DE1945138B2 - Verfahren und einrichtung zur pruefung einer elektrischen verdrahtung auf fehlende und ueberzaehlige verbindungen - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung einer Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen, wobei jede Verbindung der Verdrah-

tung durch Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch Vergleich des Potentials aller übrigen Anschlüsse der Verdrahtung mit einem Soll-Potential geprüft wird, sowie eine Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.

Zur Prüfung umfangreicher Verdrahtungen in Anlagen der Schwachstrom- und der Starkstromtechnik werden immer häufiger Prüfautomaten verwendet. Die Prüfzeiten lassen sich damit wesentlich reduzieren, und der Unsicherheitsfaktor im Erkennen der Fehler wird gegenüber anderen Prüfverfahren herabgesetzt. Diese Fehler bestehen darin, daß bei der Herstellung der Verdrahtung entweder Drahtverbindungen vergessen oder falsche, d.h. überzählige Drahtverbindungen eingesetzt werden, die die Funktionsfähigkeit der Anlage in Frage stellen.

Aus der DL-Patentschrift 33 490 ist ein Verfahren zum Prüfen von Verdrahtungen bekannt, das eine weitgehend automatische Prüfung einer Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen zuläßt.

Dabei wird jeder Schaltungspunkt der zu prüfenden Verdrahtung auf Verbindung mit allen übrigen Schaltungspunkten geprüft und die ermittelten Ist-Verbindungen werden auf einem Informationsträger gespeichert, der dann anschließend mit einem die Soll-Verdrahtung enthaltenden Informationsträger verglichen wird. Diese Art der Prüfung wird insbesondere bei eine Vielzahl von Schaltungspunkten aufweisenden Verdrahtungen sehr zeitaufwendig. Ferner ist aus der US-Patentschrift 32 53 220 eine Einrichtung zur Prüfung von Verdrahtungen bekannt, die mehrere, jeweils eine Gruppe bildende Verbindungen der Verdrahtung gleichzeitig prüft, wodurch die erforderliche Prüfzeit reduziert wird. Mit dieser Einrichtung können fehlende Verbindungen in einer Verdrahtung festgestellt werden,

^ft5 die Ermittlung überzähliger Verbindungen ist jedoch nur beschränkt möglich, da nur Kurzschlüsse zwischen zwei derselben Gruppe angehörenden Verbindungen festgestellt werden können.

£>er vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe aigrunde, _ejn Verfahren anzugeben, das einers-eits eine einen möglichst geringen Zeitaufwand erfordernde Prüfung von umfangreichen Verdrahtungen gestattet und das andererseits die Ermittlung samtlicher in einer Verdrahtung vorkommender Fehler (fehlende und überzählige Verbindungen) ermöglicht. Da^ erfindungsgemäße Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß alle Anschlüsse der Verdrahtung :n Gruppen mit gleicher Anzahl Anschlüsse gegliedert werden, daß nach dem Anlegen des Prüfpotentials an einen Anschluß einer zu prüfenden Verbindung zunächst die Anschlüsse derjenigen Gruppen, die mit dieser Verbindung verbunden sind, einzeln auf ihr Potential überprüft werden, daß hierauf die Anschlüsse aller übrigen Gruppen gemeinsam geprüft werden und daß die Anschlüsse der übrigen Gruppen nur dann noch einzeln geprüft werden, wenn bei der gemeinsamen Prüfung der Anschlüsse dieser übrigen Gruppen eine überzählige Verbindung festgestellt worden isL

Eine zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignete Einrichtung mit einer zentralen Speicherordnung, einer Anschalteeinrichtung zum Anschalten von Anschlüssen der Verdrahtung an die Speicheranordnung sowie mit Schaltmitteln zum Vergleich eines in der Speicheranordnung enthaltenen Ist-Zustandes der Verdrahtung mit dem Soll-Zustand der Verdrahtung ist dadurch gekennzeichnet, da/i mit der Anschalteeinrichtung alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und wählbar entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltung von sich entsprechenden Anschlüssen mehrerer Gruppen an Speicherelemente der Speicheranordnung anschaltbar

sind.
Anschalteeiniichtungen aus potentialgesteuerten

Dioden erweisen sich dank vielseitiger Anwendbarkeit und kleinem Platzbedarf als vorteilhaft. Dioden/Widerstandsverbindungen zwischen den Anschlüssen und den Speicherelementen können gruppenweise durch An- und Abschaltung eines Sperrpotentials für das Prüfpotential gesperrt bzw. durchlässig gemacht werden.

Das Sperrpotential kann auch für alle Anschlußgruppen gemeinsam und von Gruppe zu Gruppe entkoppelt über einen Ausschalter an den Dioden/Widerstandsverbindungen angeschlossen sein und je Gruppe durch ein Entsperrpotential unwirksam geschaltet werden. Die gruppenweise Anschaltung erfolgt dann durch Anlegen des Entsperrpotentials, und alle Anschlußgruppen können gleichzeitig durch Abschalten des Sperrpotentials, d. h. öffnen des Ausschalters wirksam mit den Speicherelementen verbunden werden.

Wenn mit dem Anlegen des Entsperrpotentials gleichzeitig die betreffende Anschhßgruppe noch einzeln an das Sperrpotential angeschlossen und daran gehalten wird, werden durch öffnen des erwähnten Ausschalters nur die vorgängig noch nicht einzeln entsperrten Anschlußgruppen gleichzeitig für das Prüfpotential wirksam an die Speicherelemente angeschaltet.

Die Anschalteeinrichtungen und/oder das Schaltnetzwerk können außer aus potentialgesteuerten Dioden auch aus Kontakten, Schalttransistoren oder integrierten Schaltungen aufgebaut sein. Kontakte erlauben die Prüfung mit praktisch beliebigen Strömen und spannungen.

An Hand der Zeichnung soll die Erfindung an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.

Die Zeichnung zeigt einen Schaltungsausschnitt eines in der Nachrichtentechnik verwendeten Prüfautomaten für Gestellverdrahtungen.

Die Darstellung umfaßt einige Drahtverbindungen des Prüflings P mit den Anschiußgruppen A I₁.4 2 und An, ein Schaltnetzwerk SN zum Anlegen eines Prüfpoienüals -48 Volt an jeweils einen Anschluß einer Drahtverbindung, ferner Anschalteeinrichtungen AS, eine Speicheranordnung SA, eine Abtastschaltung ATund Auswerteeinrichtungen AW. Mit den Anschal- • - teeinrichtungen lassen sich alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als von Gruppe zu Gruppe parallel geschaltete Anschlüsse mehrerer Gruppen an die Speicherelemente SE der Speicheranordnung anschali^; ten. Die Abtastschaltung tastet die Speicherelemente nach einem Prüfprogramm ab und die Auswerteeinrichtungen stellen die richtigen Verbindungen fest und bringen die fehlenden und überzähligen Verbindungen zur Anzeige. Nicht gezeichnet ist die Steuerung zur :o Betätigung der verschiedenen Teile nach einem vom Prüfling abhängigen Prüfprogramm.

Das Schaltnetzwerk SN ist für einen Prüfling mit mehreren hundert Gruppen zu je 40 Anschlüssen ausgelegt. Es enthält zwei Zwischenrelaissätze K 101 ... K 110 bis Kn Oi... Kn 10 bzw. M 1 ... M 100 und eine dekadische Kontaktanordnung. Die Kontakte ea 1 bis ea 0 und za 0 bis za 4 bestimmen die Einer- bzw. Zehnerziffer eines Anschlusses innerhalb einer der Gruppen Al bis An, und die Kontakte nal...na0; Vi ta 0 ... ta 9 und zta\... zra/legen die Einer-, Zehner- und Hunderterziffer der Gruppenbezeichnung fest. Diese Gruppenindexzahl oder Gruppenadresse wird im Prüfprogramm der zweistelligen Anschlußzahl linksseitig angefügt, so daß die tatsächlich durch eine Hunderter-, eine Tausender- und eine Zehntausenderziffer dargestellt ist. Die Kontakte ha und ta bestimmen zusammen das zu erregende Zwischenrelais M, und die Kontakte der M-Relais bereiten gemeinsam mit den Kontakten zta\ bis ztai den Stromkreis für je zehn K-Relais vor, aus denen der ea-Kontakt die Auswahl trifft. Jedes /(-Relais besitzt vier Kontakte, um zusammen mit den za-Kontakten das Prüfpotential an den zu markierenden Anschluß zu legen.

Die Anschalteeinrichtung AS zur gruppenweisen Anschaltung der Anschlüsse an die Speichereinheiten S£01 bis S£40 enthalten Serienschaltungen je eines Widerstandes WlOl... W140 bis Wn01... Wn 40und einer ersten Diode D101... D140 bis DnOl... Du zwischen den Speicherelementen und je einem Anschluß in allen Anschlußgruppen. Die Diode ist in Durchlaßrichtung zu dem an den Anschlüssen liegenden Prüfpotential gepolt. Ausgehend von den Verbindungspunkten zwischen Diode und Widerstand und nach je einer gleichgepolten zweiten Diode D10Γ ... D140' bis 55 DnOl' ... Dn40' besteht eine gruppenweise Parallelschaltung mit zwei parallelen Verbindungen zum Sperrpotential +12V. Die eine Verbindung verläuft über eine Entkopplungsdiode D 1... Dn, einen Widerstand Wi... Wnund einen für alle Gruppen gemeinsa-60 men Ausschalter oder Ruhekontakt ed, und die andere über einen Widerstand Wl'... Wn'und einen Kontakt si ...sn eines Sperrhalterelais 51 ... Sn. Der Gruppenparallelschaltpunkt ist außerdem über eine Sperrdiode DY... Dn' und programmgesteuerte Kontakte f\, 65 ztei... /100, z/e/an ein Entsperrungspotential -10 V anschaltbar, wobei durch die Sperrdiode das Entsperrpotential nur gegenüber einem positiveren Potential am Gruppenparallelschaltpunkt wirksam wird. Die pro-

grammgesteuerten Kontakte legen das Entsperrpotential auch an die Anzugswicklung 51'...Sn" des Sperrhalterelais, die mit ihrem zweiten Anschluß zum Sperrpotential +12V geführt ist. Dieses Relais wird durch eine zweite Wicklung Sl" ... Sn", den eigenen Kontakt s V und einen für alle Relais gemeinsamen Kontakt sh im angezogenen Zustand gehalten, bis für eine Drahtverbindung alle Anschlußgruppen geprüft sind. Die erwähnten Kontakte in der Verbindung zum Entsperrpotential werden durch die Gruppenadresse des Prüfprogramms gesteuert. Zwei Ziffern bestimmen eines der Zwischenrelais Fl... F100, und die dritte Ziffer einen der Kontakte zte 1... ztef in Serie zu den Kontakten der Zwischenrelais f\... /100.

Die Anzahl Speicherelemente 5E¹Ol... SE40 der Speicheranordnung SA ist gleich der Anzahl Anschlüsse einer Anschlußgruppe. Jedes Speicherelement besteht aus einer bistabilen Kippschaltung Ki und einer Koinzidenzschaltung Ko, im gezeichneten Beispiel sind beide aus je zwei NAND-Gliedern aufgebaut.

Die Kippschaltung ist der Speicher für das am Eingang £1 über die Dioden/Widerstandsverbindungen anstehende Prüfsignal, das dem Eingang £2 der Koinzidenzschaltung, und durch die Verbindungen Bi... B40 der Auswerteeinrichtung A W weitergegeben wird. Zur Rückstellung der Kippschaltung bestehen die Verbindungen Vi und E 6 mit der zugehörigen Koinzidenzschaltung bzw. mit dem für alle Kippschaltungen gemeinsamen Rückstellkontakt rk.

Das eine Glied der Koinzidenzschaltung ermittelt die fehlenden Verbindungen, seine drei Eingänge E2, E3 und EA sind mit der Kippschaltung bzw. mit den von der Einerziffer bzw. Zehnerziffer der Anschlußadresse im Prüfprogramm betätigten Kontakten in der Abtasteinrichtung ecl...ec0 und ze0...ze4 verbunden. Bei Koinzidenz der drei Eingänge wird über den Ausgang Gl... G 40 ein Signal an die Auswerteeinrichtungen A W abgegeben.

Das zweite Glied der Koinzidenzschaltung steuert die Rückstellung der Kippschaltung. Ein Eingang ist parallel zum Eingang £4 des ersten Gliedes mit dem Kontakt der Einer-Ziffer, und der zweite Eingang if 5 mit einem verzögert schließenden Kontakt der Zehner-Ziffer zv 0... zv 4 in der Abtastschaltung verbunden.

Bei der Prüfung jeder einzelnen Drahtverbindung ergibt sich der nachfolgend beschriebene Ablauf. Als Beispiel sei die Drahtverbindung A 1/10—A 1/40— A 2/10-ΛΠ/10-/4n/40 gewählt.

Zuerst wird die Anfangsadresse des Prüfprogramms, 00110, eingegeben, wobei die beiden äußersten Ziffern rechts die Anschlußadresse zum Anschluß 10 und die drei weiteren Ziffern die Gruppenadresse zur Gruppe A 1 bedeuten. Durch die Anfangsadresse schließen im Schaltnetzwerk SN entsprechend den Ziffern von links nach rechts die Kontakte zta 1, ta 0, ha 1, za 1 und ea 0. Die Zwischenrelais Ml und Ki\0 ziehen auf und das Prüfpotential -48 V wird über zai, ArIlO¹ an den Anschluß 10 der Gruppe A 1 gelegt und bis zum Abschluß der Prüfung dieses Drahtzuges dort belassen. Die Drahtverbindung des Prüflings leitet das Prüfpotential auch an die Anschlüsse A 1/40, A 2/10, AnIXQ und An/40.

In der Anschalteeinrichtung AS werden durch die Gruppenadresse die Kontakte ziel, feO und hei geschlossen. Das Zwischenrelais Fl erhält Strom und schließt mit seinem Kontakt fV den Entsperrstromkreis zur Gruppe A 1 und jenen des Sperrhalterelais S1. Alle Anschlüsse der Gruppe A 1 sind somit wirksam mit der Speicheranordnung SA verbunden, bis s 1 schließt.

Ebenfalls mit der ersten Gruppenadresse schließen die Kontakte ze 1 und ecO der Abtastschaltung A T.
Das angelegte bzw. durch die Drahtverbindung weitergeleitete Prüfpotential an den Anschlüssen A 1/10 und A t/40 legt über die wirksam geschalteten Dioden/Widerstandsverbindungen ein L-Signal an den Eingang Ei der beiden entsprechenden Speicherelemente Sf^-IO und Sf 40. Ihre Kippschaltungen nehmen

ίο jene bestimmte bistabile Lage ein, die über den einen Ausgang ein L-Signal zum Eingang E 2 der zugehörigen Koinzidenzschaltung vermittelt.

Die erste Anschlußadresse hat auch bewirkt, daß ein L-Signal an den Eingängen £3 und £4 des Speicherelementes S£ 10 liegt, da die Kontakte ze 1 und ecO in der Abtastschaltung A T geschlossen wurden. Am Ausgang G 10 erscheint deshalb ein 0-Signal, so daß von einer gemäß dem Prüfprogramm eingestellten Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung AW eine richtige Verbindung erkannt wird. Mit Zeitverzögerung schließt nun auch der Kontakt zv 1 und legt ein L-Signal an den Eingang £5 der Koinzidenzschaltung Ko 10, womit der Ausgang dieses Gliedes den Signalwert 0 annimmt und die Kippschaltung in die ursprüngliche stabile Lage zurücksteuert

Da alle Adressen einer begonnenen Anschlußgruppe nacheinander einzugeben sind, folgt als nächste Adresse, 00140, welche die gleiche Gruppenadresse, 001, wie die Anfangsadresse aufweist. Die Anschlußgruppe A 1 ist durch den Kontakt $1 bereits gesperrt. Nur in der Abtastschaltung wechselt die Kontaktschließung auf ze4 und ecO, und es erhält jetzt die Koinzidenzschaltung Ko 40 an den drei Eingangen £2, £3 und £4 je ein L-Signal, und der Ausgang G 40 nimmt den 0-Signalwert an. Die Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung A W Tindet auch hier Übereinstimmung mit dem Prüfprogramm, die festgestellte Drahtverbindung ist also richtig.
Wenn am Ausgang G 40 kein 0-Signal vorhanden wäre, würde dies bedeuten, daß die Verbindung fehlt, d. h. die Kippschaltung Ki 40 nicht gekippt worden wäre und am Eingang £2 der Koinzidenzschaltung Ko 40 kein L-Signal anwesend wäre. Es würde eine fehlende Verbindung angezeigt.

Die dritte Adresse des Prüfprogramms, 00210, bringt eine Änderung der Gruppenadresse auf die Gruppe A 2. Bevor der Anschluß 10 und auch die übrigen Anschlüsse dieser Gruppe auf Vorhandensein des Prüfpotentials geprüft werden, erfolgt die Kontrolle der vorgängig geprüften Gruppe A 1 auf überzählige Verbindungen. Die Auswerteeinrichtung A W stellt zunächst an Hand der Kippschaltungs-Ausgänge B1... B 40 fest, ob noch irgendeine Kippschaltung umgeschaltet ist. 1st dies der Fall, dann fragt die Abfrageschaltung in der Auswertest einrichtung alle Speichereinheiten ab und gleichzeitig werden der Reihe nach die Abtastkontakte ze und cc geschlossen. Die angesprochenen Kippschaltungen werden als überzählige Verbindungen angezeigt und dann zurückgestellt, so daß zuletzt alle Speicherelemente wieder in der Ursprungslage sind. Einzig das Spcrrhaltcrclais S1 bleibt erregt.

Erst jetzt ist die Verarbeitung der dritten Adresse frei. In der Anschalteeinrichtung schließen die Kontakte ac. ic 0 und Ae 2, das Relais F2 und auch das Spcrrhaltcrc-

(>.s lais S2 werden erregt, und die Anschlußgruppc A 2 ist wirksam an die Speicheranordnung angeschaltet. Die an den Anschlüssen vorhandenen Prüfpotentialc bringen die Kippschaltungen in die eine stabile Lage und die

Abtastschaltung stellt zusammen mit der Auswerteeinrichtung fest, ob die Kippschaltung KiIO gekippt, die programmgemäße Verbindung also vorhanden ist. Nun wird wieder eine neue Adresse eingegeben und wenn sie eine neue Gruppenadresse enthält, wird die vorgängige Gruppe wieder zuerst auf überzählige Verbindungen untersucht. Die Prüfung aller Gruppen, mit denen die Drahtverbindung programmgemäß Berührung hat, erfolgt in gleicher Art.

Nach der letzten Adresse zur Prüfung einer Drahtverbindung wird eine Trennungsadresse eingegeben. Sie bewirkt die Prüfung auf überzählige Verbindungen in allen noch nicht geprüften Gruppen. Zuerst werden alle Gruppen, mit Ausnahme der bereits geprüften, durch Öffnen des Ausschalters ec/gleichzeitig mit der Speicheranordnung wirksam verbunden. An den geprüften Gruppen bleibt das Sperrpotential durch den Kontakt des Sperrhalterelais S erhalten. In diesem Zustand wird an Hand der Ausgänge ΒΊ...Β40 lediglich festgestellt, ob irgendeine Kippschaltung durch vorhandenes Prüfpotenlial gekippt worden ist. Ist dies nicht der Fall, kann sogleich zur Prüfung der nächsten Drahtverbindung geschritten werden. Sind Kippschaltungen gekippt, dann werden alle Gruppen einzeln auf überzählige Verbindungen geprüft, wobei zuerst das Sperrpotential wieder angelegt und alle Kippschaltungen mittels des generellen Rückstellkontaktes rk zurückgestellt werden. Anschließend wird durch ein automatisches Fehlcrsuchprogramm jede mögliche Gruppe einzeln angeschaltet und die dabei festgestellten überzähligen Verbindungen zur Anzeige gebracht. Die bereits geprüften Gruppen werden erst nach Abschluß der ganzen Prüfung einer Drahtverbindung wieder entsperrt, indem der Haltekontakt sh öffnet und die Sperrhalterelais Sabfallen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (7)

Patentansprüche:

1. Verfahren zur Prüfung einer Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen, wobei jede Verbindung der Verdrahtung durch Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch Vergleich des Potentials aller übrigen Anschlüsse der Verdrahtung mit einem Soil-Potential geprüft wird, dadurch gekennzeichnet, daß alle Anschlüsse der Verdrahtung in Gruppen mit gleicher Anzahl Anschlüsse gegliedert werden, daß nach dem Anlegen des Prüfpotentials an einen Anschluß einer zu prüfenden Verbindung zunächst die Anschlüsse derjenigen Gruppen, die mit dieser Verbindung verbunden sind, einzeln auf ihr Potential überprüft werden, daß hierauf die Anschlüsse aller übrigen Gruppen gemeinsam geprüft werden und daß die Anschlüsse der übrigen Gruppen nur dann noch einzeln geprüft werden, wenn bei der gemeinsamen Prüfung der Anschlüsse dieser übrigen Gruppen eine überzählige Verbindung festgestellt worden ist.

2. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einer zentralen Speicheranordnung (SA), einer Anschalteeinrichtung (AS) zum Anschalten von Anschlüssen der Verdrahtung an die Speicheranordnung (SA) sowie mit Schaltmitteln zum Vergleich eines in der Speicheranordnung (SA) enthaltenen Ist-Zustandes der Verdrahtung mit dem Soll-Zustand der Verdrahtung, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Anschaheeinrichtung (AS)aUe Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und wählbar entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltung von sich entsprechenden Anschlüssen mehrerer Gruppen an Speicherelemente (SE) der Speicheranordnung (SA) anschaltbar sind.

3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicheranordnung (SA) eine der Anzahl Anschlüsse in einer Gruppe entsprechende Anzahl von Speicherelementen (SE) aufweist.

4. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschalteeinrichtung (AS) im wesentlichen aus potentialgesteuerten Dioden aufgebaut ist.

5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß an jedem Anschluß die Serienschaltung eines ersten Widerstandes (WiQi... Wn40) und einer für das Prüfpotential durchlässig gepolten ersten Diode (D 101... Dn 40) angeschlossen ist, und daß die von je einem Anschluß aller Anschlußgruppen zusammengenommenen Enden der Serienschaltungen zu einem Speicherelement (SE) der Speicheranordnung (SA) geführt sind, daß ferner an jedem Verbindungspunkt der ersten Diode mit dem ersten Widerstand je eine für das Prüfpotential ebenfalls durchlässig gepolte zweite Diode (DiQi'... Dn40') angeschlossen ist, die je Gruppe von Anschlüssen auf einer Seite zusammengeschaltet und trennbar an einem das Prüfpotential (—48 V) sperrenden Sperrpotential ( + 12 V) angeschlossen sind.

6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Sperrpoteniia! ( +12 V) über einen Ausschalter (ed) und je Anschlußgruppe über einen zweiten Widerstand (Wi... Wn) und eine dritte Diode (Di... Dn)an den gemeinsamen Anschlußpunkt der miteinander auf einer Seite zusammengeschalteten zweiten Dioden (DiQV ... DnAQ¹) angeschlossen ist, und daß dieser Zusamnienschaltungspunkt über eine in Durchgangsrichtung zum Sperrpotential gepolle, pro Gruppe vorhandene vierte Diode (DV ... Dn') einerseits über mindestens einen Prüfwahlkontakt (71, ztei bzw. /Ί00, ztef) an ein das Sperrpoteritial aufhebendes Entsperrpotential (-10V) und andererseits am einen Wicklungsende eines mit dem anderen Wicklungsende am Sperrpotential liegenden Sperrhalterelais CSl¹... Sn¹) angeschlossen ist, und daß durch einen Kontakt des erregten Sperrhalterelais (si ... sn) das Sperrpotential über einen dritten Widerstand (WV... Wn') an den genannten Zusammenschaltungspunkt gelegt ist.

7. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Anlegen des Prüfpotentials (-48 V) an einen Anschluß einer Drahtverbindung ein die gleichen Gruppen von Anschlüssen wie die Anschalteeinrichtung (AS) umfassendes Schaltnetzwerk (SN) vorgesehen ist.