DE2059598A1 - Halbleiterspeicher zur Speicherung einer voreingegebenen,nichtloeschbaren Grundinformation - Google Patents
Halbleiterspeicher zur Speicherung einer voreingegebenen,nichtloeschbaren GrundinformationInfo
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Description
26 405
Oogar Corporation Wappingera Falls (New York, USA)
Halbleiterapeicher zur Speicherung einer voreingegebenen, nicht- d
löschbaren Grundinformation
Die Erfindung betrifft allgemein Halbleiterspeicher, die auf einen
Ausgangszustand programmiert sind, eine nichtlöschbare Grundinformation enthalten und als Festspeicher oder als zum Ablesen
und Einschreiben bestimmte Speicher verwendet werden können.
Die bekannten Halbleiterspeicher haben den schwerwiegenden Nachteil,
daß die darin gespeicherte Information verlorengeht, wenn aus irgendeinem Grunde die Stromversorgung ausfällt. Bisher wurde
dieser Nachteil dadurch gemildert, daß die gewünschte Grundinformation in einem nichtlöschbaren Hilfsfestspeicher" gespeichert
wurde. Nach dem Stand der Technik waren somit mindestens zwei Speicher erforderlich. Der zum Speichern "dieser Grundinformation
erforderliche Hilfsspeicher mußte imstande sein, die darin gespeicherte
Information auch bei einem Ausfall der Stromversorgung zu halten.
Naoh dem Stand der Technik war eine logische Hilfsschaltung erforderlich,
die einen nichtlöschbaren Hilfsfestspeicher bildete. Diese
Technik erforderte zusätzliche Hardware und Software und führte zu einem ziemlich aufwendigen System.
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Es besteht daher ein Bedürfnis nach einem Halbleiterspeicher, der nach dem Anlegen einer Spannung einen bestimmten Informationszustand
einnimmt, ohne daß logische Hilfssysteme oder Hilfsspeicher
zum Speichern der Grundinformation erforderlich sind. Es ist ferner
erwünscht, eine Speicherzelle zu schaffen, die so ausgebildet ist, daß sie zur Voreingabe einer Grundinformation Je nach der Anwendung
des Systems geeignet ist, aber im wesentlichen genormt hergestellt werden kann.
Die Aufgabe der Erfindung besteht daher in der Schaffung eines fe verbesserten Halbleiterspeichers, der nach dem Anlegen einer
Spannung oder nach dem Anlegen eines Bücksetzbefehls den einer
vorherbestimmten Grundinformation entsprechenden Zustand einnimmt
.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht in der Schaffung eines Halbleiterspeichers, der nach dem Anlegen einer Spannung in den
seiner Grundinformation entsprechenden Zustand zurückkehrt, ohne
daß ein Hilfsspeicher erforderlich ist.
Ferner besteht eine Aufgabe der Erfindung in der Schaffung eines verbesserten Halbleiterspeichers mit einer nichtlöschbaren Grundinformation.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht in der Schaffung eines verbesserten Halbleiterspeichers mit einer nichtlöschbaren Grundinformation,
wobei diese Funktionen vollständig in einem monolitisohen Halbleiterchip verwirklicht sind.
Eine Aufgabe der Erfindung besteht außerdem in der Schaffung eines
Halbleiterspeichers, der für die Massenfertigung geeignet ist und
in den Endphasen seines Herstellungsvorgangs individualisiert werden kann.
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ORIGINAL INSfECTEO
Ferner "besteht eine Aufgabe der Erfindung in der Schaffung von
monolithischen Speicherzellen, die einen Halbleiterspeicher mit einer niohtlöschbaren Grundinformation bilden.
In dem erfindungsgemäßen Halbleiterspeicher sind Daten in einer Speicheranordnung so voreingegeben, daß zum Speichern der voreingegebenen
Daten kein Hilfsspeicher, z.B. ein Festspeicher, erforderlich
ist. Jede Speicherzelle der Halbleiterspeicheranordnung ist so eingerichtet, daß sie.nach dem Anlegen von Spannung einen
bestimmten Informationszustand einnimmt. Nach dieser Voreingabe in die Speicherzellen steht die gewünschte Information sowohl bei
der ersten Inbetriebnahme als auch nach einem Stromausfall und |
nachfolgendem Wiederanlegen der Spannung und ferner nach einer gewünschten programmierten Rlieksetzung zur Verfügung. Die erfindungsgemäße
Halbleiterspeicheranordnung kann somit sowohl als Festspeicher als auch als zum Einschreiben und Ablesen bestimmter
Speicher verwendet werden. Beim Einschreiben von Information in die Zellen der Anordnung, unabhängig von dem Grundinformationszustand
derselben, kann einem funktionsfähigen Pestapeioher die Funktion eines zum Ablesen und Einschreiben bestimmten Speichers
überlagert werden.
Nach einer Ausführungsform der Erfindung umfaßt eine Halbleiterspeicheranordnung
bistabile Speicherzellen mit mehreren Emittern. Einer der Emitter für jede Speicherzelle kann mit einer vorgege- f
benen Signalleitung zur Voreingabe in die Speicherzelle verbunden werden. Durch die Herstellung der gewünschten Verbindungen wird
in die Speicheranordnung ein gewünschtes Datenmuster eingegeben.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird jede bistabile
Speicherzelle mit mehreren Emittern so ausgebildet, daß sie sich im Ungleichgewicht befindet und daher nach dem Anlegen
von Spannung stets in einen bestimmten Ausgangszustand zurückkehrt.
Die Speicheranordnung wird dadurch individualisiert, daß
eine der beiden Ableseleitungen jeder Zelle angeschlossen wird.
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In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist jede bistabile
Speicherzelle mit mehreren Emittern mit zwei Kollektor-Widerstands-Kreisen versehen, die Zwischenabgriffe haben. Die
Kollektorstromquelle ist an einen der beiden Zwischenabgriffe angelegt, so daß der eine Kollektorwiderstand effektiv größer
ist als der andere. Dadurch wird ein Ungleichgewicht hergestellt, das gewährleistet, daß die Speicherzelle beim Anlegen einer Spannung
ihren vorgegebenen Zustand einnimmt.
Fig. 1 zeigt in einem Blockschema eine Halbleiterspeicheranordnung
nach einer Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 2 eine schematische Zeichnung einer Speicherzelle der in Fig. 1 verwendeten Anordnung,
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer anderen Speicherzelle nach einer zweiten Ausführungsform der Erfindung,
Fig. 4 eine schematische Zeichnung einer anderen Speicherzelle nach einer dritten Ausführungsform der Erfindung.
Der in Fig. 1 gezeigte Halbleiterspeicher 10 nach einer Ausführungsform
der Erfindung besitzt Speicherzellen 12A, 12B und ^ 12C. Zum Betrieb des Speichers 1O wird an die Speicherzellen
über eine Worttreibleitung 14 je ein Worttreibsignal angelegt. Zum Ablesen der einzelnen Speicherzellen dienen die Bitableseleitungen
16A, 16B, 16C und 18A, 18B, 18C. Über die Voreingabeleitung
20 wird an die Speicherzellen eine Voreingabesignalspannung angelegt, die bewirkt, daß jede Speicherzelle entweder
einen Zustand "Null" (über Leitungen 22A, 22B, 22C) oder einen Zustand "Eins" (über Leitungen 24A, 24B, 24C) einnimmt. Wenn es
beispielsweise erwünscht ist, in die Speicherzellen 12A und 12B den Zustand "Null" und in die Speicherzelle 12C den Zustand
"Eins" voreinzugeben, wird die Lücke in den Leitungen 22A, 22B und 240 überbrückt, so daß über diese Leitungen eine Verbindung
hergestellt wird.
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In Pig. 1 sind zur Erläuterung nur drei Speicherzellen dargestellt.
Man kann die Speicheranordnung 10 jedoch aus jeder beliebigen Anzahl von Speicherzellen aufbauen.
Zum Einschreiben legt man Impulse gleichzeitig an die Worttreibleitung
14 und die gewünschte Bit-Ableseleitung an. Zum Ablesen wird ein Impuls an die Worttreibleitung 14 angelegt und über die
Ableseleitung abgelesen.
Der Aufbau jeder der Speicherzellen 12 der Halbleiterspeicheranordnung
10 ist in Pig. 2 schematisch dargestellt. Gemäß Fig. besteht die Speicherzelle aus zwei Transistoren T1 und T2 md
besteht jeder Transistor vorzugsweise aus einem gemeinsamen Kollektor, einer gemeinsamen Basis und drei Emittern. Der gemeinsame
Kollektor 32A des Transistors T1 ist mit der gemeinsamen Basis 34B des Transistors T2 und die gemeinsame Basis 34A
des Transistors T1 mit dem gemeinsamen Kollektor 32B des Transistors T2 verbunden. Die Transistoren sind somit als bistabile
Speicherzelle geschaltet. Der gemeinsame Kollektor 32A ist über einen Widerstand 36A mit der einen Seite eines Widerstandes
35 und der gemeinsame Kollektor 32B über einen Widerstand 36B mit derselben Seite des Widerstandes 35 verbunden.
Die Stromquelle V ist über den Widerstand 35 mit der Speicherzelle verbunden. Die Worttreibleitung 14 ist mit den Emittern
3OA und 30B verbunden. Die Bitableseleitung 16 für die MNulltt-Seite
der Speicherzelle ist mit dem Emitter 26A verbunden. Die Bitableseleitung 18 für die "Eins"-Seite der Speicherzelle ist
mit dem Emitter 26B verbunden. Zum Ablesen wird ein Worttreibsignal angelegt, das so stark ist, daß die Spannung an den
Emittern 30A und 30B höher ist als die Spannung, die in Abwesenheit eines Bitsignals an den Emittern 26A und 26B liegt. Pur
einen Einschreibvorgang werden Bitsignale angelegt, die so stark sind, daß die an dem Emitter 26A oder 26B liegende Spannung
etwa ebenso hooh ist wie die Spannung, die in Abwesenheit dee Worttreibsignals an den Emittern 30A und 30B liegt. Wenn
die Speicherzelle nicht angesteuert let, d.h., kein Worttreib-
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signal an ihr liegt, hat die über die Worttreibleitung 14 angelegte
Ruhespannung einen solchen Y/ert, daß an den Emittern 3OA und 3OB eine niedrigere Spannung liegt als an den Emittern 26A,
26B und 28A, 28B.
Die Voreingabeleitung 20 zum Voreingeben der gewünschten Daten wird mit der Speicherzelle über den Emitter 28A oder den Emitter
28B verbunden, je nachdem, ob in die Speicherzelle eine "Eins" oder eine "Null" voreingegeben werden soll. Die Spannung des
Yoreingabesignals ist so niedrig, daß die an dem Emitter 28A oder 28B liegende Spannung niedriger ist als die Spannung, die
an den Emittern 26A, 26B, 30A, 30B liegt. In Abwesenheit eines Voreingabesignals liegt an dem mit der Voreingabeleitung 20
verbundenen Emitter 28A oder 28B eine höhere Spannung als an den Emittern 26A, 26B, 30A, 30B. Das Voreingabesignal kann beispielsweise
von dem Ausgang einer monostabilen Kippschaltung abgenommen werden, die beim Anlegen von Spannung an die Speicheranordnung
gekippt wird.
In einem Ausführungsbeispiel einer Speicheranordnung mit drei Speicherzellen betrug die Betriebsspannung V = 4 V, und hatten
der Widerstand 35 einen Wert von 1,6 Kiloohm und die Kollektorwiderstände 36A und 36B einen Wert von je 500 0hm. Die über die
Worttreibleitung 14 an die Emitter 3OA und 3OB angelegte Spannung beträgt während eines Worttreibsignals 2,4 V und im Ruhezustand
1 V. Die über die leitungen 16 und 18 angelegten Einschreibsignale
haben eine Spannung von je 2,4 V. Die Ruhespannung an den Emittern 26A und 26B beträgt 1,4 V. Das Voreingabesignal
entspricht dem Erdpotential. Die Ruhespannung an dem mit der Voreingabeleitung 20 verbundenen Emitter 28A oder 28B
beträgt 3,2 V. Wenn in der Speicheranordnung eine andere Anzahl von Speicherzellen verwendet wird, liegt die Spannung V an einer
anderen Belastung und kann es zweckmäßig sein, diese Belastungsveränderung durch die Wahl eines Widerstandes 35 mit eine* anderen
Wert zu kompensieren.
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Im Betrieb wird über die Leitung 20 je nach dem gewünschten Batenmuster
ein Voreingabesignal an den Emitter 28A oder 28B angelegt.
Wenn in die in Fig. 2 gezeigte Speicherzelle der Zustand "Eins" voreingegeben werden soll, d.h., daß der Emitter 26B leitet
und ein Signal an der Bitableseleitung 18 erscheint, wird das Voreingabesignal über die Leitung 20 an den Emitter 28B angelegt
und die Verbindung zwischen der Leitung 20 und dem Emitter 28A offengelassen. Nach dem Anlegen der Spannung an den Speicher erscheint
das Voreingabesignal -an dem Emitter 28B, so daß ein
Stromfluß über den Emitter 28B erzwungen wird. Infolge dieses Stromflusses über den Emitter 28B sinkt die Spannung an dem gemeinsamen
Kollektor 32B des Transistors T2, so daß die Stromzufuhr zu der gemeinsamen Basis 34A des Transistors T1 derart
sinkt, daß keiner der Emitter des Transistors T1 leitet. Da keiner
der Emitter des Transistors T1 leitet, bleibt die Spannung an dem ihnen gemeinsamen Kollektor 32A so hoch, daß die Emitter des
Transistors T2 über die ihnen gemeinsame Basis 34B ausgesteuert werden, so daß der Emitter 3OB über die Worttreibleitung 14 leitet,
wenn das Voreingabesignal weggenommen ist. Infolge der fortgesetzten Leitung über den Emitter 30B des Transistors T2 wird
die niedrige Spannung an dem gemeinsamen Kollektor 32B aufrechterhalten und die Speicherzelle in dem gewünschten Informationszustand
gehalten. Durph das Anlegen der Spannung und des Voreingabesignals
gelangt daher der Transistor T2 stets in einen leitenden Zustand und der Transistor T1 stets in den nichtleitenden
Zustand, wie dies erwünscht ist. Zur Voreingabe des Zustandes "Null" in die Speicherzelle, d.h., daß der Transistor T2 gesperrt
ist und der Transistor T1 leitet, verbindet man die Voreingabeleitung 20 mit dem Emitter 28A und bleibt die Verbindung
zwischen der Leitung 20.und dem Emitter 28B offen.
Beim Auftreten des Worttreibsignals wird die Leitung über den
Emitter 3OB unterbrochen, so daß der mit der Bitableseleitung 18
verbundene Emitter 26B leitet und der Zustand der Speicherzelle konstantbleibt. Beim Anlegen eines Ablesesignals wird dieser
Stromfluß erfaßt.
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Zum Einschreiben einer "Null" in die Speicherzelle, so daß diese
in den Zustand gelangt, welcher dem voreingegebenen Zustand entgegengesetzt ist, legt man über die Bitableseleitung 18 an den
Emitter 26B ein Einschreibsignal an, so daß durch den Emitter 26B ein schwächerer und in die gemeinsame Basis 34A des Transistors
T1 ein stärkerer Strom fließt. Infolge dieses Basisstroms leitet der Emitter 26A und fließt ein Strom durch die Bitableseleitung
16. Infolge des Stromflusses durch den Emitter ist die Spannung an der gemeinsamen Basis 34B so niedrig, daß der
Transistor T2 vollständig gesperrt ist. Infolgedessen nimmt die Speicherzelle den entgegengesetzten Zustand ein, d.h., daß der
Transistor T1 leitend bleibt und der Transistor T2 gesperrt bleibt, wenn nach dem Wegnehmen des Einschreibsignals die Spannung
an dem Emitter 26B auf den Ruhewert zurückkehrt. Zum Einschreiben einer "Eins" in die Zelle legt man das Einschreibsignal
über die Bitableseleitung 16 an den Emitter 26A an. Da der Emitter 26A bereits gesperrt ist, braucht das Einschreibsignal die
Speicherzelle nicht umzuschalten, sondern bleibt sie in dem voreingegebenen Zustand "Eins".
Die Lücke in der Leitung,, die von dem Emitter 28A oder 28B zu
der Leitung 20 führt, wird dadurch erzeugt, daß mit Hilfe einer geeigneten Maske für eine Unterbrechung in der Metallisierung
oder dem Leitermuster gesorgt wird, oder daß mit dem nicht mit der Leitung 20 zu verbindenden Emitter kein elektrischer Kontakt
hergestellt wird, d.h. das Emitterkontaktloch geschlossen bleibt.
Die zuletztgenannte Maßnahme wird bevorzugt, weil sie eine grössere Vielseitigkeit in der Metallisierung ermöglicht.
Die in der Ausführungsform nach Fig. 3 gezeigte Speicherzelle
besitzt zwei Transistoren T3 und T4 mit je einem gemeinsamen
Kollektor, je einer gemeinsamen Basis und je zwei Emittern. Die Transistoren T3 und T4 sind so geschaltet, daß sie eine bistabile
Speicherzelle bilden, und sind über die Emitter 4OC und 4OD mit
einer Worttreibleitung 14 verbunden. Die Voreingabe erfolgt durch die Verwendung von mit dem Kollektor des Transistors T3
bzw. T4 verbundenen Widerständen 42 und 44 mit verschiedenen
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Werten, so daß gewährleistet iat, daß der gewünschte Transistor
nach dem Anlegen einer Spannung den leitenden Zustand einnimmt und beibehält. Wenn beispielsweise der Widerstand 42 einen Wert
von 500 Ohm und der Widerstand 44 einen Wert von 600 0hm hat, bewirkt das Anlegen von Spannung, daß der Transistor T4 einen
leitenden Zustand einnimmt und beibehält und der Transistor T3 den gesperrten Zustand einnimmt. Dies ist darauf zurückzuführen,
daß beim Anlegen von Spannung über den kleineren Widerstand 42 ein stärkerer Strom in die Basis des Transistors T4
fließt, so daß dieser leitfähig und der Transistor T3 gesperrt wird. In der letzten Phase der Herstellung werden die Bitableseleitungen
16 und 18 entsprechend dem für das Bit gewünschten Datenmuster mit dem gewünschten Emitter verbunden. Wenn beispielsweise
ein Strom durch die Bitableseleitung 18 fließt, wenn sich die Speicherzelle im Zustand "Eins" befindet, und es
erwünscht ist, in die Speicherzelle den Wert "Eins" voreinzugeben, wird die Bitableseleitung 18 mit dem Transistor T4 verbunden,
der einen höheren Kollektorwiderstand hat, und wird die Bitableseleitung 16 mit dem Transistor T3 verbunden. Zum Einschreiben
einer "Eins" werden gleichzeitig Impulse an die Leitungen 14 und 16 angelegt. Zum Einschreiben einer "Null" werden
gleichzeitig Impulse an die leitungen 14 und 18 angelegt.
Zum Ablesen wird ein Impuls an die leitung 14 angelegt und an der Leitung 16 oder 18 erfaßt. Zum Voreingeben einer "Eins"
in die Zelle nach fig. 3 wird die Leitung zwischen dem Emitter
380" und der Leitung 18 und die Leitung zwisohen dem Emitter 38D
und der Leitung 18 elektrisch geschlossen. Zur Voreingabe einer "Hull" werden die beiden anderen Leitungen geschlossen, die von
den Emittern 380 und 38D zu den Leitungen 18 bzw. 16 führen.
Die in Fig. 4 gezeigte Ausführungsform ähnelt der in Fig. 3 gezeigten,
bis auf die Tatsache, daß mit dem Kollektorwiderstand 5OA ein Abgriff 46 und mit dem Widerstand 5OB ein Abgriff 48
verbunden ist. Zur Voreingabe wird der Abgriff 46 oder 48 mit dem Widerstand 52 der Kollektorstromquelle verbunden, so daß
der Kollektorwiderstand 5OA oder 5OB teilweise kurzgeschlossen
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und dadurch sein Widerstandswert herabgesetzt wird. Bei dieser
Zelle erfolgen das Ablesen und Einschreiben ähnlich wie bei der Zelle naoh Pig. 3.
In den dargestellten Ausführungsbeispielen werden bipolare Halbleitereinrichtungen
verwendet, doch kann man im Rahmen der Erfindung auch Feldeffekttransistoren verwenden. Das Schutzbegehren
umfaßt daher sowohl Speicheranordnungen und Speicherzellen mit Feldeffekttransistoren als auch solche mit bipolaren
Halbleitereinrichtungen.
Vorstehend wurden in der Zeichnung dargestellte Ausführungsbeispiele
der Erfindung beschrieben, die jedoch vom Fachmann im Eahmen des Erfindungsgedankens abgeändert werden können.
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Claims (14)
- Pat entanspräche:(λ ) Halbleiterspeicheranordnung mit mehreren bistabilen Halbleiterspeicherzellen, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Überführen der Zellen in einen Ausgangszustand, der eine nur ablesbare G-rundinformation darstellt und den die Zellen der Anordnung nach jeder erneuten Zuführung von elektrischer Energie zu der Halbleiterspeicheranordnung einnehmen, und eine Einsehreibeinrichtung zum Überführen der Zellen in einen anderen als den Ausgangszustand.
- 2. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Überführen der Zellen in den Ausgangszustand eine Einrichtung zur Voreingabe des Zustandes "Eins" und "Null" in jede der Speicherzellen aufweist.
- 3. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Yoreingabeeinrichtung eine Voreingabesignalleitung besitzt, die zur Bestimmung eines der Zustände "Eins" und "Null" mit einem ausgewählten Teil je einer Speicherzelle elektrisch verbunden ist.
- 4. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Voreingabeeinrichtung zwei Bitleitungen aufweist, die zur Bestimmung eines der Zustände "Eins" und "Null" mit zugeordneten Teilen je einer Speicherzelle elektrisch verbunden sind.
- 5. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Voreingabeeinrichtung eine Leitung aufweist, die zur Bestimmung eines der Zustände "Eins" und "Null" einen Stromquellenanechluß mit einem ausgewählten Teil je einer Speicherzelle elektrisch verbindet.109824/1780
- 6. Halbleiterspeicheranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Ablesen von Informationen von den Informationen enthaltenden Speicherzellen des Speichers.
- 7. Halbleiterspeicheranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Zellen überkreuz gekoppelte Halbleitereinrichtungen enthält.
- 8. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Halbleitereinrichtungen eine zweipolige Einrichtung ist.
- 9. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Zellen überkreuz gekoppelte Einrichtungen mit mehreren Emittern besitzt und eine Voreingabesignalleitung mit einer ausgewählten der überkreuz gekoppelten, mehrere Emitter besitzenden Einrichtungen je einer Speicherzelle elektrisch verbunden ist.
- 10. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß jede der überkreuz gekoppelten Einrichtungen mit mehreren Emittern eine Einrichtung nach Art eines Transistors mit drei Emittern besitzt und die Voreingabesignalleitung mit einem Emitter der Einrichtung nach Art eines Transistors mit drei Emittern je einer Speicherzelle elektrisch verbunden ist.
- 11. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Speicherzellen überkreuz gekoppelte Einrichtungen mit mehreren Emittern besitzt, eine der beiden Bitleitungen zur Bestimmung eines der Zustände "Eins" und "Null" mit einer der überkreuz gekoppelten Einrichtungen mit mehreren Emittern elektrisch verbunden ist und die andere der beiden Bitleitungen zur Bestimmung des anderen der Zustände "Eins" und "Null" mit der anderen der beiden überkreuz gekoppelten Einrichtungen mit mehreren Emittern elektrisch verbunden ist.109824/1780
- 12. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß jede der überkreuz gekoppelten Halbleiteremittereinrichtungen eine Einrichtung nach Art eines Transistors mit zwei Emittern besitzt und die beiden Bitleitungen mit einem der Emitter je einer der überkreuz gekoppelten Einrichtungen elektrisch verbunden sind.
- 13· Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Zellen überkreuz gekoppelte Einrichtungen mit mehreren Emittern besitzt und die genannte Leitung zur Bestimmung eines der Zustände "Eins" und "Null" den Stromquellenanschluß mit einem Widerstand je einer Speicherzelle elektrisch verbindet.
- 14. Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstand mit dem gemeinsamen Kollektor einer der überkreuz gekoppelten Einrichtungen mit mehreren Emittern elektrisch verbunden ist.15· Halbleiterspeicheranordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die von dem Stromquellenanschluß kommende Leitung mit einem Zwischenabgriff des Widerstandes elektrisch verbunden ist und jede der überkreuz gekoppelten Einrichtungen mit mehreren Emittern eine Einrichtung nach Art eines ^ Transistors mit zwei Emittern aufweist.109824/1780
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3143677A1 (de) * | 1981-11-04 | 1983-05-11 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Speicherschaltung |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3729721A (en) * | 1970-09-23 | 1973-04-24 | Siemens Ag | Circuit arrangement for reading and writing in a bipolar semiconductor memory |
DE2165729C3 (de) * | 1971-12-30 | 1975-02-13 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithische, als Lese/Schreiboder als Festwertspeicher betreibbare Speicheranordnung |
US3764825A (en) * | 1972-01-10 | 1973-10-09 | R Stewart | Active element memory |
US3755793A (en) * | 1972-04-13 | 1973-08-28 | Ibm | Latent image memory with single-device cells of two types |
US3781828A (en) * | 1972-05-04 | 1973-12-25 | Ibm | Three-dimensionally addressed memory |
US3757313A (en) * | 1972-06-29 | 1973-09-04 | Ibm | Data storage with predetermined settable configuration |
JPS5051231A (de) * | 1973-09-07 | 1975-05-08 | ||
US4025909A (en) * | 1975-09-08 | 1977-05-24 | Ibm Corporation | Simplified dynamic associative cell |
GB1579386A (en) * | 1976-07-22 | 1980-11-19 | Tokyo Shibaura Electric Co | Semiconductor memory device and method of manufacturing the same |
JPS594787B2 (ja) * | 1979-12-28 | 1984-01-31 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 低インピ−ダンス感知増幅器を有し読取専用メモリ及び読取一書込メモリに共用可能なメモリ装置 |
US4439842A (en) * | 1979-12-28 | 1984-03-27 | International Business Machines Corp. | Bipolar transistor read only or read-write store with low impedance sense amplifier |
US4613958A (en) * | 1984-06-28 | 1986-09-23 | International Business Machines Corporation | Gate array chip |
US4805142A (en) * | 1986-07-01 | 1989-02-14 | International Business Machines Corporation | Multiple ROM data state, read/write memory cell |
JPS63160097A (ja) * | 1986-12-24 | 1988-07-02 | Toshiba Corp | 半導体不揮発性メモリ |
US4858184A (en) * | 1987-04-27 | 1989-08-15 | Hitachi, Ltd. | Radiation resistant bipolar memory |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3423737A (en) * | 1965-06-21 | 1969-01-21 | Ibm | Nondestructive read transistor memory cell |
US3427598A (en) * | 1965-12-09 | 1969-02-11 | Fairchild Camera Instr Co | Emitter gated memory cell |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3041477A (en) * | 1958-08-08 | 1962-06-26 | Budts Lucien | Multivibrator circuit arrangement |
US3529299A (en) * | 1966-10-21 | 1970-09-15 | Texas Instruments Inc | Programmable high-speed read-only memory devices |
GB1162109A (en) * | 1966-12-22 | 1969-08-20 | Ibm | Semi Conductor Data and Storage Devices and Data Stores Employing Such Devices |
-
1969
- 1969-12-05 US US882623A patent/US3618052A/en not_active Expired - Lifetime
-
1970
- 1970-10-09 NL NL7014851A patent/NL7014851A/xx unknown
- 1970-12-03 DE DE2059598A patent/DE2059598C2/de not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3423737A (en) * | 1965-06-21 | 1969-01-21 | Ibm | Nondestructive read transistor memory cell |
US3427598A (en) * | 1965-12-09 | 1969-02-11 | Fairchild Camera Instr Co | Emitter gated memory cell |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3143677A1 (de) * | 1981-11-04 | 1983-05-11 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Speicherschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3618052A (en) | 1971-11-02 |
NL7014851A (de) | 1971-06-08 |
DE2059598C2 (de) | 1983-12-01 |
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