JPS59111577A - パタ−ン認識方法 - Google Patents

パタ−ン認識方法

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JPS59111577A
JPS59111577A JP57222381A JP22238182A JPS59111577A JP S59111577 A JPS59111577 A JP S59111577A JP 57222381 A JP57222381 A JP 57222381A JP 22238182 A JP22238182 A JP 22238182A JP S59111577 A JPS59111577 A JP S59111577A
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JP
Japan
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circuit
point
pattern
maximum
local maximum
Prior art date
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Application number
JP57222381A
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English (en)
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JPH024032B2 (ja
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Kazumasa Okumura
一正 奥村
Haruhiko Yokoyama
晴彦 横山
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/40Extraction of image or video features
    • G06V10/44Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components
    • G06V10/443Local feature extraction by analysis of parts of the pattern, e.g. by detecting edges, contours, loops, corners, strokes or intersections; Connectivity analysis, e.g. of connected components by matching or filtering

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、2次元的なパターンの位置を無接触で認識す
るパターン認識方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、無接触で対象物の位置を検出するためにパターン
認識の産業界における要求は増々高まり一部は半導体組
立工程等に利用されている。以下、図面を参照しながら
、上述したような従来のパターンマツチングによる位置
認識について説明を行なう。
第1図は従来のパターンマツチングによる位置認識方法
の構成を示すブロック図である。第1図において、1は
撮像装置、2は撮像装置1を駆動するための同期信号発
生回路、3は走査ビームの位置を得るだめの座榛発生回
路、4は煽像装置1からの映像信号を2値化する回路か
らなる前処理回路、5はシフトレジスタからなる一時記
憶回路、6は一時記憶回路5に記憶されたパターンのう
ち一致度検出に用いるパターンを並列的に切り出すため
の2次元パターン切出し回路、7はあらかじめ登録され
ているパターンを一致度検出ができる形で記憶される標
準パターン記憶回路、8は2次元パターン切出し回路6
で切り出されるノ々ターンと標準パターン記憶回路7に
記憶されているパターンとを比較し、一致の度合を検出
する一致度検出回路、9は一致度を記憶する一致度記憶
回路、10は一致度の比較を行なう比較回路、11は一
致度検出回路8より出力された一致度を一致度記憶回路
9へ伝えるゲート回路、12は座標発生回路3より出力
された座標を座標記憶回路へ伝えるゲート回路、13は
走査ビームの座標を記憶する座標記憶回路である。
以上のように構成されたパターンマツチングによる位置
認識方法について、以下その動作について説明する。!
、ず半導体チップ等の対象物は、撮像装置1により映像
信号に変換される。この時の走査ビームは同期信号発生
回路2が発生した同期信号に同期しておりその座標は座
標発生回路3より常時得られる。次に映像信号は前処理
回路4で論理回路が扱いやすい2値化信号に変換されシ
フトレジスタからなる一時記憶回路5へ入力される。
この中から次の2次元パターン切出し回路6によって、
映像情報が縦横ある大きさく例えば16×16画素)を
もった四角形のパターン情報として順次読み出される。
一致度検出回路8では、2次元パターン切出し回路6で
切り出されたパターンと標準パターン記憶回路7に記憶
されている標準パターンとを比較し一致の度合いを検出
する。検出された一致度は一致度記憶回路9に過去にお
いて記憶されている一致度と比較回路10で比較し、検
出した一致度の方が大きい時にゲート回路11を開いて
一致度記憶回路9の内容を更新する。この比較回路10
の出力は、さらにゲート回路12にも送られ、その時の
走査ビームの座標値を座標記憶回路13へ導き、過去に
記憶された座標値を更新する。
この動作を繰り返し走査の終了するフレームの最後の時
点では、あらかじめ記憶されている標準パターンに最も
合致したパターンが存在した画像中の座標位置X、Yが
、その時の一致度と共に記憶され保持される。
しかしながら、上記のような構成では最もよくパターン
が合致した座標値しか検出されず、もし正しく認識され
るべきパターンが傷やよごれ等により欠陥がある時、他
の関係ないパターンの方がよく合致することがあシ、そ
の場合正しく認識されるべきバタ〜ンは検出されないと
いう欠点を有していた。
発明の目的 本発明は上記欠点に鑑み、正しく認識されるべきパター
ンよりもよく標準パターンと合致するパターンがあって
も、正しく認識されるべきパターンを認識し信頼性高く
位置の検出ができるパターン認識方法を提供するもので
ある。
発明の構成 本発明は2種類以上の標準パターンとその座標値及び標
準パターン間の距離と角度をあらかじめ記憶し、1標準
パターン毎にパターンマツチングにより得た一致度が1
フレームの画像内で極大となる座標値とその極大値をn
個検出し、標準パターン間のn2通りの組合せについて
距離及び角度の検定を行ない、1組の認識点を求め標準
パターンとのすれ量と回転角を求めることがら構成され
ている。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
第2図は本発明の一実施例におけるパターン認識方法の
構成を示すブロック図である。第2図において、20は
第1図で示したパターンマツチング回路、21はパター
ンマツチング回#!r20から出力される一致度を一時
的に記憶する一時記憶回路、22は画面上のある点の周
囲8画素分の一致度を切出す8近傍切出し回路、23a
〜23hは8近傍での一致度と比較する回路、24は比
較した結果を元に極大点かどうか判定する極大点判定回
路、25は極大価の順位を決定する極大値順位決定回路
、26は第1位極大値記憶回路、27は第2位極大値記
憶回路、28はパターン4ソテング回路20より供給さ
れる極大点を記憶する第1位極大点記憶回路、29は第
2位極大点記憶回路、30は切換回路、31a及び31
bはどちらも第1位と第2位の極大点を記憶する極太点
記憶回路、32は合計4点の極大点から2点(1組)の
認識点を決定する認識点決定回路である。
以上のように構成されたパターン認識方法について以下
その動作について説明する。
対象物を1フレーム走査したときに、パターンマツチン
グ回路20より出力される一致度が仮に第3図のように
表わされたとする。第3図ではa点が最も一致度が大き
い点であり、b点はa点より1画素ずれた点、0点は正
しく認識されるべき点とする。この状態をさらに第4図
にて説明する。
第4図の1は標準パターンでありこのパターンで画面を
走査し各々の点における一致度を検出する。
第4図の1は標準パターンであり4は第3図の0点にお
けるパターンの例で正しく認識されるべきパターンであ
るがイ部分のパターンが欠落しているために一致度は8
0/100となりa点〜C点のうちでは最も小さい。第
4図の2,3は各々第3図のa点、b点のパターンの例
であり、2は一致度91/100,3は88/100で
ある。
この例では0点を検出したいのであるが、一致度の大き
い順に2点の候補点を選ぶとa点、b点のみ検出され0
点は検出されない。0点を2番目の候補点として検出す
るには、一致度が極大となる座標を検出する必要がある
第2図において、パターンマツチング回路2゜より出力
される一致度は、シフトレジスタからなる一時記憶回路
21に記憶される。
第4図1の口の画素が標準パターンの座標値を代表する
とした場合、口が第5図のA〜工で示される位置を走査
した時の各々の一致度を第2図に示す8近傍切出し回路
22にて切出す。第2図の比較回路23 a −hと極
大点判定回路24では、切出されたE点の一致度とその
周囲の点(8近傍の点)の一致度とを比較し下記の条件
がすべて満足された時、E点の一致度は極大点であると
判定する。
E   >A    、  Eof>Boror   
     er E   )C、E8r>D、r or         er E>E    9  Eer ≧08□er     
    er E   >ki    p  ”6r  ≧”exor
         er 但し、八〇r(l−j:A点における一致度であり以下
Ber”””orは各々の点での一致度を表わす。
1〜1点での一致度とE点での一致度との比較をした時
に等しい一致度であっても極大点と判定しているので、
E点と連続した1点が同じ一致度であっても極大点を見
逃すことなくまた重複して検出することもなく効果的に
極大点判定を行なう。
極大点であることを判定すると、極大値と第1位極大値
記憶回路26に過去に記憶されている極大値と極大値順
位決定回路25で比較し、慣大点と判定した極大値の方
が大きい時には第1位極大値記憶回路26及び第1位極
大点記憶回路28の内容を更新する。また第2位極大値
記憶回路27には第1位極大値記憶回路26に記憶され
ていた内容が転送され、第2位極大点記憶回路29には
第1位極大点記憶回路28に記憶されていた門番が転送
される。
極大と判定した極大値が、第1位極大値記憶回路26の
内容より小さく第2位極大値記憶回路27の内容より大
きい時は、第2位極大値記憶回路27と第2位極大点記
憶回路の内容を更新する。
第1位極大点記憶回路28及び第2位極大点記憶回路2
9の内容は切換回路30を経て憔犬点記憶回路sia[
記憶される。また次に異なる標準パターンにて極大点を
検出した時、極大点記憶回路31bに記憶きれる。認識
点決定回路32では合計4点の極大点から2点(1組)
の認識点が決定される。第6図にその例を示す。103
81′i標準パターン101に対する第1位極大点、1
03bは標準パターン101に対する第2位極大点、1
04aは標準パターン102に対する第1位極大点、1
04bは標準パターン102に対する第2位極大点を示
す。この場合、まずへ〜υベクトルの距離とEベクトル
の距離rとの差を谷々求めベクトルと!軸とのなす角度
θとの差を求め、距離の差と角度の差が最小となる元ベ
クトルをMする103aと104bの極太点が1組の認
識点として決定される。また、103aの座標値と10
1の座標値との差及び104bの座標値と102の座標
値との差を演算することにより標準パターン2点とのず
れ量が求められる。
以上のように本実施例によれば、1種類の標準パターン
について一致度が極大となる座標を2点検出し、極大点
間の距離及び角度の検定を行なうことにより正しく認識
されるべきパターンよす標準パターンと合致するパター
ンが存在する場合でも正しく認識されるべきパターンを
効果的にgWし信頼性の高い位置検出をすることができ
る。
発明の効果 以上のように本発明は、1褌類の標準パターン毎にパタ
ーンマツチングにより得た一致度が極大となる座標値を
複数個検出し、2種類の標準パターンから得た極大点間
の検定で1組の認識点を決定することにより、認識され
るべきパターンによごれや鍋等があり他の類似パターン
より一致度が低い場合でも最少種類の標準パター/で効
果的に信頼性高く回転角を含めたイy装置の認識をする
ことができ、その実用的効果は犬なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパターンマツチングによる1■隨認識の
構成を示すブロック図、第2図は本発明の一実施例にお
けるブロック図、第3図は画面走肴に対する一致度の変
化の一例を示す図、第4図(jJ〜4)は第3図におけ
る一致度の変化をより具体的に説明するためのパターン
の状態を示す図、第5図は8近傍の点を示す図、第6図
は極大点間の検定の説明図である。 21・・・・・・一時6己憶回路、22・・・・・・8
L傍切出し回路、23a〜23h・・・・・・比較回路
、24・・・・・・ピーク判定回路、2b・・・・・・
ピーク誼順位次定回路、26・・・・・第1位ピーク1
@記憶回路、27・・・・・・第2位ピーク値古己憶回
路、28・・・・・・第1位ピーク点記憶回路、29・
・・・・・第2位ピーク点ml憶回路、3゜・・・・・
・切換回路、31a・・・・・・慣大点記憶回路、31
b・・・・・極大点記憶回路、32・・・・・・認識点
決定回路。 第3図 第4図 (21C3)             (4)第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 撮像装置により撮像した対象物の認識すべき部分的なパ
    ターンを標準パターンとして2種類以上記憶する工程と
    、前記標準パターンの座標値及び標準パターン間の距離
    と角度を記憶する工程と、1フレームの画像内で1標準
    パターン毎にパターンマツチングから得られる一致度が
    極大となる座標値すなわち極大点のうち、一致度すなわ
    ち極大値の大きい順に第1位〜第n位の極大点を検出し
    、前記極大点と極大値を記憶する工程と、標準パターン
    間のn2通りの組合せについて距離及び角度の検定を行
    ない、あらかじめ記憶されている前記標準パターン間の
    距離と角度に最も近い1組の極大点を認識点として決定
    する工程を有したパターン認識方法。
JP57222381A 1982-12-17 1982-12-17 パタ−ン認識方法 Granted JPS59111577A (ja)

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JP57222381A JPS59111577A (ja) 1982-12-17 1982-12-17 パタ−ン認識方法

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JP60194408A Division JPS6194184A (ja) 1985-09-03 1985-09-03 一致度極大点検出装置

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JPS59111577A true JPS59111577A (ja) 1984-06-27
JPH024032B2 JPH024032B2 (ja) 1990-01-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6424348A (en) * 1987-07-20 1989-01-26 Agency Ind Science Techn Pattern recognizing device

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49111665A (ja) * 1973-02-22 1974-10-24
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JPH024032B2 (ja) 1990-01-25

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