DE247771C - - Google Patents

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DE247771C DENDAT247771D DE247771DA DE247771C DE 247771 C DE247771 C DE 247771C DE NDAT247771 D DENDAT247771 D DE NDAT247771D DE 247771D A DE247771D A DE 247771DA DE 247771 C DE247771 C DE 247771C
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    • D—TEXTILES; PAPER
    • D06—TREATMENT OF TEXTILES OR THE LIKE; LAUNDERING; FLEXIBLE MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D06C—FINISHING, DRESSING, TENTERING OR STRETCHING TEXTILE FABRICS
    • D06C11/00—Teasing, napping or otherwise roughening or raising pile of textile fabrics

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  • Textile Engineering (AREA)
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5271796A (en) * 1991-03-27 1993-12-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for detecting defect on semiconductor substrate surface

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5271796A (en) * 1991-03-27 1993-12-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for detecting defect on semiconductor substrate surface

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