DE1945138A1 - Verfahren und Einrichtung zur Pruefung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und ueberzaehlige Verbindungen - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur Pruefung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und ueberzaehlige Verbindungen

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DE1945138A1 DE19691945138 DE1945138A DE1945138A1 DE 1945138 A1 DE1945138 A1 DE 1945138A1 DE 19691945138 DE19691945138 DE 19691945138 DE 1945138 A DE1945138 A DE 1945138A DE 1945138 A1 DE1945138 A1 DE 1945138A1
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

  • Verfahren und Einrichtung zur Prüfung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und über zählige Verbindungen Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zur Prüfung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen, mit Prüfung Jeder einzelnen Drahtverbindung durch Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch Kontrolle des Potentials an allen übrigen Anschlüssen der Verdrahtung.
  • Zur Prüfung umfangreicher Verdrahtungen an Apparateserien der Schwachstrom- und der Starkstromtechnik werden immer h4ufiger PrUfautomaten verwendet, Die Prüfzeitenlassen sich damit wesentlich reduzieren, und der Unsicherheitsfaktor im Erkennen der Fehlerwird gegenüber anderen Prüfverfahren herabsevetat .
  • Es ist bekannt, mit derartigen Prufeinrichtungen jede einzelne Drahtverbindung durch Anlegen eine Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch Kontrolle des Potentials an allen übrigen Anschlüssen der Verdrahtung zu prflfen. Die Anschaltung des Kontrollstromkreises an jeden Anschluss erfordert dabei eine grosse Anzahl einzeln zu betätigende Schalterelemente.
  • Dei Einsatz eines fächerförmigen Netzwerkes ist der Aufwand tctzdem noch gross, und ausserdem wird in diesem Fall die Einrichtung zur Anzeige der festgestellten Fehler komplizierter.
  • Die Erfindung bezweckt, den Aufwand für derartige Anlagen wesentlich herabzusetzen.
  • Das eingangs erwähnte Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass zur Potentialkontrolle alle Anschlüsse der Verdrabtung in Gruppen gleicher Anzahl Anschlüsse unterteilt werden, und dass die einzelnen Anschlüsse einer Gruppe oder die vielfachgeschalteten Anschlüsse mehrerer Gruppen gleichzeitig an je eih auf das Prüfpotential ansprechendes Speicherelement angeschaltet werden, dass ferner die Speicherelemente nach Jeder Anschaltung auf nicht angesprochene und auf überzähltg angesprochene Speicherelemente ausgewertet und gelöscht werden.
  • Die Prüfzeit wird wesentlich abgekürzt, wenn zur Prüfung einer einzelnen Drahtverbindung zuerst dieJenigen Ansohluasgruppen, die mit der zu prüfenden Drahtverbindung verbunden sind, einzeln und dann alle dbrigen Anschluaßgru.ppengleich zeitig an die Speicherelemente angesoheltet werden, und die erwähnten übrigen Gruppen nur bei einer darin festgestellten überzähligen Verbindung noch einzeln angeschaltet und kontrolliert werden.
  • Die vorgeschlagene Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens hat die neuartigen Merkmale, dass zur Potentialkontrolle eine zentrale Speicheranordnung vorgesehen ist, die bistabile, bel:n Anlegen des Prüfpotentials in den einen stabilen Zustand kippende Speicherelemente enthält, und dass die Anzahl Speicherelemente einen Bruchteil der Anzahl Anschlüsse der Verdrahtung beträgt, dass ferner Anschalteeinrichtungen eingesetzt sind, die alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und wählbar entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltungen der Anschlüsse mehrerer Gruppen an die Speicherelemente anschalten, und dass die Speicheranordnung mit einer Abtastschaltung und Auswerteeinrichtungen zur Feststellung der richtigen und Anzeige der fehlenden und überzähligen Verbindungen zusammengeschaltet ist.
  • Besonders einfach wird die Einrichtung mit Speicherelementen in Form einer, mit einer Koinzidenzschaltung ausgerüsteten bistabilen Kippschaltung, wobei die Eingänge der Koinzidenzschaltung an der Kippschaltung und an der-Abtestsohaltung angeschlossen und die Ausgänge der Speicherelemente sur Auswerteeinrichtung geführt sind.
  • Ferner erweisen sich Ansohalteeinriohtungen aus potentialge steuerten Dioden dank vielseitiger Anwendbarkeit und kleinem Platzbedarf als vorteilhaft. Dioden/Wideretandsverbindungen zwischen den Anschlüssen und den Speicherelementen können gruppenweise durch An- und Abschaltung eines Sperrpotentials für das Prüfpotential gesperrt bzw. durchlässig gemacht werden.
  • Das Sperrpotential kann auch für alle Anschlussgruppen gemeinsam und von Gruppe zu Gruppe entkoppelt über einen Ausschalt er an den Dioden/Widerstandsverbindungen angeschlossen sein und je Gruppe durch ein Entsperrpotential unwirksam geschaltet werden. Die gruppenweise-Anschaltung erfolgt dann durch Anlegen des Entsperrpotentials, und alle Anschlussgruppen können gleichzeitig durch Abschalten des Sperrpotentials, d.h. Oeffnen des Ausschalters wirksam mit den Speicherelementen verbunden werden.
  • Wenn mit dem Anlegen des Entsperrpotentials gleichzeitig die betreffende Anschlussgruppe noch einzeln an das Sperrpotential angeschlossen und daran gehalten wird, werden durch Oeffnen des erwähnten Ausschalters nur die vorgängig noch nicht einzeln entsperrten Anschlussgruppen gleichzeitig für das Prüfpotential wirksam an die Speicherelemente angeschaltet.
  • Die Anschalteeinriohtungen und/oder das Schaltnetzwerk können außer aus potentialgesteuerten Dioden auch aus Kontakten, Schalttranaistoren oder integrierten Schaltungen aufgebaut ein. Kontakte erlauben die Prüfung mit praktisch beliebigen Strömen und Spannungen.
  • An Hand der Zeichnung soll die Erfindung an einem AusfUhrungsbeispiel näher erläutert werden.
  • Die Zeichnung zeigt einen Schaltungsaussehnitt eines in der Nachrichtentechnik verwendeten Prüfautomaten für Gestellverdrahtungen.
  • Die Darstellung umfasst einige Drahtverbindungen des Prüflings P mit den Anschlussgruppen Al, A2 und Än, ein Schaltnetz werk SN zum Anlegen eines Prüfpotentials -48 Volt an jeweils einen Anschluss einer Drahtverbindung, ferner Anschalteeinrichtungen AS, eine Speicheranordnung SA, eine Abtastschaltung AT und Auswerteeinrichtungen AW. Mit den Ansohalteeinrichtungen lassen sich alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe, oder als von Gruppe zu Gruppe parallel geschaltete Anschlüsse mehrerer Gruppen an die Speicherelemente SE der Speicheranordnung anschalten. Die Abtastschaltung tastet die Speicherelemente nach einem Prüfprogramn ab und die Auswerteeinrichtungen stellen die richtigen Verbindungen fest und bringen die fehlenden'und überzähligen Verbindungen zur Anzeige. Nicht gezeichnet ist die Steuerung zur Betätigung der verschiedenen Teile nach einem vom Prüfling abhängigen PrUfprogramm.
  • Das Schaltnetzwerk SN ist für einen Prüfling mit mehreren Hundert Gruppen zu Je 40 Anschldssen ausgelegt.Es enthält zwei Zwischenrelaissitze K 101 . . .K110 bis KnO1...XnlO bzw.M1...M100 und eine dekadisohe Kontaktanordnung. Die Kontakte eai bis eaO und zaO bis =e4 bestimmen die slner- bzw. Zehnersiffer eines Anschlusses innerhalb einer der Gruppen Al bis An, und die Kontakte 81. . .haO; taO...ta9 und zta1...ztaf legen die Einer-, Zehner- und llunderterziffer der Gruppenbezeichnung fest. Diese Gruppeninderzahl oder Gruppenadresse wird im Prüfprogramm der zweistelligen Anschlusszahl linksseitig angefügt, so dass die tatsächlich durch eine Hunderter-, eine Tausender- und eine Zehntausenderziffer dargestellt ist. Die Kontakte ha und ta bestimmen zusammen das zu erregende Zwischenrelais M, und die Kontakte der M-Relais bereiten gemeinsam mit den Kontakten zta1 bis ztaf den Stromkreis für Je zehn K-Relais vor, aus denen der ea-Kontakt die Auswahl trifft. Jedes K-Relais besitzt vier Kontakte, um zusammen mit den za-Kontikten das Prüfpotential an den zu markierenden Anschluss zu legen.
  • Die Anschalteeinrichtung AS zur gruppenweisen Anschaltung der Anschlüsse an die Speichereinheiten SE Ol bis SS 40 enthalten Serieschaltungen je eines Widerstandes W101...W140 bis WnO1...
  • Wn40 und einer ersten Diode D101...D140 bis DnO1..Dn40 zwischen den Speicherelementen und Je einem Anschluss in allen Anschlussgruppen.Die Diode ist in Durchlassrichtung zu dem an den Anschlüssen liegenden Prüfpotential gepolt.Ausgehend von den Verbindungspunkten zwischen Diode und Widerstand und nach Je einer gleichgepolten zweiten Diode D101'...D140? bis DnO1'...
  • Dn40t besteht eine gruppenweise Parallelachaltung, mit zwei parallelen Verbir legen zum Sperrpotential +12V. Die eine erbindung verläuft über eine Entkopplungsdiode Dl'0.Dn, einen Widerstand Wt...Wn und einen für alle Gruppen gemeinsamen Aussohalte oder Ruhekontakt ed, und die andere über einen Widerstand W1t...Wnt und einen Kontakt s1...sn eines Sperrhalterelais S1...Sn. Der Gruppenparallelschaltpunkt ist ausserdem über eine Sperrdiode D1-t...DnX und programmgesteuerte Kontakte fl, ztel...f100, ztef an ein Entsperrpotential -10V anschaltbar, wobei durch die Sperrdiode das Entsperrpotential nur gegenüber einem positiveren Potential am Gruppenparallelschaltpunkt wirksam wird. Die programmgesteuerten Kontakte legen das Entserrpotential auch an die Anzugswicklung S1 ...Sn des Sperrhalterelais, die mit ihrem zweiten Anschlusszum Sperrpotential +12V geführt ist. Dieses Relais wird durch eine zweite Wicklung S1II...SnII, den eigenen Kontakt s1 und einen für alle Relais gemeinsamen Kontakt sh im angezogenen Zustand gehalten, bis für eine Drahtverbindung alle Anschlussgruppen geprüft sind. Die erwähnten Kontakte in der Verbindung zum Entsperrpotential werden durch die Gruppenadresse des Prüfprogramms gesteuert. Zwei Ziffern bestimmen eines der Zwisohenrelais F1...F100,und die dritte Ziffer einen der Kontakte ztel...ztef in Serie zu den Kontakten der Zwischenrelais fl . . .f100.
  • Die Anzahl Speicherelemente SE01...SE40 der Speicheranordnung SA ist gleich der Anzahl Anschlüsse einer Anschlussgruppe.
  • Jedes Speicherelement besteht aus einer bistabilen Kippschaltung Ki und einer Koinzidenzschaltung Ko, im gezeichneten Beispiel sind beide aus Je zwei NAND-Gliedern aufgebaut.
  • Die IEipps.chaltung ist der Speicher für das am Eingang El über die Dioden/Widerstandsverbindungen anstehende PrUfeiga*l, das dem Eingang E2 der Koinzidenz schaltung, und durch die Verbindungen B1...B40 der Auswerteeinrichtung AW weitergegeben wird.
  • Zur Rückstellung der Kippschaltung bestehen die Verbindungen Vi und E6 mit der zugehörigen Koinzidenzschaltungbzw. mit dem für alle Kippschaltungen gemeinsamen Rückstellkontaktrk.
  • Das eine Glied der Koinzidenz schaltung ermittelt die fehlenden Verbindungen, seine drei Eingänge E2, E3 und E4 sind mit der Kippschaltung bzw. mit den von der Einerziffer bzw. Zehnerziffer der hnschlussadresse im Prüfprogramm betätigten Kontakten in der Abtasteinrichtung ec1...ec0 und zc0...3c4verbunden. Bei Koinzidenz der drei Eingänge wird über den Ausgang G1...G40 ein Signal an die Auswerteeinrichtungen AW abgegeben.
  • Das zweite Glied der Koinzidenzschaltung steuert die Rückstellung der Kippschaltung. Ein Eingang ist parallel zum Eingang E4 des ersten Gliedes mit dem Kontakt der Einer-Ziffer, und der zweite Eingang E5 mit einem verzögert schliessenden Kontakt der Zehner-Ziffer zvO...zv4 in der Abtastachaltung verbunden.
  • Bei der Prüfung Jeder einzelnen Drahtverbindung ergibt sich der nachfolgend beschriebene Ablauf. Als Beispiel sei die Drahtverbindung Ai/10-Ai/40-A2/10-A'n/10-An/40gewählt.
  • Zuerst wird die Anfangsadrosse des Prüfprogramme, 00110, eingegeben, wobei die beiden äussersten Ziffern rechts die Anechlussidresas zum Anschluss 10 und die dr.i weiteren Ziffern die Gruppenadresse zur Gruppe Al bedeuten. Durch die Anfangsadresse schliessen im Schaltnetzwerk SN entsprechend den Ziffern von links nach rechts die Kontakte ztal, taO, hal, zal und eaO. Die Zwischenrelais Ml und K110 ziehen auf und das Prüfpotential -48 V wird über zal, k110I an den Anschluss 10 der Gruppe Al gelegt und bis zum Abschluss der Prüfung dieses Drahtzuges dort belassen. Die Drahtverbindung des Prüflings leitot das Prüfpotential auch an die Anschlüsse A1/40, A2/10, An/10 und An/40.
  • In der Anschalteeinrichtung AS werden durch die Gruppenadresse die Kontakte ztel, teO und he1 geschlossen. Das Zwlschenrelais F1 erhält Strom-und schliesst mit seinem Kontakt f11 den Entsperrstromkreis zur Gruppe Äl und jenen des Sperrhalterelais S1. Alle Anschlüsse der Gruppe Al sind somit wirksam mit der Speicheranordnung SA verbunden, bis al schliesst.
  • Ebenfalls mit der ersten Gruppenadresse schliessen die Kontakte zcl und ecO der Abtastschaltung AT.
  • Das angelegte, bzw. durch die Drahtverbindung weitergeleitete Prüfpotential an den Anschlüssen A1/10 und A1/40 legt über die wirksam geschalteten Dioden/Widerstandsverbindungen ein L-Signal an den Eingang El der beiden entsprechenden Speicherelemonte SE10 und SE40. Ihre Kippschaltungen nehmen jene bestimmte bistabile Lage ein, die über den einen Ausgang ein w-dlgnal zum Eingang E2 der zugehörigen Koinzidenz schaltung re;m4tteltç Die erste Anscklussadresse hat auch bewirkt, dass ein L-Signal an den Eingängen E3 und E4 des Speicherelementes SE 10 liegt, da die Kontakte zcl und ecO in der Abtastschaltung AT geschlossen wurden. Am Ausgang G10 erscheint deshalb ein 0-Signal, so dass von einer gemäss dem Prüfprogramm eingestellten Abfrageschaltuug in der Auswerteeinrichtung AW eine richtige Verbindung erkannt wird. Mit Zeitverzögerung schliesst nun auch der Kontakt zvl und legt ein L-Signal an den Eingang E5 der Koinzidenzschaltung Ko10, womit der Ausgang dieses Gliedes den Signalwert 0 annimmt und die Kippschaltung in die ursprüngliche stabile Lage zurück steuert.
  • Da alle Adressen einer begonnenen Anschlussgruppe nacheinander einzugeben sind, folgt als nächste Adresse, 00140, welche die gleiche Gruppenadresse, 001, wie die Anfangsadresse aufweist. Die Anschlussgruppe Al ist durch den Kontakt sl bereits gesperrt. Nur in der Abtastachaltung wechselt die Kontaktschliessung auf zc4 und ecO, und es erhält Jetzt die Koinzidenzschaltung K040 an den drei Eingängen E2, E3 und E4 je ein L-Signal, und der Ausgang G40 nimmt den O-Signalwert an. Die Abfragesehaltung in der Auswerteeinrichtung AW findet auch hier Uebareinstimmung mit dem Prdfprogramm, die festgestellte Drahtverbindung ist also richtig.
  • Wenn am Ausgang n40 kein O-Signal vorhanden wäre, würde dies bedeuten, dass die Verbindung fehlt, d.h. die Kippschaltung Ki40 nicht gekippt worden wäre und am Eingang E2 der Koinzidenzechaltung St kein L-Signal anwesend wäre. Es würde eine fehlende Verbindung angezeigt.
  • Die dritte Adresse des Prüfprogramms, 00210, bringt eine Aenderung der G-uppenadresse auf die Gruppe A2. Bevor der Anschluss 10 und auch die übrigen Anschlüsse dieser Gruppe auf Vorhandensein des Prüfpotentials geprüft werden, erfolgt die Kontrolle der vorgängig geprüften Gruppe Al auf überzählige Verbindungen. Die Auswerteeinrichtung AW stellt zunächst an Hand der Kippschaltungs-Ausgänge B1...B40. fest, ob noch irgend eine Kippschaltung umgeschaltet ist. Ist dies der Fall, dann frägt die Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung alle Speichereinheiten ab und gleichzeitig werden der Reihe nach die hbtastkontakte zc und ec geschlossen. Die angesprochenen Kippschaltungen werden als überzählige Verbindungen angezeigt und dann zurückgestellt, so dass zuletzt alle Speicherelemente wieder in der Ursprungslage sind. Einzig das Sperrhalterelais S1 bleibt erregt.
  • Erst jetzt ist die Verarbeitung der dritten Adresse frei. In der Anschalteeinrichtung schliessen die Kontakte ae, teO und he2, das Relais F2 und auch das Sperrhalterelais SZ werden erregt, und die Anschlussgruppe A2 ist wirksam an die Speicheranordnung angeschaltet. Die an den Anschlüssen vorhandenen Prüfpotentiale bringen die Kippschaltungen in die eine stabile Lage und die Abtastschaltung stellt zusammen mit der Auswerteeinrichtung fest, ob die Kippschaltung KilO gekippt, die programmgemässe Verbindung also vorhanden ist. Nun wird wieder eine neue Adresse eingegeben und wenn sie eine neue Gruppenadresse enthält, wird die vorgängige Gruppe' wieder zuerst auf überzählige Verbindungen untersucht. Die Prüfung aller Gruppen, mit denen die Drahtverbindung programmgemäss Berührung hat, erfolgt in gleicher Art.
  • Nach der letzten Adresse zur Prüfung einer Drahtverbindung wird eine Trennungsadresse eingegeben. Sie bewirkt die Prüfung auf überzählige Verbindungen in allen noch nicht geprüften Gruppen Zuerst werden alle Gruppen, mit Ausnahme der bereits geprüften, durch Oeffnen des Ausschalters ed gleichzeitig mit der Speicheranordnung wirksam verbunden. An den geprüften Gruppen bleibt das Sperrpotential durch den Kontakt des Sperrhalterelais S erhalten. In diesem Zustand wird an Hand der Ausgänge Bl...B40 lediglich festgestellt, ob irgend eine Kippschaltung durch vorhandenes Prüfpotential gekippt worden ist. Ist dies nicht der Fall, kann sogleich zur Prüfung der nächsten Drahtverbindung geschritten werden.
  • Sind Kippschaltungen gekippt, dann werden alle Gruppen einzeln auf überzählige Verbindungen geprüft, wobei zuerst das Sperrpotential wieder angelegt und alle Kippachaltungenmittels des generellen Rückatellkontaktes rk zurückgestellt werden. Anschliessend wird durch ein automatisches Fehlersuchprogramm Jede mögliche Gruppe einzeln angeschaltet und die dabei festgestellten überzähligen Verbindungen zur Anzeige gebracht. Die bereits geprüften Gruppen werden erst nach Abschluss der ganzen Prüfung einer Drahtverbindung wieder entsperrt, indem der Haltekontakt sh öffnet und die Sperrhalterelais 8 abfallen.

Claims (11)

  1. Patentansprüche
    S Verfahren zur Prüfung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen, mit Prüfung jeder einzelnen Drahtverbindung durch Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch Kontrolle des Potentials an allen übrigen Anschlüssen der Verdrahtung, dadurch gekennzeichnet, dass zur Potentialkontrolle alle Anschlüsse der Verdrahtung in Gruppen gleicher-Anzahl Anschlüsse unterteilt werden, und dass die einzelnen Anschlüsse einer Gruppe oder die vielfachgeschalteten Anschlüsse mehrerer Gruppen gleichzeitig an Je ein auf das Prüfpotential ansprechendes Speicherelement angeschaltet werden, dass ferner die Speicherelemente nach jeder Anschaltung auf nicht angesprochene und auf überzählig angesprochene Speicherelemente ausgewertet und geldicht werden.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Prüfung einer einzelnen Drahtverbindung zuerst diejenigen Anschlussgruppen, die mit der zu prüfenden Drahtverbindung verbunden sind, einzeln und dann alle Übrigen Anschlussgruppen gleichzeitig an die Speicherelenente angeschaltet werden und dass die erwähnten übrigen Gruppen nur bei einer darin festgestellten überzähligen Verbindung noch einzeln angeschaltet und kontrolliert werden.
  3. 3. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Potentialkontrolle eine zentrale Speicheranordnung (SA) vorgesehen ist, die bistabile, beim Anlegen des Prüfpotentials (-48V) in den einen stabilen Zustand kippende Speicherelemente (SEl...SE4o) enthält, und dass die Anzahl Speicherelemente einen Bruchteil der Anzahl Anschlüsse der Verdrahtung (A1/1....An/40) beträgt, dass ferner Anschalteeinrichtungen (AS) eingesetzt sind, die alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und wählbar entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltungen der Anschlüsse mehrerer Gruppen an die Speicherelemente anschalten, und dass die Speicheranordnung mit einer Abtastschaltung (AT) und Auswerteeinrichtungen (AW) zur Feststellung der richtigen und Anzeige der fehlenden und überzähligen Verbindungen zueammengeschaltet ist.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Speicherelemente aus je einer bistabilen Kippschaltung (Ki1...Ki40) und ein, er Koinzidenzschaltung (K01...K040) bestehen, und dass die Eingänge der Koinzidenzschaltung (E2 E5) an der zugehörigen Kippschaltung und an der Abtastschaltung (AT) angeschlossen und die Ausgänge der Speicherelemente (Gl...G4o, B1...B40) zur Auswerteeinrichtung (AW) geführt sind.
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschalteeinrichtungen aus potentialgesteuerten Dioden bestehen.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeic ffi et,dass an jedem Anschluss die Serieschaltung eines Widerstandes (W1-01...Wn40) und einer für das Prüfpotential durchlässig gepolten ersten Diode (D101...Dn40) angeschlossen ist, und dass die von je einem Anschluss aller Anschlussgruppen zusammengenonmenen Enden der Serieschaltungen zu einem Speicherelement geführt sind, ferner dass an Jedem Yerbindungspunkt einer ersten Diode mit einem Widerstand eine für das Prüfpotential ebenfalls durchlässig gepolte zweite Diode (D101'...Dn40') angeschlossen ist, welche Je Gruppe von Anschlüssen parallel verbunden und trennbar an einem das Prüfpotential (-48V) sperrenden Sperrpotential (+12V) angeschlossen sind.
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch 6, dad.urch gekennzeichnet, dass das Sperrpotential über einen Ausschalter (ed) und Je Anschlussgruppe über einen Widerstand (W1...Wn) und eine gruppenweise erste Diode (D1...Dn) an die miteinander parallel verbundenen zweiten Dioden angeschlossen ist, und dass dieser Parallelverbindungspunkt über eine in Durchgangsrichtung zum Sperrpotential gepolte gruppenweise zweite Diode (D1w...Dn)zu) einerseits über mindestens einenPrüfwahlkontakt (f1, ae bzw. f100, fe) an ein das Sperrpotential aufhebendes Entsperrpotential (-10V) und anderseits am einen Wicklungsende eines mit dem anderen Wicklungsende am Sperrpotential liegenden Sperrhalterelais (Si1...Sn1) angeschlossen ist, und dass durch einen Kontakt des erregten Sperrhalterelais (el...sn) das Sperrpotential über einen Widerstand (W1'...Wnl) an den genannten Patallelverbindungspunkt gelegt ist.
  8. 8. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass zum Anlegen des Prüfpotentials (-48V) an einen Anschluss einer Drahtverbindung ein codiertes, die gleichen Gruppen von Anschlüssen wie die Anschalteeinrichtungen umfassendes Schaltnetzwerk (SN) vorgesehen ist.
  9. 9. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschalteeinrichtung und/oder das Schaltnetzwerk aus Kontakten besteht.
  10. 10. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschalteeinrichtungund/oder das Schaltnetzwerk Schalttransistoren enthält.
  11. 11. Einrichtung nach den Ansprüchen 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dasS die Anschalteeinrichtung und/oder das Schaltnetzwerk mit fnte$rf'erten Schaltungen aufgebaut sind.
    Leerseite
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DE1945138B2 DE1945138B2 (de) 1977-10-27
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