DE19757106A1 - Topometer für spiegelnde Flächen - Google Patents

Topometer für spiegelnde Flächen

Info

Publication number
DE19757106A1
DE19757106A1 DE1997157106 DE19757106A DE19757106A1 DE 19757106 A1 DE19757106 A1 DE 19757106A1 DE 1997157106 DE1997157106 DE 1997157106 DE 19757106 A DE19757106 A DE 19757106A DE 19757106 A1 DE19757106 A1 DE 19757106A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
pattern
reflecting surface
camera
measuring
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE1997157106
Other languages
English (en)
Inventor
Juergen Prof Dr Massig
Bernd Prof Dr Lingelbach
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE1997157106 priority Critical patent/DE19757106A1/de
Priority to EP98124070A priority patent/EP0924494A3/de
Publication of DE19757106A1 publication Critical patent/DE19757106A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B3/00Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
    • A61B3/10Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
    • A61B3/107Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for determining the shape or measuring the curvature of the cornea
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2513Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/255Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring radius of curvature

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Ophthalmology & Optometry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Description

Einleitung
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung entsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bei der Herstellung optischer Flächen und bei der Vermessung der Hornhaut zur Kontaktlinsenanpassung oder für die ärztliche Diagnostik ist die Kenntnis der Oberflächenform gefordert und eine rechnergestützte Auswertung erwünscht.
Spiegelnde Flächen kann man mit Interferrometern genau vermessen, bei stark gekrümmten und asphärischen Flächen sind jedoch aufwendige Korrektursysteme erforderlich, was die Kosten dieser teueren Systeme weiter erhöht. Für die Vermessung der Hornhaut sind Keratometer bekannt, die dem Auge eine Anordnung von Leuchtdioden oder ein Muster aus Kreisringen oder geraden Linien gegenüberstellen und das von der Hornhaut gespiegelte Bild der Diodenanordnung bzw. des Musters über eine elektronische Kamera aufnehmen und auswerten. Die Genauigkeit dieser Geräte ist für manche Anwendungen unbefriedigend.
Die Aufgabe der Erfindung ist es, eine kostengünstige Vorrichtung zu schaffen, welche die Form von stark gekrümmten spiegelnden Flächen, insbesondere von Kontaktlinsenoberflächen und der Hornhaut bei einem Meßfeld bis zu 10 mm Durchmesser mit ungefähr 1 Mikrometer Genauigkeit messen kann.
Diese Aufgabe wird durch eine Anordnung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst.
Aus der Interferrometrie ist bekannt, daß Muster von geraden und äquidistanten Streifen mit sinusförmigem Helligkeitsverlauf mit hoher Genauigkeit ausgewertet werden können. Gemäß der Erfindung wird der spiegelnden Fläche ein beleuchtetes und diffus streuendes Muster gegenübergestellt so wie es auch in manchen bekannten Keratometern verwirklicht ist. Erfindungsgemäß verwendet man jedoch ein Muster welches derart gezeichnet ist, daß sein über die spiegelnde Fläche und das Kameraobjektiv auf dem Bildsensor erzeugtes Bild eine Folge möglichst gerader und äquidistanter Streifen mit sinusförmigem Helligkeitsverlauf darstellt. Dieses Bild wird gespeichert und von einem elektronischen Rechner ausgewertet. Hierbei wird zunächst die Streifenordnungszahl für alle Punkte auf dem zu den Streifen orthogonal liegenden Meridian bestimmt und daraus der Neigungswinkel jedes Flächenelements auf dem Meridian berechnet. Durch numerische Integration längs des Meridians läßt sich dann die Schnittkurve ermitteln.
Aufgrund der Geradheit und Äquidistanz der Streifen im Bild des Musters ist es im Raumfrequenzbereich sehr gut konzentriert und kann daher mittels der numerischen Fouriertransformation und digitaler Filterung leicht isoliert werden. Der Helligkeitsverlauf des Musterbilds muß daher nicht perfekt sinusförmig sein, da eventuell auftretende Oberwellen des abgebildeten Musters durch diese Filterung unterdrückt werden können.
Will man die gesamte Fläche vermessen, so kann man das zuvor beschriebene Verfahren verwenden und durch Drehen des Prüflings oder des Musters die Schnittkurven für mehrere Meridiane zu bestimmen. Um jedoch mit nur einer Messung die gesamte Flächenform zu ermitteln benutzt man zweckmäßigerweise ein derart gezeichnetes Muster, das auf dem Bildsensor eine Überlagerung zweier zueinander orthogonaler Systeme von äquidistanten geraden Streifen ergibt. Mittels der diskreten Fouriertransformation des Bildes und digitaler Filterung im Raumfrequenzbereich lassen sich die beiden zueinander orthogonalen Streifensysteme trennen und getrennt auswerten. Hieraus können für jedes Flächenelement beide Richtungscosinusse errechnet werden, woraus man dann durch numerische Integration die Form der gesamten Oberfläche ermitteln kann.
Für eine grobe visuelle Kontrolle kann das Muster über die spiegelnde Fläche und ein Objektiv auf ein Transmissionsgitter anstelle des Bildsensors abgebildet werden, so daß Moiréstreifen auftreten, und eine grobe Abweichung der Flächenform von einer Sollform visuell überprüfbar ist.
Zur Erstellung des Musters geht man zweckmäßigerweise folgendermaßen vor: In der Regel ist die Sollform der zu vermessenden Fläche bekannt. Man berechnet anhand der Sollform für jeden Punkt des Musters den zugehörigen Bildpunkt auf dem Bildsensor und die Bildhelligkeit, die an dieser Stelle vorliegen soll. Der entsprechende Grauwert wird dem betreffenden Punkt des Musters zugeordnet. Dieses Verfahren läßt sich mit einem elektronischen Rechner automatisiert durchführen. Mit diesen Daten kann ein Elektronenstrahlschreibgerät eine Belichtungsmaske erzeugen und über Reprografie die gewünschten Muster erhalten. Bei geringeren Anforderungen an die Meßgenauigkeit genügt auch ein von einem rechnergesteuerten Drucker gezeichnetes Muster. Eine weitere interessante Variante ist, der Meßfläche einen rechnergesteuerten Bildschirm gegenüberzustellen und auf diesem das Muster zu erzeugen. Auf diese Weise kann man im Falle von Meßflächen sehr unterschiedlicher Form leicht das jeweils optimale Muster auswählen und zur Messung verwenden.
Der Vorteil der erfindungsgemäßen Lösung gegenüber der interferrometrischen Methode besteht klarerweise in den erheblich geringeren Herstellungskosten. Im Vergleich zu den bekannten Keratometern ist von der erfindungsgemäßen Lösung aus dem folgenden Grund eine höhere Genauigkeit zu erwarten: Wendet man Muster von Kreisen oder geraden Linien an, so können für die Bildauswertung nur Punkte, die eine Linienmitte oder einen oder einen Schnittpunkt zweier Linien darstellen verwendet werden. Bei dem hier beschriebenen Verfahren kann man hingegen für jeden Bildpunkt die Neigung des zugeordneten Punkts der Meßfläche ermitteln, und daher die Flächenform aus einer viel größeren Zahl von Stützstellen errechnen.
Ausführungsbeispiele
Im folgenden werden einige Ausführungsbeispiele der Erfindung in Text und Zeichnungen dargestellt.
Die Fig. 1 bis 3 zeigen schematisch Beispiele geeigneter Anordnungen. Auf die Darstellung von Halterungen oder Vorrichtungen zur Durchleuchtung oder Beleuchtung der diffus streuenden Musters wurde verzichtet. Fig. 4 stellt mögliche Kombinationen mit Vorrichtungen zur optischen Abstandsmessung oder Lageerkennung der spiegelnden Fläche dar. Fig. 5 zeigt illustrativ das Beispiel eines Musters. In Fig. 6 ist zum Funktionsnachweis ein Meßergebnis aufgetragen.
Die in Fig. 1 dargestellte Anordnung eignet sich vorzugsweise zur Messung weniger stark gekrümmter Flächen. Das Muster 1 ist auf einem ebenen Träger aufgebracht. Die von den Punkten P1 bis P5 des Musters ausgehenden Strahlen durchtreten den teildurchlässigen Spiegel 2 um dann auf die spiegelnde Fläche 3, fortan auch Meßfläche genannt, zu treffen. Nach der Reflexion gelangen die Strahlen wieder zum halbdurchlässigen Spiegel 2 der sie zur Kamera 4 hin reflektiert. Auf dem Bildsensor 41 der Kamera entsteht dann das Bild des Musters. Die in der Zeichnung angedeutete Verwendung eines telezentrischen Meßobjektivs vereinfacht die rechnerische Auswertung, ist jedoch nicht zwingend. Klarerweise könnten in einer Anordnung wie in Fig. 1 auch die Positionen von dem beleuchteten Muster 1 und der Kamera 4 vertauscht sein, so daß die Strahlen vom Muster über eine Reflexion am Strahlteiler 2 zur spiegelnden Fläche 3 gelangen und von dort durch den Strahlteiler 2 zur Kamera 4 hindurchtreten.
Die Fig. 2 zeigt eine für stärker gekrümmte Flächen geeignete Anordnung. Da aufgrund der großen Öffnung der Strahlenbündel ein Strahlteiler nicht mehr anwendbar ist, werden die Kamera 4 und das Muster 1 koaxial vor der spiegelnden Fläche 3 aufgebaut. Das Muster 1 erhält eine zentrale kleine Öffnung 11, durch welche die von der Meßfläche 3 gespiegelten Strahlen zur Kamera 4 hindurchtreten können. Zweckmäßigerweise wird das Objektiv 42 der Kamera so gebaut, daß die Öffnung 11 zugleich die Öffnungsblende der gesamten Abbildung darstellt. Dann kann man bei genügender Beleuchtungsstärke auf dem Muster die Öffnung 11 klein dimensionieren, so daß nur innerhalb einer kleinen Umgebung des Scheitelpunkts 31 die Form der Meßfläche nicht meßbar ist. Sie kann jedoch durch Extrapolation aus den benachbarten Bereichen rechnerisch weitgehend rekonstruiert werden.
Bei einer noch stärkeren Krümmung der spiegelnden Fläche muß unter Umständen das Muster 1 auf einem zur Meßfläche 3 hin gewölbten Träger aufgebracht sein. Dies ist in Fig. 3 am Beispiel eines Trägers mit einer kugelförmigen Innenfläche gezeigt. Die von der spiegelnden Fläche 3 reflektierten Strahlen treten wie im vorigen Beispiel durch eine Öffnung 11 im Muster zur Kamera 4. Vorzugsweise ist auch hier das optische System so gestaltet, daß die Öffnung 11 als Öffnungsblende der optischen Abbildung wirkt.
Für eine genaue Bestimmung der Flächenform muß der Abstand zwischen dem Scheitelpunkt 31 der spiegelnden Fläche zum Muster möglichst genau bekannt sein. Bei schwer fixierbaren oder mechanisch nicht antastbaren Meßflächen wie beispielsweise der menschlichen Hornhaut ist daher die Verwendung eines optischen Abstandssensors oder eines Autofokussensors, wie sie z. B. in den optischen Abtastsystemen in Compactdisc-Abspielgeräten eingebaut sind, sinnvoll. Die Fig. 4 zeigt als mögliches Beispiel eine Anordnung ähnlich dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel, bei dem jedoch der Meßstrahlengang des Abstandssensors 5 über einen zusätzlichen Strahlteiler 6 eingekoppelt wird. Bei korrekter Position der Meßfläche kann ein Signal an den Benutzer gegeben werden oder automatisch eine Aufnahme durch die elektronische Kamera ausgelöst werden. Um eine Störung des von der Kamera 4 aufgenommenen Bilds durch die Strahlung des Abstandssensors 5 zu verhindern, kann man das Muster mit Strahlung anderer Wellenlängen als die für den Abstandssensor verwendete Lichtwellenlänge beleuchten und den Strahlteiler 6 als Farbteiler ausführen.
In Fig. 4 ist außerdem eine weitere mögliche Kombination mit einer optischen Anordnung zur Prüfung der korrekten Position der Meßfläche skizziert: Der Projektor 7 enthält eine punktförmige Lichtquelle und eine Optik, welche die Lichtquelle auf die Sollposition des Scheitelpunkts 31 der Meßfläche abbildet. Das Detektionssystem 8 enthält eine Optik, die den Scheitelpunkt 31 auf eine punktförmige Blendenöffnung abbildet. Hinter dieser Blende ist ein Detektor angebracht. Dieser erhält nur dann von der Meßfläche 3 reflektierte Strahlung, wenn diese sich in der Sollposition befindet. Bei richtiger Lage der Meßfläche wird dem Anwender ein Signal gegeben oder die Aufnahme durch die Kamera 4 automatisch ausgelöst. Falls die Strahlung des Abstandssensors 5 das von der Kamera 4 erzeugte Bild stört, kann die Lichtquelle des Sensors 5 für die Zeitdauer der Aufnahme durch eine geeignete elektronische Ansteuerung abgeschaltet werden.
Alternativ zu der möglichen Kombination mit einem Abstandsmeßsystem kann auch die Öffnungsblende der Abbildung als Springblende, wie zum Beispiel in einer Spiegelreflexkamera, ausgeführt werden. Die Springblende wird vor der Aufnahme weit geöffnet, so daß die Tiefenschärfe der Abbildung auf den Bildsensor 41 der Kamera möglichst gering ist. Der Abstand zwischen der Meßfläche 3 und der Meßanordnung wird nun verändert, bis die Position höchster Schärfe für den Scheitelpunkt 31 der Meßfläche gefunden ist. Darauf wird die Springblende auf einen geringeren Durchmesser gebracht, so daß die Aufnahme des Musterbilds mit der notwendigen hohen Tiefenschärfe erfolgen kann. Der Abstand zwischen Meßfläche und Muster in der Position höchster Abbildungsschärfe ist rechnerisch über die Abbildungsgleichung der Optik oder durch eine Kalibrierung mit einer bekannten spiegelnden Kugelfläche bestimmbar.
Für Anwendungen zur Vermessung der Hornhaut können die Vorrichtungen mit einem Fixationslicht, wie es in ophthalmologischen Geräten häufig angewendet wird, versehen werden. Es bieten sich bei den gezeigten Ausführungsbeispielen vielfältige Möglichkeiten an: Bei der in Fig. 4 dargestellten Anordnung könnte das Fixationslicht durch eine kleine Öffnung im Muster 1, oder über den Abstandssensor 5 oder aber einen zusätzlichen Strahlteiler zum Auge geführt werden.
Fig. 5 zeigt als Illustration ein mit einem rechnergesteuerten Drucker erstelltes provisorisches Muster, das für eine Messung der ellipsoidförmigen konkaven Innenfläche einer Kontaktlinse gezeichnet wurde. Die vorgesehene Meßanordnung folgt dem in Fig. 2 gezeigten Schema, benutzt jedoch ein telezentrische Kameraobjektiv.
Zum Nachweis der Funktion der Erfindung zeigt die Fig. 6 ein Meßergebnis, das mit einem Aufbau entsprechend der Fig. 2, jedoch mit einem telezentrischen Kameraobjektiv erzielt wurde. Der Graph stellt einen Meridianschnitt der Konkavfläche einer Kontaktlinse dar.

Claims (11)

1. Vorrichtung zum optischen Messen der Form spiegelnder Oberflächen, dadurch gekennzeichnet, daß der spiegelnden Fläche ein beleuchtetes, streuendes Muster gegenübergestellt wird, daß derart gezeichnet ist, daß sein über die spiegelnde Fläche und ein optisches System erzeugtes Bild ein System gerader und äquidistanter Streifen mit sinusförmigem Helligkeitsverlauf oder eine Überlagerung mehrerer solcher Streifensysteme darstellt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Muster über die spiegelnde Fläche auf den Bildsensor einer elektronischen Kamera abgebildet wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Muster über die spiegelnde Fläche auf ein Gitter oder ein Kreuzgitter abgebildet wird.
4. Vorrichtung nach einem der vorigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlengang zwischen Muster und spiegelnder Fläche und der Strahlengang zwischen spiegelnder Fläche und der Kamera über einen Strahlteiler vereinigt werden.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß das beleuchtete Muster und die Kamera koaxial gegenüber der spiegelnden Fläche angeordnet sind, und das Muster eine Öffnung für den Strahlengang zwischen spiegelnder Fläche und der Kamera besitzt.
6. Vorrichtung nach einem der vorigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zusätzlich eine Vorrichtung zur Positionserkennung oder zur Abstandsmessung der spiegelnden Fläche eingebaut ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Positionserkennungssystem automatisch die elektronische Kamera auslöst.
8. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet daß ein Farbteiler für die Einkoppelung der Strahlung des Abstandsmeßsystems verwendet wird.
9. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß während der Kamerabelichtung die Lichtquelle des Positionserkennungssystems abgeschaltet wird.
10. Vorrichtung nach einem der vorigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine schnell verstellbare Öffnungsblende verwendet wird.
11. Vorrichtung nach einem der vorigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Muster auf einem elektronisch gesteuerten Bildschirm erzeugt wird.
DE1997157106 1997-12-20 1997-12-20 Topometer für spiegelnde Flächen Withdrawn DE19757106A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997157106 DE19757106A1 (de) 1997-12-20 1997-12-20 Topometer für spiegelnde Flächen
EP98124070A EP0924494A3 (de) 1997-12-20 1998-12-18 Topometer für spiegelnde Flächen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997157106 DE19757106A1 (de) 1997-12-20 1997-12-20 Topometer für spiegelnde Flächen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19757106A1 true DE19757106A1 (de) 1999-06-24

Family

ID=7852898

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1997157106 Withdrawn DE19757106A1 (de) 1997-12-20 1997-12-20 Topometer für spiegelnde Flächen

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP0924494A3 (de)
DE (1) DE19757106A1 (de)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19944354A1 (de) * 1999-09-16 2001-04-12 Haeusler Gerd Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Form oder der Abbildungseigenschaften von spiegelnden oder transparenten Objekten
DE10027473A1 (de) * 2000-06-02 2001-12-13 Basler Ag Verfahren zum Ermitteln der Neigungen von wenigstens zwei übereinander angeordneten Flächen
DE10027459A1 (de) * 2000-06-02 2001-12-13 Basler Ag Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer Fläche
DE10231343A1 (de) * 2002-07-11 2004-01-29 Carl Zeiss Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer örtlichen Verteilung der optischen Brechkraft
DE10233372A1 (de) * 2002-07-18 2004-02-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messsystem und Verfahren zur Erfassung geometrischer Größen
DE10246483A1 (de) * 2002-09-30 2004-04-08 Carl Zeiss Jena Gmbh Linsenprüfgerät
DE10217068B4 (de) * 2002-04-17 2005-09-15 Michael Dr.-Ing. Gandyra Verfahren zum optischen Messen der Form reflektierender und streuender Freiformflächen
DE102005019367A1 (de) * 2005-04-26 2006-11-09 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren zur Vermessung eines solarthermischen Konzentrators
DE10127304C5 (de) * 2001-06-06 2007-07-19 Technische Universität Carolo-Wilhelmina Zu Braunschweig Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der dreidimensionalen Kontur einer spiegelnden Oberfläche eines Objektes
WO2007115621A2 (de) 2006-04-05 2007-10-18 Isra Surface Vision Gmbh Verfahren und system zur formmessung einer spiegelnden oberfläche
DE102009002569A1 (de) * 2009-04-22 2010-10-28 Manroland Ag Verfahren zur Bestimmung der Qualität eines Druckprodukts
DE102005044912B4 (de) * 2005-09-16 2014-07-24 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von spiegelnden Oberflächen

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2817042B1 (fr) * 2000-11-22 2003-06-20 Saint Gobain Procede et dispositif d'analyse de la surface d'un substrat
EP1236970A1 (de) 2001-02-26 2002-09-04 Leuze electronic GmbH + Co. Bilderverarbeitungssystem
DE102006012432B3 (de) * 2006-03-17 2007-10-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Erfassung der Oberflächenform einer teilspiegelnden Oberfläche
FR2914422B1 (fr) 2007-03-28 2009-07-03 Soitec Silicon On Insulator Procede de detection de defauts de surface d'un substrat et dispositif mettant en oeuvre ledit procede.
FR2974414B1 (fr) * 2011-04-22 2013-04-12 Saint Gobain Procede d'analyse de la qualite d'un vitrage
CH713447B1 (de) * 2017-02-09 2020-08-14 Besi Switzerland Ag Verfahren und Vorrichtung für die Montage von Halbleiterchips.

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2539503B2 (de) * 1974-09-09 1980-01-31 Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa (Japan) Verfahren und Vorrichtung zum Auffinden von Fehlerstellen nicht rechteckiger Form in einer Fotolithografie-Schablone mit Rechteckmuster
DE3126356A1 (de) * 1981-07-03 1983-01-20 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum pruefen von objekten
US4792232A (en) * 1987-05-18 1988-12-20 Shell Oil Company Method and apparatus for detection of undesirable surface deformities
DE3831217A1 (de) * 1988-09-14 1990-03-22 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur topometrischen erfassung der oberflaechengestalt eines auges
US4993826A (en) * 1987-11-25 1991-02-19 Taunton Technologies, Inc. Topography measuring apparatus
US5159361A (en) * 1989-03-09 1992-10-27 Par Technology Corporation Method and apparatus for obtaining the topography of an object
US5309222A (en) * 1991-07-16 1994-05-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Surface undulation inspection apparatus
DE4413758A1 (de) * 1993-04-21 1994-12-08 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung für die Topographieprüfung von Oberflächen

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3617421A1 (de) * 1986-04-30 1987-11-05 Leitz Ernst Gmbh Optisches bauelement und vorrichtung zu dessen verwendung
US5636025A (en) * 1992-04-23 1997-06-03 Medar, Inc. System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2539503B2 (de) * 1974-09-09 1980-01-31 Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa (Japan) Verfahren und Vorrichtung zum Auffinden von Fehlerstellen nicht rechteckiger Form in einer Fotolithografie-Schablone mit Rechteckmuster
DE3126356A1 (de) * 1981-07-03 1983-01-20 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum pruefen von objekten
US4792232A (en) * 1987-05-18 1988-12-20 Shell Oil Company Method and apparatus for detection of undesirable surface deformities
US4993826A (en) * 1987-11-25 1991-02-19 Taunton Technologies, Inc. Topography measuring apparatus
DE3831217A1 (de) * 1988-09-14 1990-03-22 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur topometrischen erfassung der oberflaechengestalt eines auges
US5159361A (en) * 1989-03-09 1992-10-27 Par Technology Corporation Method and apparatus for obtaining the topography of an object
US5309222A (en) * 1991-07-16 1994-05-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Surface undulation inspection apparatus
DE4413758A1 (de) * 1993-04-21 1994-12-08 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung für die Topographieprüfung von Oberflächen

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HAFERKORN,Heinz (Hrsg.): Lexikon der Optik, Verlag Werner Dausien, Hanau, 1988, S.268,269 *
WARNICKI,Joseph W., et.al.: Corneal topography using computer analyzed rasterstereographic images. In: Applied Optics, 15. March 1998, Vol.27, No.6, S.1135-1140 *

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19944354A1 (de) * 1999-09-16 2001-04-12 Haeusler Gerd Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Form oder der Abbildungseigenschaften von spiegelnden oder transparenten Objekten
DE19944354C5 (de) * 1999-09-16 2011-07-07 Häusler, Gerd, Prof. Dr., 91056 Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von spiegelnden oder transparenten Prüflingen
DE19944354B4 (de) * 1999-09-16 2005-11-24 Häusler, Gerd, Prof. Dr. Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von spiegelnden oder transparenten Prüflingen
DE10027473B4 (de) * 2000-06-02 2007-04-19 Basler Ag Verfahren zum Ermitteln der Neigungen von wenigstens zwei übereinander angeordneten Flächen
DE10027473A1 (de) * 2000-06-02 2001-12-13 Basler Ag Verfahren zum Ermitteln der Neigungen von wenigstens zwei übereinander angeordneten Flächen
DE10027459A1 (de) * 2000-06-02 2001-12-13 Basler Ag Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer Fläche
DE10127304C5 (de) * 2001-06-06 2007-07-19 Technische Universität Carolo-Wilhelmina Zu Braunschweig Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der dreidimensionalen Kontur einer spiegelnden Oberfläche eines Objektes
DE10217068B4 (de) * 2002-04-17 2005-09-15 Michael Dr.-Ing. Gandyra Verfahren zum optischen Messen der Form reflektierender und streuender Freiformflächen
DE10231343A1 (de) * 2002-07-11 2004-01-29 Carl Zeiss Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer örtlichen Verteilung der optischen Brechkraft
DE10233372A1 (de) * 2002-07-18 2004-02-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messsystem und Verfahren zur Erfassung geometrischer Größen
DE10233372B4 (de) * 2002-07-18 2004-07-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messsystem und Verfahren zur Erfassung geometrischer Größen
DE10246483A1 (de) * 2002-09-30 2004-04-08 Carl Zeiss Jena Gmbh Linsenprüfgerät
DE102005019367A1 (de) * 2005-04-26 2006-11-09 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren zur Vermessung eines solarthermischen Konzentrators
DE102005044912B4 (de) * 2005-09-16 2014-07-24 Friedrich-Schiller-Universität Jena Verfahren und Vorrichtung zur dreidimensionalen optischen Vermessung von spiegelnden Oberflächen
WO2007115621A2 (de) 2006-04-05 2007-10-18 Isra Surface Vision Gmbh Verfahren und system zur formmessung einer spiegelnden oberfläche
EP2040026A2 (de) 2006-04-05 2009-03-25 Isra Surface Vision GmbH Verfahren und System zur Kalibrierung einer Vorrichtung zur Formmessung einer spiegelnden Oberfläche
US8064069B2 (en) 2006-04-05 2011-11-22 Isra Surface Vision Gmbh Method and system for measuring the shape of a reflective surface
DE102009002569A1 (de) * 2009-04-22 2010-10-28 Manroland Ag Verfahren zur Bestimmung der Qualität eines Druckprodukts

Also Published As

Publication number Publication date
EP0924494A2 (de) 1999-06-23
EP0924494A3 (de) 2001-03-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19757106A1 (de) Topometer für spiegelnde Flächen
DE69317570T2 (de) Pupillometer
DE60105874T2 (de) Ophthalmisches Gerät
EP3557523B1 (de) Verfahren zur erzeugung eines korrekturmodells einer kamera zur korrektur eines abbildungsfehlers
DE69434770T2 (de) Ophthalmologisches Instrument zur Bestimmung der Topographie der Cornea
EP3256036B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur abstandsbestimmung und/oder zentrierung unter verwendung von hornhautreflexionen
DE3040009C2 (de)
DE68912444T2 (de) Vorrichtung zum Ausrichten eines ophthalmologischen Instruments.
DE69535172T2 (de) Ophthalmologische mess- und untersuchungsvorrichtung
EP0167877A2 (de) Gerät zur Darstellungflächenhafter Bereiche des menschlichen Auges
DE68922973T2 (de) Anordnung zur Bestimmung der Augenbrechkraft.
EP3869150B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur cornea-vermessung eines probanden
DE102013207987A1 (de) Verfahren und Analysesystem zur Augenuntersuchung
WO2004068216A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum anpassen einer position eines brillenglases relativ zur position einer pupille
DE60216557T2 (de) Formmessvorrichtung
DE4401541A1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Oberflächentopometrie einer reflektierenden Oberfläche
EP0857032B1 (de) Vorrichtung für die topographische vermessung einer oberfläche
EP3313262B1 (de) Purkinjemeter und verfahren zur automatischen auswertung
DE10153397A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Refraktion
EP2561800B1 (de) Ophthalmologisches Analysegerät und Verfahren
DE1933815A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Kornea-Kruemmung
DE3230401A1 (de) Vorrichtung zur messung des kruemmungsradius der cornea des auges eines patienten
EP3388780B1 (de) Verfahren und vorrichtung für das referenzieren der lage wenigstens eines punkts auf oder in einem transparenten gegenstand
EP2281500B1 (de) Ophthalmologische Messvorichtung und Messverfahren
DE102018109726A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Cornea-Vermessung

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8141 Disposal/no request for examination