DE2624958C3 - Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid - Google Patents

Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid

Info

Publication number
DE2624958C3
DE2624958C3 DE19762624958 DE2624958A DE2624958C3 DE 2624958 C3 DE2624958 C3 DE 2624958C3 DE 19762624958 DE19762624958 DE 19762624958 DE 2624958 A DE2624958 A DE 2624958A DE 2624958 C3 DE2624958 C3 DE 2624958C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gallium nitride
gallium
temperature
nitrogen
single crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19762624958
Other languages
English (en)
Other versions
DE2624958A1 (de
DE2624958B2 (de
Inventor
Jean-Philippe Ablon-Sur- Seine Hallais
Roland Paris Madar
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE2624958A1 publication Critical patent/DE2624958A1/de
Publication of DE2624958B2 publication Critical patent/DE2624958B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2624958C3 publication Critical patent/DE2624958C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/04Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • C30B11/08Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt every component of the crystal composition being added during the crystallisation
    • C30B11/12Vaporous components, e.g. vapour-liquid-solid-growth

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid in einem Temperaturgradienten aus der Galliumschmelze in einem stickstoffhaltigen Gas.
Es ist bekannt, daß in der Halbleiterindustrie ein großes Interesse für Galliumnitrid besteht wegen seiner großen vebotenen Bandbreite, die es ermöglicht, zahlreiche Farben und insbesondere ein blaues Licht zu erhalten.
Elektrolumineszierendes Galliumnitrid ist also von besonderer Bedeutung.
Bisher konnte Galliumnitrid nur durch epitaktische Verfahren unter Verwendung von Ammoniak als Stickstoffquelle erhalten werden. Je nach der Art des Substrats handelte es sich entweder! um Heteroepitaxie oder um Homoepitaxie.
Die Heteroepitaxie erfolgte auf einkristallinen Substraten verschiedener Körper, dc.en Kristallgitter den epitaktischen Aufwachsprozeß ermöglichten, während die Homoepitaxie auf einer Galliur hitridschicht erfolgte, die im Zusammenhang mit dem Stand der Technik nur mit einer heteroepitaktischen Schicht als Ausgangsmaterial erhalten werden konnte.
Es ist auch ein Verfahren zum Synthetisieren von Galliumnitrid bekannt, bei welchem bei einer Temperatur zwischen 8200C und 11000C gasförmiges Galliumchlorid mit Ammoniak zur Reaktion gebracht wird. Das Chlorid wird mittels eines Trägergases, wie Wasserstoff Helium, Argon oder Stickstoff, mitgeführt und die Schicht wird auf einem geeigneten Substrat abgelagert, das aus Korund oder aus einem Spinell besteht.
Alle bisher angewendeten Verfahren führten zu der Bildung von Einkristallen aus N-Ieitendem Galliumnitrid, die oft sehr stark dotiert oder höchstens isolierend waren.
Es ist bekannt, daß für die Halbleiter die P-Dolierung besonders wichtig iüt, die bei Elektrolumineszenz die Injektion bevorzugter Ladungsträger gestattet.
Wie oben bereits erwähnt, ist das Galliumnitrid wegen seiner großen verbotenen Bandbreite für diese Anwendung besonders interessant; es ist daher erwünscht, PN-Übergänge erhalten zu können, die insbesondere für die Elektrolumineszenz geeignet sind. Beim Fehlen solcher Übergänge ist die Elektrolumineszenz möglich infolge der Bildung von MIS-Strukturen (Metall (z. B. Gold)-isolierendes GaN, das durch Dotierung mit Zn oder Mg erhalten ist — nichtdotiertes N-Ieitendes GaN); gleichzeitig wurden aber viele Versuche gemacht, um P-Ieitendes Galliumnitrid zu erhalten, wodurch PN-Übergänge erhalten werden konnten.
Die Versuche, die gemacht wurden, um P-Ieitendes Material herzustellen, haben bisher keine günstigen Resultate ergeben. Nach der Veröffentlichung von H. P. Maruska und J. J. Tietjen in »Applied Physics Letters«, Band 15, Nr. 10 (1969) scheint es, daß dotiertes Galliumnitrid durch Dotierung mit Germanium erhalten worden ist. Im April 1972 wurden jedoch in einem Aufsatz von Ilegems und H. C. Montgomery in J. Chem. Solids (1973), Band 34, S. 885-895 die vorher veröffentlichten Ergebnisse in Abrede gestellt, wobei erwähnt wurde, daß die genannte P-Dotierung für das
to Galliumnitrid das Resultat einer »falschen Messung« infolge von Kontaktproblemen war.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Bedingungen zu präzisieren, bei welchen während der Züchtung von Galliumnitrid außer einer befriedigenden kristallinen Güte auch eine P-Dotierung reproduzierbar erhalten werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Galliumschmelze mit einer Oberflächentemperatur zwischen 1050 und 13000C einer Stickstoff-Atmo-Sphäre von einem Druck zwischen 1000 und 25 000 bar ausgesetzt wird.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß der N-Typ des nicht dotierten Galliumnitrids die Folge der Nicht-Stöchiometriedes Materials ist.
Zur Durchführung des Verfahrens werden reines flüssiges Gallium und reiner gasförmiger Stickstoff zusammengebracht.
Die Reaktion erfolgt innerhalb eines Autoklav, der mit Einlaßmitteln versehen ist, die mit Mitteln, mit deren Hilfe das Gas beim Einführen unter Druck gebracht wird und mit Mitteln zur gesteuerten Erhitzung zusammenwirken. Die Reaktion umfaßt nacheinander die folgenden Stufen: Evakuieren des Autoklav, in dem sich das flüssige Galliumbad befindet; Zusetzen eines Gases unter dem gewählten Druck; Erhitzung und anschließende Abkühlung.
Die Einkristalle aus Galliumnitrid werden im flüssigen Galliumbad gebildet, das sich in einem Behälter befindet, der auf der Innenseite des Autoklav befestigt ISt.
Die Einkristalle können auf einem geeigneten Substrat gebildet werden, das in dem flüssigen Galliumbad angeordnet ist.
Das Substrat kann z. B. aus Korund, einem Spinell oder wenigstens an der Stelle, an der Galliumnitrid gezüchtet wird, aus N-Ieitendem Galliumnitrid bestehen.
Die Vorteile dieses Verfahrens sind zahlreich. Mit diesem Verfahren können Einkristalle vom P-Typ erhalten werden, was offenbar bisher noch nie gelungen ist.
Die kristalline Qualität ist sehr gut und die Mittel zum Durchführen des genannten Verfahrens sind einfach.
Es wird die bekannte Technik zur Züchtung von Kristallen in einer Lösung und insbesondere das sogenannte VLS-Verfahren (Vapour-liquid-solid= Dampf- Flüssigkeit- Feststoff) verwendet.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnung beispielsweise näher erläutert. Es zeigen
Fig. 1 in graphischer Darstellung die Gleichgewiehtskurve des GaN als Funktion des Stiekstoffdmkkes und der Reaktionstemperalur.
F i g. 2 schematisch eine Hochdruck-Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens und
F i g. 3 einen Schnitt durch ein beschichtetes Substrat, daß gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren erhalten ist.
F i g. 1 zeigt in graphischer Darstellung die Gleichge-
wichtskurve des GaN als Funktion des Sticks to ffdrukkes in bar (als Ordinate) und der Reaktionstemperatur in °C(alsAbzisse),
Der oberhalb der Kurve liegende Teil I definiert die optimalen Bedingungen, unter denen Galliumnitridkristalle erhalten werden, die P-dotiert sind.
Der unterhalb der Kurve liegende Teil Il definiert die Bedingungen, unter denen das Nitrid in Ga und '/2 N2 zerlegt wird.
Günstige Ergebnisse werden also in der Zone I erzielt Außerdem wurde gefunden, daß die Reaktion des Stickstoffs mit dem Gallium bei 1050°C eingesetzt und mit noch bessserer Ausbeute bei 11000C abläuft Unterhalb dieser Temperatur ist die Reaktion praktisch unmöglich, weil der Stickstoff nicht genügend reaktiv ist
Zur Definition der Reaktionsbedingungen wird also von der Zone I in F i g. 1 ausgegangen, die einerseits von der schrägen Gleichgewichtskurve und andererseits von der senkrechten punktierten durch eine Temperatur in der Nähe von 11000C gehenden Kurve begrenzt wird Die schraffierte Zone in der graphischen Darstellung definiert die optimalen Bedingungen. Da der Stickstoff unter einem hohen bekannten Druck mitgeführt wird, kann durch das Ablesen der graphischen Darstellung die 2s maximale Reaktionstemperatur bestimmt werden.
Da der hohe Druck konstant ist, wird die Temperatur so lange aufrechterhalten, bis die gewünschte Dicke der zu bildenden Einkristalle aus Galliumnitrid erreicht ist
Da die optimalen Bedingungen des Druckes zwischen 1000 und 25 000 bar liegen, liegt die optimale Reaktionstemperatur zwischen HOO0C und 1300°C
Es wird auf folgende Weise verfahren. In einer Reaktionskammer 20, die in einem Ofen 21 angeordnet ist (der durch einen die genannte Kammer umgebenden Heizwiderstand gebildet wird), die mit einer in der Figur nicht dargestellten Umhüllung einen »Autoklav« 22 bildet, wird ein Behälter 23 aus Quarz, aus Bornitrid oder aus Graphit angebracht In dem genannten Behälter 23 wird gegebenenfalls ein Substrat 1 angeordnet, je nach dem, ob eine epitaktische Züchtung oder eine Züchtung einzelner Einkristalle gewünscht wird. Je nach der Art des Substrats wird eine Homoepitaxie oder eine Heteroepitaxie durchgeführt
In dem genannten Behälter 23 ist ein flüssiges Galliumbad 24 angeordnet
Zur kristallinen Züchtung ist der Ofen derart eingerichtet, daß ein Temperaturgradient von etwa 1000C zwischen der Lösungszone und der Ablagerungszone erhalten wird, wobei die erste Zone als »heißer Punkt« und die zweite Zone als »kalter Punkt« bezeichnet wird.
Der reine Stickstoff wird durch einen Satz von Rohren (schematisch mit 25 bezeichnet) zu einem Kompressor 26, dann durch Rohre 27 zu einem Dnjckvervielfacher 28 und danach über Rohre 29 zur Reaktionskammer 20 unter hohem Druck geführt wobei die Vakuumbedingungen in der genannten Kammer bereits vorher vor der Einführung des Stickstoffes eingestellt wurden.
Während sich die Kammer 20 unter einem hohen bekannten Druck befindet, wird die Umgebungstemperatur allmählich auf eine maximale Reaküonstemperatur erhöht, die als Funktion des Druckes bestimmt und von einem Aufzeichnungsgerät (schematisch mit 30 bezeichnet) geregelt wird.
Sobald die Reaktion eingesetzt bildet sich GaN am sogenannten »heißen Punkt« und diffundiert dann infolge des, Temperaturgradienten, der einen Konzentrationsgradienten zur Folge hu:, allmählich zum Inneren des flüssigen Gaiiiiums, wodurch innerhalb der Ablagerungszone der Niederschlag stattfinden kann.
Der Vorgang wird über eine gewisse Dauer fortgesetzt, die von den Abmessungen der gewünschten Einkristalle abhängig ist
Anschließend wird die Temperatur allmählich herabgesetzt, bis die Umgebungstemperatur wieder erreicht ist, wonach der Druck beseitigt und innerhalb des Behälters 23 die P-dotierten GaN-Einkristalle gesammelt werden, wobei das eventuell verbleibende Gallium durch eine Behandlung mit Königswasser, das das GaN nicht angreift, entfernt werden kann.
Fig.3 zeigt im Schnitt ein gemäß dem Verfahren nach der Erfindung erhaltenes beschichtetes Substrat
Ein Substrat 1 trägt eine Schicht 2 aus Galliumnitrid vom P-Typ. Das Substrat 1 besteht z. B. aus Korund mit einer Dicke zwischen 03 mm und 1 mm, z. B. 0,6 mm, einer Breite von 6 mm und einer Länge von 12 inta.
Die Dicke der Schicht 2 aus P-Ieitendem Galliumnitrid mit einer Dicke von 7 bis 8 μπι wurde mittels Röntgenstrahlen gemessen.
Die Messungen mit Hilfe des Hall-Effekts und die Seebeck-Versuche (»heiße Sonde«) haben bestätigt, daß es sich um P-Ieitende Schichten handelt Die Ladungsträgerkonzentrationen lagen in der Größenordnung von 1017, der spezifische Widerstand lag in der Nähe von 50 Ω · cm und die Ladungsträger-Beweglichkeit zwischen 1 und 5 cm2 ν-'s-'.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid in einem Temperafurgradienten aus der Galliumschmelze in einem stickstoffhaltigen Gas, dadurch gekennzeichnet, daß die Galliumschmelze mit einer Oberflächentemperatur zwischen 1050 und 13000C einer Stickstoff-Atmosphäre von einem Druck zwischen 1000 und 25 000 bar ausgesetzt wird.
DE19762624958 1975-06-13 1976-06-03 Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid Expired DE2624958C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7518581A FR2313976A1 (fr) 1975-06-13 1975-06-13 Procede de fabrication de monocristaux de nitrure de gallium et monocristaux obtenus par la mise en oeuvre de ce procede

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2624958A1 DE2624958A1 (de) 1976-12-23
DE2624958B2 DE2624958B2 (de) 1980-01-31
DE2624958C3 true DE2624958C3 (de) 1980-09-25

Family

ID=9156506

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762624958 Expired DE2624958C3 (de) 1975-06-13 1976-06-03 Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS51151299A (de)
DE (1) DE2624958C3 (de)
FR (1) FR2313976A1 (de)
GB (1) GB1551403A (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL173917B1 (pl) * 1993-08-10 1998-05-29 Ct Badan Wysokocisnieniowych P Sposób wytwarzania krystalicznej struktury wielowarstwowej
AU7346396A (en) * 1995-10-13 1997-04-30 Centrum Badan Wysokocisnieniowych Method of manufacturing epitaxial layers of gan or ga(a1,in)n on single crystal gan and mixed ga(a1,in)n substrates
PL186905B1 (pl) * 1997-06-05 2004-03-31 Cantrum Badan Wysokocisnieniow Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN
TW519551B (en) * 1997-06-11 2003-02-01 Hitachi Cable Methods of fabricating nitride crystals and nitride crystals obtained therefrom
EP0979883A4 (de) * 1997-12-25 2003-10-15 Japan Energy Corp Verfahren und vorrichtung zur herstellung von einkristallen von verbundhalbleitern und einkristalle von verbundhalbleitern
JP5348123B2 (ja) * 1999-06-09 2013-11-20 株式会社リコー 結晶製造装置
JP5082213B2 (ja) * 2004-08-20 2012-11-28 三菱化学株式会社 金属窒化物および金属窒化物の製造方法
JP2010042976A (ja) * 2008-07-16 2010-02-25 Sumitomo Electric Ind Ltd GaN結晶の成長方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB1551403A (en) 1979-08-30
JPS51151299A (en) 1976-12-25
FR2313976A1 (fr) 1977-01-07
DE2624958A1 (de) 1976-12-23
DE2624958B2 (de) 1980-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60101069T2 (de) Siliziumkarbid und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1965258C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer epitaktischen Schicht
DE3446956C2 (de)
DE3620329A1 (de) Verfahren zur herstellung von einkristall-substraten aus siliciumcarbid
DE2822963A1 (de) Verfahren zur herstellung von pbs tief x se tief 1-x -epischichten mittels gleichgewichtzuechtung
DE2624958C3 (de) Verfahren zum Züchten von einkristallinem Galliumnitrid
DE1913718C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
DE1034776B (de) Diffusionsverfahren fuer leitungstypbestimmende Verunreinigungen in Halbleiteroberflaechen
DE2449305A1 (de) Verfahren zur herstellung von defektlosen epitaxialschichten
DE1444505A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Einkristallverbindungen
DE2154386C3 (de) Verfahren zum Herstellen einer epitaktischen Halbleiterschicht auf einem Halbleitersubstrat durch Abscheiden aus einem Reaktionsgas/Trägergas-Gemisch
EP1805354B1 (de) Verfahren zur herstellung von gruppe-iii-nitrid- volumenkristallen oder -kristallschichten aus metallschmelzen
DE3123232C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines pn-Übergangs in einem ZnSe-Einkristall
DE1644045B2 (de) Verfahren zur Herstellung dotierter Galliumphosphideinkristalle zur Verwendung als Halbleiterkörper in elektrolumineszenten Bauelementen mit pnÜbergang
DE2040761A1 (de) Infrarotempfindliches photoleitendes Halbleiterbauelement und Verfahren zum Herstellen dieses Halbleiterbauelementes
DE2452197A1 (de) Verbesserung eines verfahrens zum epitaktischen anwachsen aus der fluessigkeitsphase
DE1644009A1 (de) Verfahren zum Herstellen stabfoermiger Siliciumeinkristalle mit homogener Antimondotierung
DE3616358C2 (de) Verfahren zum Aufwachsen einer GaAs-Einkristallschicht
DE10034263A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Quasisubstrats
DE112019004418T5 (de) Verfahren zur auswertung der kohlenstoffkonzentration einer siliziumprobe, verfahren zur auswertung eines siliziumwaferherstellungsprozesses, verfahren zur herstellung eines siliziumwafers und verfahren zur herstellung eines siliziumeinkristallingots
DE2212295B2 (de) Verfahren zur Herstellung von Silicium- oder Germanium-Epitaxialschichten
DE1523001A1 (de) Verfahren zur Bestimmung des Donatorgehalts von hochreinen Halogensilanen,insbesondere von Siliciumtetrachlorid oder Silicochloroform
DE1955971C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum epitaxialen Abscheiden von Gallium im Gemisch mit wenigstens einem Element der V. Hauptgruppe des Periodensystems
DE2111946B2 (de) Verfahren und vorrichtung zum epitaktischen aufwachsenlassen eines kristalls auf einer unterlage
DE1908277C3 (de) Verfahren zum Herstellen von aus Galliumarsenid bestehenden epitak tischen Aufwachsschichten nach dem Schmelzepitaxieverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
OD Request for examination
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee