DE10027459A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer Fläche - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer FlächeInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der lokalen Verformung einer Fläche mit wenigstens einem lichtempfindlichen Empfänger, auf dessen Bildebene wenigstens ein Lichtmuster über die Fläche durch Reflektion scharf abgebildet wird und die Neigung oder Verformung der Fläche durch Abweichung des abgebildeten Musters zu einer Sollabbildung erfaßt wird. Gemäß der Erfindung wird vorgeschlagen, daß das abzubildende Muster auf einem Substrat vorhanden ist, das von einer Lichtquelle beleuchtet wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und Vorrichtung zum
Ermitteln der Neigung oder der lokalen Verformung einer
Fläche mit wenigstens einem lichtempfindlichen Empfänger,
auf dessen Bildebene wenigstens ein Muster mittels der
Fläche durch Reflektion scharf abgebildet wird und die
Neigung oder Verformung der Fläche durch Abweichung des
abgebildeten Musters zu einer Sollabbildung erfaßt wird.
Die zu prüfende Fläche kann hierbei eine äußere
Oberfläche oder aber auch eine innere Fläche oder
Grenzfläche einer Schicht eines ein- oder mehrschichtigen
Gegenstandes sein. Diese Fläche ist beispielsweise
Bestandteil eines optischen Datenträgers, wie eine CD,
DVD oder CD-R.
Ein solches Verfahren und eine entsprechende Vorrichtung
sind beispielsweise aus der DE 197 31 545 C1 der
Anmelderin bekannt, auf welche Schrift hiermit
ausdrücklich Bezug genommen und die inhaltlich zum
Gegentand dieser Anmeldung gemacht wird. Bei diesem
Verfahren wird die Oberfläche des zu prüfenden
Gegenstands mit punktförmigen Lichtquellen, die
ungerichtetes Licht ausstrahlen, beleuchtet. Das
reflektierte Licht belichtet den lichtempfindlichen
Empfänger, und es ist eine Abbildungsoptik vorgesehen,
die die Lichtquellen scharf auf dessen Bildebene
abbildet. Durch Vergleich mit einem Sollbild erhält man
die Neigung oder die Verformung der Oberfläche in diesem
Bereich.
Es hat sich gezeigt, daß die direkte Beleuchtung durch
eine oder mehrere Lichtquellen nicht immer günstig ist.
Insbesondere wenn eine Vielzahl von Meßpunkten entlang
dem Radius einer DVD oder CD zu erfassen sind, können
aufgrund der räumlichen Ausdehnung der Lichtquellen diese
nicht immer eng genug beieinander angeordnet werden. Auch
sind der Wahl des abzubildenden Musters Grenzen gesetzt.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren und eine Vorrichtung der eingangs geschilderten
Art so abzuwandeln, um diese Nachteile zu vermeiden.
Die Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß
das abzubildende Muster auf einem Substrat vorhanden ist,
das von einer Lichtquelle beleuchtet wird. Durch diese
indirekte Beleuchtung wird erreicht, daß die Lichtquelle
oder die Lichtquellen nicht mehr unmittelbar im
Strahlengang selbst angeordnet zu werden brauchen. Das
Substrat weist vorzugsweise eine aufgrund der Beleuchtung
durch eine Lichtquelle diffuses Licht abgebende
Oberfläche auf. Es kann beispielsweise vorgesehen werden,
daß die Oberfläche diffus weiß oder hell ist, die mit
einem kontrastreichen schwarzen oder dunklen Muster
versehen ist. Grundsätzlich ist auch eine inverse
Ausbildung möglich.
Es kann vorgesehen werden, daß das Substrat von oben
beleuchtet wird. Das Substrat kann aber auch diffus
transparent sein und von unten beleuchtet werden. Das
Muster wird dabei durch lichtundurchlässige oder weniger
transparente Aufdrucke oder Blenden erzeugt.
Die Abbildungsoptik, also in der Regel das Objektiv der
Kamera, ist so eingestellt, daß dieses Muster scharf auf
den lichtempfindlichen Empfänger abgebildet wird. Es sind
die Sollpositionen oder Sollabbildungen des aufgebrachten
Musters bekannt, die mit den Istpositionen
beziehungsweise Istabbildungen des gerade aufgenommenen
Gegenstands verglichen werden. Aufgrund der Abweichung
kann auf die Verformung geschlossen werden.
Grundsätzlich wird es zweckmäßig sein, die Neigung oder
Verformung der Fläche an mehreren Stellen zu ermitteln.
Dazu kann vorgesehen werden, daß jeder Stelle eine andere
Musterform oder eine andere Farbe des Musters zugeordnet
wird. Dadurch wird erreicht, daß die abweichenden
Abbildungen eindeutig einer Sollabbildung zugeordnet
werden können.
Was für ein Muster abgebildet wird, ist grundsätzlich
beliebig, solange eine eindeutige Abweichung eines
betrachteten Punktes erfaßt werden kann. Es eignen sich
daher insbesondere diskrete Muster mit Punkten, Kreuzen,
Linien oder dergleichen. Auch können sinusförmige oder
kontinuierliche Muster, und Farb- und/oder
Intensitätsverteilungen vorgesehen werden. Wichtig ist,
daß ein abgebildeter Punkt auch bei einer abweichenden
Lage wiedererkannt wird, so daß ein Vergleich mit der
Lage in einer Sollabbildung möglich ist. Es eignen sich
daher insbesondere diskrete Muster mit Punkten, Kreuzen,
Kreisen, Linien oder dergleichen. Bei allen Fällen wird
das Muster scharf auf die Bildebene des
lichtempfindlichen Empfängers abgebildet, so daß die
Fläche oder Schicht nur als Reflexionsfläche dient.
Eventuelle Abweichungen sind sofort erkennbar, so daß
hieraus die Neigung und/oder Verformung der Fläche im
beleuchteten Bereich ermittelt werden können. Unter einer
scharfen Abbildungen des Musters auf der Bildebene soll
insbesondere eine hinreichend scharfe Abbildung des
Musters auf dem von dem lichtempfindlichen Empfänger
erzeugten und auswertbaren Bild verstanden werden. Der
lichtempfindliche Empfänger ist in der Regel eine
Matrixkamera, die ein entsprechend flächiges Bild
erzeugt. Damit lassen sich die eventuellen örtlichen
Abweichungen und Verschiebungen zur Sollabbildung des
Musters auf der Bildebene gut erfassen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der schematischen
Zeichnung näher erläutert, deren einzige Figur eine
Seitenansicht der Meßanordnung zeigt.
Der gezeigte Aufbau weist einen lichtempfindlichen
Empfänger auf, dessen flächige Bildebene 11 von dem an
der zu prüfenden Fläche 12 reflektierten Licht belichtet
wird. Das Licht stammt von einem Substrat 13, das durch
eine Lichtquelle 14 beleuchtet wird. Die zu prüfende
Fläche kann, wie gezeigt, ansonsten plan und eben oder
aber auch gekrümmt sein.
Im einzelnen ist die Anordnung so getroffen, daß das
Substrat 13 diffuses Licht abgibt, wenn es von der
Lichtquelle 14 von oben oder seitlich beleuchtet wird. Es
kann auch vorgesehen werden, daß das Substrat diffus
transparent ist und von einer Lichtquelle 15 von unten
durchleuchtet wird. Diese Lichtquelle ist in der
Zeichnung gestrichelt dargestellt. Das Substrat ist
vorzugsweise hell, insbesondere weiß, und mit einem
kontrastreichen dunklem Muster 16 versehen. Das Muster
kann sich beispielsweise aus einer Vielzahl von Kreisen,
Kreuzen oder dergleichen sowie Kombinationen hiervon
zusammensetzen.
Es ist eine nicht gezeigte Abbildungsoptik, in der Regel
das Objektiv, vor dem lichtempfindlichen Empfänger
vorgesehen, die so eingestellt ist, daß das Muster scharf
abgebildet wird. Die zu prüfende Fläche 12 dient demnach
als Spiegelfläche. Es ist offensichtlich, daß Neigungen
oder Verformungen sich unmittelbar auf die Abbildung des
Musters auswirken. Ein betrachteter Punkt wird bei einer
Neigung von der Sollabbildung verschoben auf der
Bildebene erscheinen, ohne unscharf abgebildet zu werden.
In der Zeichnung ist beispielhaft ein einzelner von dem
Substrat kommender Strahl 17 gezeigt, der an der
Oberfläche im Bereich 18 reflektiert wird. Bei keiner
Neigung oder Verformung wird der Strahl reflektiert und
belichtet den Punkt 19 der Bildebene. Dieser Punkt 19
entspricht der Sollabbildung eines Teils des Musters 16.
Bei einer Neigung oder Verformung der Oberfläche 12 wird
der Strahl in den Strahl 20 reflektiert und belichtet
einen anderen Punkt 21 der Bildebene. Aufgrund der
erfaßbaren Abweichungen des Punktes 21 von der
Sollabbildung 19 desselben Bereichs 18 der Fläche 12 kann
auf die Verformung oder Neigung und auf deren Ausmaß
geschlossen werden.
Durch die Verwendung eines Substrats, auf dem ein
diskretes Muster abgebildet ist, kann eine Messung der
Verformung oder Neigung an mehreren Stellen der Fläche
gleichzeitig erfolgen. Das Muster kann entsprechend
eindeutig aufgebaut sein, und beispielsweise abwechselnd
Punkte und Kreuze aufweisen, so daß eine Zuordnung der
Punkte auch bei Abweichungen zur Sollabbildung ohne
weiteres möglich ist. Insbesondere ist es möglich, die
Verformung an dicht beieinander liegenden Stellen zu
ermitteln.
Claims (8)
1. Verfahren zum Ermitteln der Neigung oder der
Verformung einer Fläche (12) mit wenigstens einem
lichtempfindlichen Empfänger, auf dessen Bildebene (11)
wenigstens ein Muster (16) über die Fläche durch
Reflektion scharf abgebildet wird und die Neigung oder
Verformung der Fläche durch Abweichung des abgebildeten
Musters zu einer Sollabbildung erfaßt wird, dadurch
gekennzeichnet, daß das abzubildende Muster auf einem
Substrat (13) vorhanden ist, das von einer Lichtquelle
(14, 15) be- oder durchleuchtet leuchtet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Substrat (13) diffuses Licht abgibt.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Neigung oder die Verformung der
Fläche (12) an mehreren Stellen der Fläche ermittelt
werden.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
jeder Stelle eine andere Musterform oder eine andere
Farbe des Musters zugeordnet wird.
5. Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der
Verformung einer Fläche (12) mit wenigstens einem
lichtempfindlichen Empfänger, auf dessen Bildebene (11)
wenigstens ein Muster (16) über die Fläche durch
Reflektion scharf abgebildet wird und die Neigung oder
Verformung der Fläche durch Abweichung des abgebildeten
Musters (21) zu einer Sollabbildung (19) erfaßt wird,
dadurch gekennzeichnet, daß das abzubildende Muster auf
einem Substrat (13) vorhanden ist, das von einer
Lichtquelle (14, 15) be- oder durchleuchtet wird.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat (13) diffuses Licht abgibt.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 oder 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Neigung oder die Verformung der
Fläche an mehreren Stellen ermittelt werden.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß jeder Stelle eine andere Musterform oder eine andere
Farbe des Musters zugeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000127459 DE10027459A1 (de) | 2000-06-02 | 2000-06-02 | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer Fläche |
Applications Claiming Priority (1)
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DE10027459A1 true DE10027459A1 (de) | 2001-12-13 |
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ID=7644520
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE2000127459 Ceased DE10027459A1 (de) | 2000-06-02 | 2000-06-02 | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Neigung oder der Verformung einer Fläche |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10027459A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006006876A1 (de) * | 2006-02-15 | 2007-08-16 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen einer Kontur einer reflektierenden Oberfläche |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19757106A1 (de) * | 1997-12-20 | 1999-06-24 | Juergen Prof Dr Massig | Topometer für spiegelnde Flächen |
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2000
- 2000-06-02 DE DE2000127459 patent/DE10027459A1/de not_active Ceased
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19757106A1 (de) * | 1997-12-20 | 1999-06-24 | Juergen Prof Dr Massig | Topometer für spiegelnde Flächen |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
J. Beyerer, D. Perard: Automatische Inspektion spiegelnder Freiformflächen anhand von Rasterre- flexionen, in: tm-Technisches Messen 64(1997)10, S. 394-400 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006006876A1 (de) * | 2006-02-15 | 2007-08-16 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen einer Kontur einer reflektierenden Oberfläche |
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