PL186905B1 - Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN - Google Patents

Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN

Info

Publication number
PL186905B1
PL186905B1 PL97320392A PL32039297A PL186905B1 PL 186905 B1 PL186905 B1 PL 186905B1 PL 97320392 A PL97320392 A PL 97320392A PL 32039297 A PL32039297 A PL 32039297A PL 186905 B1 PL186905 B1 PL 186905B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
crystals
concentration
metals
temperature
producing high
Prior art date
Application number
PL97320392A
Other languages
English (en)
Other versions
PL320392A1 (en
Inventor
Michał Boćkowski
Izabella Grzegory
Stanisław Krukowski
Michał Leszczyński
Bolesław Łucznik
Sylwester Porowski
Tadeusz Suski
Mirosław Wróblewski
Original Assignee
Cantrum Badan Wysokocisnieniow
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cantrum Badan Wysokocisnieniow filed Critical Cantrum Badan Wysokocisnieniow
Priority to PL97320392A priority Critical patent/PL186905B1/pl
Priority to US09/445,169 priority patent/US6273948B1/en
Priority to DE69803067T priority patent/DE69803067T2/de
Priority to AT98923236T priority patent/ATE211189T1/de
Priority to JP50218799A priority patent/JP4198762B2/ja
Priority to PCT/PL1998/000023 priority patent/WO1998055671A1/en
Priority to EP98923236A priority patent/EP0986655B1/en
Publication of PL320392A1 publication Critical patent/PL320392A1/xx
Publication of PL186905B1 publication Critical patent/PL186905B1/pl

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B9/00Single-crystal growth from melt solutions using molten solvents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/40AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • C30B29/403AIII-nitrides
    • C30B29/406Gallium nitride
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10S117/906Special atmosphere other than vacuum or inert
    • Y10S117/907Refluxing atmosphere

Abstract

Sposób wytwarzania wysokooporowych krysztalów objetosciowych GaN, w którym krystalizacja odbywa sie w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierajacej gal w koncentracji nie mniejszej niz 90 at.% oraz metale grupy II ukladu okre- sowego: magnez, wapn, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%, a proces pro- wadzi sie pod cisnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 1300-1700°C, znamienny tym, ze gradient temperatury jest nie wiekszy niz 10°C na centymetr. PL PL

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN dla potrzeb optoelektroniki.
Z francuskiego opisu zgłoszeniowego nr FR 12313976 znany jest sposób wytwarzania monokryształów azotku galu poprzez krystalizację w kąpieli płynnego galu znajdującej pod ciśnieniem azotu w zakresie od 0,1 do 2,5 GPa, przy czym proces prowadzony jest w temperaturze od 1100 do 1300°C, a jego efektem są kryształy o dobrym przewodnictwie elektrycznym.
W publikacji międzynarodowej WO 95/04845 ujawniono sposób otrzymywania domieszkowanych kryształów GaN poprzez krystalizację w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w ilości nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego takie jak magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm w koncentracji 0,01-10 at.%. Proces krystalizacji prowadzony jest w temperaturze 400-2000°C, pod ciśnieniem azotu do 1 GPa i w gradiencie temperatury. Powstanie kryształów GaN stanowi pierwszy etap procesu otrzymywania półprzewodnikowych struktur wielowarstwowych. W jednym z przykładów realizacji wynalazku w pierwszym etapie tygiel z ciekłym galem umieszczono pod ciśnieniem azotu równym 1 GPa, a następnie wytworzono w tyglu gradient temperatury (pomiędzy częściami o temperaturach 1410°C i 1350°C), w wyniku czego powstały kryształy GaN. W drugim etapie procesu ciśnienie obniżono o 0,1 GPa i na powstałych wcześniej kryształach narastała warstwa GaN o niskiej koncentracji wakansji azotowych. W celu domieszkowania końcowej części kryształu do roztworu dodano 10 at.% magnezu.
Żadna z cytowanych wyżej publikacji nie zawierała wskazówek dotyczących wielkości gradientu temperatury procesu.
Celem wynalazku było opracowanie sposobu otrzymywania objętościowych kryształów azotku galu o wysokiej oporności elektrycznej a jednocześnie wysokiej jakości strukturalnej. Cel ten zrealizowano poprzez określenie maksymalnego gradientu temperatury, przy którym uzyskuje się kryształy o pożądanych własnościach.
Krystalizacja sposobem według wynalazku odbywa się w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w koncentracji nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego: magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%. Proces prowadzi się pod ciśnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 13001700°C. Sposób według wynalazku charakteryzuje się tym, że gradient temperatury jest nie większy niż 10°C na centymetr.
Taki gradient zapewnia niskie przesycenie w strefie wzrostu, potrzebne do otrzymania prędkości wzrostu GaN nie większej niż 0,2 mm/h, wymaganej dla stabilnego wzrostu kryształów o dużych rozmiarach. W rezultacie otrzymuje się kryształy GaN w formie heksagonalnych płytek o wysokiej oporności właściwej, równej 104-108 Qcm, bardzo wysokiej jakości strukturalnej i parametrach sieci zbliżonych do idealnych. Kryształy takie stanowią doskonałe podłoża do uzyskiwania nienaprężonych warstw homoepitaksjalnych.
186 905
W przykładowej realizacji wynalazku do pionowego tygla z grafitu pyrolitycznego wlano w osłonie gazu obojętnego mieszaninę metali o czystości półprzewodnikowej, zawierającą 99,5 at.% galu oraz 0,5 at.% magnezu. Tygiel umieszczono w trzystrefowym piecu grafitowym, który z kolei umieszczono wewnątrz komory wysokociśnieniowej. W komorze tej w pierwszym etapie wytworzono próżnie 10'5 Torr. Następnie układ wygrzewano w próżni w temperaturze 800°C w czasie 12 godzin. Po wygrzaniu układu komorę napełniono azotem o czystości 6N uzyskując wstępne ciśnienie z butli 10-15 MPa. Gaz sprężono do ciśnienia 1,5 GPa i po sprężeniu układ podgrzano do temperatury 1550°C, utrzymując stałą temperaturę wzdłuż osi tygla. Następnie temperaturę dolnego końca tygla obniżono o 30°C uzyskując gradient temperatury wzdłuż osi tygla nie większy niż 10°C/cm. Takie warunki procesu utrzymywano w czasie 120 godzin. Po 120 godzinach krystalizacji układ schłodzono z prędkością 5°Ć/min do temperatury pokojowej, po czym ciśnienie azotu obniżono do ciśnienia atmosferycznego. Po wyjęciu tygla z komory wysokociśnieniowej, podgrzano go do temperatury 50°C i wylano metal z tygla. Na dnie tygla znajdowały się kryształy GaN w formie heksagonalnych płytek o rozmiarach 68 mm. Kryształy wydobyto z tygla i poddano trawieniu w wodzie królewskiej w celu usunięcia resztek metalu. Uzyskane kryształy charakteryzowały się opornością właściwą równą 106 Gem i bardzo wysoką jakością strukturalną. Szerokość połówkowa rentgenowskiej krzywej odbić dla refleksu (0004) takich kryształów wynosi 20-30 sekund kątowych, a parametry sieci a i c są bardzo jednorodne i w wynoszą odpowiednio 3,1877 A i 5,1848 A.
186 905
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 50 egz. Cena 2,00 zł.

Claims (1)

  1. Zastrzeżenie patentowe
    Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN, w którym krystalizacja odbywa się w roztworze atomowego azotu w stopionej mieszaninie metali zawierającej gal w koncentracji nie mniejszej niż 90 at.% oraz metale grupy II układu okresowego: magnez, wapń, cynk, beryl lub kadm, w koncentracji 0,01-10 at.%, a proces prowadzi się pod ciśnieniem azotu 0,5-2.0 GPa i w temperaturze 1300-1700°C, znamienny tym, że gradient temperatury jest nie większy niż 10°C na centymetr.
PL97320392A 1997-06-05 1997-06-05 Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN PL186905B1 (pl)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL97320392A PL186905B1 (pl) 1997-06-05 1997-06-05 Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN
US09/445,169 US6273948B1 (en) 1997-06-05 1998-06-03 Method of fabrication of highly resistive GaN bulk crystals
DE69803067T DE69803067T2 (de) 1997-06-05 1998-06-03 VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON GaN KRISTALLEN MIT HOHEM WIDERSTAND
AT98923236T ATE211189T1 (de) 1997-06-05 1998-06-03 Verfahren zur herstellung von gan kristallen mit hohem widerstand
JP50218799A JP4198762B2 (ja) 1997-06-05 1998-06-03 高抵抗性GaNバルク結晶の製造方法
PCT/PL1998/000023 WO1998055671A1 (en) 1997-06-05 1998-06-03 THE METHOD OF FABRICATION OF HIGHLY RESISTIVE GaN BULK CRYSTALS
EP98923236A EP0986655B1 (en) 1997-06-05 1998-06-03 THE METHOD OF FABRICATION OF HIGHLY RESISTIVE GaN BULK CRYSTALS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL97320392A PL186905B1 (pl) 1997-06-05 1997-06-05 Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL320392A1 PL320392A1 (en) 1998-12-07
PL186905B1 true PL186905B1 (pl) 2004-03-31

Family

ID=20070025

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL97320392A PL186905B1 (pl) 1997-06-05 1997-06-05 Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6273948B1 (pl)
EP (1) EP0986655B1 (pl)
JP (1) JP4198762B2 (pl)
AT (1) ATE211189T1 (pl)
DE (1) DE69803067T2 (pl)
PL (1) PL186905B1 (pl)
WO (1) WO1998055671A1 (pl)

Families Citing this family (76)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5679152A (en) * 1994-01-27 1997-10-21 Advanced Technology Materials, Inc. Method of making a single crystals Ga*N article
FR2796657B1 (fr) * 1999-07-20 2001-10-26 Thomson Csf Procede de synthese de materiaux massifs monocristallins en nitrures d'elements de la colonne iii du tableau de la classification periodique
US6447604B1 (en) 2000-03-13 2002-09-10 Advanced Technology Materials, Inc. Method for achieving improved epitaxy quality (surface texture and defect density) on free-standing (aluminum, indium, gallium) nitride ((al,in,ga)n) substrates for opto-electronic and electronic devices
AU2002235146A1 (en) 2000-11-30 2002-06-11 North Carolina State University Non-thermionic sputter material transport device, methods of use, and materials produced thereby
AU2002219978A1 (en) 2000-11-30 2002-06-11 Kyma Technologies, Inc. Method and apparatus for producing miiin columns and miiin materials grown thereon
JP2003040699A (ja) * 2001-06-06 2003-02-13 Ammono Sp Zo O ガリウム含有窒化物のバルク単結晶の製造法
PL207400B1 (pl) 2001-06-06 2010-12-31 Ammono Społka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością Sposób i urządzenie do otrzymywania objętościowego monokryształu azotku zawierającego gal
KR100904501B1 (ko) * 2001-10-26 2009-06-25 암모노 에스피. 제트오. 오. 에피택시용 기판
KR100679377B1 (ko) 2001-10-26 2007-02-05 암모노 에스피. 제트오. 오. 질화물 벌크 단결정층을 사용한 발광 디바이스 구조
JP3910047B2 (ja) * 2001-11-20 2007-04-25 松下電器産業株式会社 半導体記憶装置
US7125453B2 (en) * 2002-01-31 2006-10-24 General Electric Company High temperature high pressure capsule for processing materials in supercritical fluids
US7063741B2 (en) * 2002-03-27 2006-06-20 General Electric Company High pressure high temperature growth of crystalline group III metal nitrides
AU2002354463A1 (en) 2002-05-17 2003-12-02 Ammono Sp.Zo.O. Bulk single crystal production facility employing supercritical ammonia
JP4663319B2 (ja) * 2002-06-26 2011-04-06 アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン ガリウム含有窒化物バルク単結晶の製造方法
TWI334890B (en) * 2002-12-11 2010-12-21 Ammono Sp Zoo Process for obtaining bulk mono-crystalline gallium-containing nitride, eliminating impurities from the obtained crystal and manufacturing substrates made of bulk mono-crystalline gallium-containing nitride
US7101433B2 (en) * 2002-12-18 2006-09-05 General Electric Company High pressure/high temperature apparatus with improved temperature control for crystal growth
US7638815B2 (en) * 2002-12-27 2009-12-29 Momentive Performance Materials Inc. Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure
US9279193B2 (en) 2002-12-27 2016-03-08 Momentive Performance Materials Inc. Method of making a gallium nitride crystalline composition having a low dislocation density
KR101293352B1 (ko) 2002-12-27 2013-08-05 제너럴 일렉트릭 캄파니 갈륨 나이트라이드 결정, 호모에피택셜 갈륨나이트라이드계 디바이스 및 이들의 제조 방법
US8357945B2 (en) * 2002-12-27 2013-01-22 Momentive Performance Materials Inc. Gallium nitride crystal and method of making same
US7098487B2 (en) 2002-12-27 2006-08-29 General Electric Company Gallium nitride crystal and method of making same
US7786503B2 (en) * 2002-12-27 2010-08-31 Momentive Performance Materials Inc. Gallium nitride crystals and wafers and method of making
US8089097B2 (en) * 2002-12-27 2012-01-03 Momentive Performance Materials Inc. Homoepitaxial gallium-nitride-based electronic devices and method for producing same
US20070040181A1 (en) * 2002-12-27 2007-02-22 General Electric Company Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure
US20060169996A1 (en) * 2002-12-27 2006-08-03 General Electric Company Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure
US7859008B2 (en) * 2002-12-27 2010-12-28 Momentive Performance Materials Inc. Crystalline composition, wafer, device, and associated method
US7170095B2 (en) * 2003-07-11 2007-01-30 Cree Inc. Semi-insulating GaN and method of making the same
US7009215B2 (en) * 2003-10-24 2006-03-07 General Electric Company Group III-nitride based resonant cavity light emitting devices fabricated on single crystal gallium nitride substrates
JP4489446B2 (ja) * 2004-01-21 2010-06-23 独立行政法人科学技術振興機構 ガリウム含有窒化物単結晶の製造方法
JP2007534609A (ja) * 2004-04-27 2007-11-29 アリゾナ ボード オブ リージェンツ 高度発光ドープ金属窒化物粉末を合成するための方法
DE102004048453A1 (de) * 2004-10-05 2006-04-20 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Erhöhung des Umsatzes von Gruppe-III-Metall zu Gruppe-III-Nitrid in einer Gruppe-III-haltigen Metallschmelze
DE102004050806A1 (de) * 2004-10-16 2006-11-16 Azzurro Semiconductors Ag Verfahren zur Herstellung von (AI,Ga)N Einkristallen
US7704324B2 (en) * 2005-01-25 2010-04-27 General Electric Company Apparatus for processing materials in supercritical fluids and methods thereof
WO2008048303A2 (en) * 2005-12-12 2008-04-24 Kyma Technologies, Inc. Group iii nitride articles and methods for making same
US7942970B2 (en) 2005-12-20 2011-05-17 Momentive Performance Materials Inc. Apparatus for making crystalline composition
US8231726B2 (en) * 2006-01-20 2012-07-31 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting element, group III nitride semiconductor substrate and method for manufacturing such group III nitride semiconductor substrate
WO2007108338A1 (ja) * 2006-03-23 2007-09-27 Ngk Insulators, Ltd. 窒化物単結晶の製造方法および装置
US9909230B2 (en) 2006-04-07 2018-03-06 Sixpoint Materials, Inc. Seed selection and growth methods for reduced-crack group III nitride bulk crystals
US9790617B2 (en) 2006-04-07 2017-10-17 Sixpoint Materials, Inc. Group III nitride bulk crystals and their fabrication method
JP2007284267A (ja) * 2006-04-13 2007-11-01 Sumitomo Electric Ind Ltd GaN結晶の製造方法
US8871024B2 (en) * 2008-06-05 2014-10-28 Soraa, Inc. High pressure apparatus and method for nitride crystal growth
US9157167B1 (en) 2008-06-05 2015-10-13 Soraa, Inc. High pressure apparatus and method for nitride crystal growth
US8097081B2 (en) 2008-06-05 2012-01-17 Soraa, Inc. High pressure apparatus and method for nitride crystal growth
US9404197B2 (en) 2008-07-07 2016-08-02 Soraa, Inc. Large area, low-defect gallium-containing nitride crystals, method of making, and method of use
US10036099B2 (en) 2008-08-07 2018-07-31 Slt Technologies, Inc. Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules
US8979999B2 (en) 2008-08-07 2015-03-17 Soraa, Inc. Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules
US8987156B2 (en) 2008-12-12 2015-03-24 Soraa, Inc. Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making
USRE47114E1 (en) 2008-12-12 2018-11-06 Slt Technologies, Inc. Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making
US20100147210A1 (en) * 2008-12-12 2010-06-17 Soraa, Inc. high pressure apparatus and method for nitride crystal growth
US9543392B1 (en) 2008-12-12 2017-01-10 Soraa, Inc. Transparent group III metal nitride and method of manufacture
US9589792B2 (en) 2012-11-26 2017-03-07 Soraa, Inc. High quality group-III metal nitride crystals, methods of making, and methods of use
US8878230B2 (en) 2010-03-11 2014-11-04 Soraa, Inc. Semi-insulating group III metal nitride and method of manufacture
US9250044B1 (en) 2009-05-29 2016-02-02 Soraa Laser Diode, Inc. Gallium and nitrogen containing laser diode dazzling devices and methods of use
US9800017B1 (en) 2009-05-29 2017-10-24 Soraa Laser Diode, Inc. Laser device and method for a vehicle
US8509275B1 (en) 2009-05-29 2013-08-13 Soraa, Inc. Gallium nitride based laser dazzling device and method
US9175418B2 (en) 2009-10-09 2015-11-03 Soraa, Inc. Method for synthesis of high quality large area bulk gallium based crystals
US9564320B2 (en) 2010-06-18 2017-02-07 Soraa, Inc. Large area nitride crystal and method for making it
US8729559B2 (en) 2010-10-13 2014-05-20 Soraa, Inc. Method of making bulk InGaN substrates and devices thereon
US9694158B2 (en) 2011-10-21 2017-07-04 Ahmad Mohamad Slim Torque for incrementally advancing a catheter during right heart catheterization
US10029955B1 (en) 2011-10-24 2018-07-24 Slt Technologies, Inc. Capsule for high pressure, high temperature processing of materials and methods of use
US10145026B2 (en) 2012-06-04 2018-12-04 Slt Technologies, Inc. Process for large-scale ammonothermal manufacturing of semipolar gallium nitride boules
US9275912B1 (en) 2012-08-30 2016-03-01 Soraa, Inc. Method for quantification of extended defects in gallium-containing nitride crystals
US9299555B1 (en) 2012-09-28 2016-03-29 Soraa, Inc. Ultrapure mineralizers and methods for nitride crystal growth
US9650723B1 (en) 2013-04-11 2017-05-16 Soraa, Inc. Large area seed crystal for ammonothermal crystal growth and method of making
WO2015020161A1 (ja) * 2013-08-08 2015-02-12 三菱化学株式会社 自立GaN基板、GaN結晶、GaN単結晶の製造方法および半導体デバイスの製造方法
EP3146093A1 (en) 2014-05-23 2017-03-29 Sixpoint Materials, Inc. Group iii nitride bulk crystals and their fabrication method
US11437774B2 (en) 2015-08-19 2022-09-06 Kyocera Sld Laser, Inc. High-luminous flux laser-based white light source
US10174438B2 (en) 2017-03-30 2019-01-08 Slt Technologies, Inc. Apparatus for high pressure reaction
US11239637B2 (en) 2018-12-21 2022-02-01 Kyocera Sld Laser, Inc. Fiber delivered laser induced white light system
US11421843B2 (en) 2018-12-21 2022-08-23 Kyocera Sld Laser, Inc. Fiber-delivered laser-induced dynamic light system
US11466384B2 (en) 2019-01-08 2022-10-11 Slt Technologies, Inc. Method of forming a high quality group-III metal nitride boule or wafer using a patterned substrate
US11884202B2 (en) 2019-01-18 2024-01-30 Kyocera Sld Laser, Inc. Laser-based fiber-coupled white light system
CN110643934A (zh) * 2019-09-20 2020-01-03 深圳市晶相技术有限公司 一种半导体设备
US11705322B2 (en) 2020-02-11 2023-07-18 Slt Technologies, Inc. Group III nitride substrate, method of making, and method of use
US11721549B2 (en) 2020-02-11 2023-08-08 Slt Technologies, Inc. Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use
CN116040966A (zh) * 2023-01-17 2023-05-02 东华大学 一种利用热高压强处理的玻璃化学强化方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2313976A1 (fr) 1975-06-13 1977-01-07 Labo Electronique Physique Procede de fabrication de monocristaux de nitrure de gallium et monocristaux obtenus par la mise en oeuvre de ce procede
PL173917B1 (pl) * 1993-08-10 1998-05-29 Ct Badan Wysokocisnieniowych P Sposób wytwarzania krystalicznej struktury wielowarstwowej
AU7346396A (en) 1995-10-13 1997-04-30 Centrum Badan Wysokocisnieniowych Method of manufacturing epitaxial layers of gan or ga(a1,in)n on single crystal gan and mixed ga(a1,in)n substrates
JP3876473B2 (ja) * 1996-06-04 2007-01-31 住友電気工業株式会社 窒化物単結晶及びその製造方法
JPH107496A (ja) * 1996-06-25 1998-01-13 Hitachi Cable Ltd 窒化物結晶の製造方法およびその装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002513375A (ja) 2002-05-08
EP0986655B1 (en) 2001-12-19
DE69803067T2 (de) 2002-07-18
EP0986655A1 (en) 2000-03-22
US6273948B1 (en) 2001-08-14
ATE211189T1 (de) 2002-01-15
PL320392A1 (en) 1998-12-07
DE69803067D1 (de) 2002-01-31
JP4198762B2 (ja) 2008-12-17
WO1998055671A1 (en) 1998-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL186905B1 (pl) Sposób wytwarzania wysokooporowych kryształów objętościowych GaN
KR100883472B1 (ko) 단결정 실리콘 카바이드 잉곳, 단결정 실리콘 카바이드웨이퍼 및 이들을 제조하는 방법
US7279040B1 (en) Method and apparatus for zinc oxide single crystal boule growth
US6562124B1 (en) Method of manufacturing GaN ingots
US8088220B2 (en) Deep-eutectic melt growth of nitride crystals
US20060174826A1 (en) Tantalum based crucible
US7794842B2 (en) Silicon carbide single crystal, silicon carbide single crystal wafer, and method of production of same
EP2940196A1 (en) METHOD FOR PRODUCING n-TYPE SiC SINGLE CRYSTAL
CN107190323A (zh) 一种生长低缺陷碳化硅单晶的方法
US20060048701A1 (en) Method of growing group III nitride crystals
JP2004189549A (ja) 窒化アルミニウム単結晶の製造方法
WO1981001016A1 (en) Minimization of strain in single crystals
JP5428706B2 (ja) SiC単結晶の製造方法
EP0946411A1 (en) Method for the synthesis of group iii nitride crystals
Tabatabai Yazdi et al. Growth of Cd0. 96Zn0. 04Te single crystals by vapor phase gas transport method
JPH11116373A (ja) 低転位密度の化合物半導体単結晶及びその製造方法並びに製造装置
JPH0784360B2 (ja) 半絶縁性GaAs基板の製造方法
RU2209861C2 (ru) Подложка для выращивания эпитаксиальных пленок и слоев нитрида галлия
JPS60210591A (ja) 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法
Elizabeth et al. Growth and extraction of flux free YBCO crystals
JP4518782B2 (ja) 二ホウ化物単結晶の製造方法
Glass et al. Control of defects and impurities in production of CdZnTe crystals by the Bridgman method
JPH06279198A (ja) 半絶縁性ガリウム砒素化合物半導体単結晶の製造方法
Kamiyama et al. Crystallization of GaN in Its Thermal Decomposition
JP2002241199A (ja) ZnTe系化合物半導体単結晶の製造方法およびZnTe系化合物半導体単結晶