DE1054573B - Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und elektronischen Anlagen mit Rueckkopplungsschleifen waehrend des Arbeitsvorgangs - Google Patents
Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und elektronischen Anlagen mit Rueckkopplungsschleifen waehrend des ArbeitsvorgangsInfo
- Publication number
- DE1054573B DE1054573B DEM27501A DEM0027501A DE1054573B DE 1054573 B DE1054573 B DE 1054573B DE M27501 A DEM27501 A DE M27501A DE M0027501 A DEM0027501 A DE M0027501A DE 1054573 B DE1054573 B DE 1054573B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test
- comparator device
- test points
- pair
- error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/16—Error detection or correction of the data by redundancy in hardware
- G06F11/1629—Error detection by comparing the output of redundant processing systems
- G06F11/1641—Error detection by comparing the output of redundant processing systems where the comparison is not performed by the redundant processing components
- G06F11/1645—Error detection by comparing the output of redundant processing systems where the comparison is not performed by the redundant processing components and the comparison itself uses redundant hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06G—ANALOGUE COMPUTERS
- G06G7/00—Devices in which the computing operation is performed by varying electric or magnetic quantities
- G06G7/02—Details not covered by G06G7/04 - G06G7/10, e.g. monitoring, construction, maintenance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2893/00—Discharge tubes and lamps
- H01J2893/0001—Electrodes and electrode systems suitable for discharge tubes or lamps
- H01J2893/0012—Constructional arrangements
- H01J2893/0019—Chemical composition and manufacture
- H01J2893/0022—Manufacture
- H01J2893/0025—Manufacture by winding wire upon a support
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und
elektronischen Anlagen mit Rückkopplungsschleifen während des Arbeitsvorganges, wenn diese Anlagen
beim Arbeitsvorgang ein fehlerhaftes Ergebnis liefern.
Die Unterhaltung komplexer elektrischer und elektronischer Einrichtungen, wie z. B. Rechenmaschinen,
stellt eine ungewöhnliche Aufgabe dar. Die Reparatur irgendeines einzelnen Schaltkreises der
Einrichtung kann verhältnismäßig einfach sein. Die Lokalisierung des besonderen fehlerhaften Kreises
unter möglicherweise hunderten oder tausenden von fehlerlosen Kreisen stellt jedoch ein Problem von
großem Ausmaß dar.
In einer komplexen Einrichtung werden Duplikatkreise dazu verwendet, das Auftreten von Störungen
durch Vergleichen der erhaltenen Resultate der beiden aufzuspüren. Dieses Verfahren kann einen Schritt
weiter entwickelt und zum Lokalisieren von fehlerhaften Kreisen verwendet werden, indem nicht nur
die Ausgangsleistungen der Duplikatschaltungen, sondern auch diejenigen verschiedener entsprechender
Schlüsselpunkte verglichen werden, wobei die entsprechenden Schlüsselpunkte, die arbeitsmäßig zwischen
einem fehlerhaften Kreis und dem Ausgang der Einrichtung liegen, nicht funktionieren oder gleiche
Resultate ergeben werden, während die Schlüsselpunkte, die dem fehlerhaften Kreis vorangehen,
gleiche Resultate ergeben werden. Auf diese Weise kann der fehlerhafte Kreis als zwischen den abhängigsten
Schlüsselpunkten, die funktionieren, und den arbeitsmäßig unabhängigsten Schlüsselpunkten, die
nicht funktionieren, liegend lokalisiert werden.
Bei einer Einrichtung, die Rückkopplungsschleifen enthält, wird die Aufgabe der Lokalisation eines
fehlerhaften Kreises noch verwirrender, da funktionelle Fehler als Folge gestörter Schaltkreise nicht
nur durch die Kreise, die funktionell zwischen dem fehlerhaften Kreis und dem Ausgang der Einrichtung
liegen, hindurchgetragen werden, sondern auch durch die Rückkopplungsschleifen zurück zu einigen oder
allen den Kreisen, die funktionell von dem fehlerhaften abhängen. Jeder denkbare Kreis, ausgenommen
Eingangspuffer od. dgl., kann als Folge der fehlerhaften Arbeit eines einzigen Kreises fehlerhaft
arbeiten. Augenscheinlich ist das oben beschriebene Verfahren zur Lokalisation fehlerhafter Kreise bei
dieser Art Einrichtung nicht anwendbar.
Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß die Anlage ein oder mehrere Male denselben Arbeitsvorgang,
bei dem das fehlerhafte Ergebnis geliefert wird, durchläuft und daß gleichzeitig mit diesen
Wiederholungen die an vorbestimmten Prüfstellen
Verfalireii zum Bestimmen von
Fehlerquellen an elektrischen und
elektronischen Anlagen mit
Rückkopplungsschleifen während des
Arbeitsvorgangs
Fehlerquellen an elektrischen und
elektronischen Anlagen mit
Rückkopplungsschleifen während des
Arbeitsvorgangs
Anmelder:
Monroe Calculating Machine Company,
Orange, N. J. (V. St. A.)
Monroe Calculating Machine Company,
Orange, N. J. (V. St. A.)
Vertreter: Dr.-Ing. H. Ruschke1 Berlin-Friedenau,
und Dipl.-Ing. K. Grentzenberg,
München 27, Pienzenauer Str. 2, Patentanwälte
München 27, Pienzenauer Str. 2, Patentanwälte
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 28. Juni 1954
V. St. v. Amerika vom 28. Juni 1954
William Henry Burkhart, WestOrange1 N.J. (V.St.A.)
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
der Anlage auftretenden Signale in einer vorbestimmten Reihenfolge überwacht werden, daß die
überwachten Signale mit entsprechenden Signalen verglichen werden, die durch eine synchron mit dieser
Anlage betätigte Signalerzeugungsvorrichtung erzeugt werden, daß Fehlersignale erzeugt werden,
sobald eine Abweichung zwischen den verglichenen Signalen auftritt, daß die Prüfstelle angegeben wird,
an der ein Fehlersignal am frühesten im Zyklus auftritt, und daß, wenn ein Fehlersignal an mehreren
Prüfstellen am frühesten im Zyklus auftritt, diejenige Prüfstelle von mehreren Prüfstellen, die funktionell
unabhängig von den anderen Prüfstellen ist, bestimmt wird, und zwar entsprechend der Reihenfolge, in der
diese Prüfstellen überwacht werden.
Andere Kennzeichen ergeben sich aus der Be-Schreibung an Hand der Zeichnungen.
In den Zeichnungen stellt dar
In den Zeichnungen stellt dar
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Einrichtungen der Erfindung,
Fig. 2 ein Übersichtsschaltbild eines Teiles der Einrichtung der Fig. 1, von der gewisse Schaltkreise im
einzelnen dargestellt werden,
Fig. 3 ein Übersichtsschaltbild eines Teiles der Einrichtung der Fig. 1, von der gewisse Schaltkreise noch
im einzelnen dargestellt werden,
809 789</215
Fig. 4 einen ausführlichen Verdrahtungsplan der in der Fig. 1 in Blockform dargestellten Einrichtung,
Fig. 5 ein Blockschaltbild eines Kreises, bei dem das Verfahren und die Einrichtung der Erfindung in
der Form eines Beispiels zur Anwendung gelangen.
Allgemeines Verfahren
Xach der Erfindung kann eine automatische innere Untersuchung einer elektrischen Einrichtung bei Verwendung
von Duplikatkreisen nach folgendem Verfahren durchgeführt werden.
Zuerst werden die Ausgangsleistungen der Duplikatkreise überprüft und beim Auftreten einer Ungleichheit
zwischen den beiden, die eine vorherbestimmte Toleranz übersteigt, ein Signal erzeugt.
Daraufhin wird die Einrichtung beim Auftreten des genannten Signals angehalten und zum nochmaligen
Durchlaufen des Arbeitsvorganges eingestellt, bei dem der Fehler, der die Ungleichheit erzeugte, auftrat,
indem von einer ausgewählten fehlerfreien Prüfstelle des Arbeitsvorganges ausgegangen wird. Danach
wird die Einrichtung von jeder Prüfstelle aus zum nochmaligen Durchlaufen gebracht und dann, während
die Einrichtung ein oder mehrere Male umläuft, die Prüfstelle bestimmt, bei der der Fehler während des
Arbeitsvorganges zuerst auftritt, und wenn das früheste Erscheinen des Fehlers an mehr als einem
Prüfstellenpaar bemerkt wird, das Prüfstellenpaar bestimmt, das funktionell von den anderen unabhängig
ist. Auf diese Weise wird der schadhafte Bestandteil, der den Fehler verursachte, von dem Schaltkreis
isoliert, der unmittelbar mit einem Prüfstellenpaar von Kontrollpunkten in Verbindung steht. Es verbleibt
dann nur noch, den gestörten Bestandteil herauszunehmen, ihn zu reparieren oder zu ersetzen.
Für diesen Zweck können die üblichen Methoden angewendet werden.
Detailliertes Verfahren
Die erste Stufe des Verfahrens kann bei einer einzelnen Ziffer oder bei einer Reihe durchgeführt
werden. Die Prüfung kann einen eingegrenzten oder zeitbestimmten Vergleich der Ausgangsleistungen der
Duplikatkreise während jeder Information oder Impulsperiode umfassen. In dem Falle, daß eine
Potential- oder Stromdifferenz zwischen den Ausgangsleistungen während des Vergleichsintervalls
auftritt, die größer ist als ein vorherbestimmter Wert, wird ein Ungleichheitssignal erzeugt. Andererseits
können die Ausgangsleistungen der Kreise fortlaufend verglichen werden, wobei ein Ungleichheitssignal nur erzeugt wird, wenn eine Potential- oder
Stromdifferenz, die größer als ein vorherbestimmter Betrag ist, für eine längere Zeitperiode als eine
vorherbestimmte auftritt.
Das Signal, das beim Auftreten einer Ungleichheit erzeugt wird, kann von irgendeiner geeigneten Art
sein. Es kann sichtbar oder hörbar sein, in welchem Falle die zweite Stufe des Verfahrens manuell eingeleitet
werden würde, oder es kann ein elektrisches Kontrollsignal sein, das automatisch den zweiten
Verfahrensschritt einleitet.
Wie dargelegt, kann die zweite Stufe des Verfahrens manuell oder automatisch eingeleitet werden.
In jedem Falle ist es erforderlich, daß die Einrichtung unter denselben Bedingungen zum Umlaufen gebracht
ward, unter denen sie ursprünglich umlief. So kann es notwendig werden, die Kreise einer Einrichtung entweder
mit der Hand oder automatisch vor jedem
neuen Umlauf zu normalisieren, um die Auswirkungen einer Fehlleistung eines Kreises auszumerzen,
und bei einer elektronischen Rechenmaschine, wo ein Fehler, der während des ra-ten
Umlaufs der w-ten Stufe eines komplexen Programms den Wert eines vorher in dem Programm benutzten
Faktors verändert, kann es nicht nur genügen, die Rechenmaschine empirisch von dem ersten Zyklus der
genannten η-ten Stufe beginnend neu umlaufen zu
ίο lassen, sondern es ist vielmehr notwendig, die Rechenmaschine von einem Punkte des Programms
aus neu anlaufen zu lassen, der der genannten früheren Verwertung des veränderten Faktors vorangeht,
vielleicht vom Beginn des Programms aus.
Dieses Neuumlaufenlassen der Einrichtung wird solange wie erforderlich fortgesetzt, um die dritte Stufe
des Verfahrens zu vollenden.
Die dritte Stufe des Verfahrens, die an sich ein Grundverfahren zum Lokalisieren von Kreis-Fehlleistungen
enthält, kann durchgeführt werden, indem zwei Prüfstellen in einem der DupHkatkreise mit den
entsprechenden Prüfstellen des anderen verglichen werden und das entsprechende Prüfstellenpaar festgehalten
wird, das den Fehler zuerst während eines Wiederumlaufs der Einrichtung aufzeigt. Dieses
Prüfstellenpaar wird dann nach jedem folgenden Umlauf der Einrichtung mit einem weiteren Prüfstellenpaar
verkoppelt, bis ein Prüfstellenpaar gefunden wird, das den Fehler selbst früher aufzeigt,
oder bis alle Prüfstellen untersucht worden sind, ohne Prüfstellen zu finden, bei denen der Fehler früher
auftritt. Wird ein Prüfstellenpaar gefunden, bei dem Fehler früher auftreten, so wird der ganze Vorgang
wiederholt usw.
Diese Vergleiche können entweder bei einzelnen Ziffern oder an Reihen durchgeführt werden in derselben
Weise wie in der ersten Stufe des Verfahrens. Wo die Vergleiche an Ziffernreihen durchgeführt
werden, d. h. zeitbestimmt an einer spezifischen Prüfstelle bei jeder Informationsimpulsperiode, werden
zwei Paare von Kontrollprüfstellen dazu bestimmt, einen Fehler zu gleicher Zeit aufzuzeigen, wrann auch
immer das Auftreten des Fehlers an beiden Prüfstellenpaaren für die erste Zeit durch die Vergleichseinrichtung
während desselben Vergleichsintervalls festgehalten wird, obwohl sogar der Fehler tatsächlich
an einem Prüfstellenpaar zu irgendeiner dem vorhergehenden Vergleichsintervall folgenden Zeit aufgetreten
sein kann. Wo die Vergleiche reihenweise,
d. h. beständig durchgeführt werden, werden zwei Prüfstellenpaare dazu bestimmt, einen Fehler zur
gleichen Zeit nur dann aufzuzeigen, wenn die Zeitspanne zwischen seinem Auftreten an den beiden
Prüfstellenpaaren geringer ist als die Auslösezeit der Einrichtung, die dazu verwendet wird, zu bestimmen,
welches der beiden Paare den Fehler früher aufzeigt. Beispielsweise ist die Auslösezeit zweier Kippventile
im vorliegenden Falle jene Zeit, die erforderlich ist, um das Einschalten des einen und Sperren des
anderen Kippventils zu bewirken. Hiernach werden die Kontrollprüfstellenpaare, die, wie oben beschrieben,
einen Fehler zur gleichen Zeit aufzeigen, als eine »Zeitgruppe von Prüfstellen« oder nur als »Zeitgruppe«
bezeichnet. So· kann ein gegebener Kreis eine oder mehrere Zeitgruppen enthalten, von denen jede
ein oder mehrere Paare von Kontrollprüfstellen aufweist.
In dem Falle, wo jede Zeitgruppe nur ein einziges Paar Kontrollprüfstellen enthält, lokalisiert diese Zeit-Unterscheidung
leicht das Prüfstellenpaar, das am
engsten mit der Fehlerquelle in Verbindung steht. In dem Falle jedoch, wo eine oder mehrere Zeitgruppen
mehr als ein einziges Paar Kontrollprüfstellen enthalten, kann das betreffende Prüfstellenpaar nicht von
den anderen Paaren derselben Zeitgruppe unterschieden werden. Sie können jedoch unterschieden
werden auf Grund ihrer funktionellen Abhängigkeit voneinander. Zu diesem Zwecke kann irgendeine
manuelle oder automatische Vorrichtung verwendet werden, welche anzeigt, welches Paar Kontrollprüfstellen
einer Zeitgruppe von den anderen funktionell unabhängig ist. Vorzugsweise wird das funktionell
unabhängige Paar Kontrollpriifstellen einer Zeitgruppe durch Abtasten der Kontrollprüfstellen jeder
Zeitgruppe in der Reihenfolge ihrer funktionellen Abhängigkeit voneinander oder in der umgekehrten
Reihenfolge, d. h. vom Ausgang her gegen den Eingang solcher Kreise oder vom Eingang gegen den
Ausgang lokalisiert, wobei die letzten bzw. die ersten abgetasteten Prüfstellen gekennzeichnet werden. Bei
der Beschreibung dieser Anlage wird jetzt Bezug genommen auf die Einrichtung zum Abtasten zusammengehöriger
Kontrollprüfstellen der Duplikatkreise, wie die Sonde und den Zähler.
25
Verfahren »Ausgang gegen Eingang«
Bei einer bevorzugten Form des Verfahrens »Ausgang gegen Eingang« wird die Sonde normalerweise
dafür eingerichtet, die Ausgangsleistungen der Duplikatkreise zu überprüfen, während der Zähler normalerweise
dafür eingerichtet ist, irgendwelche Kontrollpunkte der Kreise nicht zu überprüfen. Überdies
wird die Sonde so eingestellt, daß sie eine Stufe, die jeder Arbeit der Einrichtung folgt, während der ein
Fehler auftritt, vorrückt. Der Zähler wird so eingestellt, daß er zu der Stellung vorrückt, die von der
Sonde gehalten wird, wann auch immer von der Sonde ein Fehler entdeckt wird oder zur selben Zeit von der
Sonde und dem Zähler aufgedeckt wird. Die Reihenfolge, in der die Sonde zu den verschiedenen Kontrollpunkten
der Kreise vorrückt, kann beträchtlich innerhalb eines gewissen Bereiches variiert werden.
Die Sonde muß zu dem funktionell nächstunabhängigen Paar von Prüfstellen der Zeitgruppe, mit der
sie bereits in Verbindung steht, vorrücken oder zu den funktionell unabhängigsten noch nicht abgetasteten
Prüfstellen einer anderen Zeitgruppe. Wo ein Paar von Prüfstellen funktionell von zwei oder mehreren
anderen, parallelen Paaren von Prüfstellen der Gruppe abhängt, können die parallelen Paare von
Prüfstellen in irgendeiner Reihenfolge abgetastet werden.
Deshalb wird der Anzeigekomparator beim Auftreten eines Fehlers vorgerückt, um die Ausgangsleistungen
der Duplikatkreise zu überprüfen, während die Sonde als Vorbereitung eines ersten Wiederumlaufs
eine Stufe vorrückt. Wird während des ersten Wiederumlaufs der Einrichtung ein Fehler zuerst
vom Anzeigekomparator festgestellt, so rückt die Sonde als Vorbereitung zum zweiten Wiederumlauf
der Einrichtung vor, wahrend der Anzeigekomparator fortfährt, die Ausgangsleistungen der Kreise zu überprüfen.
Wird jedoch der Fehler zuerst von der Sonde bemerkt oder zur gleichen Zeit sowohl von der Sonde
als auch vom Anzeigekomparator, so wird der Anzeigekomparator zur Stellung der Sonde vorgerückt,
während die letztere um eine Stufe weitergerückt wird. Dieser Vorgang wiederholt sich so lange, bis
die Sonde alle Prüfstellen abgetastet hat. In diesem
Zeitpunkt wird der Anzeigekomparator mit dem Kontrollprüfstellenpaar verbunden, an dem der Fehler
zeitlich am frühesten auftritt, und die funktionell von irgendwelchen anderen Kontrollprüfstellen unabhängig
sind, an denen er zur gleichen Zeit auftreten kann. Es muß erwähnt werden, daß die Kennzeichnung der
funktionell unabhängigen Kontrollprüfstellenpaate einer Zeitgruppe durch Vorrücken des Anzeigekomparators
erhalten wird, wenn die Sonde und der Anzeigekomparator den Fehler zur gleichen Zeit feststellen.
Der Anzeigekomparator wird dazu verwendet, das Kontrollprüfstellenpaar zu kennzeichnen, an dem das
früheste Auftreten des Fehlers bemerkt wurde, während die Sonde dazu dient, nach einem noch früheren
Auftreten des Fehlers zu forschen.
A^erfahren »Eingang gegen Ausgang«
Gemäß dem Verfahren »Eingang gegen Ausgang« wird die Sonde normalerweise so eingestellt, daß sie
die Eingangsleistung der Duplikatkreise überprüft, während der Anzeigekomparator so eingestellt wird,
daß er irgendwelche Prüfstellen der Kreise nicht überprüft. Bei dem Auftreten eines Fehlers während
der Arbeit der Einrichtung wird der Anzeigekomparator so eingestellt, daß er die Eingangsleistungen der
Duplikatkreise abtastet, während die Sonde eine Stufe vorgerückt wird als Vorbereitung zu einem
Wiederumlauf der letzteren. Bemerkt die Sonde einen Fehler früher als der Anzeigekomparator, so wird
derselbe zu der Stellung vorgerückt, die von der Sonde erreicht ist, und die letztere wird einen Schritt
vorgerückt. Auch hier folgt das Vorrücken der Sonde einer einfachen Regel. Die Sonde muß zu dem funktionell
weniger unabhängigen Prüfstellenpaar der Zeitgruppe, mit der sie bereits in Verbindung steht,
oder zu den funktionell unabhängigsten noch nicht unabgetasteten Prüfstellen einer weiteren Zeitgruppe
vorrücken. Hängen zwei oder mehrere parallele Paare von Prüfstellen einer Zeitgruppe funktionell von
einem anderen Prüfstellenpaar der Gruppe ab, so können die parallelen Prüfstellenpaare in irgendeiner
Reihenfolge abgetastet werden.
Diese Arbeitsweise wird so oft wiederholt, bis die Sonde alle Kontrollprüfstellen abgetastet hat. Zu
diesem Zeitpunkt kennzeichnet der Anzeigekomparator die Kontrollprüfstellen, bei denen der Fehler
frühestens auftritt, und die funktionell unabhängig sind von irgendwelchen anderen Kontrollprüfstellen,
die den Fehler zur gleichen Zeit aufzeigen.
Betrachtungen über die Verfahrensarten
Es muß erwähnt werden, daß bei den beschriebenen Abtastverfahren verschiedene Abwandlungen getroffen
werden können, um diese den Geräten der Benutzer und den Erfordernissen anzupassen. Zum Beispiel
können in dem Verfahren »Ausgang gegen Eingang« die Sonden und die Anzeigekomparatoren beide
so eingestellt werden, daß sie als Einleitung die Ausgangsleistungen der Einrichtung abtasten, während
in dem Verfahren »Eingang gegen Ausgang« beide so eingestellt werden können, daß sie als Einleitung
die Eingangsleistungen der Einrichtung abtasten.
An diesem Punkt sei eingeschaltet, daß die Wahl zwischen den beiden Verfahren bei dem einzelnen
Konstrukteur liegt und von den Merkmalen der besonderen Einrichtung abhängt, die überprüft werden
soll, und von den gewünschten Resultaten. Die Aus-
wahl der Prüfstellen der Duplikatkreise, die abgetastet werden sollen, hängt ferner von dem Aufbau
der Einrichtung und von den gewünschten Resultaten ab. Ist die Einrichtung verhältnismäßig einfach,
können die Eingänge und Ausgänge jedes weniger wichtigen Kreises Prüfstellen zum Abtasten
darstellen. Sind andererseits die Duplikatkreise verhältnismäßig komplex, so können nur die Eingänge
und Ausgänge von verhältnismäßig größeren Teilen davon als Kontrollprüfstellen verwendet werden. Bei
einer außergewöhnlich komplexen Einrichtung, wie sie Elektronenrechner darstellen, kann mehr als eine
Prüfeinheit wünschenswert sein. Zum Beispiel kann eine verwendet werden für jede einer Mehrzahl von
Unterabteilungen der Rechenmaschine, oder eine kann verwendet werden, um weit auseinander liegende Kontrollprüfstellen
abzutasten, um die Fehlerquellen in einem besonderen Abschnitt der Rechenmaschine zu
lokalisieren, während eine andere Einheit für die Feinabtastung eines jeden solchen Abschnittes verwendet
werden kann. Weiterhin kann eine Prüfeinheit dazu verwendet werden, ein Paar Kontrollprüfstellen
jeder Zeitgruppe von Prüfstellen abzutasten, um die Fehlerquelle in einer solchen Zeitgruppe zu lokalisieren,
während eine weitere Einheit dazu verwendet wird, um die Prüf stellen der ausgewählten Gruppe abzutasten.
Betriebsweise
30
Um das Verständnis für das Verfahren gemäß der Erfindung zu erleichtern, wird nachstehend beispielsweise
deren Arbeitsweise in Verbindung mit den Dualkreisen S und T der Fig. 1 beschrieben. Jeder dieser
Kreise enthält, wie in der Fig. 5 dargestellt ist, eine Reihe von einzelnen Kreiseinheiten A, B, C, D, E, F, G
und H, von denen die Einheiten C, D und H eine verzögernde Einrichtung enthalten. Über den Schalter X
wird der Einheit A eine Eingangsleistung zugeführt, während über den Schalter Y eine Eingangsleistung
der Einheitii zugeführt wird. Die Ausgangsleistung des Kreises wrird von der Einheit H abgenommen. Die
Zwischenverbindungen zwischene den Einheiten A und H sind klar dargestellt und brauchen nicht weiter
beschrieben zu werden, ausgenommen um festzustellen, daß alle diese Verbindungen und ferner auch die
Eingänge und Ausgänge der Kreise mit irgendeinem geeigneten Spannungspegel, z.B. + 60 und + 90 Volt
arbeiten können. Es versteht sich von selbst, daß die Kreise S und T keinen Teil der Erfindung bilden und
von irgendeiner geeigneten Ausführung sein können.
Die erste Stufe des Verfahrens gemäß der Erfindung kann als Prüfung der Ausgangsleistungen der
Kreise S und T durchgeführt werden, mit anderen Worten, als Prüfung der Ausgangsleistungen der Einheiten
H durch irgendeine geeignete Einrichtung. Es kann z. B. ein einfacher Spannungsdifferenzmesser
verwendet werden, in welchem Falle das den Fehler anzeigende Signal einen Meßgeräteausschlag in einer
bestimmten Höhe erhalten könnte.
Die zweite Stufe des Verfahrens kann durch Öffnen der Schalter X und Y von Hand beim Auftreten des
genannten Signals durchgeführt werden, wobei durch Wiederschließen der Schalter gleichzeitig ein Wieder
umlaufen der Einrichtung bewirkt wird. Der Einfachheit halber sei angenommen, daß die Kreise A
bis H beim Öffnen der Schalter X und Y automatisch in den Ausgangszustand zurückstellen, um so die Notwendigkeit
auszuschalten, die Kreise von Hand oder anderweitig zurückzustellen.
Die dritte Stufe des Verfahrens kann durchgefühlt werden durch Verwenden zweier geeigneter Vergleichsvorrichtungen,
mit denen die Spannungen an entsprechenden Kontrollprüfstellen in den beiden Kreisen S und T verglichen werden, um anzuzeigen,
welches Paar Kontrollprüfstellen einen Fehler zuerst aufzeigt. Als Sonde kann gleichfalls ein einfacher
Spannungsdifferenzmesser verwendet werden und ein weiterer als Anzeigekomparator, wobei die relativen
Zeiten des Auftretens eines Fehlers an jedem Instrument visuell bestimmt werden. Diese Sonde und der
Anzeigekomparator können von Hand von Prüfstelle zu Prüfstelle vorgerückt werden.
Als Beispiel werde angenommen, daß ein Kreisbestandteil in der Einheit B des Kreises der Fig. 5
eine Fehlleistung aufweist. Nach der Fehlleistung des genannten Bestandteiles und dem Auftreten einer Unstimmigkeit
zwischen den Ausgangsleistungen der Dualkreise, wird die Sonde, die so eingestellt wurde,
daß sie die Ausgangsleistungen der Kreise, hier die Kontrollprüfstellen 10 in der Fig. 1 abtastet, weiter
vorgerückt, um die Kontrollpunkte 9 abzutasten. Da die Einheitii (s. Fig. 5), die die Kontrollprüfstelle
10 von der funktionell vorhergehenden Kontrollprüfsteile in jedem Kreis trennt, eine verzögernde
Einrichtung enthält, kann die Kontrollprüfstelle 9 der Endkontrollpunkt einer Zeitgruppe solcher Prüfstellen
werden. Wie in der Fig. 5 dargestellt, ist die Kontrollprüfstelle 9 die Endkontrollprüfstelle einer
Zeitgruppe, die auch die Kontrollprüfstellen 8, 7, 6, 5, 4 und 1 enthält.
Zu derselben Zeit wird der Anzeigekomparator zum Abtasten der Kontrollpunkte 10 der Dualkreise vorgerückt.
Ein Wiederauftauchen des Fehlers während des ersten Wiederumlaufes der Einrichtung wird zuerst
von der Sonde an den Kontrollprüfstellen 9 und später von dem Anzeigekomparator an der Kontrollprüfstelle
10 wahrgenommen. Deshalb wird die Sonde zu den Kontrollprüfstellen 8 und der Anzeigekomparator
zu den Kontrollprüfstellen 9 vorgerückt als Vorbereitung zu einem zweiten Wiederumlaufen der Einrichtung.
Während des zweiten Wiederumlaufens der Einrichtung wird der Fehler zuerst von dem Anzeigekomparator
bemerkt, während die Sonde darauf eingestellt ist, die Kontrollprüfstellen 8 abzutasten, die
die Eingänge der Dualkreise bilden und den durch die Fehlleistung der Einheit B verursachten Fehler nicht
wiederspiegeln. Deshalb rückt die Sonde als Vorbereitung zu einem dritten Wiederumlaufen der Einrichtung
zu den Kontrollprüfstellen 7 vor, während der Anzeigekomparator von den Kontrollprüfstellen 9
aus nicht vorgerückt wird. Während des vierten Wiederumlaufens der Einrichtung wird der Fehler
zur gleichen Zeit von der Sonde und dem Anzeigekomparator bemerkt, und der letztere wird zu den
Kontrollprüfstellen 7 vorgerückt, während die Sonde zu den Kontrollprüfstellen 6 vorgerückt wird. Während
des fünften Wiederumlaufens der Einrichtung wird der Fehler zuerst von dem Anzeigekomparator
bemerkt, der zu den Kontrollprüfstellen 7 nicht vorrückt. Die Sonde jedoch rückt zu den Kontrollprüfstellen
5 vor als Vorbereitung zudem sechsten Wiederumlaufen der Einrichtung. Der letzte Arbeitsvorgang
wird wiederholt als Einleitung zu dem siebenten Umlauf und den folgenden Umläufen der Einrichtung,
bis die Sonde alle Kontrollprüfstellen abgetastet hat, da die Prüf stellen 7, bei denen der Anzeigekomparator
steht, an den Ausgängen der Einheiten 2? Iiegenund so auf die Fehlerquelile (eine der Einheiten B) nachdrücklicher
hindeuten als irgendwelche anderen Prüfstellen.
Nachdem einmal die Sonde alle Kontrollprüfstellen abgetastet hat, können die üblichen Untersuchungsverfahren
angewendet werden, um zu bestimmen, welche der Einheiten B schadhaft ist, und um deren
fehlerhaften Bestandteil zu reparieren oder zu ersetzen. Nunmehr werden die Sonde und der Anzeigekomparator
in ihre Ausgangsstellungen zurückgeführt.
Es wird an dieser Stelle für wichtig gehalten, herauszustellen, daß in der Anordnung der Fig. 1 und 5
die Prüfstellen 9, 8, 7, 6, 5 und 4 eine nach der anderen abgetastet werden, daß jedoch die Prüf stellen 1
derselben Zeitgruppe nicht sofort nach den Prüfstellen 4 abgetastet werden, vielmehr wird: die Sonde nach
dem Abtasten der Prüfstellen 4 so vorgerückt, daß sie die Prüf stellen 3 abtastet, die in einer anderen Zeitgruppe
liegen und auch die Prüfstellen 1 umfassen. Dieses Arbeitsverfahren ist nach der oben aufgestellten
Regel zulässig, um die Sonde vorzurücken, da die Prüfstellen 3 die am wenigsten unabhängigen unabgetasteten
Prüfstellen in ihrer Zeitgruppe sind. Nach dem Abtasten der Prüfstellen 3 schreitet die Sonde zu
den Prüfstellen 2, die gänzlich unabhängig von irgendwelchen anderen Pfüfstelien sind, und schließlich zu
den Prüfstellen 1 fort, die die am wenigsten unabhängigen unabgetasteten Prüfstellen ihrer Zeitgruppe
sind.
In der beschriebenen Weise der Durchführung der dritten \rerfahrensstufe gemäß der Erfindung werden
die Kontrollprüfstellen, die einen Fehler frühestens aufzeigen, durch eine erschöpfende Analysis der relativen
Zeiten, zu denen alle Kontrollprüfstellen den Fehler aufzeigen, lokalisiert. Die tatsächliche Zeit, in
der der Fehler an jedem Kontrollprüfstellenpaar in Erscheinung tritt, wird nicht bestimmt. In einigen
Fällen kann es vorteilhaft erscheinen, die Kontrollprüfstellen zu ermitteln, die einen Fehler frühestens
aufzeigen, durch Festhalten der tatsächlichen Zeit, zu der jedes Kontrollprüfstellenpaar einen Fehler während
eines Wiederumlaufens der Einrichtung aufzeigt. Zu diesem Zweck kann die dritte Verfahrensstufe abgewandelt
werden durch (a) Abtasten der Kontrollprüfstellen in vorherbestimmter Reihenfolge, wie oben
beschrieben-, jeweils ein Paar für jeden Umlauf der Einrichtung, (b) durch Zählen der Impulsperioden
jedes Wiederumlaufes bis zu derjenigen, in der die abgetasteten Kontrollprüfstellen einen Fehler aufzeigen,
oder indem auf andere Weise eine Zeitanzeige erhalten wird, zu der der Fehler in Erscheinung tritt,
(c) durch Aufzeichnen der Zeit, zu der jedes Prüfstellenpaar einen Fehler aufzeigt, und (d) durch Abtasten
der aufgezeichneten Zeiten, um zu bestimmen, welche davon die früheste ist.
In der Praxis können die Impulsperioden jedes Arbeitsvorganges durch einen dyadischen Zähler in
Übereinstimmung mit den bekannten Verfahren der Elektronenrechner gezählt werden. Überdies kann die
Zählung in bekannter Weise beim Auftreten eines Fehlers angehalten werden. Die Aufzeichnungen der
Ergebnisse, die der Rechner während jedes Wiederumlaufes der Einrichtung erhält, kann von Hand und,
wenn gewünscht, automatisch durch Steuern eines Druckers od. dgl. vorgenommen werden, und zwar in
Übereinstimmung mit den von dem Rechner erhaltenen Zählergebnissen.
Mehrfachfehler
In dem Fall, daß zwei oder mehrere Kreisbestandteile Fehlleistungen erzeugen, und zwar zu im wesentlichen
dem gleichen Zeitpunkt, wird die Durchführung des Verfahrens gemäß der Erfindung die mit dem Bestandteil,
dessen Schadhaftigkeit zuerst eine Fehlleistung verursachte, in Verbindung stehenden Kontrollpunkte
lokalisieren. Jedoch wird das Auswechseln 5 oder Reparieren dieses Bestandteiles den fehlerhaften
Zustand irgendeines anderen Bestandteiles nicht berühren, um eine Fehlleistung zu erzeugen, die eine
nochmalige Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung einleitet. Offenbar werden wiederholte
ίο Durchführungen des Verfahrens alle schadhaften Bestandteile aufspüren.
Zeitweilige Fehler
Das Verfahren gemäß der Erfindung kann auch die Quellen von zeitweise auftretenden Fehlern in elektrischen
Einrichtungen lokalisieren. Zur Durchführung dieses Verfahrens werden der Anzeigekomparator
und die Sonde nicht in ihre Ausgangsstellungen gebracht, wenn ein Fehler während eines Wiederumlaufes
der Einrichtung zeitweilig nicht in Erscheinung tritt. Vielmehr wird die Einrichtung so lange
in Betrieb gehalten, bis zu einem späteren. Zeitpunkt der Fehler wieder auftritt, zu welcher Zeit der Anzeigekomparator
und die Sonde aus den Stellungen, die sie früher erreicht hatten, weiter vorgerückt werden.
In dieser Weise werden der Anzeigekomparator und die Sonde intermittierend bedient mit dem gleichen
Ergebnis, wie dies oben in Verbindung mit der ununterbrochenen Arbeit beschrieben wurde, d. h., die
Fehlerquelle wird schließlich eingekreist und von dem Anzeigekomparator gekennzeichnet.
Diese Arbeitsweise ist insofern besonders wertvoll, als sie nicht die Untätigkeit der Einrichtung während
der Fehlersuche, sondern nur bei jedem Auftreten eines zeitweiligen Fehlers für einen oder mehrere
kurze Wiederumläufe verlangt.
Vorbeugende Unterhaltungsmaßnahmen
Es ist üblich, beim Betrieb komplexer elektrischer Einrichtungen, wie z. B. elektronischer Rechner, regelmäßige,
periodische Unterhaltungsmaßnahmen einzuplanen, die geeignet sind, sich verschlechternde Kreisbestandteile
aufzuspüren, bevor sie schadhaft werden und eine Fehlleistung der Einrichtung verursachen.
Eine solche Maßnahme besteht in dem Erniedrigen der Betriebsspannung für die Vakuumröhren, um eine
vorzeitige Fehlleistung teilweise schlecht gewordener Röhren herbeizuführen. Dieselbe Wirkung kann auch
erreicht werden durch Herabsetzen der Anodenbetriebsspannung für die Röhren.
Die Wirksamkeit dieser und anderer bekannter Maßnahmen hängt von der Geschwindigkeit ab, mit
der das Unterhaltungspersonal irgendwelche Röhren, die fehlerhaft arbeiten, lokalisieren kann. Werden für
das Heraussuchen dieser Röhren lange Zeitperioden benötigt, wie es üblicherweise der Fall ist, wird die
Arbeitsbereitschaft der Einrichtung im ganzen herabgesetzt.
Das Verfahren gemäß der Erfindung, wenn es in Verbindung mit diesen bekannten vorbeugenden Unterhaltungsverfahren
angewendet wird, spürt schlecht arbeitende Röhren schnell auf und erhöht in hohem
Maße die Wirksamkeit der Maßnahmen und die Zuverlässigkeit der Einrichtung.
Vorzugsweise läßt man die Einrichtung eine Musterarbeit durchlaufen, während die allgemeine
Betriebs- oder die Anodenspannung herabgesetzt wird.
Ein Schaden an der Röhre wird eine Fehlleistung der
Einrichtung erzeugen, die ihrerseits der Anlaß zur Durchführung des oben beschriebenen Verfahrens gemäß
der Erfindung sein wird.
Asynchrone Duplikatkreise
In dem Falle, wo die zu unterhaltende Einrichtung in Übereinstimmung mit dem Verfahren gemäß der
Erfindung eine oder mehrere Einheiten enthält, die nicht gern für ein synchrones Arbeiten mit ihren
Duplikaten eingerichtet werden, muß dafür Sorge getragen werden, daß irrtümliche Ungleichheiten mit
Sicherheit aus Mangel an Synchronismus zwischen den Einheiten nicht erzeugt werden. Zum Beispiel
können Duplikat-Schrittschalter aus denselben Quellen impulsbetrieben werden und trotzdem verschiedene
Schrittgeschwindigkeiten haben, so daß ein Schalter einen Schritt bereits vollendet hat, während
der andere sich noch in Bewegung befindet. Vorzugsweise werden solche asynchron arbeitende Einrichtungen
dazu gebracht, den Vergleichszeitpunkt des Verfahrens gemäß der Erfindung festzulegen mittels
der Signale, die nur erzeugt werden, wenn beide Kreise feste Betriebszustände erreicht haben, in denen
sie sicher verglichen werden können. Schrittschalter können z. B., wenn sie jeden Schritt vollzogen haben,
Signale erzeugen, welche Signale ihrerseits kombiniert werden können, um ein sogenanntes »Bereit«-
Signal zu erzeugen, das die Vergleichsvorgänge der Zeit nach bestimmt oder sie sperrt.
Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens
In der Fig. 1 wird eine schematische Darstellung einer Ausführungsform in ihrer Anwendung auf die
Duplikatkreise 6* und T gegeben. Wie dargestellt enthält die Einrichtung einen Sondenkomparator 100,
einen Anzeigekomparator 102 und Schalter 104 und 106, die im ganzen die oben beschriebene Sonde und
den Anzeigekomparator darstellen. Diese Schalter werden bedient, um die Komparatoren mit den einzelnen
Kontrollpunktpaaren der Kreise 6* und T nacheinander mittels der Betätigungseinrichtungen 108
und 110 zu verbinden. Die Überprüfung der Ausgangsleistungen der Duplikatkreise wird durch einen
Prüfkomparator 112 durchgeführt, der zwischen deren Kontrollpunkte 10 geschaltet ist.
Die Ausgangsleistungen der Komparatoren IOOj 102 und 112 werden einem Zeitfolgekreis 114 zugeführt,
der einen Ausgang/5 aktiviert, wann immer eine Ungleichheit von einem der Komparatoren entdeckt
wird, und der einen Ausgang M nur dann aktiviert, wenn der Anzeigekomparator den Fehler zuerst
entdeckt. Der Zeitfolgekreis erzeugt ferner ein Stopsignal auf einer Ausgangsleitung 116, wann immer
eine Ungleichheit von einem der Komparatoren entdeckt wird. Die Leitung 116 kann mit den Duplikatkreisen
S und T in irgendeiner geeigneten Weise verbunden sein, um deren Arbeit anzuhalten. Zum Beispiel
kann die Leitung mit Relais in Verbindung stehen, die befähigt sind, Schalter zu öffnen, wie etwa
die Schalter X und Y in der Fig. 5 in den Eingangsleitungen der Kreise.
Die Ausgangsleistungen M und P des Zeitfolgekreises 114 werden einer Steuereinheit 118 zugeführt,
die eine Arbeit der Betätigungseinrichtung 108 einleitet, wann immer der Ausgang P aktiviert wird, und
der Betätigungseinrichtung 110, wann immer der Ausgang M aktiviert wird. Die Steuereinheit 118 erzeugt
ferner ein »Neu-EinsteHungs- und Start«-Signal an einer Ausgangsleitung 120, das in irgendeiner geeig-
neten Weise dazu verwendet werden kann, um die Neu-Einstellung der Einrichtung (Kreise S und T)
auf irgendeinen vorherbestimmten Startpunkt und den Anlauf der Einrichtung an diesem Punkt zu bewirken.
Zum Beispiel kann die Leitung 120 an ein sichtbares oder hörbares Anzeigegerät angeschlossen werden, um
dem Bedienenden der Einrichtung anzuzeigen, daß sich die Anordnung in dem Zustand befindet, in welchem
sie neu eingestellt und von Hand wieder zum
ίο Anlaufen gebracht werden soll. Wenn gewünscht, können diese Signale auch dazu verwendet werden,
die Zurückführung der Einrichtung in den Ausgangszustand einzuleiten. Die »Neu-Einstellung- und
Start«-Signale werden ferner dem Zeitfolgekreis zugeführt, um diesen nach jeder Arbeit neu einzustellen.
Bei der in den Fig. 1 bis 4 dargestellten Ausführungsform bestehen die Sonden- und Anzeigeschalter
104 und 106 aus Mehrstufenschrittschaltern. Es versteht sich jedoch, daß, wenn gewünscht, die Schrittschalter
durch von Hand bedienbare Schalter, elektronische Schalter oder sonstige geeignete Schalteinrichtungen,
ersetzt werden können. Die Kontakte einer Stufe 105 eines jeden Schalters sind einzeln mit den
Kontrollprüfstellen eines der Kreise vS* oder T verbunden, während die Kontakte der anderen Stufe 107
einzeln, mit den Kontrollprüfstellen des anderen Kreises verbunden sind. Die Verbindungen sind derart
angeordnet, daß, in dem Maße wie die Schleifer der Stufen 105 und 107 sich drehen, sie elektrisch mit den
Kontrollprüfstellen verbunden werden, und zwar in der Reihenfolge, in der die letzteren nach den oben
aufgestellten Regeln abgetastet werden sollen. Die Schleifer der Stufen 105 und 107 eines jeden Schalters
sind einzeln mit den zugehörigen Komparatoren 100 oder 102 verbunden. In ihren normalen oder
Ausgangsstellungen sind die Schleifer der Stufen 105 und 107 der Sonde mit den ersten abzutastenden Kontrollprüfstellen
(den Punkten 10 in den Fig. 1 und 5j verbunden, während die Schleifer der Stufen 105 und
107 des Anzeigekomparators mit den Leerkontakten der Kontaktstufen verbunden sind. Auf diese Weise
sind die Verbindungen zwischen den Kontaktstufen
105 und 107 der Sonde und den Kontrollprüfstellen um einen Schritt versetzt gegen die Verbindungen der
Kontaktstufen 105 und 107 des Anzeigekomparators mit den Kontrollprüfstellen. In der Auswirkung sind
die Stufen 105 und 107 der Sonde den Stufen 105 und 107 des Anzeigekomparators um einen Schritt voraus.
Während jedes vollständigen Abtastvorganges rücken die Sondenschleifer über alle Kontakte der
Reihe nach vor, die mit den Kontrollprüfstellen in Verbindung stehen, und kommen auf den Leerkontakten
der Stufen 105 und 107 zur Ruhe. Die Schleifer des Anzeigekomparators jedoch rücken nur bis zu
jenen Kontalcten vor, die mit den eine Fehlerquelle aufzeigenden Kontrollprüfstellen verbunden sind.
Hieraus ist zu ersehen, daß in dem Maße, wie die Schrittschalter 104 und 106 vorrücken, die elektrischen
Bedingungen, wie sie an den entsprechenden Kontrollprüfstellen in den Duplikatkreisen während
des Betriebes vorherrschen, an die Komparatoren 100 und 102 weitergeleitet werden, die irgendeine Unstimmigkeit
aufdecken. In dem dargestellten Beispiel arbeiten die Dualkreise 0" und T auf Signalspannungs
pegeln von 4- 60 und + 90 Volt, die die den Komparatoren zugeführten Spannungen, sind.
Die Komparatoren 100 und 102 können im Aufbau gleich sein, und aus Gründen der Kürze wird in der
Fig. 2 ein einfacher Vergleicherkreis dargestellt, der zur Verwendung in beiden Komparatoren verdoppelt.
werden kann. Wie dargestellt, werden die Eingangsleistungen zu den Komparatoren von den mit ihnen
zusammenarbeitenden Schrittschaltern Pufifer-Wechsel richtern oder Schaltröhrenkreisen 124 und 126 zugeführt,
die neben einer Verstärkung zugeführte Signale umkehren. Die Ausgangsleistung jedes Wechselrichters
wird einer ODER-Sperre 128 und einer Koinzidenzsperre 130 zugeführt. Die ODER-Sperre 128
steuert einen Wechselrichter 132, dessen Ausgangsleistung einer ODER-Sperre 134 zugeführt wird zusammen
mit der Ausgangsleistung der Koinzidenzsperre 130. Die Ausgangsleitung des Komparators
geht \-on der ODER-Sperre 134 ab. Die Einzelheiten im Aufbau der Wechselrichter und der Koinzidenz-
und ODER-Sperren sind unwichtig.
Wenn gewünscht, können die Komparatoren etwas komplexer gestaltet werden, wodurch sie außer reinen
Pegelunstimmigkeiten Fehler aufdecken, z. B. Abweichungen von den reinen Pegeln.
Die Ausgangsleistungen der Komparatoren 100 und 102 werden den ODER-Sperren 136 bzw. 138 (siehe
Fig. 3) im Zeitfolgekreis zugeführt. Um eine Ausmusterung der genannten Ausgangsleistungen der
Komparatoren an einem besonderen Punkt während jeder Impulsperiode der Einrichtung zu bewirken,
werden den ODER-Sperren 136 und 138 negativ gerichtete Zeitgeberimpulse t, die zu geeigneten Zeiten
auftreten, gleichfalls zugeführt. Augenscheinlich können diese Sperren niedrige Ausgangsleistungen erzeugen,
die einen Fehler nur dann anzeigen, wenn deren Eingangsleistungen aus dem zugehörigen Komparator
ein niedriges Potential während der Breite eines Zeitgeberimpulses t aufweisen.
Die Zeitgeberimpulse t können von irgendeinem geeigneten Impulsgenerator 140 erzeugt werden, die mit
der Arbeit der zu unterhaltenden Einrichtung synchronisiert werden. Vorzügsweise stellt die Einrichtung
140 den Impulsgenerator der genannten Einrichtung oder zumindest ein Zusatzgerät hierzu dar. In
ihrer einfachsten Ausführung kann die Einrichtung 140 aus einem Schalter bestehen, der von Hand zu
entsprechenden Zeiten geschlossen werden kann und der den ODER-Sperren kurzzeitig ein negatives Potential
zuführt. Auf jeden Fall bildet die Einrichtung 140 keinen Teil der Erfindung und braucht daher
nicht näher beschrieben zu werden, da es für ein volles Verständnis der Erfindung für ausreichend gehalten
wird, herauszustellen, daß bei gegebenen Impulsen der dargestellten Art, die Einrichtungen zeitgebunden
werden und elektrische Zustände an entsprechenden Kontrollpunkten nur während der Impulsbreite
vergleichen.
Die Ausgangsleistungen der ODER-Sperren 136 und 138, die, wie erinnerlich, ein niedriges Potential
annehmen, um Fehler oder Ungleichheiten anzuzeigen, werden über isolierende Dioden 146 und 148 den
Kippventilen 142 und 144 zugeführt. Die Aufnahme eines niedrigen. Potentials von einer der Sperren 136
oder 138 kippt das zugehörige Kippventil in den sogenannten einen Betriebszustand. Die Kippventile
werden neu eingekippt durch ein niedriges Potential, das in der Leitung 147 auftritt, wie hiernach eingehender
beschrieben werden wird. Die Kippventile können von irgendeiner geeigneten Ausführungsform
sein, und an Hand eines Beispiels wird das in der Fig. 3 mit der Kennziffer 142 versehene im einzelnen
dargestellt und im nachstehenden beschrieben.
Die Ausgangsleistungen der Kippventile 142 und 144, die niedrige Potentiale annehmen, wenn sie in
ihren einen Betriebszustand gekippt sind, werden den
Wechselrichtern 150 bzw. 152 zugeführt. Der Ausgang des Wechselrichters 150 bildet den Ausgang des obenerwähnten
Zeitfolgekreises. Die Ausgangsleistung P dieses Kreises \vird von einer ODER-Sperre 154 erzeugt,
der die Ausgangsleistungen der beiden Wechselrichter 150 und 152 zugeführt werden. Vorzugsweise
geht die Ausgangsleitung 116 des Kreises, der die Stopsignale trägt, von dem von der ODER-Sperre 154
gesteuerten Wechselrichter 156 ab. ίο Um ein Kippen des Kippventils 142, nachdem das
Kippventil 144 in seinen einen Betriebszustand gekippt worden ist, zu verhindern, wobei dieser eine
Betriebszustand anzeigt, daß der Anzeigekomparator eine Ungleichheit oder einen Fehler zuerst entdeckte,
wird die Ausgangsleistung des von dem Kippventil 144 gesteuerten Wechselrichters 152 über die Leitung
158 der ODER-Sperre 136 rückgekoppelt. Nach einem Kippen des Kippventils 144 führt der Wechselrichter
152 der ODER-Sperre 136 ein hohes Potential zu, und eine darauffolgende Zuführung eines niedrigen
Potentials von dem Sondenkomparator 100 ist für ein Kippen des Kippventils 142 unwirksam. Vorzugsweise
werden die Zuleitungen zum Kippventil 142 abgeschirmt, oder es werden andere geeignete Maßnahmen
getroffen, um ein irrtümliches Kippen des Kippventils durch ein von den Schrittschaltern oder
anderswo erzeugtes Geräusch zu verhindern.
Die Ausgangsleistungen M und P des Zeitfolgekreises werden, wie in der Fig. 4 dargestellt, der Kontrolleinheit
118 zugeführt.
Die Ausgangsleistung P wird dazu verwendet, um eine als Triode geschaltete Pentode 160 leitend zu
machen, wann immer sie erregt wird, d. h., sie nimmt ein hohes Potential von 90 Volt an, und um die Röhre
gesperrt zu halten, wenn die Ausgangsleistung ein niedriges Potential von 60 Volt aufweist. Zu diesem
Zweck ist das Steuergitter der Pentode mit dem Verbindungspunkt zweier Widerstände verbunden, die
einen Spannungsteiler 162 darstellen, der zwischen dem Ausgang P und einem Minuspotential von
— 300 Volt geschaltet ist. Der dargestellte Spannungsteiler wandelt die +-90- und +-60-Volt-Potentiale,
die am AusgangF auftreten, in Potentiale um (+10 und —16 Volt), die für ein Zuführen zum Gitter der
Röhre geeigneter sind. Die Anode der Pentode steht mit einer geeigneten positiven Spannungsquelle über
einen strombegrenzenden Widerstand 166 und der Spule 164 eines Startrelais in Verbindung, das beim
Leitendwerden der Röhre erregt wird und seine Kontakte 168, 170, 172 schließt. Das Schließen der Kontakte
168 schließt den Erdungskreis für ein Relais 174, das erregt wird und seine Kontakte 176 schließt.
Diese Kontakte 176 verbinden dann die positive Span nungsquelle mit einer ersten Wicklung eines Doppelspulenrelais
178 über die normalerweise geschlossenen Kontakte 180 dieses Relais und über die normalerweise
geschlossenen Unterbrecherkontakte 182 des Sondenschrittschalters 104 zu dem Schaltmagneten
oder der Betätigungseinrichtung 108 dieses Schalters. Die Betätigungseinrichtung 108 wird sofort erregt,
und in bekannter Weise rückt der Schalter nach dem Auslösen vor. Ferner wird durch die kurzzeitige Tätigkeit
eines Überleitungskontaktes 184 des Schrittschalters ein positives Potential dem Steuergitter einer
gittergesteuerten Gasentladungsröhre 186 zugeführt, die darauf zündet und für die vorerwähnte erste
Spule des Relais 178 eine Erdverbindung herstellt. Die gittergesteuerte Gasentladungsröhre schließt ferner
den Magneten 108 kurz, um dessen weitere Erregung zu verhindern. Das Relais 178 wird erregt
und erzeugt für sich selbst einen Haltekreis über die Kontakte 188, die in Zusammenarbeit mit den Kontakten
176 des Relais 174 seine zweite Wicklung mit einer positiven Spannungsquelle verbinden. Zur gleichen
Zeit werden die Kontakte 180 dieses Relais geöffnet, um eine zweite Betätigung des Sondenschrittschalters
zu verhindern, der auf diese Weise nur einen Schritt vorrückt. Das Öffnen dieser Kontakte 180 enterregt
ferner die erste Spule des Relais 178 und löscht die gittergesteuerte Gasentladungsröhre 186.
Gleichzeitig wird ein anderes Kontaktpaar 190 des Relais 178 geschlossen, und in Zusammenarbeit mit
den geschlossenen Kontakten 170 des Relais 164 wird für das genannte Relais ein Erdungs-Haltekreis geschaffen.
Wie bereits erwähnt wurde, wird auf der Ausgangsleitung 120 der Kontrolleinheit 118 (s. Fig. 1 und 4)
ein Rückkippsignal nach jeder Tätigkeit der Sonde 104 erzeugt. Für diesen Zweck ist ein Rückkipprelais
200 (s. Fig. 4) mit den Kontakten 202 vorgesehen, die die Zuleitung 120 mit einer geeigneten positiven
Spannungsquelle verbinden, wann immer das Relais erregt wird. Ein Erregerkreis für dieses Relais läuft
von dem Überleitungskontakt 184 der Sonde über die Kontakte 206 des Relais 178, den Überleitungskontakt
208 des Relais 210, die Spule des Relais 200 und über die Kontakte 172 des Relais 164 zur Erde. Nach einer
Enterregung des Sondenmagneten 108 wird der Überleitungskontakt 184 normalisiert und verbindet die
genannte Erregungsleitung mit der positiven Spannungsquelle. Dieses erregt das Relais 200, das einen
HaItekreis für sich selbst über einen Überleitungskontakt 212 schließt. Die Umschaltung des Kontaktes
212 unterbricht den Haltekreis für das Relais 174, das enterregt wird und durch das Öffnen seiner Kontakte
176 den Haltekreis für das Relais 178 unterbricht. Durch die Enterregung des Relais 178 öffnen
sich seine Kontakte 190 und unterbrechen den Haltekreis für das Startrelais 164, das enterregt wird und
durch das Öffnen seiner Kontakte 172 den Haltekreis für das Rückkipprelais 200 unterbricht und dadurch
eine Enterregung des letzteren bewirkt.
Zu diesem Zeitpunkt sind die soweit beschriebenen Schaltkreise normalisiert.
Um den Anzeigekomparator vorzurücken, werden die Ausgangsleistungen M des Zeitfolgekreises über
einen Spannungsteiler 230, der dem oben beschriebenen Teiler 162 gleicht, der als Triode geschalteten
Pentode 232 zugeführt, die leitend wird, wenn der genannte Ausgang aktiviert wird, d. h. wenn er ein
hohes Potential annimmt. Das obenerwähnte Relais 210 wird in den Anodenkreis der Pentode 232 geschaltet
und beim Leitendwerden der letzteren erregt.
Wie erinnerlich, ward der Ausgang nur im Zusammentreffen mit der Aktivierung des Ausgangs P aktiviert,
und so ist leicht einzusehen, daß wann immer das Relais 210 erregt wird, die Relais 164, 174 und
178 wie oben beschrieben gleichfalls erregt werden. Bei einer Erregung der Relais 178 und 210 werden
deren Kontakte 236 und 240 geschlossen und schließen in Zusammenarbeit mit den normalerweise geschlossenen
Kontakten 242 eines Doppelspulenrelais 226 einc.i Strompfad von der positiven Spannungsquelle zu einer ersten Spule des Relais 226. Zur glei -
chen Zei: erstreckt dich dieser Strompfad über eine Leitung 244 zu dem MagnetenllO des Anzeigekomparator-Schrittschalters
über die Unterbrecherkontakte des letzteren. Der Magnet 110 wird, wie erforderlich,
ein oder mehrere Male erregt, um die Stufe
vorzurücken, die von der Sonde besetzt ist, in welcher Stufe, wie erinnerlich, der Anzeigekomparator die
Kontrollprüfstellen abtastet, die zuletzt von der Sonde abgetastet wurden, nicht jedoch die Prüf stellen,
die von der Sonde laufend abgetastet worden sind.
Um das Vorrücken des Anzeigekomparators bei der geeigneten Stufe anzuhalten, sind die Sonde und der
Komparator mit einer dritten Kontaktreihe 220 bzw. 222 versehen. Die Reihe 220 weist einen Kontakt in
jeder Stellung auf, bei der die Sonde ein Kontrollprüfstellenpaar abtastet und ferner einen Schlußkontakt
221, über den hiernach noch eingehender gesprochen werden wird. Der Schleifer für die Kontaktreihe
220 ist geerdet, und jeder Kontakt der Reihe ist verbunden mit einem entsprechend angeordneten Kontakt
in der Reihe 222. Der Schleifer der Reihe 222 ist durch eine Leitung 224 mit der ersten Spule des
Relais 226 verbunden, das, wie erinnerlich, mit einer positiven Spannungsquelle verbunden wird, wann
immer der Anzeigekomparator weitergerückt wird.
Es ist leicht einzusehen, daß dann, wenn der Anzeigekomparator zu der Stellung vorrückt, die von
der Sonde besetzt ist, ein Erdpotential über die miteinander in Verbindung stehenden Kontaktreihen 220
und 222 und Leitung 224 der ersten Spule des Relais 226 zugeführt wird, das darauf erregt wird. Dieser
Vorgang schließt die Kontakte 250 des Relais, wobei für dieses ein Haltekreis geschlossen wird, und öffnet
die Kontakte 242 um weitere Erregungen des Anzeigekomparator-Schrittschaltermagneten
110 zu verhindern. Es sei nochmals darauf hingewiesen, daß der Magnet durch die Erdleitung für das Relais 226 kurzgeschlossen war und nicht wieder erregt werden
würde, wenn das genannte Relais in irgendeiner Weise versagte.
Wie oben beschrieben, wird das Rückkipprelais 200 sofort nach einem einzigen Schritt des Sondenschrittschalters
erregt, wenn dieses ausschließlich von dem Anzeigekomparator betätigt wird. Ist jedoch der
Schrittschalter dieses Komparators gleichfalls betätigt, so wird die Arbeit des Rückkipprelais verzögert
bis zu dem Zeitpunkt, wo der Schrittschalter sein Vorrücken beendet hat. Zu diesem Zweck wird der
normale Erregungspfad für das Relais 200 über den Schaltkontakt 208 durch Erregung des Relais 210
unterbrochen, als Vorbereitung auf ein Vorrücken des Anzeigekomparators, und ein zweiter Pfad eingeschaltet,
der gleichfalls die normalerweise offenen Kontakte 252 des Relais 226 umfaßt. Dieses Relais
wird, wie erinnerlich, enterregt, wenn der Anzeigekomparator sein Vorrücken vollendet. Auf diese
Weise wird der Erregungspfad für das Relais 200 nicht geschlossen, bis das Relais 226 enterregt wird
und die Kontakte 252 schließt. Hat jedoch dieser Vorgang einmal stattgefunden, so wird das Rückkipprelais
erregt, wobei sich die oben beschriebenen Resultate ergeben. Ferner werden bei einer Enterreguug
des Relais 178 während des Zurückkippens die Kon takte 236 geöffnet und trennen die positive Spannungsquelle von dem Relais 226 ab, das gleichfalls enterregt
wird. Das Relais 210 wird enterregt, wenn nach dem Zuführen des Rückkippsignals zu dem Zeitfolgekreis
114 dessen Ausgang M entaktiviert wird.
Um die Sonde, nachdem sie die letzten zu vergleichenden Kontrollprüfstellen abgetastet hat, stillzulegen,
wird zu diesem Zeitpunkt die Verbindung der positiven Spannungsquelle zum Sondenmagneten 108
über die Relaiskontakte 176 und 180 unterbrochen. Zu diesem Zweck erhält der Sondenschrittschalter eine
vierte Kontaktreihe 256 mit einem Kontakt für jeden
1
Schritt, bei dem die Schalteinrichtung ein Kontrollprüfstellenpaar abtastet. Diese Kontakte stehen gemeinsam
mit dem Sondeninagneten 108 (über die Unterbrecherkontakte 182) in Verbindung, während
der zugehörige Schleifer über die Kontakte 180 und 176 mit einer positiven Spannungsquelle verbunden
ist. Auf diese Weise geht die Arbeit des Sondenmagneten 108 unter der Kontrolle der Kontakte 176
und 180 ungehindert weiter, bis, nachdem die letzten zu vergleichenden Kontrollprüfstellen abgetastet worden
sind, die Sonde einen zusätzlichen Schritt vorrückt und die Schleifer der Kontaktreihen 105, 107
und 256 die Leerkontakte in den Reihen besetzen. Zu diesem Zeitpunkt wird die Verbindung zwischen dem
Sondenmagneten und den Kontakten 176 und 180 unterbrochen, und die Sonde ist stillgelegt.
Um einem Bedienenden der Einrichtung die Kontrollprüfstellen kenntlich zu machen, die von der beschriebenen
Einrichtung als die für eine Fehlerquelle am ehesten in Frage kommenden ausgewählt worden ao
sind, ist der Anzeigekomparator-SchrittschalteT 106 mit einer vierten Kontaktreihe 260 versehen, die einen
Kontakt für jeden Schritt aufweist, bei dem der Schalter ein Kontrollprüfstellenpaar abtastet. Diese
Kontakte sind jeder für sich mit einer Anzeigelampe 262 verbunden, die die verschiedenen Kontrollprüfstellen
bezeichnen und die gemeinsam an eine positive Spannungsquelle angeschlossen sind.
Diese Lampen werden wahlweise angeschaltet, indem sie einzeln durch den Schleifer der Kontaktreihe
260 mit Erde verbunden werden. Die Lampen 262 werden vorzugsweise nicht nacheinander eingeschaltet,
wie der Anzeigekomparator vorrückt. Statt dessen wird die Lampe erleuchtet, die die als Fehlerquelle
verdächtigsten Kontrollprüfstellen kennzeichnet, nachdem der Anzeigekomparator sein Vorrücken beendet
hat. Zu diesem Zwecke ist der Schleifer der Kontaktreihe 260 mit Erde über die normalerweise offenen
Kontakte 264 des Relais 266 verbunden. Die Erdleitung für dieses Relais wird durch den Endkontakt
221 der Reihe 220 der Sonde und dem zugehörigen Schleifer geschlossen-, der diese berührt, nachdem die
Sonde alle Kontrollprüfstellen abgetastet hat. Auf diese Weise wird das Relais 266 erregt, nachdem die
Sonde ihr Vorrücken beendet hat, und schließt den Beleuchtungskreis für die zugehörige Lampe 262 über
ihre Kontakte 264.
Um die Schrittschalter 104 und 106 in ihre Ausgangsstellung zurückzuführen, nachdem der Ort eines
fehlerhaften Kreisbestandteiles von den Lampen 262 gekennzeichnet wurde, können die Magneten 108 und
110 in irgendeiner geeigneten Weise mit einer positiven Spannungsquelle verbunden werden. Beispielsweise
weist, wie in der Fig. 4 dargestellt, der Sondenschrittschalter die Kontakte 268 auf, die nur geöffnet
sind, wenn sich der Schalter in seiner Ausgangsstellung befindet. Ein gleicher bei dem Anzeigekomparator-Schrittschalter
vorgesehener Kontaktsatz 270 steht insgesamt mit einem von Hand bedienbaren Rückkippschalter
272 in Verbindung, der, nachdem dieser bedient wurde, über die genannten Kontakte eine
positive Spannung den Magneten 108 und 110 zuführt, um die Schrittschalter in ihre Ausgangsstellungen
zurückzuführen.
In einigen Fällen kann es erwünscht sein, eine ein- 6g zige Prüfeinheit zu verwenden von der Art, wie sie
eben in Verbindung mit einer Mehrzahl getrennter Teile der Einrichtung beschrieben wurden. Zu diesem
Zwecke können die Anschluß leitungen zwischen der Prüfeinheit und der Einrichtung, mit der diese, wie
573
in der Fig. 1 dargestellt, in Verbindung steht, mit einem Kontaktstecker versehen werden oder anderweitig
derart eingerichtet sein, daß eine Verbindung der Prüfeinheit mit irgendwelchen Teilen der Einrichtung
erleichtert wird. Weiterhin können in den Fällen, wo alle Teile der Ausrüstung oder zumindest
die Teile, die mit der Prüfeinheit in Verbindung stehen, im wesentlichen gleich sind, beträchtliche Einsparungen
an Ausstattung gemacht werden, indem die därin enthaltenen Schaltkreise nicht verdoppelt werden,
sondern indem eins der Ausrüstungsteile als das Duplikat des anderen verwendet wird, um einen fehlerhaften
Teil zu lokalisieren. Bei dieser Anordnung kann jeder Teil der Einrichtung in irgendeiner von
mehreren bekannten Weisen auf Fehlerquellen untersucht werden außer einer Ausgangsleistungsüberprüfung.
Beispielsweise kann ein systematisches Untersuchungsverfahren verwendet werden, oder die Einrichtung
kann veranlaßt werden, jede Operation zweimal durchzuführen, um zu ermitteln,, ob dieselben Resultate
in beiden Fällen erhalten werden, oder es können Untersuchungen auf Gleichheit vorgenommen
werden, oder es können sonstige Prüfungsverfahren zur Anwendung gelangen, die einem Techniker auf
dem Gebiet der Elektronenrechner oder verwandter Gebiete vertraut sind. Auch kann, wenn gewünscht,
ein zusätzlicher der genannten Teile der Einrichtung oder eine Nachbildung davon für die Verwendung als
Duplikat eines fehlerhaften Teiles vorgesehen werden, damit die normale Arbeit der anderen Teile der Einrichtung
nicht beeinflußt wird. In Verbindung mit dem Gebrauch einer Nachbildung eines Teiles der
Einrichtung muß erwähnt werden, daß da, \νο· der Aufbau der Einrichtung es erlaubt, die zu verwendenden
Duplikatkreise oder eine Nachbildung davon wesentlich verschieden von den Teilen der zu untersuchenden
Einrichtung sein können bis zu dem Ausmaß, als die beiden der Prüfeinheit für einen besonderen
vorherbestimmten Prüfvorgang identisch erscheinen. Beispielsweise kann eine verhältnismäßig
einfache Nachbildung eines komplexen Kreises so ausgebildet werden, daß während einer ausgewählten
Arbeit der beiden, die elektrischen Zustände an den Kontrollprüfstellen des ersteren jenen an den entsprechenden
Kontrollprüfstellen des letzteren gleicht, ausgenommen beim Auftreten eines Fehlers. Diegenannte
gewählte Arbeit würde natürlich eine sein, die einen Fehler reproduzieren könnte, der durch das Prüfverfahren
aufgedeckt wurde und würde immer für eine Untersuchung verwendet werden an Stelle der jeweiligen
Arbeit, die die Einrichtung beim Auftreten des Fehlers durchführte. Eine einfache Nachbildung eines
Kreises kann einen wirklichen Kreis oder eine Aufzeichnung der elektrischen Zustände enthalten, die
die Kontrollprüfstellen eines Teiles der Einrichtung während der Impulsperioden einer besonderen Arbeit
annehmen sollen, welche Aufzeichnung zurückgespielt werden kann zum Vergleichen mit den elektrischen
Zuständen, die während einer der genannten Arbeiten angenommen waren usw. -
Es können für die Erfordernisse des einzelnen Bedieners noch weitere Abwandlungen des Prüfverfahrens
und der Einrichtung der Erfindung getroffen werden. Zum Beispiel kann in den Fällen, wo eine
ununterbrochene Arbeit der Anlage von außerordentlicher Bedeutung ist, diese mit Dreifachkreisen versehen
werden und mit einem Ausgangsprüfer, der irgendeinen der Kreise, der eine von den anderen beiden
verschiedene Ausgangsleistung erzeugt, mit einem der genannten anderen beiden für Untersuchungs^
809 789/215
i Ot
zwecke verkoppelt, wobei ,eine ununterbrochene Arbeit des dritten ermöglicht wird. Prüfeinrichtungen der
oben beschriebenen Art könnten für eine Zusammenarbeit mit den gekoppelten Kreisen vorgesehen werden
bei der Lokalisation des fehlerhaften Bestandteiles, während der dritte Kreis mit seiner normalen
Arbeit fortfährt. Ferner kann eine sofortige Lokalisierung von fehlerhaften Kreisen erreicht werden, indem
zwischen jedem Paar Kontrollprüfstellen ein Komparator eingeschaltet und eine Schaltung verwendet
wird, die dem beschriebenen Zeitfolgekreis gleicht, um die Arbeit von einem anderen Komparator
anhalten zu lassen, nachdem einmal eine Unstimmigkeit entdeckt worden ist.
Während im vorstehenden nur eine beschränkte Anzahl von Verfahren gemäß der Erfindung beschrieben
worden sind, können viele Abwandlungen und Zusätze gemacht werden, ohne von dem Erfindungsgedanken abzuweichen, und es ist deshalb nicht erwünscht,
den Bereich der Erfindung einzuengen, ausgenommen, wie er in den anhängenden Ansprüchen
offenbart ist.
Anhang
Die im folgenden beschriebenen Schaltungen sind für die Verwendung in den'entsprechend bezeichneten
Blocks der Fig. 1 bis 4 geeignet. Es versteht sich von selbst, daß die dargestellten Einzelteile und Anordnungen
nur eine mögliche Kombination darstellen und daß damit keine Einengung der Erfindung beabsichtigt
ist. Kleine Veränderungen der Gleichstrompegel, Signalamplituden und Wechsel in der Impulspolarität
können für die Verwendung dieser Schaltungen an besonderen Stellen notwendig werden. Doch werden
solche Abwandlungen einem geschickten Techniker der Elektronik selbstverständlich sein.
Die in den Zeichnungen in Blockform dargestellte Koinzidenzsperre wird in der Fig. 2 im einzelnen
noch einmal dargestellt.
Nach der Darstellung in Fig. 2 enthält die Sperre 130 zwei Dioden 300, deren Anoden miteinander verkoppelt
sind. Ein Widerstand 301 ist zwischen die verkoppelten Anoden und eine Quelle positiven Potentials,
beispielsweise -4-150 Volt, geschaltet. Für den Kreis geht eine Ausgangsleitung 302 von den
verkoppelten Anoden ab. Den Kathoden der Dioden werden hohe (+90 Volt) und niedrige (+60 Volt)
Potentiale zugeführt. Gleichzeitige Zuführung hoher Potentiale zu beiden Eingängen bewirkt die Zuführung
eines hohen Potentials zur Leitung 302. Weist einer von beiden oder beide Eingänge ein niedriges
Potential auf, so nimmt die Ausgangsleitung gleichfalls ein niedriges Potential an. Wo benötigt, können
auch mehr als zwei Dioden 300 vorgesehen werden.
Die in Blockform in den Zeichnungen dargestellte ODER-Sperre 128 wird nochmals in der Fig. 2 im
einzelnen dargestellt. Nach der Darstellung enthält die Sperre zwei Dioden 304, deren Kathoden miteinander
verkoppelt sind. Ein Widerstand 306 verbindet die verkoppelten Kathoden mit Erde. Von dem gekoppelten
Kathoden geht eine Ausgangsleitung 308 ab und nimmt ein hohes Potential an, wann immer der
Anode einer von beiden oder beiden Dioden ein hohes Potential zugeführt wird. Die Ausgangsleitung 308
nimmt nur dann ein niedriges Potential an, wenn beide Eingangsleitungen ein niedriges Potential aufweisen.
Wo benötigt, können mehr als zwei Dioden vorgesehen werden.
Beim Zusammenkoppeln einer Mehrzahl von Diodensperren der eben beschriebenen Ausführung
4 573
wird jede besonders für eine Arbeit'auf demselben Signalpegel wie die vorhergehende abgeglichen,
während in dem Kopplungsverstärker in Abständen Einrichtungen vorgesehen sind, um Energieverluste
-5 zu kompensieren. Um die genannten hohen und niedrigen Signalpotentiale innerhalb einer Reihe der
beschriebenen Sperren auf derselben Höhe zu halten, sind die Widerstände in den Schaltkreisen der Reihe
im wesentlichen von verschiedener Größe. Nach jedem
ίο dritten in sich geschlossenen Kreis einer Serie kann ein Verstärker vorgesehen werden, und für die ersten,
zweiten und dritten Kreise bzw. jeder Gruppe von dreien können Widerstände von 27 000, 51000 und
100 000 Ohm verwendet werden.
Der in der Fig. 2 im einzelnen dargestellte Schaltkreis oder Wechselrichter 124 ist das Vorbild für die
anderen in Blockform in den Zeichnungen dargestellten Schaltkreise und enthält einen Verstärker
in der obenerwähnten Ausführung. Nach der Darstellung enthält der Schaltkreis eine Kraftpentode
310, deren Kathode und Bremsgitter geerdet sind und dessen Schirmgitter mit einer Quelle eines geeigneten
positiven Potentials verbunden ist. Die Anode der Pentode ist über einen Widerstand 312 an eine
Spannungsquelle von.+150 Volt angeschlossen. Von der Anode der Pentode geht eine Ausgangsleitung
314 ab und wird durch die Dioden auf den Potentialen + 60 und +90 Volt gehalten. Das Steuergitter
der Pentode ist mit dem Verbindungspunkt der beiden Widerstände eines Spannungsteilers 320 verbunden,
der zwischen die Eingangsleitung zur Schaltung und eine Spannungsquelle mit einem
Potential von —300 Volt geschaltet ist. Der Spannungsteiler 320 dient dazu, die +-60- und + -90-Volt-Potentiale,
die an der Eingangsleitung des Schaltkreises auftreten, in Potentiale von +10 und
—16 Volt umzuwandeln, die für die Zuführung zum Gitter geeigneter sind. Bei der Verwendung der in
den Zeichnungen dargestellten Röhrenart und der Werte der Schaltungsteile führt die Zuführung eines
hohen Potentials zur Eingangsleitung zu einer Ausgangsleistung niedrigen Potentials auf der
Leitung 314. Umgekehrt führt die Zuführung eines niedrigen Potentials zur Eingangsleitung zur Erzeugung
eines hohen Potentials auf der Ausgangsleitung 314.
Das in der Fig. 3 im einzelnen dargestellte Kippventil 142 enthält die beiden Trioden 322 und 324 in
der sehr gebräuchlichen Gitter-Anoden-Kopplung, die zwei stabile Zustände aufweisen d. h., die eine von
beiden ist leitend, während die andere gesperrt ist. Diese Kippventileinheit enthält ferner zwei isolierende
Dioden, von denen die Anode einer jeden mit der Anode einer der Kippventiltrioden, wie bei 146
dargestellt, verbunden ist. Die Ausgangsleistungen aus dem Kippventil werden an den Anoden seiner
Trioden abgenommen, wie bei 326 dargestellt. Die Zuführung eines niedrigen Potentials (+60 Volt) zur
Kathode der isolierenden Diode, die mit der nichtleitenden Triode in Verbindung steht, setzt das
Anodenpotential der letzteren herab auf den 60-Volt-Pegel, und der Zustand des Kippventils wird in der
bekannten Weise verändert. Der Entwurf und die Arbeitsweise von Kippventilen ist in der Technik so
gut bekannt, daß dieses im einzelnen nicht weiter beschrieben wird. Weitere Informationen über diese
Schaltungsart können in dem Aufsatz »How to design bistable multivibrators« von Ralph Prissman in
Electronics Magazine, April 1953, S. 164 bis 167, gefunden werden.
Claims (8)
1. Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und elektronischen Anlagen mit
Rückkopplungsschleifen während des Arbeitsvorganges, wenn diese Anlagen beim Arbeitsgang
ein fehlerhaftes Ergebnis liefern, dadurch gekennzeichnet, daß die Anlage ein oder mehrere Male
denselben Arbeitsvorgang, bei dem das fehlerhafte Ergebnis geliefert wird, durchläuft, und daß
gleichzeitig mit diesen Wiederholungen die an vorbestimmten Prüfstellen der Anlage auftretenden
Signale in einer vorbestimmten Reihenfolge überwacht werden, daß die überwachten
Signale mit entsprechenden Signalen verglichen werden, die durch eine synchron mit dieser
Anlage betätigte Signalerzeugungs vor richtung erzeugt werden, daß Fehlersignale erzeugt werden,
sobald eine Abweichung zwischen den verglichenen Signalen auftritt, daß die Prüf stelle
angegeben wird, an der ein Fehlersignal am frühesten im Zyklus auftritt, und daß, wenn ein
Fehlersignal an mehreren Prüfstellen am frühesten im Zyklus auftritt, diejenige Prüfstelle von
mehreren Prüfstellen, die funktionell unabhängig von den anderen Prüfstellen ist, bestimmt wird,
und zwar entsprechend der Reihenfolge, in der diese Prüfstellen überwacht werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Anlage doppelte Kreise mit einander entsprechenden
Prüfstellen enthält, dadurch gekennzeichnet, daß durch Vergleichen elektrischer Signale an
einander entsprechenden Prüfstellen in vorbestimmter Reihenfolge und durch Heraussuchen
der Prüfstellen, bei denen eine Abweichung zwischen den verglichenen Signalen auftritt,
bestimmt wird, welches Prüfstellenpaar den Fehler am frühesten aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüstellenpaar, das die genannte
Abweichung früher aufzeigt, mit anderen bei Wiederholung des Arbeitsvorganges ermittelten
Prüfstellenpaaren verglichen wird, bis ein unabhängigeres Prüfstellenpaar gefunden wird,
das den Fehler noch früher aufzeigt, oder bis alle Prüfstellen ausgeschöpft sind.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
genannten Prüfstellen in Zeitgruppen eingeteilt sind, wobei die Prüfstellen der gleichen Zeitgruppe
den Fehler gleichzeitig aufzeigen.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein erstes Prüfstellenpaar mit einer
ersten Vergleichervorrichtunig (100, 104, 108) und ein zweites Prüfstellenpaar mit einer zweiten
Vergleichervorrichtung (102, 106, 110) überwacht wird; daß die Reihenfolge des Auftretens aller
von der ersten Vergleichervorrichtung und der zweiten Vergleichervorrichtung festgestellten Abweichungen
notiert wird.; daß nach jedem Zyklus der Anlage, bei dem eine Nichtabweichung festgestellt
wird, eine Wiederholung der Anlage und Betätigung der ersten Vergleichervorrichtung erfolgt,
um das nächste unabhängige Prüfstellenpaar zu überwachen, und daß die zweite Vergleichervorrichtung
betätigt wird, um das zuletzt von der ersten Vergleichei^orrichtung überwachte Prüfstellenpaar
zu überwachen, wenn eine Nichtabweichung zuerst von der ersten Vergleichervorrichtung
festgestellt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein erstes Prüfstellenpaar mit einer
ersten Vergleichervorrichtung (100, 104, 108) und ein zweites Prüfstellenpaar mit einer zweiten
Vergleichervorrichtung (102, 106, 110) überwacht wird; daß die Reihenfolge des Auftretens aller
von der ersten Vergleichervorrichtung und der zweiten Vergleichervorrichtung festgestellten Abweichungen
notiert wird, daß nach jedem Zyklus der Anlage, bei dem eine Nichtabweichung festgestellt
wird, eine Wiederholung erfolgt und die erste Vergleichervorrichtung betätigt wird, um
das nächste unabhängige Prüfstellenpaar zu überwachen, und daß die zweite Vergleichervorrichtung
betätigt wird, um das zuletzt von der ersten Vergleichervorrichtung überwachte Prüfstellenpaar
zu überwachen, wenn eine Nichtabweichung zuerst von der ersten Vergleichervorrichtung oder
gleichzeitig von beiden Vergleichervorrichtungen festgestellt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstellen, an denen die
zweite Vergleichervorrichtung betätigt worden ist, angegeben werden, wenn die erste Vergleichervorrichtung
alle Prüfstellen ausgeschöpft hat.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangsleistungen der doppelten
Stromkreise, die bei einer Abweichung zwischen den Ausgangsleistungen ein Signal
erzeugen, überwacht werden, so daß beim gleichzeitigen Auftreten dieses Signals die Anlage als
Vorbereitung zur Wiederholung angehalten wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
USA.-Patentschrift Nr. 2 690 299.
USA.-Patentschrift Nr. 2 690 299.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
® 809 789/215 3.59
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US439675A US2925591A (en) | 1954-06-28 | 1954-06-28 | Means for diagnosing functional ills of electrical and electronic equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1054573B true DE1054573B (de) | 1959-04-09 |
Family
ID=23745681
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEM27501A Pending DE1054573B (de) | 1954-06-28 | 1955-06-24 | Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und elektronischen Anlagen mit Rueckkopplungsschleifen waehrend des Arbeitsvorgangs |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2925591A (de) |
DE (1) | DE1054573B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2835498A1 (de) * | 1977-08-31 | 1979-03-08 | Ibm | Anordnung zur dynamischen fehlerermittlung in datenverarbeitungsanlagen |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3191153A (en) * | 1959-06-29 | 1965-06-22 | Sperry Rand Corp | Error detection circuit |
US3266026A (en) * | 1960-03-04 | 1966-08-09 | Prot Controls Inc | Supervisory flame control |
US3271674A (en) * | 1961-04-28 | 1966-09-06 | Itt | Circuit variance analyzer including scanner controlled parameter variation of the test circuit |
US3264562A (en) * | 1961-09-28 | 1966-08-02 | Warwick Electronics Inc | Plural bridge system for simultaneously testing a plurality of interconnected circuit elements |
US3278920A (en) * | 1962-09-06 | 1966-10-11 | Scam Instr Corp | Sequence indicating monitoring system |
FR1361874A (fr) * | 1962-12-07 | 1964-05-29 | Appareil d'essai automatique de sous-ensembles de circuits logiques pour machines àcalculer électroniques numériques | |
US3299220A (en) * | 1963-05-08 | 1967-01-17 | Automatic Elect Lab | Programmed diagnostic equipment for a communication switching system |
US3469186A (en) * | 1967-03-14 | 1969-09-23 | Us Navy | Stimulus injection system for localizing defective components in cascaded systems |
BE793400A (fr) * | 1972-03-13 | 1973-06-28 | Siemens Ag | Systeme de traitement de donnees commande par programme avec une exploitation parallele de deux unites identiques ou plus du systeme |
US4001818A (en) * | 1975-10-22 | 1977-01-04 | Storage Technology Corporation | Digital circuit failure detector |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2690299A (en) * | 1948-08-13 | 1954-09-28 | Bell Telephone Labor Inc | Testing system |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2628346A (en) * | 1951-11-03 | 1953-02-10 | Monroe Calculating Machine | Magnetic tape error control |
-
1954
- 1954-06-28 US US439675A patent/US2925591A/en not_active Expired - Lifetime
-
1955
- 1955-06-24 DE DEM27501A patent/DE1054573B/de active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2690299A (en) * | 1948-08-13 | 1954-09-28 | Bell Telephone Labor Inc | Testing system |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2835498A1 (de) * | 1977-08-31 | 1979-03-08 | Ibm | Anordnung zur dynamischen fehlerermittlung in datenverarbeitungsanlagen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US2925591A (en) | 1960-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3825260C2 (de) | Verfahren zur fehlerdiagnose an elektrischen schaltungen und anordnung zum durchfuehren des verfahrens | |
DE2603797A1 (de) | Verfahren zum ueberpruefen eines thermoelements und vorrichtung zu seiner durchfuehrung | |
DE3009945A1 (de) | Integrierter, logischer schaltkreis mit funktionspruefung | |
EP0009572A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Prüfung von durch monolithisch integrierte Halbleiterschaltungen dargestellten sequentiellen Schaltungen | |
DE2639323A1 (de) | System zur fehleranalysierung bei gedruckten schaltungsplatinen | |
DE1054573B (de) | Verfahren zum Bestimmen von Fehlerquellen an elektrischen und elektronischen Anlagen mit Rueckkopplungsschleifen waehrend des Arbeitsvorgangs | |
CH364631A (de) | Einrichtung zur Toleranzprüfung wenigstens einer Abmessung eines Werkstückes | |
DE1449043B2 (de) | Einrichtung zur optischen anzeige von in einem system auftretenden fehlern | |
DE2121330C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen digital arbeitender elektronischer Geräte und ihrer Bauteile | |
DE1815637A1 (de) | Anordnung zur UEberpruefung einer auf bestimmte Umgebungsbedingungen ansprechenden Einrichtungen bzw. eines ihr zugeordneten Schaltkreises | |
DE3811791A1 (de) | Operationsmikroskop | |
DE1766985B1 (de) | Einrichtung zur kontrolle einer automatischen pruefeinrichtung fuer massenfertigungserzeugnisse | |
DE1047937B (de) | Automatischer Pruefapparat zum Pruefen der Schaltkreisfunktionen einer Mehrzahl unterschiedlicher elektrischer Kreise | |
DE2822292C2 (de) | Kataphoresevorrichtung | |
DE2153102A1 (de) | Prüfgerät | |
DE2442563C3 (de) | Anordnung zur Ermittlung der Zeitdauer von Bearbeitungsvorgängen | |
EP0037965A2 (de) | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen | |
EP0815459A1 (de) | Schaltungsanordnung und verfahren zum testen von nicht intermittierenden gebern | |
WO2005008270A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum testen von elektronischen bauteilen | |
DE1123391B (de) | Verfahren und Einrichtung zum Pruefen mehrerer lichtempfindlicher Vorrichtungen | |
DE2025124C3 (de) | Unterbrechungsfreies Stromversorgungssystem | |
DE848387C (de) | Automatische Anordnung zur Pruefung von Elektrizitaetszaehlern | |
DE1954910C3 (de) | Anordnung zur Anzeige eines Defekts von Entkopplungsdioden in einer Matrix | |
DE1029924B (de) | Elektrische Pruefeinrichtung zur Feststellung von Leitungsunterbrechungen und Isolationsfehlern bei der Verdrahtung elektrischer Rechen- und Buchungsmaschinen | |
DE2522020A1 (de) | Anordnung und verfahren zur pruefung von gasentladungsstrecken |