DE1906846U - Optisches kopiergeraet mit belichtungsmesseinrichtung. - Google Patents

Description

RA.647 886*10.1(163 ο

AGi¹A AKTIENGESELLSCHAFT 9-10.1963

Leverkusen 1O/Hu/Bs

PG 346/MG 551

Optisches Kopiergerät mit Belichtungsmeßeinrichtung

Me Erfindung betrifft ein optisches Kopiergerät mit einer Belich.tungsmel3einrich.tung und mit einem mit dem Objektivträger verbundenen teildurchlässigen Spiegel, durch, den die Strahlen für die Belichtungsmeßeinrichtung aus dem Strahlengang für den zu belichtenden Schichtträger abgezweigt werden.

Es sind bereits Vergrößerungsgeräte, insbesondere Rollenkopiermaschinen, bekannt mit einer Spiegeleinrichtung zur Belichtungsmessung ο Bei diesen Geräten ist jedoch, der Abstand vom Negativ zum zu belichtenden Schichtträger starr, d.h.,, bei gegebener Hegativgröße kann die Größe des Positivs nur durch Einsetzen eines Objektivs mit \ anderer Brennweite verändert werden. Außerdem wird verschiedentlich zur Belichtungsmessung nur ein Ausschnitt

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des Negativs herangezogen, so daß bei sehr großen Helligkeitsunterschieden im Negativ die Gefahr von Belichtungsfehlern gegeben ist.

Zum anderen sind Geräte bekannt, bei denen zwar der Abstand zwischen Negativ und Positiv veränderlich ist, jedoch die Messung der Belichtung durch den zu belichtenden Schichtträger erfolgt. Dann ist die Grenze der Empfindlichkeit des Meßsystems durch die Durchlässigkeit des Schichtträgers gegeben. Um die Arbeitsgeschwindigkeit von Vergrößerungseinrichtungen zu steigern, liegt es nahe, die Belichtungszeit abzukürzen, indem man empfindlichere Papiere einsetzt. Das setzt aber auch eine Erhöhung der Empfindlichkeit des Meßsystems voraus, was bei Anordnungen der vorgenannten Art einen größeren Aufwand an schaltungstechnischen Mitteln erfordert.

Der Erfindung liegt also die Aufgabe zugrunde, ein Belichtungsmeßsystem für einen Vergrößerungsapparat mit einstellbarem Abstand zwischen Negativ und Positiv, mit einstellbarer Negativgröße und Berücksichtigung der Helligkeit des gesamten Negativs für hochempfindliche Papiere zu schaffen.'

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Erfindungsgemäß verwendet man dafür einen mit dem Objektiv schlitten starr verbundenen teildurchlässigen Spiegel, der Strahlen für die Belichtungsmeßeinrichtung abzweigt, wobei mit der Höhenverstellung des Vergrößerungskopfes' zwangsläufig in an sich bekannter Weise ein veränderbarer elektrischer Widerstand im Belichtungsmeßkreis gekuppelt ist und zur Änderung des Hegativformates durch Drucktasten einschaltbare entsprechende Festwiderstände im Meßkreis angeordnet sind.

Der teildurchlässige Spiegel ist so angeordnet, daß die Irisblende des Objektivs über einen sphärischen Hohlspiegel auf eine Opalscheibe vor dem Lichtmeßorgan, vorzugsweise einem Sekundärelektronenvervielfacher, abgebildet wird. Um diese Abbildungsbedingung auch für Objektive verschiedener Brennweite zu erfüllen, muß das lichtmeßorgan in Richtung des abgezweigten Strahlenganges verschieblich angeordnet sein.

Der teildurchlässige Spiegel, der Hohlspiegel und der Sekundärelektronenvervielfacher auf seiner Horizontalführung sind auf dem Objektivschlitten angeordnet, der möglichst spielfrei und leicht gängig gelagert sein soll. Es liegt also alles daran, die genannte Baugruppe so kurz und leicht wie möglich zu gestalten. Deshalb ist $s beson-

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ders vorteilhaft, einen Hohlspiegel statt einer Sammellinse gleicher Größe wegen des geringeren Gewichts zu verwenden, Auch an Baulänge läßt sich dadurch erheblich sparen. Weiterhin können, um den Verschiebeweg des Lichtmeßorgans zu verkürzen, für Objektiv* mit längeren Brennweiten entsprechende Sammellinsen in den abgezweigten Strahlengang vor dem Meßorgan eingeschoben werden.

Die Lichtmenge am Lichtmeßorgan wächst proportional zur ITegativgröße, obwohl eine Änderung der Negativgröße die Lichtintensität am zu belichtenden Schichtträger nicht beeinflußt. Deshalb werden der Erfindung zufolge in dem Stromkreis des Lichtmeßorgans bei Negativformatwechsel durch Tastendruck von Hand einschaltbar entsprechende elektrische Widerstände angeordnete Einer anderen Ausführung der Erfindung zufolge können diese Widerstände auch durch an den Negativmasken befindliche unterschiedliche Nocken eingeschaltet werden.

Wird der Abbildungsmaßstab verändert, ändert sich mit dem Abstand zwischen Objektiv und Schichtträger die Lichtintensität am Schichtträger, nicht aber am Lichtmeßorgan. ■Deshalb sind in den Stromkreis des Lichtmeßorgan? veränder bare elektrische Widerstände eingeschaltet, die mit der

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Höhenverstellung des Vergrößerungskopfes zwangsläufig gekuppelt sind. IJm die verschiedenen Abbildungsmaßstäbe von Objektiven verschiedener Brennweite zu berücksichtigen, ist für jedes Objektiv ein veränderbarer Widerstand angeordnet, der bei Objektivwechsel vorzugsweise durch die Längsverschiebung des Lichtmeßorgans eingeschaltet wird.

Die Zeichnung gibt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wieder. Es zeigt

Fig. 1 ein erfindungsgemäß ausgebildetes Vergrößerungsgerät bei einer Einstellung auf den kleinsten Vergrößerungsmaßstab und

Fig. 2 Teile eines Schaltbildes der Belichtungsmeßeinrichtung.

In Fig. 1 ist mit 1 die Grundplatte eines üblichen Vergrößerungsgerätes bezeichnet. Auf der Säule 2 sitzt der höhenverstellbare Ausleger 3, der den Vergrößerungskopf trägt. Dieser enthält die Lampe 5, den Reflektor 6, den Doppelkondensor 7 und das Negativ 8„ Das Negativ 8 ist in einem Halter 9 angeordnet» Unter dem verschieblich angeordneten Objektiv 10 befindet sich ein starr mit diesem verbundener teildurchlässiger Spiegel 11, der unter 45°

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gegen die optische Achse geneigt ist. Über einen sphärischen Hohlspiegel 12 wird die Irisblende des Objektivs auf eine Opalscheibe 13 vor dem Lichtmeßorgan, hier einem Sekundärelektronenvervielfacher 14, der Lichtmeßeinrichtung abgebildet. Das Lichtmeßorgan 14 mit der Opalscheibe 13 ist im Gehäuse 26 in Richtung des abgezweigten Strahlenganges verschieblich angeordnet. Zusätzlich können entsprechende Sammellinsen 15 in den Strahlengang geschoben werden, um den Verstellweg des Sekundärelektronenvervielfachers bei Einsatz eines Objektivs mit längerer Brennweite zu verkürzen» Figo 1 zeigt die Sammellinse in der Stellung für das Objektiv mit der längeren Brennweite.

Mit der Höhenverstellung des Auslegers 3 starr gekuppelt sind Schieber 24 und 25 auf zwei an der Säule 2 parallel zu deren Achse angebrachten veränderbaren Widerständen und 17. An dem Schiebeweg des Lichtmeßorgans 14 sind am Gehäuse 26 zwei Schalter 18 und 19 angebracht, die mit Hilfe von je zwei Kontakten in den beiden Endstellungen des Lichtmeßorgans 14 wechselweise eines der beiden Potentiometer 16 und 17 in den Meßkreis des Sekundärelektronenvervielfachers einschalten.

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Die beschriebene Ausführung ist für zwei wahlweise einsetzbare Objektive ausgelegt, jedoch können durch Anbringen mehrerer Nockenschalter am Yerschiebeweg des Sekundärelektronenvervielfachers 14 und entsprechend mehr Potentiometer an der Säule 2 ebensoviele Objektive verwendet werden«

An der Aufnahme für die Negativbühne 9 sind mehrere Schalter 20, 21 angebracht, die von Nocken 9a an den Negativbühnen wechselweise betätigt werden, so daß jeweils ein der Negativgröße zugeordneter elektrischer Widerstand im Stromkreis des Sekundärelektronenvervielfachers eingeschaltet ist ο Auch hier können statt der beschriebenen Masken für zwei Negativformate durch entsprechende Vermehrung der Vorschaltwiderstände 23 und der Schalter 20 und 21 mehrere verschieden große Negativmasken verwendet werden.

In Fig. 2 ist die Schaltung des Sekundärelektronenvervielfachers und der Widerstände dargestellt. An den Netztransformator 22 schließen sich die den Vergrößerungsmaßstab berücksichtigenden Potentiometer 16 und 17 über die Schalter mit je zwei gemeinsam betätigten Kontakten 18a und W) bzw. 19a und 19b je nach Objektiv alternativ ein-

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schaltbar an und führen über den ETegativformatwiderstand 23 mit den Schaltern 20 und 21 zum Speisetransformator des Sekundärelektronenvervielfachers 14. Am Ausgang des Sekundärelektronenvervielfachers liegt eine Belichtungsmeßeinrichtung oder eine selbsttätige Belichtungssteuereinrichtung.

Claims (6)

RA. 64 7 886*10.10.63 PG 346/MG 551 Lns ρ rüche

1. Optisches Kopiergerät mit einer Belichtungsmeßeinrichtung und mit einem mit dem Objektivträger verbundenen teildurchlässigen Spiegel, durch den die Strahlen für die
Belichtungsmeßeinrichtung aus dem Strahlengang für den zu belichtenden Schichtträger abgezweigt werden, dadurch gekennzeichnet, daß Abbildungsmaßstab und Negativgröße voneinander unabhängig einstellbar sind, wobei mit der Vorrichtung zur Veränderung des Abbildungsmaßstabes
in an sich bekannter Weise ein veränderbarer elektrischer Widerstand im Belichtungsmeßkreis gekuppelt ist
und bei Änderung des ETegativformates vorzugsweise
durch Drucktasten einschaltbare Widerstände angeordnet sind.

2. Kopiergerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß an den Uegativformatmasken Hocken angebracht sind, die wechselweise jeweils die den Negativformaten zugeordneten Festwiderstände über Schalter einschalten.

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3. Kopiergerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im abgezweigten Strahlengang die Irisblende des Objektivs über einen sphärischen Hohlspiegel sich auf eine vor dem Lichtmeßorgan befindliche Opalscheibe abbildet.

4. Kopiergerät nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwecks Verwendung eines Objektivs mit anderer Brennweite das Lichtmeßorgan verschieblich angeordnet ist,

5. Kopiergerät nach den Ansprüchen 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß in den abgezweigten Strahlengang nach dem Spiegel Sammellinsen wechselweise einschiebbar sind, die den Verschiebeweg des Lichtmeßorgans verkürzen.

6. Kopiergerät nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Verschiebeweg des Lichtmeßorgans elektrische Kontakte angeordnet sind,, die in entsprechender Lage die den verschiedenen Objektiven zugeordneten veränderbaren elektrischen Widerstände einschalten.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen