DE907358C - Pruefgeraet fuer optische Systeme, vorzugsweise photographische Objektive, zur Erzeugung eines reellen, zu untersuchenden Bildes - Google Patents

Pruefgeraet fuer optische Systeme, vorzugsweise photographische Objektive, zur Erzeugung eines reellen, zu untersuchenden Bildes

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DE907358C
DE907358C DEV675A DEV0000675A DE907358C DE 907358 C DE907358 C DE 907358C DE V675 A DEV675 A DE V675A DE V0000675 A DEV0000675 A DE V0000675A DE 907358 C DE907358 C DE 907358C
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Dr-Ing Helmut Naumann
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Description

  • Prüfgerät für optische Systeme, vorzugsweise photographische Objektive, zur Erzeugung eines reellen, zu untersuchenden Bildes Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät für optische Systeme, vorzugsweise photographische Objektive.
  • Mittels dieser zu prüfenden Objektive soll ein reelles Bild erzeugt werden, das zu untersuchen ist.
  • Die Erfindung dient dabei dem Zweck, die Beobachtung insbesondere in seitlichen Teilen des entworfenen Bildes zu erleichtern. Ein kleines, von einer Testfigur entworfenes Bild wird bei der praktischen Durchführung dieser Aufgabe mit Hilfe eines Mikroskops vergrößert wiedergegeben. Dazu ist es erforderlich, daß die Bildfläche senkrecht zur optischen Achse des Mikroskops steht und daß das Lichtbündel möglichst genau, mindestens aber angenähert in Richtung der Mikroskopachse verläuft. Nur dann läßt sich das von dem zu prüfenden Objektiv entworfene Bild ohne zusätzliche Vererrungen und Unschärfe einwandfrei beobachten.
  • Um das in erreichen, wird erfindungsgemäß dem zu prüfenden optischen System, inslbesonldere also einem photographischen Objektiv, das gebrauchsfertig, also für sich durchkorrigiert und somit weitgehendst von Ablbilqdungsfehlern befreit ist, eine ebenfalls für sich durchkorrigierte Feldlinsenanordnung im Sinne des Strahlenganges nachgeschaltet, die das vom Objektiv in einer Ebene entworfene Bild auf der letzten, nämlich kugelig nach außen gewölbten Fläche des Feldlinsensystems so abbildet, daß die Hauptstrahlen für alle Bildpunkte, also auch die seitlichen, diese Bildfläche senkrecht durchsetzen. Es ist also möglich, die Bildpunkte sämtlich nacheinander durch ein Mikroskop zu beobachten, das um den Krümmungsmittelpunkt der Bildfläche schwenkbar angeordnet ist.
  • Die Feldlinsenanordnung ist zweckmäßig so gestaltet, daß ihr objektseitiger Hauptpunkt annähernd in die Bildebene des zu prüfenden Objektivs fällt. Die Feldlinsenanordnung und das um den Krümmungsmittelpunkt der Bildfläche schwenkbare Mikroskop bilden die Hauptteile des Prüfgerätes, vor die die zu prüfenden Objektive nach Belieben gebracht werden können. Allerdings können naturgemäß der Felldlinsenanorldounsg nur jeweils solche Objektive zum Zweck der Prüfung zugeschaltet werden, welche die gleiche Nennbrennweite aufweisen.
  • Es ist bereits bekannt, photographische Objektive mit Feldlinsen auszurüsten, um dem bildseitigen Strahlengang gewisse Richtungseigenschaften zu erteilen. So verwendet man photographische Objelitive mit einer Feldlinse nahe der Brennebene für die Belichtung von Linsenrasterfilmen. In diesem Falle muß aber das Objektiv mit der Feldlinse zusammen ein in sich auf Abbildungsfehler korrigiertes optisches System darstellen, und' weder die Feldlinse für sich noch das vorgesetzte Objektiv für sich sind im Sinne einer abgeschlossenen Korrektur von Abbildungsfehlern befreit.
  • Weiter gibt es photographische Objektive für normale Aufnahmezwecke, bei denen durch Herbeiführung telezentrischen Strahlenganges sämtliche Hauptstrahlen parallel zur optischen Achse verlaufen und den entworfenen Bildern dadurch bestimmte Eigenschaften erteilen sollen. Auch in diesem Falle sind die Feldlinsen Bestandteile des gesamten Systems, die mit den vorhergehenden Linsen gemeinsam, aber nicht einzeln für sich korrigiert sind, und insbesondere ist in keinem der bekannten Fälle die Austauschbarkeit der vorgesetzten Linsenglieder gegenüber der stehenbleibenden Feldlinse vorgesehen oder möglich.
  • Bei Interferometern zur Prüfung von Objektiven schließlich und bei Anordnungen zur Messung von Brennweiten werden gelegentlich Zwischenlinsen oder auch Hohlspiegel angewandt, deren Anordnung und Wirkung sich aber grundlegend von der Feldlinsenanordnung gemäß der vorliegenden Erfindung unterscheidet.
  • In Abb. I ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung schematisch dargestellt. Der Erfindungsgedanke wird dabei verwirklicht durch Anwendung der Feldlinsenanordnung F, welche eine kugelige B i ldauffangfiäche A besitzt. Die Feldlinsenanordnung F besteht, wie ersichtlich, beim Ausführungsbeispiel aus einem dicken Meniskus FM1 und einer dicht benachbarten Bikonvexlinse FB. 0 ist das z. B. zu prüfende, in Richtung vom abzubildenden Objekt her vorausgehende abbildende, in sich vollkommen durchkorrigierte Objektiv. Die Bauart des Objektivs ist ohne Einfluß auf die Erfindung; grundsätzlich ist jedes System verwendbar bzw. prüfbar. Es hat sich als besonders vorteilhaft erwiesen, den objektivseitigen HauptpunktH der Feldlinsenanordn,ungF in ganz geringem Abstand von der Bildebene B des Objektivs 0 anzuordnen. Eine besonders günstige Ausführungsform ist weiterhin dann erreicht, wenn der folgenden Bedingung genügt wird: Das 0,7- bis I,4fache der Brechkraft p; des Feldlinsensystems, vermehrt um das Reziproke des Absolutwertes vom Radius r seiner Auffangfläche A, wobei dieser Absolutwert vermindert ist um den Abstand der Auffangfläche A vom dem Bild zugekehrten Hauptpunkt H', soll gleich sein dem Reziproken der Brennweitef des vorgesetzten Objektivs 0, letztere vermindert um den Abstand seiner Bildebene B von dem objektivseitigen Hauptpunkt H der Feldlinsenanordnung F. Formelmäßig ausgedrückt lautet diese Beziehung: 1 1 0,7 ... 1,4# + = r - AH f - BH Werden die angegebenen Grenzwerte des 0,7- und des I,4fachen der Brechkraft unter- oder überschritten, so treten die Strahlen nicht mehr senkrecht durch die Bildauffangfläche A, sondern unter einen derartigen Winkel, daß entweder die Bildschärfe oder die Lichtstärke bei der Betrachtung seitlicher Details störend beeinträchtigt ist (der praktisch zu bevorzugende Wert ist 1,0).
  • Eine besonders zweckmäßige Anordnung ergibt sich, wenn die Bilfdauffangfläche A der Felldlinsew anordnung gleichzeitig die letzte Glasluftfläche von ihr ist. Das Beispiel der Abb. I weist diesen Fall auf.
  • Es sind jedoch auch noch verschiedene andere Bauarten der Feldlinsenanordnung ausführbar, die den Erfindungsgedanken verwirklichen. So kann die Anordnung an Stelle des in Abb. I dargestellten Feldlinsensystems aus einer Bikonvexlinse allein bestehen, deren dem Objektiv abgewandte Seite gleichzeitig die Bildauffangfläche ist.
  • Abb. 2 zeigt diese im Rahmen der Erfindung vorgeschlagene Lösung. Wieder ist 0 das zu prüfende Objektiv, FB ist die erwähnte Bikonvexlinse. Erfindungsgemäß liegt dabei die Bildebene B in der durch den scharfen Rand U der Linse bestimmten Ebene, und die Linse FB ist so gestaltet, daß der Achsenpunkt dieser Ebene durch die Vorderfläche V der Linse im Linsenscheitei der Rückfläche abgebildet wird. Alle Hauptstrahlen durchsetzen senkrecht die Rückfläche, die gleichzeiitig Bilidauffangiläche A ist. Die astigmatfschen Zonenfehier kann man dadurch beseitigen, daß man statt einer Linse zwei Linsen anordnet, in bevorzugter Ausführungsform zwei Menisken, die sich beinahe berühren und die ihre Hohlflächen dem vorgesetzten Objektiv zukehren.
  • Eine solche erfindungsgemäße Ausführung ist in Abb. 3 dargestellt. Es bedeutet 0 das zu prüfende Objektiv, FM1 und FM2 sind die das Feldlinse system bildenden Menisken. In diesem Falle soll gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung der dem Objektiv zugekehrte Meniskus FMX aus einem hoch brechenden, aber wenig farbstreuenden Glas, vorzugsweise von der Brechzahl I,55 bis 1,65, bestehen, und sein hohler Radius soll etwa das Vier- fache, sein erhabener das 0,7- bis o,gfache der Brennweite des zu prüfenden Objektivs betragen.
  • Der zweite Meniskus FM2 soll dabei eine kleinere Brechkraft besitzen als der erste, und seine beiden Flächen, also die Eintrittsfläche und ebenso die gleichzeitig als Bildfläche dienende Austrittsfläche, haben einen Radius, der zwischen dem 2,0- und 3,5 fachen der Brennweite des zu prüfenden Objektivs liegt, während die Dicke d dieses Meniskus weniger als I0°/o der Brennweite des Objektivs O beträgt und seine Brechzahl unter I,60 gehalten wird.
  • Außerhalb der erfindungsgemäß angegebenen Grenzbereiche weist diese Anordnung Abbildungsfehler von solchem Betrage auf, daß beispielsweise die Prüfung von photographischen Objektiven normalen Aufbaues nicht möglich ist.
  • In den genannten Abb. 2 und 3 sind die Ausführungsbeispiele der Erfindung so dargestellt, daß ihre Zahlenwerte für ein zu prüfendes Objektiv von 50 mm Brennweite gelten.
  • Beispiel 1 (Abb. 2) r1 = + 85,6 d= 6,2 n= I,6I3 r2 = - 151,0 Der Abstand der Bildebene B vom ersten Linsenscheitel sl beträgt 4,2 mm.
  • Beispiel2 (Abb.3) r1 = - 200,4 dt = 7,2 fl = 1,620 r2 = - 4I,9 d2 = - 0,I r3 = 142,0 d3 = I,533 r4 = - 142,0 Der Abstand der Bildebene B vom Scheitel s3 der ersten Fläche beträgt 5,5 mm.
  • Beide Beispiele entsprechen der durch die obige Formel näher erläuterten Beziehung.
  • Es ist möglich, die Bildauffangfläche A durchsichtig zu belassen, um eine große Lichtstärke der zu beobachtenden Bilder zu erlangen; die Fläche kann aber auch mattiert werden, so daß das Bild aus einem größeren Winkelbereich gesehen werden kann.
  • Die bisher beschriebenen Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Feldlinsenanordnung weisen noch spürbare Farbenvergrößerungsfehler auf, die für Meß- und ähnliche Zwecke von allen Restfehlern am störendsten sind. Durch Einführung von Kittflächen könnte man diese noch beseitigen, doch erfordert das einen unwirtschaftlich großen Aufwand an optischen Mitteln, wenn man nicht andere Abbildungsfehler wieder einführen will. Die Erfindung schlägt zur Behebung dieser Schwierigkeiten deshalb vor, in der Anordnung der Feldlinse selbst keinerlei chromatische Fehler zu beheben, sondern den auftretenden Farbenvergrößerungsfehler durch eine chromatische Platte zu beseitigen.
  • Sie wird im Strahlengang vor oder hinter der Feldlinsenanordnung an der Stelle einer möglichst kleinen Pupille so angebracht, daß bei steigender Neigung a der Hauptstrahlen in der Feldlinsenanordnung die Durchstoßhöhe h des Bündels durch diese Platte ebenfalls zunimmt.
  • In Abb. 4 ist eine derartige Anordnung schematisch dargestellt. Mit 0 ist das abbildende Objektiv, mit F die Feldlinsenanordnung dargestellt, welche die Bildfläche A aufweist. C ist die chromatische Platte, die im Falle dieses Ausführungsbeispieles als eine brechkraftlose Kombination eines stark und eines schwach farbenstreuenden Glases ausgebildet ist.
  • Im dargestellten Beispiel ist die chromatische Platte C zwischen einem in weiter Entfernung befindlichen, hier nicht gezeichneten, abzubildenden Gegenstand und dem Objektiv 0 eingeschaltet. Sie kann (bei entsprechender Bemessung) ebensogut im Strahlengang hinter der Bildauffangfläche A liegen, beispielsweise bei C', also etwa in der Austrittspupille eines der Bildfiäche A nachgeschalteten Beobachtungsmlikroskops M.
  • In Abb. 5 ist als Seitenansicht, eingestellt für die Bildmitte, in Abb. 6 als Draufsicht, eingestellt für einen seitlichen Bildpunkt, eine besonders zweckmäßige bauliche Ausgestaltung der Feldlinsenanordnung bei einem Gerät zum Prüfen des Korrektionszustamdes von Objektiven schematisch dargestellt.
  • Die Feldlinsenanordnung F und die chromatische Platte C sind auf einem festen Träger T montiert, der sich mittels einer senkrechten Gerätesäule X um die Achse X' schwenken läßt. Das zu prüfende Objektiv 0 wird so angeordnet, daß sein dingseitiger Hauptpunkt H0 auf der Achse X' liegt.
  • Das Objektiv 0 sitzt mit mehreren ähnlichen, ebenfalls zu prüfenden Objektiven 02, 0 03, 04 uSW. von gleicher Brennweite auf einer Revolverscheibe R oder einer ähnlichen Vorrichtung, die ein rasches Einrücken des jeweils zu untersuchenden Objektivs in die Prüfstellunig 0 erlaubt. Auf dem Träger T ist in der senkrechten Ebene des Krümmungsmittelpunktes der Bildfiäche A ein Schwenklager L angebracht, um das sich ein das Betrachtungsmlikroskop M tragender TrägerL' schwenken läßt.
  • Durch diese Anordnung ist erreicht, daß in jeder Mikroskopstellung die Bildfiäche A in ihm scharf erscheint, und es kann jede Bildstelle des zu untersuchenden Objektivs 0 betrachtet werden. Das subjektive Beobachten unter Hineinschauen ins Okular des Mikroskops ist bei dieser Vorrichtung ebenso möglich wie das Projizieren auf einem mit dem Mikroskop M verbundenen Schirm S, beispielsweise einer Mattscheibe. Als abzubildendes Objekt bei diesen Beobachtungen kann an sich jeder sehr weit entfernte Gegenstand dienen, zweckmäßig aber wird eine dem Prüfzweck angepaßte Testmarke P im Brennpunkt eines den schwenkbaren Trägern L' und T gegenüber feststehenden Kollimatorabjektivs K angeordnet.
  • Durch die Anordnung eines mechanischen Kupplungs- bzw. Führungsorgans, z B. eines ortsfesten Stiftes Q, kann die Schwenkung des Trägers T mit den auf ihm montierten Teilen C, R (und damit 0), F einerseits und die Schwenkung des Mikroskops M andererseits, so miteinander gekuppelt werden, daß im Mikroskop in jeder Lage des Trägers ein Bild der KollimatormarkeP (oder des weit entfernten Gegenstandes) erscheint. Dabei spielt sich folgender Vorgang ab: Der Träger T des Objektivs 0 und der Feldlinse F wird um seine Drehachse X verdreht, weil man das Objektiv an einer bestimmten Randstelle betrachten will. Bei dieser Drehung wird vermittels des Kupplungs- und Drehbolzens L der Träger L' des Mikroskops M mitgeschleppt. Diese Bewegung des Trägers L' ist gesteuert durch den feststehenden Bolzen Q, um den sich also der Träger L' nun dreht. Die Lage des Punktes Q ist so bestimmt, daß bei der beschriebenen Drehung das Mikroskop M stets in Richtung der optischen Achse des gesamten Gerätes steht, daß also das Bild der AIarke P wirklich gesehen werden kann.
  • Um dies zu erreichen, werden gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung die Drehpunktabstände wie folgt gewählt: Der Abstand der Drehachse Q des Mikroskopfrägers L' und des Drehpunktes X des Objektiv- und Feldlinsenträgers T verhalten sich zu dem gemeinsamen Drehpunkts beider Träger T und L' wie die Winkel des Hauptstrahls gegen die optische Achse vor und nach dem Durchgang durch das Feldlinsensystem F.
  • Es ist weiterhin möglich, die blanke oder mattierte Bildfläche=4 zu verspiegeln oder einen Spiegel gleicher Krümmung auf sie aufzulegen, so daß alle auftreffenden Strahlen in sich selbst zurückgeworfen werden. Dadurch ist erreicht, daß eine Prüfung des Objektivs O durch Autokollimation nicht nur in der Mitte seines Gesichtsfeldes, sondern auch in dessen Randteilen möglich ist Dieser Fall ist in Abb. 7 in Draufsicht schematisch dargestellt. Wie erkennbar, kann die chromatische Platte C hierbei entfallen. Zwischen dem 01e jektiv 0 und dem Kollimator P, K wird eine halbdurchlässig spiegelnde Fläche G eingeschaltet. Sie ist so geneigt, daß das aus dem Objektiv 0 nach Rückstrahlung an der verspiegelten Fläche A des Feldlinsensystems F rückwärts austretende Lichtbündel in das Fernrohr J tritt. In ihm ist ein Bild der Testmarke P zu sehen, das infolge des zweimaligen Durchganges der Strahlung durch das Objektiv 0 dessen Aberrationen besonders deutlich erkennen läßt.
  • Gegenüber dem Fernrohr J kann ein zweites Objektiv 0., mit einer zweiten Feldlinsenanordnung F2 so angebracht werden, daß wechselweise, etwa mittels zweier mit den Objektiven 0, °2 ZU-sammengebauter Verschlüsse ATi, N2, beide Objektive wirksam sein und somit etwa hinsichtlich ihrer Fokussierung oder ihrer Aberrationen verglichen werden können. Beide Kombinationen 0, F und 02> F2 2 können um die Achsen Y und Y2, die durch die Hauptpunkte der Objektive hindurchgehen, geschwenkt werden. Durch hier nicht dargestellte mechanische Mittel kann man es erreichen, daß beide Schwenkwinkel jeweils gleich groß gehalten werden.
  • Es ist zur Erreichung des gleichen Zieles auch möglich, zwischen G und 0 bzw. zwischen G und 00 den Strahlengang durch einen Spiegel zu knicken und den Spiegel zu schwenken, bis die gewünschte Randpartie im Fernrohr erscheint.

Claims (12)

  1. Die Kombinationen 0, F und °2v F2 können dabei fest stehenbleiben. und die Verschwenkung des Spiegels braucht nur um einen halb so großen Winkel vorgenommen zu werden wie der oben beschriebene und dargestellte Träger T. pATENTANSpRÜCHE: I. Prüfgerät für optische Systeme, vorzugsweise photographische Objektive, zur Erzeugung eines reellen, zu untersuchenden Bildes, dadurch gekennzeichnet, daß dem zu prüfenden, für sich durchkorrigierten, auswechselbaren Objektiv (erstes System) eine für sich korrigierte Feldlinsenanordnung (zweites System) im Sinne des Strahlenganges nachgeschaltet ist, welche das vom Objektiv entworfene Bild auf der letzten, kugelig nach außen gewölbten Fläche des Feldlinsensystems so abbildet, daß die Hauptstrahlen aller Bildpunkte diese Fläche senkrecht durchsetzen.
  2. 2. Prüfgerät nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der objektseitige Hauptpunkt (H) der Feldlinsenanordnung (F) mindestens annähernd in der Bildebene (B) des Objektivs (0) angeordnet ist.
  3. 3. Prüfgerät nach Anspruch I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichmäßigkeit der Lichtstärke bei der Betrachtung seitlicher Details durch folgende Beziehungen gewährleistet wird: Das 0,7- bis I,4fache der Brechkraft(rp) der Feldlinsenanordnung (F), vermehrt um das Reziproke des Absolutwertes des Radius (r) der Auffangfläche, dieser vermindert um ihren Abstand vom dem Bild zugekehrten Hauptpunkt (H'), ist gleich dem Reziproken Idler Brennweite (fl des vorgesetzten abbildenden Systems, letztere vermindert um den Abstand der Bildebene (B) dieses Systems von dem objektivseitigen Hauptpunkt (H) der Feldlinsenanordnung.
  4. 4. Prüfgerät nach Anspruch I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Feldlinsenanordnung aus einer Bikonvexlinse (FB) besteht, deren dem Objektiv (0) abgewandte Seite gleichzeitig die Bildauffangfläche (A) ist und wobei der Scheitel der Bildfläche (A), durch die vordere Fläche (V) der Bikonvexlinse (FB) abgebildet, in der Ebene liegt, die durch den scharf angenommenen Rand (U) der Linse bestimmt ist.
  5. 5. Prüfgerät nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Feldlinsenanordnung aus zwei eng benachbarten Menisken (FM1 und FM 2) besteht, die ihre Hohlseiten dem vorgesetzten System (0) zukehren und deren letzte erhabene Fläche die Bildauffangfläche (A) ist.
  6. 6. Prüfgerät nach Anspruch I und 5, dadurch gekennzeichnet, daß der letzte der Menisken (FM2) praktisch brechkraftlos ist und seine Radien das 2- bis 3,5fache, seine Dicke (d) weniger als 10 I00/o der Brennweite des zu prüfenden Systems (0) messen, während die Radien des vorgesetzten Meniskus (FM 1) bei einer Brechzahl seines Glases von über I,55 das 4fache bzw. das 0,7- bis o,gfache der Brennweite des vorgesetzten Systems betragen.
  7. 7. Prüfgerät nach Anspruch I, gekennzeichnet durch eine chromatische Platte (C), die an einer der Feldlinsenanordnung vorhergehenden oder einer ihr folgenden Stelle in den Strahlengang so eingeschaltet ist, daß die Durchstoßhöhen (h) der Hauptstrahlen konform mit deren Neigung (a) zur Achse der Feldlinsenanordnung wachsen.
  8. 8. Prüfgerät nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Feldlinsenanordnung (F) das ihr vorgesetzte Objektiv (0) und gegebenenfalls die chromatische Platte (C) auf einem gemeinsamen Träger (T) gegenüber dem zu beobachtenden Gegenstand (P) schwenkbar (X) angeordnet sind und daß die der Beobachtung des Bildes auf der Auffangfläche (A) dienenden optischen Elemente (M) auf einem zweiten Träger (L') um den Krümmungsmittelpunkt (L) der Bildfläche (A) schwenkbar sind.
  9. 9. Prüfgerät nach Anspruch I und 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger (L) des Mikroskops (M) mittels eines ortsfesten Drehpunktes (Q) der Bewegung des Trägers (T) des Feldlinsensystems (F), des Objektivs (0) und der chromatischen Platte (C) so nachgeführt wird, daß im Mikroskop (M) stets ein Bild des abzubildenden Gegenstandes (P) erscheint, wobei sich der Abstand der Drehachse (Q) des Mikroskopträgers (L') und die Drehachse (X) des Objektiv- und Feldlinsenträgers (T) zu dem gemeinsamen Drehpunkt (L) beider Träger (T und L') verhalten wie die Winkel des Hauptstrahls gegen die optische Achse vor und nach dem Durchgang durch das Feldlinsensystem (F).
  10. Io. Prüfgerät nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildfläche (24) diffus streuend bzw. spiegelnd ausgebildet ist, so daß das vorgeschaltete Objektiv (0) zweimal vom Strahlengang durchsetzt wird, der danach mittels einer teildurchlässig spiegelnden Fläche (G) einem Fernrohr (J) zugeführt wird.
  11. 11. Prüfgerät nach Anspruch I und 9, dadurch gekennzeichnet, daß einem Objekt (P) und einem Fernrohr (J) zwei Kombinationen aus Objektiv und Feldlinsenanordnung (0, F und 02, F2) zugeordnet sind, die gleichzeitig oder wechselweise wirksam sind (Nt, N2).
  12. 12. Prüfgerät nach Anspruch I und II, dadurch gekennzeichnet, daß die Kombination des zu prüfenden Objektivs (0 bzw. 02) mit der Feldlinsenanordnung (F bzw. F2) stillstehend angeordnet ist, daß jedoch der Strahlengang zwischen der teildurchlässig spiegelnden Fläche (G) und dem zu prüfenden Objektiv (O bzw. 02) durch einen Spiegel geknickt wird, der verschwenkbar angeordnet ist, damit er die gewünschte Stelle des Bildfeldes trifft.
    Angezogene Druckschriften: Schweizerische Patentschrift Nr. 260902; USA.-Patentschriften Nr. 1 825 122, 1 633 373, 1897262; H. Boegehold, »Geometrische Optik«, Berlin 1927, S. 176 und 225; S. Czapski und 0. Eppenstein, »Grundzüge der Theorie der optischen Instrumente nach Abbe«, leipzig 1924, S. 646 ff.; O. Lummer, »Müller-Pouillets Lehrbuch der Physik«, Bd. II, Braun6chweigIgog, 5. 564 ff.; »Philosophical Magazine«, Bd. 35, Jhrg. 1918, S. 49; »Zeitschrift für wissenschaftliche Photographie«, Bd. 22, Jhrg. 1923, S. 131 ; »Transactions of the Optical Society«, Bd. 25, Jhrg. 1923/24, S. 97 ; »Zeitschrift für Physik«, Bd. 22, Jhrg. 1924, S.384; »Proceedings of the Optical Convention« vom Jahre 1926, Part II, S. Io32.
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