DE2259262C3 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Interferometer mit einer lnktförmigen Lichtquelle, einem von der Lichtquelle
!leuchteten Strahlenteiler, einer Anzahl von Planspie- :ln, die derart angeordnet sind, daß sich zwei
ingrüente gegenläufige Strahlengänge ergeben, und it einer ersten Linse zur Erzeugung eines Bildes der
ichtquelle in der Objektebene.
Ein derartiges Interferometer ist durch die FR-PS \ 29 314 bekannt. Dort treten bei der Verwendung von iinktförmigen Lichtquellen unerwünschte Beugungser- :heinuneen im Interferenzmuster auf.
Ein derartiges Interferometer ist durch die FR-PS \ 29 314 bekannt. Dort treten bei der Verwendung von iinktförmigen Lichtquellen unerwünschte Beugungser- :heinuneen im Interferenzmuster auf.
Die Druckschrift »Fachberichte für Oberflächentechnik«, 4. Jahrgang, Heft 1, Seiten 1-4, erwähnt die
Nützlichkeit beugender oder brechender Elemente in Interferometer!! zur Erhöhung des Kontrastes, damit
Sörreflexionen von verschiedenen Bereichen eines Objektes, wie eines geschnittenen Präparates, beispielsweise
durch eine Immersionsflüssigkeit, eliminiert
werden.
Der vorliegenden Erfindung liegt ausgehend von einem Interferometer der eingangs genannten Art die
Aufgabe zugrunde, die erwähnten unerwünschten Beugungseffekte im Interferenzstreifenmuster bei Verwendung
von punktförmigen Lichtquellen zu beseitigen. Zur Lösung dieser Aufgabe ist die Erfindung dadurch
gekennzeichnet, daß in einem gemeinsamen Punkt der beiden Strahlengänge in jeweils gleichem optischen
Abstand vom Strahlenteiler ein lichtdurchlässiges, die Phase des Lichts in reversibler Weise beeinflussendes
Element angeordnet ist.
Durch diese Maßnahmen wird eine Verringerung des hohen räumlichen Kohärenzgrades des Lichtes der
punktförmigen Quelle erreicht, wodurch wiederum die störenden Beugungseffekte beseitigt werden.
Bevorzugt wird es, wenn das Element ein Phasengit-
ter oder eine einseitig mattierte Glasscheibe oder eine
Linse ist. Alle derartigen Elemente zeigen die angegebenen erwünschten Wirkungen der Störung der
räumlichen Kohärenz.
Falls das Element senkrecht zum Strahlengang periodisch bewegt ist, ergibt sich durch die statistische
Verteilung der Abbildung eine verbesserte Beseitigung der störenden Beugungseffekte.
Bei einer Anwendung des Interferometers für die Mikroskopie ist das Interferometer dadurch gekennzeichnet,
daß sich die erste Linse hinter dem Strahlenteiler befindet, und daß symmetrisch bezüglich
des Elementes eine zweite Linse gleicher Brennweite angeordnet ist.
Eine andere Ausführungsform, die sich besonders für die Makroskopie oder die Mikroskopie mit schwächerer
Vergrößerung eignet, ist dadurch gekennzeichnet, daß die erste Linse mit einer zweiten Linse gleicher
Eirennweite ein das Objekt einschließendes afokales System bildet, und daß das Element im Abstand der
doppelten Brennweite dieser Linsen vom Mittelpunkt des afokalen Systems angeordnet ist. Das Bild wird
dabei mittels eines Beobachtungsinstrumentes betrachtet, das außen am Interferometer angeordnet ist.
Im Fall eines reflektierenden Objekts kann ein weiterer Strahlenteiler zur Beleuchtung des Objekts mit
den beiden Teilstrahlen vorgesehen sein, wobei zur Elimination von durch unerwünschte Reflexionen
erzeugtem Licht polarisationsoptische Mittel vorgesehen sind.
Zur Untersuchung von undurchsichtigen, reflektierenden Objekten kann das Interferometer dadurch
gekennzeichnet sein, daß die erste Linse zwischen dem weiteren Strahlenteiler und dem reflektierenden Objekt
im Abstand ihrer Brennweite vom Objekt angeordnet ist, und daß das Element auf der anderen Seite des
weiteren Strahlenteilers derart angeordnet ist, daß es durch die erste Linse und das Objekt in sich selbst
abgebildet wird.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von <>5 Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Schema eines Interferometers, das insbesondere für die Makroskopie geeignet ist,
F i g. 2 ein Schema eines Interferometers, das
F i g. 2 ein Schema eines Interferometers, das
insbesondere für die Mikroskopie geeignet ist,
Fig.3 ein Schema eines Interferometers, das
insbesondere für die Makroskopie und für die Mikroskopie mit schwacher Vergrößerung geeignet ist,
F i g. 4 ein Schema eines Interferomecurs nach F i g. 1
zur Untersuchung von undurchsichtigen, reflektierenden Objekten,
Fig.5a ein Schema eines Interferometers nach
F i g. 3. angewandt zur Untersuchung eines Objektes mit einer ebenen, reflektierenden Oberfläche, !0
F i g. 5b und 5c jeweils eine Teilansicht des Schemas nach Fig.5a, wobei das reflektierende Objekt eine
konkave bzw. konvexe Oberfläche hat.
In Fig. 1 ist das Schema eines Interferometers gezeigt, das hauptsächlich für die Makroskopie geeignet
In dieser Figur bilden drei reflektierende Oberflächen, von denen eine Oberfläche halbdurchlässig als Strahlteiler
m ausgebildet ist, während zwei weitere Spiegel M,
und W2 vorgesehen sind, ein dreieckiges Interferometer
nach Sagnac, dessen optische Eigenschaften bekannt
In der Ebene, die durch einen gemeinsamen Punkt C der beiden Strahlengänge in jeweils gleichem optischen
Abstand vom Strahlenteiler m des Interferometers geht, ist ein lichtdurchlässiges Element D (Da oder Db oder
Dc) angeordnet, das die das Element durchdringenden Lichtstrahlen bricht oder beugt. Der Punkt C wird als
Punkt definiert, der, bezogen auf den Strahlteiler ra, autokonjugiert ist. Diese Konjugierung wird als die
Konjugierung eines Punktes aufgefaßt, der sich vor einem ebenen Spiegel befindet, und zwar als Konjugierung
dieses Punktes mit seinem Spiegelbild bezogen auf den Spiegel. Im Falle der F i g. 1 hat dieser autokonjugierte
Punkt den gleichen Abstand von m für die beiden Richtungen, in denen sich die Lichtstrahlen im Inneren
des Kreises fortpflanzen, nämlich m MiC= m M2C.
Versuche zeigen, daß, wenn für D eine Linse Da genommen wird, (brechendes Element), die Interferenzfigur
weder von der Brennweite noch von der Zentrierung der Linse abhängt. Man kann also die Linse
in ihrer Ebene schwingen lassen oder exzentrisch drehen. Falls D ein einziges mattiertes Glas Db ist,
erhält man ebenfalls Interferenzen mit sehr hohem Kontrast, wenn die aktive Ebene der Mattierung mit
dem Punkt Czusammenfällt.
Ein Milchglas, das in seiner Masse streuend ist, kann nicht verwendet werden.
Weil gewöhnliche mattierte Gläser oft eine spekulare Transparenz aufweisen, hat man Versuche mit einem
Streuungselement mit optischen Fasern angestellt. Ein solches Element Dc von einigen Millimetern Dicke
liefert Interferenzstreifen sehr guter Bildqualität, die auch dann beibehalten bleibt, wenn mit kohärentem
Licht, beispielsweise Laserlicht, beleuchtet wird, wobei das Element vorzugsweise mittels einer planetaren
Bewegung in seiner Ebene Schwingungen ausführt.
Damit das dreieckige Interferometer von Sagnac, das durch die Zufüjjung des transparenten Elementes D,
welches das Licht bricht oder beugt, zur Untersuchung von in ihm angeordneten transparenten Objekten
dienen kann, muß es derart vervollständigt werden, daß es als Punktreferenz-Interferometer arbeitet. Hierzu
verwendet man eine quasi punktforrnige Lichtquelle S und eine Sammellinse Li, die reelle Bilder Si und £2
abbildet, die bezüglich des Strahlteilers m symmetrisch sind, und die irgendwo im Innern des Strahlenkreises
der oDtischen Anordnung vorgesehen sind. Wird ein Phasenobjekt Ω, bei Si angeordnet, so kann man mit
Hilfe einer Lupe L2 Interferenzstreifen beobachten, die
Linien gleicher optischer Dicke des Objektes bezogen auf seine optische Dicke im Punkt Si zeichnen. Falls das
Element D eine einfache Linse Da ist, so bleibt die Beleuchtung räumlich kohärent. Durch Änderung der
Brennweite des Elementes Da kann man den beleuchteten Fleck auf dem Objekt justieren, wodurch eine
bessere Beleuchtung der Bilder erreicht wird. Verschiebt man andererseits das Element Da längs der
Achse, so erscheinen auf dem Objekt Newtonsche Interferenzstreifen, deren Dichte kontinuierlich mit der
Entfernung zwischen Cund Da zunimmt. Dadurch ist es möglich, eine gewisse divergierende oder konvergierende
Wirkung des Objekts Ωι zu kompensieren, was eine
interessante Möglichkeit darstellt.
Falls als Element D ein mattiertes Element Db oder ein aus optischen Fasern zusammengestelltes Element
Dc verwendet wird, ist die Beleuchtung nicht mehr vom räumlich kohärenten Typus, sondern wird kohärent-diffus
mit einem unbeweglichen Streuer bzw. teilkohärent (räumlich) mit einem beweglichen Streuer.
Man kennt die Vorteile dieses letzteren Beleuchtungstyps: Unterdrückung der optischen Granulierung
(Speckies) und Verbesserung der Auflösung.
Um die Winkelöffnung des Beleuchtungsstrahlenbündels einstellen zu können, wird es empfohlen, eine
Irisblende Ir gegen das Element D zu legen, falls dieses Element ein Streuer Di» oder Dc ist.
Für das Verständnis ist es wichtig, daß die Anzahl der Reflexionen hier gerade ist: Zwei oder vier Reflexionen
je nach Durchlaufrichtung (zwei nach rechts, vier nach links beim Betrachten der Figur). Nur in diesem Fall ist
die durch den Punkt C gehende Ebene mit der Vergrößerung +1 autokonjugiert.
Ein bei S2 angeordnetes Phasenobjekt Ω2 ist mit dem
Objekt Ωι austauschbar. Befinden sich beide Objekte an
ihrem Ort, so wird ein Interferenzkomparator mit zahlreichen Anwendungsmöglichkeiten geschaffen.
Man kann auch reflektierende Oberflächen untersuchen. Dazu genügt es, wenn einer der Spiegel,
beispielsweise der Spiegel M,, durch die Oberfläche des
zu untersuchenden Objektes ΜΩ ersetzt wird, das hier bei schrägem Einfall betrachtet wird.
F i g. 2 zeigt eine Anwendung der Erfindung auf die Mikroskopie von transparenten Objekten.
Zwei Linsen Li und La gleicher Brennweite sind
symmetrisch beiderseits des Elementes D angeordner, welches hier vorzugsweise ein beweglicher oder
unbeweglicher Streuer ist. Ein mikroskopisches Präparat, das ein Phasenobjekt Ω darstellt, befindet sich auf
dem reellen Bild der Lichtquelle S in der Linse U (Mikroskopobjektiv). Das Präparat befindet sich in
einem bestimmten Abstand von Punkt C Dieser Abstand muß gegenüber der Tiefenschärfe der Linse Li
sehr groß sein.
Eine auf dem Element D angeordnete Irisblende Ir begrenzt die öffnung des Beleuchtungsstrahlenbündels.
Wegen der Symmetrie des Systems gegenüber dem Element D, das bei dem Punkt C liegt, ist die Kohärenz
der interferierenden Wellen sichergestellt. F i g. 2 zeigt also ein praktisch realisierbares und sehr einfaches
Schema eines Interferenzmikroskops. Die Linsen Li und Li gleicher Brennweite sind symmetrisch beiderseits des
Elementes D angeordnet, welches hier vorzugsweise ein beweglicher oder unbeweglicher Streuer ist. Ein
mikroskopisches Präparat, das ein Phasenobjekt Ω darstellt, befindet sich auf dem reellen Bild der
Lichtquelle S in der Linse L\ (Mikroskopobjektiv). Das
Präparat befindet sich in einem bestimmten Abstand vom Punkt C Dieser Abstand muß gegenüber der
Tiefenschärfe der Linse Li sehr groß sein.
Eine auf dem Element D angeordnete Irisblende Ir
begrenzt die öffnung des Beleuchtungsstrahlenbündels. Wegen der Symmetrie des Systems gegenüber dem
Element D, das bei dem Punkt C liegt, ist die Kohärenz der interferierenden Wellen sichergestellt F i g. 2 zeigt
also ein praktisch realisierbares und sehr einfaches to Schema eines Interferenzmikroskops. Die Linsen L1 und
La stellen jetzt das Mikroskopobjektiv und den Kondensor dar. Das Objekt kann entweder bei S\ (Ωι)
oder bei & (Ω2) liegen. Man kann auch zwei
Phasenobjekte Qt und Ω2 untersuchen. In diesem Fall
wird der Apparat ein Interferenzkomparator. Damit der Apparat als Interferenzmikroskop arbeiten kann, muß
er durch eine quasi punktförmige Lichtquelle S vervollständigt werden, die mit den Ebenen Ωι und Ω2
bezüglich der Linsen Li und La konjugiert ist Außerdem ao muß ein Okular Oc vorgesehen werden, wodurch die
Bildebene /konjugiert zu Sbezogen auf den Strahlteiler
m betrachtet wird.
Die Justierungen, die die beobachteten Interferenzstreifen beeinflussen, sind einerseits die Neigungen einer
der drei reflektierenden Oberflächen m, M\ oder M2, und
andererseits das Verschieben längs der Achse entweder der Linse Lz, wobei sich das Objekt bei SLi befindet,
oder des Elementes D.
F i g. 3 zeigt ein Schema einer weiteren Ausführungsform des Interferometers, wobei wie vorher eine
Anordnung mit Spiegeln nach Sagnac verwendet wird. Das Prinzip wird jedoch etwas abgewandelt. Dieses
Interferometer enthält im Inneren des Strahlenkreises ein afokales System mit einer Vergrößerung -1, das aus
zwei gleichen Linsen Li und L2 gebildet wird, die
symmetrisch bezüglich des Strahlteilers m angeordnet sind. Das Objekt Ω befindet steh zwischen den Linsen,
und es kann insbesondere mit dem gemeinsamen Brennpunkt von Li und L2 zusammenfallen.
Der gemeinsame Punkt C wird vom Objekt Ω eingenommen. Es ist nicht möglich, dort ein brechendes
oder beugendes Element D anzuordnen. Sucht man andere, bezogen auf m autokonjugierte Punkte, die sich
außerhalb des afokalen Systems Li, La befinden, findet 4s
man zwei Punkte G und C2, die mit den äußeren
Brennpunkten Fi und F2' des Systems Li, La zusammenfallen.
Dieses afokale System mit einer Vergrößerung - -1
bewirkt eine Drehung um 180°. Aus diesem Grunde sind 5»
die Punkte d und C2 bezogen auf m mit einer
Verstärkung => -1 autokonjugiert. Dadurch wird es
notwendig, ein Element D zu verwenden, das bezüglich seines Mittelpunktes symmetrisch ist Eine einfache
Linse Da erfüllt diese Forderung gut Ihre Stärke wird in Abhängigkeit von der Brennweite von Li und vom
nutzbaren Durchmesser des Objektfeldes Ω bestimmt. In diesem speziellen Fall muß die Linse Da gut zentriert
werden, damit die Interferenzstreifen gut gedehnt sind. Dies liefert ein einfaches Mittel zum Einstellen des
Interferometers.
Im Gegensatz zu den oben beschriebenen Interferometern ist hier das Objekt Q räumlich kohärent
beleuchtet Diese Ausführungsform ist vor allem bei der Makroskopie oder bei der Mikroskopie mit schwacher
Vergrößerung verwendbar. Man kann jedoch anstelle der Linse Da einen Beugungsschirm Db verwenden.
Dann muß jedoch die Durchlässigkeit der komplexen
Amplitude dieses besonderen Streuers Db der folgenden Symmetriebedingung genügen:
ö(u,v) = p(-u, -v),
wobei ρ die komplexe Durchlässigkeit des Elements Db
und (u, v) die orthogonalen Koordinaten in der Ebene sind.
Die Kohärenz und somit auch die Qualität der Interferenzen hängen von der Güte der Symmetrie
dieses Beugungsschirmes ab.
Das symmetrische Element D befindet sich darüber hinaus in einer Entfernung = 2f\ = 2/2 von der Mitte C
Es ist bemerkenswert daß das Element D auf der Stelle bleiben muß, und zwar unabhängig von der Lage der
Anordnung L\QLi im Inneren des Strahlenkreises m, Mi,
M2. Das afokale System Li, L2 mit dem Objekt Ω in
seinem Mittelpunkt kann m genähert werden. Wählt man die rechte Seite zwischen m und Mi, um die
Anordnung Li, Ω, La aufzustellen, so ist nur der Punkt C2,
bezogen auf das System Li, La reell. Aus diesem Grunde
soll das Element D symmetrisch sein.
Die Anordnung nach Fig.3 kann grundsätzlich für
die Konstruktion eines Interferenzmikroskops venvendet werden. Diese Konstruktion ist einfach, weil der
Strahlteiler m und die Linsen Li und La das Objekt bzw.
den Kondensor darstellen. Beide Elemente sind nahe zueinander angeordnet. Es genügt also, die Anordnung
mit einer punktförmigen Lichtquelle S im Unendlichen und mit einer afokalen Beobachtungslinse LU zu
vervollständigen.
Fig.4 zeigt ein für die Makroskopie geeignetes
Interferometer.
Der Hauptstrahlteiler ist im. Hinzugefügt wird ein
Hilfs-Strahlteiler /7I2, der die Schleife und Lichtstrahlen
auf die Objektfläche MQ wirft Das System ist also optisch demjenigen gleichwertig, das in F i g. 1 dargestellt ist. Der optische Mittelpunkt C wird leicht
gefunden, indem die Gleichheit der beiden Strahlengänge verifiziert wird:
/ηι,ΜΩ, C= Mi1M21C
Weil die Anzahl der hier auftretenden Reflexionen einschließlich derjenigen auf der Oberfläche ΜΩ gerade
ist, ist C einer Vergrößerung — +1 autokonjugiert, wodurch die Verwendung eines Beugungsschirmes als
Element D ermöglicht wird. In dem für die Figur keineswegs beschränkenden Fall, bei dem die Oberflächen im, n?2, Mi und Mj rechtwinklig zueinander
angeordnet sind, ergibt sich, daß die Entfernungen Π32-ΜΩ und MiC gleich sind, d.h. daß für eine
gegebene Anordnung die Summe der Entfernungen CM2 + m2MQ konstant bleiben muß. Dies bildet ein
einfaches Mittel für die Justierung dieser Variante des Interferometers.
Um die unerwünschten Lichtstrahlen zu entfernen, die diesem Strahlenkreis nicht folgen, und nicht in sich
selbst zurückgeworfen werden, kann das System durch eine Anordnung vervollständigt werden, die als
optisches Polarisationsventil bezeichnet werden kann. Diese Anordnung wird beispielsweise durch ein
Lamdaviertelwellenplättchen gebildet die zwischen mi
und ΜΩ eingefügt wird und durch ein Lambdahalbwellenplättchen, die irgendwo in dem Strahlenkreis mit
Ausnahme des Intervalls mi - MQ eingeführt wird. Es ist vorteilhaft, die langsamen Achsen der Lambdaviertel-
und Lambdahalbeplättchen zu kreuzen, die um ±45° gegen die Einfallebene von m\ ausgerichtet sind, und
diese Anordnung zwischen einen Polarisator P zu
setzen, der um 90° gerichtet ist, und einen Analysator A
derselben Richtung.
Die unerwünschten Lichtstrahlen kommen von dem Hilfs-Strahlteiler m2 her. Bei einem nichtgefalteten
Strahlenkreis gibt es sie nicht.
Man bedient sich häufig der Interferometrie, um die Qualität ebener oder sphärischer Oberflächen zu
untersuchen, die auch große Abmessungen haben können. Die F i g. 5a bis 5c erläutern Interferenzanordnungen,
die insbesondere hierfür geeignet sind. Dort ist der Strahlenkreis um den Hilfs-Strahlteiler m2 gefaltet,
damit der Lichtstrahl senkrecht auf das Objekt ΜΩ fallen kann.
Da der Durchmesser von ΜΩ sehr viel größer ist als
der der nützlichen öffnung des eigentlichen Interfero- ,5
meters sein kann, wird eine Linse L\ verwendet, deren einer Brennpunkt Fmit der Oberfläche ΜΩ koinzidiert.
Falls ΜΩ eben ist (F i g. 5a) und der zweite Brennpunkt sich bei F'befindet, und zwar innerhalb von
In2M], so befindet sich der autokonjugierte Punkt C2
automatisch bei F'. Dort muß man also das Element D anordnen. Es ist eine gerade Anzahl von Reflexionen
vorgesehen, jedoch das katafotische System L\ ΜΩ kehrt die Bilder um, und im Gegensatz zu dem in F i g. 4
dargestellten Interferometer muß das Element D symmetrisch zu seinem Mittelpunkt sein. Am einfachsten
ist es, eine bespielsweise konvergierende Linse zu verwenden, obwohl es auch möglich ist, einen
symmetrischen Beugungsschirm zu verwenden, wie er oben definiert wurde. jo
Falls das zu untersuchende Objekt eine kugelförmige konkave Oberfläche hat (F i g. 5b) oder konvexe
Kugelfläche (F i g. 5c), so muß diese Krümmung durcl eine Umwandlung der Konvergenz kompensiert wer
den.
Die zu erfüllenden Bedingungen sind sehr einfach nämlich:
1. Die auf ΜΩ senkrecht stehenden Strahlen, wobei \
sphärisch ist, müssen sich durch die Linse L\ in C fokalisieren;
2. der gemeinsame Brennpunkt der zwischen m2 unc
ΜΩ angeordneten Linsen muß mit ΜΩ zusammen fallen.
Konkave Oberflächen betreffen die Untersuchunj großer sphärischer Spiegel; konvexe Oberflächei
betreffen die Untersuchung kleiner Linsen und Kugeli für Kugellager.
F i g. 5a mit ihren Abwandlungen 5b und 5c zeigei schematisch ein praktisch realisierbares Interferometer
Die Justierungen erfolgen hier entweder durch eil longitudinales Versetzen und ein zweifaches seitliche
Versetzen der Linse Da, oder mittels einer neigbarei Kompensationsplatte K. Es ist hier ebenfalls möglich
die Drehung um 180°, die von der Linse L\ bewirkt wire
welche mit der Oberfläche ΜΩ des Objektes zugeord net ist, zu kompensieren, um einen Beugungsschirm al
Element D verwenden zu können, welches mit den autokonjugierten Punkt C2 zusammenfällt.
Das beste Verfahren für die Umkehrung besteh darin, eine Folge von Spiegeln zu verwenden, die dei
Strahl in dem Strahlenkreis um 180° drehen.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Interferometer mit einer punktförmigen Lichtquelle,
einem von der Lichtquelle beleuchteten Strahlenteiler, einer Anzahl von Planspiegeln, die
derart angeordnet sind, daß sich zwei kongruente gegenläufige Strahlengänge ergeben, und mit einer
ersten Linse zur Erzeugung eines Bilden der Lichtquelle in der Objektebene, dadurch gekennzeichnet,
daß in einem gemeinsamen Punkt (C, C?) der beiden Strahlengänge in jeweils
gleichem optischen Abstand vom Strahlenteiler (m, m\) ein lichtdurchlässiges, die Phase des Lichts in
reversibler Weise beeinflussendes Element (D) angeordnet ist.
2. Interferometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Element (D) ein Phasengitter
(Db) oder eine einseitig mattierte Glasscheibe (Db)oder eine Linse (Da)ist
3. Interferometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Element (D) senkrecht zum
Strahlengang periodisch bewegt ist.
4. Interferometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sich die
erste Linse (L\) hinter dem Strahlenteiler (m) befindet, und daß symmetrisch bezüglich des
Elements (D) eine zweite Linse (Li) gleicher
Brennweite angeordnet ist.
5. Interferometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Linse (L\)
mit einer zweiten Linse (L2) gleicher Brennweite ein
das Objekt einschließendes afokäles System bildet, und daß das Element (D) im Abstand der doppelten
Brennweite dieser Linsen (L\, Li) vom Mittelpunkt
des afokalen Systems angeordnet ist.
6. Interferometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß im Falle eines
reflektierenden Objekts (ΜΩ) ein weiterer Strahlenteiler
(1TI2) zur Beleuchtung des Objekts mit den
beiden Teilstrahlen vorgesehen ist, und daß zur Elimination von durch unerwünschte Reflexionen
erzeugtem Licht polarisationsoptische Mittel vorgesehen sind.
7. Interferometer nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Linse (L\) zwischen
dem weiteren Strahlenteiler (mi) und dem reflektierenden
Objekt (ΜΩ) im Abstand ihrer Brennweite vom Objekt angeordnet ist, und daß das Element (D)
auf der anderen Seite des weiteren Strahlenteilers (ni2) derart angeordnet ist, daß es durch die erste
Linse (L\) und das Objekt (MQ) in sich selbst
abgebildet wird.
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