DE928429C - Interferenzmikroskop, das insbesondere zur Ausfuehrung von Tiefen-messungen an Unregelmaessigkeiten glatter Oberflaechen bestimmt ist - Google Patents

Interferenzmikroskop, das insbesondere zur Ausfuehrung von Tiefen-messungen an Unregelmaessigkeiten glatter Oberflaechen bestimmt ist

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DE928429C
DE928429C DEZ605D DEZ0000605D DE928429C DE 928429 C DE928429 C DE 928429C DE Z605 D DEZ605 D DE Z605D DE Z0000605 D DEZ0000605 D DE Z0000605D DE 928429 C DE928429 C DE 928429C
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DE
Germany
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lens
mirror surface
axis
plane
interference microscope
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DEZ605D
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English (en)
Inventor
Daniel Helfer
Kurt Dr-Ing Raentsch
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Carl Zeiss SMT GmbH
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Carl Zeiss SMT GmbH
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

Description

  • Interferenzmikroskop, das insbesondere zur Ausführung von Tiefenmessungen an Unregelmäßigkeiten glatter Oberflächen bestimmt ist Es ist ein Interferenzmikroskop bekanntgeworden, das insbesondere zur Ausführung von Tiefenmessungen an Unregelmäßigkeiten glatter Oberflächen Verwendung gefunden hat, z. B. zum Ausmessen der Tiefe feinster Schleifrisse an polierten Oberflächen. Dieses Mikroskop enthält ein Beleuchtungssystem und zwei untereinander gleiche Objektive, deren Achsen sich in einem zwischen den beiden Objektiven und dem Okular liegenden Punkt der Mikroskopachse schneiden und von denen das eine zum Betrachten des Objekts und das andere zum Betrachten einer Vergleichsspiegelfläche dient, wobei mit Hilfe des Beleuchtungssystems und einer im Schnittpunkt der Obj ektivachsen angeordneten halbdurchlässigen Spiegelfläche Licht von ein und derselben Licht quelle durch die Objektive hindurch, die symmetrisch zur halbdurchlässigen Spiegelfläche liegen, einerseits dem zu betrachtenden Objekt und anderseits der Vergleichsspiegelfläche zugeführt wird.
  • Das vom Objekt und das vom Vergleichsspiegel zurückgeworfene Licht gelangt über die halbdurchlässige Spiegelfläche in die Bildebene des Mikroskops, in der das Bild des zu betrachtenden Objekts entsteht und in der die beiden Strahlenbündel miteinander vereinigt werden. Bei entsprechender Justierung des Mikroskops entstehen durch die Vereinigung beider Strahlenbündel Interferenzstreifen, die einen Schluß auf die Größe der Tiefenabweichung einzelner im Bild hervortretender Oberflächenteile des betrachteten Objekts von den ihnen benachbarten Teilen der Oberfläche ge- statten. Es entsteht z. B. ein Bild, wie es in Abb. I der Zeichnung dargestellt ist. Im Gesichtsfeld sind bei Anwendung monochromatischen Lichtes eine Anzahl heller und dunkler Streifen a bzw. b sichtbar, wobei die Streifenteilung t einer Weglängendifferenz der miteinander interferierenden Strahlen von 1-/2 entspricht, wenn mit Ä die Wellenlänge des von der Lichtquelle ausgehenden Lichtes bezeichnet wird. Außerdem werden im Bild noch Unregelmäßigkeiten, z. B. Furchen oder Kratzer, in der Oberfläche des betrachteten Objekts sichtbar, die sich z.B. als Fransen 56 oder als andere Unregelmäßigkeiten an den Interferenzstreifen bemerkbar machen.
  • Zur Erzielung der Interferenzstreifen, also eines gewissen Gangunterschiedes der beiden reflektierten Lichtbündel, und zur Einstellung der gewünschten Breite der Streifen hat man bei den bekannten Geräten der in Rede stehenden Art den Objekttisch um eine senkrecht zur Achse des benachbarten Objektivs stehende Achse neigbar gemacht. Diese Art der Einstellung hat sich jedoch im praktischen Gebrauch der Geräte nicht als vorteilhaft erwiesen, da durch die Neigung des Objekttisches ein Auswandern der betrachteten Oberfläche aus der Objektebene erfolgt, worunter nicht nur- die Schärfe der Interferenzstreifen, sondern auch die Schärfe der Abbildung des Objekts leidet. Außerdem hängt bei einer Neigung des Objekts die Zahl der gleiche zeitig scharf sichtbar zu erhaltenden Interferenzstreifen in ungünstiger Weise von der Größe der Apertur des verwendeten Mikroskopobjektivs ab, so daß bei Verwendung größerer Aperturen nur wenige Streifen gleichzeitig sichtbar gemacht werden können.
  • Um diesen Nachteil zu vermeiden, stattet man das Mikroskop gemäß der Erfindung mit einer Einrichtung aus, durch die das eine der beiden Objektive und der auf dasselbe auffallende Teil des Beleuchtungsstrahlenbündels relativ zueinander bewegt werden können, und zwar so, daß dabei der Abstand des Objektivs von einer Ebene, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zur Objektebene des anderen Objektivs ist, nicht geändert wird. Man kann dann die zur Erzielung der Interferenzstreifen erforderlichen Differenzen der Lichtwege auf den beiden Objektivseiten durch die Relativbewegung zwischen dem Beleuchtungsstrahlenbündel und dem einen der Objektive herbeiführen und auf die Neigung des Objekttisches zur Erzeugung der Streifen und ihrer Breitenregelung verzichten. Bewegt man dabei das eine der Objektive selbst, so ist die Lage und die Gestalt des auf das bewegliche Objektiv auffallenden Strahlenbündels durch die Lage und die Blenden des anderen, festen Objektivs bestimmt.
  • Zweckmäßig wählt man einen Aufbau der Einrichtung, bei dem bei der gegenseitigen Bewegung des einen der Objektive und des auf dasselbe auffallenden Teils des Beleuchtungsstrahlenbündels die Achse des Objektivs und derjenige Strahl des Bündels, der dem Achsenstrahl auf der Seite des anderen Objektivs entspricht, parallel zu einer Geraden bleiben, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zum Achsenstrahl des Beleuchtungsstrahlenbündels auf der Seite des anderen Objektivs verläuft.
  • Zur Durchführung der erwähnten Relativbewegung könnte man beispielsweise zwischen dem einen der Objektive und der halbdurchlässigen Spiegelfläche ein Drehkeilpaar anordnen, dessen beide Keile zu gegenläufiger Drehung um die Achse dieses Objektivs, das man dann fest anordnen wird, miteinander gekuppelt sind, wobei eine Neigungsänderung des Achsenstrahls des Beleuchtungsstrahlenbündels gegenüber der Achse des Objektivs erfolgt.
  • Eine im Aufbau einfachere und in bezug auf chromatische Abweichungen bei Verwendung weißen Lichtes günstigere Einrichtung erhält man jedoch, wenn man bei feststehender Anordnug beider Objektive zwischen dem einen der Objektive und der halbdurchlässigen Spiegelfläche eine Planparallelplatte einschaltet, die um eine senkrecht zur Achse des zugehörigen Objektivs stehende Achse kippbar ist. Bei einer Kippung der Platte tritt dann nur eine Parallelverschiebung desjenigen Strahls, der dem Achsenstrahl auf der Seite des anderen Objektivs entspricht, ein.
  • Vollständige Achromasie, die auch bei Einstellung der Streifenbreite nicht gestört wird, erhält man, wenn man das eine der beiden Objektive selbst senkrecht zu seiner optischen Achse verschiebbar anordnet. Eine solche Einrichtung wendet man insbesondere dann mit Vorteil an, wenn man die Untersuchungen sowohl mit einfarbigem als auch mit weißem Licht durchführen und zu diesem Zweck eine Umschaltbarkeit des Mikroskops auf beide Beleuchtungsarten vorsehen will.
  • Will man mit der der Erfindung entsprechenden Einrichtung nicht nur Interferenzstreifen erzeugen und deren Breite regeln können, sondern auch die Lage der Streifen innerhalb des Gesichtsfeldes ändern können, so empfiehlt es sich, die Einrichtung, die zur Herbeiführung der Relativbewegung zwischen dem einen der Objektive und dem zugehörigen Strahlenbündel liegt, um eine Gerade als Achse drehbar zu machen, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zum Achsenstrahl auf der Seite des anderen Objektivs liegt, und die Anordnung so zu treffen, daß sowohl zur Herbeiführung der genannten Relativbewegung als auch zur Drehung der Einrichtung um die erwähnte Achse ein und dieselbe Handhabe dient.
  • Um bei den Mikroskopen der vorliegenden Art vor der betriebsmäßigen Einstellung der Interferenzstreifen und deren Breite das Gerät auch bequem auf den Gangunterschied Null justieren zu können, d. h. die Teilstrahlengänge von der halbdurchlässigen Spiegelfläche bis zum Objekt einerseits und zur Vergleichsspiegelfläche anderseits und zurück in völlige Übereinstimmung miteinander bringen zu können, läßt man zweckmäßigerweise die halbdurchlässige Spiegelfläche des Mikroskops von der Diagonalfläche eines geteilten Glaswürfels bilden, bildet diejenige Grenzfläche des Glaswürfels, die dem zur Betrachtung des Objekts dienenden Objektiv zugekehrt ist, schräg liegend zur Achse dieses Objektivs aus und ordnet gegenüber dieser Fläche einen Glaskeil an, dessen dem Glaswürfel zugekehrte Grenzfläche parallel der ihr benachbarten Grenzfläche des Würfels ist und der in der Richtung seiner Hauptschnittebene verschiebbar ist.
  • Im Strahlengang des Beleuchtungssystems der bekannten Mikroskope der vorliegenden Art befindet sich eine Blende, die über das Objekt und die Vergleichsspiegelfläche in die Bildebene des Mikroskopokulars abgebildet wird, also als Leuchtfeldblende wirkt. Macht man den Durchmesser dieser Blende etwas kleiner als den Durchmesser der in die Blendenebene rückwärts abgebildeten Gesichtsfeldblende des Okulars, so ergibt sich eine wesentliche Erleichterung in der Handhabung der der Erfindung entsprechenden Mikroskope. Es gibt dann nämlich die Schärfe, mit der die Blende im Okular sichtbar wird, einen Anhalt für die richtige Einstellung der Bildschärfe der Betrachtungseinrichtung auf das Objekt, die ohne diese Hilfseinrichtung bei spiegelnden Objekten mit großer Oberflächengüte nur schwer erkannt werden kann.
  • Um bei der Scharfeinstellung auf das Objekt eine Störung durch die von der Vergleichsspiegelfläche reflektierten Strahlen zu vermeiden, ist es ferner zweckmäßig, zwischen der halbdurchlässigen Spiegelfläche des Mikroskops und dem zum Betrachten der Vergleichsspiegelfläche dienenden Objektiv eine umschaltbare Blende anzuordnen, die in der einen Endstellung das nach diesem Objektiv zielende Strahlenbündel absperrt und in der anderen Endstellung den Weg für dieses Strahlenbündel freigibt.
  • In der Zeichnung ist beispielsweise in den Abb. 2 und 3 ein der Erfindung entsprechend ausgestaltetes Interferenzmikroskop teilweise im Schnitt und teilweise in Ansicht wiedergegeben, während die Abb. 4 und 5 Abänderungen dieses Mikroskops im Schnitt wiedergeben.
  • Das in den Abb. 2 und 3 dargestellte Mikroskop, dessen Tubus c mit einer Schelle c1 an einem in der Zeichnung nicht wiedergegebenen Gestell der Höhe nach einstellbar befestigt ist, ist mit einer monochromatischen Lichtquelle, und zwar mit einer Thalliumdampflampe d, ausgestattet. Ein zweiteiliger Kondensor e bildet die Lichtquelle in die Ebene einer Blende f ab, vor der sich eine Mattscheibe f befindet. Die Blende f steht in der Brennebene eines Achromates g. Die von einem Punkt der Blendenebene ausgehenden Lichtstrahlen werden also parallel gerichtet. Sie treffen auf eine halbdurchlässige Spiegelfläche 11 auf, die von der Diagonalfläche eines aus zwei Teilen hj und 112 bestehenden Glaswürfels gebildet wird. An der Spiegelfläche h wird das Beleuchtungsstrahlenbündel in zwei Teile zerlegt, von denen der eine einem Objektiv i1 zugeleitet wird, das zum Betrachten des zu untersuchenden Objekts dient, das in der Zeichnung gestrichelt angedeutet und mit ilL bezeichnet ist, und von denen der andere einem zweiten Objektiv i2 zugeleitet wird, das zum Betrachten einer Vergleichsspiegelfläche i2 dient.
  • Die beiden Objektive ij und i2 sind in ihrem optischen Aufbau einander gleich und befinden sich in gleichem Abstand von der Spiegelfläche h. Das an der Vergleichsspiegelfläche i2 und das an der spiegelnden Oberfläche des Objekts 11 reflektierte Licht geht durch die Objektive i1 und i2 zurück zu der halbdurchlässigen Spiegelfläche h. Hier wird der von der Fläche i2 kommende Teil um go0 abgelenkt, und der vom Objekt in kommende Teil tritt in gerader Richtung durch die Spiegelfläche hindurch.
  • Beide Strahlenanteile werden durch ein achromatisches System k in dessen Brennebene vereinigt, in der ein Bild des Objekts il entsteht, das mit einem Okular I betrachtet wird. Das Objektiv i2 ist in einem Körper rn befestigt, der in Schlittenführungen Snl, m2, m3 und 1114 senkrecht zum Achsenstrahl des Beleuchtungsstrahlenbündels verschiebbar angeordnet ist. Zur Einstellung des Körpers m und damit des Objektivs i2 gegenüber dem Achsenstrahl des Beleuchtungsstrahlenbündels dient ein Stift tt5, der sich einerseits gegen den Körper rn und anderseits gegen eine Rändelmutter m6 legt, die auf einem hohlen Gewindebolzen m7 verstellbar ist, der seinerseits mit einem die Schlittenführungen rn1, m3 3 und xn4 tragenden Zylinder sn8 fest verschraubt ist.
  • Eine auf der anderen Seite des Körpers m angeordnete Schraubenfeder m9 drückt den Körper mG gegen den Stift m5. Der Zylinder m5 ist in dem Gehäuse des Geräts, das mit m10 bezeichnet ist, drehbar gelagert. Durch eine Aussparung snll in diesem Gehäuse ist dafür gesorgt, daß die Drehung des Zylinders um seine Achse durch den Gewindebolzen n7 nicht gehindert wird. Zwischen dem Objektiv i2 und der halbdurchlässigen Spiegelfläche 11 ist eine Scheibenblende n angeordnet, die im Gehäuse des Mikroskops mit einem Zapfen 111 drehbar ist und mit Hilfe eines Rändelknopfes n2 von außen in zwei verschiedene Endstellungen gebracht werden kann, in deren einer, der ausgezogen gezeichneten Stellung s!ie die Beleuchtungsstrahlen zum Objektiv i2 gelangen läßt und in deren anderer, der punktiert gezeichneten Stellung sie die Lichtstrahlen absperrt. Um das Mikroskop auf völlige Gleichheit der Luftwege zwischen dem Schnittpunkt der Objektivachsen und der Objektebene einerseits sowie der Ebene des Vergleichsspiegels i2 anderseits justieren zu können, ist zwischen die Fassung des Objektivs il und das Gehäuse des Mikroskops eine Abstimmscheibe o eingeschaltet, die je nach Erfordernis von größerer oder geringerer Dicke gewählt werden kann. Um etwaige geringe Ungleichheiten der Glaswege auf den beiden Objektivseiten ausgleichen zu können, ist die dem Objektiv il zugekehrte Seite des Teils 2 des Glaswurfels schräg abgeschnitten (vgl. Abb. 3) und der schrägen Grenzfläche des Würfels gegenüber ein Glaskeil ol angeordnet, dessen dem Glaswürfel zugekehrte Grenzfläche parallel der schrägen Grenzfläche des Würfels ist. Mit Hilfe zweier Schrauben °2 und o, ist der Glaskeil in der Richtung seiner Hauptschnittebene senkrecht zur optischen Achse verschiebbar.
  • Das Arbeiten mit dem Gerät geschieht in folgender Weise, wobei vorausgesetzt wird, daß das Gerät durch Einlegen einer entsprechenden Scheibe o und durch Einstellen der Schrauben °2 und 03 auf den Gangunterschied Null justiert ist.
  • Zunächst wird die Blende n in die punktiert gezeichnete Stellung geklappt und die Blende t scharf in die Brennebene des Objektivs'1 abgebildet, was durch eine Verstellung des Mikroskoptubus der Höhe nach unter Beobachtung des Blendenbildes im Okular I erfolgt. Dann wird die Blende n aus dem Strahlengang herausgeklappt, d. h. in die in Abb. 2 ausgezogen gezeichnete Stellung gebracht. Durch Verstellen des Stiftes çnS mit Hilfe der Mutter 1116 wird hierauf die gewünschte Breite der Interferenzstreifen eingestellt und ihnen die gewünschte Richtung innerhalb des Gesichtsfeldes gegeben, was durch Drehen des Zylinders ms um seine Achse möglich ist. Als Handhabe dient bei dieser letzteren Drehung ebenfalls die Rändelmutter sn6.
  • Bei der abgeänderten Ausbildung des Geräts nach Abb. 4 ist das Objektiv'2 fest in einen Zylinder P1 eingeschraubt, der innerhalb eines Gehäuses p um die Zylinderachse drehbar angeordnet ist. Zur Herbeiführung des zur Erzielung der Interferenzstreifen notwendigen Gangunters chiedes dient hier eine Planparallelplatte P2, die zwischen der halbdurchlässigen Spiegelfläche h (s. Abb. 2) und dem Objektiv i2 angeordnet ist. Die Platte p2 ist in einer Fassung p3 befestigt, die innerhalb des Zylinders P1 zwischen zwei Zapfen p4 und p6 um eine senkrecht zur Achse des Objektivs'2 stehende Achse drehbar gelagert ist. Die Fassung p3 trägt einen Arm p6.
  • Dieser ist am Ende mit einer schlitzförmigen Aussparung P7 versehen, und in diese Aussparung greift ein Stift P8 ein, der exzentrisch an einer an einem drehbar gelagerten Zapfen pg angeordneten ScheibeplO befestigt ist, so daß durch eine Drehung des Zapfens p9 um seine Achse der Arm P6 geschwenkt und damit die Platte P2 zwischen den Zapfen p4 und p5 gedreht werden kann, wodurch der Achsenstrahl des das Objektive durchsetzenden Beleuchtungsstrahlenbündels gegenüber der Objektivachse parallel versetzt wird. Zur Durchführung der Drehung des Zapfens p9J der in einer in den Zylinder P1 eingeschraubten Hülsen,, gelagert ist, ist an dem Zapfen außerhalb des Gehäuses ein Rändelknopf P12 befestigt, der zugleich als Handhabe für eine Drehung des Zylinders P1 mit der Planparallelplatte P2 um dessen Achse dient. Durch diese Drehung wird wieder die gewünschte Richtung der Interferenzstreifen im Gesichtsfeld des Mikroskops herbeigeführt.
  • Bei der in Abb. 5 dargestellten abgeänderten Form des Mikroskops ist wieder wie vorher das Objektiv'2 fest angeordnet. Zwischen diesem Objektiv und der halbdurchlässigen Spiegelfläche h (Abb. 2) ist hier ein Drehkeilpaar mit zwei Glaskeilen q1 und q2 angeordnet, die über Kegelräder q5 und q4 in gegenläufigem Sinn von einem Trieb q5 aus drehbar sind. Das Drehkeilpaar mit seinen Antriebsteilen ist in einem Zylinder q6 gelagert, der seinerseits in dem das Ganze umschließenden Gehäuse, das hier mit q7 bezeichnet ist, um die Zylinderachse drehbar ist. Sowohl die Drehung der Keile q1 und q2 gegeneinander als auch die Drehung des Zylinders q6 um seine Achse geschehen auch hier wieder von einer einzigen Ilandhabe, nämlich dem Antriebsknopf q5 aus. Durch die Drehung der Glaskeile q1 und q2 gegeneinander wird die Breite der Interferenzstreifen und durch die Drehung um die Achse des Zylinders q6 die Lage der Streifen im Gesichtsfeld verändert.

Claims (8)

  1. PATENTANSPRÜCH E: I. Interferenzmikroskop, das insbesondere zur Ausführung von Tiefenmessungen an Unregelmäßigkeiten glatter Oberflächen bestimmt ist, enthaltend ein Beleuchtungssystem und zwei untereinander gleiche Objektive, von denen das eine zum Betrachten des Objekts und das andere zum Betrachten einer Vergleichsspiegelfläche dient, wobei durch die Objektive hindurch mit Hilfe einer halbdurchlässigen Spiegelfläche Licht von ein und derselben Lichtquelle einerseits dem Objekt und anderseits der Vergleichsspiegelfläche zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Mikroskop mit einer Einrichtung ausgestattet ist, durch die das eine der beiden Objektive und der auf dasselbe auffallende Teil des B eleuchtungsstrahlenbündels relativ zueinander bewegt werden können, und zwar so, daß dabei der Abstand des Objektivs von einer Ebene, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zur Objektebene des anderen Objektivs ist, nicht geändert wird.
  2. 2. Interferenzmikroskop nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die genannte Einrichtung so ausgestaltet ist, daß bei der gegenseitigen Bewegung des betreffenden Objektivs und des auf dasselbe auffallenden Teils des Beleuchtungsstrahlenbündels die Achse des Objektivs und derjenige Strahl des Bündels, der dem Achsenstrahl auf der Seite des anderen Objektivs entspricht, parallel zu einer Geraden bleiben, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zum Achsenstrahl des Beleuchtungsstrahlenbündels auf der Seite des anderen Objektivs verläuft.
  3. 3. Interferenzmikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Herbeiführung der Bewegung des betreffenden Objektivs und des entsprechenden Beleuchtungsstrahlenteils gegeneinander eine zwischen dem Objektiv und der halbdurchlässigen Spiegelfläche eingeschaltete Planparallelplatte dient, die um eine senkrecht zur Achse des Objektivs stehende Achse kippbar angeordnet ist.
  4. 4. Interferenzmikroskop nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Herbeiführung der Bewegung des betreffenden Objektivs und des entsprechenden Beleuchtungsstrahlenteils zueinander das Objektiv selbst senkrecht zu seiner optischen Achse verschiebbar angeordnet ist.
  5. 5. Interferenzmikroskop nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung, die zur Herbeiführung der Bewegung des einen der Objektive und des entsprechenden Beleuchtungs- strahlenteils gegeneinander dient, um eine Gerade als Achse drehbar ist, die in bezug auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegelfläche symmetrisch zum Achsenstrahl auf der Seite des anderen Objektivs liegt, und daß sowohl zur Herbeiführung der genannten Relativbewegung als auch zur Drehung der Einrichtung um die erwähnte Achse ein und dieselbe Handhabe dient.
  6. 6. Interferenzmikroskop nach Anspruch I, bei dem die halbdurchlässige Spiegelfläche des Mikroskops von der Diagonalfläche eines geteilten Glaswürfels gebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß von dem Glaswürfel diejenige Grenzfläche, die einem der Objektive zugekehrt ist, schräg zur Achse dieses Objektivs liegend ausgebildet und dieser Fläche gegenüber ein Glaskeil angeordnet ist, dessen dem Glaswürfel zugekehrte Grenzfläche parallel der ihr benachbarten Grenzfläche des Würfels ist und der in der Richtung seiner Hauptschnittebene verschiebbar ist.
  7. 7. Interferenzmikroskop nach Anspruch I, bei dem im Beleuchtungsstrahlengang eine Blende angeordnet ist, die über das Objekt und dieVergleichsspiegelfläche in die Bildebene des Mikroskopokulars abgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser dieser Blende etwas kleiner ist als der Durchmesser der in die Blendenebene rückwärts abgebildeten Gesichtsfeldblende des Okulars.
  8. 8. Interferenzmikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der halbdurchlässigen Spiegelfläche und dem zum Betrachten der Vergleichsspiegelfläche dienenden Objektiv eine umschaltbare Blende angeordnet ist, die in der einen Endstellung das nach diesem Objektiv zielende Strahlenbündel absperrt und in der anderen Endstellung den Weg für dieses Strahlenbündel freigibt.
    Angezogene Druckschriften: Zeitschrift »Comptes Rendus de l'Academie des Sciences del'USSR«, I933,S.I8 bis 23; »Annalen der Physik«, Bd. 48, 1915, 5. 1037 bis Io48; E. Gehrcke, »Die Anwendung der Interferenzen« (Friedrich Vieweg u. Sohn, Braunschweig), 1906, S.I5 bis I7; K. Försterling, »Lehrbuch der Optik« (S. Hirzel, Leipzig), 1928, S.27, 28 und 45; Leitz-Prospekt »Großes Polarisations-Mikroskop GM«, Juli I940, S. I8 und I9.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1134844B (de) * 1960-11-30 1962-08-16 Zeiss Carl Fa Interferenzeinrichtung fuer Mikroskope
DE1256436B (de) * 1963-05-14 1967-12-14 Karl Aron Lennaert Aakerman Photoelektrisches Mikrospektrophotometer
DE19962631B4 (de) * 1998-12-25 2012-06-14 Mitutoyo Corporation Zweistrahlinterferenzobjektivvorrichtung

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