DE19521712A1 - Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe - Google Patents
Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen GrößeInfo
- Publication number
- DE19521712A1 DE19521712A1 DE19521712A DE19521712A DE19521712A1 DE 19521712 A1 DE19521712 A1 DE 19521712A1 DE 19521712 A DE19521712 A DE 19521712A DE 19521712 A DE19521712 A DE 19521712A DE 19521712 A1 DE19521712 A1 DE 19521712A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- housing
- circuit board
- sensor chip
- wiring
- acceleration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P1/00—Details of instruments
- G01P1/02—Housings
- G01P1/023—Housings for acceleration measuring devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16152—Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16195—Flat cap [not enclosing an internal cavity]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19107—Disposition of discrete passive components off-chip wires
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pressure Sensors (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vor
richtung zum Erfassen einer physikalischen Größe, die mit
einem Sensorchip versehen ist, welcher der Wirkung einer
Kraft unterworfen ist und ein entsprechendes Signal aus
gibt. Die Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen
Größe in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung
kann beispielsweise in einer Vorrichtung eines Halbleiter
typs zum Erfassen einer Beschleunigung verwendet werden,
die einer Beschleunigung unterworfen ist und die aufge
brachte Beschleunigung durch Verschiebung eines auf einem
Siliziumsubstrat gebildeten Auslegers erfaßt.
Eine herkömmliche Struktur einer Vorrichtung zum Erfas
sen einer Beschleunigung ist in Fig. 13A und 13B darge
stellt.
Fig. 13A zeigt eine Seitenquerschnittsansicht der Vor
richtung; ein Gehäuse 100 mit einer Abdeckung 100a ist im
Innern mit einer Aushöhlung bzw. einem Hohlteil versehen.
Ein Sensorchip zur Erfassung einer Beschleunigung, eine
Verarbeitungsschaltung und ähnliches sind innerhalb der
Aushöhlung angeordnet. Das Gehäuse 100 besitzt eine Ab
deckung 100b zum Befestigen, welche Schrauben besitzt, und
ist mittels Schrauben 102 an einer Befestigungsplatte 103
befestigt. Die Befestigungsplatte 103 besitzt eine L-för
mige Gestalt und ist mittels einer Schraube 103a an einer
Schaltungsplatine 104 befestigt. Folglich ist das Gehäuse
im wesentlichen senkrecht zu der Schaltungsplatine 104 über
die Befestigungsplatte 103 mechanisch befestigt.
Des weiteren besitzt das Gehäuse einen Anschluß 101,
der mit einer in dem Inneren angeordneten elektrischen
Schaltung verbunden ist. Der Anschluß 101 ist mit einem
Ausgangsanschluß 105 verbunden, während der Ausgangsan
schluß 105 an die Schaltungsplatine 104 gelötet ist und
elektrisch mit einer Verdrahtungsleitung an die Schaltungs
platine 104 angeschlossen ist. Der Ausgangsanschluß 105 ist
durch ein Gußharzteil 106 positioniert und befestigt.
Fig. 13B zeigt eine Draufsichtstruktur des Gehäuses 100
mit abgetrennter Abdeckung 100a. Wie in Fig. 13B darge
stellt, ist eine aus Chipkomponenten wie einem Sensorchip
108, einem Prozessorchip, einem Widerstand und einem Kon
densator zusammengesetzte Verarbeitungsschaltung 109 auf
einem Keramiksubstrat 107 innerhalb des Gehäuses 100 gebil
det. Diese Verarbeitungsschaltung 109 erfaßt eine Verschie
bung infolge einer Beschleunigung des Sensorchips 108 und
gibt ein Beschleunigungssignal aus. Dieses Beschleunigungs
signal wird über den Anschluß 101 und den Ausgangsanschluß
105 einer (nicht dargestellten) ECU (Electrical Control
Unit) auf der Schaltungsplatine 104 zugeführt und dazu ver
wendet, einen Airbag oder ähnliches zu steuern.
Fig. 14 zeigt ein strukturelles Querschnittsschema des
oben erwähnten Gehäuses 100. Das Keramiksubstrat 107 ist
durch ein Klebemittel an einem Fuß 110 befestigt, und der
Sensorchip 108 und die Verarbeitungsschaltung 109 sind auf
diesem Keramiksubstrat 107 gebildet. Eine metallische Ab
deckung 100a ist durch Schweißen auf eine Vorderseite des
Fußes 100 installiert, wodurch eine Aushöhlung 111 luft
dicht abgeschlossen ist. Darüber hinaus ist eine metalli
sche Abdeckung 100b zum Zwecke der Befestigung durch
Schweißen an eine Rückseite installiert. Damit ist der Sen
soranordnung die Form gegeben.
Der Anschluß 101 und der Sensorchip 108 und die Verar
beitungsschaltung 109 sind durch Verbindungsleitungen 112
drahtgebondet und elektrisch mit der Außenseite verbunden.
Der Anschluß 101 ist hinsichtlich des Fußes 110 durch ein
Glas 113 mit niedrigem Schmelzpunkt hermetisch abgeschlos
sen, und die Abdeckung 100a ist an den Fuß 110 ange
schweißt, und das Gehäuse 100 ist im Inneren luftdicht ab
geschlossen.
Da die in Fig. 13A angezeigte Schaltungsplatine 104 auf
einer Ebene parallel zu einer Grundplatte einer Kabine für
Fahrzeuginsassen installiert ist, ist das Gehäuse über die
Befestigungsplatte 103 im wesentlichen senkrecht zu der
Schaltungsplatine 104 installiert, so daß der Sensorchip
108 im wesentlichen senkrecht bezüglich der Schaltungspla
tine 104 ausgerichtet ist.
Bei der herkömmlichen Vorrichtung zum Erfassen einer
Beschleunigung tritt die Schwierigkeit auf, daß es eine ho
he Anzahl von Komponenten gibt, die in ihrer Struktur groß
und komplex sind, und folglich ist die Anzahl von Herstellungsschritten
ebenso groß.
Da heißt bei der oben beschriebenen herkömmlichen
Struktur sind die Abdeckung 100a, der Fuß 110 und der An
schluß 101 luftdicht abgeschlossen. Des weiteren wird die
Anordnung der Befestigungsplatte 103, die im wesentlichen
senkrecht an der Schaltungsplatine 103 befestigt ist, eben
so wie die Abdeckung 100b zum Zwecke der Befestigung und
die Schraube 102 zum Festschrauben benötigt, um das Gehäuse
100 im wesentlichen senkrecht bezüglich der Schaltungspla
tine 104 anzuschließen. Darüber hinaus werden Durchgangslö
cher zum Löten für den Ausgangsanschluß 105 und die Schal
tungsplatine 104 benötigt, um die Schaltungsplatine 104 und
die Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung elek
trisch zu verbinden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine einfa
che und kompakte Vorrichtung zum Erfassen einer physikali
schen Größe wie eine Vorrichtung zum Erfassen einer Be
schleunigung zu schaffen.
Die Lösung der Aufgabe erfolgt durch die Merkmale der
unabhängigen Ansprüche.
Demgemäß ist in Übereinstimmung mit der vorliegenden
Erfindung eine Vorrichtung zum Erfassen einer physikali
schen Größe geschaffen, die ein Gehäuse aufweist, das an
einer Schaltungsplatine befestigt ist und eine Aushöhlung
besitzt, und einen Sensorchip, der innerhalb der Aushöhlung
installiert ist, um einer Kraft in einer Richtung senkrecht
oder parallel zu der Schaltungsplatine unterworfen zu wer
den, um ein elektrisches Signal entsprechend der Größe der
Kraft aus zugeben. Des weiteren weist die Vorrichtung zum
Erfassen einer elektrischen Größe folgende Merkmale bzw.
Komponenten auf: das Gehäuse besitzt eine ebene Endfläche
bzw. ein ebenes Vorderseitenende an einer äußeren Seite;
eine Verdrahtungs- bzw. Verbindungsleitungselektrode zum
Ausgeben des elektrischen Signals ist vorgesehen, um von
einer Wand der Aushöhlung bzw. des Hohlteils zu dem ebenen
Vorderseitenende gezogen zu werden, und durchdringt das Ge
häuse; die Verbindungsleitungselektrode besitzt ein Seiten
bondierungskontaktstellengebiet auf dem ebenen Vordersei
tenende; und das Flächenbondierungskontaktstellengebiet der
Verbindungsleitungselektrode ist elektrisch und mechanisch
mit der Verbindungsleitung- bzw. Verdrahtung an der Schal
tungsplatine verbunden, wenn das Gehäuse an der Schaltungs
platine befestigt ist.
Das Gehäuse kann wie folgt strukturiert sein: ein An
bringungsteil zum Tragen eines Chips, bei welchem ein Teil,
auf welchem der Sensorchip installiert ist, ist parallel
oder senkrecht zu dem Vorderseitenende ausgerichtet; und
eine Abdeckung ist an einer Installationsseite des Chips
bezüglich des Anbringteils installiert, wodurch die Aushöh
lung und ein luftdichter Abschluß der Aushöhlung gebildet
ist.
Das Gehäuse kann derart ausgebildet sein, daß eine
Mehrzahl von Isolierungssubstraten an einer diesbezüglichen
Anbringung bzw. einem Träger aufgeschichtet sind, um eine
entsprechende Gestalt zu bilden.
Zusätzlich kann das Flächenbondierungskontaktstellen
gebiet der an dem Vorderseitenende des Gehäuses vorgesehe
nen Verbindungsleitungselektrode und die Verbindungsleitung
der Schaltungsplatine unter Verwendung eines leitfähigen
Bondierungsmittels flächengebondet und elektrisch verbunden
werden.
Des weiteren ist es ebenso möglich, Verbindungsleitun
gen anstelle eines Flächenbondens zu verwenden, um das Flä
chenbondierungskontaktstellengebiet der Verbindungslei
tungselektrode mit der Verbindungsleitung bzw. Verdrahtung
der Schaltungsplatine elektrisch zu verbinden. In diesem
Fall wird bevorzugt, daß eine Verdrahtungsbondierungsober
fläche, d. h. die Oberflächen des Flächenbondierungskon
taktstellengebiets der Verbindungsleitungselektrode und die
Verbindungsleitung der Schaltungsplatine in einer im we
sentlichen identischen Ebene errichtet werden.
In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung ist
ein Sensorchip innerhalb einer Aushöhlung eines Gehäuses
installiert. Ein elektrisches Signal, das einen Verschie
bungszustand des Sensorchips anzeigt, wird an ein äußeres
Teil durch die Verdrahtungselektrode ausgegeben, die inner
halb des Gehäuses ebenso wie auf einem ebenen Vorderseiten
ende gebildet ist. Die Endfläche des Gehäuses ist elek
trisch und mechanisch mit einer Schaltungsplatine verbun
den, und das Gehäuse ist dabei im wesentlichen senkrecht
oder parallel zu der Schaltungsplatine ausgerichtet, und
das elektrische Signal wird der Schaltungsplatine ausgege
ben.
Da das Gehäuse mit dem ebenen Vorderseitenende elek
trisch und mechanisch mit der Schaltungsplatine verbunden
und daran befestigt werden kann, wird folglich eine bei der
herkömmlichen Erfassungsvorrichtung benötigte Befestigungs
platte nicht benötigt, und da die elektrischen und mechani
schen Verbindungen an einer Stelle gebildet sind, wird eine
Struktur erzielt, die im Vergleich zu derjenigen der her
kömmlichen Erfassungsvorrichtung einfach ist.
Die vorliegende Erfindung wird in der nachfolgenden Be
schreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert.
Fig. 1 zeigt eine strukturelle Querschnittsansicht, die
eine erste Ausführungsform in Übereinstimmung mit der vor
liegenden Erfindung darstellt;
Fig. 2A bis 2E zeigen eine Struktur des in Fig. 1
dargestellten Gehäusekörperteils 2, wobei Fig. 2A eine
obere Ansicht, Fig. 2B eine Vorderansicht, Fig. 2C eine Bo
denansicht, Fig. 2D eine Seitenansicht und Fig. 2E eine
Rückansicht zeigen;
Fig. 3A bis 3F stellen Verfahrensdiagramme dar, wel
che ein Herstellungsverfahren des Gehäusekörperteils 2 zei
gen;
Fig. 4 zeigt eine perspektivische Ansicht, welche sechs
Schichten eines Substrats anzeigt, wodurch das Gehäusekör
perteil 2 gebildet wird;
Fig. 5A bis 5E stellen Verfahrensdiagramme dar, wel
che ein anderes Herstellungsverfahren des Gehäusekörper
teils 2 anzeigen;
Fig. 6 zeigt eine strukturelle Querschnittsansicht,
welche eine zweite Ausführungsform in Übereinstimmung mit
der vorliegenden Erfindung darstellt;
Fig. 7 zeigt eine strukturelle Querschnittsansicht,
welche eine dritte Ausführungsform in Übereinstimmung mit
der vorliegenden Erfindung anzeigt;
Fig. 8 zeigt eine strukturelle Querschnittsansicht,
welche eine vierte Ausführungsform in Übereinstimmung mit
der vorliegenden Erfindung darstellt;
Fig. 9A bis 9D stellen Verfahrensdiagramme dar, wel
che ein Herstellungsverfahren des in Fig. 8 dargestellten
Gehäusekörperteils 2 anzeigen;
Fig. 10 zeigt eine strukturelle Querschnittsansicht,
welche eine fünfte Ausführungsform in Übereinstimmung mit
der vorliegenden Erfindung darstellt;
Fig. 11A und 11B zeigen strukturelle Querschnittsan
sichten, die eine sechste Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung darstellen, wobei Fig. 11A einen Zustand anzeigt,
bei welchem ein G-Sensor senkrecht an einer Schaltungspla
tine befestigt ist, und Fig. 11B zeigt einen Zustand an,
bei welchem der G-Sensor horizontal an der Schaltungspla
tine befestigt ist;
Fig. 12A bis 12E zeigen eine Struktur des in Fig.
11A und 11B dargestellten Gehäusekörperteils 2, wobei Fig.
12A eine obere Ansicht, Fig. 12B eine Vorderansicht, Fig.
12C eine Bodenansicht, Fig. 12D eine Seitenansicht und Fig.
12E eine Rückansicht zeigen;
Fig. 13A und 13B zeigen eine herkömmliche Struktur
einer Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung, wobei
Fig. 13A eine Querschnittsseitenansicht und Fig. 13B eine
Grundrißansicht eines Gehäuses 100 mit entfernter Abdeckung
100a zeigen; und
Fig. 14 zeigt eine schematische Querschnittsansicht des
in Fig. 13A dargestellten Gehäuses 100.
Im folgenden wird eine erste Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine strukturelle Querschnittsseitenan
sicht eines Beschleunigungssensors (hiernach "G-Sensor" be
zeichnet) 1 einer Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleu
nigung.
Der G-Sensor 1 umfaßt ein Gehäusekörperteil 2, einen
Sensorchip 3, eine Abdeckung 4 und dergleichen, wie in Fig.
1 dargestellt, und ist senkrecht an einer Schaltungsplatine
10 angebracht. Das Gehäusekörperteil 2 und die Abdeckung 4
bilden ein Gehäuse. Auf der Schaltungsplatine 10 sind ande
re (nicht dargestellte) Schaltungselemente angebracht.
Das Gehäusekörperteil 2 besitzt eine kastenförmige Ge
stalt mit einer Aushöhlung, die durch Aufeinanderschichten
einer Mehrzahl von Schichten eines Isolatorsubstrats aus
Keramik, Glas oder dergleichen gebildet ist, und besitzt
eine Aushöhlung bzw. ein Hohlteil 5, um den Sensorchip 3
und dergleichen aufzunehmen. Die Aushöhlung 5 ist durch
Bonden und Befestigen der aus keramischem Material gebilde
ten Abdeckung 4 auf dem bzw. an dem Gehäusekörperteil 2
durch ein Lötmetall, ein Glas mit niedrigem Schmelzpunkt,
ein Klebemittel oder dergleichen luftdicht verschlossen.
Die Abdeckung 4 ist vorgesehen, um den Sensorchip 3 vor
Wasserdampf und dergleichen von außen zu schützen. Die Ab
deckung kann ebenso aus einem Isolator wie Glas oder aus
Metall anstelle des keramischen Materials gebildet sein.
Der Sensorchip 3 ist auf eine innere Oberfläche des Ge
häusekörperteils 2 durch ein Chipbondierungsmittel 6 gebon
det bzw. daran befestigt. Der Sensorchip 3 besitzt einen
Ausleger, der aus einem Gewicht 3a und einem dünnen Teil 3b
zusammengesetzt ist, das aus einem monokristallinen Silizi
umsubstrat gebildet ist, und die Verschiebung des Gewichts
3a wird durch eine Spannungslehre erfaßt, die an dem dünnen
Teil 3b angeordnet ist. Die Spannungslehre ist als bekannte
Brückenstruktur gebildet, und eine Beschleunigungserfassung
wird von der Verarbeitungsschaltung durchgeführt. Die Ver
arbeitungsschaltung ist in Fig. 1 nicht dargestellt, sie
ist jedoch auf einer Oberfläche des Gehäusekörperteils 2
gebildet, auf welchem der Sensorchip 3 gebildet ist.
Darüber hinaus sind Verbindungsleitungen 8 und 9 zum
externen elektrischen Anschließen an einer inneren und ei
ner äußeren Wand des Gehäusekörperteils 2 gebildet. Die
Leitung 8 ist elektrisch durch Verdrahtungsbonden unter
Verwendung einer Verbindungsleitung 7 oder Aluminium, Gold
oder dergleichen, an Verdrahtungsausgangskontaktstellen an
geschlossen, die jeweils an dem Sensorchip 3 und der (nicht
dargestellten) Verarbeitungsschaltung angeordnet sind, und
ist durch das Innere des Gehäusekörperteils 2 an die Ver
bindungs- bzw. Verdrahtungsleitung 9, die an dem Vordersei
tenende gebildet ist, die obere Oberfläche und die untere
Oberfläche des Gehäusekörperteils 2 angeschlossen. Es ist
ebenso annehmbar, die Verbindungs- bzw. Verdrahtungsleitung
8 durch Bilden von Durchgangslöchern innerhalb des
Substrats wie in der in Fig. 7 gezeigten Ausführungsform
dargestellt bereitzustellen, was später beschrieben wird.
Auf der Schaltungsplatine 10 sind der G-Sensor 1 und
(nicht dargestellte) Schaltungselemente, welche eine ECU
und dergleichen bilden, gleichzeitig durch Aufschmelzlöten
unter Verwendung eines Bondierungsmittels 12 wie ein Lötme
tall, eine Silberpaste oder dergleichen angebracht. Hierbei
sind die Verdrahtungsleitung 9, welche auf dem Gehäusekör
perteil 2 ausgebildet ist, und eine Verdrahtung 11 (eine
mit den oben genannten Schaltungselementen verbundene
Schaltungsverdrahtung), die auf der Schaltungsplatine 10
gebildet ist, elektrisch über das Bondierungsmittel 12 der
art miteinander verbunden, so daß der G-Sensor 1 mit der
Vorderseite nach unten gebondet und im wesentlichen senk
recht zu der Schaltungsplatine 10 befestigt ist. Folglich
ist der G-Sensor 1 durch das Bondierungsmittel 12 elek
trisch und mechanisch mit der Schaltungsplatine 10 verbun
den.
Entsprechend der oben beschriebenen Struktur kann der
G-Sensor 1 im wesentlichen senkrecht zu der Schaltungspla
tine 10 angebracht werden.
Des weiteren unterscheidet sich die oben erwähnte Aus
führungsform von einer herkömmlichen Vorrichtung in der
Strukturierung des Gehäusekörperteils 2 und der Abdeckung 4
aus keramischem Material oder dergleichen. In dem Fall ei
ner derartigen Struktur können sogar angemessene Rauschge
genmaßnahmen durch Bereitstellen eines Verstärkers zur
Rauschunterdrückung in der Verarbeitungsschaltung innerhalb
des G-Sensors 1 und ebenso durch Bereitstellen eines Rand
filters in einer Schaltung auf der Seite der Schaltungspla
tine 10 durchgeführt werden.
Fig. 2A bis 2E zeigen die Struktur des Gehäusekör
perteils 2 an. Fig. 2A bis 2E zeigen jeweils die obere
Oberfläche, die vordere Oberfläche, die untere Oberfläche,
die Seitenoberfläche und die Rückseitenoberfläche des Ge
häusekörperteils 2 an. Wie in diesen Figuren dargestellt,
ist das Hohlteil 5 in dem Gehäusekörperteil 2 gebildet, und
der Sensorchip 3 und dergleichen sind auf einer Oberfläche
A dieses Hohlteils gebildet.
Darüber hinaus ist innerhalb des Gehäusekörperteils 2
eine Verdrahtungsleitung 8 gebildet, und eine Verdrahtungs
leitung 9 ist auf der in Fig. 2A angezeigten oberen Ober
fläche des Gehäuseteils 2 gebildet (das Vorderseitenende
der Vorrichtung in Übereinstimmung mit der Erfindung wird
hiernach mit "Oberfläche B" bezeichnet) und auf der vorde
ren Oberfläche und einem Teil der Rückseitenoberfläche. Die
Seite der Oberfläche B ist über das Bondierungsmittel 12
mit der Schaltungsplatine 10 verbunden, und die Verdrah
tungsleitung 9 ist elektrisch mit der Verdrahtung 11 auf
der Schaltungsplatine 10 verbunden.
Das Gehäusekörperteil 2 ist durch Laminieren bzw. Auf
schichten von Substraten gebildet, die sich einer Lochung
unterzogen haben. Ein diesbezügliches Herstellungsverfahren
wird später unter Bezugnahme auf Fig. 3A bis 3F be
schrieben.
Sechs Substratschichten, die aus einem Isolator aus Ke
ramik, Glas oder dergleichen zusammengesetzt sind, werden
bereitgestellt (die Anzahl von Laminierungen ist durch die
Größe des Gehäuses, den Umfang der Schaltung usw. be
stimmt), und es wird bezüglich der oberen drei Schichten
wie in Fig. 3A gezeigt eine Lochung durchgeführt. Bezüglich
dieser drei Substratschichten wird, wie in Fig. 3A darge
stellt, bezüglich jeder Schicht eine Vielzahl von Lochstan
zungen durchgeführt, um gleichzeitig eine Vielzahl von Ge
häusekörperteilen zu bilden.
Wie in Fig. 3B dargestellt, wird demgemäß eine Leiter
paste 13 auf vorbestimmte Stellen gedruckt, und diese wird
geschichtet und komprimiert (Fig. 3C). Als nächstes wird
ein Schneiden mit einer Schneidevorrichtung oder ähnlichem
wie in Fig. 3D dargestellt durchgeführt. Dieses Schneiden
wird in die vertikale Richtung von Fig. 4 durchgeführt,
d. h. in die durch die gestrichelten Linien von Fig. 4 ange
zeigte Richtung.
Wie in Fig. 3E dargestellt, wird danach eine Leiterpa
ste 14 auf die Seitenoberfläche, welche zu der Oberfläche B
wird, gedruckt, um mit der vorher gebildeten Leiterpaste 13
verbunden zu werden. Danach wird ein Einbrennen durchge
führt, es wird ein Überziehen mit Kupfer oder Nickel oder
Gold durchgeführt (Fig. 3F), es wird ein Schneiden in die
horizontale Richtung mit einer Schneidevorrichtung oder
ähnlichem durchgeführt, und es wird ein Gehäusekörperteil 2
gebildet.
Die Leiterpasten 13 und 14 dienen der Bildung der Ver
drahtungsleitungen 8 und 9.
Der Sensorchip 3 und dergleichen werden innerhalb des
Hohlteils 5 auf das Gehäusekörperteil 2 gebondet und daran
befestigt, und die Abdeckung 4 wird auf die Vorderseiten
oberfläche des Gehäusekörperteils 2 gebondet und daran be
festigt. Wie in Fig. 1 dargestellt, wird danach das Vorder
seitenende des Gehäusekörperteils 2 mit der Vorderseite
nach unten gebondet, um im wesentlichen senkrecht zu der
Schaltungsplatine 10 durch das Bondierungsmittel 12 befe
stigt zu sein.
Der Grad der senkrechten Ausrichtung des G-Sensors 1
und der Schaltungsplatine wird durch die Größengenauigkeit
des Gehäusekörperteils 2 bestimmt. Der Grad der Paralleli
tät der Oberfläche A kann auf 0,5° oder darunter bestimmt
werden. Der Grad der senkrechten Ausrichtung der Oberfläche
B wird durch die Genauigkeit der Schneidevorrichtung oder
dergleichen bestimmt, welche die Oberfläche B abtrennt, und
kann mit einer Präzision von 0,5° oder weniger maschinell
erzielt werden. Folglich kann der G-Sensor 1 im wesentlichen
senkrecht zu der Schaltungsplatine mit einer Gesamt
verkippung von 1° oder weniger befestigt werden.
In Übereinstimmung mit der oben dargestellten Ausfüh
rungsform wird nach dem Schneiden der aufgeschichteten
Substrate auf das Vorderseitenende eine Leiterpaste 14 ge
druckt, wie in Fig. 3D und 3E dargestellt, es ist jedoch
ebenso akzeptabel, vorher die Leiterpaste unter Verwendung
von Durchgangslöchern derart zu bilden, so daß in demselben
Schritt ein Vertikal- und Horizontalsubstratschneiden
durchgeführt werden kann.
Damit sind, wie in Fig. 5A dargestellt, Durchgangslö
cher 15 in den jeweiligen Substraten durch ein Substratlo
chen gebildet, und in dem in Fig. 5B dargestellten Schritt
werden die Durchgangslöcher 15 mit Leiterpaste gefüllt, wo
bei gleichzeitig ein Drucken der Leiterpaste 13 auf das
Substrat ähnlich wie bei Fig. 3B durchgeführt wird.
Wie in Fig. 5C dargestellt, werden danach die jeweili
gen Substrate aufgeschichtet und komprimiert und zusammen
eingebrannt, und danach wird ein Überziehen durchgeführt,
wie in Fig. 5D dargestellt. Danach wird mit einer Schneide
vorrichtung oder ähnlichem ein Schneiden durchgeführt, wie
in Fig. 5E dargestellt. Das Schneiden wird in die vertikale
Richtung (die durch gestrichelte Linien in Fig. 4 dar
stellte Richtung) ebenso wie in die horizontale Richtung
durchgeführt.
Da die Verdrahtungsleitung 9 mit Durchgangslöchern ver
sehen ist, können in demselben Schritt das vertikale und
horizontale Schneiden durchgeführt werden, und es kann in
einem Vorgang eine große Anzahl von Gehäusekörperteilen 2
hergestellt werden.
Im folgenden wird eine zweite Ausführungsform in Über
einstimmung mit der vorliegenden Erfindung dargestellt.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung wird die Struk
tur des Gehäuses in Bezug auf die eben erwähnte erste Aus
führungsform modifiziert. Entsprechend mit der vorliegenden
Ausführungsform wird wie in Fig. 6 dargestellt ein Substrat
21 einer ebenen Konfiguration verwendet, und eine Aushöh
lung bzw. ein Hohlteil existiert an einer Seite einer Ab
deckung 41. Die Abdeckung 41 ist ein metallischer Gegen
stand mit einer Aushöhlung und ist auf eine Oberflächensei
te des Substrats 21 gebondet und daran befestigt. Dadurch
ist das Hohlteil 5, das den Sensorchip 3 aufnimmt, gebil
det, und dadurch ist das Innere des Hohlteils 5 luftdicht
abgeschlossen. Darüber hinaus kann die Dicke in Richtung
der Breite durch die Abdeckung 41 der Aushöhlungsform ver
größert werden, und die Stabilität kann durch Bonden auf
die Schaltungsplatine 10 verbessert werden.
In Übereinstimmung mit der vorliegenden Ausführungs
form ist in dem Substrat 21 ein Durchgangsloch gebildet,
und es ist in diesem Durchgangsloch eine Verdrahtungslei
tung 81 gebildet, um mit der auf dem Vorderseitenende ge
bildeten Verdrahtungsleitung 9 verbunden zu sein.
Darüber hinaus kann die Abdeckung 41 ebenso aus Kera
mik, Glas oder dergleichen anstatt aus Metall gebildet
sein.
Im folgenden wird eine dritte Ausführungsform in Über
einstimmung mit der vorliegenden Erfindung dargestellt.
Die vorliegende Ausführungsform verwendet eine metalli
sche L-förmige Abdeckung 42, wie in Fig. 7 dargestellt.
Durch Verwendung dieser Abdeckung 42 der L-förmigen Struk
tur kann die Stabilität des G-Sensors 1 durch Befestigung
auf einer Schaltungsplatine 10 verbessert werden, und als
Ergebnis kann die Dicke des Gehäusekörperteils 2 verringert
werden.
Das Gehäusekörperteil 2 wird ähnlich wie bei der ersten
Ausführungsform durch Aufschichten einer Mehrzahl von Iso
latorsubstraten gebildet. Eine Verdrahtungsleitung 82 wird
durch ein Durchgangsloch innerhalb des Gehäusekörperteils 2
gebildet, und die Verdrahtungsleitung 82 wird mit der auf
dem Vorderseitenende gebildeten Verdrahtungsleitung 9 ver
bunden.
Die L-förmige Abdeckung 42 kann ebenso aus Keramik,
Glas oder dergleichen anstelle aus Metall gebildet sein.
Im folgenden wird eine vierte Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung dargestellt.
Wie in Fig. 8 dargestellt, wird die vorliegende Ausfüh
rungsform durch Gußharz ohne Verwendung eines aufgeschich
teten Substrats in einem Gehäusekörperteil 2 gebildet. Ein
Flüssigkristallpolymer oder dergleichen mit einem kleinen
Verhältnis der Feuchtigkeit zu der Permeabilität kann als
das Harz verwendet werden. Darüber hinaus wird eine Ab
deckung 43 ebenso aus Harz unter Berücksichtigung des ther
mischen Ausdehnungskoeffizienten mit einem Harzgehäusekör
perteil 22 gebildet.
Ein Herstellungsverfahren des Harzgehäusekörperteils 22
ist in Fig. 9A bis 9D dargestellt. Nachdem das Harz un
ter Verwendung eines Flüssigkristallpolymers wie in Fig. 9A
dargestellt und durch Einfügung gegossen bzw. geformt ist,
wird ein Durchgangsloch 16 gebildet. Über die gesamten
Oberflächen dieses gegossenen Harzes wird ein Überziehen
mit Kupfer, Nickel oder Gold durchgeführt, wie es in Fig.
9B dargestellt ist, und danach wird, wie in Fig. 9C darge
stellt, auf allen Oberflächen ein Fotolack gebildet und da
nach strukturiert. Schließlich wird, wie in Fig. 9D darge
stellt, ein Ätzen durchgeführt, um eine Verdrahtungsstruk
tur 91 der gewünschten Gestalt zu erzielen.
Um die Luftdichtigkeit innerhalb des Hohlteils 5 bezüg
lich der Bildung des Durchgangslochs 16 zu erhöhen, wird
darüber hinaus ein Bondierungsmittel 17 innerhalb des
Durchgangslochs 16 angeordnet, um eine luftdichte Versiege
lung durchzuführen.
Darüber hinaus kann die Abdeckung 43 ebenso aus Metall
anstelle aus Harz gebildet werden, wenn der thermische Aus
dehnungskoeffizient nahe demjenigen des Gehäusekörperteils
22 liegt.
Im folgenden wird eine fünfte Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung dargestellt.
Die vorliegende Ausführungsform verwendet ein Harzge
häuse 18, in welchem eine Stufe zum Bonden des G-Sensors 1
auf einen unteren Stufenteil des Gehäuses und zum Befesti
gen daran vorgesehen ist, wie in Fig. 10 dargestellt ist.
Darüber hinaus wird die Schaltungsplatine 10 an einem obe
ren Stufenteil des Harzgehäuses 18 befestigt.
Für den G-Sensor 1 sind Verdrahtungsleitungen 83 und 92
auf einer oberen Seiten davon gebildet, und der G-Sensor
ist elektrisch mit der Schaltungsplatine 10 durch Verdrah
tungsbonden mit einer Verdrahtung 19 verbunden.
Durch Bildung auf diese Weise können der G-Sensor 1 und
die Schaltungsplatine 10 in einer im wesentlichen identi
schen Ebene gebildet werden.
Bezüglich der dritten bis fünften Ausführungsformen
wurde oben eine aus Metall, Harz oder dergleichen gebildete
Abdeckung beschrieben, es ist jedoch ebenso eine Bildung
aus Keramik oder dergleichen möglich.
Im folgenden wird eine sechste Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung dargestellt.
Fig. 11A und 11B zeigen strukturelle Querschnitts
seitenansichten eines G-Sensors 1 der vorliegenden Ausfüh
rungsform an.
Der G-Sensor 1 wird von einem Gehäusekörperteil 2, ei
nem Chipsensor 3, einer Abdeckung 4 und dergleichen gebil
det, wie in Fig. 11A oder 11B dargestellt, und ist senk
recht oder horizontal zu der Schaltungsplatine 10 ange
bracht. Auf der Schaltungsplatine sind andere Schaltungs
elemente a und b angebracht.
Auf der Schaltungsplatine 10 sind der G-Sensor 1 und
Schaltungselemente a und b, die eine ECU und dergleichen
bilden, gleichzeitig durch Aufschmelzlöten eines Bondie
rungsmittels 12 wie ein Lötmetall, eine Silberpaste oder
dergleichen angebracht. Hierbei sind die auf dem Gehäuse
körperteil 2 gebildeten Verdrahtungsleitungen 93, 94 oder
95 und die auf der Schaltungsplatine 10 gebildete Verdrah
tung 11 (die Schaltungsverdrahtung, die mit den oben er
wähnten Schaltungselementen a und b verbunden ist) über das
Bondierungsmittel 12 derart miteinander verbunden, so daß
der G-Sensor 1 mit der Vorderseite nach unten auf die
Schaltungsplatine 10 gebondet ist. Folglich wird der G-Sen
sor 1 durch das Bondierungsmittel 12 elektrisch und mecha
nisch mit der Schaltungsplatine 10 verbunden.
Wenn die Schaltungsplatine 10 mitsamt dem angebrachten
G-Sensor 1 in einer Ebene parallel zu der Grundplatte einer
Fahrzeuginsassenkabine installiert wird wie bei den oben
beschriebenen verschiedenen Ausführungsformen, wird der G-Sensor
in Übereinstimmung mit der vorliegenden Ausführungs
form senkrecht an der Schaltungsplatine 10 befestigt, wie
in Fig. 11A dargestellt. Andererseits wird in einem Fall,
bei welchem die mit dem G-Sensor 1 versehene Schaltungspla
tine innerhalb eines Steuerrades installiert ist, erfor
dert, daß der G-Sensor 1 in einer horizontalen Richtung an
der Schaltungsplatine 10 befestigt wird.
Diesbezüglich kann in Übereinstimmung mit der vorlie
genden Ausführungsform der G-Sensor 1 nicht nur senkrecht
sondern ebenso horizontal an der Schaltungsplatine 10 befe
stigt werden, wodurch der Freiheitsgrad bezüglich der In
stallierung des G-Sensors 1 sich vergrößert.
Aus diesem Grund sind, wie in Fig. 11A und 11B dar
gestellt, die Verdrahtungsleitungen 93 bis 95 an einer äu
ßeren Umfangsoberfläche des Gehäusekörperteils 2 gebildet
und elektrisch mit der Verdrahtung 11 an der Schaltungspla
tine 10 durch die Verdrahtungsleitung 93 verbunden. Da die
Verdrahtungsleitung 93 auf einer oberen Oberfläche gebildet
ist (d. h. auf der Grundoberfläche in dem Installationszu
stand von Fig. 11A) und der unteren Oberfläche des Gehäuse
körperteils 2, können in diesem Fall die Verdrahtungslei
tung 93 und die Verdrahtung 11 auf der Schaltungsplatine 10
elektrisch verbunden werden, ob sie entweder senkrecht oder
horizontal an der Schaltungsplatine 10 befestigt sind, wie
jeweils in Fig. 11A bzw. 11B dargestellt.
Des weiteren ist in Übereinstimmung mit der vorliegen
den Ausführungsform ein Durchgangsloch innerhalb des Gehäu
sekörperteils 2 gebildet, und es ist eine Verdrahtungslei
tung 84 gebildet. In anderer Hinsicht ist die Struktur ähn
lich wie diejenige der ersten Ausführungsform.
Fig. 12A bis 12E zeigen eine Struktur des Gehäuse
körperteils 2 in Übereinstimmung mit der vorliegenden Aus
führungsform. Fig. 12A bis 12E zeigen jeweils die obere
Oberfläche, die vordere Oberfläche, die untere Oberfläche,
die Seitenoberfläche und die Rückseitenoberfläche des Ge
häusekörperteils 2. Wie in diesen Figuren dargestellt, sind
die Verdrahtungsleitungen 94 und 95 getrennt von der Ver
drahtungsleitung 93 gebildet. Die Verdrahtungsleitungen 93
bis 95 können ohne Abtrennung gebildet sein, jedoch wird
eine Abtrennung dieser Verdrahtungen unter Berücksichtigung
der Haltbarkeit des Bondierungsmittels 12 bevorzugt.
Darüber hinaus werden die Verdrahtungsleitungen 94 und
95 zu einer Ersatz- bzw. Dummiverdrahtung ohne Beziehung
zur Signalübertragung, es ist jedoch sogar diesbezüglich
annehmbar, die Verdrahtungsleitung 84 und dergleichen als
Signalverdrahtung vorzusehen.
Darüber hinaus ist in Übereinstimmung mit den oben dar
gestellten verschiedenen Ausführungsformen die Prozessor
schaltung nicht ausschließlich auf einer Oberfläche iden
tisch zu dem Sensorchip 3 innerhalb des Gehäusekörperteils
2 gebildet, es ist jedoch annehmbar, daß sie integriert mit
dem Sensorchip 3 gebildet ist oder an einer äußeren Um
fangsoberfläche des Gehäusekörperteils 2 vorgesehen ist.
Darüber hinaus ist es annehmbar, daß Signale von dem Sen
sorchip 3 empfangen werden und eine Signalverarbeitung auf
der Seite der Schaltungsplatine 10 durchgeführt wird. In
einem dieser Fälle bedeutet das elektrische Signal, welches
extern von dem Gehäusekörperteil 2 ausgegeben wird, ein
elektrisches Signal, das einen Zustand der Verschiebung ei
nes Sensorchips der vorliegenden Erfindung anzeigt.
Bei den oben erwähnten Ausführungsformen wurde eine
Verwendung eines Beschleunigungssensors eines Spannungsleh
rentyps unter Verwendung von monokristallinem Silizium be
schrieben, es ist jedoch darüber hinaus eine Anwendung in
einem Beschleunigungssensor eines Dünnschichtkondensator
typs oder dergleichen unter Verwendung von polykristallinem
Silizium usw. ebenso möglich.
Des weiteren wird eine Anwendung der vorliegenden Er
findung einer Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung
beschrieben, es ist jedoch ebenso eine Anwendung in einer
anderen Erfassungsvorrichtung möglich, in welchem ein Ge
häuse im wesentlichen senkrecht an einer Schaltungsplatine
befestigt ist und ein Sensorchip in dem Gehäuse angeordnet
ist, um eine Kraft in einer Richtung parallel zu der Schal
tungsplatine zu erfassen, beispielsweise eine Anwendung in
einem Drucksensor zum Erfassen eines Druckes.
Vorstehend ist eine Vorrichtung zum Erfassen einer phy
sikalischen Größe offenbart. Insbesondere ist eine Vorrich
tung zum Erfassen einer Beschleunigung offenbart, die ein
fach hergestellt werden kann und eine kompakte Struktur be
sitzt. Eine Abdeckung ist an einem Gehäusekörperteil in
stalliert, um ein Hohlteil zu bilden, und ein Sensorchip,
der einer Beschleunigung unterworfen und verschoben wird,
ist auf das Hohlteil gebondet und innerhalb dessen befe
stigt. Das Gehäusekörperteil besitzt ein ebenes Vordersei
tenende, und es sind elektrische Verdrahtungsleitungen an
dem Vorderseitenende über dem Inneren des Gehäusekörper
teils gebildet und elektrisch mit dem Sensorchip verbunden.
Das Vorderseitenende ist elektrisch und mechanisch durch
ein Bondierungsmittel mit einer Schaltungsplatine verbun
den, und das Gehäusekörperteil ist an der Schaltungsplatine
im wesentlichen senkrecht befestigt.
Claims (15)
1. Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe
mit:
einem Gehäuse (2, 21, 22, 4, 41, 42 und 43), welches an einer Schaltungsplatine (10) befestigt wird und ein Hohlteil (5) aufweist;
einem Sensorchip (3), der innerhalb des Hohlteils in stalliert wird, wobei der Sensorchip einer Kraft in einer Richtung senkrecht oder parallel zu der Schaltungsplatine unterworfen wird und ein elektrisches Signal in Überein stimmung mit der Größe der Kraft ausgibt;
dadurch gekennzeichnet, daß
das Gehäuse ein ebenes Vorderseitenende (B) an einer äußeren Seite davon aufweist;
eine Verdrahtungselektrode (8, 9) zum Ausgeben des elektrischen Signals vorgesehen ist, die von einer Wand des Hohlteils zu dem ebenen Vorderseitenende gezogen ist und das Gehäuse durchdringt, wobei die Verdrahtungselektrode ein Vorderseitenbondierungskontaktstellengebiet (9, 91, 92, 93, 94, 95) auf dem ebenen Vorderseitenende aufweist; und
das Vorderseitenbondierungskontaktstellengebiet der Verdrahtungselektrode elektrisch und mechanisch mit der Verdrahtung (11) an der Schaltungsplatine verbunden ist, wenn das Gehäuse an der Schaltungsplatine befestigt ist.
einem Gehäuse (2, 21, 22, 4, 41, 42 und 43), welches an einer Schaltungsplatine (10) befestigt wird und ein Hohlteil (5) aufweist;
einem Sensorchip (3), der innerhalb des Hohlteils in stalliert wird, wobei der Sensorchip einer Kraft in einer Richtung senkrecht oder parallel zu der Schaltungsplatine unterworfen wird und ein elektrisches Signal in Überein stimmung mit der Größe der Kraft ausgibt;
dadurch gekennzeichnet, daß
das Gehäuse ein ebenes Vorderseitenende (B) an einer äußeren Seite davon aufweist;
eine Verdrahtungselektrode (8, 9) zum Ausgeben des elektrischen Signals vorgesehen ist, die von einer Wand des Hohlteils zu dem ebenen Vorderseitenende gezogen ist und das Gehäuse durchdringt, wobei die Verdrahtungselektrode ein Vorderseitenbondierungskontaktstellengebiet (9, 91, 92, 93, 94, 95) auf dem ebenen Vorderseitenende aufweist; und
das Vorderseitenbondierungskontaktstellengebiet der Verdrahtungselektrode elektrisch und mechanisch mit der Verdrahtung (11) an der Schaltungsplatine verbunden ist, wenn das Gehäuse an der Schaltungsplatine befestigt ist.
2. Vorrichtung zum Erfassen einer elektrischen Größe nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse
ein Anbringungsteil (2, 21, 22) zum Zwecke des Chip
haltens aufweist, wobei ein Teil, auf welchem der Sen
sorchip installiert ist, parallel oder senkrecht zu dem
ebenen Vorderseitenende angeordnet ist; und
eine Abdeckung (4, 41, 42, 43) aufweist, die an einer Installationsseite des Sensorchips bezüglich des Anbrin gungsteils installiert ist und das Hohlteil mit dem Anbrin gungsteil und einem luftdichten Abschluß des Hohlteils bil det.
eine Abdeckung (4, 41, 42, 43) aufweist, die an einer Installationsseite des Sensorchips bezüglich des Anbrin gungsteils installiert ist und das Hohlteil mit dem Anbrin gungsteil und einem luftdichten Abschluß des Hohlteils bil det.
3. Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe
nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Anbrin
gungsteil des Gehäuses eine Mehrzahl von Isolierungs
substraten enthält, die zur Bildung einer entsprechenden
Konfiguration aufgeschichtet sind.
4. Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe
nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die an dem
ebenen Vorderseitenende des Gehäuses vorgesehene Verdrah
tungselektrode auf die Verdrahtung der Schaltungsplatine
mit einem leitfähigen Bondierungsmittel gebondet ist.
5. Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe
mit:
einem Gehäuse, das an einer Schaltungsplatine befe stigt ist und ein Hohlteil aufweist, wobei das Gehäuse eine erste äußere Wand und eine zweite äußere Wand aufweist;
einem Sensorchip, der innerhalb des Hohlteils instal liert ist, wobei der Sensorchip einer Kraft in Richtung parallel oder senkrecht zu der Schaltungsplatine unterwor fen ist und ein elektrisches Signal entsprechend der Kraft ausgibt; und
einer Verdrahtungseinrichtung zum Ausgeben des elek trischen Signals, welche ein Kontaktstellengebiet aufweist, das sich auf den ersten und zweiten äußeren Wänden erstrec kend gebildet ist, wobei das auf der ersten oder zweiten äußeren Wand vorgesehene Kontaktstellengebiet elektrisch und mechanisch mit der Schaltungsplatine verbunden ist und das Gehäuse an der Schaltungsplatine befestigt ist.
einem Gehäuse, das an einer Schaltungsplatine befe stigt ist und ein Hohlteil aufweist, wobei das Gehäuse eine erste äußere Wand und eine zweite äußere Wand aufweist;
einem Sensorchip, der innerhalb des Hohlteils instal liert ist, wobei der Sensorchip einer Kraft in Richtung parallel oder senkrecht zu der Schaltungsplatine unterwor fen ist und ein elektrisches Signal entsprechend der Kraft ausgibt; und
einer Verdrahtungseinrichtung zum Ausgeben des elek trischen Signals, welche ein Kontaktstellengebiet aufweist, das sich auf den ersten und zweiten äußeren Wänden erstrec kend gebildet ist, wobei das auf der ersten oder zweiten äußeren Wand vorgesehene Kontaktstellengebiet elektrisch und mechanisch mit der Schaltungsplatine verbunden ist und das Gehäuse an der Schaltungsplatine befestigt ist.
6. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung mit:
einem Gehäuse einer Konfiguration, die im Inneren ein Hohlteil aufweist und ein ebenes Vorderseitenende besitzt, mit einem Sensorchip, welcher einer Beschleunigung unter worfen und verschoben wird und der innerhalb des Hohlteils installiert ist;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, das einen Verschiebungszustand des in dem Gehäuse und an dem Vorderseitenende gebildeten Sen sorchips anzeigt;
einer Schaltungsplatine, die mit Schaltungselementen gebildet ist, welche auf der Grundlage des elektrischen Si gnals arbeiten; und
einer Einrichtung zum elektrischen und mechanischen Verbinden des mit der elektrischen Verdrahtung gebildeten Vorderseitenendes mit der Schaltungsplatine und zum im we sentlichen senkrechten Befestigen des Gehäuses an der Schaltungsplatine.
einem Gehäuse einer Konfiguration, die im Inneren ein Hohlteil aufweist und ein ebenes Vorderseitenende besitzt, mit einem Sensorchip, welcher einer Beschleunigung unter worfen und verschoben wird und der innerhalb des Hohlteils installiert ist;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, das einen Verschiebungszustand des in dem Gehäuse und an dem Vorderseitenende gebildeten Sen sorchips anzeigt;
einer Schaltungsplatine, die mit Schaltungselementen gebildet ist, welche auf der Grundlage des elektrischen Si gnals arbeiten; und
einer Einrichtung zum elektrischen und mechanischen Verbinden des mit der elektrischen Verdrahtung gebildeten Vorderseitenendes mit der Schaltungsplatine und zum im we sentlichen senkrechten Befestigen des Gehäuses an der Schaltungsplatine.
7. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse durch
ein Substrat einer ebenen Konfiguration, welches in nerhalb des Sensorchips installiert ist; und
ein Abdeckungsteil einer Konfiguration mit einer Aus höhlung gebildet ist, welche auf einer Oberfläche des Substrats installiert ist, um das Hohlteil zu bilden und das Hohlteil luftdicht zu schließen.
ein Substrat einer ebenen Konfiguration, welches in nerhalb des Sensorchips installiert ist; und
ein Abdeckungsteil einer Konfiguration mit einer Aus höhlung gebildet ist, welche auf einer Oberfläche des Substrats installiert ist, um das Hohlteil zu bilden und das Hohlteil luftdicht zu schließen.
8. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse aus
einem Gehäusekörperteil einer konkaven schachtelförmi gen Konfiguration, in welchem der Sensorchip aufgenommen ist; und
einem Abdeckungsteil gebildet ist, daß auf der Ober fläche der Aushöhlung des Gehäusekörperteils installiert ist, um das Hohlteil zu bilden und das Hohlteil luftdicht abzuschließen.
einem Gehäusekörperteil einer konkaven schachtelförmi gen Konfiguration, in welchem der Sensorchip aufgenommen ist; und
einem Abdeckungsteil gebildet ist, daß auf der Ober fläche der Aushöhlung des Gehäusekörperteils installiert ist, um das Hohlteil zu bilden und das Hohlteil luftdicht abzuschließen.
9. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Abdeckungsteil
eine L-förmige Gestalt besitzt und ein erstes Teil, das auf
einer Gesamtoberfläche der Aushöhlung installiert ist, und
ein zweites Teil aufweist, das auf einer identischen Ober
fläche wie das Vorderseitenende gebildet ist, und wobei die
Einrichtung zum Verbinden das Vorderseitenende des Gehäuses
und das zweite Teil mit der Schaltungsplatine verbindet.
10. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung mit:
einem Gehäusekörperteil, das eine Aushöhlung einer schachtelförmigen Konfiguration und einen Sensorchip be sitzt, welcher einer Beschleunigung unterworfen und ver schoben wird und innerhalb der Aushöhlung installiert ist;
einem Abdeckungsteil, welches auf der Oberfläche der Aushöhlung des Gehäusekörperteils installiert ist, um ein Hohlteil zu bilden, in welchem der Sensorchip aufgenommen ist, und das Hohlteil luftdicht abzuschließen;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, das einen Verschiebungszustand des Sensorchips anzeigt, der innerhalb des Gehäusekörperteils an einer äußeren Umfangsoberfläche des Gehäusekörperteils und an einer anderen Oberfläche gebildet ist, welche senk recht die Oberfläche davon durchschneidet;
einer mit Schaltungselementen gebildeten Schaltungs platine, die auf der Grundlage des elektrischen Signals ar beitet; und
einer Einrichtung zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Oberfläche und der anderen Oberfläche an die Schaltungsplatine und zum Befestigen des Gehäuses an der Schaltungsplatine.
einem Gehäusekörperteil, das eine Aushöhlung einer schachtelförmigen Konfiguration und einen Sensorchip be sitzt, welcher einer Beschleunigung unterworfen und ver schoben wird und innerhalb der Aushöhlung installiert ist;
einem Abdeckungsteil, welches auf der Oberfläche der Aushöhlung des Gehäusekörperteils installiert ist, um ein Hohlteil zu bilden, in welchem der Sensorchip aufgenommen ist, und das Hohlteil luftdicht abzuschließen;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, das einen Verschiebungszustand des Sensorchips anzeigt, der innerhalb des Gehäusekörperteils an einer äußeren Umfangsoberfläche des Gehäusekörperteils und an einer anderen Oberfläche gebildet ist, welche senk recht die Oberfläche davon durchschneidet;
einer mit Schaltungselementen gebildeten Schaltungs platine, die auf der Grundlage des elektrischen Signals ar beitet; und
einer Einrichtung zum elektrischen und mechanischen Verbinden der Oberfläche und der anderen Oberfläche an die Schaltungsplatine und zum Befestigen des Gehäuses an der Schaltungsplatine.
11. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäusekörperteil
durch Aufschichten einer Mehrzahl von Isolierungssubstraten
gebildet ist.
12. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäusekörper
teil durch Aufschichten einer Mehrzahl von Isolierungs
substraten gebildet ist.
13. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
sprüchen 6 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrich
tung zum Verbinden ein leitfähiges Bondierungsmittel ist.
14. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung mit:
einem Gehäuse einer Konfiguration, die im Inneren ein Hohlteil und außen ein ebenes Vorderseitenende besitzt, mit einem Sensorchip, welcher einer Beschleunigung unterworfen und verschoben wird und innerhalb des Hohlteils installiert ist;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, welches einen Verschiebungszustand des Sensorchips anzeigt, der innerhalb des Gehäuses und auf einem Umfangsteil des Gehäuses gebildet ist;
einer Schaltungsplatine mit Schaltungselementen, wel che auf der Grundlage des elektrischen Signals arbeiten, die mit der Schaltungsverdrahtung gebildet ist, welche an die Schaltungselemente angeschlossen ist;
einer Einrichtung zum Verdrahten zum elektrischen Ver binden der elektrischen Verdrahtung und der Schaltungsver drahtung; und
einer Einrichtung zum Verbinden des Vorderseitenendes des Gehäuses mit der Schaltungsplatine und zum im wesentli chen senkrechten Befestigen des Gehäuses.
einem Gehäuse einer Konfiguration, die im Inneren ein Hohlteil und außen ein ebenes Vorderseitenende besitzt, mit einem Sensorchip, welcher einer Beschleunigung unterworfen und verschoben wird und innerhalb des Hohlteils installiert ist;
einer elektrischen Verdrahtung zum Ausgeben eines elektrischen Signals, welches einen Verschiebungszustand des Sensorchips anzeigt, der innerhalb des Gehäuses und auf einem Umfangsteil des Gehäuses gebildet ist;
einer Schaltungsplatine mit Schaltungselementen, wel che auf der Grundlage des elektrischen Signals arbeiten, die mit der Schaltungsverdrahtung gebildet ist, welche an die Schaltungselemente angeschlossen ist;
einer Einrichtung zum Verdrahten zum elektrischen Ver binden der elektrischen Verdrahtung und der Schaltungsver drahtung; und
einer Einrichtung zum Verbinden des Vorderseitenendes des Gehäuses mit der Schaltungsplatine und zum im wesentli chen senkrechten Befestigen des Gehäuses.
15. Vorrichtung zum Erfassen einer Beschleunigung nach An
spruch 14, des weiteren gekennzeichnet durch ein Gehäuse
mit einer Stufe, wobei die Schaltungsplatine auf einem obe
ren Stufenteil der Stufe installiert ist, das Gehäuse an
einem unteren Stufenteil befestigt ist und das Gehäuse und
die Schaltungsplatine in einer im wesentlichen identischen
Ebene gebildet sind.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13299694 | 1994-06-15 | ||
JP6373095 | 1995-03-23 | ||
JP7-63730 | 1995-03-23 | ||
JP6-132996 | 1995-03-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19521712A1 true DE19521712A1 (de) | 1995-12-21 |
DE19521712B4 DE19521712B4 (de) | 2009-06-18 |
Family
ID=26404860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19521712A Expired - Fee Related DE19521712B4 (de) | 1994-06-15 | 1995-06-14 | Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5554806A (de) |
DE (1) | DE19521712B4 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998011442A1 (de) * | 1996-09-12 | 1998-03-19 | Temic Telefunken Microelectronic Gmbh | Anordnung zur beschleunigungsmessung |
WO1999031515A1 (en) * | 1997-12-18 | 1999-06-24 | Alliedsignal Inc. | Silicon micro-machined accelerometer using integrated electrical and mechanical packaging |
US6145380A (en) * | 1997-12-18 | 2000-11-14 | Alliedsignal | Silicon micro-machined accelerometer using integrated electrical and mechanical packaging |
WO2003007000A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Acceleration sensor |
EP1510825A1 (de) * | 2002-05-31 | 2005-03-02 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Sensorbaustein |
DE19717611B4 (de) * | 1996-04-26 | 2005-07-21 | Denso Corp., Kariya | Struktur zum Anbringen von elektronischen Komponenten |
DE19706983B4 (de) * | 1996-02-23 | 2009-06-18 | Denso Corporation, Kariya | Oberflächenanbringungseinheit und Wandleranordnungen unter Verwendung der Oberflächenanbringungseinheit |
DE102010042987A1 (de) | 2010-10-27 | 2012-05-03 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer elektrischen Schaltung und elektrische Schaltung |
DE102005029175B4 (de) * | 2004-06-30 | 2013-10-02 | Denso Corporation | Winkelgeschwindigkeitssensor mit einer Leiterplatte und einem Gehäuse |
Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0660119B1 (de) | 1993-12-27 | 2003-04-02 | Hitachi, Ltd. | Beschleunigungsmessaufnehmer |
JPH08233848A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体センサ |
JP3576727B2 (ja) * | 1996-12-10 | 2004-10-13 | 株式会社デンソー | 表面実装型パッケージ |
JP3451868B2 (ja) * | 1997-01-17 | 2003-09-29 | 株式会社デンソー | セラミック積層基板の製造方法 |
US5817941A (en) * | 1997-02-11 | 1998-10-06 | Ford Motor Company | Method and apparatus for supporting a sensor in a vehicle |
JP3345878B2 (ja) * | 1997-02-17 | 2002-11-18 | 株式会社デンソー | 電子回路装置の製造方法 |
JPH10253652A (ja) * | 1997-03-14 | 1998-09-25 | Denso Corp | センサ装置及びその製造方法並びにその製造に用いられるリードフレーム |
US6332359B1 (en) | 1997-04-24 | 2001-12-25 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor sensor chip and method for producing the chip, and semiconductor sensor and package for assembling the sensor |
US6070531A (en) * | 1997-07-22 | 2000-06-06 | Autoliv Asp, Inc. | Application specific integrated circuit package and initiator employing same |
WO1999013343A1 (fr) * | 1997-09-10 | 1999-03-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Capteur d'acceleration et procede de fabrication |
DE69929319T2 (de) * | 1998-04-03 | 2006-08-10 | Alliedsignal Inc. | Beschleunigungsaufnehmer |
US6433411B1 (en) * | 2000-05-22 | 2002-08-13 | Agere Systems Guardian Corp. | Packaging micromechanical devices |
JP4701505B2 (ja) * | 2001-01-29 | 2011-06-15 | パナソニック株式会社 | 慣性トランスデューサ |
US6737580B2 (en) * | 2001-12-28 | 2004-05-18 | Turck Inc. | Control sensor housing with protective laminate |
EP1443331A3 (de) * | 2003-02-03 | 2005-10-12 | Denso Corporation | Messaufnehmer und keramische Verpackung zur Montage von elektronischen Komponenten |
JP4207753B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2009-01-14 | 株式会社デンソー | 電気回路機器の樹脂筐体構造 |
JP4506203B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2010-07-21 | 株式会社デンソー | 樹脂部材の継手構造、レーザ溶着方法及び電気機器の樹脂筐体 |
US7181968B2 (en) * | 2004-08-25 | 2007-02-27 | Autoliv Asp, Inc. | Configurable accelerometer assembly |
US7467552B2 (en) | 2005-11-10 | 2008-12-23 | Honeywell International Inc. | Miniature package for translation of sensor sense axis |
TWI327114B (en) * | 2006-01-30 | 2010-07-11 | Sanyo Electric Co | Pressure sensor installation method, tire and wheel installed with pressure sensor, and tire pressure sensing device |
EP1813951A1 (de) * | 2006-01-30 | 2007-08-01 | Infineon Technologies SensoNor AS | Trägheitsmesseinheit und Verpackungen dafür |
JP2008256570A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Fujitsu Media Device Kk | 角速度センサ |
JP2009109472A (ja) * | 2007-10-10 | 2009-05-21 | Epson Toyocom Corp | 電子デバイス及び電子モジュール並びにこれらの製造方法 |
US20090152653A1 (en) * | 2007-12-14 | 2009-06-18 | Borzabadi Hamid R | Surface mount multi-axis electronics package for micro-electrical mechanical systems(MEMS) devices |
WO2011158348A1 (ja) * | 2010-06-16 | 2011-12-22 | トヨタ自動車株式会社 | 複合センサ |
US8692366B2 (en) | 2010-09-30 | 2014-04-08 | Analog Device, Inc. | Apparatus and method for microelectromechanical systems device packaging |
US8459112B2 (en) * | 2011-06-09 | 2013-06-11 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for three dimensional sensors |
US8836132B2 (en) | 2012-04-03 | 2014-09-16 | Analog Devices, Inc. | Vertical mount package and wafer level packaging therefor |
US9475694B2 (en) | 2013-01-14 | 2016-10-25 | Analog Devices Global | Two-axis vertical mount package assembly |
US10681821B2 (en) * | 2014-10-16 | 2020-06-09 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Methods and devices for improved space utilization in wafer based modules |
JP6464770B2 (ja) * | 2015-01-21 | 2019-02-06 | 株式会社デンソー | 物理量センサおよびその製造方法 |
WO2017159037A1 (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | パワーステアリング装置の制御装置 |
US11647678B2 (en) | 2016-08-23 | 2023-05-09 | Analog Devices International Unlimited Company | Compact integrated device packages |
US10629574B2 (en) | 2016-10-27 | 2020-04-21 | Analog Devices, Inc. | Compact integrated device packages |
US10697800B2 (en) | 2016-11-04 | 2020-06-30 | Analog Devices Global | Multi-dimensional measurement using magnetic sensors and related systems, methods, and integrated circuits |
CN107768323B (zh) * | 2017-11-24 | 2023-12-05 | 安徽芯动联科微系统股份有限公司 | 抗高过载电子器件封装管壳 |
EP3795076B1 (de) | 2018-01-31 | 2023-07-19 | Analog Devices, Inc. | Elektronische vorrichtungen |
CN112166310A (zh) * | 2018-02-01 | 2021-01-01 | 电力研究所有限公司 | 用于测量应变的装置以及用于制造和使用该装置的方法 |
KR20230095689A (ko) | 2021-12-22 | 2023-06-29 | 삼성전자주식회사 | 마이크로폰 패키지 및 이를 포함하는 전자 장치 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5828754B2 (ja) * | 1977-05-19 | 1983-06-17 | 株式会社デンソー | 圧力−電気変換装置 |
JPS594868B2 (ja) * | 1977-07-01 | 1984-02-01 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JPH0821722B2 (ja) * | 1985-10-08 | 1996-03-04 | 日本電装株式会社 | 半導体振動・加速度検出装置 |
DE3813435A1 (de) * | 1988-04-21 | 1989-11-02 | Siemens Ag | Bauelement in chip-bauweise zum befestigen auf einer schaltplatte, mit einem elektrischen oder elektronischen funktionskoerper |
JPH0272654A (ja) * | 1988-09-07 | 1990-03-12 | Fujitsu Ltd | Icパッケージ及びその接続構造 |
US5253526A (en) * | 1990-05-30 | 1993-10-19 | Copal Company Limited | Capacitive acceleration sensor with free diaphragm |
JPH04131723A (ja) * | 1990-09-21 | 1992-05-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体圧力センサ |
JPH0536992A (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-12 | Nippondenso Co Ltd | 半導体圧力検出装置 |
US5233871A (en) * | 1991-11-01 | 1993-08-10 | Delco Electronics Corporation | Hybrid accelerometer assembly |
DE4136355A1 (de) * | 1991-11-05 | 1993-05-06 | Smt & Hybrid Gmbh, O-8010 Dresden, De | Verfahren und anordnung zur dreidimensionalen montage von elektronischen bauteilen und sensoren |
JPH05231975A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 静電容量式圧力センサ |
DE9202533U1 (de) * | 1992-02-27 | 1992-04-23 | Mannesmann Kienzle Gmbh, 7730 Villingen-Schwenningen, De | |
EP0660119B1 (de) * | 1993-12-27 | 2003-04-02 | Hitachi, Ltd. | Beschleunigungsmessaufnehmer |
-
1995
- 1995-06-07 US US08/477,614 patent/US5554806A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-06-14 DE DE19521712A patent/DE19521712B4/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19706983B4 (de) * | 1996-02-23 | 2009-06-18 | Denso Corporation, Kariya | Oberflächenanbringungseinheit und Wandleranordnungen unter Verwendung der Oberflächenanbringungseinheit |
DE19717611B4 (de) * | 1996-04-26 | 2005-07-21 | Denso Corp., Kariya | Struktur zum Anbringen von elektronischen Komponenten |
WO1998011442A1 (de) * | 1996-09-12 | 1998-03-19 | Temic Telefunken Microelectronic Gmbh | Anordnung zur beschleunigungsmessung |
US6112594A (en) * | 1996-09-12 | 2000-09-05 | Temic Telefunken Microelectronic Gmbh | Acceleration measurement device |
WO1999031515A1 (en) * | 1997-12-18 | 1999-06-24 | Alliedsignal Inc. | Silicon micro-machined accelerometer using integrated electrical and mechanical packaging |
US6145380A (en) * | 1997-12-18 | 2000-11-14 | Alliedsignal | Silicon micro-machined accelerometer using integrated electrical and mechanical packaging |
WO2003007000A1 (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Acceleration sensor |
US6755081B2 (en) | 2001-07-13 | 2004-06-29 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Acceleration sensor |
EP1510825A1 (de) * | 2002-05-31 | 2005-03-02 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Sensorbaustein |
EP1510825A4 (de) * | 2002-05-31 | 2009-01-07 | Matsushita Electric Works Ltd | Sensorbaustein |
DE102005029175B4 (de) * | 2004-06-30 | 2013-10-02 | Denso Corporation | Winkelgeschwindigkeitssensor mit einer Leiterplatte und einem Gehäuse |
DE102010042987A1 (de) | 2010-10-27 | 2012-05-03 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer elektrischen Schaltung und elektrische Schaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19521712B4 (de) | 2009-06-18 |
US5554806A (en) | 1996-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19521712A1 (de) | Vorrichtung zum Erfassen einer physikalischen Größe | |
DE19727214C2 (de) | Halbleiterbeschleunigungssensor, insb. für Airbags | |
DE4223455C2 (de) | Halbleiterdrucksensor und Herstellungsverfahren | |
DE102009029180B4 (de) | Mikrosystem | |
DE10205026C1 (de) | Halbleitersubstrat mit einem elektrisch isolierten Bereich, insbesondere zur Vertikalintegration | |
EP0351581A1 (de) | Hochintegrierte Schaltung sowie Verfahren zu deren Herstellung | |
EP0189492B1 (de) | Messwandlereinsatz, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung für einen Aufnehmer zur Messung mechanischer Grössen | |
EP0769209A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer dreidimensionalen schaltungsanordnung | |
DE4446890A1 (de) | Kapazitiver Beschleunigungssensor und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE4325668A1 (de) | Mehrebenen-Verdrahtungssubstrat und dieses verwendende Halbleiteranordnung | |
DE2709945A1 (de) | Kapazitiver druckwandler und verfahren zu dessen herstellung | |
DE102007060632A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Kappenwafers für einen Sensor | |
EP0215140B1 (de) | Drucksensor | |
EP1440322A1 (de) | Mikrosensor | |
DE10348620A1 (de) | Halbleitermodul mit Gehäusedurchkontakten | |
DE19539178B4 (de) | Halbleiterbeschleunigungssensor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE19733891A1 (de) | Beschleunigungssensor und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE60226240T2 (de) | Beschleunigungsaufnehmer | |
DE19706983B4 (de) | Oberflächenanbringungseinheit und Wandleranordnungen unter Verwendung der Oberflächenanbringungseinheit | |
DE4133598C2 (de) | Anordnung mit einem auf einem Substrat oberflächenmontierten Chip mit einer integrierten Schaltung und Verfahren zu seiner Herstellung | |
US4476518A (en) | Thick film electronic circuit | |
DE112006001844B4 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Elektronikkomponente und Elektronikkomponente | |
DE4419267C2 (de) | Halbleiterbeschleunigungssensor und Testverfahren dafür | |
DE102014118214B4 (de) | Einfach herstellbares elektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelements | |
DE4227819C2 (de) | Kapazitiver Drucksensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: DENSO CORP., KARIYA, AICHI, JP |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: H01L 23/04 |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20150101 |