DE2633986C3 - Verfahren zum Prüfen von Leitungsvielfachen in zentral gesteuerten Fernmelde-, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen - Google Patents

Description

vornimmt.

Dadurch, daß allen Leitungen des Leitungsvielfachs zeitgleich ein Testbitmuster zugeführt wird, wird das gesamte Leitungsvielfach vollständig durchgeprüft, wobei zuverlässig auch Leitungsberühntngen erkannt werden.

Das Testbitmusier wechselt in aufeinanderfolgenden Schritten, bis alle Konfigurationen durchgespielt sind. Auf diese Weise werden alle Leitungen nicht nu: stichprobenai cig geprüft, sondern vollständig untersucht, wobei keine Bitkombination ausgelassen ist.

Das an die Leitungen des Leitungsvielfachs angelegte Testbitmuster ist sehr umfangreich und würde vom Rechner die Untersuchung aller Leitungen notwendig machen, die beispielsweise am Eingang der Meßschallung anliegen. Zu einer vollständigen Überwachung ist dies nicht nötig, weil die Meßschaltung die Leitungen zu Gruppen zusammengefaßt hat, jede Gruppe einzeln untersucht und das erzielte Ergebnis am Ausgang der Meßschaltung in einer bestimmten, leicht überschaubaren Konfiguration zur Verfugung stellt. Dieses reduzierte Prüfbitmuster wird leicht und schnell vom Rechner abgefragt und ausgewertet. Erst, wenn ein Fehler festgestellt ist, ist es erforderlich, zur Fehlerortung zusätzliche Stellen des Leitungsvielfachs oder der an die Leitungsvielfache angeschlossenen Schaltungen zu untersuchen.

Dadurch, daß das reduzierte Prüfbitmuster untersucht wird, wird auch gleichzeitig die Meßschaltung überwacht. Dadurch erübrigt sich ein besonderes Prülpr«^- gramm oder ein Prüfgerät zum Testen der Meßschaltung.

Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist das Verfahren auch anwendbar für Lcilungsvielfache. an die außer dem Nullpoteniial auch noch positives oder negatives Potential anschaltbar ist. In diesem Fall wird das Teslbitmuster einmal mit positivem und einmal mit negativem Potential an die ein/einen Leitungen gelegt. Das hat den Vorteil, daß auch Spannungsschluß des anderen Potentials sowie Emkopplungsdiodenfehler beliebig gerichteter Dioden aufgespürt werden.

Ein Beispiel der Erfindung wird anhand der Zeichnung beschrieben. Während in F i g. 1 eine Schaltungsanordnung dargestellt ist, wie das zu prüfende Leitungsvielfach und die daran angeschlossenen Schaltungen durch die Prüfung erfaßt werden, ist in Fig. 2 das an die Leitungen des Leitiingsvielfachs zu legende Testbilmusler und in F i g. 3 das reduzierte Prüfbilmuster gczeigi.

Es wird angenommen, daß das l.citiingsviclfach aus 44 Leitungen /. I bis /.44 (Fig. I) besieht, an das über die Treiber Π bis 7"44 in einem normalen Vermittlungsvorgang positives, negatives Il-Polcntial oder ein I.-Potential in einer vom zentralen Rechner K befohlenen Weist angeschaltet vird. |ede der Leitungen /. I bis L 44 ist an eine Anzahl η von Schaltungen, beispielsweise Sätzen .S' I bis Sn. angeschlossen, jeder dieser Sätze besieht im vorliegenden Fall aus maximal 44 bipolaren Funktionsrelais R. die über je eine der Dioden D und dem zugehörig«^' r. 'Hakt /7; aus einer in to die andere stabile Lage gebracht werden und dabei ihre Kontakte entsprechend öffnen bzw. schließen.

Ein weiterer Ausgang jeder Leitung des Leitungsviell'achcs isl zu den Eingängen /:'1 bis /: 44 einer Mcßschaltung Λ-/ geführt. Diese Meßschallung hat zur h5 Ausgabe des reduzierten Prüfhilmusters acht Ausgänge Λ I bis A 8.

Der Rechner K veranlaßt in den Treibern /1 bis Γ44 das Anlegen eines bestimmten Potentials an die jeweiligen Leitungen und durch Schließen einer der Kontakte l/n bis 4m oder weiterer Kontakte von Sätzen, die hier nicht dargestellt sind, daß bestimmte Funktionsrelais R schalten. Die Entkopplungsdioden D verhindern, daß ein Strom in der anderen Richtung zustande kommt und Funktionsrelais betätigt werden, die in ihrem bisherigen Zustand bleiben müssen. Außerdem sorgen sie dafür, daß keine falschen Teilpotentiale sich an unbetätigten Leitungen ausbilden.

Der Rechner K hat die Möglichkeit, wahlweise das an den Leitungen L\ bis L 44 anliegende Potential, das dem Potential an den Eingängen £1 bis E 44 der Meßschaltung M entspricht, zu überwachen. Desgleichen kann der Rechner K auch die Ausgänge A 1 bis A 8 der Meßschaltung abfragen, die Kontakte m öffnen und schließen sowie die Prüfpunkte der Funktionsrelais R abfragen.

Um nun alle Leitungen des Leitungsvielfachs zu prüfen, veranlaß! der Rechner K. daß zunächst die in der Zeile /1 der Fig. 2 gezeigten Potentiale an alle 44 Leitungen parallel angeschaltet werden. Die Bits »H« und »L« stehen hier stellvertretend für Spannung und keine Spannung.

Jede der Leitungen L 1 bis L 44 ist an einen Detektor in der Meßscnaltung M angeschlossen, jeweils 8 bzw. 4 Spalten des Testbitmusters sind gemäß Fig. 2 zu Gruppen zusammengefaßt. Die Mcßschaltung M stellt nun fest, ob in jeder Gruppe ;> bis /'Geradzahligkeii oder Ungeradzahligkcit herrscht und legt das Prülergebnis an den zugehörigen Ausgang A \ bis AS der Meßschaltung M. Bei fehlerfreiem Leitungsvielfach entsteht zum Zeitpunkt ( 1 an den Ausgängen A I bis AS ein reduziertes Prüfbilmuster, das in Fig. 3 in der Zeile f 1 gezeigt ist: bei ungeradzahligen »/-/« in einer Gruppe ist auch im reduzierten Prüfbitmuster ein »H« vorhanden.

In gleicher Weise, wie zum Zeitpunkt 1 1, wird in den nachfolgenden Schritten ί 2 bis ill ein Testbiimuster an die Leitungen gelegt, wobei in jedem Schritt das Muster so lange wechselt, bis alle Konfigurationen durchgespielt sind.

Das gleiche gilt für das reduzierte Prüfbitmusler, in dem das »L« von Schritt zu Schritt seine Stellung ändert.

Die Bi's des Biismusters über die Zeitabschnitte 11 bis (Il bewirken einen Funktionstest aller an das Leitungsvielfach angeschlossener Schaltungen und auch die Eigenprüfung dieser Überwachungsschaltungen. Es genügt aber, das reduzierte Prüfbitmuster vom zentralen Rechner K abzufragen und auszuwerten, um einen Fehler ausfindig zu machen. Erst, wenn ein Fehler festgestellt ist, braucht der Rechner K das Testbitmuster an den Leitungen LA bis L44 und ggf. El bis C 44 abzufragen, um den Ort und die Art des Fehlers eindeutig festzulegen. Außerdem kann der Rechner K die in den Sätzen vorhandenen Indikationsstcllcn abfragen, um beispielsweise zusätzlich das einwandfreie Arbeiten der Funklionsrelais R /u überprüfen.

In diesem Beispiel geht das Testbitmuster auf den Gray-Kode zurück, der eine ungcradzahlige Anzahl von Variationsmöglichkeiten, nämlich II, besitzt, und mit dem Wort /./././. beginnt. Die zur vollständigen Prüfung HOtW₁..idige Anzahl Prüfschriite (I bis (11 entstehen durch »Rollen« dieses Kodes, wie in 1 i g. 2 gezeigt ist, also durch Anwenden ;<ller dieser Variationsmöglichkeiten. Die vierstelligen Kodeworte werden in der ersten Kolonne untereinander aufgetragen. Damit sind die ersten v^;er Spalten, die den ersten vier Leitungen

entsprechen, festgelegt. Für die nächsten vier Spalten wird das Wort LLLL an den Schluß gesetzt, so daß HLLL an den Anfang 11 tritt. Die anderen Spalten entstehen in gleicher Weise; es kommt jedoch darauf an, daß die Matrize ollständig durchgerollt wird. So ist die erste Spalte gle^li der ersten Zeile, die zweite Spalte gleich der zweiten Zeile usw.

]e acht Spalten, also je 2 Kodeworte, werden dann zu einer Gruppe zusammengefaßt, die in der Meßschaltung auf Ungeradzahligkeit überprüft wird und daraufhin ein neues Bit im reduzierten Prüfbitmuster ergeben. Wegen der Ungeradzahligkeit der Kodeworte besteht lediglich die letzte Gruppe /"aus 4 Spalten entsprechend einem Kodewort.

Falls in einem Anwendungsfall nicht 44 Leitungen L J bis L44 gebraucht werden, so weiden die fehlenden zu Prüfzwecken mitgeführt.

Sind aber mehr Leitungen vorhanden als 44, so kann ein anderer Kode verwendet werden, beispielsweise ein fünfstelliger. Dann kann sich auch eine andere Anzahl von Prüfschrilten ergeben.

Der Aufbau des Testbitmusters kann auch durcl Rollen in anderer Richtung oder durch Aufbau von de Abzisse her erzeugt werden. Alle diese Variantci beeinflussen jedoch nicht die Erfindung.

Wie schon beschrieben, findet eine vollständig Prüfung des Leitungsvielfaches in zeillich geirenntei Abschnitten r 1 bis /II statt. Eine vollständige Prüfunj umfaßt mindestens einmal alle Leitungen, d. h. eil Fehler kann nicht sofort, sondern spätestens am Schlul eines Prüflaufes mit Hilfe des reduzierten Prüfbitmu sters erkannt und mit Hilfe des Tcstbiimustcr lokalisiert werden. Bei Verwendung einer positiven um einer negativen Spannung für das Bit »H« in dci Treibern T1 bis T44 sind 2 Durchlaufe erforderlich einmal mit dem einen und das andere Mal mit den anderen Potential.

Die Prüfergebnissc können ausgedruckt oder aucl angezeigt werden.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (3)

Patentansprüche:

1. Verfahren zum Prüfen von Leitungsvielfachen, die einen zeitgleichen Betrieb aller Leitungen erlauben, auf Berührungsfehler der Leitungen untereinander, auf Fremdpotentiale, auf Leitungsunterbrechung und auf Entkopplungsdiodenfehler von Funktionsrelais der an die Leitungsvielfache angeschlossenen Schaltungen in zentral gesteuerten Fernmelde-, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen, mit Hilfe dualer Testbitmuster unter Mitverwendung der in diesen Anlagen arbeitenden Geräte, insbesondere zentraler Rechner, dadurch gekennzeichnet, daß alle Leitungen (L 1 ... L44) des Leitungsvielfachs zu Gruppen (a ... f) zusammengefaßt werden, daß jeder Leitung (L 1 ... L 44) des Leitungsvielfachs zeitgleich ein wechselndes Testbitmuster (Fig. 2) zugeführt wird, welches in jeder Gruppe (a ... I) anders aussieht, daß als Testbitmuster (F i g. 2) ein Kode verwendet wird, der eine ungeradzahlige Anzahl (11) von Variaiionsmöglichkeitcn der Bits innerhalb der Kodeworte aufweist, daß innerhalb jeder Gruppe (a ... f) das Testbitmuster in so vielen (11) aufeinanderfolgen Jen Prüfschritten (ti ... ill) wechselt, wie es Variationsmögiichkeiten der Kodeworte gibt, daß jede Gruppe (a ... e) so viele Leitungen (8) enthält, wie Bits in zwei Kodeworten enthalten sind, mit Ausnahme der letzten Gruppe ((), der entsprechend der Ungeradzahligkeit der Kodeworte nur ein Kodewort zugeordnet ist, daß das derart aufgebaute Testbitmuster nach Durchlaufen einer Anzahl mitzuprüfender Schaltungen (S 1 ... Sn) in einer Meßschaltung (M)auf Ungcrad/.ahligkeii der Bits je Gruppe (a ... //"geprüft wird, daß das Ergebnis der Prüfung zu einem neuen, reduzierten Prüfbitmustcr (Fig. 3) zusammengefaßt wird, daß das Tcstbitmuster (F i g. 2) und die mit ihm erzielten Ergebnisse am Eingang des Leitungsvielfachs, an den in den Schaltungen vorhandenen Indikationssielien, sowie am Ein- (T 1 ... £44) und Ausging (A 1 ... A S) der Meßschaltung (M) vom zentralen Rechner (K) abgefragt und ausgewertet werden, daß der Rechner (K) beim Vorhandensein eines fehlerfreien reduzierten Prüfbitmusters (F i g. 3) am Ausging (A \ ... AS) der Meßschaltung (M) die Prüfung mit einem Gutergebnis abschließt, und daß der Rechner (K)nur beim Vorhandensein eines fehlerhaften reduzierten Prüfbitmusters (Fig. 3) aufgrund der am Eingang (Ei ... L- 44) der Meßschaltung (M) und/oder an den anderen Meßpunkten festgestellten Bits eine Fehlerortung vornimmt.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die spannungsführenden Bits im Testbitmuster (Fig. 2) zunächst mit einem ersten Potential ( + ) an die Leitungen (Li ... L44) des Leitungsvielfachs gelegt werden und danach in einem zweiten Durchlauf, bei dem das gleiche Testbitmustcr (Fig. 2) verwendet wi,d, mit dem anderen Potential( —).

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzcichncl, daß als Tcstbitmuster (Fig. 2) der vierstellige Gray-Kode verwendet wird und daß zur vollständigen Prüfung mit einem Bitpoiential elf Schritte (ti ... ill) notwendig sind, cül durch »Rollen« dieses Kodes entstehen.

Die Erfindung betrifft ein Verlahren zum Prüfen von Leitungsvielfachen, die einen zeitgleichen Betneb aller Leitungen erlauben, auf Berührungsiehler der Leitungen untereinander, auf Fremdpctentiale, auf Leitungsunterbrechung und auf Entkopplungsdiodenfehler von Funktionsrelais der an die Leitungsvielfache angeschlossenen Schaltungen in zentral gesteuerten Fernmelde-, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen, mit Hilfe dualer Testbitmuster unter Mitverwendung

ίο der in diesen Anlagen arbeitenden Geräte, insbesondere zentraler Rechner.

Ein Leitungsvielfach besieht aus einer größeren Anzahl von einzelnen Adern, bei denen auftretende Fehler so schnell wie möglich bemerkt, geortet und signalisiert werden müssen Diese Adern führen im Betrieb keins, ein positives oder negatives Potential, mit dem die Befehle bitweise von einer Stelle zur anderen übertragen werden. Die bekannten Dauerüberwachungsmeßschaltungen eignen sich wegen ihres großen Aufwandes und der Schwierigkeit, diese Schaltungen selbst wiederum zu überwachen, nicht zum Überwachen von Leitungsvielfachen. Auch das Prüfen von einzelnen Adern der Reihe nach führt nicht zum gewünschten Ziel, weil auf diese Weise Leitungsberührungen nur schwer feststellbar sind. Duale Prüfmuster, die nacheinander an Leitungsgruppen des Vielfachs angelegt werden, scheiden ebenfalls aus, weil sie aufgrund der starren Zuordnung der Bits zum Vielfach keine Möglichkeit zulassen, Leitungsbcriihrungen zu erkennen.

Aufgabe der Erfindung ist es. ein Verfahren anzugeben, mit dem Leitungsvielfache, nach Möglichkeit ohne die Vermittlungsvorgängc zu stören, unter Berücksichtigung der möglichen unterschiedlichen Spannungen an diesem Vielfach ;>ul eine Reihe von Fehlern hin mit möglichst einfachen Mitteln geprüft werden.

Erreicht wird das gemäß der Erfindung dadurch, daß alle Leitungen des Leitungsvielfachs zu Gruppen zusammengefaßt werden, daß jeder Leitung des Leitungsvielfachs zeitgleich ein wechselndes Testbitmuster zugeführt wird, welches in jeder Gruppe anders aussieht, dsß als Tcstbitmusier ein Kode verwendet wird, der eine ungcradzahlige Anzahl von Variationsmöglichkeiten der Bits innerhalb der Kodeworte aufweist, daß innerhalb jeder Gruppe das Testbitmustcr in so vielen aufeinanderfolgenden Prüfschriiten wech seit, wie es Variationsmöglichkeiten der Kodeworte gibt, daß jede Gruppe so viele Leitungen enthält, wie 3its in zwei Kodeworten enthalten sind, mit Ausnahme der letzten Gruppe, der entsprechend der Ungeradzahligkeit der Kodeworte nur ein Kodewort zugeordnet ist daß das derart aufgebaute Tesibildiiuister nach Durchlaufen einer Anzahl mitzuprüfender Schallungen in einer Mcßschallung auf Ungeradzahligkeil der Bits je Gruppe geprüft wird, daß das Ergebnis der Prüfung zu einem neuen, reduzierten Prüfbitmuster zusammengefaßt wird, daß das Testbitmuster und die mit ihm erzielten Ergebnisse am Eingang des Leitungsvielfachs, an den in den Schaltungen vorhandenen Indikationsslcllen sowie am Ein- und Ausgang der Mcßschallung vom zentralen Rechner abgefragt und ausgewertet werden, daß der Rechner beim Vorhandensein eines fehlerfreien reduzierten Prüfbitmusters am Ausgang der Meßschaltung die Prüfung mil einem GutergeLnis ab:;cHießt, und

b") < d> der Rechner nur beim Vorhandensein eines ;_tiilerhaftcn reduzierten Priifbitniuslcrs aufgrund der am Eingang der Meßschaltung und/oder ar, den anderen Meßpunkten festgestellten Bits eine Fehlerortung