DE2608610A1

DE2608610A1 - Speicher fuer eine inspektionsmaschine

Info

Publication number: DE2608610A1
Application number: DE19762608610
Authority: DE
Inventors: John William Juvinall
Original assignee: Owens Illinois Inc
Current assignee: OI Glass Inc
Priority date: 1975-03-27
Filing date: 1976-03-02
Publication date: 1976-09-30
Also published as: ES450214A1; PT64944A; GB1530684A; JPS51114983A; FR2305824A1; ZA761032B; DE2608610B2; PT64944B; NL7602312A; CA1044349A; GR59911B; IT1057268B; FR2305824B1; BR7601239A; JPS5652255B2; AU1139076A; DE2608610C3; US3941686A; ES445670A1

Description

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PATENTANWÄLTE

dr. ing. II. NEGENDANK (-1073) · dipping. H. HAUCK · dipl.-phy3. W. SCHMITZ dipping. E. GRAALFS · dipping. W. WEHNERT

HAMBURG-MÜNCHEN λ λ η η C- Λ A

2dUoo ιU

: HAMBURG 36 · NEUER WAXI- 41

TEL, 30 74 28 TJNB 86 4110 TELEGR. NEGKDAPATENT

Owens-Illinois, Inc. München 15 . mozartstr. 23

TEL. G S8 05 86 P 0 BOX 10^55 TEtEGR. NEGEDAPATENT MÜNCHEN

Toledo, Ohio 43 666 (USA)

Hamburg. 26. Februar 1976

Speicher für eine Inspektionsmaschine

Die Erfindung bezieht sich auf einen Speicher für eine Glasbehälter-Inspektionsmaschine, und zwar insbesondere auf einen Speicher für eine Glasbehälter-Inspektionsmaschine, welcher die Glasbehälter zur Inspektion von Station zu Station weiterführt. Besonders richtet sich die Erfindung auf einen Festkörperspeicher für eine solche Inspektionsmaschine.

Eine weitgehend bekannte Art einer derartigen Inspektionsmaschine für Glasbehälter ist in der Maschine gegeben, die als FP-Maschine bekannt ist, und die von der Firma Owens-Illinois, Inc. hergestellt wird. Es handelt sich hierbei um eine umlaufende Teilbewegungsmaschine, wo die Glasbehälter zur Inspektion durch eine Anzahl von Stationen in Teilbewegungen hindurchgeführt werden. Es kann an jeder Station ein Fehler fest-

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ORlQiNAL

gestellt werden, jedoch kann ein Zurückwerfen eines fehlerhaften Behälters nicht stattfinden, bevor nicht die letzte Inspektionsstation durchlaufen worden ist. Somit benötigen diese Maschinen einen Speicher, der das Zurückhalten von Informationen fehlerhafter Behälter gestattet, bis ein Zurückwerfplatz erreicht ist. Noch vor Bekanntwerden dieser Erfindung hat man Speicher unter Verwendung von Nadeln oder eines Magnetbandes benutzt. Jedoch sind dies im Grunde mechanische Vorrichtungen, bei denen nicht nur Wartungsprobleme, sondern auch Schwierigkeiten hinsichtlich der Genauigkeit der Speicherung von Informationen auftraten. Gemäß der Erfindung wird ein Festkörperspeicher für diese Maschine vorgeschlagen, welcher mit zuverlässigen, dauerhaften elektronischen Komponenten arbeitet. Hierdurch werden die Wartungsprobleme herabgesetzt und die Zuverlässigkeit bei der Zurückhaltung der Speicherung erhöht. Es kommt ein sehr schneller Taktschritt zur Anwendung, um eine Gruppe reihengeschalteter Flip-Flop-Einrichtungen in einer kürzeren Zeit als der Übertragungszeit der Information durch die Flip-Flop-Einrichtungen zu stoppen.

Speichereinrichtungen dieser allgemeinen Art sind in der Technik nicht unbekannt. Es wird z.B. verwiesen auf die US-Patente 3 259 240, 3 263 810, 3 565 249 und 3 581 889. Das beste Beispiel, das dem Erfinder aus dem Stand der Technik bekannt ist, ist das US-Patent 3 757 940. Die Lehre dieses Patents richtet sich auf einen Festkörper speicher für eine ähnliche FP-Maschine. Der Speicher des genannten Patents war erfolgreich, er ist jedoch recht kompliziert und für sehr hohe Betriebsgeschwindig-

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keiten ausgelegt. Er verlangt zwei Speicher und zwei getrennte Taktfrequenzen, um ein abströmseitiges Zurückwerfen der fehlerhaften Behälter zu gestatten. Außerdem müssen die Taktschritte verzögert und aufbereitet werden, um fehlerhafte Informationsverschiebungen zu vermeiden. Die Erfindung ist ausgelegt für FP-Maschinen, welche bei mäßigen Geschwindigkeiten arbeiten und kein abströmseitiges Zurückwerfen erfordern. Außerdem ist gemäß der Erfindung der Stromkreis des genannten Patents vereinfacht und die Notwendigkeit der Verzögerung und Aufbereitung der Taktschritte ausgeschaltet. Ferner ist die Art der Taktschritterzeugung gemäß der Erfindung erheblich einfacher, da nur ein einziger Taktschritt bei einer einzigen Frequenz erforderlich ist.

Die Erfindung besteht in einer Inspektionsmaschine für Glasbehälter. In dieser Maschine wird jeweils ein Glasbehälter zur Zeit von einem sich ununterbrochen bewegenden Förderer abgenommen und nacheinander durch eine Anzahl von InspektionsStationen hindurchgeführt. Die Inspektionsmaschine enthält eine Flaschenfehlerlogik- und-sucheinrichtung, welche Ausgangssignale erzeugt, wenn die inspizierten Glasbehälter an irgendeiner der Inspektionsstationen nach einem oder mehreren Gesichtspunkten fehlerhaft sind. Die Erfindung besteht insbesondere in einem verbesserten Speicher für diese Maschine. Es sind eine Anzahl Servomanipulator-Flip-Flop-Einrichtungen in Reihenschaltung verbunden; die Anzahl der Flip-Flop-Einrichtungen ist um eins größer als die Anzahl der Inspektionsstationen. Es sind Mittel vorgesehen, um

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einen Ausgangsleiter von der Logikeinrichtung mit jeder der Flip-Flop-Einrichtungen mit Ausnahme der letzten der Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen zu verbinden. Eine Zeiteinstellung weist einen ersten elektrischen Zustand auf, wenn die Inspektionsmaschine inspiziert und einen zweiten elektrischen Zustand, wenn sich die Inspektionsmaschine in ihrem Fortbewegungstakt befindet. Eine elektronische Taktkreiseinrichtung erzeugt einen Taktschritt mit einer schnelleren Anstiegszeit als der Informationsübertragungszeit durch irgendeine der Flip-Flop-Einrichtungen in Abhängigkeit von dem Übergang der Zeiteinstellvorrichtung von dem zweiten elektrischen Zustand in den ersten elektrischen Zustand. Die Taktkreiseinrichtung ist mit der Zeiteinstellvorrichtung und jeder der Flip-Flop-Einrichtungen verbunden. Ein elektronischer Ausgangskreis erzeugt ein Signal, wenn die letzte der Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen ein Signal führt, welches das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters anzeigt, und wenn der Taktschritt vorhanden ist. Der Ausgangskreis ist mit einem Ausgangsanschluß der letzten Flip-Flop-Einrichtung und der Taktkreiseinrichtung verbunden.

Es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Draufsicht zur Darstellung der wechselseitigen Beziehung zwischen der vorliegenden Erfindung und einer Glasbehälterinsp^ktionsmaschine, und

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Fig. 2 ein Blockschema des Speichers gemäß der Erfindung.

Fig. 1 zeigt die mechanische und elektronische Einrichtung der vorliegenden Erfindung in einer schematischen Darstellung. Die vorliegende Erfindung ist ausgelegt insbesondere zur Zusammenarbeit mit einer Flaschenmesseinrichtung, wie beispielsweise in dem US-Patent 3 313 409 beschrieben, dessen Lehre hiermit durch Bezugnahme dieser Erfindung einverleibt ist. Es wird angenommen, daß die Lehren des genannten Patents klar genug sind, um es einem Fachmann auf diesem Gebiet zu ermöglichen, die vorliegende Erfindung zu verwenden, wenn sie schematisch beschrieben wird. Mit dem Bezugszeichen 10 wird allgemein eine Messeinrichtung oder Gegenstandsinspektionsmaschine bezeichnet. Die Inspektionsmaschine 10 enthält eine umlaufende Scheibe 12 mit darin eingeschnittenen Taschen zur Aufnahme der zu inspizierenden Glasbehälter 14. Die Glasbehälter 14 werden der Inspektionsmaschine 10 von einem sich ständig bewegenden Förderer 16 in einer Einzelreihe zugeführt. Der Förderer 16 dienx auch zur Entfernung der Gegenstände aus der Messmaschine 10. Der Förderer 16 dient somit als eine Einrichtung zur Lieferung und Entfernung von Gegenständen aus der Messeinrichtung 10. Entsprechend der Lehre des US-Patents 3 313 409 wird der Glasbehälter 14, der in der mit A bezeichneten Tasche in Stellung gebracht ist, aufeinanderfolgend gedreht und zu Stellungen oder Stationen weitergeführt, die mit B, C, D, E und F bezeichnet sind. Die Inspektion der Glasbehälter 14 wird an den Stationen B, C, D, E und F von einer Einrichtung durchgeführt, die nicht

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in der Zeichnung dargestellt ist, die jedoch Fachleuten auf diesem Gebiet hinreichend bekannt ist. Die Station G ist eine Station, in welcher ein Behälter 14 vor seiner Freigabe an den Förderer 16 festgehalten wird. Wenn der Behälter 14 alle Inspektionen bestanden hat, die während seiner Fortbewegung von Station zu Station bei ihm vorgenommen wurden, wird der Behälter 14 freigegeben und kann sich auf dem Förderer 16 weiter herabbewegen. Wenn der Behälter 14 irgendeinen Fehler aufwies, dann wird er in einer Drehbewegung der mit H bezeichneten Station zugeführt. Eine Ablenkstange 18 fegt jedoch den Behälter 14 von dem Förderer 16 herunter und in einen Auswerf bereich hinein, bevor er seine Teilbewegung vollenden kann'und dann weiter zu Station A geführt wird, wo er hereinkommenden Behältern 14 ins Gehege käme. An der Station G dient ein Luftmotor 20, der durch eine geeignete Konsole vom Förderer 16 abgestützt wird, zur Steuerung der Abgabe der Behälter an den Förderer 16, sowie zum Zurückhalten fehlerhafter Behälter, damit sie durch die Ablenkstange 18 zurückgeworfen werden können. Der Luftmotor 20 enthält eine ausziehbare Betätigungsstange 24, welche an ihrem Ende eine Spitze 26 trägt. Die Spitze 26 wird durch Zurückziehen der Betätigungsstange aus ihrer Berührung mit dem Glasbehälter 14 zurückgezogen, und zwar in Abhängigkeit von einem Signal, welches angibt, daß ein Glasbehälter alle Inspektionen bestanden hat, die in der Inspektionsmaschine 10 bei ihm durchgeführt wurden. Wenn der Glasbehälter 14 sich in einem oder mehreren Punkten als fehlerhaft erwiesen hat, dann wird die Betätigungsstange 24 nicht zurückgezogen, und die Spitze 26 hindert

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demzufolge den Glasbehälter 14 daran, sich auf dem Förderer 16 entlangzubewegen. Dann drückt der nächste Fortbewegungstakt der INspektionsmaschine 10 den Behälter 14 in eine Berührung mit der Ablenkstange 18 hinein, um ihn zurückzuwerfen. Der Betrieb des Luftmotors 20 wird durch ein Solenoid-Ventil 28 gesteuert, welchem über eine Rohrleitung 30 ein Druckluftvorrat von einer nichtgezeigten Quelle zugeführt wird. Die Luft wird dann wahlweise durch eine Rohrleitung 32 zu dem Luftmotor 20 geleitet. Wie bei Inspektionsmaschinen 10 dieser allgemeinen Art hinreichend bekannt, werden die Glasbehälter 14 durch ein Schaltgetriebe gesteuert von Station zu Station weitergeführt. Von dem Hauptmaschinenantrieb wird ein umlaufender Nocken 34 zum ununterbrochenen Umlauf angetrieben. Dieser Nocken 34 läuft somit synchron mit dem Schaltgetriebe und kann zur Bildung von Zeitsignalen benutzt werden. Während die Scheibe 12 intermittierend nach Art eines Teilgetriebes angetrieben wird, dreht sich der Nocken 34 ununterbrochen und vollführt für jeden Takt der Scheibe 12 eine vollständige Umdrehung, wobei ein Takt einen Inspektionsbetrieb beinhaltet, wenn die Scheibe 12 gestoppt ist, und einen Weiterführungsbetrieb, wenn die Scheibe 12 bewegt wird. Tatsächlich ist in der Nähe des Nocken 34 ein Schalter 36 angeordnet, der einen Betätigungskolben 38 aufweist, so daß der Nocken 34 den Kolben 38 des Schalters 36 betätigt und so elektrische Zeitsignale auf zwei Ausgangsleitern 40 und 41 erzeugt. Die Leiter 40 und 41 führen Information von dem Schalter 38, welche anzeigt, ob die Maschine sich im Inspektionsbetrieb oder im Weiterführungsbetrieb befindet. Die Information wird in Form von zwei

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verschiedenen elektrischen Zuständen des Schalters 36 geführt, und der Nocken 34 und der Schalter 36 bilden daher ein Mittel zur Darstellung dieser beiden Zustände. Die Leiter 40 und 41 sind mit einem Hauptmaschinenspeicher 42 verbunden. Die Flaschenfehler logik- und -sucheinheit 46 ist von in der Technik hinreichend bekannter Art und kann dem in dem US-Patent 3 313 409 gezeigten Typ entsprechen. Signale von der Sucheinrichtung, die entweder oberhalb oder unterhalb der umlaufenden Scheibe 12 gelagert sein kann, werden durch fünf Eingangsleiter 48a, b, c, d und e in die Logikeinheit 46 eingespeist. Es ist möglich, daß ein Glasbehälter 14 an irgendeiner der Stationen B bis F auf mehrere Punkte inspiziert wird. Es sollte ganz klar ersichtlich sein, daß ein Glasbehälter 14 an irgendeiner der InspektionsStationen B, C, D, E oder F fehlerhaft befunden werden kann. Die Entscheidung zum Zurückwerfen eines solchen fehlerhaften Glasbehälters 14 kann jedoch nicht zur Durchführung gelangen, bevor nicht die Station G erreicht ist. Der Speicher 42 dient daher der Funktion der Aufrechterhaltung der Information, welche anzeigt, daß ein bestimmter Glasbehälter 14 fehlerhaft ist, und der Weiterverarbeitung dieser Information, so daß jeder Glasbehälter, welcher in irgendeiner der Inspektionsstationen einen Fehler zeigt, an den Stationen G und F zurückgeworfen wird. Zu diesem Zweck führen fünf getrennte Leitersätze 50a und b, 51a und b, 52a und b, 53a und b und 54a ,und b eine Information zur Bezeichnung einer fehlerhaften Flasche von der Flaschenfehlerlogik- und -sucheinheit 46 zu dem Speicher 42. Dann wird zum rechten Zeitpunkt von dem Speicher

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42 durch einen elektrischen Leiter 56 ein Signal auf das Solenoid-Ventil 28 übertragen, um den Taktbetrieb des SoIenoid-Ventils 28 zu verursachen, um einen an der Station G

dargebotenen Glasbehälter 14 entweder anzunehmen oder zurückzuwerfen.

Fig. 2 zeigt die Konstruktion der Speichereinheit 42 in Gestalt eines Blockschemas* Die Leiter 50a und 50b sind an ein normalerweise offenes Relais 58 angeschlossen, welches einen Teil der Flaschenfehlerlogik- und -Sucheinheit 46 bildet. Wenn an der Station B ein fehlerhafter Glasbehälter 14 festgestellt worden ist, dann schließt sich das Relais 58 in Abhängigkeit hiervon und schließt daher einen Stromkreis mit den Leitern 50a und 5Öb. Der Stromkreis wird mit einem optischen Isolator 60 geschlossen. Der optische Isolator 60 ist allgemein herkömmlicher Art und enthält in seinem Innern eine Fotodiode 62, die in Reihenschaltung mit den Leitern 50a und 50b und dem Relais 58 verbunden.ist, sowie einen Fototransistor 64, dessen Basis so angeordnet ist, daß sie Lichtenergie von der Fotodiode 62 empfängt, wenn diese angeschaltet ist. Im Betrieb gestattet das Schließen des Relais 58 einen Stromfluß durch die Leiter 50a und 50b, wobei zu bemerken ist, daß die Leiter 50a und 50b an eine Spannungsquelle 59 angeschlossen sind, die beispielsweise eine Wechselstromquelle sein kann, wodurch die Fotodiode 62 erregt wird. Dies wiederum gestattet es dem Fototransistor 64, auf einem Leiter 66 ein Ausgangssignals von seinem Emitter zu erzeugen. Es sei darauf hingewiesen, daß der KoILektor der Fotodiode 24 an die positive Spannungsquelle des Stromkreises angeschlossen ist. In ähnlicher Weise sind die Leiter 51a und

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51b an ein Relais 68 angeschlossen, die Leiter 52a und 52b an ein Relais 70, die Leiter 53a und 53b an ein Relais 72 und die Leiter 54a und 54b an ein Relais 74. Die Relais 68, 70, 72 und 74 sind ebenso in derselben Weise wie das Relais 58 an die Spannungsquelle 59 angeschlossen. Die Relais 68, 70, 72 und 74 entsprechen den Inspektionsstationen C, D, E und F und werden in Abhängigkeit von einem an diesen Stationen festgestellten fehlerhaften Glasbehälter 14 geschlossen. -.Wie bei dem ersten Leiterpaar 50a und 50b, sind alle anderen Leiter 51a bis 54a entsprechend mit optischen Isolatoren 76, 77, 78 und 79 verbunden. Der Betrieb und die Funktion der optischen Isolatoren 76 bis 79 sind identisch mit den mit Bezug auf den optischen Isolator 60 beschriebenen, und es wird daher eine weitere Diskussion für unnötig gehalten. Ferner sind alle Fototransistoren in den optischen Isolatoren 76 bis 79 mit ihren Kollektoren an die positive Spannungsquelle des Stromkreises angeschlossen. In ähnlicher Weise weisen die optischen Isolatoren 76 bis 79 jeweils auf entsprechenden Leitern 82, 83, 84 und 85 einzelne Ausgänge von ihren Emittern auf. Natürlich ist hierbei vorausgesetzt, daß diese Ausgangssignale nur dann auf diesen Leitern erreicht werden, wenn ein Signal von der entsprechenden Inspektionsstation empfangen worden ist, welches das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters 14 anzeigt. Der Leiter 66 von dem optischen Isolator 60 ist an den direkt eingestellten Eingang (direct set input) einer ersten Flip-Flop-Einrichtung 88 angeschlossen. Die Flip-Flop-Einrichtung 88 enthält zusätzlich zu dem direkt eingestellten Eingang einen bedingt eingestellten Eingang D, einen Takteingang C, sowie einen Ausgangsanschluß

Q. Die Flip-Flop-Einrichtung 88 ist vorzugsweise das von der

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Firma RCA Corporation hergestellte Modell CD4O13 AE. Diese besondere Type einer Flip-Flop-Einrichtung ist ein Servo-Manipulator, was bedeutet, daß im Inneren eine Zweistufenübertragung von Informationen von dem^Anschluß D zu dem Anschluß Q stattfindet, bevor der Anschluß Q die dem Anschluß D zugeführte Information ausweist. Diese Funktion ist von Bedeutung insofern, als in der Weitergabe der Information durch die Flip-Flop-Einrichtung 88 eine Verzögerung gegeben ist. Diese besondere Eigenschaft wird sich zu Nutze, gemacht, was später noch beschrieben wird. Es ist möglich, daß andere Arten von Flip-Flop-Einrichtungen benutzt werden könnten; die Bedingungen ihrer Verwendung werden mit Bezug auf die Beschreibung der Taktgabe der Flip-Flop-Einrichtungen beschrieben. Der Anschluß D der ersten Flip-Flop-Einrichtung 88 ist geerdet, um sicherzustellen, daß keine unechten oder falschen Eingänge in diese betreffende Einheit eingebracht werden. Der einzige Eingang für die erste Flip-Flop-Einrichtung 88. erfolgt durch den direkt eingestellten Anschluß S, und zwar von dem optischen Isolator 60. Somit zeigt ein Signal der ersten Flip-Flop-Einrichtung an, daß an der Inspektionsstation B ein fehlerhafter Glasbehälter 14 festgestellt worden ist. Um der Flip-Flop-Einrichtung 88 ein gleichbleibendes Signal zuzuführen, wenn von dem optischen Isolator 60 her kein Signal vorhanden ist, ist der Anschluß S der ersten Flip-Flop-Einrichtung 88 durch einen Widerstand 90 ebenfalls geerdet. Der Ausgangsanschluß Q der ersten Flip-Flop-Einrichtung 88 ist an den Anschluß D oder den bedingt eingestellten Anschluß einer zweiten Flip-Flop-Einrichtung 92 angeschlossen, die mit

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der ersten Flip-Flop-Einrichtung 88 identisch ist. In ähnlicher Weise ist der Ausgangsanschluß Q der zweiten Flip-Flop-Einrichtung 92 mit dem Eingangsanschluß D einer dritten Flip-Flop-Einrichtung 94 verbunden. Der Ausgangsanschluß Q der dritten Flip-Flop-Einrichtung 94 ist mit dem Eingangsanschluß D einer vierten Flip-Flop-Einrichtung 96 verbunden. Die vierte Flip-Flop-Einrichtung 96 ist mit ihrem Ausgangsanschluß Q an den Eingangsanschluß D einer fünften Flip-Flop-Einrichtung angeschlossen. Die fünfte Flip-Flop-Einrichtung 98 ist mit ihrem Ausgangsanschluß Q an den .- Eingcngsanschluß D einer sechsten und letzten Flip-Flop-Einrichtung 100 angeschlossen. Es sind daher insgesamt sechs Flip-Flop-Einrichtungen vorhanden, von denen fünf zur Speicherung von Informationen über fehlerhafte Flaschen benutzt werden, die an den Stationen B, C, D, E und F festgestellt werden. Die zweite Flip-Flop-Einrichtung 92 ist mit ihrem Anschluß S an den Leiter 82 angeschlossen, welcher Informationen von dem optischen Isolator 76 führt, die sich auf an der Station C auftretende Fehler beziehen. Wie bei der ersten Flip-Flop-Einrichtung 88, ist auch die zweite Flip-Flop-Einrichtung 92 mit ihrem Anschluß S über einen Widerstand 102 geerdet. Die dritte Flip-Flop-Einrichtung 94 ist mit ihrem Anschluß S an einen Leiter 83 angeschlossen, welcher Information von dem optischen Isolator 77 führt, die das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters 14 an der Station D anzeigt. Ein Widerstand 104 legt den Anschluß S der dritten Flip-Flop-Einrichtung 94 an Erde. Die vierte Flip-Flop-Einrichtung 96 ist mit ihrem Anschluß S an den Leiter 84 gelegt, der wiederum ein Signal von dem optischen Isolator 78 führt, welches das Vorhanden-

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sein eines fehlerhaften Glasbehälter an der Station I anzeigt t Ein Widerstand 106 legt den Anschluß g der vierten Flip^Flop-Einrichtung 96 an Erde, Di© Flip-Flop-Einrichtung 98 ist die letzte Einheit, weiche tatsächlich eine unmittelbare Information über die Feststellung eines fehlerhaften Glasbehälters während des Inspektionstaktes erhält. Der Leiter @5 ist mit dem Anschluß S der ftinften Flip-FlQp-TEinrichtung 98 verbunden und führt Information von dem optischen Isolator 79, welche die Feststellung oder das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters an der Inspektionsstation F anzeigt. Ein Wider stand 108 legt den Anschluß S der fünften Flip-Flop.-Einriehtung 98 an Erde. Die sechste Flip-Flop-Ein« richtung 100 ist eine Endausgang-Flip-Flop-Einrichtung, welsche die Gesamtsumme der Information führt, die in den vprhergehenden fünf Flip-Flop-ülinrichtungen gespeichert wurde . Ihr Anschluß S ist unmittelbar geerdet, um den Eintritt irgendeines Signals in diesen bestimmten Anschluß der Flip-Flop*· Einrichtung 100 zu verhindern. Dies ist notwendig, da begliche in die Flip-Flop-Einrichtung 100 eintretende Information eine Information sein muß, die durch die vorhergehenden Flip-Flop-Einrichtungen hintereinander hindurchgeführt worden ist. Es sollte daher aufgrund dieser Anordnung und Verbindung von Einheiten klar sein, daß jegliches Signal, welches das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters 14 an irgendeiner der Inspektionsstationen anzeigt, unabhängig zu dem Zeitpunkt in seine entsprechende Flip-Flop-Einrichtung eingeführt wird, an dem dieser Fehler festgestellt wird. Diese Information wird

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dann beim Weiterführen des betreffenden Glasbehälter von Station zu Station in einer Aufeinanderfolge weitergesqhobßn_t biß die Information schließlieh in die letzte Flip-Flop*-l;inrichtung 100 eintritt. Zu dieser Zeit muß entschieden werden, ob der durch die gesamte Inspektipnsmaschine 10 hindurehgeführ^ te Glasbehälter 14 anzunehmen oder zurückzuwerfen ist, JSs kommt ein Zeitkreis 110 mit Ruekprallhemmung und schnellem Anstieg zur Anwendung, um einen sehr schnell ansteigenden Taktschritt zu erzeugen und jegliche Neigung des Schalters 36» während seines Taktes zurückzuspringen, zu überwinden. Wie aus Fig. 2 ersichtlich, ist der Schalter 36 geerdet und weist zwei getrennte Anschlüsse auf, von denen einer an den Ausgangsleiter 40 und der andere an den Ausgangsleiter 41 angeschlossen ist» Der Ausgangsleiter 41 ist an einen Eingangsanschluß eines ersten NAND-Gatters 112 angeschlossen. Der Leiter 41 ist ebenfalls über einen Widerstand 114 an die positive Spannungsquelle ν plus des Stromkreises angeschlossen. Der Leiter 40 ist an einen zweiten Eingangsanschluß eines zweiten NAND-Gatters 116 angeschlossen. Der Leiter 40 ist außerdem über einen Widerstand 118 an die positive Spannungsquelle des Kreises angeschlossen. Der Ausgangsanschluß des zweiten NAND-Gatters 116 ist durch einen Leiter 120 an den zweiten Eingangsanschluß des ersten NAND-Gatters 112 angeschlossen. Der Ausgang des ersten NAND-Gatters 112 ist durch einen Leiter 122 an einen zweiten Eingang des zweiten NAND-Gatters 116 angeschlossen. Der Ausgang des ersten NAND^xGatters 112 ist außerdem durch einen Leiter 124 an den C- oder Takteingangsanschluß aller Flip-Flop-Einrichtungen 88, 92, 94, 96, 98 und 100 angeschlossen. Der Ausgang des ersten

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NAND-Gatters 112 ist außerdem durch einen Leiter 128 an einen Eingangsanschluß- eines dritten NAND-Gatters 126 angeschlossen. Der Ausgangsanschluß Q der letzten Flip-Flop-Einrichtung 100 ist durch einen Leiter 130 an einen zweiten Eingangsanschluß des dritten NAND-Gatters 126 angeschlossen. Der Ausgangsanschluß des dritten NAND-Gatters 126 ist durch einen Leiter mit einem Steuerrelais 132 verbunden. Der Ausgang des Steuerrelais 132 ist der Leiter 56, welcher den Taktbetrieb des Solenoid-Ventils 28 steuert.

Der Betrieb der Speicheranlage der Fig. 2 läßt sich wie folgt beschreiben: Während der Zeit, während weicher der Nocken 3^· anzeigt, daß die Messung eines Glasbehälters 14 stattfindet, befindet sich der Schalter 36 in der in Fig. 2 gezeigten Stellung. Unter diesen Umständen ist der Widerstand 114 tatsächlich geerdet und kann dom Eingang des NAND-Gatters 112 nicht die ν Plus-Spannung zuführen. Daher hat das NAND-Gatter 112 zu diesem Zeitpunkt einen Eingang gleich Null. Es ist hinreichend bekannt, daß die Charakteristika von NAND-Gattern derart sind, daß, wenn einer der Eingänge eines NAND-Gatters gleich Null ist, der Ausgang des NAND-Gatters entweder gleich Eins oder hoch sein muß, ungeachtet des Zustandes der anderen Eingänge des Gatters. Der Leiter 122 führt daher ein hohes oder Eins-Signal zu einem der Eingänge des zweiten NAND-Gatters 116. Da der Leiter 40 jetzt nicht geerdet ist, verbindet der Widerstand 118 die Spannungsquelle mit dem anderen Eingang des zweiten NAND-Gatters 116 und bringt daher den Ausgang des zweiten NAND-Gatters 116 auf Null oder einen niedrigen Wert. Dies Signal

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wird über den Leiter 120 auf den anderen Eingang des ersten NAND-Gatters 112 übertragen. Der Ausgang des ersten NAND-Gatters 112, der daher hoch oder gleich Eins ist, wird über den Leiter 124 auf die Takteingänge aller Flip-Flop-Einrichtungen übertragen. Die Flip-Flop-Einrichtungen sind alle von dem Typ, der die in dem vorhandene Information stets dann um eine Stufe weiterrückt oder weiterbewegt, wenn ihm ein steigender Impuls zugeführt wird. Es ist zu beachten, daß, da alle Flip-Flop-Einrichtungen von demselben Impuls weitergerückt werden, es erforderlich ist, daß die Anstiegszeit des Taktschrittes geringer ist als die gesamte Ausbreitungszeit innerhalb der Flip-Flop-Einrichtungen. In diesem Fall haben diese betreffenden Flip-Flop-Einrichtungen eine Ausbreitungszeit von annähernd 150 Nanosekunden, und zwar als Folge der in ihnen verkörperten Servo-Manipulatorbeziehung. Es muß daher der Anstieg des von dem ersten NAND-Gatter 112 erzeugten Taktschrittes schneller als 150 Nanosekunden sein. Dies tritt ein, wie im folgenden dargestellt, und die in den Flip-Flop-Einrichtungen 88, 92, 94, 96, 98 und 100 enthaltene Information wird daher bei Empfang des Taktschritts um eine Stufe weiterbewegt. Es sei z.B. angenommen, daß ein fehlerhafter Glasbehälter festgestellt worden ist, und daß diese Information in der Flip-Flop-Einrichtung 98 gespeichert ist, was dann bedeuten würde, daß der Ausgang Q der Flip-Flop-Einrichtung 98 gleich Eins oder hoch ist. Wenn der Taktschritt auftritt, wird diese Information in die Flip-Flop-Einrichtung 100 hineingeschoben, die dann diese Information an ihrem Ausgangsanschluß Q auf dem Leiter 130 dem NAND-Gatter 126 zuführt. Gleichzeitig ist der Ausgang vom NAND-Gatter 112 hoch

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oder gleich Eins und wird von dem Leiter 128 dem NAND-Gatter 126 zugeführt. Dies ist ein einzigartiger Zustand für das NAND-Gatter 126, d. h. zwei gleichzeitig hohe Eingänge, und der Ausgang des NAND-Gatters 126 auf dem Leiter 134 ist ein Null-Signal. Es ist zu beachten, daß, während diese Signale von dem NAND-Gatter 112 für die gesamte Meßperiode eingeschaltet bleiben,alle Flip-Flop-Einrichtungen während dieser Zeit nur einmal weitergerückt werden, da sie nur auf die ,ansteigende Spannung ansprechen, die zu Beginn des Meßtaktes oder, umgekehrt, am Ende des Weiterführungs.taktes auftritt. Somit überträgt bei einem Null-Ausgang auf dem Leiter 134 zum Steuerrelais 132 das Steuerrelais 132 ein Signal über den Leiter auf das Solenoid-Ventil 28, welches die Spitze 26 veranlaßt, während der Messperiode in ihrer ausgestreckten Stellung zu verbleiben. Dann wird während des nächsten Weiterbewegungstaktes der Glasbehälter, der so gehalten wurde, durch die Ablenkstange 18 zurückgeworfen. Bei Beendigung des Messtaktes bewegt sich der Schalter 34 aus seinem Kontakt mit dem Leiter heraus, um einen Kontakt mit dem Leiter 40 herzustellen. Wenn dies eintritt, dann ist ein sehr scharfer Übergang erwünscht, um die erforderliche Zeit schnellen Anstiegs zu ergeben und ein fehlerhaftes Schalten der Flip-Flop-Einrichtungen innerhalb der Anlage zu verhindern. Es ist auch wünschenswert, zweideutige Signale als Folge eines möglichen Rückpralls der Kontakte innerhalb des Schalters 36 zu vermeiden. Es ist daher zu beachten, daß, wenn ein Kontaktarm I36 innerhalb des Schalters 36 beginnt, sich von dem Leiter 41 zum Leiter 40 zu bewegen, der Ausgang

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der NAND-Gatter 112 und 116 nicht sofort seinen Zustand ändert. Dies ist darauf zurückzuführen, daß das NAND-Gatter durch den Widerstand 114 zur positiven Spannungsquelle sofort an einem hohen Eingang liegt. Zusätzlich liegt es jedoch weiterhin an einem niedrigen Eingang auf dem Leiter 120 von dem NAND-Gatter 116. Wenn der Kontakt des Schleif arms mit dem Leiter 40 hergestellt ist, dann hat das NAND-Gatter 116 einen niedrigen Eingang, da der Widerstand 118 nun geerdet ist, und verändert

sofort
daher/seinen Zustand, da ihm keine zwei hohen Eingänge mehr zugeführt werden. In derselben Weise verändert auch das erste NAND-Gatter 112 an diesem Punkt sofort seinen Zustand, da ihm dann zwei hohe Eingänge zugeführt werden, nämlich der Eingang durch den Widerstand 114 zur positiven Spannimgsquelle und den jetzt hohen Ausgang aus dem Leiter 120 von dem NAND-Gatter 116. Die Folge ist eine sehr schnelle Schaltzeit mit einer entsprechend schnellen Anstiegszeit der Spannungj sowis eine Immunität gegenüber zweideutigen Ergebnissen, die durch ein mögliches Zurückspringen des Schleifarms 136 bei Herstellung seines Kontaktes zum Leiter 40 verursacht werden können. Da der Schalter 36 ein mechanischer Schalter ist, kann z.Z. der Bewegung des Schleifarmes 136 eine gewisse Schwingung auftreten. Wie jedoch.aus der Beschreibung der Bewegung des Schleifarmes 136 von einer Stellung in die andere ersichtlich, verändern die NAND-Gatter 112und unzweideutig ihren Zustand, nachdem einmal der Kontakt hergestellt ist, und bleiben in dem Zustand, in den sie geschaltet worden sind, wenn nicht der Schleifarm 136 ein ausreichendes Moment hat, um wieder einen Kontakt mit dem Leiter 41 herzu-

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stellen. Das Reinergebnis ist ein Ausgang mit einer sehr schnellen Anstiegzeit, der außerdem gegenüber einem Schaltrückprall immun ist. Sodann bewegt sich bei Beginn des nächsten Messtaktes der Schleifarm 36 aus seinem Kontakt mit dem Leiter 40 in einen Kontakt mit dem Leiter 41 hinein, was das bereits erwähnte schnelle Schalten aller Flip-Flop-Einrichtungen um eine Stellung zur Folge hat, während eine Weiterbewegung der darin enthaltenen Information um mehr als eine Stellung nicht gestattet ist. Es kann daher in der Erfindung allgemein jede beliebige Servo-Manupulator-Flip-Flop-Einrichtung als"Informationsspeicherungsund -übertragungselement dienen, solange die darauf übertragenen Taktschritte so geformt werden können, daß sie eine Anstiegzeit haben, die schneller ist als die Übertragungszeit der Information durch die Flip-Flop-Einrichtungen.

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Claims

Ansprüche:

{ 1.Λ Inspek~tionsmaschine für Glasbehälter, in welcher jeweils ein Glasbehälter zur Zeit von einem sich ununterbrochen bewegenden Förderer abgenommen und die Glasbehälter nacheinander durch eine Anzahl von Inspektionsstationen schrittweise weitergeführt werden, wobei diese Inspektionsmaschine eine Flaschenfehlerlogik- und -auffindeeinrichtung mit einer Anzahl Ausgangsleiter enthält, auf denen Signale erzeugt werden, wenn die inspizierten Glasbehälter unter einem oder mehreren Gesichtspunkten an irgendeiner der Inspektionsstationen als fehlerhaft befunden werden, gekennzeichnet_r durch ein verbessertes Speichersystem für diese Inspektionsmaschine, die in der folgenden Kombination besteht:

eine^Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen von Servo-Manipulator-Typ, die in Reihenschaltung miteinander verbunden sind und deren Anzahl um eins größer ist als die Anzahl der Inspektionsstationen, Einrichtungen zur Verbindung eines Ausgangsleiters von der Logikeinrichtung mit jeder der Flip-Flop-Einrichtungen außer der letzten innerhalb der Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen, Zeiteinstelleinrichtungen zur Bildung eines ersten elektrischen Zustands, wenn die Inspektionsmaschine inspiziert, und eines zweiten elektrischen Zustands, wenn die Inspektionsmaschine sich in ihrem Fortbewegungstakt befindet, elektronische/i Schaltkreiseinrichtungen, die mit den Zeiteinstellvorrichtungen jeder der Flip-Flop-Ein-

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richtungen verbunden sind, um in Abhängigkeit von dem Übergang der Zeiteinstellvorrichtung von dem zweiten elektrischen Zustand in den ersten elektrischen Zustand einen Taktschritt zu erzeugen, dessen Anstiegzeit schneller ist als die Zeit der Übertragung der Information durch die Flip-Flop-Einrichtungen, sowie elektronischen Ausgangskreiseinriehtungen, die mit der Taktkreiseinrichtung und dem Ausgang der letzten der Flip-Flop-Einrichtungen verbunden sind, um ein Signal zu erzeugen, wenn die letzte Flip-Flop-Einrichtung ein Signal trägt, welches das Vorhandensein eines fehlerhaften Glasbehälters anzeigt, und wenn der genannte Taktschritt vorhanden ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel vorhanden sind, die auf ein Signal von dem Ausgangskreis ansprechen, um das Zurückwerfen eines fehlerhaften Glasbehälters zu verursachen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zur Herbeiführung eines ersten und zweiten elektrischen Zustandes folgendes umfassen: einen umlaufenden Nocken und einen Schalter, der von dem Nocken betätigt wird, wobei der Nocken derart mit Konturen versehen ist, daß er den Schalter in einen ersten elektrischen Zustand bringt, wenn die Inspektionsmaschine inspiziert, und in einen zweiten elektrischen Zustand, wenn die Inspektionsmaschine sich weiterbewegt.

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4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der elektrische Taktkreis folgendes enthält: ein erstes NAND-Gatter mit einem ersten Eingangsanschluß, der durch die Zeiteinstellvorrichtung geerdet ist, wenn die Inspektionsmaschine mißt, einem zweiten Eingangsanschluß und einem Ausgangsanschluß, der an einen Takteingangsanschluß Jeder der Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen angeschlossen ist und ferner an den elektronischen Ausgangskreis angeschlossen ist, ein zweites NAND-Gatter mit einem ersten Eingangsanschluß, der durch die Zeiteinstellvorrichtung geerdet ist, wenn sich die Inspektionsmaschine in ihrem Fortbewegungstakt befindet, einem zweiten Eingangsanschluß, der mit dem Ausgangsanschluß· des ersten NAND-Gatters verbunden ist, sowie einem Ausgangsanschluß, der mit dem zweiten Eingangsanschluß des ersten NAND-Gatters verbunden ist, eine Spannungsquelle, einen ersten Widerstand, der die Spannungsquelle mit dem ersten Eingangsanschluß des ersten NAND-Gatters verbindet, sowie einen zweiten Widerstand, der die Spannungsquelle mit dem ersten Eingangsanschluß des zweiten NAND-Gatters verbindet.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl Flip-Flop-Einrichtungen je einen unmittelbar eingestellten Eingangsanschluß enthalten und die Einrichtungen zur Verbindung der Logikeinrichtung mit jeder der Flip-Flop-Einrichtungen aus folgendem bestehen:

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einer Anzahl optischer Isolatoren, die gleich der Anzahl Inspektionsstationen ist, wobei jeder der Inspektionsstationenein optischer Isolator einzeln zugeordnet ist und die optischen Isolatoren ein Ausgangssignal erzeugen, wenn die Inspektionsstation, welcher der betreffende Isolator zugeordnet ist, gemäß Bestimmung durch ein Signal von der Flaschenfehlerlogik- und -auffindeeinrichtung einen fehlerhaften Glasbehälter feststellt, und daß eine Anzahl elektrischer Leiter zum Leiten eines Signals von dem mit einer bestimmten Inspektionsstation verbundenen optischen Isolator zu dem direkt eingestellten Eingang einer der Flip-Flop-Einrichtungen mit der ersten der InspektionsStationen verbunden ist und die nte der Flip-Flop-Einrichtungen mit der nten der Inspektionsstationen verbunden ist.
6. Verfahren zum Festhalten einer Speicherung eines fehlerhaften Glasbehälters während des gesamten Taktes einer Glasbehälterinspektionsmaschine, die Glasbehälter durch eine Anzahl Inspektionsstationen hindurchführt und ein Fehlersignal erzeugt, wenn ein Glasbehälter die in irgendeiner der Anzahl Inspektionsstationen durchgeführte Inspektionsprüfung nicht besteht, gekennzeichnet durch die folgenden Verfahrensschritte: Einführen eines Fehlersignals von irgendeiner der Inspektionsstationen in eine Flip-Flop-Einrichtung vom Servo-Manipulatortyp, die allein mit dieser bestimmten der InspektiansStationen verbunden ist, Darstellen eines ersten'elektrischen Zustands, wenn die Inspektionsmaschine inspiziert, Darstellen eines zweiten elektrischen

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Zustands, wenn sich die Inspektionsmaschine in ihrem Fortbewegungstakt befindet, Erzeugen eines Taktschritts in Abhängigkeit von dem Übergang von dem zweiten elektrischen Zustand in den ersten elektrischen Zustand, dessen Anstiegzeit schneller ist als die Zeit der Informationsübertragung durch die Flip-Flop-Einrichtung, Verschieben jeglicher von der erstgenannten Flip-Flop-Einrichtung geführten Information in eine zweite Flip-Flop-Einrichtung vom Servo-Manipulatortyp, die allein mit der nächstfolgenden der Inspektionsstationen verbunden ist, in Abhängigkeit von dem genannten Taktschritt, Fortsetzen des VerSchiebens der Information hinsichtlich eines fehlerhaften Glasbehälters in Abhängigkeit von aufeinanderfolgenden Taktschritten beim Weiterbewegen des Glasbehälters von Inspektionsstation zu Inspektionsstation, Verschieben jeglicher von der der letzten der Inspektionsstationen zugeordneten Flip-Flop-Einrichtungen mitgeführten Information in eine Ausgangs-Flip-Flop-Einrichtung vom Servo-Manipulatortyp in Abhängigkeit von dem genannten Taktschritt, sowie Zurückwerfen jeglicher Glasbehälter, die die Mitführung eines Signals durch die Ausgangs-Flip-Flop-Einrichtung verursachen.

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