AT245676B - Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen - Google Patents

Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen

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AT245676B
AT245676B AT689463A AT689463A AT245676B AT 245676 B AT245676 B AT 245676B AT 689463 A AT689463 A AT 689463A AT 689463 A AT689463 A AT 689463A AT 245676 B AT245676 B AT 245676B
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Elektromat Veb
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G01R31/3278Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches of relays, solenoids or reed switches

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description


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     Prüfeinrichtung   zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen 
Die Erfindung betrifft eine Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequezn-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-
Bauelementen.   a :   ist bekannt, im   Druck- bzw. Siebdruckverfa. hren h- -gestellte   Schaltungen manuell durch Messung zu prüfen. Dieses Verfahren ist auf Grund der Vielzahl von Kontakten und Leitungszügen mit einem sehr hohen Zeitaufwand verbunden. Eine Erleichterung bietet'ein Verfahren, die Schaltpläne gedruckter Schaltungen farbig zu gestalten, um die einzelnen Messpunkte schneller auffinden zu können.

   Ausserdem ist ein Messverfahren bekannt, bei dem über die zu messende Schaltung eine Schablone geschoben wird, die an den MessstellenAussparungen aufweist und somit ein schnelleres Auffinden der Messstellen gewährleisten soll. Da die Messungen aber ebenfalls manuell durchgeführt werden, bleibt der Zeitaufwand immer noch zu hoch. Durch die Messspitzen können Beschädigungen an der gedruckten Schaltung verursacht werden. 



   Es ist weiterhin eine Schaltanordnung für eine Relaiskombination bekanntgeworden ; diese Schaltanordnung dient zur Vorbereitung von   Steuervorgängen :   damit werden die zu prüfenden Messobjekte in einer einstellbaren Reihenfolge an die eigentliche Messschaltung gelegt. Es können jedoch mit dieser Schaltanordnung keine direkten Messungen durchgeführt werden. 



   Bei einer andern bekannten Prüfeinrichtung werden, durch einen entsprechend angepassten   Aufnah-   merahmen der Prüfeinrichtung, die Leitungen des zu messenden Prüflings in einzelne Stromkreise auf-   geteilt, die dann durch Schrittschalter   abgetastet werden. Die Schrittschalter werden von einem nockengesteuerten Zeitschalter betätigt. Zur Durchführung der Messungen ist eine grosse Anzahl zum Teil störungsanfälliger Bauelemente notwendig. 



   Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine Prüfeinrichtung zu schaffen, mit der es möglich ist, eine auf einem elektrischen Bauelement vorhandene Schaltung auf   Schlüsse   und/oder auf Unterbrechungen von Verbindungen in einem Arbeitsgang zu   überprüfen   und Fehler durch auswertbare Signale anzuzeigen. 



     Erfindungsgemäss   wird das erreicht mit einer Prüfeinrichtung, bei der elektrische Impulse nacheinander durch Messleitungen über je ein elektrisches Ventil einerseits den Kontakten eines zu prüfenden elektrischen Bauelementes und anderseits über Leitungen einer Signalschalteinrichtung zuführbar sind, und dass Leitungen mit je einem weiteren elektrischen Ventil vorgesehen sind, welche die Messleitungen mit Stöpselbuchsen verbinden, die mit der Signalschalteinrichtung in Verbindung stehen, wobei die Kontakte der Signalschalteinrichtung die   logische Verknüpfung   eines exklusiven Oder-Gliedes oder seiner Inversion bilden und eine Batterie mit Signalleitungen verbinden. 



   Die Signalschalteinrichtung nach der Erfindung besteht in der Art eines exklusiven Oder-Gliedes aus 

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 Relais oder einer kontaktlosen Schaltung mittels Transistoren od. dgl., die je einen Ruhe- und Arbeitskontakt enthalten, wobei jeweils ein Ruhekontakt und ein Arbeitskontakt der an derselben Messleitung 
 EMI2.1 
 
Gliedes aus Relais oder kontaktlosen Schaltungen mittels Transistoren od. dgl., wobei zwischen der Bat- terie und einer Signalleitung eine Reihe von   Arbeits- und   Ruhekontakten der Relais od. dgl. und eine
Reihe ebensolcher Kontakte der Relais derart parallelliegt, dass über Querverbindungen zwischen den beiden Reihen nacheinander wechselweise je ein Ruhekontakt und ein Arbeitskontakt der mit dersel- ben Messleitung verbundenen Relais od. dgl. angeordnet sind. 



   Die Erfindungistinden Zeichnungen an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert. 



   Es zeigen Fig. 1 eine   Prüfschaltung, wobei   als Prüfling ein Mikromodul-Bauelement mit   aufgedruck.   ten Leitungszügen benutzt wird, und Fig. 2 eine weitere mögliche Schaltkombination als Inversion für ein exklusives Oder-Glied. 



   In Fig. 1 ist das zu prüfende elektrische Bauelement 1 mit sechs Kontakten 2-7 ausgestattet von denen zwischen Kontakten 3 und 6 eine erlaubte Verbindung in Form eines im Siebdruck aufge- brachten Leitungszuges 8 besteht. Die Kontakte 2,4, 5,7 haben keine Verbindung zueinander und dienen nur der Verschaltung bei der Komplettierung mehrerer Mikromodul-Bauelemente zu einem Bau- stein. Die Prüfung erfolgt nun in der Weise. dass nacheinander auf jeden der Kontakte 2-7 auf jede ihrer Messleitungen a-f ein elektrischer Impuls gegeben wird. 



   Die   Prüfeinrichtung   besteht demnach aus einem nicht näher bezeichneten Impulseingang, von dem die Messleitungen a-f einerseits über elektrische Ventile,   d. h.   über Dioden 9 als Sperrglieder, zum Prüfling 1 und anderseits als Leitungen   a-t über   Dioden 10 zu einem Stöpselkasten 11 geführt sind. Jede der Leitungen   al-fl   besitzt eine feste Verbindung zu einem ihr zugeordneten Relais   a3 -f3   und zu Stöpselbuchsen 12, die es   ermöglichen, nach   einem vorgegebenen Programm jede der Leitungen   al -fl   ausser der Verbindung mit dem ihr zugeordneten Relais mit einem der übrigen Relais zu verbinden.

   Die Relais   a3 -f3   bilden zusammen mit den Relais   a4 -f4,   die über die Leitungen   a-P mit den Messleitungen   a-f zum Prüfling 1 hinter den Dioden 9 verbunden sind, und dem gezeigten Zusammenwirken von   Arbeits- und   Ruhekontakten eine Schaltkombination, die die Spannung von der Spannungsquelle 13 zur Signalisierung nur weitergibt, wenn eines der beiden Relais jedes Leitungszweiges nicht anzieht, d. h. durch den Impuls nicht erregt wird. 



   Die in der Fig. 1 dargestellte Kombination von Ruhe- und Arbeitskontakten zeigt ein exklusives Oder-Glied. Die Arbeits- und Ruhekontakte des Relais   a-f   sind der besseren Übersicht wegen mit denselben Bezeichnungen wie die Relais versehen. 



   Im folgenden sei der Ablauf des Prüfvorganges näher erläutert :
Hiefür wird eine Impulsfolge auf die Messleitungen a-f so gegeben, dass zeitlich nacheinander auf jeder Messleitung ein Impuls eintrifft. 



   Prüfung auf erlaubte Verbindungen
1. Impuls auf Messleitung a-die Relais a3 und a4 ziehen an-keine Spannung am Impulsausgang a5. 



   2. Impuls auf Messleitung b - die Relais b3, b4 ziehen an-keine Spannung am Impulsausgang   b5.   



   Da über die erlaubte Verbindung der   gleiche Impuls von Messleitung   b nach Messleitung e übertragen wird, zieht das Relais e4 an. Infolge der Diode 9 kann aber der Impuls nicht zum Stöpselkasten 11,   d. h.   das Relais e3 würde nicht anziehen. Deshalb muss jede erlaubte Verbindung vorher gestöpselt, im vorliegenden   Falle also die Leitung b mit der Zuleitung zum Relais e durch einen   Stöpsel 14 verbunden werden. Das Relais e3 zieht also gleichzeitig an und bewirkt, dass die Impulsleitung   e spannungsfrei bleibt.   



   3. Impuls auf Leitung c-die Relais   es,     C4   ziehen an-keine Spannung am Impulsasgang c5. 



   4. Impuls auf Leitung d-die Relais d3,   d 4   ziehen an - keine Spannung am Impulsausgang d
5. Impuls auf Leitung e-die Relais   es,   e 4 ziehen wieder   an-keine Spannung am Impulsaus-   gang   e5.   



   Da wie beim 2. Impuls auf die Leitung b über die erlaubte Verbindung der gleiche Impuls von e nach b übertragen wird, zieht das Relais b4 wieder an. Infolge der Diode 9 kann aber der Impuls nicht zum   Stöpselkasten   11, d. h. das Relais b3 zieht durch den Impuls auf der Leitung el über 

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 die durch den Stöpsel 14 bereits vorhandene Verbindung an, so dass am Impulsausgang   b5   keine
Spannung vorhanden sein kann. Zwischen den Kontakten 2,3, 4,5, 6,7 des Prüflings 1 besteht keine unerlaubte Verbindung, deshalb wird auch an die Leitungen a5-f5 keine für ein Signal auswertbare Spannung geschalten. 



   Im Falle einer unerlaubten Verbindung, beispielsweise zwischen den Kontakten 4,5 des   Prüf-   lings   l,   treten folgende Schaltvorgänge auf :
3. Impuls auf Leitung c-die Relais   c3,     C4   ziehen an-keine Spannung am Impulsausgang C5. 



   Infolge der unerlaubten Verbindung zwischen den Kontakten 4, 5 zieht   nunmehr das Relais d   allein an. Das Relais   d3   kann durch die Sperrwirkung der Diode 9 in der Leitung d über die ständige Verbindung im Stöpselkasten keinen Impuls aufnehmen,   d. h.   der Impulsausgang   d5   erhält beim 3. Impuls auf die Leitung c eine für ein Signal auswertbare Spannung. 



   4. Impuls auf Leitung d-die Relais d3,   d4   ziehen an-keine Spannung am Impulsausgang   ds.   



   Infolgederunerlaubten Verbindungen zwischen den Kontakten 4,5 zieht nunmehr das Relais   C4   allein an und es ergibt sich der analoge Vorgang wie beim 3. Impuls auf Leitung c, wobei jetztder Impulsausgang   e5   das auswertbare Fehlersignal aufweist. Hiebei ist ersichtlich, dass jeder Fehler zweimal gemeldet wird, wenn alle Messleitungen einen Impuls erhalten. Die in Fig. 1 gezeigte Schaltung der   Arbeits- und Ruhekontakte jeder Signal-Schaltkombination   bildet ein exklusives Oder-Glied. 



   In Fig. 2 ist die Inversion dieses exklusiven Oder-Gliedes als eine weitere mögliche Schaltung der   Arbeits- und   Ruhekontakte dargestellt. Sie ist an Stelle der in der Fig. 1 dargestellten Kontaktkombination mit der Spannungsquelle 13 verwendbar. Die Arbeits-und Ruhekontakte der Relais   a3 -1'lie-   gen ebenso wie die   Arbeits-und   Ruhekontakte der Relais   a4 -f4   in Reihe, so dass durch eine Querverbindung nach jedem Relaiskontakt ein Arbeitskontakt und ein Ruhekontakt der Relaisgruppe a3, a4-f3,f4 zueinander parallelliegt. Durch diese Schaltung wird beim Fehlen oder Eintreffen von zwei Impulsen die ständig am Impulsausgang vorhandene Saannung nicht unterbrochen.

   Beim Eintreffen nur eines Impulses infolge einer unerlaubten Verbindung wird diese Spannung für die Dauer des Messimpulses auf die Messleitungen a-f unterbrochen. Diese Unterbrechung kann in an sich bekannten Signal- bzw. Meldeeinrichtungen ausgewertet werden. 



     PATENTANSPRÜCHE   : 
1. Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom-oder Hochfrequenztechnik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen, dadurch gekennzeichnet, dass elektrische Impulse nacheinander durch   Messleitungen (a-f)   über je ein 
 EMI3.1 
 und dass Leitungen (al-fl) mit je einem weiteren elektrischen Ventil (10) vorgesehen sind, welche die Messleitungen   (a-f)   mit Stöpselbuchsen (12) verbinden, die mit der Signalschalteinrichtung   (a-f)   in Verbindung stehen, wobei die Kontakte der Signalschalteinrichtung die logische Verknüpfung eines exklusiven Oder-Gliedes oder seiner Inversion bilden und eine Batterie (13) mit Signalleitungen   (a5 -f5)   verbinden.

Claims (1)

  1. 2. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalschalteinrichtung in der Art eines exklusiven Oder-Gliedes aus Relais (a3-f3;a4-f4) oder einer kontaktlosen Schaltung mittels Transistoren od. dgl. besteht, die je einen Ruhe- und Arbeitskontakt enthalten, wobei jeweils ein Ruhekontakt (a-f) und ein Arbeitskontakt (calf4) der an derselben Messleitung liegenden Relais od. dgl. in Serie und die beiden zum gleichen Relais od. dgl. gehörenden Serien, parallel zwischen Batterie (13) und je einer Signalleitung (a5-f5)eingeschaltet sind.
    3. Prüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalschalteinrichtung als Inversion eines exklusiven Oder-Gliedes aus Relais (a-f, a -f) oder kontaktlosen Schaltungen mittels Transistoren od. dgl. besteht, wobei zwischen der Batterie (13) und einer Signalleitung eine Reihe von Arbeits- und Ruhekontakten der Relais (a3-f3) od. dgl. und eine Reihe ebensolcher Kon- <Desc/Clms Page number 4> takte der Relais (a4-f4) derart parallelliegt, dass über Querverbindungen zwischen den beiden Reihen nacheinander wechselweise je ein Ruhekontakt und ein Arbeitskontakt der mit derselben Messleitung verbundenen Relais od. dgl. angeordnet sind.
AT689463A 1962-09-13 1963-08-27 Prüfeinrichtung zum Prüfen von auf Bauelementen der Schwachstrom- oder Hochfrequenz-Technik aufgebrachten Schaltungen, insbesondere von Schaltungen auf Mikromodul-Bauelementen AT245676B (de)

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