DE1945138C3 - Verfahren und Einrichtung zur Prüfung einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zur Prüfung einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige VerbindungenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung einer Verdrahtung auf fehlende und überzählige
Verbindungen, wobei jede Verbindung der Verdrahtung durcn Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer
Anschlüsse und durch Vergleich des Potentials aller übrigen Anschlüsse der Verdrahtung mit einem
Soll-Potential geprüft wird, sowie eine Einrichtung zur
Durchführung dieses Verfahrens.
Zur Prüfung umfangreicher Verdrahtungen in Anlagen der Schwachstrom- und der Starkstromtechnik
werden immer häufiger Prüfautomaten verwendet Die Prüfzeiten lassen sich damit wesentlich reduzieren, und
der Unsicherheitsfaktor im Erkennen der Fehler wird gegenüber anderen Prüfverfahren herabgesetzt. Diese
Fehler bestehen darin, daß bei der Herstellung der Verdrahtung entweder Drahtverbindungen vergessen
oder falschs, d.h. überzählige Drahtverbindungen eingesetzt werden, die die Funktionsfähigkeit der
Anlage in Frage stellen.
Aus der DD-Patentschrift 33 490 ist ein Verfahren zum Prüfen von Verdrahtungen bekannt, das eine
weitgehend automatische Prüfung einer Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen zuläßt
Dabei wird jeder Schaltungspunkt der zu prüfenden Verdrahtung auf Verbindung mit allen übrigen Schaltungspunkten
geprüft und die ermittelten Ist-Verbindungen werden auf einem Informationsträger gespeichert,
der dann anschließend mit einem die Soll-Verdrahtung enthaltenden Informationsträger verglichen
wird. Diese Art der Prüfung wird insbesondere bei eine Vielzahl von Schaltungspunkten aufweisenden Verdrahtungen
sehr zeitaufwendig. Ferner ist aus der US-Patentschrift 32 53 220 eine Einrichtung zur Prüfung von
Verdrahtungen bekannt die mehrere, jeweils eine Gruppe bildende Verbindungen der Verdrahtung
gleichzeitig prüft, wodurch die erforderliche Prüfzeit reduziert wird. Mit dieser Einrichtung können fehlende
Verbindungen in einer Verdrahtung festgestellt werden, die Ermittlung überzähliger Verbindungen ist jedoch
nur beschränkt möglich, da nur Kurzschlüsse zwischen
zwei derselben Gruppe angehörenden Verbindungen festgestellt werden können.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren anzugeben, das einerseits eine
einen möglichst geringen Zeitaufwand erfordernde Prüfung von umfangreichen Verdrahtungen gestattet
und das andererseits die Ermittlung sämtlicher in einer Verdrahtung vorkommender Fehler (fehlende und
überzählige Verbindungen) ermöglicht Das erfindungsgemäße Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß alle
Anschlüsse der Verdrahtung in Gruppen mit gleicher Anzahl Anschlüsse gegliedert werden, daß nach dem
Anlegen des Prüfpotentials an einen Anschluß einer zu prüfenden Verbindung zunächst die Anschlüsse derjenigen
Gruppen, die mit dieser Verbindung verbunden sind, einzeln auf ihr Potential überprüft werden, daß
hierauf die Anschlüsse aller übrigen Gruppen gemeinsam geprüft werden und daß die Anschlüsse der übrigen
Gruppen nur dann noch einzeln geprüft werden, wenn bei der gemeinsamen Prüfung der Anschlüsse dieser
übrigen Gruppen eine überzählige Verbindung festgestellt worden ist
Eine zur Durchführung des erf'indungsgemäßen
Verfahrens geeignete Einrichtung mit einer zentralen Speicherordnung, einer Anschalteeinrichtung zum Anschalten
von Anschlüssen der Verdrahtung an die Speicheranordnung sowie mit Schaltmitteln zum Vergleich
eines in der Speicheranordnung enthaltenen Ist-Zustandes der Verdrahtung mit dem Soll-Zustand
der Verdrahtung ist dadurch gekennzeichnet, ds B mit
der Anschalteeinrichtung alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und wählbar entweder als einzelne
Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltung von
sich entsprechenden Anschlüssen mehrerer Gruppen an Speicherelemente der Speicheranordnung anschaltbar
sind.
Anschalteeinrichtungen aus pbtentialgesteuenen Dioden erweisen sich dank vielseitiger Anwendbarkeit
und kleinem Platzbedarf als vorteilhaft Dioden/Widerstandsverbindungen zwischen den Anschlüssen und den
Speicherelementen können gruppenweise durch An- und Abschaltung eines Sperrpotentials für das Prüfpotential
gesperrt bzw. durchlässig gemacht werden.
Das Sperrpotential kann auch für alle Anschlußgruppen gemeinsam und von Gruppe zu Gruppe entkoppelt
über einen Ausschalter an den Dioden/Widerstandsverbindungen angeschlossen sein und je Gruppe durch ein
Entsperrpotential unwirksam geschaltet werden. Die gruppenweise Anschaltung erfolgt dann durch Anlegen
des Entsperrpotentials, und alle Anschlußgruppen können gleichzeitig durch Abschalten des Sperrpotentials,
d.h. öffnen des Ausschalters wirksam mit den Speicherelementen verbunden werden.
Wenn mit dem Anlegen des Entsperrpotentials gleichzeitig die betreffende Anschlußgruppe noch
einzeln an das Sperrpotential angeschlossen und daran
gehalten wird, werden durch öffnen des erwähnten Ausschalters nur die vorgängig noch nicht einzeln
entsperrten Anschlußgruppen gleichzeitig für das Prüfpotential wirksam an die Speicherelemente ingeschaltet
Die Anschalteeinrichtungen und/oder das Schaltnetzwerk
können außer aus potentialgesteuerten Dioden auch aus Kontakten, Schalttransistoren oder integrierten
Schaltungen aufgebaut sein. Kontakte erlauben die Prüfung mit praktisch beliebigen Strömen und Spannungen.
An Hand der Zeichnung soll die Erfindung an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.
in der Nachrichtentechnik verwendeten Prüfautomaten für Gestellverdrahtungen.
Die Darstellung umfaßt einige Drahtverbindungen des Prüflings P mit den Anschlußgruppen Ai, Λ 2 und
An, ein Schaltnetzwerk SN zum Anlegen eines Prüf potentials -48 Volt an jeweils einen Anschluß
einer Drahtverbindung, ferner Anschalteeinrichtungen AS, eine Speicheranordnung SA, eine Abtastschaltung
Λ Γ und Auswerteeinrichtungen AW. Mit den Anschal-ο
^einrichtungen lassen sich alle Anschlüsse der Verdrahtung
gruppenweise entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als von Gruppe zu Gruppe parallel
geschaltete Anschlüsse mehrerer Gruppen an die Speicherelemente SE der Speicheranordnung anschalten.
Die Abtastschaltung tastet die Speicherelemente nach einem Prüfprogramm ab und die Auswerteeinrichtungen
stellen die richtigen Verbindungen fest und bringen die fehlenden und überzähligen Verbindungen
zur Anzeige. Nicht gezeichnet ist die Steuerung zur Betätigung der verschiedenen Teile nach einem vom
Prüfling abhängigen Prüfprogramm.
Das Schaltnetzwerk SN ist für einen Prüfling mit mehreren hundert Gruppen zu je 40 Anschlüssen
ausgelegt Es enthält zwei Zwischenrelaissätze K101...K110 bis KnOi ... Kn 10 bzw. Ml... Λ/100
und eine dekadische Kontaktanordnung. Die Kontakte ea 1 bis ea 0 und za 0 bis za 4 bestimmen die Einer- bzw.
Zehnerziffer eines Anschlusses innerhalb einer der Gruppen A 1 bis An, und die Kontakte hai... ha 0;
ta 0... ta 9 und zta\... ztaAegen die Einer-, Zehner- und
Hunderterziffer der Gruppenbezeichnung fest Diese Gruppenindexzahl oder Gruppenadresse wird im
Prüfprogramm der zweistelligen Anschlußzahl linksseitig angefügt so daß die tatsächlich durch eine
Hunderter-, eine Tausender- und eine Zehntausenderziffer dargestellt ist Die Kontakte ha und ta bestimmen
zusammen das zu erregende Zwischenrelais M, und die Kontakte der M-Relais bereiten gemeinsam mit den
Kontakten zta\ bis ztar den Stromkreis für je zehn
trifft Jedes /^-Relais besitzt vier Kontakte, um
zusammen mit den za-Kontakten das Prüfpotential an den zu markierenden Anschluß zu legen.
Anschaltung der Anschlüsse an die Speichereinheiten SEQi bis SE40 enthalten Serienschaltungen je eines
Widerstandes WlOl... W140 bis WnOl... Wn 40 und
einer ersten Diode D101... D140 bis Dn 01... Dn 40
zwischen den Speicherelementen und je einem Anschluß in allen Anschlußgruppen. Die Diode ist in
Durchlaßrichtung zu dem an den Anschlüssen liegenden Prüfpotential gepolt. Ausgehend von den Verbindungspunkten zwischen Diode und Widerstand und nach je
einergleichgepoltenzweiten Diode D10Γ ...D140'bis
Dn 01' ... Dn 40' besteht eine gruppenweise Parallelschaltung mit zwei parallelen Verbindungen zum
Sperrpotential +12V. Die eine Verbindung verläuft über eine Entkopplungsdiode Di... Dn, einen Widerstand
Wi... Wn und einen für alle Gruppen gemeinsamen
Ausschalter oder Ruhekontakt ed, und die andere
über einen Widerstand WY... Wn'und einen Kontakt
51... s/7 eines Sperrhalterelais Si ...Sn. Der Gruppenparallelschallpunkt
ist außerdem über eine Sperrdiode DY... Dn' und programmgesteuerte Kontakte /Ί,
ztei.../100, ztef an ein Entsperrungspotential -10 V
anschaltbar, wobei durch die Sperrdiode das Entsperrpotential nur gegenüber einem positiveren Potential am
Gruppenparallelschaltpunkt wirksam wird. Die pro-
grarnmgesteuerten Kontakte legen das Entsperrpotential
auch an die Anzugswicklung SI1...Sn" des
Sperrhalterelais, die mit ihrem zweiten Anschluß zum Sperrpotential +12V geführt ist. Dieses Relais wird
durch eine zweite Wicklung 51" ... Sn11, den eigenen
Kontakt si' und einen für alle Relais gemeinsamen
Kontakt sh im angezogenen Zustand gehalten, bis für eine Drahtverbindung alle Anschlußgruppen geprüft
sind. Die erwähnten Kontakte in der Verbindung zum Entsperrpotential werden durch die Gruppenadresse ι ο
des Prüfprogramms gesteuert. Zwei Ziffern bestimmen eines der Zwischenrelais Fl... F100, und die dritte
Ziffer einen der Kontakte ztei...ztei in Serie zu den
Kontakten der Zwischenrelais /1... /100.
Die Anzahl Speicherelemente SEOl... SE40 der
Speicheranordnung SA ist gleich der Anzahl Anschlüsse einer Anschlußgruppe. Jedes Speicherelement besteht
aus einer bistabilen Kippschaltung Ki und einer Koinzidenzschaltung Ko, im gezeichneten Beispiel sind
beide aus je zwei NAND-Gliedern aufgebaut.
Die Kippschaltung ist der Speicher für das am Eingang £1 über die Dioden/Widerstandsverbindungen
anstehende Prüfsignal, das dem Eingang £2 der Koinzidenzschaltung, und durch die Verbindungen
Bi... B40 der Auswerteeinrichtung AWweitergegeben
wird. Zur Rückstellung der Kippschaltung bestehen die Verbindungen Vi und £6 mit der zugehörigen
Koinzidenzschaltung bzw. mit dem für alle Kippschaltungen gemeinsamen Rückstellkontakt rk.
Das eine Glied der Koinzidenzschaltung ermittelt die fehlenden Verbindungen, seine drei Eingänge E2, EZ
und £4 sind mit der Kippschaltung bzw. mit den von der Einerziffer bzw. Zehnerziffer der Anschlußadresse im
Prüfprogramm betätigten Kontakten in der Abtasteinrichtung eci...ec0 und ze0...ze4 verbunden. Bei
Koinzidenz der drei Eingänge wird über den Ausgang Gi... G40 ein Signal an die Auswerteeinrichtungen
A "/abgegeben.
Das zweite Glied der Koinzidenzschaltung steuert die Rückstellung der Kippschaltung. Ein Eingang ist parallel
zum Eingang EA des ersten Gliedes mit dem Kontakt der Einer-Ziffer, und der zweite Eingang £5 mit einem
verzögert schließenden Kontakt der Zehner-Ziffer zv 0... zv 4 in der Abtastschaltung verbunden.
Bei der Prüfung jeder einzelnen Drahtverbindung ergibt sich der nachfolgend beschriebene Ablauf. Als
Beispiel sei die Drahtverbindung A 1/10—Λ 1/40—
A 2/10—AnIW- An/40 gewählt.
Zuerst wird die Anfangsadresse des Prüfprogramms, 00110, eingegeben, wobei die beiden äußersten Ziffern
rechts die Anschlußadresse zum Anschluß 10 und die drei weiteren Ziffern die Gruppenadresse zur Gruppe
A 1 bedeuten. Durch die Anfangsadresse schließen im Schaltnetzwerk SN entsprechend den Ziffern von links
nach rechts die Kontakte zta 1, ta 0, ha 1, za 1 und ea 0.
Die Zwischenrelais Mi und KHQ ziehen auf und das
Prüfpotential -48 V wird über zat, ArIlO1 an den
Anschluß 10 der Gruppe A1 gelegt und bis zum Abschluß der Prüfung dieses Drahtzuges dort belassen.
Die Drahtverbindung des Prüflings leitet das Prüfpotential
auch an die Anschlüsse A 1/40, A 2/10, An/10 und AnIAO.
In der Anschalteeinrichtung AS werden durch die
Gruppenadresse die Kontakte ztei, teO und AeI
geschlossen. Das Zwischenrelais Fl erhält Strom und schließt mit seinem Kontakt fil den Entsperrstromkreis
zur Gruppe A 1 und jenen des Sperrhalterelais 51. Alle
Anschlüsse der Gruppe A 1 sind somit wirksam mit der
Ebenfalls mit der ersten Gruppenadresse schließen die Kontakte ze i und ec 0 der Abtastschaltung A T.
Das angelegte bzw. durch die Drahtverbindung weitergeleitete Prüfpotential an den Anschlüssen
A 1/10 und A 1/40 legt über die wirksam geschalteten Dioden/Widerslandsverbindungen ein L-Signal an den
Eingang El der beiden entsprechenden Speicherelemente
5E10 und SE40. Ihre Kippschaltungen nehmen
jene bestimmte bistabile Lage ein, die über den einen Ausgang ein L-Signal zum Eingang E 2 der zugehörigen
Koinzidenzschaltung vermittelt.
Die erste Anschlußadresse hat auch bewirkt, daß ein L-Signal an den Eingängen E3 und E4 des Speicherelementes
SElO liegt, da die Kontakte ze 1 und ecO in der
Abtastschaltung A T geschlossen wurden. Am Ausgang G 10 erscheint deshalb ein 0-Signal, so daß von einer
gemäß dem Prüfprogramm eingestellten Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung AW eine richtige
Verbindung erkannt wird. Mit Zeitverzögerung schließt nun auch der Kontakt zv 1 und legt ein L-Signal an den
Eingang E5 der Koinzidenzschaltung Ko 10, womit der Ausgang dieses Gliedes den Signalwert 0 annimmt und
die Kippschaltung in die ursprüngliche stabile Lage zurücksteuert
Da alle Adressen einer begonnenen Anschlußgruppe nacheinander einzugeben sind, folgt als nächste Adresse,
00140, welche die gleiche Gruppenadresse, 001, wie die Anfangsadresse aufweist Die Anschlußgruppe A 1 ist
durch den Kontakt si bereits gesperrt Nur in der Abtastschaltung wechselt die Kontaktschließung auf
ze4 und ecO, und es erhält jetzt die Koinzidenzschaltung
Ko 40 an den drei Eingangen £2, £3 und £4 je ein
L-Signal, und der Ausgang G 40 nimmt den 0-Signalwert
an. Die Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung A W findet auch hier Übereinstimmung mit dem
Prüfprogramm, die festgestellte Drahtverbindung ist also richtig.
Wenn am Ausgang G 40 kein 0-Signal vorhanden wäre, würde dies bedeuten, daß die Verbindung fehlt,
d. h. die Kippschaltung KV 40 nicht gekippt worden wäre
und am Eingang E 2 der Koinzidenzschaltung Ko 40 kein L-Signal anwesend wäre. Es würde eine fehlende
Verbindung angezeigt
Die dritte Adresse des Prüfprogramms, 00210, bringt eine Änderung der Gruppenadresse auf die Gruppe A 2
Bevor der Anschluß 10 und auch die übrigen Anschlüsse dieser Gruppe auf Vorhandensein des Prüfpotentials
geprüft werden, erfolgt die Kontrolle der vorgängig geprüften Gruppe A 1 auf überzählige Verbindungen.
Die Auswerteeinrichtung A W stellt zunächst an Hand der Kippschaltungs-Ausgänge Bi... BAO fest, ob noch
irgendeine Kippschaltung umgeschaltet ist Ist dies der Fall, dann fragt die Abfrageschaltung in der Auswerteeinrichtung
alle Speichereinheiten ab und gleichzeitig werden der Reihe nach die Abtastkontakte ze und ec
geschlossen. Die angesprochenen Kippschaltungen werden als überzählige Verbindungen angezeigt und
dann zurückgestellt so daß zuletzt alle Speicherelemente wieder in der Ursprungslage sind. Einzig das
Sperrhalterelais S1 bleibt erregt
Erst jetzt ist die Verarbeitung der dritten Adresse frei
In der Anschalteeinrichtung schließen die Kontakte ae ieO und Ae 2, das Relais F2 und auch das Sperrhaltere
lais 52 werden erregt, und die Anschlußgruppe A 2 ist
wirksam an die Speicheranordnung angeschaltet Die ar den Anschlüssen vorhandenen Prüfpotentiale bringer
die Kippschaltungen in die eine stabile Lage und die
Abtastschaltung stellt zusammen mit der Auswerteeinrichtung fest, ob die Kippschaltung Ki 10 gekippt, die
programmgemäße Verbindung also vorhanden ist. Nun wird wieder eine neue Adresse eingegeben und wenn sie
eine neue Gruppenadresse enthält, wird die vorgängige Gruppe wieder zuerst auf überzählige Verbindungen
untersucht. Die Prüfung aller Gruppen, mit denen die Drahtverbindung programmgemäß Berührung hat.
erfolgt in gleicher Art.
Nach der letzten Adresse zur Prüfung einer Drahtverbindung wird eine Trennungsadresse eingegeben.
Sie bewirkt die Prüfung auf überzählige Verbindungen in allen noch nicht geprüften Gruppen. Zuerst
werden alle Gruppen, mit Ausnahme der bereits geprüften,durch öffnendes Ausschalters ec/gleichzeitig
mit der Speicheranordnung wirksam verbunden. An den geprüften Gruppen bleibt das Sperrpotential durch den
Kontakt des Sperrhaltcrelais S erhalten. In diesem
Zustand wird an Hand der Ausgänge Bi...B40
lediglich festgestellt, ob irgendeine Kippschaltung durch
vorhandenes Prüfpotential gekippt worden ist. Ist dies nicht der Tail, kann sogleich zur Prüfung der nächsten
Drahtverbindung geschritten werden. Sind Kippschaltungen gekippt, dann werden alle Gruppen einzeln auf
überzählige Verbindungen geprüft, wobei zuerst das Sperrpotential wieder angelegt und alle Kippschaltungen
mittels des generellen Rückstellkontaktes rk zurückgestellt werden. Anschließend wird durch ein
automatisches Fehlersuchprogramm jede mögliche Gruppe einzeln angeschaltet und die dabei festgestellten
überzähligen Verbindungen zur Anzeige gebracht. Die bereits geprüften Gruppen werden erst nach
Abschluß der ganzen Prüfung einer Drahtverbindung wieder entsperrt, indem der Haltekontakt sh öffnet und
die Sperrhaiterelais Sabfallen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Verfahren zur Prüfung eimer Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen, wobei jede
Verbindung der Verdrahtung durch Anlegen eines Prüfpotentials an einen ihrer Anschlüsse und durch
Vergleich des Potentials aller übrigen Anschlüsse der Verdrahtung mit einem Soll-Potential geprüft
wird, dadurch gekennzeichnet, daß alle Anschlüsse der Verdrahtung in Gruppen mit
gleicher Anzahl Anschlüsse gegliedert werden, daß nach dem Anlegen des Prüf potentials an einen
Anschluß einer zu prüfenden Verbindung zunächst die Anschlüsse derjenigen Gruppen, die mit dieser
Verbindung verbunden sind, einzeln auf ihr Potential überprüft werden, daß hierauf die Anschlüsse aller
übrigen Gruppen gemeinsam geprüft werden und daß die Anschlüsse der übrigen Gruppen nur dann
noch einzeln geprüft werden, wenn bei der gemeinsamen Prüfung der Anschlüsse dieser übrigen
Gruppen eine überzählige Verbindung festgestellt worden ist
2. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einer zentralen Speicheranordnung
(SA) einer Anschalteeinrichtung (AS) zum Anschalten von Anschlüssen der Verdrahtung an die
Speicheranordnung (SA) sowie mit Schaltmitteln zum Vergleich eines in der Speicheranordnung (SA)
enthaltenen Ist-Zustandes der Verdrahtung mit dem Soll-Zustand der Verdrahtung, dadurch gekennzeichnet,
daß mit der Anschalteeinrichtung (AS)alle Anschlüsse der Verdrahtung gruppenweise und
wählbar entweder als einzelne Anschlüsse einer Gruppe oder als Parallelschaltung von sich entsprechenden
Anschlüssen mehrerer Gruppen an Speicherelemente (SE) der Speicheranordnung (SA)
anschaltbar sind.
3. Einrichtung nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet
daß die Speicheranordnung (SA) eine der 4"
Anzahl Anschlüsse in einer Gruppe entsprechende Anzahl von Speicherelementen (;?ίζ) aufweist.
4. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet
daß die Anschalteeinrichtung (AS) im wesentlichen aus potentialgesteuerten Dioden aufgebaut
ist
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß an jedem Anschluß die Serienschaltung
eines ersten Widerstandes (WlOl... Wn40)
und einer für das Prüfpotential durchlässig gepolten ersten Diode (D 101... Dn 40) angeschlossen ist,
und daß die von je einem Anschluß aller Anschlußgruppen zusammengenommenen Enden
der Serienschaltungen zu einem Speicherelement (SE) der Speicheranordnung (SA) geführt sind, daß
ferner an jedem Verbindungspunkt der ersten Diode mit dem ersten Widerstand je eine für das
Prüfpotential ebenfalls durchlässig gepolte zweite Diode (DlOl'...Dn40") angeschlossen ist die je
Gruppe von Anschlüssen auf einer Seite zusammengeschaltet und trennbar an einem das Prüfpotential
(-48V) sperrenden Sperrpotential (+12V) angeschlossen
sind.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet daß das Sperr potential (+12 V) über einen 6S
Ausschalter (cd) und je Anschluß gruppe über einen zweiten Widerstand (Wi... Wm) und eine dritte
Diode (Di ... Dn) an den gemeinsamen Anschlußpunkt der miteinander auf einer Seite zusammengeschalteten
zweiten Dioden (DiOV... Dn40*) angeschlossen
ist und daß dieser Zusammenschaltungspunkt über eine in Durchgangsrichtur.g zum
Sperrpotential gepolte, pro Gruppe vorhandene vierte Diode (DV ... Dn') einerseits über mindestens
einen Prüfwahlkontakt (fi, ztei bzw. /100, ztef) an ein das Sperrpotential aufhebendes Entsperrpotential
(-10V) und andererseits am einen Wicklungsende eines mit dem anderen Wicklungsende
am Sperrpotential liegenden Sperrhalterelais (Sl1... Sri) angeschlossen ist, und daß durch einen
Kontakt des erregten Sperrhalterelais (st... sn) das
Sperrpotential über einen dritten Widerstand (WV... Wn') an den genannten Zusammenschaltungspunkt
gelegt ist
7. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet daß zum Anlegen des Prüfpotentials
(—48 V) an einen Anschluß einer Drahtverbindung ein die gleichen Gruppen von Anschlüssen wie die
Anschalteeinrichtung (AS) umfassendes Schaltnetzwerk (SN) vorgesehen ist
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH573169A CH489807A (de) | 1969-04-16 | 1969-04-16 | Verfahren und Einrichtung zur Prüfung der Verbindungen einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1945138A1 DE1945138A1 (de) | 1970-11-19 |
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ID=4298408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1945138A Expired DE1945138C3 (de) | 1969-04-16 | 1969-09-05 | Verfahren und Einrichtung zur Prüfung einer elektrischen Verdrahtung auf fehlende und überzählige Verbindungen |
Country Status (3)
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DE (1) | DE1945138C3 (de) |
IL (1) | IL34309A0 (de) |
Families Citing this family (3)
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---|---|---|---|---|
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DE3406099A1 (de) * | 1984-02-20 | 1985-08-22 | John Lausanne Mladota | Beschichtungsvorrichtung fuer materialbahnen |
CN112677768B (zh) * | 2020-04-01 | 2022-11-01 | 长城汽车股份有限公司 | 确定车辆高压回路的连接可靠性的方法及系统 |
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- 1969-04-16 CH CH573169A patent/CH489807A/de not_active IP Right Cessation
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1970
- 1970-04-14 IL IL34309A patent/IL34309A0/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
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IL34309A0 (en) | 1970-06-17 |
CH489807A (de) | 1970-04-30 |
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