CH237420A - Optisches Prüfgerät für die Umrissform von Werkstücken. - Google Patents

Optisches Prüfgerät für die Umrissform von Werkstücken.

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CH237420A
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Hesse Walter Ing Dr
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Hesse Walter Ing Dr
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description


  Optisches Prüfgerät für die     Umrissform    von     Werkstüeken.       Die Erfindung bezieht .sich auf ein opti  sches Prüfgerät für die     Umrissform    von  Werkstücken,     beispielsweise    von Rotations  körpern grösserer Ausdehnung, wie z.     B..    der  Radsätze von     Eisenbahn-Fahrzeugen,    Walzen  profilen,     Drehkörpern,    beliebiger Form und  grösserer Länge.  



  Es ist bekannt. zum Zwecke der Prüfung  und gegebenenfalls der Messung ein Werk  stück     mit    dem Bilde eines     Fadenkreuzes,     einer     Messskala    oder einer Schablone auf  optischem Wege zu vergleichen, indem auf  die Sollform, die sieh als     Strichplatte    in  einem Mikroskop oder Fernrohr befindet  oder die als Zeichnung vorhanden     ist,    das  Schattenbild des     Werkstückes    abgebildet  wird. Ferner ist bekannt, zum Zwecke der       Betrachtung    das an den Prüfgegenstand z. B.

    nach dem     Lichtspaltverfahren    angelegte  optische Bild einer Schablone oder eines  Vergleichsgegenstandes gemeinsam mit dem  Prüfgegenstand mittels Bildwurf     vergrössert     sichtbar zu machen, oder auf den Prüf  gegenstand und die Sollform optische Ab-         Bildungssysteme    derart zu richten, dass das  Werkstück und dessen Sollform gleichzeitig  einander überlagernd     in    einem gemeinsamen  Bildfeld sichtbar sind. In vielen Fällen ist  es nun erforderlich, den gesamten Werkstück  umriss mit einem Blick zu übersehen. Bei  grösseren Werkstücken werden die bisher be  kannten optischen Einrichtungen sehr um  fangreich und     dementsprechend    kostspielig.

    Denn bei der     optischen        Umrissprüfung    ist es  besonders zweckmässig, dass das zu prüfende  Werkstück in einen     telezentrischen        Strahlen-          gang,gebracht        wird,    was     erfordert,        dass:    ein  Teil .der Optik gleich öder grösser als der       gleichzeitig    zu überblickende Teil. des Werk  stückes     ist.     



  Es ist auch vorgeschlagen worden,     Raum-          bilder    als     Messmarken    oder Profilschablonen  auf optischem Wege an ein Werkstück zu       Messzwecken    anzulegen. Hierbei ist zwischen  einem Stereomikroskop und dem zu messen  den oder zu prüfenden Objekt eine teilweise  spiegelnde Fläche angeordnet, die eine  ausserhalb des     Stereomikroskopes    angeordnete      Marke an dem Objektort zur gemeinsamen  Beobachtung durch das Stereomikroskop ab  bildet.  



  Die Messung wird hierbei dadurch er  möglicht, dass entweder das Stereomikroskop  oder der Markenträger oder das     Werkstück     oder alle drei gegeneinander messbar ver  schiebbar angeordnet sind, so dass man das       Markenraumbild    in Berührung mit dem  Werkstück bringen oder sogar in dieses ein  dringen lassen kann, ohne dass eine körper  liche     Berührung    erfolgt, wobei das     Mess-          ergebnis    auf der die Bewegung messenden  Einrichtung ablesbar ist.

   Bei dieser     AMess-          einriehtung    gelangen     virtuelle    optische Bilder  (Spiegelbilder) zur Anwendung, wobei in  folge des begrenzten, nicht ohne     -weiteres    zu  erweiternden Gesichtsfeldes nur verhältnis  mässig kleine Teile von Werkstücken über  blickt werden können.  



  Die Erfindung gestattet, die erwähnten  Nachteile zu beheben. Bei dem erfindungs  gemässen optischen Prüfgerät wird ebenfalls  eine optische Schablone an das zu prüfende  Werkstück angelegt. Es zeichnet sieh aus  durch mindestens eine Linsenplatte, die zur  Erzeugung der optischen Schablone dient. Es  ist dadurch möglich, das Prüfgerät für die  Prüfung grosser     Werkstücke    so auszuführen,  dass auch ein grosses, frei übersehbares     Mess-          feld    in raumsparender Weise unter Anwen  dung reeller optischer Bilder erzielt wird.  



  Die optische Schablone und das Werk  stück können messbar zueinander bewegbar  sein und     ferner    kann die optische Scha  blone selbst mit dem Bilde einer entspre  chenden     Messskala    versehen werden.  



  Bei zweckmässiger Ausführung des Prüf  gerätes ist es bei Verwendung von einfachen,  nur aus flächenartig angeordneten     Plan-          konvexlinsen        be.st:ehenden    Linsenplatten mög  lich, weitgehend optische fehlerfreie Scha  blonen zu erhalten. Die bei der     Betra.ehtung     auftretenden Fehlerquellen können vermieden  werden und durch entsprechende Licht  führung können auch die Photozellen für  objektive selbsttätige Messung verwendet  werden. Man kann auch ein photographisches    Festhalten des     Pi-iifbildes    oder dessen     un-          mittelbare        Wiedergalle    mittels Projektion  erreichen.

   Für die Massenfabrikation kann  das     Priifgei-#iit.    so ausgebildet werden, dass es  eine.     @@lerl"stückhontrolle    im Fliessgang er  möglieht. Ein subjektiver     Einblick    in das  Gerät kann     beispielsweise        binokular    in be  quemer     Blicliriehl.:uiig    bei grossem Gesichts  feld     erfolgen.     



  Die bei der Betrachtung     entstehenden     Fehler sind     parallaktischer    Natur. Bei     Über-          priifiing    von Rotationskörpern mit optischen       Schablonen        können        parallaktische    Fehler in  der Weise vermieden werden.

   dass zwischen  der optischen Schablone und einer     mon-          okularen        Einhlicköffnung    eine Sammeloptik,       beispielsweise,    eine Sammellinse, derart ein  geschaltet     wird,    dass die Schablone zusammen  mit dein     Umruss    des     Wei@kstiickes    nur in rein       telezentrischem    Strahlengang sichtbar ist.  Die einäugige Betrachtung kann dabei     ent-          iveder    unmittelbar aus dem     Brennpunkt    der  Linse oder auch über Spiegel in bequemer  Blickrichtung erfolgen.

   Eine     para.llaxfreie     Betrachtung ist:     aueb,    bei     hinokularem        Ein-          blich-    durch Bildverdopplung möglich. An die  Stelle des Auges können auch für objektive       Mes.sunöen    eine oder mehrere Photozellen  angeordnet:     -werden.    Es kann aber auch an  die Stelle des Auges das Objektiv einer       photographischen    Kamera oder ein Projek  tionsobjektiv angebracht werden und so das       llessergebnis    photographisch festgehalten  oder unmittelbar vergrössert projiziert werden.  



  Die Zeichnung zeigt     beispielsweise    Aus  führungsformen des Prüfgerätes gemäss der       Erfindun-    sowie Einzelheiten derselben in  den     Fig.    1 bis 14, welche im folgenden be  schrieben werden.  



       Fig.    I zeigt, die Herstellung der Raum  bildschablone auf photographischem Wege  nach dem bekannten Verfahren der Linsen  rasterphotographie.  



  Die ursprüngliche Schablone 1, die ent  iveder als Aufsichtsbild (Zeichnung) oder als       Durchsichtsbild    hergestellt sein kann,     wird,     entsprechend beleuchtet, in jener Entfernung  2 und an jener Stelle von der Linsenraster-      platte 3 angeordnet, wo später die     optische     Schablone     (Fig.    2) entstehen soll. Bei der  Aufnahme entwerfen die Linsen oder Linsen  systeme 5 der     Linsenrasterplatte    8 ebenso  viele Einzelbilder 6 auf der lichtempfind  lichen Platte 7, als Linsen oder Linsensysteme  vorhanden sind. Alle Linsen oder Linsen  systeme haben gleiche Brennweite.

   Die ent  wickelte Platte 7 dient als Photogramm 8       zur        Erzeugung    der     optischen        Schablone,    wie       Fig.    2' zeigt. Es wird nur für jene     Linsen-          rasterplatte        verwendet,    mittels der es ent  standen ist.  



  Der Bildwerfer 9 weist die Linsenraster  platte 3 und das Photogramm 8 auf, die  durch das Gehäuse 10 miteinander fest ver  bunden sind. Das Photogramm 8     befindet     sich     relativ    zur     Linsenrasterplatte    3 in  üblicher Weise genau an derselben Stelle., an  der es bei der Aufnahme entstanden ist. Es  ist mit einer     Opalscheibe    11 bedeckt, die  durch eine Lichtquelle 12 beleuchtet wird. In  .der Blickrichtung 13 ist die optische Scha  blone 4 freischwebend im     Raume    als  scharfes Bild mit freiem Auge sichtbar.

   Die       Fig.    3, 4 und 5     zeigen    eine     Messeinrichtung          zur        Bestimmung        jenes     Lauf  kreisdurchmessers 27 eines     Eisenbahn-Fahr-          zeug-Radsatzes        33,    der bei möglichst werk  stoffsparendem Überdrehen des abgenützten  Umrisses noch erreichbar ist.  



  Die beiden Bildwerfer 9 erzeugen je eine  optische Schablone 4,     freischwebend    um je  einen     1Zeifenumrissil.    Durch Drehen der Kurbel  14 können über an sich beliebige Übertra  gungselemente, wie beispielsweise Schnecke  15, Schneckenrad 16, Spindel 17. Kegelräder  18, 19, Gewindespindel 20 und     Muttern    21,  die beiden Bildwerfer 9 und dadurch die  Schablonen 4 nach     Bedarf    ,gehoben oder ge  senkt werden. Zur Führung sind beispiels  weise die Bildwerfer 9 mit Müttern 21 und       Führungsleisten    22 versehen, welch letztere  auf den senkrechten Bettprismen 23 laufen.

    Die beiden Schablonen 4 können     entweder     einzeln unmittelbar in Blickrichtung 24 oder  gleichzeitig gemeinsam unter Zuhilfenahme  von geneigten Spiegeln 30 durch den Rahmen    31 in Blickrichtung 32 betrachtet werden.  Der Rahmen 31 entspricht der Austritts  lücke der Rasteroptik. Die Bildwerfer 9  müssen so lange bewegt werden, bis die Licht  spalte zwischen     Reifenumriss    25 und     Scha-          blonenumriss    26     (Fig.    6) gerade verschwin  den. An jeder abgenützten     'Stelle    tritt ein  Lichtspalt auf.

   Durch     gleichzeitige    Drehung  des Radsatzes um seine Achse 34     (Fig.    4)  während der     Messung    kann der ganze Räder  umfang     abgetastet    werden. Der gesuchte       Laufkreisclurchmesser    27 des     Reifens    28     ist     auf Massstab 29     (Fig.    3) ablesbar. Die Lage  der     Radreifeninnenkante    35     (Fig.    6)     kann     am Massstab 36 der Schablone 4     unmittelbar     abgelesen werden.  



  Wenn man mittels eines einzelnen Ob  jektivs oder     einer    einzelnen Linse nach be  kannten Verfahren     eine    optische Schablone  herstellen     wüTde,        jso    müsste die Grösse dieser  Linse mindestens gleich der zu prüfenden       Abmessung    des zu überprüfenden     Werk-          stüekumrisses    gewählt werden.

   Beim be  schriebenen Prüfgerät entspricht diese Ab  messung dagegen der Grösse der     Linsenplatte.     Vergleicht man nun die     Linsenplatte    mit  einer ihr gleichwertigen grossen Linse, so  müsste, wenn die optische Qualität     deT    er  zeugten     Schablone    in beiden Fällen gleich  sein soll, das     Öffnungsverhältnis    der grossen  Linse dem     Öffnungsverhältnis    der kleinen  Einzellinsen der Linsenplatte gleich sein,

    falls in beiden Fällen Linsen gleicher Kor  rektur Verwendung     finden.    Hieraus ergibt  sich für die grosse     Linse    auch eine bedeu  tend grössere     Brennweite    und     eine    dement  sprechend grössere Bild- und Gegenstands  weite, also ein grösserer Raumbedarf.

   Wenn  dagegen statt einer grossen Linse eine     Linsen-          rasterplatte    aus vielen kleinen Linsen glei  chen     Öffnungsverhältnissen    verwendet wird,  so verkürzen sich die für die     Bemessung    der  optischen     Gesamteinrichtung        massgebenden     Grössen im Verhältnis der     Brennweiten,

      so  dass eine ganz     bedeutende        Raumersparnis     erzielt     wird.        Es    kann daher durch Wahl  einer entsprechend grossen     Linsenrasterplatte     eine grosse optische Schablone     erezugt    wer-      den, die es ermöglicht, auch mit. freiem Auge  weit ausgedehnte oder mehrere     Hessstellen     gleichzeitig zu überblicken, wobei. mit Vor  teil die bekannte     Lichtspaltmethode        a.nge-          wendet    wird.  



  Es     ist    nicht     not#,vendig,    dass das Photo  gramm     ebensoviele        vollständige        Einzelbilder     enthält, als Linsen vorhanden sind, wie in  dem in     Fig.    1 dargestellten Fall. Es kann  vielmehr jede Linse auch nur einen Aus  schnitt der ursprünglichen Schablone 1 ab  bilden. Da nun beliebig viele Einzellinsen       aneinandergereiht    werden können,     lä.sst    :sich  so ein Gesamtsystem sehr grosser     Öffnung     von optischer     Qualität.    der Einzellinsen her  stellen.

   Es kann daher ein grosses korrigier  tes und dementsprechend kostspieliges Ob  jektiv grosser Öffnung zum Zwecke der Er  zeugung optischer     Schablonen    unter Umstän  den durch eine billige, aus einfachen Linsen.  bestehende     Linsenrasterplatte    ersetzt     tverden,     da die Einzellinsen bei gleichem Raumbedarf  mit: einem viel kleineren     Öffnungsverhältnis     ausgeführt werden können als das grosse  Objektiv.  



  Die Herstellung auch komplizierter ebener       optischer        Umrisssehablonen    ist in einfachster  und genauester Weise auf photographischem  Wege möglich, wobei, wie bereits erwähnt,       i    ein und dieselbe Linsenplatte zur Aufnahme  der ursprünglichen Schablone und zur Wie  dergabe des     Photogram?nes    dient, welcher  Umkehrvorgang auch bei der     Lirnsenraster-          photographie    zur     Selbstkorrektur    der Fehler  des Linsenrasters bekannt ist.  



  Gemäss dem- in     Fig.    7 dargestellten Aus  führungsbeispiel ist eine     Sammellinse    37  auf einer feststehenden Platte 38 des     117ess-          tisches    aufgebaut, die zusammen mit einer  Linse 37' eine     Sammeloptik    bildet. Die     scha-          blo.nenerzeugende        Optik,        welche        die     39 und das exakt     auswech:s.elbare          Photogramm    40 aufweist, ist zusammen mit  dem Werkstück 41 mit der verschiebbaren  Grundplatte 42 verbunden.  



  Die     optischen    Schablonen 47 und 48       iFig.    7) liegen z. B. in einer     vertikalen          Ebene    durch die     Werkstückachse.    Die mit         d--in        @@'erksiück    41 verbundene     schablon-          erzeugende    Optik     kann    mit der     Grundplatte     4? relativ zum     31esstisch    38, auf dem sich die       Sammellinse    37 befindet, verschoben werden.  Dies ist von Vorteil bei langen Werksdicken.

    weil-     dann        die        Samiueloptik    nicht die ganze       @@'crhstücklün@,-e    zu     umfassen    braucht.     Mit-          cinler    kann     es    vorteilhafter sein, nicht, wie  hier, das     '\Verhstiicli    zu     bewegen,    sondern die       Sammeloptik        ain    feststehenden Werkstück       vorbeizuführen.     



       Auf        der@elhen        Prüftischplatte    38 kann.       Fig.    7     z@@:gt,    auch die aus     liondersor   <B>55.</B>       P,uiktl;inipe    50 und     Farbfilter    51     bestehende          Eelenehtuugseinrichtung    angebracht sein..

   Sie       braucht:        dann    ebenfalls nicht die gesamte       Werhstückh@reite,    sondern nur den von der       Sammeloptik        erfassten    Bereich des     %um-          photo_grainnies    40     zit        beleuchten.    wodurch.       insbesondere        l-,r.i        I < in"-eren    Werkstücken, die       Be=leuclli.ungseinrielitung    vereinfacht und ver  kleinert wird.  



  Soll die     Prüfling    durch     ,subjektiven    Ein  blick erfolgen, so kann die     Betrachtung        ent-          werler        unniiitelhai-        einäugig    aus dem Brenn  punkt     iler    Linse 3 7 oder     aneh,    wie     Fig.    7       zeigf,        über    Spiegel 63 in     bequemer        Blielk-          richtiing        erfolgen,

          wobei    nach     Fig.    7 eine       monokiclare        Eiiiblicköffinin.g    vorgesehen ist.  Um     Errniidung    der Augen zu vermeiden, ist:       hinokularer        14#'inlrIick    in die     Sammeloptik    37       tvünschensw@rt        Tig.    12l, Ein solcher ist bei  ohne Einführung eines par  allaktischen Fehlers mittels Bildverdopplung       nach    Art des     Sy        nopters    nach Moritz v.

   Rohr       möglieeb,        wofiir    ein Prisma 52 und Spiegel  .i3 vorgesehen sind.  



  Nenn auch durch     Anwendun@#    der       Sammeloptik    auf die in     Fig.    7 oder 12     dar-          ;eslellte        @Veiae    bei der Betrachtung nunmehr  die     achsparallel,    also     telezentriseh    aus der       Linsenplane    39 austretenden Lichtstrahlen  wirksam     werden.    wodurch eine gleichmässige       Beanspruchung    aller Einzellinsen der Linsen  platte     erreicht    wird, so ergeben sich noch       gev-i,@-e    Fehlerquellen dadurch.

       da.ss    auch       #        -tn(        lers        gerichtetes        Licht        in        die        schablonen-          erzeugende    Optik gelangen kann, und zwar      sowohl bei der     Herstellung    des Raumphoto  grammes selbst, als auch bei der Wiedergabe.  Zur Abblendung bei der Aufnahme und     fier     Wiedergabe kann eine     bienenwabenartige     Blende     benutzt    werden.

   Auf einfachere Art  lässt sich jedoch eine gute Abblendung durch  eine     Vielfach-Lochblende    erreichen, und zwar  in der Art,     daB        zwischen    jeder     Einzeloptik     oder     Einzellinse    der     Linsenplatte    39 (Fix. 7)  und dem Photogramm 40 eine Lochblende 54  genau oder angenähert in Brennweiten  entfernung angeordnet wird.

   Bei der Her  stellung des     Photogrammes    kann dann     nur     achsparallel     gerichtetes    Licht wirksam wer  den und umgekehrt kann beider Wiedergabe  nur solches Licht aus der     Linsenplatte    aus  treten und in die     Sammeloptik    gelangen.  



  Wird das Photogramm in diffusem Licht  beleuchtet, so geht ein Grossteil dieser Licht  menge verloren, und zwar jener, der von der  Lochblende 54 abgeschirmt wird. Zur  besseren     Lichtausnützung    kann auf der der       Beleuchtungsoptik    55 zugewendeten Seite des       Photogrammes    40 eine der bilderzeugenden       Linsenplatte    gleichartige, aus plankonvexen,  flächenartig     aneinandergereihten    Sammel  linsen bestehende Linsenplatte 56 derart an  geordnet werden, dass das aus der Beleuch  tungsoptik austretende, z.

   B. mittels     Konden.-          sor    55 achsparallel     gerichtete    Licht in jedem  der     hintern        Brennpunkte    der bilderzeugenden       Linsenplatte    39 innerhalb der Öffnungen  der Lochblende 54 vereinigt wird. Auf diese  Weise wird streuendes Licht innerhalb -der  Optik     vermieden    und eine     Durchstrahlung     des     Photogrammes    mit gerichtetem Licht er  reicht, wodurch die     Erzeugung    einer scharfen  Schattenschablone begünstigt wird.  



  Mit Hilfe des beschriebenen Prüfgerätes  ist es auch möglich, die bekannte Lichtspalt  methode zur     Lichtspaltformgrenzprüfung     auszubilden, wenn das Toleranzfeld 57  (Fix. 13) eines Werkstückes 41 gegeben ist.  Kongruent der obern Begrenzungslinie des  Toleranzfeldes wird die optische Schablone  47 (Fix. 14), kongruent der untern Begren  zungslinie die optische Schablone 48 her  gestellt. 47 ist die     Linie    der     Grösstmasse,       während 48 die Linie der     Kleinstmasse    dar  stellt.

   Diese beiden Schablonen können nach  einander, bei Drehkörpern auch gleichzeitig,  an den     Werkstückumriss    angelegt werden,       bezw.    auch in     diesen        eindringen.    Der Werk  stückumriss ist an keiner Stelle zu gross, wenn  der     Liehtspalt    bei Schablone 47 gerade noch  überall sichtbar bleibt; er ist an keiner Stelle  zu klein,     wenn    bei     iSchablone    48 kein Licht  spalt sichtbar ist.

   Es ist daher die Verwen  dung des     beschriebenen    Prüfgerätes zur       Lichtspalt-Formgrenzprüfung    in der Weise  möglich, dass gleichzeitig oder     nacheinander     die zwei optischen Schablonen 47 und 48 an  den     Werkstückumriss    angelegt werden.  



  Die Verwirklichung der     Lichtspalt-Form-          grenzprüfung    ist auch selbsttätig z. B. so  möglich,     dass    an Stelle des Auges des Be  schauers eine oder mehrere Photozellen 58, 59  angebracht werden, wie     Fig.    8 und 9 zeigen.  Das Werkstück 41 ist zwischen Körner  spitzen 43 und 44 (Fix. 9) eingespannt.  Beide Körner     federn        achsial,    und zwar drückt  die Körnerspitze 43 die     bearbeitete    Fläche 45       des    Werkstückes 41 gegen den Anschlag 46.

    Das Werkstück 41 wird zusammen mit der  Schablone 47, 48 an den Photozellen 58, 59       vorbeibewegt.    Die untere Photozelle 58 tastet  die die Linie der     Grösstmasse    darstellende  Schablone 47 ab. Die Lichtmenge darf hier  ein bestimmtes Minimum nicht unterschrei  ten, das heisst es soll festgestellt werden,  ob eine geschlossene Lichtlinie vorhanden ist.  Die obere Photozelle 59 tastet, die die Linie  der     Kleinstmasse        darstellende    Schablone 48  ab. Hier darf die Lichtmenge einen bestimm  ten, sehr kleinen Höchstwert nicht über  schreiten, das heisst es soll praktisch die ge  samte Schablone 48 in den     Werkstückumriss     eindringen, also nirgends ein Lichtspalt vor  handen sein.

   Diese     Abtastung    ist beispiels  weise so möglich., dass zwischen den Bild  schablonen 47, 48 und der     Sammeloptik    37  je eine drehbare Spaltblende 60 angeordnet  wird, .die mit der     Sammelaptik    verbunden mit  dieser relativ zum Werkstück bewegt wird  und jeweils nur einen schmalen Teil des  durch den Lichtspalt zwischen Werkstück 41      und Schablonen gelangenden Lichtbandes zur  Photozelle durchlässt. Die Spaltblende 60 ist  in einer zur     Schablonenebene    parallelen Ebene  drehbar.

   Durch geeignete     Einrichtungen        kann     dafür gesorgt werden, dass sie immer mög  lichst schräg und nicht parallel zur ,jeweils  ausgeblendeten Teilfläche des     Lichtbandes     steht.  



  An Stelle der Augen 4:) des     Beschauers     kann vor die     Sammeloptik    37 auch das Ob  jektiv einer photographischen Kammer 61       (Fig.    10) oder das     Projektionsobjektiv        6?          (Fig.    11) angebracht und so das     1VIessergebnis     photographisch festgehalten oder     unmittelbar     vergrössert     projiziert    werden.

Claims (1)

  1. P ATEIN TATSPRUCH: Optisches Prüfgerät für die Umrissform von Werkstücken, bei dem eine optische Schablone an das zu prüfende Werkstück angelegt wird, gekennzeichnet durch min destens eine Linsenplatte, die zur Erzeugung der optischen Schablone dient. UN TERAN SPRüCHE 1.
    Prüfgerät nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass die optische Selia- bloneund das Werhstüeli# messbar zueinander bewegbar sind. 2. Prüfgerät nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, da.ss die optische Selia- blone mit dem Bilde einer Messskala, ver sehen ist. 3.
    Prüfgerät nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine zwischen der opti schen Schablone und einer monokularen Einblicköffnung angeordnete Sammeloptik, welche die optische Schablone mit dem Werk- stückumriss in telezentrischem Strahlengang sichtbar macht. 4.
    Prüfgerät nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine zwischen der opti schen Schablone und mindestens einer Photo zelle angeordnete Sammeloptik, welche die optische Schablone mit dem Werkstiiek- umriss in telezentrischem Strahlengang auf die Photozelle wirksam macht.
    Prüfgerät nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine zwischen der opti schen Schablone und einem Objektiv einer photographischen Kamera angeordnete Sam- meloptik, @velehe die optische Schablone zeit dem Werkstückuinriss in telezentrischein Stralilenbanb pliotographierbar macht.
    6. Prüfgerät nach Patentansprueli, ge kennzeichnet tliircli eine zwischen der opti- se-hen Schablone Lind einem Projektions objektiv angeordnete Sammeloptik, welche,
    die opti-che Seliallione finit denn Mlerl@stiick- umriss in telezeniriscliem Strahlengang proji- zierbar macht.
    7. Prüfgerät nach Unteransprucb 3, da durch gekennzeieluiet, dass mindestens eine in bezub auf das Werkstück ruhende Linsen platte und die Sammeloptik relativ aneinan der vorbeibc sveähar .sind. B. Prüfgerät nach Unteranspruch @, da- durch -@ekennzeielniet.,
    dass die Sammeloptik hei der Prüfung relativ zur Beleuchtungs optik ruht, wobei die Beleuchtungsoptik nur den von der Sammeloptik erfassten Bereich eine:
    zusammen niit der Linsenplatte zur Er- zeugung der optischen Schablone dienenden Ph.@tobrammes heleuelitet. '.i. Prüfgerät naeli Patentanspruch, da durch gekennzeichnet,
    dass durch Bildver dopplung binokularer Einblick bei parallax- freier Betraehtiing des \Verkstüekes und der optischen Schablone erreicht wird. 1.0. Prüfgerät nach Unteranspruch J, da durch gekennzeichnet, dass zur Bildverdopp- lungSpiegel vorhanden sind.
    11. Prüfberg t nach Unteranspruch 0, da durch gekennzeichnet, dass zur Bildverdopp lung mindestens ein Prisma vorhanden ist. 1?. Prüfgerät iia.eli Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass zwischen einer jeden Einzellinse der Linsenplatte und einem Photogramm eine Loehl)lende wenigstens an genähert in Brennweitenentfernung angeord net ist.
    13. Prüfgerät naeli Unteranspruch 1?, ge- kennzeielniet ciui,cli eine auf der der Beleuch- tungsoptik zugewendeten Seite des Photo- grammes angeordnete,
    der die optische Scha- blone erzeugenden Linsenplatte gleiche Lin- senplatte, durch welche das aus -der Beleuch tungsoptik austretende, achsparallele Licht in jedem der rückwärtigen Brennpunkte der die optische Schablone erzeugenden Linsenplatte vereinigt wird. 14.
    Prüfgerät nach Patentanspruch, zur Lichtspalt-I'ormgrenzprüfung, dadurch ge kennzeichnet, dass zwei optische Schablonen zum Anlegen an den Werkstückumriss vor gesehen sind, von welchen die eine die Linie der Grösstmasse und die andere die Linie der gleinstmasse darstellt. 15.
    Prüfgerät nach Unteransprüchen 4 und 7, .dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der optischen Schablone und der Sammel- optik eine drehbare Spaltblende angeordnet ist, die mit der Sammeloptik verbunden und mit ihr relativ zum Werkstück bewegbar ist, so dass jeweils nur ein schmaler Teil des durch den Lichtspalt zwischen Werkstück und optischer Schablone gelangenden Licht bündels zur Photozelle durchgelassen wird.
CH237420D 1943-01-15 1943-01-15 Optisches Prüfgerät für die Umrissform von Werkstücken. CH237420A (de)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1205294B (de) * 1960-03-18 1965-11-18 Wilhelm Hegenscheidt Kommandit Verfahren und Einrichtung zur fotografischen Aufzeichnung der Unrundheit von Rotationskoerpern
DE1211805B (de) * 1957-04-01 1966-03-03 British Iron Steel Research Optisches UEberwachungsverfahren
DE1219244B (de) * 1955-02-22 1966-06-16 Dr Techn Ing Walter Hesse Einrichtung zur UEberpruefung des Umrisses von grossen Werkstuecken, wie z. B. von bei Eisenbahnfahrzeugen ueblichen Radsaetzen
DE1233150B (de) * 1960-04-08 1967-01-26 Wilhelm Hegenscheidt Kommandit Verfahren und Einrichtung zur Vermessung der Radprofile von Eisenbahnradsatzgruppen

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1219244B (de) * 1955-02-22 1966-06-16 Dr Techn Ing Walter Hesse Einrichtung zur UEberpruefung des Umrisses von grossen Werkstuecken, wie z. B. von bei Eisenbahnfahrzeugen ueblichen Radsaetzen
DE1211805B (de) * 1957-04-01 1966-03-03 British Iron Steel Research Optisches UEberwachungsverfahren
DE1205294B (de) * 1960-03-18 1965-11-18 Wilhelm Hegenscheidt Kommandit Verfahren und Einrichtung zur fotografischen Aufzeichnung der Unrundheit von Rotationskoerpern
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