DE951157C - Schablonengesteuerte Pruefanordnung zur selbsttaetigen Pruefung elektrotechnischer Geraete und Einrichtungen - Google Patents

Schablonengesteuerte Pruefanordnung zur selbsttaetigen Pruefung elektrotechnischer Geraete und Einrichtungen

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DE951157C
DE951157C DEM18662A DEM0018662A DE951157C DE 951157 C DE951157 C DE 951157C DE M18662 A DEM18662 A DE M18662A DE M0018662 A DEM0018662 A DE M0018662A DE 951157 C DE951157 C DE 951157C
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DEM18662A
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Inventor
Albert Buhr
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Standard Elektrik AG
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Standard Elektrik AG
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing

Description

  • Schablonengesteuerte Prüfanordnung zur selbsttätigen Prüfung elektrotechnischer Geräte und Einrichtungen In der Elektrotechnik ist es zur Betriebssicherheit einer Anlage notwendig, einzelne Einrichtungen und Geräte unter anderem einer Prüfung auf Hochspannungsdurchschlag und Isolation zu unterziehen. Dies trifft z. B. für Halb- und Fertigfabrikate und Einrichtungen in Fernmeldeanlagen zu. Zu diesem Zweck sind Prüfgeräte entwickelt worden, an die das zu prüfende Gerät oder die Einrichtung, der sogenannte Prüfling, angeschaltet wird. Der Prüfling wird dabei meist mehreren Prüfarten unterworfen, die bei einer bekannten Anordnung dieser Art nacheinander von Hand vorgenommen werden. Dabei wird der Prüfling über einen Schaltungswähler, der nach dem Kreuzschienenprinzip aufgebaut ist, an die verschiedenen Prüfteile, wie Spannungsquelle oder Meßinstrument, angeschaltet. Die einzelnen Kreuzungspunkte des Schaltungswählers werden durch Kontaktstöpsel miteinander verbunden. Diese von Hand vorzunehmenden Einstellungen des Prüfgerätes auf die einzelnen Prüfarten sind verhältnismäßig zeitraubend und bedürfen zudem einer ständigen Beobachtung der Prüfteile, .wodurch insbesondere nach längerer Zeit durch Ermüdung des Prüfenden Ablesefehler auftreten können. Um die Einstellung zu erleichtern, sind bei der bekannten Anordnung Lochkarten vorgesehen, die auf den Schaltungswähler gelegt werden und durch Einstecken der Stöpsel in die gelochten Stellen die Herstellung der richtigen Verbindungen ermöglichen. Ein Nachteil dieser Anordnung besteht darin, daß jeweils nur ein einzelner Prüfling den verschiedenen Prüfarten unterworfen werden kann, so daß die Prüfung mehrerer Prüflinge viel Zeit in Anspruch nimmt.
  • Es ist weiterhin eine Prüfanordnung bekannt, bei der ein oder mehrere elektrotechnische Geräte und Einrichtungen nacheinander selbsttätig geprüft werden. Dabei liegen sämtliche Prüfpunkte an Potential und werden nacheinander unter gleichzeitiger Abschaltung von dem angelegten Potential abgeschaltet. Für jede Prüfart, wie Stromdurchgang oder Isolation, ist ein besonderer Prüfteil erforderlich, dem wiederum eine besondere Prüfbank zugeordnet ist. Derartige bekannte Anordnungen weisen jedoch außer dem verhältnismäßig hohen Aufwand an Schaltmitteln den großen Nachteil auf, daß ein Prüfling, der mehreren Prüfarten unterworfen werden soll, nach jeder Einzelprüfung von der einen Prüfbank auf die andere umgeklemmt werden muß. Zwar ist es bei dieser bekannten Anordnung möglich, mehrere Prüflinge an ein und dieselbe Prüfbank anzuschließen und nacheinander selbsttätig der betreffenden Prüfart zu unterwerfen, der gesamte Prüfprozeß, bestehend aus mehreren Prüfarten, nimmt jedoch zur Prüfung auch nur eines einzigen Prüflings viel Zeit in Anspruch.
  • Die Erfindung betrifft eine schablonengesteuerte Prüfanordnung der letztgenannten Art und bezweckt, unter Vermeidung der genannten Nachteile, gleichzeitig mehrere voneinander unabhängige Stromkreise desselben Prüflings oder mehrerer Prüflinge nacheinander selbsttätig einer Mehrzahl von Prüfarten zu unterwerfen. Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß von den Prüfpunkten, die über dieselben zu prüfenden Einrichtungen elektrisch miteinander verbunden sind, nur ein Prüfpunkt über den zugeordneten Schablonenkontakt an Potential gelegt ist, und daß gleichzeitig durch die Schaltmittel die Schaltstellung des zugeordneten Schablonenkontaktes abgefragt und dadurch über weitere Schaltmittel die Prüfart festgelegt ist.
  • Gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung liegen sämtliche Prüfpunkte entweder direkt über dem zugeordneten Schablonenkontakt oder indirekt über der zu prüfenden Einrichtung und dem gleichen Schablonenkontakt an Potential. Die Anschaltung der Prüfpunkte an den Prüfteil und die Abfragung der Schaltstellung der Schablonenkontakte erfolgt gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung durch eine Relaiskette, die erst nach erfolgter Prüfung auf die nächste Stufe fortschaltet. Die Kontaktfedern der Relais, die in den Stromkreisen für die Prüfung auf Isolation angeordnet sind, sind gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung gegenüber den anderen Kontakten abgeschirmt. Dadurch ist eine wesentliche Steigerung der Empfindlichkeit bei der Isolationsprüfung erreicht.
  • Die Erfindung wird im folgenden an Hand eines in den Fig. i und 2 dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert. Es zeigt Fig. i den schaltungsmäßigen Aufbau der Prüfanordnung, Fig. 2 ein Ausführungsbeispiel der Kontaktabschirmung. Bei der in Fig. i dargestellten Schaltungsanordnung sind nur die zum Verständnis der Erfindung wesentlichen Stromkreise gezeigt. Über die Prüfpunkte i bis io wird der Prüfling P, das ist die zu prüfende Einrichtung, an die Prüfeinrichtung angeschaltet. In dem gezeigten Beispiel sind mit Ausnahme des Prüfpunktes 3 - durch den inneren Schaltungsaufbau des Prüflings bedingt - insgesamt vier Prüfpunktgruppen gebildet. Zu der ersten Prüfpunktgruppe gehören die Punkte i, 2 und 5, die beispielsweise über eine Wicklung I und einen Widerstand Wi miteinander verbunden sind. In der zweiten Prüfpunktgruppe sind die Punkte q. und 7 über eine Wicklung II miteinander verbunden. Bei den beiden letzten Prüfpunktgruppen besteht eine direkte Verbindung der Punkte 6 und 8 bzw. 9 und io. Bei einer derartigen Gruppenbildung ist zu beachten, daß Prüfpunkte einer Gruppe, z. B. die Punkte i, :z und 5, nur einmal geerdet sein dürfen. Wird nur ein Punkt jeder Gruppe über einen Schablonenkontakt, beispielsweise der Prüfpunkt i über den Schablonenkontakt S i der Kontakte S i bis S io geerdet, so sind damit gleichzeitig auch die übrigen Punkte dieser Gruppe an Erdpotential gelegt. Wie aus dem folgenden zu entnehmen sein wird, würde sich bei doppelter Erdung einer Gruppe eine falsche Prüfung der einzelnen Punkte dieser Gruppe ergeben.
  • Um in diesem Beispiel jeden Prüfpunkt bzw. jede elektrisch verbundene Prüfpunktgruppe gegen jede andere und gegen Masse prüfen zu können, müssen folgende Schablonenkontakte betätigt werden: S1, S3, S4, S6 und Sa. Außerdem ist der Schablonenkontakt S11 zum Anlassen einer Relaiskette zu betätigen, die jeden Prüfpunkt nacheinander an den Prüfteil anschaltet. Hierdurch sind sämtliche Prüfpunkte i bis io an Erdpotential gelegt, und zwar Prüfpunkt i über Kontakt all, der Kontakte all, bis k- und Schablonenkontakt S1 und die übrigen Prüfpunkte analog dazu. Über den Schablonenkontakt S11 und die in Reihe geschalteten Kontakte k I bis b I spricht Relais A aus der Relaisreihe A bis K über seine Wicklung II an. Durch das Umschalten des Kontaktes alle wird der Prüfpunkt i vom Erdpotential abgeschaltet und zunächst mit dem Umschaltekontakt ntel verbunden. Über den Kontakt aI v aus der Kontaktreihe aiv bis klv wird das Relais ME über den Schablonenkontakt S1 erregt. Damit ist durch Umschalten des Kontaktes mel der Prüfpunkt i an den Prüfteil Py für Hoch- i Spannungsdurchschlag und Isolation geschaltet. Außer den Prüfpunkten 1,2 und 5 sind alle anderen Prüfpunkte über die Schablonenkontakte S3, Sj, S, und S., geerdet. Die Prüfpunktgruppe 1,2 und 5 wird in nicht näher dargestellter, aber bekannter Weise durch den Prüfteil zuerst auf Hochspannungsdurchschlag und anschließend auf Isolation geprüft. Erfolgen beide Prüfungsarten fehlerfrei, so spricht kurzzeitig im Prüfteil für Hochspannungsdurchschlag und Isolation ein nicht dargestelltes »Gut«-Relais an, dessen Kontakt gy schließt und das Relais B über seine Wicklung I über folgenden Kreis ansprechen läßt: Erde, melk B(I), all, kll, A(I).
  • Dabei sind all und kll zwei Kontakte aus der Kontaktreihe all bis kll. Durch Kontakt b I legt sich das Relais B über seine Wicklung II in einen Haltestromkreis und trennt gleichzeitig den Stromkreis für Relais A (II) auf. Relais A hält sich jedoch noch so lange über seine Wicklung I, wie der Kontakt gr geschlossen bleibt. Durch das Zurückschalten des Kontaktes aIII wird die Prüfpunktgruppe 1,2 und 5 wieder über den Schablonenkontakt S1 mit Erdpotential verbunden. Der Kontakt aIV unterbricht den Stromkreis für das Relais ME, so daß dieses abfällt. Durch das Ansprechen des Relais B wird nunmehr der Prüfpunkt 2 über Kontakt bzunächst an den Umschaltkontakt mei gelegt. Gleichzeitig wird durch Schließen des Kontaktes b'v die Schaltstellung des dem Prüfpunkt 2 zugeordneten Schablonenkontaktes SZ abgefragt. Ist dieser geöffnet, wie im vorliegenden Fall, so spricht Relais ME nicht an, d.h. das Relais DR zur Prüfung auf Stromdurchgang wird über folgenden Prüfstromkreis erregt: Erde, ,S1, aIII, Prüfpunkt i, Wicklung I, Prüfpunkt 2, b I I I, me I, D R, -.
  • Durch Schließen des Kontaktes dy, wird das Relais C über seine Wicklung I erregt, das sich über seinen Kontakt ei und seiner zweiten Wicklung in den Haltestromkreis legt. Relais B bleibt jedoch über seine Wicklung I erregt, solange der Kontakt dy, geschlossen bleibt. Um nunmehr Relais DR zum Abfallen zu bringen, wird über den Kontakt drll das Relais ME zum Ansprechen gebracht, welches durch seinen Kontakt mei den Stromkreis für Relais DR unterbricht. Kontakt er I, verbindet den Prüfpunkt 3 mit dem Kontakt me I, und der Kontakt c I v schließt den Stromkreis über den betätigten Schablonenkontakt S3 für das Relais HE. Der Prüfpunkt 3 wird sinngemäß dem Prüfpunkt i zunächst auf Hochspannungsdurchschlag und danach auf Isolation geprüft.
  • In analoger Folge werden die weiteren Prüfpunkte q. bis io nacheinander geprüft. Mit Hilfe des Relais ME werden in Verbindung mit der Relaiskette A bis K die Schablonenkontakte S1 bis Slo in der Ansprechreihenfolge der Kettenrelais auf ihre Schaltstellungen abgefragt. Bei nicht angesprochenem Relais ME wird der zum Prüfteil angeschaltete Prüfpunkt auf Stromdurchgang (z. B. Prüfpunkte 2, 5, 7; 8 und io) und bei angesprochenem Relais ME auf Hochspannungsdurchschlag und Isolation (Prüfpunkte. i, 3, q., 6 und 9) geprüft.
  • Nach dem Prüfen des letzten Prüfpunktes io bleibt Relais K über seinen Kontakt k, und über den Schablonenkontakt S11 erregt. Das Relais A spricht über seine Wicklung I an und legt sich durch seinen Kontakt al über seine Wicklung II in einen Haltestromkreis. Dieses Schaltkriterium, d. h. Relais K und A angesprochen, wird für eine Fertigmeldung ausgenutzt, indem der Stromkreis. »Fertig« durch die Kontakte k v und a v geschlossen wird.
  • Die Empfindlichkeit der Isolationsprüfung wird wesentlich gesteigert, wenn alle bei dieser Prüfung beteiligten Kontakte einschließlich der Verkabelung abgeschirmt ausgeführt werden. Dies -ist in der Fig. i durch die gestrichelt gezeichnete Abschirmung Sch dargestellt. Es ist auch zweckmäßig, die einzelnen Kontaktfedern der betreffenden Kontakte untereinander abzuschirmen. Eine derartige Anordnung ist aus der Fig. 2 zu ersehen, in der beispielsweise der Kontakt me, gezeigt ist. Auch ist es vorteilhaft, die einzelnen Relais oder deren Relaisschienen isoliert zu befestigen und mit dem Schirm zu verbinden. Alle Schirmleitungen werden in nicht dargestellter, aber bekannter Weise über einen Strorizbegrenzungswiderstand an die Meßspannung gelegt. Dadurch wird der zwischen den Leitungen bzw. zwischen der Abschirmung und dem Leiter liegende Scheinwiderstand wesentlich herabgesetzt.
  • Die Prüfanordnung gemäß der Erfindung ist nicht nur auf das in den Figuren dargestellte Ausführungsbeispiel beschränkt. Es kann vielmehr eine Selbstüberwachung des Prüfteils für Hochspannungsdurchschlag und Isolation dadurch erreicht werden, daß in nicht dargestellter Weise an den zu prüfenden Prüfpunkt -so lange ein künstlicher Fehler geschaltet wird, bis der Prüfteil durch eine Fehlersignalisierung die Abschaltung desselben veranlaßt. Die Empfindlichkeit des Prüfteils für Hochspannungsdurchschlag und Isolation kann außerdem durch eine Probeprüfung auf voreingestellte Grenzwerte überwacht werden.

Claims (5)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Schablonengesteuerte Prüfanordnung zur selbsttätigen Prüfung ein oder mehrerer elektrotechnischer Geräte und Einrichtungen in Fernmeldeanlagen nacheinander auf Hochspannungsdurchschlag, Isolation, Stromdurchgang u. a., bei der sämtliche Prüfpunkte an Potential liegen und durch Schaltmittel nacheinander an den Prüfteil gelegt werden unter gleichzeitiger Abschaltung von dem angelegten Potential, dadurch gekennzeichnet, daß von den Prüfpunkten (z. B. 1,2 und 5), die über dieselben zu prüfenden Einrichtungen elektrisch miteinander verbunden sind, nur ein Prüfpunkt (z. B. i) über den zugeordneten Schablonenkontakt (z. B. S1) an Potential gelegt ist, und daß gleichzeitig durch die Schaltmittel (A bis K) die Schaltstellung des zugeordneten Schablonenkontaktes (S1 bis Slo) abgefragt und dadurch über weitere Schaltmittel (ME) die Prüfart festgelegt ist.
  2. 2. Prüfanordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß sämtliche Prüfpunkte (i bis io) entweder direkt über einen zugeordneten Schablonenkontakt (S1 bis Slo) oder indirekt über die zu i prüfende Einrichtung und den gleichen Schablonenkontakt an Potential liegen.
  3. 3. Prüfanordnung nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Prüfpunkt (i bis io) ein Schablonenkontakt (S1 bis S1,) zugeordnet 1 ist. q..
  4. Prüfanordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschaltung der Prüfpunkte (i bis io) an den Prüfteil und die Abfragung der Schaltstellung der Schablonenkontakte (S1 bis Slo) i durch eine Relaiskette (A bis K) erfolgt, die erst nach erfolgter Prüfung auf die nächste Stufe fortschaltet.
  5. 5. Prüfanordnung nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daB die Kontaktfedern der Relais, die in den Stromkreisen für die Prüfung auf Isolation angeordnet sind, gegenüber den anderen Kontakten abgeschirmt sind. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 826 6=2; USA-Patentschrift Nr. 2 584 68o.
DEM18662A 1953-05-22 1953-05-22 Schablonengesteuerte Pruefanordnung zur selbsttaetigen Pruefung elektrotechnischer Geraete und Einrichtungen Expired DE951157C (de)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE826612C (de) * 1947-07-04 1952-01-03 Karl Goetz Leistungs-Roehrenpruefgeraet
US2584680A (en) * 1949-04-16 1952-02-05 Gen Electric Automatic testing apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE826612C (de) * 1947-07-04 1952-01-03 Karl Goetz Leistungs-Roehrenpruefgeraet
US2584680A (en) * 1949-04-16 1952-02-05 Gen Electric Automatic testing apparatus

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