DE1766985B1 - Einrichtung zur kontrolle einer automatischen pruefeinrichtung fuer massenfertigungserzeugnisse - Google Patents
Einrichtung zur kontrolle einer automatischen pruefeinrichtung fuer massenfertigungserzeugnisseInfo
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Description
größen können von der automatischen Prüfanlage dazu verwendet werden, zu ermitteln, ob die Prüfanlage
einwandfrei arbeitet.
In den Zeichnungen zeigt
Fig. 1 das Blockschaltschema einer Prüf anlage,
auf welche die Erfindung angewendet werden kann,
F i g. 2 das Schaltschema eines erfindungsgemäßen Bildröhrensimulators,
F i g. 3 das Ersatzschaltschema des an eine der Prüfstationen zum Kontrollieren des Betriebs derselben
angeschlossenen Bildröhrensimulators,
F i g. 4 das Schaltschema eines Teils des an eine Prüfstation zum Prüfen auf Hochspannungsdurchschlag
angeschlossenen Bildröhrensimulators,
F i g. 5 eine Reihe von der Erläuterung der Arbeitsweise des erfindungsgemäßen Simulators dienenden
Signalverläufen und
F i g. 6 das Schaltschema einer in der automatischen Prüfanlage enthaltenen Schaltungsanordnung.
In F i g. 1 sind schematisch eine Anzahl von Bildröhren auf einer Prüfförderanlage 14 gezeigt. An
jeder Bildröhre ist eine Datenkarte angebracht, auf der Daten über die Bildröhrenklasse und -type sowie
über verschiedene Verfahrensschritte bei der Herstellung der Bildröhre aufgezeichnet sind.
Wenn eine Bildröhre den Kartenleser 42 erreicht, wird die Datenkarte von der Bildröhre abgenommen
und in den Kartenleser eingegeben. Als Antwort auf die auf der Karte aufgezeichnete Information wählt
der Digitalcomputer oder programmgesteuerte Ziffernrechner 60 ein Prüf- oder Testprogramm für die betreffende
Bildröhre. Diese Tests werden von den verschiedenen Prüfstationen 62, 68, 70, 64 und 66 durchgeführt.
Diese Prüfstationen enthalten Einrichtungen, die automatisch an die aufeinanderfolgenden Bildröhren
angeschlossen werden und sich eine begrenzte Strecke zusammen mit den Bildröhren, während
diese entlang der Förderanlage wandern, bewegen. Dabei werden verschiedenen Elementen der Bildröhre
von den Prüfstationen Reize oder Stimuli (Prüfspannungen) zugeführt und Spannungen oder Ströme,
die an bestimmten anderen Bildröhrenelementen als Antwort auf diese Prüfspannungen auftreten, wahrgenommen
und gemessen.
Die an den verschiedenen Prüfstationen empfangenen Informationen werden mittels eines im Block 58
enthaltenen Analog-Digitalwandlers in Binärinformationen übersetzt, die mit im Computer 60 gespeicherten
Binärinformationen verglichen werden, um zu ermitteln, ob die gemessenen Bildröhrenkenngrößen
innerhalb der herstellungsmäßigen Sollbereiche liegen oder nicht. Bejahendenfalles, d. h., wenn die Bildröhre
sämtliche Tests bestanden hat, bringt eine der Etikettiermaschinen 44 ein entsprechendes Etikett auf
der Bildröhre an. Andernfalls versieht eine der Etikettiermaschinen die Bildröhre mit einem entsprechend
andersartigen Etikett.
Wie bereits erwähnt, ist es wichtig, daß die Prüfanlage selbst einwandfrei arbeitet. Falls eine der Prüfstationen
die Bildröhrenelemente mit falschen Spannungen speist oder die Meßeinrichtung an den Prüfstationen
nicht einwandfrei arbeitet, kann es geschehen, daß die Anlage völlig einwandfreie Bildröhren
zurückweist. Umgekehrt kann es geschehen, daß bei bestimmten fehlerhaften Betriebszuständen
der Prüfanlage Bildröhren, die Mängel aufweisen, von der Anlage durchgelassen statt zurückgewiesen
werden. Außerdem kann es unter bestimmten Umständen geschehen, daß infolge von Fehlern in der
Prüfanlage ein einwandfreies Erzeugnis zerstört wird. Man könnte, wie man es bei einigen anderen automatischen
Prüfanlagen tut, unter die Erzeugnisse, die noch nie geprüft worden sind, Bezugserzeugnisse,
von denen bekannt ist, daß sie einwandfrei sind, oder Bezugserzeugnisse, die bekannte Fehler aufweisen,
einmischen, um das Arbeiten der Prüfanlage zu kontrollieren. In der Praxis ist dies jedoch kein
brauchbarer Lösungsweg in solchen Fällen, wo das zu prüfende Erzeugnis z. B. eine Bildröhre ist. Ein
Grund hierfür ist, daß bei fortgesetzter Beaufschlagung mit Überspannungen an den Stationen 68 und
70 die Bezugsbildröhre in ziemlich kurzer Zeit beschädigt oder zerstört wird. Ferner kann bei fortgesetzter
Prüfung an den anderen Prüfstationen die Bezugsbildröhre, selbst wenn sie nicht zerstört wird,
sich in ihren Kenngrößen so sehr verändern, daß diese Kenngrößen nicht mehr innerhalb der vorgeschriebenen
Sollgrenzen liegen.
Erfindungsgemäß werden auf die Prüfförderanlage zusammen mit den zu prüfenden Bildröhren eine
Anzahl von Bildröhrensimulatoren, wie bei 11 und 13 angedeutet, aufgegeben. Bei einer praktisch erprobten
Anlage dieser Art befinden sich auf der Förderanlage stets sechs solche Simulatoren, wobei
die Förderanlage in ihrer Größe und Geschwindigkeit so eingerichtet ist, daß jede Prüfstation im Abstand
von jeweils 10 Minuten an einen Simulator angeschlossen wird.
Jeder Simulator, von denen einer in F i g. 2 in seinen Schaltungseinzelheiten gezeigt ist, besteht aus
einer Gruppe von Relais, Widerständen und anderen Schaltungselementen, die in einem Metallgehäuse angeordnet
sind, das die Form einer Bildröhre hat und mit den Sockelstiften am Halsende der Bildröhre entsprechenden
Sockelstiften und einem dem Anodenanschluß der Bildröhre entsprechenden Anodenanschluß
versehen ist. Die Sockelstifte sind an eine Steckfassung anschließbar, und der Anodenanschluß
ist an eine Anschlußklemme am Ende einer Hochspannungsleitung anschließbar. Ferner gehört wie bei
den zu prüfenden Bildröhren zu jedem Bildröhrensimulator eine den Simulator identifizierende Einrichtung,
beispielsweise in Form einer am Simulator angebrachten Lochkarte. Diese Karte, wenn sie in den
Kartenleser 42 eingegeben und dort abgelesen wird, veranlaßt, daß die Anordnung mit der Steuerung 58
dem Computer 60 anzeigt, daß ein Bildröhrensimulator anwesend ist, woraufhin der Computer 60 aus
seinem Speicher ein Spezialprüfprogramm mit Befehlen herausholt, welche die Anlage veranlassen, die
einzelnen Prüfstationen nacheinander zu prüfen.
Die Anschlußpunkte am oberen Rand der Schaltung nach F i g. 2 entsprechen den dreizehn verschiedenen
Anschlüssen einer Farbbildröhre. Zwölf dieser Anschlüsse, z. B. F (Heizfaden), KR (Kathode für
die Farbe Rot), GIß (das zur Kathode für die Farbe Blau gehörige Steuergitter), G3(Fokussiergitter)usw.
sind am Halsende des Bildröhrensimulators angeordnete Sockelstifte, während der dem Anodenanschluß
einer Farbbildröhre entsprechende dreizehnte Anschluß P 2 an der Seite des Simulators angeordnet
ist.
Der Widerstand R1 simuliert den Heizfaden einer
Farbbildröhre. Er befindet sich zwischen zwei Anschlüssen bzw. in der Diagonale des Brückengleichrichters
15, der die Heizfaden-Wechselspannung (falls
vorhanden) gleichrichtet und die resultierende Gleichspannung den gezeigten Schaltungen zuführt. (An
einigen der Prüf Stationen werden die Heizanschlüsse F mit Gleichstrom statt mit Wechselstrom gespeist, in
welchem Falle der WiderstandR1 einfach den Fadenwiderstand repräsentiert und der Brückengleichrichter
am Betrieb des Simulators nicht beteiligt ist.) Die im gestrichelten Block 17 enthaltenen
Schaltungen dienen dazu, Hochspannungsüberschläge
einen Strom des richtigen Wertes mißt, zeigt dies dem Computer an, daß die genannten Relais einwandfrei
arbeiten und daß die von 52 gelieferte Speisespannung
den richtigen Wert hat sowie daß die Meß-5 schaltung einwandfrei arbeitet. Andernfalls stimmt
etwas nicht.
Es sei angenommen, daß als Antwort auf die genannten Programmschritte die Meßschaltung statt
100 Mikroampere überhaupt keinen Strom mißt. In
(eine Art von Bildröhrenfehlern) zu simulieren, wäh- io diesem Fall veranlaßt das Computerprogramm, daß
rend die im gestrichelten Block 19 enthaltenen Schal- die Einrichtung einen verhältnismäßig einfachen
tungen dazu dienen, die Relaiskontakte im Block 17 Zyklus von Diagnostiziervorgängen durchläuft, um
in bestimmter Abfolge zu schließen und zu öffnen. zu ermitteln, welcher Schaltungsteil fehlerhaft ist.
Die Lampe 21 dient dazu, Lichtemission von be- Wenn z. B. der Fehler in dem die Kontakte 25
stimmten der Bildröhrenelektroden (eine andere Art 15 steuernden Relais oder in diesen Kontakten 25 selbst
von Bildröhrenfehlern) zu simulieren, während der liegt, kann das Computerprogramm bei der Dia-Zweck
anderer Schaltungen in der Anordnung nach gnostizierung dieses Fehlers z. B. veranlassen, daß
Fig. 2 noch erläutert werden wird. die SpeisespannungB2 abgeschaltet und die Speisein
F i g. 3 ist der Bildröhrensimulator an eine Prüf- spannung B1 eingeschaltet wird und daß anschliestation,
z.B. die Station64 (Fig. 1) angeschlossen, 20 ßend die Relaiskontakte43 geschlossen werden und
und die folgende Erläuterung zeigt beispielsweise, die Relaiskontakte 29, 31 und 37 geschlossen bleiben,
wie der Simulator die Arbeitsweise bestimmter Relais Wenn die Schaltung jetzt einwandfrei arbeitet, fließt
der Prüf station überprüft. Der Röhrensimulator ist ein Strom von Bl über die normalerweise geschlosoberhalb
der gestrichelten Linie nur teilweise und senen Kontakte 45, die jetzt geschlossenen Kontakte
nur in Form eines Ersatzschaltbildes gezeigt. Die 25 43, die WiderständeR12 und R3 sowie die Relais-Relaisspulen
und Dioden sind deshalb nicht gezeigt, kontakte 27, 29, 31 und 37 zur Meßschaltung. Die
weil sie bei diesem speziellen Prüfvorgang und dieser Größe dieses Stromes hängt vom Wert, auf den die
Art von Prüfstation einfach als Kurzschlüsse wirken. Spannung Bl eingestellt ist, sowie von den Werten
Der unterhalb der gestrichelten Linie befindliche Teil der Widerstände R12 und JR 3 ab. Wenn dieser vorvon
F i g. 3 repräsentiert Schaltungsanordnungen 30 bestimmte Strom auftritt, d. h. in der bereits beinnerhalb
der Prüf station 64. schriebenen Weise gemessen wird, zeigt dies an, daß
Das vom Computer bereitgestellte Programm für in dem zuerst vorgenommenen Test das die Kontakte
den Simulator veranlaßt zunächst, daß die Speise- 25 steuernde Relais nicht einwandfrei gearbeitet hat.
spannung B 2 auf 500 Volt eingestellt wird. Diese Der Computer kann so programmiert werden, daß
Spannung gelangt von der Klemme B 2 über die Lei- 35 der Drucker des Computers als Antwort auf diese
tung 43 zu den normalerweise geschlossenen Relais- beiden Tests automatisch ausdruckt, daß das Relais
kontakten 23. Das Computerprogramm veranlaßt 25 nicht einwandfrei arbeitet,
jetzt, daß die Relaiskontakte 25 geschlossen werden. Andererseits kann sich bei dem obenerwähnten
jetzt, daß die Relaiskontakte 25 geschlossen werden. Andererseits kann sich bei dem obenerwähnten
Das kann für dieses und die anderen diskutierten ersten Test herausstellen, daß die Meßschaltung statt
Relais in der schematisch in Fig. 6 angedeuteten 40 100 nur 50 Mikroampere mißt. Dies kann bedeuten,
Weise geschehen. Und zwar liegt die Relaisspule K 25 daß die Spannungsquelle B 2 statt der erforderlichen
der Prüf station in Reihe mit einem Schalter 39 und 500 nur 250 Volt liefert oder daß der Maßstab oder
einer Spannungsquelle, dargestellt als Batterie 41. Meßbereich der Meßschaltung unrichtig ist oder daß
Der Schalter 39 kann ein Halbleiterbauelement oder die Meßschaltung nicht einwandfrei arbeitet. Wiederder
Kontakt eines weiteren Relais oder irgendeine 45 um kann durch eine Reihe von einfachen diagnoandere
äquivalente Einrichtung sein. Als Antwort stischen Tests derjenige Schaltungsteil, der nicht einwandfrei
arbeitet, ohne weiteres ermittelt werden. Beispielsweise kann die Meßschaltung dazu verwendet
werden, den bekannten Strom, der von einer anderen 50 Spannungsquelle, z. B. 51, geliefert wird, zu messen,
um festzustellen, ob die Meßschaltung einwandfrei
auf einen Befehlsschritt eines im Speicher des Computers gespeicherten Programms wird dieser Schalter
geschlossen und das Relais K 25 betätigt, so daß die Relaiskontakte 25 geschlossen werden.
Als nächstes werden als Antwort auf weitere Befehlsschritte die Relaiskontakte 29, 31 und 37 geschlossen.
Wenn jetzt die Relais, welche die Kontakte 25, 29, 31 und 37 steuern, einwandfrei arbeiten, fließt
arbeitet. Gegebenenfalls kann dies dann anzeigen,
daß die Speisespannung B 2 nicht stimmt. Oder aber
die Spannungsquelle B 2 kann dadurch überprüft
daß die Speisespannung B 2 nicht stimmt. Oder aber
die Spannungsquelle B 2 kann dadurch überprüft
ein Strom von 52 über diese Kontakte zur Meß- 55 werden, daß ihr Strom über einen anderen Satz von
schaltung (nicht gezeigt) für die Prüfstation. Die Relais und Widerständen einer anderen Meßschaltung
zugeleitet wird.
Die oben erläuterte Arbeitsweise ist hier lediglich beispielsweise angegeben. In der Praxis ist das Com-60
puterprogramm so eingerichtet, daß sämtliche Relais der Prüfstationen auf einwandfreies Arbeiten überprüft
werden können. Das Programm ermöglicht im gewissen Maße eine »Paralleldiagnose«, d. h. Diagnose
während der laufenden Prüfung (»On-lineist. Dieser Strom wird gemessen, indem er in ein 65 Betrieb«), während in komplizierteren Fällen, wo die
Binärwort übersetzt wird und dieses Wort mit einem Diagnose mehr Zeit erfordern kann als in dem Interim
Speicher des Computers gespeicherten Wort ver- vall, da die Prüfstation an den Bildröhrensimulator
glichen wird. Wenn die Meßschaltung der Prüfstation angeschaltet ist, zur Verfügung steht, die Diagnose
Widerständet4 (39 Kiloohm) und R3 (5 Megohm)
liegen in Reihe mit diesem Stromweg, so daß der resultierende Stromfluß ungefähr gleich
= 100 Mikroampere
5 · 10e Ohm
7 8
»außerparallel«, d. h. außerhalb der laufenden Prü- der Prüfstation anlangt und bevor die Relais für
fung erfolgen kann (»Off-line-Betrieb«). Bei den Kontakte wie 69, 65 und andere betätigt werden,
diagnostischen Paralleltests werden Binärwörter, Wenn eine in Prüfung befindliche Bildröhre an
diagnostischen Paralleltests werden Binärwörter, Wenn eine in Prüfung befindliche Bildröhre an
welche das Arbeiten der Anlage anzeigen, mit in eine Prüfstation wie 70 angeschlossen wird, werden
einer Tabelle des Computerspeichers gespeicherten 5 den verschiedenen Bildröhrenelektroden Spannungen
Binärwörtern verglichen, wobei diese Tests vorge- in folgender Weise zugeführt. Als erstes werden die
nommen werden, während der Röhrensimulator ent- Relaiskontakte 59 geschlossen und entweder der Anlang
der Förderanlage wandert. Wenn während dieses schluß KG oder der Anschluß Gl G von der Energie-Vergleichs
ein Fehler der Prüfanlage angezeigt wird, quelle Sl in der beschriebenen Weise mit positiver
der eine eingehendere Analyse erfordert, gibt der io Spannung beliefert. Dann wird entweder das Relais
Computer der örtlichen Steuerung 58 (F i g. 1) ein für die Kontakte 65 oder das Relais für die Kontakte
entsprechendes Signal, woraufhin die Steuerung 58 67 erregt, so daß die Energiequelle 53 den Anschluß
über das Kabel 168 den Förderantrieb 170 abschaltet. GlG mit entweder einer positiven oder einer nega-Der
Simulator befindet sich dann immer noch an der tiven Spannung beschickt. Wenn das Relais für die
betreffenden Prüfstation, und der Computer führt 15 Kontakte 65 erregt ist, wird der negative Pol der
jetzt bei stillgesetzter Anlage die weitere Unter- Energiequelle 53 geerdet und dem Anschluß GlG
suchung durch und liefert die Resultate der Unter- eine positive Spannung zugeleitet. Wenn das Relais
suchung an den Drucker, der die betreffende fehler- für die Kontakte 57 erregt wird, beschickt die Enerhafte
Komponente der Prüf anlage ausdruckt. giequelle 53 den Anschluß GlG mit einer negativen
Während sich der Bildröhrensimulator an einer im 20 Spannung. Als nächstes wird .fein Relais in der Ener-Zeitfolge-oder
Zeitmultiplexbetrieb (»Time-sharing«) giequelle 55 geschlossen, so daß der Anschluß G 3
arbeitenden Station wie der Station 62 befindet, wird von dieser Energiequelle eine Spannung erhält,
den Anschlüssen F des Simulators als Heizfaden- Schließlich wird das Relais für die Kontakte 69 erspannung
eine Gleichspannung statt einer Wechsel- regt, so daß die Energiequelle 57 den Anschluß P 2
spannung zugeführt. Die Widerstände R10, R 2, R 8 25 mit einer Spannung beliefert::
und R13 (Fi g. 2) simulieren während der Zuführung Wenn die Relaiskontakte 63 sich in der gezeigten
dieser Gleichspannung den Widerstand zwischen Stellung befinden, dient je nach der Spannungspola-Heizfaden
und Kathode KR, zwischen Steuergitter rität das Relais K 5 oder K 6 als Masserückleitungs-
GlB und Kathode KR usw. Das heißt, diese Wider- weg für den Stromfluß der Energiequellen, und im
stände ermöglichen eine Überprüfung des Arbeitens 30 Laufe des Prüfvorgangs wird eines dieser Relais erder
Meßschaltungen an einer Prüfstation wie 62. regt. Wenn die Relais für die Kontakte 61 und 63
An den Stationen 68 und 70 in Fig. 1 werden die erregt sind, dienen die Relais Kl und K2 dem glei-Bildröhren
auf Lichtbogenbildung und auf Streulicht- chen Zweck, und eines dieser Relais wird erregt,
emission geprüft. Der Röhrensimulator enthält Schal- Es gibt keine Erdung bzw. keinen Masseanschluß
tungen zum Simulieren derartiger Lichtbogenbildung 35 im Simulator selbst, dessen Gehäuse »heiß« ist, d. h.
und Streuemission. Hochspannung führt, wenn der Simulator sich an
In der Station 70 (und ebenso in der Station 68 in einer Prüfstation wie 70 befindet.
Fig. 1) sind Energieversorgungseinheiten wie 51, 53, Bei angeschlossenem Röhrensimulator empfängt
Fig. 1) sind Energieversorgungseinheiten wie 51, 53, Bei angeschlossenem Röhrensimulator empfängt
55 und 57 (F i g. 4) vorgesehen, die unter Steuerung einer seiner Anschlüsse von einer Energiequelle
durch den Computer so programmiert werden, daß 40 immer dann eine Spannung, wenn eines der Relaissie
den Simulator mit Reizen oder Prüfspannungen kontaktpaare wie 59, 65 usw. der Prüfstation gebestimmter
Werte und Polaritäten speisen. Und zwar schlossen werden. Diese Spannung wird erst dann
werden durch das gespeicherte Programm die Ener- in ihrem Wert eingepegelt und stabil, wenn sämtliche
giequelle 55, die zwischen —10 und +10 kV einstell- Relais wie die für die Kontakte 59, 69 usw. erregt
bar ist, die Energiequelle 57, die zwischen 20 und 45 sind. Da das Relais 69 in der Prüfstation als letztes
30 kV einstellbar ist, usw. veranlaßt, jeweils Spannun- erregt wird, wird folglich sein Schaltvorgang dazu
gen bestimmter Werte innerhalb der betreffenden Be- verwendet, einen Zeitsteuerzyklus im Simulator einreiche
zu erzeugen. zuleiten, wie nachstehend erläutert wird.
Die Relaiskontakte 61 und 63 dienen dazu, die In Fig. 2 werden bei Betätigung des RelaisK9
Energiequelle 51 mit den Anschlüssen KG und G 2 G 5° (oben rechts) dessen Kontakte RK 9 (unten links)
für die Grün-Kathode bzw. das zweite Gitter zu ver- geschlossen, so daß ein Gleichstrom in die Parallelbinden.
Wenn weder das Relais für die Kontakte 61 wege mit den Relais K18 und K16 fließt. Die ReIanoch
das Relais für die Kontakte 63 erregt ist (Relais- tivwerte der Widerstände und Kapazitäten in dieser
kontakte in der gezeigten Stellung), kann die positive Schaltung sind so bemessen, daß das Relais K18
Spannung der Quelle 51 dem Anschluß KG züge- 55 zuerst betätigt wird und nach kurzer Zeit dieses
führt werden, während der Anschluß G2G über das Relais wieder entregt und das Relais K16 erregt wird
Relais 63 geerdet bleibt. Wenn dagegen die Relais und erregt bleibt. Der Widerstand R15 ist relativ
für die Kontakte 61 und 63 beide erregt werden, hochohmig, während der Widerstand R 20 relativ
empfängt der Anschluß G 2 G über die Kontakte 63 niederohmig ist. Wenn die Relaiskontakte RK 9 gedie
positive Spannung der Quelle 51, während der 60 schlossen werden, fließt der Strom anfänglich über
Anschluß KG über die Kontakte 61 geerdet wird. den verhältnismäßig niederimpedanten Kondensator
Diese beiden Anschlüsse sind niemals gleichzeitig C2 zum Relais K18, so daß dieses erregt wird,
geerdet, da an dieser Prüfstation die Kathode und Ferner fließt anfänglich ein Strom über den Weg
geerdet, da an dieser Prüfstation die Kathode und Ferner fließt anfänglich ein Strom über den Weg
das zweite Gitter einer in Prüfung befindlichen Bild- mit dem Widerstand R 20, wobei jedoch der Kondenröhre
niemals gleichzeitig geerdet sind. In der Praxis 65 sator C 7 als niederimpedanter Nebenschluß für das
erfolgt die Betätigung der Relais für Kontakte wie Relais i£ 16 wirkt, so daß dieses Relais nicht erregt
61 und 63 ungefähr 3 Sekunden, bevor eine in Prü- wird. Die Kondensatoren C2 und Cl werden in verfung
befindliche Bildröhre (oder der Simulator) an hältnismäßig kurzer Zeit aufgeladen. Der Weg mit
9 10
dem Widerstand R15 und dem Relais K18 ist jetzt analog. Wenn das Relais K19 erregt wird, werden
hochimpedant, so daß der Stromfluß nicht ausreicht, seine Kontakte RK19 α geöffnet und seine Kontakte
um das Relais K18 erregt zu halten und dieses Re- RK19b geschlossen, so daß der Kondensator C13
lais folglich entregt wird. Andererseits ist der Wider- sich in den Transformator 73 entlädt und ein weiterer
stand R 20 im Vergleich zum Widerstand R15 ver- 5 simulierter Lichtbogen auftritt,
hältnismäßig niederohmig und hat sich der Konden- Die oben beschriebenen Vorgänge dauern so lange
satorC7 so weit aufgeladen, daß durch den Weg an, bis insgesamt fünf Lichtbogen simuliert sind,
mit dem Widerstand R 20 und dem Relais K16 ein Ferner leuchtet, wenn das letzte Relais K17 schließfür
die Erregung dieses Relais ausreichender Strom lieh schließt, die Lampe 21, die Streulichtemission
fließt. Das Relais K16 bleibt anschließend so lange xo simuliert, auf. Wenn sämtliche fünf Lichtbogen simuerregt,
wie das Relais K 9 erregt ist. liert werden und Licht einer entsprechenden Inten-
Im mittleren Teil von Fig. 2 beliefert der Gleich- sität wahrgenommen wird, ist dies eine Anzeige, daß
lichter 15 über den Widerstand R 24 und die ge- die Prüf station wie 70 (oder 68), an die der Simu-
zeigten, normalerweise geschlossenen Relaiskontakte lator angeschlossen ist, einwandfrei arbeitet. Werden
den Kondensator C13 mit einem Gleichstrom, der 15 weniger als fünf Lichtbogen simuliert, so zeigt dies
diesen Kondensator auflädt. Die Relaiskontakte an, daß an der Prüfstation etwas nicht stimmt. Wenn
RK 19 b, RK12b usw. sind sämtlich geöffnet, so daß beispielsweise gar keine Lichtbogen erzeugt werden,
der Kondensator C13 sich nicht über irgendeinen ist dies eine Anzeige dafür, daß mit der die Anoden-
dieser Kontakte entladen kann. spannung liefernden Energiequelle 57 oder im
Wenn das Relais K18 erregt ist (bei einer spezi- 20 Leitungsweg zwischen dieser Energiequelle und dem
eilen Ausführungsform der Erfindung bleibt es unge- Anschluß P 2 des Bildröhrensimulators etwas nicht
fähr 600 Millisekunden lang erregt), sind seine Kon- stimmt. Als Antwort darauf, daß der Bildröhren-
taktei?iC18a geöffnet und seine Kontakte RK18 b simulator keine simulierten Lichtbogen liefert, ver-
geschlossen. Der Kondensator C13 entlädt sich jetzt anlaßt dann der Computer seinen Drucker, eine
über die Relaiskontakte RK18 b in die Primärwick- 25 Nachricht dahingehend auszudrucken, daß in der
lung 71 des Transformators 73. Anodenspannungsversorgungsschaltung ein Fehler
Der Transformator 73 ist ein Aufwärtstransfor- besteht. Entsprechend zeigt die Tatsache, daß statt
mator und erzeugt an seiner Sekundärwicklung 75 fünf Lichtbogen nur ein einziger Lichtbogen simu-
eine verhältnismäßig hohe Spannung. Diese Spannung liert wird, einen Fehler in der Schaltung 55 (F i g. 4)
gelangt zur Platte 77. Der entsprechende Hochspan- 30 an, die das Fokussiergitter G 3 der geprüften BiId-
nungsstoß simuliert das Auftreten eines Lichtbogens röhren mit Hochspannung speist usw.
in einer Farbbildröhre, der durch eine Lichtbogen- Die in F i g. 5 gezeigten Signalverläufe erläutern
Wahrnehmeinrichtung an der Prüfstation erfaßt wird. die Arbeitsweise einer Gruppe von Relais im ge-
Das Aufnahmeorgan für diese Lichtbogenwahrnehm- strichelten Block 19 der Fig. 2. Bei der hier für
einrichtung ist in Fig. 2 schematisch durch die ge- 35 Erläuterungszwecke gewählten Relaisgruppe handelt
strichelte Linie 79 angedeutet. (Dieses Aufnahme- es sich um K3 und K4, KlO, K12, K13. Andere
organ 79 ist an einen Zähler in der Prüfstation an- Relaisgruppen arbeiten in entsprechender Weise, wie
geschlossen, dessen innerhalb eines gegebenen Zeit- aus den verschiedenen erläuterten Beispielen ersicht-
intervalls akkumulierter Zählwert dem Computer 60 lieh ist.
zugeleitet wird.) 40 Ein wichtiges Merkmal der Erfindung besteht
Die Platte 77 ist übrigens an einer Außenfläche darin, daß der Hochspannungsbetrieb einer Bildröhre
des Simulators angeordnet und nicht durch das andere unter abnormalen Betriebsbedingungen simuliert
Teile des Simulators abdeckende Metallgehäuse ab- werden kann, ohne daß der Simulator dabei zerstört
geschirmt. Ebenso befindet sich die Lampe 21 im wird. Beim eigentlichen Prüfen einer Bildröhre wird
unteren Teil von F i g. 2 an einer mit einem durch- 45 die Bildröhrenanode mit einer hohen Eingangsspansichtigen
Fenster abgedeckten öffnung, so daß ihr nung in der Größenordnung von 30 000 Volt beauf-Licht
von der Lichtfühleranordnung der Prüfstation schlagt, um zu ermitteln, ob im Bildröhreninneren
erfaßt werden kann. Lichtbogenbildungen auftreten. Die Hochspannungs-
Nach 600 Millisekunden wird das Relais K18 ent- prüf station enthält Einrichtungen zum Wahrnehmen
regt, so daß seine Kontakte RK18 α geschlossen und 50 und Zählen der Anzahl der auftretenden Lichtbogen,
seine Kontakte RK18b geöffnet werden und der Wichtig ist, daß diese Lichtbogenwahrnehmeinrich-
Kondensator C13 sich wieder auflädt. tung laufend auf einwandfreies Arbeiten überprüft
Von den RelaisK7 und K8 (Fig. 4) wird, je wird, und wenn man für das Überprüfen des Arbeinachdem,
ob die von der Energiequelle 55 gelieferte tens der Lichtbogenwahrnehmeinrichtung eine Be-Spannung
positiv oder negativ ist, jeweils nur eines 55 zugsbildröhre verwenden müßte, würde diese Bezugserregt.
(Das Relais K8 schließt bei positiven Span- bildröhre durch die fortgesetzte Beaufschlagung mit
nungswerten.) Zu beachten sind die gegensinnig ge- Überspannungen bald zerstört werden,
polten Dioden, die in Reihe mit diesen Relais liegen. Wie aus der vorstehenden Erläuterung deutlich
Wenn das Relais K16 erregt wird (F ig. 2), besteht, wird, ist es bei angeschaltetem Simulator, während
da eines der Relais K 7 und K 8 ebenfalls erregt ist, 60 an die entsprechenden Simulatoreingangsklemmen
ein Gleichstromweg über eines der Kontaktpaare Hochspannungen angelegt werden, nicht nötig, mit
RK7 und RK8 und über die Kontakte RK16 nach Hochspannungen im Inneren des Simulators zu arbeiden
Parallelwegen mit den Relais .09 und KlO. ten, um die Erzeugung von Lichtbogen oder Licht-Jetzt
wird das Relais K19 für eine Dauer von unge- emission zu simulieren. Ferner wird selbst bei Auffähr
600 Millisekunden erregt, und anschließend wird 65 treten abnormal hoher Spannungen an einer Prüfdieses
Relais entregt und das Relais KlO erregt. station, die eine Bezugsbildröhre beschädigen könn-Diese
Vorgänge sind den vorstehend für die Relais ten, der Simulator nicht beschädigt oder zerstört.
K18 und K16 erläuterten Vorgängen weitgehend Auf Grund der hohen Impedanzen, wie i?3 und R 9
(F i g. 4), im Simulator präsentieren sich die Hochspannungsspeisequellen
den Schaltungen im Simulator als ideale Stromquellen. Es ist also unabhängig vom
Wert der von einer Hochspannungsquelle gelieferten Spannung, selbst wenn diese abnormal hoch ist, der
tatsächliche Stromfluß in einem Relais wie K9 klein und unterhalb der Strombelastbarkeit des Relais.
Die an Relais wie Kl bis K9 erscheinende Spannung ist im allgemeinen im Bereich unterhalb 10 Volt.
Wenn eine Bildröhre an einer Hochspannungsprüfstation geprüft wird, können, falls an der Prüfstation
abnormale Bedingungen herrschen, bestimmte Spannungskombinationen bewirken, daß die Bildröhre aus
einer oder mehreren der Energiequellen der Prüfeinrichtung Überstrom entnimmt, wodurch die Prüf-
einrichtung beschädigt sowie die Bildröhre zerstört werden kann. Dies kann beispielsweise dann geschehen,
wenn das Steuergitter irrtümlich mit einer positiven Spannung beaufschlagt wird, so daß ein
übermäßiger Anodenstrom auftritt. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung des erfindungsgemäßen
Simulators an Stelle einer Bezugsbildröhre besteht darin, daß derartige Vorkommnisse vermieden werden.
Der Simulator ist keine aktive Einrichtung.
ίο Wenn in der Prüfanlage ein Fehler auftritt, kann
dies im Simulator keine anderen Fehler der oben erläuterten Art hervorrufen, die den ursprünglichen
Fehler maskieren oder verdecken würden und ihrerseits eine Beschädigung der Prüfstation als solcher
hervorrufen könnten.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Einrichtung zur Kontrolle einer automa- und anzeigen, ob der betreffende Prüfling im Rahtischen
Prüfeinrichtung für Massenfertigungs- 5 men der Herstellungstoleranzen ist oder nicht. Als
erzeugnisse, die normalerweise mit den aufein- Antwort auf diese Signale zeigt die Prüfeinrichtung
anderfolgenden Prüflingen jeweils ein Prüfpro- an, welche der Erzeugnisse die Prüfungen bestanden
gramm durchführt, vom Prüfling erzeugte Ant- haben und welche nicht, wobei in manchen Fällen
Worten wahrnimmt und anzeigt, ob der betreffende zugleich die Maßnahmen angezeigt werden, die zu
Prüfling innerhalb der Toleranzen liegt oder io treffen sind, um diejenigen Erzeugnisse, die versagt
nicht, dadurch gekennzeichnet, daß die haben, zu reparieren.
Prüfeinrichtung eine Schaltungsanordnung (60) In der deutschen Patentschrift 943 575 wird ein
enthält, die bei Wahrnehmung eines in die Folge Verfahren beschrieben, welches zur Überprüfung
der Prüflinge eingefügten Prüfling-Simulators photoelektrischer Anlagen dient. Die tatsächliche
(11, 13) ein Spezialprüfprogramm erzeugt, das 15 Auslösung des Arbeitsvorganges ist dabei vom Ausden
Simulator veranlaßt, sowohl Antworten, die gang einer Überprüfung der photoelektrischen Eineinem
innerhalb der Toleranzen liegenden Prüf- richtung, die vor jedem Arbeitsspiel, also mit diesem
ling entsprechen, als auch Antworten, die einem synchron durchgeführt wird, abhängig. Diese Prüfung
außerhalb der Toleranzen liegenden Prüfling ent- kann beispielsweise bei einer durch eine Lichtsprechen,
zu liefern. 20 schranke gesicherten Maschine so vorgenommen wer-
2. Einrichtung nach Anspruch 1, gekennzeich- den, daß während der Arbeitspause die Lichtnet
durch eine dem Simulator zugeordnete Ken- schranke von einer Blende unterbrochen wird und
nungsvorrichtung (z. B. Lochkarte), die den Si- daß die Maschine erst dann für den nächsten Arbeitsmulator
für die Prüfeinrichtung kenntlich macht. hub freigegeben wird, wenn die photoelektrische
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da- 25 Einrichtung angesprochen hat. Mit dieser Vorrichtung
durch gekennzeichnet, daß das Spezialprüfpro- kann eine ständige Kontrolle über die Arbeitsbereitgramm
Prüfungen unter anomalen Bedingungen schaft der photoelektrischen Schutzeinrichtung erzielt
einschließt, die einen normalen Prüfling beschä- werden, nicht jedoch eine Kontrolle, ob der bedigen
würden, und daß der Simulator eine An- treffende Prüfling aus einer Massenfertigung innerordnung
zum Simulieren der Antwort eines nor- 30 halb der vorgegebenen Toleranzen liegt oder nicht,
malen Prüflings auf die anomalen Prüfbedin- Die übliche Methode, um sicherzugehen, daß eine
gungen enthält. Prüfeinrichtung einwandfrei arbeitet, besteht darin,
4. Einrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, daß man zwischen die Prüflinge eine »Attrappe«
zur Prüfung von Bildröhren, dadurch gekenn- oder ein Bezugserzeugnis (im allgemeinen ein solzeichnet,
daß der Bildröhren-Simulator eine 35 dies, von dem bekannt ist, daß bei ihm die Her-Schaltung
(17) enthält, die eine plötzliche Span- Stellungstoleranzen gewahrt sind) einschiebt und ernungsänderung
zu erzeugen vermag, welche eine mittelt, ob die Prüfeinrichtung für dieses Bezugs-Lichtbogenbildung
im Inneren einer Bildröhre erzeugnis die richtigen Prüfdaten liefert. In vielen simuliert, ohne daß dabei in der Simulatorschal- Fällen, beispielsweise beim Prüfen von Farbbildtung
eine Lichtbogenbildung auftritt. 40 röhren, ist diese Methode jedoch nicht befriedigend,
da das Bezugserzeugnis (d. h. die Bildröhre), wenn es wiederholten Prüfungen unterzogen wird, sich in
seinen Betriebseigenschaften oder Parametern allmählich verändern kann oder, wenn es mehrfach
45 Überspannungen (die durch Fehler in der Anlage verursacht sein können) ausgesetzt ist, in kurzer Zeit
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Kon- beschädigt oder zerstört werden kann,
trolle einer automatischen Prüfeinrichtung für Der Erfindung liegt dementsprechend die Aufgabe
Massenfertigungserzeugnisse, die normalerweise mit zugrunde, eine automatische Prüfeinrichtung anzuden
aufeinanderfolgenden Prüflingen jeweils ein 50 geben, die ohne solche störungsanfälligen Bezugs-Prüfprogramm
durchführt, vom Prüfling erzeugte erzeugnisse auskommt. Diese Aufgabe wird gemäß
Antworten wahrnimmt und anzeigt, ob der betreffende der Erfindung bei einer Einrichtung der eingangs
Prüfling innerhalb der Toleranzen liegt oder nicht. genannten Art dadurch gelöst, daß die Prüfeinrich-
Eine Einrichtung zum automatischen Prüfen von tung eine Schaltungsanordnung enthält, die bei Wahr-Massenfertigungserzeugnissen,
beispielsweise Bild- 55 nehmung eines in die Folge der Prüflinge eingefügten röhren, enthält mehrere Prüfstationen, an denen je- Prüfling-Simulators ein Spezialprüfprogramm erzeugt,
weils verschiedene Kenngrößen der Erzeugnisse ge- das den Simulator veranlaßt, sowohl Antworten, die
prüft werden. Bei einer derartigen Anlage können einem innerhalb der Toleranzen liegenden Prüfling
sämtliche Prüfstationen unter Steuerung durch einen entsprechen, als auch Antworten, die einem außerprogrammgesteuerten
digitalen Computer (Digital- 60 halb der Toleranzen liegenden Prüfling entsprechen,
computer mit gespeichertem Programm) arbeiten. Die zu liefern.
zu prüfenden Erzeugnisse werden durch eine Förder- Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteranlage
an den verschiedenen Prüfstationen vorbei- ansprüchen enthalten.
geführt. Dabei werden die Prüfstationen automatisch Der Vorzug der Erfindung besteht darin, daß die
an die einzelnen Erzeugnisse angeschlossen, und die 65 Prüfung unabhängig von einem Bezugserzeugnis erErzeugnisse
werden, während sie von der Förder- folgt, welches durch wiederholte Prüfungen während
anlage transportiert werden, mit Reizen oder Stimuli, des Betriebes in kurzer Zeit beschädigt oder zerstört
z.B. Prüfspannungen, entsprechend einem bestimm- werden kann. Die vom Simulator erzeugten Ausgangs-
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US66236067A | 1967-08-22 | 1967-08-22 | |
US1891770A | 1970-03-12 | 1970-03-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1766985B1 true DE1766985B1 (de) | 1972-03-09 |
Family
ID=26691651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681766985 Pending DE1766985B1 (de) | 1967-08-22 | 1968-08-22 | Einrichtung zur kontrolle einer automatischen pruefeinrichtung fuer massenfertigungserzeugnisse |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3541440A (de) |
BE (1) | BE719765A (de) |
DE (1) | DE1766985B1 (de) |
FR (1) | FR1579183A (de) |
GB (1) | GB1210289A (de) |
NL (1) | NL6811898A (de) |
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