DE717430C

DE717430C - Verfahren und Anordnung zum Ermitteln der fuer das photographische Vergroessern notwendigen Belichtung

Info

Publication number: DE717430C
Application number: DEM132564D
Authority: DE
Original assignee: Metrawatt AG
Current assignee: Metrawatt AG
Priority date: 1935-11-10
Filing date: 1935-11-10
Publication date: 1942-02-13

Description

Verfahren und Anordnung zum Ermitteln der für das photographische Vergrößern notwendigen Belichtung Zur Ermittlung der Belichtungszeit, insbesondere bei Vergrößerungsarbeiten, verwendet man bereits mit Erfolg photoelektrische Belichtungsmesser.
Es sind Ausführungen bekannt, bei denen das Lichtelement während der Messung in die Ebene des später einzulegenden Vergrößerungspapiers gebracht wird bzw. solche, bei denen es sich im Vergrößerungsapparat dicht hinter dem Negativ befindet. Die erstere Ausführung bedingt wegen der geringen Lichtstärken ein höchstempfindliches, also teures Meßgerät. Die letztere hat den Nachteil, daß man die bildwichtigste Stelle durch die Messung nicht einwandfrel erfassen kaum, da das Lichtelement eine verhältnismäßig große Fläche besitzt, die im allgemeinen wesentlich größer ist als die bildwichtigsten dunkelsten Partien des Negativs. Da die Messung bei lichtelektrischen Belichtungsmessern integrierender Art ist, ergeben sich hierbei sehr oft falsche Resultate.
Es ist uch bekannt, mit einem für photographische Aufnahmen iiblichen B elichtungsmesser eine solche integrierende Messung des gesamten Strahlenbündels, also der gesamten Negativfläche durchzuführen, indem der von einem teildruchlässigen Spiegel abgelenkte Anteil dieses Bündels durch eine Linse auf die Auffangfläche des Belichtungsmessers gesammelt wird, deren optischer Abstand von dem Objektiv geringer ist als der der Vergrößerungsebene.
Das Verfahren gemäß der Erfindung vermeidet diese Nachteile. Es beruht darauf, daß man die Auffangfläche eines für photographische Aufnahmen üblichen Belichtungsmessers zwischen dem Objektiv und der Bildebene dort einschaltet, wo das von der bildwichtigsten Stelle ausgehende Teilstrahlenbündel die Auffangfläche wenigstens nahezu ganz ausleuchtet. An dieser Stelle ist die dem Quadrat der Abstände umgekehrt proportionale Beleuchtungsstärke der Bildebene vorhanden Da diese Beleuchtungsstärke wesentlich größer ist als in der Bildebene, kann man auf diese Weise noch mit den verhältnismäßig unempfindlichen Belichtungsmessern, wie sie für photographische Aufnahen verwendet werden, die Belichtungszeit für Vergrößerungen hinreichend genau ermitteln, während diese Belichtungsmesser nicht ausreichen würden, um die Belichtungszeit durch Messung in der Vergrößerungsebene selbst zu bestimmen.
Die Erfindung wird an Hand der Abbildung erläutert. Diese zeigt in schematischer Darstellung die Anordnung des Vergrö6erungsapparates g, dessen Objektiv sich in einem Abstand b von der Vergrößerungsebene befindet. Die Auffangfläche e eines Belichtungsmessers d wird gemäß der Erfindung in einem Abstand a vom Objektiv in den Strahlengang eingeschaltet, der so gewählt wijd daß das von der bildwichtigsten Stelle des Negativs ausgehende Teilstrahlenbündel die Auffangfläche wenigstens nahezu ganz aus leuchtet. Auf Grund des quadratischen Ent fernungsgesetzes kanu man dann von der durch das Meßgerät ermittelten Zeit auf den Zeitwert schließen, der für die verminderte Beleuchtungsstärke im Abstand b richtig ist.
Nach erfolgter Messung wird der Belichtungsmesser aus dem Strahlengang entfernt, um diesen für die Ausführung der Vergrößerung frei zu machen.
Der Abstand a wird im allgemeinen als fest oder nahezu fest angenommen, während der Abstand b sich entsprechend der gewünschten Vergrößerung ändert. Der Abstand b wird mittels eines Rollbandmessers bzw. einer besonderen Teilung, welche in geeigneter Weise an der Säule angebracht ist, gemessen.
Zweckmäßigerweise wird eine schwenkbare Platte c vorgesehen, die während der Messung in den Strahlengang hineingedreht wird und auf weicher das Lichtelement c bzw. das Meßgerät d seitwärts verschoben werden kann. om genau in den Strahlengang der bildwichigsten Stelle gebracht zu werden.

Claims

PATENTANSPR ÜCHE: 1. verfahren zum Ermitteln der fiir das photographische Vergrößern notwendigen Belichtung, dadurch gekennzeichnet, daß die Auffangfläche (e) eines fiir photographische Aufnahmen üblichen Belichtungsmessers (d) zwischen dem Objektiv und der Bildebene dort eingeschaltet wird, wo das von der bildwichtigsten Stelle ausgehende Teilstrahlenbündel die Auffangfläche (e) des Meßgerätes (d) wenigstens nahezu ganz austeuchtet.
2. Anordnung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnel. daß eine in den Strahlengang einschwenkbare Platte (c) zur Auflage der Auffangfläche (e) des Belichtungsmessers (d) vorgesehen ist. die an der Einstellbewegung des Vergrößerungsapparates @g teilnimmt.