DE19524025C2 - Spindelanordnungen mit Waferhalter - Google Patents
Spindelanordnungen mit WaferhalterInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft
Anordnungen zum Halten eines Wafers an seinem Rand, ins
besondere
während eines Schleudervorgan
ges, beispielsweise eines Trockenschleudervorgangs nach
einem Waferreinigungsvorgang.
Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen werden
zahlreiche Naßreinigungsschritte auf einem Substrat, bei
spielsweise einem Halbleiterwafer, bei verschiedenen Stufen
während des Prozesses durchgeführt. In einigen Fällen können
diese Naßreinigungsschritte das Reinigen des Wafers mit
einer Bürste und eine oder mehrere Schleuderspülungen ent
halten, wobei der Wafer mit einer oder mehreren Reinigungs
lösungen und/oder Wasser besprüht wird, während sich der
Wafer schnell dreht. Anschließend wird der Wafer mit einer
hohen Geschwindigkeit, üblicherweise im Bereich von 2500-
5000 Umdrehungen pro Minute, trocken geschleudert. In vielen
Fällen wird nur die Vorderseite des Wafers gereinigt, auf
welcher Bauelemente gebildet werden sollen, so daß der Wafer
auf seiner Rückseite von einem Saugluftspannfutter gehalten
werden kann. In vielen anderen Fällen ist es wünschenswert,
beide Seiten eines Wafers zu reinigen. Beispielsweise reini
gen Halbleitersubstrathersteller üblicherweise beide Seiten
bei Beendigung des Scheibenherstellungsprozesses. Zusätzlich
können andere Prozesse die beidseitige Reinigung erfordern.
Beispielsweise wird das chemisch-mechanische Polieren (CMP)
in einer Aufschlämmung ausgeführt, die bezüglich der Halb
leiterherstellungsstandards eine extrem schmutzige Umgebung
darstellt. Daher müssen beide Seiten des Wafers nach dem
CMP-Vorgang gereinigt werden, um vor der nachfolgenden Bear
beitung alle Verunreinigungen zu entfernen. Schließlich kann
die beidseitige Reinigung bei jeder Anwendung verwendet werden,
bei der es wünschenswert ist, die Rückseite des Wafers
sauber zu halten, beispielsweise um die von der Rückseite
des Wafers in eine Anlage und/oder den Prozeß eingeführten
Verunreinigungen zu verringern.
Bei der oben beschriebenen beidseitigen Reinigung kann
der Wafer während des Trockenschleudervorgangs nicht auf der
Rückseite festgehalten werden, wie es geschieht, wenn nur
die Vorderseite des Wafers gereinigt wird, da die Rückseite
des Wafers ebenfalls trocken geschleudert werden muß.
Aus der US 4 313 266 und der JP 02 138 737A sind
Waferhalter bekannt, bei denen der Wafer in seinem Rand
bereich eingespannt wird, um die Vorder- und die Rückseite
trockenzuschleudern. In Fig. 1A ist eine isometrische
Ansicht des Waferhalters gemäß US 4 313 266 gezeigt. Das
Nest 101, in dem das Substrat 105 gehalten wird, wird von
zwei Gleitbauteilen 106 mit jeweils U-förmigen Stützen 107
gebildet. Wafer-Haltepuffer 110 sind, wie dargestellt, am
oberen Ende des oberen Abschnitts der Stützen 107 angeord
net. Jeder Wafer-Haltepuffer 110 hat eine Ringnut 111, die
den Wafer 105 an seinem Rand faßt. Die Gleitbauteile 106
können, wie es durch die Pfeile 115 dargestellt ist, nach
innen und außen bewegt werden. Insbesondere bewegen sich die
Gleitbauteile 106 zum Öffnen des Nestes nach außen, um einen
Wafer 105 an einen Transportmechanismus beliebiger Art frei
zugeben. Wenn sich das Nest in der geöffneten Position
befindet, kann der nächste Wafer in das geöffnete Nest ein
gelegt werden. Die Gleitbauteile 106 bewegen sich dann nach
innen, um diesen nächsten Wafer einzuspannen.
Es wird auf Fig. 1B Bezug genommen, in der ein Quer
schnitt des in Fig. 1A gezeigten Aufbaus dargestellt ist.
Wie gezeigt ist, weisen die Gleitbauteile 106 Schlitze 120
auf. Ein Kurvenroller 125 greift in beide Schlitze 120 ein.
Der Kurvenroller 125 ist mit einer Stange 126 verbunden, die
in einer Spindel 117 angeordnet ist. Wenn sich die Stange
126 nach unten bewegt, drückt sie die Gleitbauteile 120 nach
außen in die oben beschriebene geöffnete Position. Wenn sich
die Stange 126 nach unten bewegt, zieht der Kurvenroller 125
die Gleitbauteile 120 in die innere oder geschlossene Posi
tion zum Halten des Wafers. Die Stange 126 wird von einem
Zylinder 130 nach unten und oben bewegt. Im Betrieb bewegt
der Zylinder 130 eine Zylinderstange 131, die Verbindungs
schiene 132 und eine Buchse 135 nach oben und nach unten.
Die Buchse 135 ist mit der Stange 126 über einen Stift 133
verbunden. Eine Feder 137, die von einem Anschlagteil 138
gehalten wird, beaufschlagt die Buchse 135 mit einer nach
unten gerichteten Kraft.
Es ist klar, daß der Zylinder 130 zwar in der Lage ist,
den Waferhalter der Fig. 1 zu öffnen und zu schließen, er
jedoch nicht ausreicht, um zuverlässig eine ausreichende
Kraft auf den Wafer auszuüben, um ihn während sämtlicher
Bearbeitungsphasen zu halten, ohne ein Brechen zu verursa
chen. Der Grund ist, daß eine große Zentrifugalkraft erzeugt
wird, während sich der Wafer mit einer hohen Geschwindigkeit
dreht, die eine entsprechend große nach innen gerichtete
Kraft der Gleitbauteile 106 zum Halten des Wafers erfordert.
Daher weist das durch den Bereich 156 dargestellte äußere
Ende des Waferhalters ein Gegengewicht auf. Während des
Drehvorganges wird eine Zentrifugalkraft derart erzeugt, daß
das Gewicht bei 156 nach außen gedrückt wird, wodurch der
die Stützen 107 und die Wafer-Haltepuffer 106 aufweisende
Abschnitt der Gleitbauteile 106 nach innen gezogen wird, um
den Waferhalter in der geschlossenen Position zu halten.
Dieses Verfahren hat den Nachteil, daß die Zentrifugalkraft
variiert, wenn das Gegengewicht unpräzise positioniert ist,
und/oder sich das Gewicht der Gegengewichte von dem spezifi
zierten Wert unterscheidet. Eine zu große Zentrifugalkraft
kann zum Verwölben von biegbaren Substraten, beispielsweise
Aluminium und zum Brechen von starren Substraten, beispiels
weise Halbleitersubstraten, führen. Eine nicht ausreichende
Zentrifugalkraft führt möglicherweise dazu, daß der Wafer
während des Schleudervorganges aus dem Halter geschleudert
wird. Außerdem ist es leicht einzusehen, daß selbst dann,
wenn die Positionierung und das Gewicht der Gegengewichte
innerhalb der Vorgaben liegen, die Zentrifugalkraft am
Anfang und am Ende des Schleudervorganges, wenn die Rota
tionsgeschwindigkeit klein ist, entsprechend klein ist.
Somit können die Wafer zu diesem Zeitpunkt aus dem Waferhal
ter geschleudert werden. Die Situation wird dadurch noch
komplizierter, daß die auf den Waferhalter ausgeübten Kräfte
in Abhängigkeit von der Betriebsstufe, d. h. ob der Wafer
gestoppt, beschleunigt, mit einer hohen Geschwindigkeit
gedreht, oder abgebremst wird, sehr stark variieren.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen
Waferhalter zu schaffen, der ein sicheres Halten des Wafers
bei jeder Rotationsgeschwindigkeit gestattet, ohne daß der
Wafer beschädigt wird.
Es wird also ein Waferhalter benötigt, der zum Halten
eines Wafers in einer drehbaren Spindel verwendet werden
kann, ohne die Vorder- oder Rückseite des Wafers zu berüh
ren. Der Halter darf den Wafer nicht freigeben oder beschä
digen, nicht geschwindigkeitsempfindlich sein und sich nicht
versehentlich öffnen.
Es wird ein verbesserter Waferhalter beschrieben, vor
zugsweise um einen Wafer während des Trockenschleuderns an
seinem Rand festzuhalten. Bei einem Ausführungsbeispiel sind
zwei Arme jeweils an einem Ende mit Wafer-Haltebaugruppen
verbunden, die jeweils zwei Wafer-Haltepuffer aufweisen. Die
anderen Enden der Arme sind so mit einem um eine Achse in
einem mittleren Bereich des Waferhalters drehbaren Druck
lager gekoppelt, daß die Drehung um die Achse eine entgegen
gesetzte Bewegung der Arme verursacht. Wenn sich das Druck
lager in einer mittleren Position befindet, so daß die Arme
vollständig ausgestreckt sind, sind die Wafer-Haltebaugrup
pen im wesentlichen in der geschlossenen Position. Wenn das
Drucklager in eine erste Richtung gedreht wird, gibt es
einen ausreichenden Bewegungbereich, um dem Wafer-Halter das
Öffnen zu ermöglichen. Wenn das Drucklager in entgegengeset
zter Richtung auf die mittlere Position zu bewegt wird,
schließen die Wafer-Haltebaugruppen. Die Bewegung in diese
Richtung ist begrenzt, so daß sich der Waferhalter nicht
öffnen kann durch fortgesetzte Bewegung in diese Richtung.
Nach außen gerichtete Kräfte an den Waferhaltebaugruppen
können diese nicht öffnen, da die nach außen gerichtete
Kraft die Arme in die Richtung schiebt, in der eine weitere
Bewegung verhindert wird. Die Arme können auf diese Weise in
einer verriegelten Position gehalten werden, wobei die
Waferhaltebaugruppen geschlossen sind und den Wafer sicher
halten. Auf diese Weise verursachen auf die Wafer-Haltebau
gruppen ausgeübte Kräfte kein versehentliches Öffnen des
Waferhalters. Eine Stange ist in der Spindelanordnung vorge
sehen, um das Drucklager zu drehen, um die Wafer-Haltebau
gruppe zwischen der geöffneten und der geschlossenen Posi
tion umzuschalten.
Weitere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung
werden anhand der folgenden, detaillierten Beschreibung,
Figuren und Ansprüche ersichtlich.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der
Zeichnungen näher erläu
tert.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1A eine isometrische Ansicht einer bekannten
Spindelanordnung und eines bekannten Wafer
halters,
Fig. 1B eine Querschnittsansicht der Anordnung ge
mäß Fig. 1A;
Fig. 2 die Spindelanordnung und den Waferhalter ei
nes bevorzugten Ausführungsbeispiels der Er
findung in einer geöffneten Position;
Fig. 3 den Waferhalter und die Spindelanordnung ei
nes bevorzugten Ausführungsbeispiels der Er
findung in einer geschlossenen Position;
Fig. 4 einen Teil des internen Mechanismus des
Substrathalters und der Spindelanordnung
eins bevorzugten Ausführungsbeispiels der
Erfindung;
Fig. 5 einen weiteren inneren Abschnitt des
Substrathalters und der Spindelanordnung ei
nes bevorzugten Ausführungsbeispiels der Er
findung;
Fig. 6 eine Ansicht der Unterseite des Substrathal
ters eines bevorzugten Ausführungsbeipiels
der Erfindung in einer geöffneten Posi
tion;
Fig. 7 die Unterseite des Substrathalters eines be
vorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung
in einer geschlossenen Position; und
Fig. 8 die Ansicht des Substrathalters
eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der
Erfindung von unten in der geschlossenen
Position.
Es wird ein verbesserter Substrathalter beschrieben. In
der folgenden Beschreibung werden zahlreiche spezielle
Details, beispielsweise spezielle Materialien, Abmessungen,
Konfigurationen usw. angegeben, um ein besseres Verständnis
der Erfindung zu ermöglichen. Es ist jedoch für den Fachmann
klar, daß diese speziellen Details zur Durchführung der
Erfindung nicht benötigt werden. In anderen Fällen wurden
bekannte Materialien und Verfahren nicht beschrieben, um die
Beschreibung der Erfindung nicht unnötig zu belasten. Obwohl
die Erfindung anhand eines an einem Halbleiterwafer nach
einem beidseitigen Reinigungsvorgang durchgeführten Trocken
schleuderns beschrieben wird, ist es klar, daß der Substrat
halter der vorliegenden Erfindung zum Halten eines beliebi
gen Substrates während eines Bearbeitungsvorganges verwendet
werden kann, insbesondere in den Fällen, wo das Drehen ohne
Kontakt mit der Vorder- und der Rückseite eines Substrates
wünschenswert ist.
Fig. 2 zeigt eine Seitenansicht eines bevorzugten Aus
führungsbeispiels des Waferhalters 200, der auf einer Spin
delanordnung 201 befestigt ist. Die Spindelanordnung 201
weist ein Gehäuse 202, einen Bund 203 und ein Kopfteil 204
auf. Der Waferhalter 200 weist ein Gehäuse 210 und zwei
Wafer-Haltebaugruppen 211 auf. Der Waferhalter 200 ist an
der Spindelanordnung 201 mit Sechskantschrauben 251 befe
stigt, die durch die Bohrungen 250 im Gehäuse 210, und durch
(nicht dargestellte) Bohrungen in dem Kopf 204 hindurchge
führt sind und die in die Spindelanordnung 201 einge
schraubt sind. Jede Wafer-Haltebaugruppe 211 weist zwei im
wesentlichen L-förmige Elemente 215 auf, die jeweils einen
Wafer-Haltepuffer 216 an ihrem oberen Ende aufweisen. Jedes
L-förmige Element 215 ist außerdem mit einem sich durch
einen Abschnitt des Gehäuses 210 erstreckenden Stift 218
gekoppelt. Jeder Stift 218 ist mit einem Schwenkarm 217
gekoppelt. Das Gehäuse 210 weist außerdem zwei (in Fig. 2
nicht dargestellt) Arme auf, die jeweils mit beiden L-förmi
gen Elementen 215 (über den oben beschriebenen Stift 218 und
den Schwenkarm 217) einer Wafer-Haltebaugruppe 211 verbunden
sind. Die Kopplung der Arme mit den Schwenkarmen 217 wird
anhand der Fig. 6 bis 8 näher erläutert. Bei einem bevor
zugten Ausführungsbeispiel sind die meisten Teile des Wafer
halters 200, einschließlich dem Gehäuse 210, den L-förmigen
Elementen 215, den Schwenkarmen 217 und den Stiften 218, aus
oxidiertem Aluminium hergestellt. Die zum Zusammenhalten der
Teile verwendeten verschiedenen Schrauben sind Sechskant
schrauben aus rostfreiem Stahl. Die Waferpuffer 216 sind aus
DelrinTM hergestellt, genauso wie der Kopf 204 und der Bund
203. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind die Spin
delanordnung 201, einschließlich dem Gehäuse 202, der Spin
del 220 und der Stange 225 aus rostfreiem Stahl hergestellt.
Es ist klar, daß in Abhängigkeit der Umgebung, in der der
Waferhalter verwendet wird, andere Materialien eingesetzt
werden können.
Bei einer typischen Anwendung sind die Spindelanordnung
201 und der Waferhalter 200 beispielsweise in einer Schleu
der-Spül/Trocken-Station eines Waferreinigungssystems mon
tiert, indem das Gehäuse 202 fest an dem Körper des Systems
angebracht wird, in dem die Schleuder angeordnet ist. Ein
Motor ist, beispielsweise über einen Riemen, mit der Spindel
220 gekoppelt. Es ist klar, daß die vorliegende Erfindung in
verschiedenen Systemen mit verschiedenen Arten von Spindeln
und Einrichtungen zum Drehen der Spindel verwendet werden
kann. Es wird erneut auf Fig. 2 Bezug genommen. Die Stange
225 ist innerhalb eines Schafts 220 angeordnet und ist in
diesem auf- und abbewegbar. Die Stange 225 wird von einem
Mechanismus auf- und abbewegt, zum Beispiel einem in den
Fig. 1A und 1B gezeigten und beschriebenen Zylinder 130
und den zugehörigen Komponenten. Die Stange 225 ist außerdem
mit den Armen in dem Gehäuse 210 verbunden, so daß die
Wafer-Haltebaugruppen 211 sich zwischen einer geöffneten und
einer geschlossenen Position hin-und-herbewegen, wenn die
Stange 225 auf- und abbewegt wird. Beispielsweise ist die
Stange 225 in Fig. 2 in einer oberen Position, so daß die
Wafer-Haltebaugruppen 211 in der dargestellten offenen Posi
tion sind. In dieser Position werden die beiden L-förmigen
Elemente 215 an den beiden Wafer-Haltebaugruppen 211 von dem
Mittelpunkt des Waferhalters 200 weggedreht. Die Arbeits
weise der Stange 225 beim Öffnen und Schließen des Waferhal
ters 200 wird anhand der Fig. 6 bis 8 detaillierter
beschrieben. Der oft als "Nest" bezeichnete Bereich zwischen
den Wafer-Haltebaugruppen 211 ist in der geöffneten Position
größer, als der Durchmesser der in dem Waferhalter 200 zu
haltenden Wafer, so daß ein Wafer in den Waferhalter 200
geladen werden kann. Wenn der Waferhalter 200 in der in
Fig. 2 gezeigten, geöffneten Position ist, kann beispiels
weise eine Antriebsriemeneinheit, ein Vakuumstab (vacuum
Wand) oder ein Roboterarm einen Wafer zentriert in dem Nest
des Waferhalters 200 anordnen. Der Wafer 230 ist mit einer
strichpunktierten Umrißlinie dargestellt, und zwar in der
Position, in der der (nicht gezeigte) Lademechanismus ihn
während des Ladens auflegt und von der ihn der Lademechanis
mus während des Entladens entfernt.
Es wird nun auf Fig. 3 Bezug genommen, in der der Wa
ferhalter 200 in der geschlossenen Position dargestellt ist.
In dieser Position ist jedes L-förmige Element 215 in Rich
tung auf den Mittelpunkt des Waferhalters 200 nach innen
geschwenkt. In dieser Position sind die Wafer-Haltebaugrup
pen 211 derart positioniert, daß ein Wafer eines gegebenen
Durchmessers bündig hineinpaßt, wobei der Rand in den Ver
tiefungen in jedem der vier Puffer 216 positioniert ist. Die
Positionierung eines Wafers 230 ist wiederum mit einer
Strichpunktlinie dargestellt. Wie zu sehen ist, ist der
Wafer innerhalb der Vertiefungen in den Puffern 216 angeord
net. Wie dargestellt ist, wurde die Stange 225 nach unten
gezogen, wodurch jedes L-förmige Element 215 in die darge
stellte geschlossene Position gezogen wurde. Es sei wiederum
auf die detaillierte Beschreibung der Arbeitsweise der
Stange 225 anhand der Fig. 6 bis 8 verwiesen.
Fig. 4 zeigt die Spindelanordnung 201 mit abgenommenen
Kopf 204, so daß der in dem Kopf 204 angeordnete obere
Abschnitt der Stange 225 sichtbar ist. Wie zu sehen ist,
weist der obere Abschnitt der Stange 225 bei dem bevorzugten
Ausführungsbeispiel ein Schneckengewinde 405 auf. Wie ferner
gezeigt ist, erstreckt sich ein Stift 410 durch die Stange
225. Der Stift 410 greift, wie in Fig. 5 gezeigt, in einen
Schlitz im Kopf 203 ein. Die Schrauben 250 der Fig. 2 sind
in Bohrungen 450 oben auf der Spindelanordnung 201 einge
schraubt, um den Kopf 204 und den Waferhalter 200 an der
Spindelanordnung 201 zu befestigen.
Es wird auf Fig. 5 Bezug genommen, in der eine Explo
sionsdarstellung des Kopfes 204 und des Einsatzes 530 gezeigt
ist, wobei die Spindelanordnung 201 und der Waferhalter 200
entfernt wurden. Wenn der Kopf auf die Spindelanordnung 201
aufgesetzt wird, wird das Schraubengewinde 405 (von unten)
in die Öffnung 505 eingeführt und der Stift 510 wird in den
Schlitz 510 eingeführt. Wie bereits erwähnt, ist die Stange
225 in der Spindel 220 auf- und abbewegbar, um den Waferhal
ter 200 zu öffnen und zu schließen. Bei einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel erstreckt sich der obere Abschnitt eines
Spiralgewindes 405 gemäß Fig. 4 um eine geringe Distanz
über die Oberfläche der Öffnung 505 und der Stift 410 der
Fig. 4 ist in der Nähe des unteren Abschnittes des Schlit
zes 510 angeordnet, wenn die Stange 225 in der unteren
Position ist. Wenn die Stange 225 in der unteren Position
ist, erstreckt sich bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
das obere Ende des Gewindes 405 ungefähr bis zu dem oberen
Rand der Öffnung 525, während der Stift 410 in dem Schlitz
510 in der Nähe von dessen oberem Abschnitt angeordnet
bleibt. Es ist klar, daß der Fachmann viele Änderungen an
der in Bezug auf das bevorzugte Ausführungsbeispiel be
schriebenen Positionierung vornehmen kann. Wie zu sehen ist,
sind sowohl die Öffnung 505 als auch der Schlitz 510 in dem
unteren Abschnitt des Kopfes 204 angeordnet, während die
Öffnung 525 in einem oberen Abschnitt angeordnet ist.
In Fig. 5 ist außerdem der Einsatz 530 gezeigt. Der
Einsatz 530 ist, wie dargestellt, in der Öffnung 525 des
Kopfes 204 angeordnet. Der Einsatz 530 weist eine Drallnut
535 und Öffnungen 540 auf. Wenn der Einsatz 530 in der
Ausnehmung 525 des Kopfes 204 angeordnet ist, greift die
Drallnut 535 in das Schneckengewinde 405 ein. Wenn die
Stange 225 in der unteren Position ist, wie in Fig. 3
gezeigt, ist das obere Ende des Schneckengewindes 405 in der
Nähe eines unteren Abschnitts der Drallnut 535 angeordnet.
Wenn die Stange 225 in der in Fig. 2 gezeigten oberen
Position ist, ist das obere Ende des Schneckengewindes 405
im Wesentlichen bündig mit der Oberfläche des Einsatzes 530
angeordnet. In dieser Hinsicht sei angemerkt, daß der in
Fig. 4 gezeigte Stift 410 während der gesamten Auf- und
Abbewegung in dem Schlitz 510 bleibt. Das verhindert die
Rotation der Stange 525, wenn sie nach oben und nach unten
geschoben wird, so daß die gesamte relative Rotationsbewe
gung zwischen Stange und Einsatz in den Einsatz 530 über
setzt wird. Auf diese Weise rotiert der Einsatz 530 entgegen
dem Uhrzeigersinn, wenn die Stange 525 nach oben geschoben
wird, und der Einsatz 530 rotiert im Uhrzeigersinn, wenn die
Stange 525 nach unten geschoben wird. Es sei angemerkt, daß
der Waferhalter 200 auf der Oberseite des Einsatzes 530
angeordnet ist, wenn der Kopf 204 mit dem Waferhalter 200
und der Spindelanordnung 201, wie beispielsweise in den
Fig. 2 und 3 dargestellt, gekoppelt ist, indem Schrauben
251 durch Bohrungen 250 des Gehäuses 210 und Bohrungen 515
des Kopfes in Gewindebohrungen 450 gesteckt sind. Das ver
hindert eine Aufwärtsbewegung des Einsatzes 530, wenn die
Stange 225 aufwärts bewegt wird, so daß die oben beschrie
bene Drehbewegung des Einsatzes 530 auftritt. Wie im folgen
den erörtert wird, ist der Einsatz 530 mit den oben be
schriebenen Armen des Waferhalters 200 mittels Bohrungen 540
gekoppelt. Es sei angemerkt, daß der Einsatz 530 in die
Ausnehmung 525 mit ausreichendem Spielraum hineinpaßt, so
daß am Außenumfang ein geringer Reibungskontakt des
Einsatzes 530 mit dem Kopf 204 auftritt. Da es nur einen
minimalen Reibungskontakt des Einsatzes 530 mit dem Kopf 204
gibt, und da das Gesamtgewicht des Kopfes 204 und des Wafer
halters 200 wesentlich größer als das des Einsatzes 530 ist,
ist der Widerstand des Kopfes 204 gegen jede Drehbewegung
viel größer als der des Einsatzes 530, so daß im wesentli
chen die gesamte Drehbewegung auf den Einsatz 530 übertragen
wird, und im wesentlichen keine Drehbewegung auf die
Kopf/Waferhalter-Kombination übertragen wird, wenn sich die
Stange 225 nach oben oder nach unten bewegt.
Die Fig. 6 bis 8 zeigen die Unterseite des Waferhal
ters 200. In den Fig. 6 bis 8 ist der Waferhalter 200 im
Vergleich zu der in den Fig. 2 und 3 dargestellten Posi
tion mit der Oberseite nach unten dargestellt. In der folgenden
Beschreibung werden zahlreiche Bewegungen von in den Fig. 6
bis 8 gezeigten Komponenten erörtert, und zwar so wie sie in
diesen Figuren auftreten. Es ist klar, daß diese Richtungen
auch umgekehrt werden können. Beispielsweise entspricht eine
Bewegung des Einsatzes 530 in Uhrzeigerrichtung, wie in
Fig. 5 zu sehen, einer Bewegung gegen den Uhrzeigersinn,
wie es in den Fig. 6-8 zu sehen ist, und umgekehrt. Die
anhand früherer Figuren erörterten Bewegungen werden weiter
so beschrieben, wie sie in diesen Figuren auftreten. Bei
spielsweise bezieht sich die Aufwärts- oder Abwärtsbewegung
der Stange 225 der Fig. 2 und 3 auf die in diesen Figuren
gezeigte Ausrichtung. Wie dargestellt ist, weist der Wafer
halter 200 zwei Arme 601 auf, die jeweils an den beiden
Schwenkarmen 217 einer einzelnen Wafer-Haltebaugruppe 211
befestigt sind. Die Arme 601 sind über einen Stift 605
jeweils mit zwei Schwenkarmen 217 gekoppelt. Jeder Stift 605
ist an dem Arm 601 befestigt und erstreckt durch eine (nicht
dargestellte) Bohrung in der Unterseite des Schwenkarmes 217
und dann durch eine ähnliche Bohrung 606 in der Oberseite
des Schwenkarmes 217. Ein Stift 610 ist an dem entgegenge
setzten Ende jedes Arms 601 angeordnet. Die Stifte 610 er
strecken sich ausgehend von den Armen 601 nach oben und nach
unten. Die sich nach oben erstreckenden Abschnitte der
Stifte 610 greifen in Bohrungen 540 des Einsatzes 530, die
in Fig. 5 dargestellt sind. Die sich nach unten erstrecken
den Abschnitte der Stifte 610 greifen in Einschnitte in dem
Drucklager 615, das in einer Ausnehmung 620 des Gehäuses 210
angeordnet ist. Das Drucklager 615 ist bei dem bevorzugten
Ausführungsbeispiel aus DelrinTM hergestellt und kann sich
in der Ausnehmung 620 leicht drehen. Außerdem ragt auf der
Unterseite des Drucklagers 615 ein mit einer Strichlinie
gezeigter schmaler Vorsprung 625 nach unten in eine weitere
Ausnehmung im Gehäuse 210 vor und hält das Drucklager 615
bei seiner Drehung am Platz.
Wie in Fig. 6 gezeigt, ist der Waferhalter 200 in der
geöffneten Position, wenn die Arme 601 sich in der darge
stellten Position befinden. Wenn sich der Waferhalter 200 in
der in Fig. 6 gezeigten Position befindet, ist die Stange
225 in der in Fig. 2 gezeigten oberen Position. Es wird auf
Fig. 7 Bezug genommen. Wenn die Stange 225 der Fig. 2 nach
unten gezogen wird, rotiert der Einsatz 530 entgegen dem
Uhrzeigersinn, wie es in Fig. 5 dargestellt ist. Wie be
reits ausgeführt, sind die Arme 601 und das Drucklager 615
mit dem Einsatz 530 durch die Stifte 610 verbunden, die in
die Bohrungen 540 des Einsatzes 530 eingesetzt sind. Das
führt dazu, daß das Drucklager 615 und die Enden der daran
befestigten Arme 601 im Uhrzeigersinn rotieren, wie durch
die Pfeile 701 und 702 in Fig. 7 dargestellt ist. Diese
Drehbewegung wird in eine im wesentlichen geradlinige Bewe
gung an den anderen Enden der Arme 601 umgesetzt, wie durch
die Pfeile 705 dargestellt ist, so daß die Arme 601 und die
Stifte 605 beide Schwenkarme 217 nach außen schieben, so daß
diese um die Stifte 218 gedreht werden. Da jeder Schwenkarm
217 fest an einem Stift 218 befestigt ist, führt diese
Schwenkbewegung zur Rotation jedes Stifts 218. Außerdem ist
jedes L-förmige Element 215 auf ähnliche Weise fest an dem
Stift 218 befestigt, so daß die Rotation des Stifts 218 das
L-förmige Element 215 zum Einschwenken veranlaßt, wie es
durch die Pfeile 710 dargestellt ist.
Es sei angemerkt, daß der Waferhalter 200 in der in
Fig. 7 dargestellten Position in der geschlossenen Position
ist. In dieser Position haben der Einsatz 530 und das Druck
lager 615 einen Scheitelpunkt erreicht, so daß solche Kräfte,
die den Waferhalter 200 zu öffnen suchen, zum Beispiel
Kräfte auf einen Abschnitt des Waferhalters 200, die zu
einer Kraft auf die Arme 601 in zu den Pfeilen 705 entgegen
gesetzter Richtung führt, nicht dazu führen können, daß der
Einsatz 530 und das Drucklager 615 rotieren, da keine Kraft
komponente in einer Rotationsrichtung in Bezug auf die
Komponente anliegt. Es ist klar, daß es möglich ist, daß
gewisse, auf einen Teil des Systems wirkende Kräfte eine
Bewegung des Drucklagers/Einsatzes und der Arme 601 aus der
in Fig. 7 gezeigten Position hinaus verursachen können. Bei
dem bevorzugten Ausführungsbeispiel in Fig. 8 dreht daher
die Stange 215 in ihrer untersten Position den Einsatz 530
der Fig. 5 derart, daß das Drucklager 615 und der Arm 601
sich in Richtung der Pfeile 801 bewegen. Es sei angemerkt,
daß die Bewegung der Arme 601 in Richtung der Pfeile 801 an
den Punkten 805 durch den Kontakt mit dem Gehäuse 210 be
grenzt wird. Daher können das Drucklager 615 und der Einsatz
530 in dieser Richtung nicht weiter rotieren und der Arm 601
kann sich nicht weiter in dieser Richtung bewegen. Es sei
ferner angemerkt, daß die seitliche Positionsänderung der
Arme 601 zwischen den in den Fig. 7 und 8 dargestellten
Positionen relativ klein ist, so daß die Wafer-Haltebaugrup
pen 211 sich nur um einen vernachlässigbaren Betrag zwischen
den in Fig. 7 und 8 gezeigten Positionen bewegen. Es ist
klar, daß es nur einen kleinen Bereich von Positionen der
Wafer-Haltebaugruppen 211 gibt, die eine ausreichende Kraft
zum Halten eines Wafers verursachen. Mit anderen Worten, die
geschlossene Position des Waferhalters 200 umfaßt in Wirk
lichkeit einen Bereich von Positionen. Der Waferhalter 200
ist derart konzipiert, daß der Wafer fest von allen Puffern
216 der Wafer-Haltebaugruppe 211 umfaßt wird, wenn die Kompo
nenten innerhalb der in den Figurgen 7 und 8 gezeigten
Positionen sind.
Bei der vorliegenden Erfindung kann der Wafer ohne das
Risiko einer versehentlichen Freigabe und ohne die Verwen
dung von Gegengewichten festgehalten werden. Wie oben be
schrieben wurde, gibt es einen sehr geringen Bewegungsspiel
raum der Wafer-Haltebaugruppe 211 zwischen den in den Fig. 7
und 8 gezeigten Positionen. Auf diese Weise erfordert die
Bewegung von der in Fig. 8 gezeigten Position in die in
Fig. 7 gezeigte Position ein geringfügiges Zusammendrücken
des Wafers. Aufgrund dieses Zusammendrückens wird eine
unbeabsichtigte Bewegung des Einsatzes 530 und des Druckla
gers 615 in entgegengesetzter Richtung der Pfeile 801 verhin
dert. Außerdem sei in Bezug auf Fig. 8 ferner angemerkt,
daß jede nach außen gerichtete Kraft, wie zum Beispiel die
Zentrifugalkraft während des Drehens, die L-förmigen Elemen
te 215 nach außen schiebt, wie es durch die Pfeile 810
dargestellt ist. Dies führt zu einer durch die Pfeile 815
dargestellten, nach innen gerichteten Kraft auf die Arme
601. Diese nach innen gerichtete Kraft schiebt die Arme 601
weiter in Richtung der Pfeile 801. Da die Arme bei den
Punkten 805 mit dem Gehäuse 210 in Kontakt stehen, kann
diese Kraft zu keiner Bewegung oder zu keinem Öffnen der
Wafer-Haltebaugruppen 211 führen. Durch das Umschwenken des
Einsatzes 530 und des Drucklagers 615 an oder hinter die in
Fig. 7 gezeigte Position, können daher an den Armen oder
den Wafer-Haltebaugruppen angreifende Kräfte, unabhängig
davon, ob sie durch Beschleunigung, Abbremsung oder eine
andere Ursache veranlaßt sind, nicht zu einem Öffnen des
Nestes des Waferhalters 200 führen. Auf diese Weise ist der
Waferhalter in der geschlossenen Position an oder hinter der
in Fig. 7 gezeigten Position verriegelt. Bei dem bevorzug
ten Ausführungsbeispiel wird eine geringfügige, nach unten
gerichtete Kraft auf die Stange 225 während der Waferbear
beitung von dem Mechanismus aufrechterhalten, der die Stange
225 auf- und abbewegt, um den Schließcharakter der Wafer-
Haltebaugruppe weiter zu verstärken.
Um einen Wafer freizugeben, wird die Stange 275 nach
oben geschoben. Dies dreht den Einsatz 530 in Uhrzeigerrich
tung, wie es in Fig. 5 dargestellt ist, und bewirkt eine
Drehung der Arme 601 und des Drucklagers 615 entgegen dem
Uhrzeigersinn, wie in den Fig. 6 bis 8 dargestellt ist,
d. h. in entgegengesetzter Richtung zu der in den Fig. 6
bis 8 gezeigten Richtung. Das bewegt die Wafer-Haltebaugrup
pen 211 von der in Fig. 8 gezeigten, geschlossenen Position
zu der in Fig. 6 gezeigten, geöffneten Position. Selbstver
ständlich tritt das Öffnen des Waferhalters 200 im Betrieb
nur auf, nachdem die Spindelanordnung jegliche Drehbewegung
beendet hat, die Fläche des Wafers ggf. in eine vorgegebene
Position gebracht hat und nachdem ein Transportmechanismus
einer beliebigen Art sich in eine Position zur Entfernung
des Wafers aus dem Waferhalter 200 bewegt hat.
Es ist klar, daß das dargestellte und beschriebene Aus
führungsbeispiel zur Durchführung der Erfindung nicht ver
wendet werden muß. Obwohl jede Wafer-Haltebaugruppe 211 mit
L-förmigen Elementen 215 dargestellt ist, die über verschie
dene Stifte und Hebel mit dem Arm 601 verbunden sind, können
andere Wafer-Haltemittel oder Bauteile verwendet werden.
Beispielsweise kann der Wafer-Haltemechanismus ein einziges
U-förmiges Bauteil mit zwei Wafer-Haltepuffern ähnlich den
Bauteilen 107 der Fig. 1a und 1b enthalten. Wie in
dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel soll die Bewegung
der Arme 601 verhindert werden, nachdem das Drucklager oder
ein ähnlicher Mechanismus sich zu oder hinter den Scheitel
bewegt hat, um den Waferhalter in der geschlossenen Position
zu verriegeln. In dieser Hinsicht sei angemerkt, daß in
keinem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die
Bewegung der Arme durch die Konfiguration des Gehäuses
eingeschränkt sein muß, wie es oben gezeigt und beschrieben
wurde, sondern mit anderen Verfahren oder Bauteilen, z. B.
Einstellschrauben, Vorsprüngen usw. eingeschränkt werden
kann. Außerdem ist es klar, daß die Bewegung der Arme nicht
durch direkten Kontakt mit den Armen selbst beschränkt
werden muß. Anstelle dessen kann die Bewegung der Arme durch
Einschränkung der Rotation des Einsatzes 530 oder des Druck
lagers 615 eingeschränkt werden. Es ist außerdem klar, daß
bei anderen Ausführungsformen ein Drucklager, wie das Druck
lager 615, nicht notwendig ist, wenn die Oberfläche, auf der
die Arme liegen, dieser erlauben, sich frei zu bewegen, wenn
sie von einem Element, wie zum Beispiel dem Einsatz 530
gedreht wird. Ferner können andere alternative Ausführungs
formen verwendet werden. Obwohl das bevorzugte Ausführungs
beispiel eine Stange innerhalb einer Spindel verwendet, um
die Drehbewegung für die Arme zu ermöglichen, kann die
Spindel in der Stange oder dem Schaft angeordnet sein, die
die Drehbewegung der Arme ermöglichen. Alternativ kann der
Einsatz 530 ein Bauteil mit Außenschneckengewinde aufweisen,
das nach unten vorsteht, während die Stange eine Drallnut
aufweist, um die Drehbewegung des Einsatzes zu ermöglichen.
Anstelle des Schneckengewindes und der Drallnut kann ein
Winkelhebel oder ein ähnliches Bauteil, das mit einer Stange,
wie zum Beispiel der Stange 225, verbunden ist, in einer
Position zum Drehen eines Drucklagers, wie zum Beispiel dem
Drucklager 615, angeordnet sein, und/oder um alternativ
einen Einsatz wie z. B. den Einsatz 530, zu drehen, der mit
dem Drucklager verbunden sein kann. Außerdem können andere
Mittel verwendet werden, um die oben beschriebene Drehbewe
gung zu ermöglichen. Beispielsweise kann die Stange 225
gedreht und nicht auf- und abbewegt werden, um die Rotation
der Arme 601 zu ermöglichen. Bei einer solchen Ausführungs
form kann die Stange 225 direkt oder über eine Führungs
schraube/Führungsmutter-Kombination mit den Armen 601 ver
bunden sein. Bei einer solchen Ausführungsform kann ein
Motor über einen Riemen mit der Stange 225 verbunden sein,
um die Drehbewegung zu ermöglichen. Jedoch ist eine Ausfüh
rungsform, in der eine Auf/Abbewegung in eine Drehbewegung
umgesetzt wird, oft einfacher zu realisieren. Obwohl der
Waferhalter bei dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel
offen ist, wenn die Stange in der oberen Position ist und
geschlossen ist, wenn die Stange in der unteren Position
ist, ist es klar, daß der Waferhalter offen sein kann, wenn
die Stange in der unteren Position ist, und geschlossen sein
kann, wenn die Stange in der oberen Position ist.
Claims (8)
1. Substrathalter mit
einem ersten und einem zweiten Arm (601), die jeweils mit einer eine geöffnete und eine geschlossene Position aufweisenden Substrathaltebaugruppe (211) verbunden sind, wobei die Substrathaltebaugruppen in der geschlossenen Position das Substrat halten; und
einem mit den Armen (601) verbundenes Armpositionierbau teil (530), das bewegbar ist, um den ersten und zweiten Arm zur Positionierung der Substrathaltebaugruppen (211) in die geöffnete und die geschlossene Position zu bewegen, wobei die Arme in einer Sperrstellung sind, wenn die Substrat haltebaugruppen in der geschlossenen Position sind.
einem ersten und einem zweiten Arm (601), die jeweils mit einer eine geöffnete und eine geschlossene Position aufweisenden Substrathaltebaugruppe (211) verbunden sind, wobei die Substrathaltebaugruppen in der geschlossenen Position das Substrat halten; und
einem mit den Armen (601) verbundenes Armpositionierbau teil (530), das bewegbar ist, um den ersten und zweiten Arm zur Positionierung der Substrathaltebaugruppen (211) in die geöffnete und die geschlossene Position zu bewegen, wobei die Arme in einer Sperrstellung sind, wenn die Substrat haltebaugruppen in der geschlossenen Position sind.
2. Substrathalter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Armpositionierbauteil (530) so drehbar ist, daß
die Rotation in eine laterale Bewegung der Arme (601) umge
setzt wird, wobei das Armpositionierbauteil einen Scheitel
punkt erreicht, wenn die Substrathaltebaugruppen (211) in
der geschlossenen Position sind und eine weitere Bewegung
der Arme verhindert wird, wenn das Armpositionierbauteil
eine Position auf oder hinter dem Scheitelpunkt erreicht.
3. Substrathalter nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der Substrathalter (200) mit
einer um eine Achse drehbaren Spindel (220) gekoppelt ist.
4. Substrathalter nach einem der Ansprüche 2 oder 3,
dadurch gekennzeichnet, daß außerdem eine Stange (225) mit
dem Armpositionierbauteil (530) verbunden ist, wobei eine
lineare Bewegung der Stange in die Drehbewegung des Armposi
tionierbauteils umgesetzt wird.
5. Substrathalter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich
net, daß die Stange (225) und das Armpositionierbauteil
(530) ein Schneckengewinde (405) oder eine Drallnut (535)
aufweisen, so daß eine lineare Bewegung der Stange in eine
erste Richtung das Armpositionierbauteil in eine erste Rich
tung dreht und eine lineare Bewegung der Stange in eine
zweite Richtung das Armpositionierbauteil in eine zweite
Richtung dreht, um das Armpositionierbauteil zur Positionie
rung der Substrathaltebaugruppen in die geöffnete oder die
geschlossene Position zu bewegen.
6. Substrathalter nach Anspruch 4 oder 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Stange (225) innerhalb der Spindel
(220) oder die Spindel (220) innerhalb der Stange (225)
angeordnet ist.
7. Substrathalter mit
einer um eine Achse drehbaren Spindel (220);
einer Stange (225), wobei entweder die Spindel in der Stange oder die Stange in der Spindel angeordnet ist;
einem mit der Stange verbundenen Armpositionierbauteil (530);
einem Arm (601), der an einer ersten Stelle mit dem Arm positionierbauteil und an einer zweiten Stelle mit einer Substrathaltebaugruppe (211) gekoppelt ist, wobei eine Dreh bewegung des Armpositionierbauteils die Substrathaltebau gruppe zwischen einer geöffneten und einer geschlossenen Position bewegt.
einer um eine Achse drehbaren Spindel (220);
einer Stange (225), wobei entweder die Spindel in der Stange oder die Stange in der Spindel angeordnet ist;
einem mit der Stange verbundenen Armpositionierbauteil (530);
einem Arm (601), der an einer ersten Stelle mit dem Arm positionierbauteil und an einer zweiten Stelle mit einer Substrathaltebaugruppe (211) gekoppelt ist, wobei eine Dreh bewegung des Armpositionierbauteils die Substrathaltebau gruppe zwischen einer geöffneten und einer geschlossenen Position bewegt.
8. Substrathalter nach Anspruch 7, dadurch gekennzeich
net, daß das Armpositionierbauteil (530) und die Stange
(225) ein Schneckengewinde (405) oder eine Drallnut (535)
aufweisen, um eine lineare Bewegung der Stange (225) in eine
Rotationsbewegung des Armpositionierbauteils (530) und die
Rotation des Armpositionierbauteils (530) in eine seitliche
Bewegung des Arms (601) zu übersetzen, wobei das Armpositio
nierbauteil (530) einen Scheitelpunkt erreicht, wenn die
Substrathaltebaugruppe (211) in der geschlossenen Position
ist und die weitere Bewegung des Armes verhindert wird, wenn
das Armpositionierbauteil eine Position auf oder hinter dem
Scheitel erreicht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/270,043 US5566466A (en) | 1994-07-01 | 1994-07-01 | Spindle assembly with improved wafer holder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19524025A1 DE19524025A1 (de) | 1996-01-04 |
DE19524025C2 true DE19524025C2 (de) | 2003-04-10 |
Family
ID=23029659
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19524025A Expired - Fee Related DE19524025C2 (de) | 1994-07-01 | 1995-06-30 | Spindelanordnungen mit Waferhalter |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5566466A (de) |
JP (1) | JP3683621B2 (de) |
DE (1) | DE19524025C2 (de) |
FR (1) | FR2724053B1 (de) |
Families Citing this family (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6003185A (en) * | 1994-07-15 | 1999-12-21 | Ontrak Systems, Inc. | Hesitation free roller |
WO1996042108A1 (fr) * | 1995-06-08 | 1996-12-27 | Kokusai Electric Co., Ltd. | Dispositif de transport de substrat |
JPH09213769A (ja) * | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | 半導体ウェハの搬送装置 |
US6273483B1 (en) * | 1996-03-28 | 2001-08-14 | Mcmaster University | Three orthogonal directions movable fingers for holding and/or manipulating a three-dimensional object |
US5775000A (en) * | 1996-05-13 | 1998-07-07 | Ebara Corporation | Substrate gripper device for spin drying |
US5851041A (en) * | 1996-06-26 | 1998-12-22 | Ontrak Systems, Inc. | Wafer holder with spindle assembly and wafer holder actuator |
US5803979A (en) * | 1996-07-15 | 1998-09-08 | Hine Design Inc. | Transport apparatus for semiconductor wafers |
US5862560A (en) * | 1996-08-29 | 1999-01-26 | Ontrak Systems, Inc. | Roller with treading and system including the same |
EP0837493B8 (de) * | 1996-10-21 | 2007-11-07 | Ebara Corporation | Reinigungsvorrichtung |
JP3831043B2 (ja) * | 1997-01-24 | 2006-10-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 回転処理装置 |
US6309163B1 (en) * | 1997-10-30 | 2001-10-30 | Applied Materials, Inc. | Wafer positioning device with storage capability |
JP3379632B2 (ja) * | 1997-12-02 | 2003-02-24 | 本田技研工業株式会社 | 把持装置 |
US6648120B2 (en) * | 1998-05-19 | 2003-11-18 | Ssd Control Technology, Inc. | Device for clamping and holding an elongated workpiece |
DE19825381B4 (de) * | 1998-05-28 | 2004-10-28 | Institut für Halbleiterphysik Frankfurt (Oder) GmbH | Verfahren zur Handhabung von Wafern großen Durchmessers während eines Temperprozesses |
US6273100B1 (en) | 1998-08-27 | 2001-08-14 | Micron Technology, Inc. | Surface cleaning apparatus and method |
US6217034B1 (en) * | 1998-09-24 | 2001-04-17 | Kla-Tencor Corporation | Edge handling wafer chuck |
US6212961B1 (en) * | 1999-02-11 | 2001-04-10 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Buffer system for a wafer handling system |
KR100303530B1 (ko) * | 1999-02-02 | 2001-09-13 | 윤종용 | 이송로봇용 핸드장치 |
US6167893B1 (en) * | 1999-02-09 | 2001-01-02 | Novellus Systems, Inc. | Dynamic chuck for semiconductor wafer or other substrate |
IL128925A (en) * | 1999-03-10 | 2004-03-28 | Nova Measuring Instr Ltd | Positioning assembly |
JP3245833B2 (ja) * | 1999-07-08 | 2002-01-15 | 日本エー・エス・エム株式会社 | 半導体基板アライナー装置および方法 |
JP2003511874A (ja) * | 1999-10-08 | 2003-03-25 | エーディーイー コーポレーション | 動的力を補償する遠心グリッパ機構 |
US6612014B1 (en) * | 2000-07-12 | 2003-09-02 | Applied Materials, Inc. | Dual post centrifugal wafer clip for spin rinse dry unit |
US6964276B2 (en) * | 2002-09-03 | 2005-11-15 | Nova Measuring Instruments Ltd. | Wafer monitoring system |
US6530157B1 (en) | 2001-09-04 | 2003-03-11 | Process Integration | Precise positioning device for workpieces |
US6824343B2 (en) * | 2002-02-22 | 2004-11-30 | Applied Materials, Inc. | Substrate support |
KR100481277B1 (ko) * | 2002-05-10 | 2005-04-07 | 한국디엔에스 주식회사 | 반도체 제조 장치 및 방법 |
US6932558B2 (en) * | 2002-07-03 | 2005-08-23 | Kung Chris Wu | Wafer aligner |
DE10258368B4 (de) * | 2002-12-12 | 2010-01-21 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Waferhalter |
JP4467367B2 (ja) * | 2004-06-22 | 2010-05-26 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板反転装置、基板搬送装置、基板処理装置、基板反転方法、基板搬送方法および基板処理方法 |
FR2872725B1 (fr) * | 2004-07-08 | 2007-09-28 | Comau Systemes France Sa | Dispositif simplifie de transfert rotatif |
KR100915509B1 (ko) * | 2005-06-13 | 2009-09-03 | 가부시키가이샤 야스카와덴키 | 얼라이너 장치 |
US8635784B2 (en) * | 2005-10-04 | 2014-01-28 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for drying a substrate |
KR100763009B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2007-10-17 | 재단법인 포항지능로봇연구소 | 관절장치 및 이를 이용한 로봇의 핸드장치 |
JP2008103544A (ja) * | 2006-10-19 | 2008-05-01 | Yaskawa Electric Corp | アライナー装置 |
DE102007010224B4 (de) * | 2007-02-28 | 2010-08-05 | Vistec Semiconductor Systems Jena Gmbh | Vorrichtung zum Haltern von scheibenförmigen Objekten |
US8573918B2 (en) * | 2009-08-26 | 2013-11-05 | Android Industries Llc | Dual mode end effector |
SG185838A1 (en) * | 2011-05-12 | 2012-12-28 | Semiconductor Technologies And Instr Pte Ltd | A component pane handler configured to handle component panes of multiple sizes |
US9421617B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-08-23 | Tel Nexx, Inc. | Substrate holder |
US8613474B2 (en) | 2011-07-06 | 2013-12-24 | Tel Nexx, Inc. | Substrate loader and unloader having a Bernoulli support |
JP6091060B2 (ja) * | 2011-12-02 | 2017-03-08 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | スピン処理装置 |
CN103586246B (zh) * | 2012-08-16 | 2016-03-23 | 沈阳芯源微电子设备有限公司 | 一种掩模板清洗机的夹持机构 |
CN203237742U (zh) * | 2012-11-28 | 2013-10-16 | 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 | 翻面机 |
TWI636518B (zh) * | 2013-04-23 | 2018-09-21 | 荏原製作所股份有限公司 | 基板處理裝置及處理基板之製造方法 |
CN104551993A (zh) * | 2015-01-20 | 2015-04-29 | 中信戴卡股份有限公司 | 一种毛刺机通用夹具 |
CA2994240A1 (en) * | 2015-07-30 | 2017-02-02 | Arkk Engineering | Robotic tire mounter |
US9887120B2 (en) * | 2015-11-03 | 2018-02-06 | Lam Research Ag | Apparatus for treating surfaces of wafer-shaped articles |
US10522381B2 (en) * | 2017-04-07 | 2019-12-31 | Applied Materials, Inc. | Aligner apparatus and methods |
US10811299B2 (en) | 2018-05-04 | 2020-10-20 | Lam Research Corporation | Wafer chuck assembly |
CN113241322B (zh) * | 2021-07-08 | 2021-11-16 | 杭州众硅电子科技有限公司 | 一种多工位夹取装置 |
CN114485108B (zh) * | 2021-12-31 | 2023-09-05 | 上海至纯洁净系统科技股份有限公司 | 一种基于自动配重的多晶圆旋转干燥系统及干燥方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4313266A (en) * | 1980-05-01 | 1982-02-02 | The Silicon Valley Group, Inc. | Method and apparatus for drying wafers |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4651440A (en) * | 1986-05-16 | 1987-03-24 | Eastman Kodak Company | Spin drying apparatus |
JPH02138737A (ja) * | 1987-08-31 | 1990-05-28 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体ウエハの枚葉式スピン乾燥装置 |
JP2869835B2 (ja) * | 1992-05-18 | 1999-03-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
-
1994
- 1994-07-01 US US08/270,043 patent/US5566466A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-30 FR FR9507910A patent/FR2724053B1/fr not_active Expired - Fee Related
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4313266A (en) * | 1980-05-01 | 1982-02-02 | The Silicon Valley Group, Inc. | Method and apparatus for drying wafers |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 02138737 A. In: Pat. Abstr. of Japan * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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JP3683621B2 (ja) | 2005-08-17 |
US5566466A (en) | 1996-10-22 |
FR2724053B1 (fr) | 1998-07-10 |
FR2724053A1 (fr) | 1996-03-01 |
DE19524025A1 (de) | 1996-01-04 |
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