichtung (73A0 zurückgesetzt
wird und die Ausgangsimpulse von der zweiten Abtasteinrichtung (74A0 zählt,
eine dritte Abtasteinrichtung (73K), die den Inhalt des zweiten Registers (Ί0Υ) und den von der Zuordnungsstufe (42) gelieferte K-Ordinatenwert vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert, einen drittenZähler(76)0,dervom Impulssignal der dritten Abtasteinrichtung (73)0 zurückgesetzt wird und die Übertragungsimpulse der Zuordnungsstufe (42) zählt,
eine dritte Abtasteinrichtung (73K), die den Inhalt des zweiten Registers (Ί0Υ) und den von der Zuordnungsstufe (42) gelieferte K-Ordinatenwert vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert, einen drittenZähler(76)0,dervom Impulssignal der dritten Abtasteinrichtung (73)0 zurückgesetzt wird und die Übertragungsimpulse der Zuordnungsstufe (42) zählt,
eine vierte Abtasteinrichtung (74K), die den Inhalt des dritten Zählers (76K) und den Inhalt des vierten
Registers (71K) vergleicht und bei Koinzidenz ein Impulssignal liefert, das den dritten Zähler (76K)
zurücksetzt, und
einen vierten Zähler(77K), dervom Ausgangsimpuls
der dritten Abtasteinrichtung (73K) zurückgesetzt wird und die Ausgangsimpulse der vierten Ab-
tasteinrichtung zählt,
wobei die Werte des zweiten Zählers (77AO und des
vierten Zählers (77Y) jeweils die X- und K-Adressenwerte
des Bereiches bilden.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung
zur Erkennung der Lage einer Objektoberfläche m der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebenen
Gattung.
Aus der Deutschen Ofienlegungsschrift Nr. 24 04 183 ist einer derartige Schaltungsanordnung bekannt, wobei
davon ausgegangen wird, daß dis Objektoberfläche nur
ein einziges Teilbild enthält, das mit dem zum Vergleich vorgegebenen Standardmuster übereinstimmt. Die
Objektoberfläche wird dabei beispielsweise mittels einer Fernsehkamera abgetastet, wobei einzelne Teilbildcr
und ihre Lagekoordinater. erhalten werden. Die 2<
< einzelnen Teilbilder werden nacheinander mit dem Standardmuster verglichen, und es wird dasjenige Teilbild
für die Lagebestimmung herangezogen, das mit dem in der Schaltungsanordnung vorher gespeicherten
Standardmuster den höchsten Koinzidenzgrad aufweist. Derartige Schaltungsanordnungen werden beispielsweise
zur Lageerkennung von Halbleiteranordnungen eingesetzt, an denen Anschlußdrähte an genau
vorgegebenen Punkten automatisch anzubringen sind.
Zur Erkennung von Verdrehungen und zur Erhöhung jo der Genauigkeit können bei der bekannten Schaltungsanordnung
auch zwei oder mehrere voneinander verschiedene Standardmuster vorgegeben werden, wobei
jedoch die Objektoberfläche bezüglich jedes dieser Standardmuster nur ein einziges Teilbild aufweist, das
mit diesem übereinstimmt.
Die bekannte Schaltungsanordnung versagt dann, wenn in der Objektoberfläche kein singuläres, d. h. nur
einmal vorkommendes Teilbild vorhanden ist. Dies ist beispielsweise dann der Fall, wenn die Objektoberfläche
ein periodisches Muster aufweist In einem solchen Fall würde die Prüfung, die ausschließlich auf
maximale Koinzidenz zwischen den einzelnen Teilbildern und dem Standardmuster ausgerichtet ist, zu
keiner eindeutigen Lagebestimmung führen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Lage einer Objektoberfläche zuverlässig zu erkennen, wenn
diese eine Vielzahl von mit einem vorgegebenen Standardmuster übereinstimmenden Teilbildern enthält.
Die Lösung dieser Aufgabe ist im Kennzeichenteil des Patentanspruchs 1 angegeben. Danach werden die
Lagekoordinaten mehrerer Teilbilder gespeichert, die mindestens einen vorgegebenen Koinzidenzgrad mit
dem Standardmuster aufweisen, und aus diesen so gespeicherten Teilbildern werden diejenigen zur Lagebestimmung
der Objektoberfläche herangezogen, zwischen denen eine vorgegebene Positionsrelation
besteht.
Im Gegensatz zu dem oben abgehandelten Stand der Technik wird also bei der erfindungsgemäßen Schal- &o
tursgsanordnung nicht auf maximale Koinzidenz eines Teilbildes mit dem Standardmuster geprüft, sondern auf
das Vorhandensein eines vorgegebenen Koinzidenzgrades, der in der Praxis kleiner ist als der maximal erreichbare
Koinzidenzgrad. Dadurch werden unvermeidbare kleine Abweichungen der einzelnen Teilbilder der
Objektoberfläche, die mit dem Standardmuster an sich übereinstimmen, für die Zwecke der Lageerkennung
unschädlich gemacht. In weiterem Unterschied zum Stand der Technik wird als zusätzliches Merkmal für die
Lagebestimmung eine vorgegebene typische Positionsrelation zwischen den bereits ausgewählten Teilbildern
vorgegebener Koinzidenz benutzt.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend anhand der Zeichnungen näher erläutert. Diese
zeigen in
Fig. la und Ib schematische Darstellungen zur
Erläuterung von Mustern einer Objektoberfläche und eines Standardmusters zur Erläuterung des der Erfindung
zugrundeliegenden Prinzips;
F i g. 2 eine schematische Darstellung zur Erläuterung eines Beispiels eines Verfahrens zur Speicherung
der Positionskoordinaten einer Vielzahl von Mustern, die mit einem Standardmuster koinzidiert sind;
F i g. 3 eine schematische Darstellung zur Erläuterung eines anderen Beispiels einer Objektoberfläche
zur Positionsabtastung;
F i g. 4a und 4b sowie F i g. 5a und 5h schematische
Darstellungen von Musterzuständen in Mustersuchbereichen 12A und 12B zu dem Zeitpunkt, zu dem die
Objektoberfläche Positionsabweichungen erfahren hat;
Figo eine allgemeine schematische Darstellung zur
Erläuterung eines Ausführungsbeispiels einer Schaltungsanordnung zur Lageerkennung einer Objektoberfläche;
F i g. 7 eine detaillierte schematiscbe Darstellung zur
Erläuterung einer Suchbereich-Teilerschaltung bei der Anordnung nach F i g. 6; und in
F i g. 8a bis 8c sowie F i g. 9a bis 9c schematische Darstellungen
zur Erläuterung von weiteren Ausfuhrungsbeispielen, jeweils unter Verwendung mehrerer Arten
von Standardmustern.
Nachstehend soll zunächst einmal das der Erfindung zugrundeliegende Prinzip näher erläutert werden.
F i g. la zeigt beispielweise eine Objektoberfläche 10, die eine Vielzahl von Bildern oder Mustern la bis Ii mit
derselben Form aufweist. Nehmen wir einmal an, daß da- Muster Ib ein abzutastendes Zielbild ist, so wird
vorher ein Standardmuster, wie es in F i g. Ib dargestellt ist, mit derselben Eigenschaft wie drs Zielbild 2b
vorbereitet. Teilbilder 3, die jeweils dieselbe Größe wie das Standardmuster besitzen, werden aus dem Bild der
Objektoberfläche nacheinander bei der Abtastung entnommen. Die entsprechenden Teilbilder oder Teilmuster
werden mit dem Standardmuster verglichen, und es werden die Positionskoordinaten der Teilbilder zu den
Zeitpunkten nacheinander gespeichert, wenn sie Koinzidenz ergeben haben.
Jedes der Teilbilder oder Teilmuster und das Standardtiuster
bestehen aus einer Vielzahl von Bildelementen. Welches der Bildelemente verwendet wird, um
die PositionskoorcMnaten des Teilmusters zu repräsentieren, ist beliebig. Nehmen wir einmal an, daß die Positionskoordinaten
des Teilmusters von einem Bildelement an der rechten unteren Ecke des Teilmusterc
repräsentiert werfen, der in der Zeichnung als schwarzer Punkt dargestellt und nachstehend als »typischer
Punkt« bezeichnet wird, dann können die Positionskoordinaten der typischen Punkte 4a b.'-s 4/ durch das
obige Vorgehen erhalten werden.
Das Zielbild oder Zielmuster Ib hat beispielsweise
gegenüber den Mustern Ze und 2/eine derartige Positionsanordnung,
daß sie die entsprechenden Spitzen eines Dreieckes bilden, das mit gestrichelten Linien
eingetragen ist. Diese Positionsanordnung stellt eine Relation dar, die für den obigen Satz von Mustern spezi-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP54045353A JPS5923467B2 (ja) | 1979-04-16 | 1979-04-16 | 位置検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3014629A1 DE3014629A1 (de) | 1980-10-30 |
DE3014629C2 true DE3014629C2 (de) | 1984-03-22 |
Family
ID=12716906
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3014629A Expired DE3014629C2 (de) | 1979-04-16 | 1980-04-16 | Schaltungsanordnung zur Erkennung der Lage einer Objektoberfläche |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4334241A (de) |
JP (1) | JPS5923467B2 (de) |
DE (1) | DE3014629C2 (de) |
NL (1) | NL8002229A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3111027A1 (de) * | 1980-03-24 | 1982-02-18 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur positionsabtastung eines objektes |
WO1986003866A1 (en) * | 1984-12-14 | 1986-07-03 | Sten Hugo Nils Ahlbom | Image processing device |
Families Citing this family (77)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6016673B2 (ja) * | 1978-12-25 | 1985-04-26 | 川崎重工業株式会社 | サ−ボ系における被検体認識装置 |
US4450579A (en) * | 1980-06-10 | 1984-05-22 | Fujitsu Limited | Recognition method and apparatus |
JPS57157378A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Hitachi Ltd | Setting method of binary-coded threshold level |
DE3115613A1 (de) * | 1981-04-16 | 1982-11-04 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und anordnung zum codieren von aus in codesignale umzusetzenden zeichen bestehenden bildern |
US4443855A (en) * | 1981-05-06 | 1984-04-17 | Robert Bishop | Method of and apparatus for controlling robotic equipment with the aid of mask algorithm image processing techniques |
US4441205A (en) * | 1981-05-18 | 1984-04-03 | Kulicke & Soffa Industries, Inc. | Pattern recognition system |
US4475122A (en) * | 1981-11-09 | 1984-10-02 | Tre Semiconductor Equipment Corporation | Automatic wafer alignment technique |
US4490850A (en) * | 1981-12-17 | 1984-12-25 | Ncr Corporation | Matrix character recognition |
DE3205190A1 (de) * | 1982-02-13 | 1983-08-25 | Messer Griesheim Gmbh, 6000 Frankfurt | Einrichtung zur erstellung eines steuerlochstreifens fuer werkzeugmaschinen, insbesondere brennschneidmaschinen |
US5506682A (en) * | 1982-02-16 | 1996-04-09 | Sensor Adaptive Machines Inc. | Robot vision using targets |
JPS58146975A (ja) * | 1982-02-24 | 1983-09-01 | Sanyo Electric Co Ltd | パタ−ン認識装置 |
JPS58201185A (ja) * | 1982-05-19 | 1983-11-22 | Toshiba Corp | 位置検出装置 |
JPS5951536A (ja) * | 1982-09-14 | 1984-03-26 | Fujitsu Ltd | パタ−ン認識方法及びその装置 |
DE3382831T2 (de) * | 1982-10-08 | 2000-10-12 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Bildverarbeitungsgerät |
US4566125A (en) * | 1982-12-08 | 1986-01-21 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for pattern location |
JPS59111577A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | パタ−ン認識方法 |
US4926489A (en) * | 1983-03-11 | 1990-05-15 | Kla Instruments Corporation | Reticle inspection system |
US4581760A (en) * | 1983-04-27 | 1986-04-08 | Fingermatrix, Inc. | Fingerprint verification method |
US4908873A (en) * | 1983-05-13 | 1990-03-13 | Philibert Alex C | Document reproduction security system |
JPS6035890A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-23 | Kyoraku Co Ltd | 製品検査装置 |
JPS6083328A (ja) * | 1983-10-13 | 1985-05-11 | Fujitsu Ltd | フオトマスクの検査方法 |
US4618938A (en) * | 1984-02-22 | 1986-10-21 | Kla Instruments Corporation | Method and apparatus for automatic wafer inspection |
US4555726A (en) * | 1984-03-05 | 1985-11-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Video target track valid indicator |
US4626992A (en) * | 1984-05-21 | 1986-12-02 | Motion Analysis Systems, Inc. | Water quality early warning system |
JPS6118524A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-27 | Yanmar Diesel Engine Co Ltd | タイヤ式車両の油圧駆動装置 |
JPH0619670B2 (ja) * | 1984-12-17 | 1994-03-16 | 株式会社デイスコ | 自動精密位置合せシステム |
JPS61213612A (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-22 | Hitachi Ltd | プリント基板のパタ−ン検査装置 |
EP0207675B1 (de) * | 1985-06-19 | 1990-05-02 | Yamaguchi Cinema Corporation | Aufnahme- und Wiedergabegerät für Videosignale |
US4803644A (en) * | 1985-09-20 | 1989-02-07 | Hughes Aircraft Company | Alignment mark detector for electron beam lithography |
JPH0679325B2 (ja) * | 1985-10-11 | 1994-10-05 | 株式会社日立製作所 | 位置姿勢判定方法 |
US4969199A (en) * | 1986-02-28 | 1990-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for inspecting the molded case of an IC device |
US5046109A (en) * | 1986-03-12 | 1991-09-03 | Nikon Corporation | Pattern inspection apparatus |
US5067162A (en) * | 1986-06-30 | 1991-11-19 | Identix Incorporated | Method and apparatus for verifying identity using image correlation |
US4862286A (en) * | 1986-11-14 | 1989-08-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Image reading apparatus which adjusts image signals to improve signal balance |
GB8710737D0 (en) * | 1987-05-06 | 1987-06-10 | British Telecomm | Video image encoding |
US4814884A (en) * | 1987-10-21 | 1989-03-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Window generator |
US4849679A (en) * | 1987-12-31 | 1989-07-18 | Westinghouse Electric Corp. | Image processing system for an optical seam tracker |
US5226095A (en) * | 1988-11-04 | 1993-07-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of detecting the position of an object pattern in an image |
JP2810152B2 (ja) * | 1989-10-13 | 1998-10-15 | 株式会社日立製作所 | ポイントパターンマッチング方法 |
US5129014A (en) * | 1989-12-08 | 1992-07-07 | Xerox Corporation | Image registration |
US5402504A (en) * | 1989-12-08 | 1995-03-28 | Xerox Corporation | Segmentation of text styles |
US5062714A (en) * | 1990-02-12 | 1991-11-05 | X-Rite, Incorporated | Apparatus and method for pattern recognition |
US5137362A (en) * | 1990-03-26 | 1992-08-11 | Motorola, Inc. | Automatic package inspection method |
US5206820A (en) * | 1990-08-31 | 1993-04-27 | At&T Bell Laboratories | Metrology system for analyzing panel misregistration in a panel manufacturing process and providing appropriate information for adjusting panel manufacturing processes |
US5119436A (en) * | 1990-09-24 | 1992-06-02 | Kulicke And Soffa Industries, Inc | Method of centering bond positions |
KR960007481B1 (ko) * | 1991-05-27 | 1996-06-03 | 가부시끼가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 패턴검사방법 및 장치 |
US5495535A (en) * | 1992-01-31 | 1996-02-27 | Orbotech Ltd | Method of inspecting articles |
JPH0780758A (ja) * | 1993-09-17 | 1995-03-28 | Japan Steel Works Ltd:The | カメラ方式基準穴明機の加工穴識別方法 |
JP4114959B2 (ja) * | 1995-06-20 | 2008-07-09 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法及び装置 |
JP3793977B2 (ja) * | 1997-01-30 | 2006-07-05 | ソニー株式会社 | 画像照合装置 |
US6360234B2 (en) | 1997-08-14 | 2002-03-19 | Virage, Inc. | Video cataloger system with synchronized encoders |
US6833865B1 (en) * | 1998-09-01 | 2004-12-21 | Virage, Inc. | Embedded metadata engines in digital capture devices |
US6643400B1 (en) * | 1999-03-31 | 2003-11-04 | Minolta Co., Ltd. | Image processing apparatus and method for recognizing specific pattern and recording medium having image processing program recorded thereon |
US6788829B1 (en) * | 1999-03-31 | 2004-09-07 | Minolta Co., Ltd. | Image processing apparatus and method for recognizing specific pattern and recording medium having image processing program recorded thereon |
US7222163B1 (en) * | 2000-04-07 | 2007-05-22 | Virage, Inc. | System and method for hosting of video content over a network |
US8171509B1 (en) | 2000-04-07 | 2012-05-01 | Virage, Inc. | System and method for applying a database to video multimedia |
US7962948B1 (en) * | 2000-04-07 | 2011-06-14 | Virage, Inc. | Video-enabled community building |
US7260564B1 (en) * | 2000-04-07 | 2007-08-21 | Virage, Inc. | Network video guide and spidering |
DE10047211B4 (de) * | 2000-09-23 | 2007-03-22 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung einer Kante eines Strukturelementes auf einem Substrat |
JP4275345B2 (ja) * | 2002-01-30 | 2009-06-10 | 株式会社日立製作所 | パターン検査方法及びパターン検査装置 |
CA2369845A1 (en) | 2002-01-31 | 2003-07-31 | Braintech, Inc. | Method and apparatus for single camera 3d vision guided robotics |
WO2003064116A2 (en) * | 2002-01-31 | 2003-08-07 | Braintech Canada, Inc. | Method and apparatus for single camera 3d vision guided robotics |
US10721066B2 (en) | 2002-09-30 | 2020-07-21 | Myport Ip, Inc. | Method for voice assistant, location tagging, multi-media capture, transmission, speech to text conversion, photo/video image/object recognition, creation of searchable metatags/contextual tags, storage and search retrieval |
US6996251B2 (en) | 2002-09-30 | 2006-02-07 | Myport Technologies, Inc. | Forensic communication apparatus and method |
US7778438B2 (en) | 2002-09-30 | 2010-08-17 | Myport Technologies, Inc. | Method for multi-media recognition, data conversion, creation of metatags, storage and search retrieval |
US20050276508A1 (en) * | 2004-06-15 | 2005-12-15 | Lockheed Martin Corporation | Methods and systems for reducing optical noise |
JP2008506953A (ja) * | 2004-07-14 | 2008-03-06 | ブレインテック カナダ インコーポレイテッド | 機械視覚のための方法及び装置 |
KR101133130B1 (ko) * | 2006-03-28 | 2012-04-06 | 삼성테크윈 주식회사 | 기준 본드 패드들을 이용한 본딩 좌표 보정 방법 |
US20070276539A1 (en) * | 2006-05-25 | 2007-11-29 | Babak Habibi | System and method of robotically engaging an object |
WO2008036354A1 (en) * | 2006-09-19 | 2008-03-27 | Braintech Canada, Inc. | System and method of determining object pose |
US20080181485A1 (en) * | 2006-12-15 | 2008-07-31 | Beis Jeffrey S | System and method of identifying objects |
US7957583B2 (en) * | 2007-08-02 | 2011-06-07 | Roboticvisiontech Llc | System and method of three-dimensional pose estimation |
JP5098504B2 (ja) * | 2007-08-09 | 2012-12-12 | 富士通株式会社 | 文字認識プログラム、文字認識装置および文字認識方法 |
JP5202136B2 (ja) * | 2008-07-02 | 2013-06-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
US20100017033A1 (en) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | Remus Boca | Robotic systems with user operable robot control terminals |
US8559699B2 (en) * | 2008-10-10 | 2013-10-15 | Roboticvisiontech Llc | Methods and apparatus to facilitate operations in image based systems |
JP6976205B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2021-12-08 | 東レエンジニアリング株式会社 | チップ位置測定装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3492647A (en) * | 1966-12-23 | 1970-01-27 | Ncr Co | Optical character reader employing gated amplifiers |
JPS5214112B2 (de) * | 1973-02-22 | 1977-04-19 | ||
US4115805A (en) * | 1975-05-23 | 1978-09-19 | Bausch & Lomb Incorporated | Image analysis indexing apparatus and methods |
JPS5371850A (en) * | 1976-12-08 | 1978-06-26 | Toshiba Corp | Position detector |
US4208675A (en) * | 1978-03-20 | 1980-06-17 | Agence Nationale De Valorization De La Recherche (Anvar) | Method and apparatus for positioning an object |
US4281342A (en) * | 1978-03-29 | 1981-07-28 | Hitachi, Ltd. | Mark detecting system using image pickup device |
-
1979
- 1979-04-16 JP JP54045353A patent/JPS5923467B2/ja not_active Expired
-
1980
- 1980-04-14 US US06/140,415 patent/US4334241A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-04-16 NL NL8002229A patent/NL8002229A/nl not_active Application Discontinuation
- 1980-04-16 DE DE3014629A patent/DE3014629C2/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3111027A1 (de) * | 1980-03-24 | 1982-02-18 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur positionsabtastung eines objektes |
WO1986003866A1 (en) * | 1984-12-14 | 1986-07-03 | Sten Hugo Nils Ahlbom | Image processing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4334241A (en) | 1982-06-08 |
JPS5923467B2 (ja) | 1984-06-02 |
NL8002229A (nl) | 1980-10-20 |
JPS55138854A (en) | 1980-10-30 |
DE3014629A1 (de) | 1980-10-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3014629C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Erkennung der Lage einer Objektoberfläche | |
DE3111027C2 (de) | ||
DE3210814C2 (de) | Verfahren zum Bestimmen einer optimalen Schwelle für die Umsetzung eines Videosignals in ein Binärsignal und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2703158C3 (de) | Einrichtung zum Erfassen der Position eines Musters oder Zeichens | |
DE2935261C2 (de) | Anordnung zur Mustererkennung | |
DE3305710C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Merkmalserkennung bei auf einem Bildschirm darstellbaren Objekten | |
DE69032459T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Untersuchung eines leitenden Musters auf einer Leiterplatte | |
DE3855171T2 (de) | Bildsystem mit programmierbarer Steueranlage | |
DE69228741T2 (de) | Verfahren zur bestimmung der lokalen orientierung eines kontursegmentes und zur bestimmung von linien und ecken | |
DE2803653C3 (de) | Ausrichtvorrichtung | |
DE2404183B2 (de) | Vorrichtung zur Erkennung der Lage eines Musters | |
DE3318303C2 (de) | ||
DE69126853T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Herstellungsfehlern in Festkörperbauteilen | |
DE3415470A1 (de) | Geraet und verfahren zum codieren und speichern von rasterabtastbildern | |
DE2706655A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur realzeiterkennung von bildern | |
DE2755728B2 (de) | Kathodenstrahlröhren-Anzeigegerät | |
EP0095517A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion | |
DE2740483A1 (de) | Merkmal-detektor | |
DE2612971A1 (de) | Bildmuster-erkennungssystem | |
WO1999064815A1 (de) | Verfahren zur bestimmung des abstandes p einer kante eines strukturelementes auf einem substrat | |
DE2556151C2 (de) | Vorrichtung zum automatischen programmierten Anfertigen von Zeichnungen auf einem Substrat mittels eines Teilchenbündels | |
DE2816609C2 (de) | Anordnung zur Bildverarbeitung | |
DE3508400C2 (de) | Mustererkennungsvorrichtung | |
EP0298250B1 (de) | Flexible Erkennung von Objektstrukturen in Farb- und Grauwertbildern | |
DE3342491A1 (de) | Automatische vorrichtung zum herstellen oder pruefen von geraeten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: STREHL, P., DIPL.-ING. DIPL.-WIRTSCH.-ING. SCHUEBE |
|
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G06K 9/52 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8365 | Fully valid after opposition proceedings | ||
8380 | Miscellaneous part iii |
Free format text: SPALTE 1, ZEILE 61 "AUSGENOMMENE" AENDERN IN "AUFGENOMMENE" |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |