DE915989C - Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante - Google Patents

Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante

Info

Publication number
DE915989C
DE915989C DEB4984D DEB0004984D DE915989C DE 915989 C DE915989 C DE 915989C DE B4984 D DEB4984 D DE B4984D DE B0004984 D DEB0004984 D DE B0004984D DE 915989 C DE915989 C DE 915989C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
beam path
axis
light
mirror
rotatable
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEB4984D
Other languages
English (en)
Inventor
Otto Ursinus
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EMIL BUSCH A G OPTISCHE IND
Original Assignee
EMIL BUSCH A G OPTISCHE IND
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EMIL BUSCH A G OPTISCHE IND filed Critical EMIL BUSCH A G OPTISCHE IND
Priority to DEB4984D priority Critical patent/DE915989C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE915989C publication Critical patent/DE915989C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflächen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Prüfkörper scharf abgebildeten und schräg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante Zusatz zum Patent 911 662 Gegenstand des Mauptpatentes ist ein Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflächen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Prüfkörper scharf abgebi,ldeten und schräg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten HeDldunkelkante.
  • Bei der Untersuchung von Oberflächen mit ge richtet verlaufenden Unebenheiten, insbesondere bei der Untersuchung von bearbeóte.ten Flächen, wird die aufschlußreichste Abbildung der Ober flächenstruktur dann erzielt, wenn die Helldunkelkante senkrecht zur Hauptrichtung des Verlaufs der Oberflächenunregelmäß igkeiten liegt. Diese Lage läßt sich bei frei zugänglichen und bequem beweglichen Prüfkörpern dadurch erzielen, daß man den Prüfkörper entsprechend um die optische Achse des Mikroskops dreht. Dieses Verfahren ist schon auf schwer bewegliche Prüfkörper schlecht anwendbar, versagt aber vollkommen bei der Untersuchung von schwer zugänglichen Flächen in Hohlkörpern, z. B. der Innenflächen von Motorenzylindern oder ähnlichen Hohlkörpern.
  • Bei Prüfkörpern dieser Art muß das Gerät so ausgebildet sein, daß eine Beobachtung von außen her möglich ist. Zu diesem Zweck ist es notwendig, den Strahlengang im Gerät aus der Längsrichtung des Hohlraums auf die Innenflächen abzulenken. Diese Ablenkung erfolgt möglichst dicht hinter dem Objektiv, um das Gerät möglichst schlank und damit zur Untersuchung auch enger Hohlräume verwendbar zu machen.
  • Wenn man solche Geräte mit abgeknicktem Strahlengang mit einer Vorrichtung zur Erzeugung des Hell dunkelkantenbi ldes versieht, macht der aulsladende Beohachtungstubus es unmöglich, Gerät und Prüfkörper in dem erforderlichen Ausmaß gegeneinander zu verdrehen. Gerade aber bei der Untersuchung der Lauffläche von Motorenzy lindern ist es besonders wichtig, die Lage der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper dessen Oberflächenstruktur anzupassen, um sowohl bei neuen oder nachgearbeiteten Zylindern die etwa senkrecht zur Zylinderachse verlaufenden Schleifspu ren als auch bei der Untersuchung gebrauchter Zylinder die in Richtung der Zylinderachse verlaufenden, von der Kolbenbexnegung herrührenden Riefen untersuchen zu können. Für die Prüfung geläppter Flächen muß sich die Helldunkelkante außerdem in eine Lage bringen lassen, die zwischen diesen beiden genannten Grenzwerten liegt.
  • Auch bei der Untersuchung frei zugänglicher, aber großflächiger oder in eine Bearbeitungsmaschine eingespannter Objekte, auf die das Gerät unmittelbar aufgesetzt wird, ist es oft unmöglich, die Helldunkelkante in die richtige Lage zum Obefflächenschuitt zu bringen, denn solche Objekte lassen sich nicht um die optische Achse des Gerätes drehen; aber auch eine Verdrehung des Gerätes gegenüber dem Objekt verbietet sich oft, weil dies die Beobachtung erschweren, wenn nicht sogar unmögl'ich machen würde.
  • Diese Schwierigkeiten werden erfindungsgemäß dadurch überwunden, daß zwecks Anpassung der Lage des Bildes der Heildunkelkante auf dem Prüfkörper an dessen Oberflächenstruktur die Mittel, die die Lage des Bildes der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bestimmen, und die Mittel, die den Strahlengang für die Abbildung der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper (Beleuchtungsstrahlengang) von dem Strahlengang für die Abbildung von Prüfkörper und Helldunkelkante in der Okularebene (Beobachtungsstrahlengang) trennen, oder Teile derselben in derartiger gegenseitiger Abstimmung um die Objektivachse drehbar angeordnet sind, daß die Relativlage der Strahlengänge, welche die Erzeugung und Beobachtung der Helldunkelkante ermöglichen, unverändert bleibt.
  • Eine konstruktiv einfache Ausführungsform der Erfindung besteht darin, daß die Lichtquelle, das gegebenenfalls vorgesehene, die Lage des Bildes der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bestimmende Mittel (Spalt, Zylinderlinse), der den Beleuchtungsstrahlengang dem Objektiv zuleitende Spiegel und das die Trennung von Beleuchtungsstrahlengang und Beohachtungsstrahlengang bewirkende Mittel (Blende) auf einem gemeinsamen um die Objelçtivachse drehbaren Träger angeordnet sind. Vorzugsweise wird hierbei das Mikroskop objektiv an diesem Träger angeordnet, so daß es an dessen Drehung teilnimmt.
  • Grundsätzlich andere Ausführungsformen der Erfindung sind dadurch gekennzeichnet, daß der den Beleuchtungssftahle'ngang in die Richtung der Objektivachse umlenkende Spiegel derart angeordnet ist, daß der diesen Spiegel treffende Teil der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs und die Objektivachse sich in diesem Spiegel schneiden.
  • Bei dieser Anordnung brauchen die die Helldunkelkante erzeugenden Mittel, insbesondere Lichtquelle und Spalt od. dgl., nicht mit um die Objektivachse gedreht zu werden, wodurch der konstruktive Aufbau des Mikroskops vereinfacht wird.
  • Eine Ausführungsform dieses Erfindungsgedankens besteht darin, daß das die Helldunkelkante erzeugende Mittel (Spalt, Einfadenlampe od. dgl.) um die Achse des Beleuchtungsstrahlengangs drehbar ist und daR das die Beleuchtungsstrahlen weiterleitende strahlenablenkende Mittel aus einem in gegenläufigem Drehsinn um die Winkelhalbierende des Ablenkungswinkels drehbaren, den Beobachtungsstrahlengang in jeder Lage freilassenden Spiegel besteht.
  • Eine andere Ausführungsform dieses Erfindungsgedankens besteht darin, daß das die Helldunkelkante erzeugende Mittel' (Spalt, Einfadenlampe od. dgl:) um die Achse des Beleuchtungsstrahlengangs drehbar ist und daß die die Beleuchtungsstrahlen weiterleitenden strahlenumlenkenden Mittel aus mindestens drei Spiegelflächen bestehen, von denen die eine fest und die beiden anderen ungefähr paraliell zueinander angeordnet und in gegenläufigem Drehsinn um die Objektiv achse gemeinsam drehbar sind.
  • Im Sinn der Erfindung liegt es fernerhin, das Grundprinzip der vorliegenden Erfindung auch auf Mikroskope zur Sichtbarmachung von Oberflächen- und Schichtstrukturen zu verwenden, bei denen der die Abbildung der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bewirkende Strahlengang völlig außerhalb des Mikroskoptubus verläuft. Bei den Mikroskopen dieser Art ist dann aber nicht die Objektivachse die Bezugsdrehachse für die Mittel, die die Lage des - Bildes der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bestimmen und die Mittel, die den Beleuchtungsstrahlengang und den Beobachtungsstrahlengang voneinander trennen, sondern das auf der Prüfoberfläche im Schnittpunkt der Achsen von Beleuchtungs- und Beobachtungsstrahlengang errichtete Lot.
  • Es ist bei mikroskopischen Beleuchtungseinrichtungen bereits bekannt, im Beleuchtungsstrahlengang eine drehbare, spaltförmige, quadratische oder dreieckförmige Blende vorzusehen. Diese Anordnung hat aber nur den Zweck, um bei ausgewählten Teilen des Objekts die Form und Lage des Lichtflecks dem Objektteil anzupassen. Eine Änderung der Richtung des Beobachtungsstrahlengangs ist hier ebenfalls nicht vorgesehen. Diese Beleuchtungsanordnung ist daher für die Zwecke, denen der Erfindungsgegenstand dient, nicht brauchbar.
  • In der Zeichnung sind einige Ausführungsbeispiele der Erfindung schematisch dargestellt.
  • Fig. I zeigt eine Anordnung, bei der die das Bild der Helldunkelkante erzeugenden Mittel, nämlich Einfadenlampe a, Sammellinse b, Umlenkprisma c, die Zweilochblende e, um die Achse des Objektivs d schwenkbar sind. Das Objektiv selbst ist aus konstruktiven Gründen mit diesen Teilen baulich zu einer Einheit verbunden. Der Beobachtungsstrahlengang wird von dem feststehenden Umlenkprisma f rechtwinklig abgelenkt und dem Okular g zugeleitet.
  • Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbei spiel ist die die Beleuchtungsstrahlen dem Objektiv d zuleitende Spiegelfläche c als Planspiegel ausgebildet und so angeordnet, daß die optische Achse des Beleuchtungsstrahlenbündels auf einem Teil des Strahlenweges mit der Objektivachse zusammenfällt. Um den Beobachtungsstrahlengang bei jeder Lage des Heildunkelkantenbildes auf der Prüfoberfläche nicht zu behindern, weist der Spiegel c einen genügend großen Ausschnitt c' für den Durchtritt der Beohachtungsstrahlen auf und ist fernerhin um die Winkelhalbierende h des Reflexionswinkels der optischen Achse des Beleuchtungsbündels drehbar, um den Beleuchtungsstrahlengang durch jeden beliebigen Randteil des Objektivs hindurchleiten zu können. Mit dem Spiegel ist die senkrecht zur Objektivachse angeordnete Zweilochhlende e drehbar verbunden.
  • Durch die Blendenöffnung e' tritt ein Teil der vom Spiegel c reflektierten Beleuchtungsstrahlen und durch die Blendenöffnung e" treten die Beobachtungsstrahlen aus, die über das Prisma f zum Okular g gelangen. Damit das Bild derHelldunkelkante stets senkrecht zur Beohachtungsrichtung stehenbleibt, wird der Spalt m mit der gleichen Geschwindigkeit, aber in der Lichtrichtung betrachtet, in entgegengesetztem Sinn wie der Spiegel c und die Zweilochblende e in der zur optischen Achse senkrechten Ebene gedreht.
  • Bei der Ausführungsform nach Abb. 3 ist in dem Hohlraum, der bei der Drehung der Lochblende e von dem um die Objektivachse sich drehenden Beobachtungsstrahlenbündel freigelassen wird, eine kleine Spiegelflächec angeordnet, die das Beleuchtungsstrahlenhündel einem System zweier nahezu paralleler Spiegel i, k zuleitet. Von dort wird es durch das Objektiv d auf die Prüffläche geleitet. Der Spiegel c ist ortsfest und das Spiegelpaar i, k um die Objektivachse drehbar angeordnet.
  • Wenn man, was allerdings nicht zwingend erforderlich ist, auch bei dieser Ausführungsform eine Zweilochbiende e vorsieht, so muß diese ebenfalls um die Objektivachse drehbar, also zweckmäßigerweise mit dem Spiegelpaar i, k verbunden sein. Der Spaltg muß sich ebenso wie bei der Ausführungsform nach Abb. 2 gegenläufig zur Bewegung des Spiegelpaares i, k drehen.
  • PATENTANSPRYSCHE: I. Mikroskop nach Patent 9in 662, dadurch gekennzeichnet, daß zwecks Anpassung der Lage des Bildes der Helildunkelkante auf dein Prüfkörper an dessen Oberflächenstruktur die Mittel, die die Lage des Bildes der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bestimmen, und die Mittel, dile den Strahlengang für die Abbildung der Heltldunkelkante auf dem Prüfkörper (Beleuchtungsstrahlengang) von dem Strahlengang für die Abbildung von Prüfkörper und Helldunkelkante in der Okularebene (Beobachtungsstrahlengang) trennen, oder Teile derselben in derartiger Abstimmung um die Objektivachse drehbar angeordnet sind, daß die Relativlage der Strahlengänge, welche die Erzeugung und Beobachtung der Helldunkelkante ermöglichen, unverändert bleibt.

Claims (1)

  1. 2. Mikroskop nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle, das gegebenenfalls vorgesehene, die Lage des Bildes der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bestimmende Mittel (Spalt, Zylinderlinse),-der dem Beleuchtungsstrahlengang dem Objektiv zuleitende Spiegel und das die Trennung von Beleuchtungsstrahlengang und Beobachtungsstrahlengang bewirkende Mittel (Blende) auf einem gemeinsamen, um die Objektivachse drehbaren Träger angeordnet sind.
    3. Mikroskop nach Anspruch I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv an dem drehbaren Träger befestigt ist.
    4. Mikroskop nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der den Beleuchtungsstrahlengang in die Richtung der Objektivachse umlenkende Spiegel derart angeordnet ist, daß der diesen Spiegel treffende Teil der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs und die Objektivachse sich in diesem Spiegel schneiden.
    5. Mikroskop nach Anspruch I und 4, dadurch gekennzeichnet, daß das die Helldunkelkante erzeugende Mittel (Spalt, Einfadenlampe og. dgl.) um die Achse des Beleuchtungsstrahlengangs drehbar ist und daß das die Beleuchtungsstrahlen weiterleitende strahlenablenkende Mittel aus einem in gegenläufigem Drehsinn um die Winkelhalbierende des Ablenkungswinkels drehbaren, den Beobachtungsstrahlengang in jeder Lage frei lassenden Spiegel besteht.
    6. Mikroskop nach Anspruch I und 4, dadurch gekennzeichnet, daß das die Helldunkelkante erzeugende Mittel (Spalt, Einfadenlampe od. dgl.) um die Achse des Beleuchtungsstrahlengangs drehbar ist und daß die die Beleuchtungsstrahlen weiterleitenden strahlenumlenkenden Mittel aus mindestens drei Spiegelflächen bestehen, von denen die eine fest und die beiden anderen ungefähr parallel zueinander an- geordnet und in gegenläufigem Drehsinn um die Objektivachse gemeinsam drehbar sind.
    7. Abänderung der Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 6 zwecks Anwendung bei Mikroskopen zur Sichtbarmachung von Oberflächen-und Schichtstrukturen, bei denen der die Abbildung der Helldunkelkante auf dem Prüfkörper bewirl<ende Strahlengang völlig außerhalb des Mikroskoptubus verläuft, dadurch gekennzeichnet, daß als Bezugsdrehachse an Stelle der Objektivachse das auf der Prüfoberfläche im Schnittpunkt der Achsen von Beleuchtungs- und Beahachtungsstrahlengang errichtete Lot dient.
DEB4984D 1941-12-11 1941-12-11 Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante Expired DE915989C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEB4984D DE915989C (de) 1941-12-11 1941-12-11 Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEB4984D DE915989C (de) 1941-12-11 1941-12-11 Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE915989C true DE915989C (de) 1954-08-02

Family

ID=6953812

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEB4984D Expired DE915989C (de) 1941-12-11 1941-12-11 Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE915989C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2597984A1 (fr) * 1986-04-23 1987-10-30 Photonique Ind Microscope pour l'examen des faces de fibres optiques

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2597984A1 (fr) * 1986-04-23 1987-10-30 Photonique Ind Microscope pour l'examen des faces de fibres optiques

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3686861T2 (de) System und verfahren zur illumination von objekten fuer visionsvorrichtungen.
EP0390825B1 (de) Vorrichtung zum optischen abtasten der oberfläche eines objektes
EP2948810B1 (de) Lichtmikroskop und mikroskopieverfahren
DE102007009551B3 (de) Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
DE102011119806B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Sichtbarmachen eines Signierzeichens auf einem Brillenglas
DE102014102215A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
CH678663A5 (de)
DE102013226277A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe mittels optischer Projektionstomografie
DE2323593A1 (de) Laser-doppler-anemometer
DE1472293A1 (de) Vorrichtung zur optischen Abtastung mikroskopischer Objekte
DE915989C (de) Mikroskop zur Sichtbarmachung von Oberflaechen- und Schichtstrukturen mit Hilfe einer auf dem Pruefkoerper scharf abgebildeten und schraeg zur Lichteinfallsrichtung beobachteten Helldunkelkante
CH469480A (de) Spaltlampengerät für Augenuntersuchungen
DE627529C (de) Einrichtung zur Amplitudenvergroesserung bei Lichtmarkeninstrumenten
DE2259262C3 (de)
AT164460B (de) Verfahren zur unmittelbaren und vollständigen Messung bzw. Prüfung der Formfehler an Drehflächen oder sonstwie gesetzmäßig gestalteten Flächen, insbesondere Innenflächen, mittels Lichtinterferenz
DE880510C (de) Spiegelanordnung zum Messen von Verdrehungen oder Dehnungen mittels eines ueber eineAbleseskala gesteuerten Lichtzeigers
DE2259262B2 (de) Interferometer
DE242913C (de)
DE928429C (de) Interferenzmikroskop, das insbesondere zur Ausfuehrung von Tiefen-messungen an Unregelmaessigkeiten glatter Oberflaechen bestimmt ist
DE603323C (de) Beleuchtungseinrichtung fuer Mikroskope
DE909155C (de) Optische Vorrichtung
DE2237041C3 (de) Einrichtung zur Bestimmung geometrischer Daten an Körpern mittels Interferenzen
DE700698C (de) Vorrichtung zur Beleuchtung der gekruemmten spiegeoptischen Abbildung
DE1113314B (de) Vorrichtung zur Messung des Schlagens eines rotierenden oder schwingenden Koerpers
DE948195C (de) Fernrohr zur Verwendung in Verbindung mit einem fernen Reflektor