DE2025509A1 - Phasenkontrast- und Interferenzmikroskop - Google Patents

Description

DR. BERG DIPL.-ING. STAPF

PATENTANWÄLTE ? Π ? »5 S M

B MÜNCHEN 2, HILBLESTRAS3E 2O fc V ·« V V V V Df. Berg Dipl.-Ing. Stapf, 8 München 2, HllblestraBe 20 Unser Zeldien 19 650 Datum

25. Mai 1970

Anwaltsakte 19 650

Centraine Laboratorium Optyki, Warszawa / Polen

Phasenkontrast- und Interferenzmikroskop

Die Erfindung betrifft die Phasenkontrast- und Interferenzmikro£3kopie und insbesondere qualitative und quantitative Untersuchungen von Phasenobjekten im Durchlicht, b'ii. v/filohen variable Phaserikontrast- und variable Interferenz vor fahren boriötigt werden.

In {iov/ohnLicjhen MikroükopLachen. Phxnonkontraa baystemen L ;t -1 'lij tJLLri ^inor Ln oiijr nahe d-tv /mierun Hrunnebeno ί". ι ΐ ηιΙοηιΐΊν,ι an.',oordcio t ui Aporhu.■ bl-oirlo "mit" oinor (ILn i.vi:, ! n-'ioh 'ft πι υ lor rnch hintan 7Mrrrihlⁱ.Jh⁽.M'lon

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BAD ORIGINAL

in oder nahe der hinteren Brennebene des Mikroskopobjektivs, angeordnet ist. Das von dem durchlässigen Bereich der Kondensorblende ankommende Lichtbündel ist teilweise durch das zu untersuchende Objekt gebeugt. Das gebeugte Licht durchstrahlt nicht die Phasenplatte, sondern den übrigen Bereich der Pupille des Mikroskopobjektivso

Der Pupillenbereich, durch den durchlässigen Bereich der Kondensorblende bestimmt, wird "konjugiertes Gebiet" genannt, wobei der übrige Teil dieser Pupille als "komplementäres Gebiet" bezeichnet wird. Das konjugierte Gebiet ist mit der Phasenplatte bedeckt, welche die Phase des direkten (nicht gebeulten Lichts) um +90 (positive Phasenplatte) bzw. -90° (negative Phasenplatte) verdreht. Eine solche Phasenänderung erlaubt es, Kontrastbilder von gewöhnlich nicht sichtbaren Phasenobjekten (d.h. nur eine Phasenverschiebung ohne irgendeine Amplitudenmodulation) im Sehfeld des Mikroskops zu erhalten. Dan Phaaenkontra3tbild wird durch die Interferenz des direkten und dea gebeugten Lichtbiindels erzeugt. Weil das letztere an und für sich schwach ist, besteht ein betrliohtL.Lchor Ämplitudenimterschied zwischen den beiden interforLerendem' Bündeln. Um aber ihre Interferenz zu erniogi Lohen, wird die Lichtst irka lea direkten LichtbütiiltiL.j luroh ilbrraiehori der PhasanpLatta mit diner diinn m ib!i;ir.'ptt')u ) j'iHliht; har'ab^a jot^t,

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BAD iL?riiV2iiMfHii_

Die Phasenplatte hat üblicherweise die Form eines Rings, Demgemäß "besteht die mit dem Phaaenring konjugierte Kondensorblende aus einem durchlässigen Ring oder einer ringförmigen Öffnung. Das durch den Kondensor und das Objektivsystem erzeugte Bild dieser Öffnung muß koinzident mit dem Phasenring sein. Die heute verwendeten Phasenkontrastmikroskope sind meistens mit Objektiven mit Phasenring von +90° oder -90° Phasenverschiebung und vorausgesetzter Lichtabsorbtion (üblich 75 ... 90%) versehen. Ein solcher Phasenring ist jedoch zum Beobachten von Phasenobjekten geeignet, die eine sehr kleine Phasenverschiebung des Lichts bewirken. Für stark beugende und schwach absorbierende Phasenobjekte sind Phasenringe mit anderen Werten der Phasenverschiebung und der Lichtabsorption besser geeignet. Mikroskopische, insbesondere biologische Objekte sind sehr verschieden. Deshalb reicht eine einzige Phasenplatte von bestimmter Phasenverschiebung und konstanter Lichtabsorption nicht aus, um alle möglichen Angaben über verschiedene Objekte zu erhalten. Um einen bestmöglichen Bildkontrast und gute Sichtbarkeit für eine Vielzahl von verschiedenen, im Phasenkontrastverfahren zu untersuchenden Objekten zu bekommen, ist eine Phasenplatte mit variabler Phasenverschiebung und variabler Lichtabsorption erforderlich. Es scheint also unbedingt notwendig, Phasenkontrastgeräte mit kontinuierlicher Änderung der Phase und/oder

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der Amplitude des ungebeugten im Verhältnis zu dem gebeugten Licht au entwickeln« Eine Mehrzahl von solchen Geräten ist aus der Literatur "bekannt, doch haben sie nur beschränkte praktische Anwendung gefunden, weil ihre Herstellung schwierig und kostspielig ist.

Unter diesen Geräten ist das von H.Osterberg entwickelte System "Polanret" das universalste. Jedoch hat dieses System in der hinteren Brennebene des Mikroskopobjektivs eine Phasenplatte, welche aus zonalen Polarisationsfiltern besteht, die sehr schwierig industriell herzustellen sind. In diesem System wird der Phasenunterschied zwischen dem direkten und dem gebeugten Licht durch die Drehung eines vor der zonalen Polarisationsplatte angeordneten Polarisators verändert. Das Stärkenverhältnis der Lichtbündel wird dagegen durch die Drehung des hinter dieser zonalen Platte angeordneten Analysators verändert.

Die Phasenmikroskopie bietet eine hohe Empfindlichkeit beim Beobachten von sehr geringen Unterschieden der optisohen Weglängen (weniger als 0,2 der Wellenlänge) und gibt die Lichtverteilung im Bild an, die mit den Unterschieden der optischen Dicke des Objektes - wenn diese klein sind, - übereinstimmt. Das Phasenkontrastverfahren beruht in Wirklichkeit auf der Phasenmodulation des di-

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rekten Lichts ohne Veränderung des durch das Objekt gebeugten Lichts. Demzufolge sollen die beiden Lichtarten exakt untereinander getrennt werden. Das ist nicht erreichbar» außer wenn das zu beobachtende Objekt klein ist. Anderenfalls koagulieren das gebeugte und das direkte Licht in einem solchen Grad, daß deren !rennung unmöglich ist. Außerdem beschattet die Phasenplatte die Objektivpupille, wodurch um das Bild des untersuchten Objekts ein Beugungshalo entstehen kann. Diese Nachteile kommen nicht in der Interferenzmikroskopie vor, welche es erlaubt, alle Phasenobjekte zu untersuchen, ohne daß ein Unterschied zwischen großen und kleinen Objekten gemacht werden muß. Die Objekte werden sichtbar unabhängig von deren Form und Ausmaßen. Darüberhinaus ermöglicht das Interferenzmikroskop, wie jedes Interferometer, den Unterschied der optischen Weglängen zwischen dem Objekt und dem umgebenden Medium zu messen.

Viele der heute verwendeten Interferenamikroskopie sind in der Literatur beschrieben. Die meisten von ihnen gehören zu den Interferenzsystemen, welche zwischen zwei Polarisatoren angeordnete, doppelbrechende Teilungs- und Vereinigungselemente enthalten,·Diese Mikroskope sind als Polarisations- oder Doppelbrechung-Interferenzmikroskope bezeichnet. Man kann oie in drei hauptsächliche Gruppen unterteilen. Zur ersten Gruppe gehören System·

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mit doppelbrechenden, planparailelen platten (z.B. Systeme nach Lebedeff, Francon* Johansson oder Smith), zur zweiten Gruppe Systeme mit doppelbreehenden^ wollastonschen Prismen (Nomarski, Smith, Pluta) und zur dritten Gruppe Systeme mit doppelbreohenden !linsen (Philpot).

Die Idehtinterferenz in Polarisätiöhs-Interferenssmiltroskopen findet Btatt zwischen zwei Mehtweilens der ordentlichen und der außerordentlichen, welche durch das doppelbrechende System geteilt oder gespalten sind» Jede dieser Wellen "trägt" das Phasenbild des untersuöhtdn Objekts, und infolge der wechselseitigen Interferenz geben beide Strahlen in der Bildebene des Mikroskops zwei verdoppelte oder getrennte Bilders das ordentliche und das außerordentliche Bild (in manchen Systemen ist das letztere sehr astigmatisch und unscharf)«

Die Größe der Verdoppelung oder Srönnuag des Bildes bildet einen der grundsätzlichen Kennworts äes Po.larisa.tions-Interferenamikroskops· ÖIqb© Verdoppelung bestimmt den praktischen Anwendungsbereich solcher Mikroskope» insbesondere für biologisch® Untersuoiiungen und fe©i der Bestimmung der trockenen Mass® von l@Xlfm_P G©web©n oder deren Teilbereichen« Für ein mikroskopisches Objektiv mit gegebener Vergrößerung und für bestimmtes

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chungssystem ist der Wert der Bildverdoppelung bei "bekannten Polarisations-Interferenzinikroskopen konstant oder durch verschiedenartige Spaltungen beeinflußt.-

Praktisch gibt es Prüflinge, welche kleine und ausgedehnte Objekte beinhalten. Die Messung der Unterschiede von deren optischen Weglängen mit einem Interferenzmikroskop verlangt es, unterschiedliche Bildverdoppelungen anzuwenden. Im allgemeinen hat ein Interferenzmikroskop, welches eine große Bildtrennung gibt, umfangreichere Anwendungsmöglichkeiten als ein solches mit kleiner Bildspaltung. Bei dem ersteren jedoch müssen für eine wirkvolle Mchtinterferenz viel strengere Voraussetzungen erfüllt werden. Darüberhinaus ist der mit stark gespalteten Lichtbündeln erzeugte Interferenzkontrast in der Regel viel schlechter als jener mit geringer Trennung der interferierenden Wellen. Es gibt keine Begründung dafür, eine größere Bildtrennung zu erzeugen, als es für gegebene, zu untersuchende Objekte notwendig ist.

Die InterferenzmikroBkopie weisen jedoch gewisse Nachteile auf. Im allgemeinen sind diese Mikroskope weniger empfindlich als die Phasenkontrastgeräte. Mit den letzteren kann man leicht einen optischen Weglängenunterschltd (Gangunterschied) von bis 5 i beobachten, wobei

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die ersten einen optischen Weglängenunterschied (Gang-

unterschied) von mehr als 10 S erfassen können.

Somit ist die beste Lösung dieses Problems,ein mikroskopisches System zu entwickeln, welches die Untersuchung verschiedener Objekte sowohl im variablen Phasenkontrastverfahren als auch im Interferenzverfahren mit kontinuierlich veränderbarer Bildverdoppelung durchzuführen erlaubt. Ein derartiges System bildet den Gegenstand der vorliegenden Erfindung.

Das erfindungsgemäße Mikroskop, welches hauptsächlich für die Untersuchung von durchlässigen Präparaten bestimmt ist, besteht im wesentlichen aus einer Lichtquelle, einem Kondensor mit Ringblenden und aus mit letzterem austauschbarer Spaltblende, in oder nahe der vorderen Brennebene des Kondensors angeordnet, einem Objektiv, das hinter dem zu untersuchenden Objekt in Richtung des aus dem Kondensor austretenden Lichtbündels angeordnet ist, einem Okular und einem Interferenzsystem nach Michelson, welches zwischen dem Objektiv und Okular angeordnet ist und zwei in den mit den Kondensorblenden konjugierten Ebenen angeordnete, zueinander rechtwinklige Spiegel hat, einem Interferenzpolarisator, der das anfallende Liohtbündel in zwei orthogonal polarisierte Bündel aufteilt und die von den Spiegeln reflektierten

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Teile dieeer Lichtbündel rekombiniert (vereinigt)» aus zwei zwischen dem Interferenzpolarisator und den Interferometerspiegeln eingeführten Viertelwellenlängenplatten, aus einer nahe oder auf dem Interferometerspiegel angeordneten Hingabblende, welche das direkte, unmittelbar durch das untersuchte Objekt durchlaufende Licht absorbiert, und einer zweiten, nahe oder auf dem Interferometerspiegel angeordneten Bingblende, die das durch das untersuchte Objekt gebeugte Licht absorbiert, aus zwei Linearpolarisatoren, welche vor und hinter - in Richtung des Lichtbündels, dem Interferenzpolarisator angeordnet sind, und einer anderen, zwischen dem Linearpolarisator und dem Interferenzpolarisator vorgesehenen Viertelwellenlängenplatte. Diese Viertelwellenlängenplatte bildet zusammen mit dem Llnearpolariaator einen Kompensator nach Senarmont und ist zum Variieren der Phase der interferierenden Lichtbündel bestimmt, wobei der zweite Linearpolarisator zur Amplitudenmodulation dieser Lichtbündel dient, Die genannten Ringblenden, die mit den Spiegeln gekoppelt sind, sind zusammen mit der. Ringblende des Kondensors für variable Phasenkontrast-Beobachtungen vorgesehen, wobei die Interferenzmikroskopie durch die Verwendung der Spaltblende des Kondensors und der Interferometerspiegel ohne irgendeine Abblendung realisiert werden kann·

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Sine erfindungsgemäße Abwandlung des oben beschriebenen Mikroskops besteht in einem anderen Interferenzsystem, in welchem das durch das Objektiv erzeugte geometrische Bild mit einer negativen Linse ins Unendliche abgebildet wird, und die parallelen Idchtbündel so beide Arme ' des Interferenzsystems durchlaufen, wobei in den gespalteten Lichtbündeln zwischen dem Interferenzpolarisator und den Viertelwellenlängenplatten zusätzlich zwei doppelbrechende Planparallelplatten angeordnet sind· Sine von diesen doppelbrechenden Platten ist drehbar um die Achse des durchlaufenden Lichtbündels, die zweite um die zur Achse des durch diese Platt© durchlaufenden LiohtbUndels senkrechten Achse angeordnet« pie Drehung und Schwenkung dieser Platten dienen zur änderung der Spaltung von interferierenden Liehtbündeln und aur Änderung der Bildverdoppelung,

Die Erfindung soll, nachstehend anhand von lusftihrangsbeispielen näher erläutert w@rd@n_e In d@r zugehörigen Zeichnung zeigern

Fig. 1 eine scheraatisohe Darstellung den optischen Systems des erfindungsgemäßen Mikroskope bei d@r Verwendung für die Beobachtung von durchlässigen Präparaten sowohl im Variabel-Phasenkontrastv«rfahren ale auoh im Zweistrah!-Xnterfes®»Bver£©h-»

ren mit kontinuierlich veränderbarer Bildverdoppelungj

Fig. 2 einen !eil der Darstellung von Fig. 1, wo das Prinzip der trennung des direkten und des gebeugten LichfbUndels für den Fall des Variabel-PhasenkontrastverfahrenB genauer gezeigt ist;

Pig, 3 eine schematische Darstellung einer Abwandlung des Systems nach Fig. 1 nur für die Interferenzmikroskopie j

Fig.,4 einen Teil der Darstellung von Fig. 3, wobei die optischen Wege zwischen dem Interferenzpolarisator und den Interferometerspiegeln in ihren Einzelheiten dargestellt sind.

Die Hauptbestandteile des in Fig. 1 dargestellten optischen Systems sind: ein Interferenzpolarisator 13 als Teilungs- und Vereinigungselement für die Lichtbündel, zwei Viertelwellenlängenplatten 17 und 22, eine Blende 18 mit durchlässiger Ringöffnung 19, welche dicht am oder auf dem Spiegel 20 angeordnet ist, eine zweite Blende 23 mit einem lichtabsorbierenden Hing 24, zwei Spiegel 20 und 25$ ein aus einer Viertelwellenlängenplatte 27 und einem Linearpolarisator 28 bestehender Senarmont-Kompensator, eine Kondensorblende 6 mit durchlässigem Ring 7 oder mit dieser austauschbare Blende

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mit durchlässigem Spalt 42, und ein Linearpolarisato* 5. Eine Mederspamungs-Glühbirne 1 oder eine andere Lichtquelle» ein Kollektor 2, eine Peldblende 3_$ ein Spiegel 4, ein Kondensor 8, ein Objektiv 10, ein Reflex-Prisma 30 und ein Okular 31 gehören zu dem konventionellen Mikroskop. Die Linsen 12 und 29 spielen die Rolle eines zusätzlichen optischen Systems, welches das Interferometersystem mit dem Objektiv- und Okularkopf eines gewöhnlichen Mikroskops zu verbinden erlaubt. Die Linse 12 bildet das Bild der Kondensoröffnung 7 in den Ebenen der Spiegel 20 und 25 ab. Eine andere Hilfslinse 29 korrigiert die Länge des Mikroskoptubus, geändert durch die Linse 12. Der Interferenzpolarisator 13 besteht aus zwei rechtwinkligen Prismen 14 und 15, deren Hypoteriuseflachen mittels Vakuumaufdampfung mit einem Vielfachschichtsystem von dünnen, dielektrischen Schichten 16 von aufeinanderfolgend hohem und niedrigem Brechungsindex mit op- Y tischem Zement geklebt sind. Dieser Interferenzpolarisator ist entsprechend einem Verfahren, von M»Banning ausgeführt. Die Viertelwellenlängenplatten 17, 22 und 27 sind aus doppelbrechendem Stoff ausgeführt, derart, daß sie einen Wegelängenunterschied zwischen dem ordentlichen und dem außerordentlichen Strahl gleich einer Viertelwellenlänge des verwendeten Lichts geben« Die Linearpolarisatoren 5 und 28 sind z.B. aus typischer polarisierender Folie ausgebildet»

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In dem in Pig. 3 gezeigten System ist anstelle der positiven Linse 12 eine negative Linse 43 vorgesehen. Diese Linse bildet das geometrische Bild des untersuchten Objekts ins Unendliche ab, Somit laufen die parallelen Bildbündel durch die Arme des Interferometersystems · Diese Bündel werden durch die Hilfslinse 46 in dem vorderen Brennpunkt des Okulars 31 konvergiert, wobei ihre Interferenz das Objekt 9 in der Form von zwei identischen, im höheren oder niedrigeren Grad verdoppelten Bilder sichtbar macht. Die Bildverdoppelung kann durch Drehung und Schwenkung der doppelbrechenden Platten 44 und 45, welche aus Doppelspat oder anderen doppelbreohendenden Kristallen ausgeführt sind, kontinuierlich verändert werden.

Die grundsätzliche Einheit des erfindungsgemäßen Mikroskops ist das Interferenzsystem, welches es erlaubt, die durchlässigen Prüflinge zu beobachten und den optischen Weglängenunterschied zu messen, und zwar sowohl im Variabel-Phasenkontrastverfahren als auch im Zweistrahl-Interferenzverfahren mit änderbarer Bildverdoppelung. Der wichtigste Bestandteil dieses Systems ist der Interferenzpolarisator 13, welcher als Teilungs- und ■Vereinigungselement der Lichtbündel verwendet wi-rd. Das auf den Interferenzpolarisator fallende LiohtbUndel wird in zwei Teile getrennt? den reflektierten und den durohlau-

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fenden, welcher durch das System der dünnen dielektrischen Schichten orthogonal polarisiert ist. Die Schwingungen des reflektierten Teils sind senkrecht zur Einfallebene des Lichts, wobei die Schwingungen des durchgelassenen Teils in dieser Ebene liegen. Die Viertelwellenlängenplatten 17 und 22 drehen die Sohwingungsebenen des Lichts um 90° infolge des doppelten Durchlaufens des Lichts, Darum sind die Schwingungsachsen dieser Platten unter einem Winkel von 45° gegen die Polarisationsebenen des aus dem Interferenzpolarisator 13 ankommenden Lichtbündeis orientiert. Dann läuft das eine von dem Spiegel 20 reflektiert® Lichtbündel durch d@n Würfel 13, und das zweite von dem Spiegel 25 reflektierte Bündel wird vollkommen von dem System der dünnen Schichten 16 reflektiert und mit dem ersten Bündel rekombiniert« Beide Lichtbündel schwingen nach dem Durchlaufen durch den . Polarisator 28 in derselben Richtungj sie können also untereinander interferieren»

Dieses Interferenzsystem dient zugleich für di® Phasenkontrast- und die Zweistrahl-In'terferensiaikroskopi©« Zuerst soll dl© Variant© mit variablem Phasenkontrast" diskutiert werden. Bei dieser Variante sind folgende Elemente verwendet« eine Ringblende 6, weloh© in 4®r vorderen Brennebene de® Kondsnsora 8 ©ng©Qi^s<äß©t ist_s und swei Blenden 18 und 23 aü,t ringförmigen öffnungen 19 und lieht«

absorbierendem Ring 24» welche dicht an oder auf den Spiegeln 20 und 25 auf solche Weise angeordnet sind, daß der liehtabsorbierende Ring 24 und die ringförmige öffnung 19 mit der ringförmigen Öffnung 7 der Kondensorblende 6 konjugiert sind. Diese Blende wird in der hinteren Brennebene 11 des Objektivs 10 abgebildet, und wird danach mittels der Hilfslinse 12 auf die Sekundärebenen projiziert, wo die ringförmige öffnung 19 und die Ringblende 24 angeordnet sind. Die Flächen der Spiegel 20 und 25» welche durch die ringförmige Öffnung 19 und die Ringblende 24 bestimmt sind, werden konjugierte Flächen genannt, weil sie mit der Öffnung 7 in der Kondensorblende 6 konjugiert sind. Die übrigen Teile dieser Spiegel sind als Komplementärflächen bezeichnet.

Das direkt (ungebeugt) von der Kondensorblende ankommende Licht ist vollständig durch die Ringblende 24 absorbiert, während es durch die Öffnung 19 durchgelassen wird. Nachdem es von dem Spiegel 20 reflektiert ist, durchläuft das Licht den Interferenzpolarisator 13 und erreicht das Okular 31. Das durch ein nicht homogenes Objekt 9 hindurchtretende Licht wird zum Teil der Beugung und der Reflexion unterworfen. Praktisch fällt der ganze abgebeugte Teil des gebeugten Lichts auf die Komplementärflächen der Spiegel 20 und 25, unter Voraussetzung, daß die konjugierten flächen genügend klein

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sind· Das gebeugte licht wird im Gegensatz zu dem direkten Licht durch die Blende 18 gehemmt und nur von dem Spiegel 25 reflektiert. Der von diesem Spiegel reflektierte !eil wird durch den Interferenzpolarisator 13 reflektiert und nach dem Durchlaufen der Viertelwellenlängenplatte 27 und des linearpolarisators 28 kann er mit dem direkten, von dem Spiegel 20 reflektierten Licht interferieren. Ausführlicher ist das in Fig. 2 dargestellt, wo die Wege "beider Strahlen, des direkten 33 und des gebeugten 37, aufgezeichnet sind, wobei beliebige, aus dem das Objekt verlassende Lichtbündel gewählt sind. Jeder dieser Strahlen ist in zwei Teile aufgeteilt: einen reflektierten Teil 34 und 38 und einen durchgelassenen Teil 35 und 39. Sowohl der reflektierte Teil 38 des gebeugten Strahls 37 als auch der durchgelassene Teil 35 des direkten Strahls 33 werden durch die Blenden 18 und 23 absorbiert, wobei der reflektierte Teil 34 des direkten Strahls 33 und der durchgelassene Teil 39 des gebeugten Strahls 37 von den Spiegeln 20 und 25 reflektiert werden und dann mittels des Interferenzpolarisators 13 auf das Okular gerichtet werden«

Die Drehung des Polarisators 28 ändert den Phasenunterschied ψ zwischen den Schwingungen des" direkten und des gebeugten Lichts, Dieser Phasenunterschied ist ψ = 2 θ, wobei θ der Winkel zwischen der Richtung der Licht-

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schwingungen in dem Polarisator 28 und der festen Achse der Viertelwellenlängenplatte 27 ist. Auf diese Weise wird eine kontinuierliche Regelung des Phasenunterschieds zwischen dem direkten und dem gebeugten Lichtbündel erreicht· In diesem Pail wirkt der Polarisator 28 als ein Analysator.

Die Regelung des Amplitudenverhältnisses des direkten und des gebeugten Lichtbündels wird durch die Drehung der Viertelwellenlängenplatten 22 und 27 realisiert, oder durch Verwendung eines zusätzlichen Linearpolarisators 5» der vor dem Interferenzpolarisator 13» z.B.unter dem Kondensor 8, angeordnet wird. Die Drehung des Polarisators ändert das Amplitudenverhältnis der Lichtschwingungen des direkten und des gebeugten Lichtbündels 36 und 49 (Fig. 2), wähfaend deren Phasenunterschied unverändert bleibt. Wenn yder Winkel zwischen der Richtung der Lichtschwingungen im Polarisator 5 und dem Hauptschnitt des Interferenz-Polarisations-Teilungselements 13 (dieser Hauptschnitt ist die Zeichnungsebene der Fig. 1 und Z) ist, ao erreicht für JK"=³ O das gebeugte Licht nur das Okular 31» und für Ύ"- 45° erreicht das direkte Licht nur das Okular 31. Bei Zwiacheneinsbellung des Polarisators 5 ändert sich das Intensitätsverhältnis

des direkten zu dem gebeugten Lichtbündel wie tan 1". Das ergibt ein Phasenkontrastsyatem, bei dem sowohl der

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Phasenunterschied als auch das Intensitätsverhältnis des direkten und des gebeugten Lichtbündels beliebig regelbar sind.

Der Senarmont-Kompensator, welcher aus der Viertelwellenlängenplatte 27 und dem Analysator 28 besteht, kann natürlich in dem in den Interferenzpolarisator 13 einfallt lenden Lichtbündel angeordnet werden, und umgekehrt kann der Polarisator 5 in dem das Eeilungselement 13 verlassenden Iiichtbündel 36 und 40 angeordnet werden. Mit anderen Worten, der Sfenarmont-Kompensator 27-28 und der Polarisator 5 sind untereinander austauschbar. Das oben beschriebene System arbeitet wie folgt. Zuerst ist es für die köhlersche Beleuchtung zu zentrieren und das zu untersuchende Objekt 9 scharf einzustellen. Dann sind die Spiegel 20 und 25 so einzustellen» daß eine homogene Interferenz der Null-Ordnung ohne seitliche Verdoppelung in die Austrittspupille des Objektivs 10 einfallendes Iiichtbündel beobachtet wird. Zu diesem Zweck sind die Blenden 18 und 23 ausaumitten oder fceisaite abzustellen, und das Okular 31 mit einer auf das Bild der Kondensorblende 6 fokussierten Hilfslünette zn ersetzen» Bei Einstellung der homogenen Interferenz der Null-Ordnung aind die Blenden 18 und 23 zurückzubringen und dia ringförmige öffnung 7 der Kondansorblend© 6 genau mit den konjugierten Flächen d®r Spiegel 20 und 25 (diese Flächen

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sind durch die ringförmige Öffnung 19 und Ringblende 21, gegeneinander zentriert, bestimmt) zu zentrieren. Der Kontrast des Bildes des Objekts 9 ist dann durch die Drehung des Analysators 28 und Polarisators 5 zu variieren. Um das Vorzeichen des Bildkontrastes zu ändern, ist der Analysator 28 in Gegenrichtungen zu drehen, von der Nulleinstellung beginnend.

Das in 3?ig. 1 dargestellte Phasenkontrast system kann einfach in ein Polarisations-Interferenzmikroskop mit variabler Bildspaltung umgewandelt werden. Zu diesem Zweck ist anstelle der Ringblende 6 eine Spaltkondensorblende

41 zu verwenden und sind die Spiegelblenden 18 und 23 zu beseitigen. Das auf diese Weise modifizierte System arbeitet wie folgt. Der Spiegel 25 hat infolge der Reflexion von dem System dünner Schichten 16 des Interferenzpolarisators 13 ein Bild in (oder nahe an) der Reflexionsfläche des Spiegels 20 lokalisiert. Ist dieses Bild nicht genau zum Spiegel 20 parallel, sind in der Austrittspupille des Objektivs 10 gerade Interferenzstreifen sichtbar. Ist zugleich das Bild des Kondensorspalts

42 in parallele Koinzidenz mit der Lokalisationsebene der Interferenzstreifen gebracht, und ist die Spaltbildbreite kleiner als ein Viertel des Streifenabstands, wird in der Bildebene des Mikroskops eine homogene Interferenz erzeugt. Mit anderen Worten werden die Inter-

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ferenzstreifen unendlich in der Bildebene des Mikroskops vergrößert. Infolgedessen wird das Objekt 9 in
der Form von zwei identischen, in höheren oder geringerem Grad seitlich verdoppelten Bildern gesehen, wobei,
wenn weißes licht angewendet wird, die Bilder gemäß der newtonschen Farbenskala gefärbt sind. Die Farben in den einzelnen Gebieten der Bilder sind bei homogener Inter-

^ ferenz symmetrisch in Bezug auf die Farbe des Untergrunds verteilt. Wird monochromatisches Licht verwendet, erscheint der Untergrund mit gleichmäßiger Intensität, und die einzelnen Gebiete des Bildes weisen Unterschiede in der relativen Leuchtdichte auf. Die Bildverdoppelung und die Richtung der Spaltung können durch
Schwenkung eines der Interferometerspiegel, z.B. 20, gesteuert werden. Je größer die Bildverdoppelung ist, desto kleiner ist der Abstand der in der Austrittspupille des Objektivs erscheinenden Interferenzstreifens, und,

™ was daraus folgt, desto kleinere Breite des Kondensorspalts 42 ist erforderlich,,

Der Unterschied der optischen Weglängen zwischen dem Objekt 9 und dem umgebenden Medium wird nach Methoden der minimalen Intensität oder minimaler Sichtbarkeit gemessen. In diesem Fall ist es vorteilhaft, auf folgende
Weise vorzugehen. Unter Verwendung eines monochromatischen Lichts ist der Analysator 28 so einzustellen, daß

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eines der getrennten Bilder maximal dunkel erscheint. Dann ist der Analysator um einen Winkel CK zu drehen, "bis das zweite Bild maximal dunkel erscheint» Der optische Weglängenunterschied OWL = CX/360 χ Λ · Ein anderes Verfahren besteht darin, den Analysator zunächst so einzustellen, daß ein Bild genau die gleiche Intensität wie der unmittelbar dem Objekt benachbarte Untergrund aufweist. Dann ist der Analysator um einen Winkel ß zu drehen, so daß das zweite Bild die gleiche Intensität wie der Untergrund aufweist. In diesem Fall ist OWIi « ß/180 x

Mittels der genannten Verfahren kann man die Werte OWL als Bruchzahlen der Wellenlänge bestimmen. Optische Weglängenunterschiede, welche dem Vielfachen von 7^ gleich sind, können nach Untersuchung der Interferenzfarbe und der Interferenzstreifenversohiebung aufgenommen werden.

Eine Feldstreifeninterferenz kann man erreichen, wenn das Bild des .Kondensorspalts 42 mit den in der Austrittspupille des Objektivs 10 erscheinenden Interferenzstreifen nicht koinzident ist. Diese Interferenzart ist durch Schwenkung eines der Spiegel 20 und 25 oder durch Verschiebung der Spaltblende 41 in Richtung der optischen Achse dna Kondensors 8 erzielbar.

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Ein weiteres System für die Verdoppelungsinterferenzmikroskopie ist in Fig. 3 dargestellt. Bei diesem System wird die Bildspaltung mittels Planparallelplatten 44 und 45 variiert, wobei diese in den gespalteten Lichtbündeln zwischen dem Interferenzpolarisator 13 und den Viertel-wellenlängenplatten 17 und 22 angeordnet sind, und eine negative Linse 43 verwendet ist, die das geometrische

) Bild des Objekts 9 ins Unendliche abbildet. Das verall- -gemeinerte Wirkungsprinzip dieses Mikroskopsystems sieht wie folgt aus. Die ebene Lichtwelle kommt aus dem Kondensor 8 und ist nach dem Durchtritt durch das Objekt 9 einer Phasenverschiebung entsprechend dem optischen Weglängenunterschied zwischen dem Objekt und dem umgebenden Medium unterworfen. Das geometrische Bild des Objekts 9, das durch das Objektiv 10 in seiner Bildebene erzeugt wird, ist mit der negativen Linse 43 ins Unendliehe abgebildet, wobei der hintere Brennpunkt dieser Linse mit der Bildebene des Objektivs 10 koinzident ist. So fällt ein paralleles BildbUndel auf den Interferenzpolarisator 13 und wird hier zur Hälfte reflektiert und zur anderen Hälfte durchgelassen, Beide Hälften werden durch das System dünner Schichten 16 polarisiert. Der reflektierte Teil schwingt, wie in Pig, 1_S senkrecht zur Liohteinfallebene, und der durchgelassene Teil schwingt in dieser Ebene, Die Viertelwellanlängenplatten 17 und 22 drehen die Sohwingungsebeneii nach zweifache»

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Durchlaufen des Lichts um 90°, und so durchläuft ein Bündel, von dem Spiegel 20 reflektiert, den Interferenzpolarisator 13. Das zweite Bündel dagegen, das von dem Spiegel 25 reflektiert wird, wird vollständig von dem System dünner Schichten 16 reflektiert und mit dem ersten Bündel rekombiniert. Beide Licht "bündel schwingen nach dem Durchgang durch die Viertelwellenlängenplatte 27 und den Analysator 28, in derselben Richtung, und können so untereinander .interferieren. Mit der Linse 46 ■ sind sie in dem vorderen Brennpunkt des Okulars 31 fokussiert und seine Interferenz macht das durchlässige Objekt 9 in Form γοη zwei identischen, in höherem oder geringerem Grad seitlich verdoppelten Bildern wie im in Fig. 1 dargestellten Fall sichtbar. Die Viertelwellenlängenplatte 27 ist wie vor so einzustellen, daß die Lichtschwingungsachsen mit den Schwingungen des rekombinierten Bündels einen Winkel von 45° bilden. Jedoch ist nun die Bildverdoppelung oder -spaltung durch die doppelbrechenden Planparallelplatten 44 und 45 gesteuert. Diese Platten sind unter einem Winkel von 45° (oder einem anderen Winkel) in Bezug auf die optische Achse des doppelbrechenden Kristalls angeordnet.

Das Prinzip der Bildverdoppelung ist näher in Fig. 4 dargestellt. Ein beliebig aus dem Bildlichtbündel gewählter Strahl 1st mit 47 bezeichnet. Der reflektierte

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Teil 48 dieses Strahls tritt durch die doppelbrechende Platte 44 wie ein ordentlicher Strahl, ohne abgebeugt zu werden. Die Viertelwellenlängenplatte 17 ist so eingestellt, daß ihre Hauptachsen der Lichtschwingungen mit der Polarisationsebene des Strahls 48 einen Winkel von 45° bilden. Da das Licht die Platte 17 zweifach durchläuft, wirkt sie wie eine Halbwellenlängenplatte und dreht die Polarisationsebene des Strahls 48 um 90°, Deshalb ist der Strahl 48 bei seiner Rückkehr ein außer ordentlicher Strahl. Er ist einer Beugung unterworfen und verläßt die Platte 44 als der Strahl 49 parallel zu dem vorigen Weg um

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-S₅ 2-

verschoben, wo t = die Dicke der Platte 44 und η und n_Q = außerordentlicher und ordentlicher Brechungsindex des doppelbrechenden Kristalls, aus welchem die Platte hergestellt ist. Ist die Platte 44 aus Doppelspat hergestellt und beträgt ihre Dichte t = 10 mm, so ist die Verschiebung d = 1,1 mm.

Die zweite doppelbrechende Platte 45 ist im Pail gemäß Fig. 4 so eingestellt, daß der durchgelassen« Strahl 50» sich umgekehrt wie der Strahl 49 verhält. Auf seinem Weg au dem Spiegel 25 durchläuft er »weiiasl die Platte

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45 als ein außerordentlicher Strahl und auf dem Rückweg als ordentlicher Strahl 51. Der Strahl 51 ist somit um d in Gegenrichtung zum Strahl 49 verschoben. Die sich daraus ergebende Trennung a der den Interferenzpolarisator 13 verlassenden Strahlen 49 und 51 ist gleich 2 d. Diese Trennung bestimmt den maximalen Wert der Bildverdoppelung für homogene Interferenz. Diese kann auf zwei Arten reduziert werden. Die erste besteht im Schwenken einer (oder beider) doppelbrechenden Platten 44 und 45 um die zur Zeichnungsebene der Fig.4 oder 3 senkrechte Achse. Das ergibt jedoch nur eine kleine Trennungsänderung der Strahlen 49 und 51. Die andere und wirksamere Art besteht im Drehen der doppelbrechenden Platte 45 (oder 44) um die Achse des Strahls 50 um die Winkel von 90° und 180°, beginnend von der in Fig.4 dargestellten Einstellung. Wird z.B. die Platte 45 um 180° um den Strahl 50 gedreht, so dreht auch der Strahl 51 um 180° und fällt auf das das Bündel spaltende System dünner Schichten 16 in demselben Punkt wie der Strahl 49. Somit verlassen beide Strahlen den Interferenzpolarisator 13 ohne irgendeine Trennung. Wenn die Platte 45 eine um 90° aua der in Fig. 4 dargostelltsn stellung godrehto Stellung einnimmt;, tritt der Strahl 50 in 'lie Platte 45 als sin ordentlicher Strahl und -\ verLäßt .liofvj nach d«r Reflexion /lurch den Spiegel 25 al:} -Jin außerordentlicher Strahl um d aus aeiner prlmäri?n

000β&θ/14?β BAD ORIGINAL ~26-

— do — ■

ordentlichen Bahn verschoben. In diesem Fall ist jedoch die Ebene der Strahlverschiebung senkrecht zur Ebene der Pig. 4 und natürlich zum anfänglichen Abschnitt der Platte 44 orientiert„Die resultierende Trennung s der Strahlen 49 und 51 beträgt jetzt, d F 2 . Somit erhält man durch die -Drehung der doppelbrechenden Platte 45 um den Strahl 50(oder die Platte 44 um den Strahl 48) drei verschiedene Bildtrennungenί S-O₅ s s 2d und s » d ψΖ _t und zwar abhängig von der Orientierung der optischen Achsen 52 und 53 der doppelbreehenden Platten 44 und 45»

Die Verdoppelung des Bildes des untersuchten Objekts kann in jedem.dieser drei Fälle noch modifiziert werden^ indem die doppelbreohende Platte um die zu ihren Hauptschnitten senkrechten Achsen geschwenkt wird. Somit sind in dem Bereich der Bildverdoppelung von s =* 0 bis ψ β =» 2d alle Bildverdoppelungen nahezu kontinuierlich erzielbar. Zugleich kann die Richtung der Bildverdoppelung entsprechend orientiert werden₀ Duron Schwenkung eines der Spiegel, Z₀B. 25_S in jeder Richtung 26 und gleichzeitige Verschiebung des zweiten Spiegels, z.B. 2Q„ in der axialen Richtung 21_e wird die homogene Interferenz in .Streifenfeldinterferanz,umgewandelt und umgekehrt. Der optische Wegläng8nunters_rehi.ed zwischen (tarn. Objekt - nn-i ilom umgebenden Medium. iat wie ¥Ο.γΙι.θϊ für äaa in Fig. 1 dargestellte System zu meaaen.

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Der wesentliche Vorteil des in Fig. 1 dargestellten Systems "besteht in einer einfacheren Konstruktion und Bedienung des Geräts. Pur Objektive von verschiedenen Vergrößerungen liegt die hintere Brennebene 11, in welcher die Kondensorblende abgebildet wird, auf verschiedenen Tiefen. Um das Bild des durchlässigen Rings 7 in eine Koinzidenz mit den konjugierten Flächen der.Spiegel 20 und 25 des in Fig. 1 dargestellten Systems zu bringen, muß die Hilfslinse 12 parallel zur Objektivachse verschoben werden oder, wenn das Objektiv durch ein anderes ersetzt wird, muß die Linse durch eine andere von anderer Brennweite ersetzt werden. TJm also eine unveränderte Eubuslänge aufrechtzuerhalten, sollte die zweite Hilfslinse 29 entsprechend verschoben oder sogar durch eine andere ersetzt werden. Anstatt der verschiedenen linsen 12 und 29 können auch sog. "Gummilinsen¹¹ verwendet werden. Im Fall der in Fig. 3 dargestellten Interferenz sind für Objektive aller Vergrößerungsvermögen eine Hilfslinse 43 und eine Linse 46 nötig. Ein solches System kann jedoch nicht für Phasenkontrastuntersuchungen verwendet werden.

Das in Fig. 3 dargeetsllts Beispiel 1st besonders für Interferenzuntereuchungen für einen großen Binfang von biologiechen und medizinischen Wissenschaften geeignet, und «war insbesondere tür Trockenmaeiebestimaungen von

biologischen Zellen und Geweben und auch deren Teilbereiche. Es ist auch für Messungen des Brechungsindex und/oder der Dicke von dünnen, durchlässigen Objekten geeignet. Es erlaubt auch,die Doppelbrechung von doppelbrechenden Fäden und Mikrokristallen zu bestimmen. Das in Pig. 1 dargestellte Beispiel ist dagegen besonders für sowohl Phasen-Kontrastuntersuchungen mit variablem fe Bildkontrast als auch für Interferenzbeobachtungen von lichtdurchlässigen Präparaten geeignet. Sein wertvollstes Merkmal ist die Fähigkeit^ schnell und einfach vom variablen Phasenkontrastverfahren zum homogenen und Streifeninterferenzverfahren mit variabler Bildverdoppelung übergehen zu können.

Es ist selbstverständlich, daß die ringförmige Kondensorblende 6 in dem für Variabel-Phasenkontrastuntersuchungen beschriebenen System mit einer Blende mit einer ■ lichtdurchlässigen Öffnung anderer Form, z.B. einer Scheibe, ersetzt werden kann. Deshalb sollten die Blenden mit undurchlässigen und durchlässigen Scheiben nahe bei den Interferometerspiegeln 20 und 25 angeordnet werden. Die Kondensorblende mit ringförmiger Öffnung wird jedoch bevorzugt.

Es ist auch selbstverständlich, daß eine Spaktkondensor- blende 41 in den beschriebenen Verdoppelungsinterferenz-

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systemen durch eine Blende mit einer lichtdurchlässigen Öffnung von einer anderen Form, welche eine kohärente Beleuchtung, z.B. einen Lichtpunkt, sichert, verwendet werden kann. Die Spalfblende läßt jedoch mehr licht durch. Die "beschriebenenInterferenzsysteme sind beson- . ders zur Verwendung mit Licht von einem Laser mit Brewster-Fenstern geeignet. Der Laser gibt linear polarisiertes Lichtbündel mit idealer Raum- und Zeitkohärenz ab. .

Es soll hier erwähnt werden, daß das Objektiv 10 und die Hilfslinsen 12 in dem in Fig. 1 dargestellten System durch ein Objektiv ersetzt werden können, welches die Aperturblende 6 oder 41 auf den Spiegeln 20 und 25 direkt abzubilden erlaubt. Das ist z.B. der Fall bei schwachen Objektiven mit langer hinterer Brennweite.

Ähnlich können das Objektiv 10 und die negative Hllfslinse 43 in dem in Fig. 3 dargestellten System durch sog. für das Unendliche korrigierte Objektive ersetzt werden.

Die beschriebenen Systeme können auch in Auflicht-Phasenkontrast- und Verdoppelungs-Interferenzmikroskopen für Untersuchungen von reflektierenden Oberflächen von undurchlässigen Objekten abgewandelt werden. Zu diesem Zweck sollten ein Auflicht- oder Vertikalilluminator mit halbdurchlässigen Elementen und einer entsprechenden Ring- oder Spaltaperturblende verwendet werden.

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Claims (7)

1. Patentansprüche :

   Phasenkontrast- und Interferenzmikroskop mit veränderbarem Phasenkontrast und/oder veränderbarer Interferenz zur Untersuchung nicht selbstleuchtender Objekte mit einer Lichtquelle, einem Kondensor, einem Objektiv und einem zwischen dem Objektiv und dem Okular angeordneten Interferenzsystem nach Michelson, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Interferenzsystem ein Interferenzpolarisator das strahlenteilende Element bildet, und daß es zwischen diesem Polarisator und den Interferometerspiegeln Viertelwellenlängenplatten aufweist, welche die Schwingungsrichtungen der durch diese Platten zweimal hindurchlaufenden Lichtstrahlen um 90° dreht, wodurch die durch den Interferenzpolarisator getrennten und danach von den Interferoneterspiegeln reflektierten Lichtbündel durch den genannten Interferenzpolarisator wieder vereinigt werden und nach dem Durchtreten durch eine dritte Viertelwellenlängenplatte und ein Polarisationsfilter als Analysator des polarisierten Lichts untereinander interferieren, wobei durch die Drehung des Analysators und eines zweiten, an beliebiger Stelle vor dem Interferenzpolarisator angeordneten Polarisationsfilters die Amplitude und Phase zwischen den interferierenden Liohtbündeln veränderbar sind, daß das erwähnte Interferenzsystem weiter zwei Blenden aufweist, wal-

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   ehe ausschaltbar vor oder direkt auf den Interferometerspiegeln angebracht sind, daß eine dieser Blenden das unmittelbar aus der Aperturblende des Kondensors austretende Licht absorbiert und das auf dem Objekt gebeugte Licht durchläßt, und daß die zweite Blende das gebeugte Licht absorbiert und das direkte Licht durchläßt.
2. 2. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die mit einem Interferometerspiegel gekoppelte Blende einen das Licht absorbierenden Ring hat und die zweite, mit dem zweiten Interferometerspiegel gekoppelte Blende einen lichtdurchlässigen Ring hat, wobei diese beiden Ringe mit einer durchlässigen, ringförmigen Öffnung der in der oder in der Nähe der vorderen Brennebene angeordneten Aperturblende auf solche Weise konjugiert sind, daß das Bild der ringförmigen Öffnung der Aperturblende auf dem lichtabsorbierenden Ring der mit einem Interferometerspiegel gekoppelten Blende und zugleich auf dem lichtdurchlässigen Ring der mit dem zweiten Interferometerspiegel gekoppelten Blende erzeugt wird, wobei die Kondensorblende und mindestens eine der mit den Interferometerspiegeln gekoppelten Blenden mit Mitteln zur gegenseitigen Zentrierung aller Blenden versehen sind·

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3. 3. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich vor den Interferoneterspiegeln keine Blenden befinden und in der vorderen Brennebene des Kondensors oder in der Nähe dieser Ebene eine Spaltblende mit regelbarer Spaltweite um die optische Kondensorachse
   drehbar angeordnet ist und das Bild dieses Spalts durch das Objektiv oder das Objektiv und Linsenhilfssystem auf den Interferometerspiegeln oder in der Nähe dieser Spiegel erzeugt wird, wobei mindestens einer dieser Spiegel so montiert ist, daß er parallel zu der Richtung des Licht-

   so

   bündelwegs verstellbar ist, und der zweite Spiegel/montiert ist, daß er in beliebiger Richtung kippbar ist.
4. 4. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Winkel zwischen den durch den Interferenzpolarisator getrennten, dann von den Interferometerspiegeln reflektierten und wieder durch den Interferenzpolarisator vereinigten Lichtbündeln mittels eines in den Strahlungsgang eines der verdoppelten
   Lichtbündel eingebrachten Diasporameters oder mittels
   zweier in die Strahlengänge der beiden verdoppelten
   Liohtbündel eingebrachter, drehbarer Glaskeile verändert; :■■· wird.
5. 5. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3» dadurch gekennzeichnet, daß man von der Interferenzbeobaohtung zur Phasenkontrastbeobachtung und umgekehrt

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   auf solche Weise übergehen kann, daß die Spalfblende im Kondensor durch Ringblende und die gewöhnliche Interferometerspiegel durch Spiegel mit Blenden ersetzt werden, daß eine der Spiegelblenden einen das licht absorbierenden Ring und die zweite einen das Licht durchlas-. senden Ring hat, und daß beide Ringe mit der ringförmigen Öffnung der Aperturblende des Kondensors konjugiert sind.
6. 6. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur seitlichen Auseinanderschiebung der untereinander interferierenden Bildlichtbündel, welche das Interferometersystem längs paralleler Linien durchlaufen, und zur Verdoppelung des Bildes des untersuchten Objekts doppelbrechende Planparallelplatten verwendet sind, daß diese Platten zwischen dem lichtteilenden Interferenzpolarisator und den Viertelwellenlängenplatten in den getrennten Lichtbündeln angeordnet sind, und daß mindestens eine der genannten doppelbrechenden Platten drehbar um die Achse des Lichtbündels und die zweite kippbar im Verhältnis zu dem dadurch hindurchgehenden Lichtbündel sind.
7. 7. Mikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß anstelle des Kondensors flir Durchlichtuntersuchungen eine Bpibeleuohtungsein-

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   richtung mit Apertur-Ringblende oder mit Spaltblende oder zugleich mit Ring- und Spaltblende, welche wechselweise in den Lauf der Lichtstrahlen eingeschoben werden können, verwendet ist.

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