DE112009005490T5 - Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix - Google Patents

Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix Download PDF

Info

Publication number
DE112009005490T5
DE112009005490T5 DE112009005490T DE112009005490T DE112009005490T5 DE 112009005490 T5 DE112009005490 T5 DE 112009005490T5 DE 112009005490 T DE112009005490 T DE 112009005490T DE 112009005490 T DE112009005490 T DE 112009005490T DE 112009005490 T5 DE112009005490 T5 DE 112009005490T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
phase change
change memory
pattern
memory matrix
appropriate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE112009005490T
Other languages
English (en)
Inventor
Ferdinando Bedeschi
Claudio Resta
Marco Ferraro
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micron Technology Inc
Original Assignee
Micron Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micron Technology Inc filed Critical Micron Technology Inc
Publication of DE112009005490T5 publication Critical patent/DE112009005490T5/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/062Securing storage systems
    • G06F3/0622Securing storage systems in relation to access
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0638Organizing or formatting or addressing of data
    • G06F3/0643Management of files
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0673Single storage device
    • G06F3/0679Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0004Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements comprising amorphous/crystalline phase transition cells
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0021Auxiliary circuits
    • G11C13/004Reading or sensing circuits or methods
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0021Auxiliary circuits
    • G11C13/0059Security or protection circuits or methods
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0021Auxiliary circuits
    • G11C13/0069Writing or programming circuits or methods
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/0002Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using resistive RAM [RRAM] elements
    • G11C13/0021Auxiliary circuits
    • G11C13/0097Erasing, e.g. resetting, circuits or methods
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C13/00Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00
    • G11C13/02Digital stores characterised by the use of storage elements not covered by groups G11C11/00, G11C23/00, or G11C25/00 using elements whose operation depends upon chemical change
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N70/00Solid-state devices without a potential-jump barrier or surface barrier, and specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching
    • H10N70/20Multistable switching devices, e.g. memristors
    • H10N70/231Multistable switching devices, e.g. memristors based on solid-state phase change, e.g. between amorphous and crystalline phases, Ovshinsky effect
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N70/00Solid-state devices without a potential-jump barrier or surface barrier, and specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching
    • H10N70/20Multistable switching devices, e.g. memristors

Abstract

Verfahren zum Betreiben von Phasenwechselspeichermatrizen werden beschrieben. Ein Verfahren umfasst Bestimmen eines Musters, das zu einer Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll, und Ausführen gemäß dem Muster von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. Ein anderes Verfahren umfasst das Ausführen einer Setz-Sequenz auf einer Phasenwechselspeichermatrix und Durchführen eines geeigneten Lesens der Phasenwechselspeichermatrix, um ein Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Ausführungsformen der Erfindung betreffen das Gebiet der Phasenwechselspeicherzellen und insbesondere Verfahren zum Betreiben von Phasenwechselspeichermatrizen.
  • HINTERGRUND
  • Eingebettete SRAM und DRAM haben Probleme mit Nicht-Flüchtigkeit und Softfehlerraten, während eingebettete FLASH-Speicher zusätzliche Maskierungsschichten oder Verfahrensschritte während der Herstellung erfordern, eine hohe Spannung zum Programmieren erfordern und Probleme bei der Ausdauer und Zuverlässigkeit haben. Phasenwechselspeicher (PCM) überwinden die Probleme der oben erwähnten Parameter und bieten vorteilhafte Schreibgeschwindigkeiten, kleine Zellengrößen, einfachere Schaltungen und eine Herstellungskompatibilität mit dem Complementary-Metal-Oxide-Semiconductor-(CMOS)-Prozess. Zusätzliche Verbesserungen werden jedoch bei der Evolution der PCM-Technologie benötigt.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 veranschaulicht ein Flussdiagramm, das Operationen in einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 2 veranschaulicht ein Flussdiagramm, das Operationen bei einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 3 veranschaulicht ein Flussdiagramm, das Operationen bei einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 4 zeigt Ausdrucke der Programmimpulsamplitude für eine logische ”1” als eine Funktion der Zeit und der Programmimpulsamplitude für eine logische ”0” als eine Funktion der Zeit in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 5 zeigt Ausdrucke des Zellenstroms für eine logische ”1” als eine Funktion der Zeit und den Zellenstrom für eine logische ”0” als eine Funktion der Zeit in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 6 veranschaulicht eine Matrix von Phasenwechselspeicherzellen in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 7 veranschaulicht eine schematische Darstellung einer drahtlosen Architektur, die eine Matrix von Phasenwechselspeicherzellen in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst.
  • 8 veranschaulicht ein Blockdiagramm eines Beispiels eines Computersystems, das zum Verschlüsseln und Entschlüsseln oder sowohl zum Verschlüsseln als auch Entschlüsseln eines nichtvolatilen Speichers basierend auf einer Phasenwechselspeichermatrix in Überstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung konfiguriert ist.
  • 9 veranschaulicht ein Blockdiagramm eines Beispiels einer Speicherarchitektur, die zum Verschlüsseln oder Entschlüsseln oder sowohl zum Verschlüsseln als auch Entschlüsseln konfiguriert ist, einen nichtvolatilen Speicher basierend auf einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
  • Verfahren zum Betreiben von Phasenwechselspeichermatrizen werden hierin beschrieben. In der folgenden Beschreibung werden zahlreiche spezifische Details ausgeführt, wie z. B. spezifische Verschlüsselungs- und Entschlüsselungsmöglichkeiten, um ein gründliches Verstehen der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung bereitzustellen. Es wird für den Fachmann offensichtlich sein, dass die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung ohne diese spezifischen Details praktiziert werden können. Bei anderen Beispielen sind wohlbekannte Verfahrensoperationen, wie z. B. Materialverarbeitungsoperationen nicht im Detail beschrieben, um die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung nicht unnötig zu verschleiern. Außerdem muss verstanden werden, dass die verschiedenen Ausführungsbeispiele, die in den Figuren gezeigt sind, beispielhafte Darstellungen sind und nicht notwendigerweise maßstabsgetreu.
  • Verfahren zum Betreiben von Phasenwechselspeichermatrizen werden offenbart. In einem Ausführungsbeispiel umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll. Gemäß dem Muster werden dann zwei oder mehr geeignete Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix ausgeführt, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. In einem Ausführungsbeispiel umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen einer Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix. Ein geeignetes Lesen der Phasenwechselspeichermatrix wird dann durchgeführt, um ein Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz erhalten wurde. In einem Ausführungsbeispiel umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll. Gemäß dem Muster werden dann zwei oder mehr geeignete Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix ausgeführt, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. Eine Setz-Sequenz wird dann auf der Phasenwechselspeichermatrix ausgeführt. Ein geeignetes Lesen der Phasenwechselspeichermatrix wird dann durchgeführt, um das Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist.
  • In Übereinstimmung mit Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung werden kryptografische Verfahren basierend auf Rücksetz- und Setz-Operationen für Phasenwechselspeichervorrichtungen (PCM) beschrieben. Solche Verfahren können auf der Fähigkeit basieren, das Rücksetzen zu differenzieren (z. B. um Informationen mit harten oder weichen Impulsen zu verstecken), um geeignete Startbedingungen für unterschiedliche Setz-Zustände zu definieren (z. B. um Information zu restaurieren). In einem Ausführungsbeispiel werden PCM-Zellen mit unterschiedlichen Impulsamplituden zurückgesetzt, was eine einfachere oder härtere Setzmöglichkeit bereitstellt, sobald ein gegebener Setzimpuls festgelegt ist. Ein logischer Wert kann einer gegebenen Rücksetz-Amplitude zugeordnet sein. Wenn ein Setzen dann geliefert wird, kann dieser logische Wert umschalten oder nicht. In einem Ausführungsbeispiel führt solch eine Annäherung zu ”versteckter” Information. Ein ”falsches” Rücksetzen, z. B. ein All-Zero-Schreibbefehl kann in solch einem Fall verwendet werden, nachdem zu dem Speicher ein gegebenes zu versteckendes Muster geschickt worden ist. Zum Beispiel, wenn man von einem All-Zero-Muster ausgeht, werden, nach einem Setz-Impuls, einige der Bits, die ursprünglich als Nullen gelesen wurden, auf Eins wechseln, während andere dies nicht tun werden, wodurch das wirkliche Datenmuster enthüllt wird (z. B. (b7, ...b0) = 00000000 --> 10011011). Bei dem Beispiel haben bit6, bit5, bit2 ein härteres Rücksetzen gesehen als bit7, 4, 3, 1, 0. In diesem Fall ist 100110011 das Muster, das zu dem Speicher geschickt wird, der versteckt werden soll. Dann kann ein All-Zero-Schreibbefehl zu dem Speicher geschickt werden oder kann gegebenenfalls durch die interne Zustandsmaschine ohne zusätzliche Befehle als eine Folge der Anforderung, ein Muster zu verstecken, ausgeführt werden. Diese Annäherung stellt eine Rücksetz-Sequenz mit geeigneter Größe in Übereinstimmung mit dem logischen Zustand der Bits der zu versteckenden Muster bereit und in ein verstecktes Muster, das gleich 000000000 nach der Vervollständigung der Sequenz ist.
  • Kryptografie wird immer relevanter in vielen unterschiedlichen Anwendungen, wie z. B. bei Smartcard-Chips. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, insbesondere bei PCM-Technologie und ihrer Kompatibilität mit durch komplementäre Metalloxidhalbleiter (CMOS) eingebetteten Prozessen, ist PCM ein sehr wahrscheinlicher Kandidat, um FLASH- oder EEPROM-Chips in solchen Systemen zu ersetzen, was kosteneffektive Lösungen bereitstellt. In einem Ausführungsbeispiel basiert ein kryptografisches Verfahren auf Rücksetz- und Setz-Operationen für PCM-Vorrichtungen, wie oben detailliert. PCM-Zellen können mit unterschiedlichen Impulsamplituden zurückgesetzt werden, was in einer einfacheren oder härteren Setz-Möglichkeit resultiert, wenn einmal ein gegebener Setz-Impuls festgelegt ist. Diese Möglichkeit kann in Relation zu dem Volumen des amorphen Materials stehen, das nach dem Rücksetz-Impulsgeben erhalten wird. Zum Beispiel ist in einem Ausführungsbeispiel je größer die Rücksetz-Amplitude, desto größer das Volumen des amorphen Materials und, daher, desto schwieriger ist es zu kristallisieren. Gemäß diesen physikalischen Eigenschaften kann ein logischer Wert einer gegebenen Rücksetz-Amplitude zugeordnet werden. Wenn dann ein Setzen geliefert wird, kann dieser logische Wert vollständig zu einer logischen 1 umschalten oder nicht, z. B. wird versteckte Information erzeugt.
  • In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung basiert ein kryptografisches Verfahren auf der Fähigkeit, das Rücksetzen zu differenzieren (z. B. um Information zu verstecken), um geeignete Startbedingungen zu definieren, die in unterschiedlichen Setz-Zuständen resultieren (z. B. um Information zu restaurieren) und, ultimativ, in verschiedenen Datenlesungen. Das Muster kann durch eine Rücksetz-Operation versteckt werden, wobei, z. B. eine logische 0, nach der Entschlüsselung durch ein hartes Rücksetzen erhalten wird, während eine logische 1, nach der Entschlüsselung aus einem weichen Rücksetzen resultiert. In einem Ausführungsbeispiel erscheint das Muster vor der Entschlüsselung wie ein All-Zero-0-Muster. Ausgehend von dem All-Zero-Muster werden nach einem Setz-Impuls einige der Bits, die ursprünglich als 0en gelesen worden sind, zu 1en wechseln, einige andere werden dies nicht tun, was das reale Datenmuster enthüllt. Die Adressen der Muster können innerhalb eines einmal programmierbaren Speichers durch den Endkunden oder durch den Hersteller festgelegt sein, oder durch beide. In einem Ausführungsbeispiel wird ein zusätzliches Datenschutzniveau bereitgestellt, für den Fall, dass ein Passwort irgendwie geknackt worden ist und ein Matrixinhalt unerwünscht ausgelesen wurde. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel, solange ein ”falsches” Setzen, z. B. ein ”all 1”-Schreibbefehl nicht ausgegeben worden ist, bleibt der wirkliche Inhalt innerhalb des Musters versteckt. Auf der anderen Seite kann diese Annäherung einen Weg bereitstellen, um ohne digitales Passwort ein Wort ”zu löschen” und ein reales Muster zwingen, zu erscheinen.
  • Eine Phasenwechselspeichermatrix kann verschlüsselt sein. Die 1 veranschaulicht z. B. ein Flussdiagramm 100, das Operationen in einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • Bezug nehmend auf die Operation 105 des Flussdiagramms 100 enthält ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll.
  • Bezug nehmend auf die Operation 106 des Flussdiagramms 100 weist das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix auch das Ausführen gemäß dem Muster von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix auf, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung hat eine erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine erste Amplitude und einen zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen hat eine zweite Amplitude, die unterschiedlich von der ersten Amplitude ist. In einem Ausführungsbeispiel ist die erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen, um eine logische ”0” zu schreiben, und die zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen, um eine logische ”1” zu schreiben. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das Schreiben des Musters zu der Phasenwechselspeichermatrix durch eine interne Zustandsmaschine durchgeführt. In einem Ausführungsbeispiel dient das Verfahren, das die Operationen 104 und 106 umfasst, zum Verschlüsseln der Phasenwechselspeichermatrix.
  • Bezug nehmend auf die Operation 102 des Flussdiagramms 100 kann das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix optional in einem Ausführungsbeispiel weiter das Ausgeben eines geeigneten Schreib-Passwortes umfassen und das Ausführen der beiden oder mehreren geeigneten Rücksetz-Sequenzen umfasst das Bereitstellen des geeigneten Schreib-Passworts. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das geeignete Schreib-Passwort mit der Information verglichen, die in einem einmal programmierbaren Speicher gespeichert worden ist, z. B. als ein Passwort, das durch einen Hersteller aufgrund einer Kundenanfrage gespeichert worden ist. In einem Ausführungsbeispiel erzeugt ein falsches Passwort oder eine Sequenz ein ”reales” Löschen des Musters durch Auswählen eines sehr langen Setz-Impulses, wie z. B. aber nicht darauf beschränkt, ein Setz-Sweep oder ein ”stair case down”.
  • Eine Phasenwechselspeichermatrix kann entschlüsselt sein. Die 2 veranschaulicht beispielsweise ein Flussdiagramm 200, das Operationen in einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • Bezug nehmend auf die Operation 204 des Flussdiagramms 200 umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen einer Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix.
  • Bezug nehmend auf die Operation 206 des Flussdiagramms 200 umfasst das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix auch das Durchführen eines geeigneten Lesens der Phasenwechselspeichermatrix, um ein Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem All-Zero-Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix und das Muster ist ein Non-All-Zero-Muster. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem ersten Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix und das Muster ist ein zweites Muster, das unterschiedlich von dem ersten Muster ist. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren das Einstellen einer internen Lesereferenz, um eine Reserve zum Erhalten des Musters aufrecht zu erhalten. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird der interne Lese-Referenzstrom leicht erhöht. In einem Ausführungsbeispiel ist das Verfahren, das die Operationen 204 und 206 umfasst, zum Entschlüsseln der Phasenwechselspeichermatrix. In einem Ausführungsbeispiel ist ein ”Musterziel” das Muster, das in dem Ort gespeichert ist, der irgendwann ausgelesen werden kann, bevor die Sequenz ausgegeben wird, was wiederum das ”Muster” nach der Sequenz wird, wenn sie irgendwann gelesen wird.
  • Bezug nehmend auf die Operation 202 des Flussdiagramms 200 kann das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix optional in einem Ausführungsbeispiel weiter das Ausgeben eines geeigneten Lese-Passwortes umfassen, wobei das Durchführen des geeigneten Lesens das Bereitstellen des geeigneten Lese-Passwortes umfasst. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das geeignete Lese-Passwort mit Information verglichen, die in einem einmal programmierbaren Speicher gespeichert ist. In einem Ausführungsbeispiel erzeugt ein falsches Passwort oder Sequenz ein ”reales” Löschen des Musters durch Auswählen eines sehr langen Setz-Impulses, wie z. B., aber nicht darauf beschränkt, ein Setz-Sweep oder ein ”stair case down”. In einem anderen optionalen Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren weiter, folgend auf das Durchführen des geeigneten Lesens, das Ausführen von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster in der Phasenwechselspeichermatrix wieder zu verstecken.
  • Eine Phasenwechselspeichermatrix kann verschlüsselt und später entschlüsselt sein. Zum Beispiel veranschaulicht die 3 ein Flussdiagramm 300, das Operationen in einem Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • Bezug nehmend auf die Operation 304 des Flussdiagramms 300 umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll.
  • Bezug nehmend auf die Operation 306 des Flussdiagramms 300 umfasst das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix auch das Ausführen gemäß dem Muster von zwei oder mehreren geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung hat eine erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine erste Amplitude und eine zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen hat eine zweite Amplitude, die unterschiedlich von der ersten Amplitude ist. In einem Ausführungsbeispiel ist die erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen, um eine logische ”0” zu schreiben, und die zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen ist, um eine logische ”1” zu schreiben. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das Schreiben des Musters zu der Phasenwechselspeichermatrix durch eine interne Zustandsmaschine durchgeführt.
  • Bezug nehmend auf die Operation 310 des Flussdiagramms 300 umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix auch das Ausführen einer Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix.
  • Bezug nehmend auf die Operation 312 des Flussdiagramms 300 umfasst das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix auch das Durchführen eines geeigneten Lesens der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem All-Zero-Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix und das Muster ist ein Non-All-Zero-Muster. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem ersten Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix und das Muster ist ein zweites Muster, das unterschiedlich von dem ersten Muster ist. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren das Einstellen einer internen Lese-Referenz, um eine Reserve zum Erhalten des Musters aufrecht zu erhalten. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel ist der interne Lese-Referenzstrom leicht erhöht.
  • Bezug nehmend auf die Operation 302 des Flussdiagramms 300 kann das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix optional in einem Ausführungsbeispiel weiter das Ausgeben eines geeigneten Schreib-Passworts umfassen und das Ausführen der zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen umfasst das Bereitstellen des geeigneten Schreib-Passwortes. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das geeignete Schreib-Passwort mit Information verglichen, die in einem einmal programmierbaren Speicher gespeichert ist, z. B. als ein Passwort, das durch einen Hersteller aufgrund einer Kundenanfrage gespeichert ist. Außerdem, Bezug nehmend auf die Operation 308 des Flussdiagramms 300, kann das Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix optional in einem Ausführungsbeispiel das Ausgeben eines geeigneten Lese-Passwortes umfassen, wobei das Durchführen des geeigneten Lesens das Bereitstellen des geeigneten Lese-Passwortes umfasst. In einem spezifischen Ausführungsbeispiel wird das geeignete Lese-Passwort mit Information verglichen, die in einem einmal programmierbaren Speicher gespeichert ist. In einem Ausführungsbeispiel erzeugt ein falsches Passwort (ein geeignetes Lese-Passwort, geeignetes Schreib-Passwort, oder beides) oder Sequenz ein ”reales” Löschen des Musters durch Auswählen eines sehr langen Setz-Impulses wie z. B., aber nicht darauf beschränkt, ein Setz-Sweep oder ein ”stair case down”. In einem anderen optionalen Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren weiter, folgend dem Durchführen des geeigneten Lesens, das Ausführen von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster in der Phasenwechselspeichermatrix wieder zu verstecken.
  • In einem Ausführungsbeispiel setzt sich das Muster aus realen Informationsbits zusammen, die sensitive Information (was immer ihre Natur ist) enthält, und durch falsche Bits mit einem Zustand und mit Lese- und Programm-Operationen, die nicht notwendigerweise wichtig sind. Informationsbits und falsche Bits werden in denselben logischen Nibbles, Bytes, Worten, Doppelworten, langen Worten oder irgendeinem der minimalen oder maximalen logischen Pakete von Bits verschmolzen, die während den Systemoperationen gehandhabt werden. Bei diesem Ausführungsbeispiel können die Rücksetz-Sequenzen und die Setz-Sequenzen nur auf den Informationsbits ausgeführt werden, während die falschen Bits mit zufälligen Mustern oder mit einigen gegebenen Mustern programmiert werden. In solch einem Fall wird die Position der falschen Bits (oder komplementär zu der Position der Informationsbits) in nicht-volatile Register geschrieben (z. B. einmal programmierbare nicht-volatile Register), die durch die Maschine gelesen werden können, die das Sequenzieren in Antwort auf geeignete Befehle, die vom System zum Speicher ausgegeben werden, ausführt, als auch durch den Systemprozessor nach dem Ausgeben von geeigneten Befehlen und Passwörtern. Das erwartete Zielmuster kann dann vor dem Entschlüsseln unterschiedlich zu einem All-Zero sein. Auch kann das zu schreibende Zielmuster einige reale Einsen und Nullen und einige falsche Einsen und Nullen enthalten. Eine interne Zustandsmaschine wird die Informationsbits gemäß den Konfigurationsbits auswählen und wird mit der geeigneten Rücksetz- oder Setz-Sequenz pulsen, wie z. B. den Rücksetz- oder Setz-Sequenzen, die hierin beschrieben sind, gemäß der bestimmten Operation, die von dem Host angefordert wird. Währenddessen werden die falschen Bits zufällig mit konventionellen Programmiertechniken gehandhabt.
  • 4 umfasst Ausdrucke 400 von Programmimpulsamplituden für eine logische ”1” als eine Zeitfunktion und Programmimpulsamplituden für eine logische ”0” als eine Zeitfunktion in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • Bezug nehmend auf 4 stellt der Ausdruck auf der linken Seite eine Programmimpulsamplitude für eine logische ”1” als eine Zeitfunktion dar. Ein weiches Rücksetzen (Ireset soff) wird durchgeführt, das konsistent mit einer weniger resistiven Phasenwechselspeicherzelle ist. Der Ausdruck stellt auf der rechten Seite die Programmimpulsamplitude für eine logische ”0” als eine Zeitfunktion dar. Ein hartes Rücksetzen (Ireset hard) wird durchgeführt, konsistent mit einer stärker resistiven Phasenwechselspeicherzelle.
  • Die 5 umfasst Ausdrucke 500 des Zellenstroms für eine logische ”1” als eine Zeitfunktion und des Zellenstroms für eine logische ”0” als eine Zeitfunktion in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • Bezug nehmend auf 5 stellt der Ausdruck auf der linken Seite den Zellenstrom für eine logische ”1” als eine Zeitfunktion dar. Ein relativ hoher Lesestrom (Iread) ist unter gegebenen Lesevorspannungsbedingungen bezüglich dem gesetzten Strom (Iset) abgesunken. Der Ausdruck stellt auf der rechten Seite den Zellenstrom für eine logische ”0” als eine Zeitfunktion dar. Ein relativ niedriger Lesestrom (Iread) ist unter gegebenen Auslesevorspannungsbedingungen relativ zu dem gesetzten Strom (Iset) abgesunken. Iset ist so ausgewählt, dass er ausreichend ist, um eine weniger resistive Phasenwechselspeicherzelle zu setzen, aber nicht eine stärker resistive Phasenwechselspeicherzelle.
  • In einem Aspekt der vorliegenden Erfindung umfasst eine Phasenwechselspeicherzellenmatrix Speicherzellen, die aus einem Speichermaterial in Verbindung mit einer Auswahlvorrichtung zusammengesetzt sind. Zum Beispiel veranschaulicht die 6 eine Matrix 610 von Phasenwechselspeicherzellen 604 in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. In einem Ausführungsbeispiel umfasst die Matrix 610 Phasenwechselspeicherzellen, die aus Legierungen der Elemente der Gruppe VI der periodischen Tabelle zusammengesetzt sind, Elemente, wie z. B. Te oder Se, die als Chalkogenide oder chalkogenische Materialien bezeichnet. Chalkogenide können vorteilhafterweise in Phasenwechselspeicherzellen verwendet werden, um ein Datenzurückhalten bereitzustellen und bleiben stabil, auch nachdem die Leistung von dem nicht volatilen Speicher weggenommen ist. Nimmt man beispielsweise das Phasenwechselmaterial als Ge2Sb2Te5, werden zwei Phasen oder mehr gezeigt, die unterschiedliche elektrische Eigenschaften haben, die für die Speicherspeicherung nützlich sind. Die Matrix 610 weist Phasenwechselspeicherzellen auf, die jeweils eine Auswahlvorrichtung und ein Speicherelement haben. Obwohl die Matrix mit bipolaren Auswahlvorrichtungen veranschaulicht ist, soll angemerkt werden, dass alternative Ausführungsbeispiele CMOS-Auswahlvorrichtungen oder Dioden verwenden können, um die elektrischen Eigenschaften (z. B. Widerstand, Kapazitanz, usw.) des chalkogeniden Materials durch die Anwendung von Energie wie z. B. Hitze, Licht, Spannungspotential oder elektrischer Strom, zu identifizieren und selektiv zu ändern. Das chalkogenische Material kann elektrisch zwischen unterschiedlichen Zuständen, die zwischen den amorphen und kristallinen Zuständen liegen, umgeschaltet werden, was zu einer Multiniveauspeicherfähigkeit führt. Um den Zustand oder die Phase des Speichermaterials zu verändern, veranschaulicht dieses Ausführungsbeispiel ein Programmierspannungspotential, das größer als die Schwellwertspannung der Speicherauswahlvorrichtung ist, die bei der Speicherzelle angewandt werden kann. Ein elektrischer Strom fließt durch das Speichermaterial und erzeugt Hitze, die die elektrischen Eigenschaften verändert und den Speicherzustand oder die Phase des Speichermaterials verändert.
  • Beispielsweise platziert Erhitzen des Phasenwechselmaterials auf eine Temperatur von über 900°C bei einer Schreiboperation das Phasenwechselmaterial über seine Schmelztemperatur (TM). Dann bringt ein schnelles Abkühlen das Phasenwechselmaterial in den amorphen Zustand, der als Rücksetz-Zustand bezeichnet wird, wobei gespeicherte Daten einen ”0”-Wert haben können. Nimmt man Ge2Sb2Te5 als ein Beispiel, kann die Zeit zwischen dem Erreichen der Schmelztemperatur Tm und dem Abschrecken nach dem lokalen Erhitzen, um die amorphe Phase zu erreichen, kleiner als 60 Nanosekunden sein. Auf der anderen Seite wird, um eine Speicherzelle vom Rücksetzen auf Setzen zu programmieren, die lokale Temperatur höher als die Kristallisationstemperatur (Tx) erhöht über einen Zeitraum, der länger als 50 Nanosekunden ist (für Ge2Sb2Te5), um eine vollständige Kristallisierung zu erlauben. Das Phasenwechselmaterial in der kristallinen Form wird als ein Setz-Zustand bzw. gesetzter Zustand bezeichnet und gespeicherte Daten können einen ”1”-Wert haben. Daher kann die Zelle durch Einstellen der Amplitude und der Impulsbreite des Stromes, der durch die Zelle fließen darf, programmiert werden. Zusammengefasst wird ein schneller Impuls mit hoher Größe die Zelle amorphisieren, wohingegen ein längerer Impuls mit moderater Größe der Zelle erlaubt, zu kristallisieren. Bei einer Lese-Operation werden die Bitleitung (BL) und die Wortleitung (WL) ausgewählt und eine externe Vorspannung wird an die ausgewählte Speicherzelle angelegt. Um eine chalkogenide Speichervorrichtung auszulesen, wird die Stromdifferenz zwischen dem Zellenstrom und einem gegebenen Referenzstrom, der sich aus dem unterschiedlichen Vorrichtungswiderstand ergibt, erfasst. Es wird dann bestimmt, ob Daten, die in der ausgewählten Speicherzelle gespeichert sind, eine ”1” oder ”0” sind, basierend auf diesem Spannungsunterschiedswechsel, der durch einen Widerstand des Phasenwechselmaterials der ausgewählten Speicherzelle verursacht ist. Es wird geschätzt, dass die Assoziierung des Rücksetzens und des Setzens mit amorphen und kristallinen Zuständen, jeweils eine Konvention ist, und dass zumindest eine gegensätzliche Konvention angewandt werden kann. Auch können andere Verfahren zum Lesen des Widerstands (z. B. des Zustands) implementiert werden, wie z. B. einen Strom zu zwingen und eine Spannung auszulesen oder eine Kapazitanz vorzuladen und sie über die Zelle zu entladen. Die oben beschriebenen Annäherungen sind nicht notwendigerweise abhängig von dem Weg wie die Daten ausgelesen werden.
  • Bei einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung veranschaulicht die 7 einen schematische Darstellung einer drahtlosen Architektur, die eine Matrix von Phasenwechselspeicherzellen beinhaltet, in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das Ausführungsbeispiel der drahtlosen Architektur, das in der 7 veranschaulicht ist, zeigt eine Kommunikationsvorrichtung 710. Es muss angemerkt werden, dass die vorliegende Erfindung nicht auf drahtlose Kommunikationsausführungsbeispiele beschränkt ist und andere, nicht drahtlose Anwendungen in Verbindung mit Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung verwendet werden können (wie z. B. Computing, Datenspeicherung, Verbraucherprodukte, Automotive, usw.). Wie bei diesem drahtlosen Ausführungsbeispiel gezeigt, umfasst die Kommunikationsvorrichtung 710 eine oder mehr Antennenstrukturen 714, um Funkwellen zu erlauben, mit anderen Kommunikationsvorrichtungen über die Luft zu kommunizieren. Zum Beispiel kann die Kommunikationsvorrichtung 710 als eine Zellenvorrichtung operieren oder eine Vorrichtung, die in drahtlosen Netzwerken arbeitet, wie z. B. Wireless Fidelity (Wi-Fi), das die darunterliegende Technologie des Wireless Local Area Networks (WLAN) basierend auf den Normen IEEE 802.11, WiMax und Mobile WiMax basierend auf IEEE 802.16-2005, Wideband Code Division Multiple Access (WCDMA) und Global System for Mobile Communications (GSM) Netzwerken bereitstellt, obwohl die vorliegende Erfindung nicht darauf beschränkt ist, nur in diesen Netzwerken zu arbeiten. Die Funkuntersysteme, die zusammen auf derselben Plattform der Kommunikationsvorrichtung 710 angeordnet sind, stellen die Möglichkeit des Kommunizierens mit unterschiedlichen Frequenzbändern in einem Hochfrequenz/Ortsraum mit anderen Vorrichtungen in einem Netzwerk bereit.
  • Es sollte verstanden werden, dass der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung nicht auf die Typen, die Anzahl oder die Frequenz der Kommunikationsprotokolle beschränkt ist, die durch die Kommunikationsvorrichtung 710 verwendet werden können. Beispielhaft veranschaulicht jedoch das Ausführungsbeispiel das Koppeln der Antennenstruktur 714 an einen Transceiver 712, um eine Modulation/Demodulation aufzunehmen. Im Allgemeinen kann der analoge Front-End-Transceiver 712 ein alleinstehender diskreter oder integrierter analoger Hochfrequenzschaltkreis (RF) sein oder der Transceiver 712 kann mit einem Prozessor eingebettet sein, der einen oder mehrere Prozessorkerne 716 und 718 hat. Die mehreren Kerne erlauben, dass zu verarbeitende Arbeitslasten über die Kerne verteilt werden können und Baseband-Funktionen und Anwendungsfunktionen gehandhabt werden können. Eine Schnittstelle kann verwendet werden, um Kommunikation oder Information zwischen dem Prozessor und der Speicherspeicherung in einem Systemspeicher 720 bereitzustellen. Obwohl der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung nicht diesbezüglich beschränkt ist, kann die Schnittstelle serielle und/oder parallele Busse umfassen, um sich Information zusammen mit den Steuersignalleitungen zu teilen, die verwendet werden sollen, um ein Handshaking zwischen dem Prozessor und dem Systemspeicher 720 bereitzustellen.
  • Der Systemspeicher 720 kann optional verwendet werden, um Anweisungen zu speichern, die durch den Prozessor während des Betriebs der drahtlosen Kommunikationsvorrichtung 710 ausgeführt werden, und kann verwendet werden, um Nutzerdaten, wie die Bedingungen, dafür wann eine Nachricht durch die drahtlose Kommunikationsvorrichtung 710 übertragen werden soll, oder die tatsächlich zu übertragenden Daten, zu speichern. Zum Beispiel können die Anweisungen, die im Systemspeicher 720 gespeichert sind, dazu verwendet werden, um drahtlose Kommunikation durchzuführen, Sicherheitsfunktionalität für die Kommunikationsvorrichtung 710 bereitzustellen, User-Funktionalität wie z. B. Kalender, Email, Internetbrowsen usw. bereitzustellen. Der Systemspeicher 720 kann durch einen oder mehrere unterschiedliche Typen von Speichern bereitgestellt werden und kann sowohl volatile als auch nicht volatile Speicher 722 umfassen, die ein Phasenwechselmaterial haben. Nicht volatile Speicher 722 können als ein Phasenwechselspeicher (Phase Change Memory – PCM), Phase-Change Random Access Memory (PRAM oder PCRAM), Ovonic Unified Memory (OUM) oder Chalcogenide Random Access Memory (C-RAM) bezeichnet werden. Die volatilen und nicht volatilen Speicher können in einem Stapelprozess kombiniert werden, um den Fußabdruck auf einer Platine zu reduzieren, getrennt packetiert oder in einer Multichip-Packung angeordnet werden, wobei die Speicherkomponenten auf dem Prozessor angeordnet sind. Das Ausführungsbeispiel veranschaulicht auch, dass einer oder mehrere der Prozessorkerne mit nicht volatilen Speichern 732 eingebettet sein kann.
  • In einem Ausführungsbeispiel ist die vorliegende Erfindung als ein Computerprogrammprodukt bereitgestellt und/oder ein Softwareprodukt, das ein maschinenlesbares Medium aufweist, auf dem Anweisungen gespeichert sind, das verwendet wird, um ein Computersystem (oder andere elektronische Vorrichtungen) zu programmieren, um ein Verfahren gemäß Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung durchzuführen. Ein maschinenlesbares Medium kann jeden Mechanismus umfassen, um Information in einer von einer Maschine (z. B. einem Computer) lesbaren Form zu speichern oder zu übertragen. Beispielsweise umfasst in einem Ausführungsbeispiel ein maschinenlesbares (z. B. computerlesbares) Medium eine durch eine Maschine (z. B. einen Computer) lesbares Speichermedium (z. B. einen Nur-Lese-Speicher (”ROM”), ein Random Access Memory (”RAM”), magnetische Plattenspeichermedien, optische Speichermedien, Flash-Speichervorrichtungen, usw.), ein durch eine Maschine (z. B. Computer) lesbares Übertragungsmedium (elektrische, optische, akustische oder andere Formen von ausgebreiteten Signalen (z. B. Trägerwellen, Infrarotsignale, digitale Signale, usw.)) usw. In einem Ausführungsbeispiel bedeutet die Verwendung des Begriffes ”computer implemented” hierin prozessorimplementiert. In einem Ausführungsbeispiel wird eines der Verfahren, die hier beschrieben werden, in einer tragbaren Vorrichtung implementiert, wie z. B. einem Mobiltelefon, das keinen Computer an sich aufweist, aber einen Prozessor.
  • Die 8 veranschaulicht eine Diagrammdarstellung einer Maschine in der Form eines Computersystems 800, in der ein Satz Anweisungen ausgeführt wird, um die Maschine zu veranlassen, jede oder mehr der hier diskutierten Methoden durchzuführen. Zum Beispiel veranschaulicht die 8 in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ein Blockdiagramm eines Beispiels eines Computersystems, das konfiguriert ist, um eine Phasenwechselspeichermatrix zu verschlüsseln oder zu entschlüsseln oder beides. Bei alternativen Ausführungsbeispielen ist die Maschine mit anderen Maschinen in einem Local Area Network (LAN), einem Intranet, einem Extranet oder dem Internet verbunden (vernetzt). In einem Ausführungsbeispiel operiert die Maschine in der Eigenschaft eines Servers oder einer Client Maschine in einer Client Server Netzwerkumgebung oder als eine Peer-Maschine in einer Peer-to-Peer-Netzwerkumgebung (oder einer verteilten Netzwerkumgebung). In einem Ausführungsbeispiel ist die Maschine ein Personal Computer (PC), ein Tablet PC, eine Set-Top-Box (STB), ein Personal Digital Assistant (PDA), ein Mobiltelefon, eine Webanwendung, ein Server, ein Netzwerkrouter, ein Switch oder eine Brücke, oder irgendeine Maschine, die in der Lage ist, einen Satz von Anweisungen auszuführen (sequenziell oder anders), die Aktionen spezifiziert, die durch diese Maschine gemacht werden sollen. Außerdem, während nur eine einzelne Maschine veranschaulicht ist, soll der Begriff ”Maschine” auch so verstanden werden, dass er jede Ansammlung von Maschinen (z. B. Computer oder Prozessoren) umfasst, die individuell oder gemeinsam einen Satz (oder mehrere Sätze) von Anweisungen ausführen, um irgendeine oder mehrere der hier diskutierten Methoden durchzuführen.
  • Das Beispiel eines Computersystems 800 umfasst einen Prozessor 802, einen Hauptspeicher 804 (z. B. einen Nur-Lese-Speicher (ROM), einen Flashspeicher, einen Dynamic Random Access Speicher (DRAM), wie z. B. ein synchrones DRAM (SDRAM) oder Rambus DRAM (RDRAM), usw.), einen statischen Speicher 806 (z. B. einen Flashspeicher, einen Static Random Access Memory (SRAM), usw.), und einen zweiten Speicher 818 (z. B. eine Datenspeichervorrichtung), die miteinander über einen Bus 830 kommunizieren.
  • Der Prozessor 802 stellt eine oder mehrere Allzweckverarbeitungsvorrichtungen wie z. B. einen Mikroprozessor, eine zentrale Verarbeitungseinheit oder Ähnliches dar. Insbesondere ist in einem Ausführungsbeispiel der Prozessor 802 ein Mikroprozessor, der einen komplexen Anweisungssatz berechnet (CISC), ein Mikroprozessor, der einen reduzierten Anweisungssatz berechnet (RISC), ein Mikroprozessor, der sehr lange Anweisungsworte (VLIW), ein Prozessor, der andere Anweisungssätze implementiert, oder Prozessoren, die eine Kombination von Anweisungssätzen implementieren. In einem Ausführungsbeispiel ist der Prozessor 802 eine oder mehrere Spezialverarbeitungsvorrichtungen, wie z. B. eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC), eine feldprogrammierbare Gattermatrix (FPGA), ein digitaler Signalprozessor (DSP), ein Netzwerkprozessor oder Ähnliches. Der Prozessor 802 führt die Verarbeitungslogik 526 zum Durchführen der hierin diskutierten Operationen durch.
  • In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Computersystem 800 weiter eine Netzwerkschnittstellenvorrichtung 808. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Computersystem 500 auch eine Videoanzeigeeinheit 810 (z. B. eine Flüssigkristallanzeige (LCD) oder eine Kathodenstrahlröhre (CRT)), eine alphanumerische Eingabevorrichtung 812 (z. B. eine Tastatur), eine Cursorsteuervorrichtung 814 (z. B. eine Maus), und eine Signalerzeugungsvorrichtung 816 (z. B. einen Lautsprecher).
  • In einem Ausführungsbeispiel weist der zweite Speicher 818 ein Speichermedium 831 mit Maschinenzugriff auf (oder spezifischer ein computerlesbares Speichermedium), auf dem einer oder mehrere Sätze von Anweisungen gespeichert ist (z. B. Software 822), die eine oder mehrere der hier beschriebenen Methoden und/oder Funktionen verkörpert. In einem Ausführungsbeispiel ruht die Software 822 vollständig oder zumindest teilweise in dem Hauptspeicher 804 oder in dem Prozessor 802 während ihrer Ausführung durch das Computersystem 800, wobei der Hauptspeicher 804 und der Prozessor 802 auch maschinenlesbare Speichermedien bilden. In einem Ausführungsbeispiel wird die Software 822 weiter über ein Netzwerk 820 über die Netzwerkschnittstellenvorrichtung 808 übertragen oder empfangen.
  • Während das Speichermedium 831 mit Maschinenzugriff in einem Ausführungsbeispiel als ein einzelnes Medium gezeigt ist, soll der Begriff ”maschinenlesbares Speichermedium” verstanden werden, ein einzelnes Medium oder mehrere Medien zu umfassen (z. B. eine zentralisierte oder verteilte Datenbank oder assoziierte Cachespeicher und Server), die einen oder mehrere Anweisungssätze speichern. Der Begriff ”maschinenlesbares Speichermedium” soll auch verstanden werden, jedes Medium zu umfassen, das in der Lage ist, einen Satz von Anweisungen zur Ausführung durch die Maschine zu speichern oder zu codieren, und der diese Maschine veranlasst, eine oder mehrere der Methoden der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung durchzuführen. Der Begriff ”maschinenlesbares Speichermedium” soll entsprechend verstanden werden, Festzustandsspeicher und optische und magnetische Medien zu umfassen, aber nicht darauf beschränkt sein.
  • 9 veranschaulicht ein Blockdiagramm eines Beispiels einer Speicherarchitektur, die zum Verschlüsseln oder Entschlüsseln oder sowohl zum Verschlüsseln als auch Entschlüsseln eines nicht volatilen Speichers basierend auf einer Phasenwechselspeichermatrix in Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung konfiguriert ist. Bezug nehmend auf 9 umfasst eine Speicherarchitektur 900 ein I/O 902, das mit einer Befehlsschnittstelle 904 gekoppelt ist. Die Befehlsschnittstelle 904 ist mit einem Block 906 gekoppelt, der Information aufweist, wie z. B., aber nicht darauf beschränkt, Adressen für spezielle Information, falsche Bitposition, Lese-Passwörter, Schreibe-Passwörter und nicht volatile Konfigurationsbits. Die Befehlsschnittstelle 904 ist auch mit einer Schreib-Zustandsmaschine 908 gekoppelt zum Setz- und Rücksetzsequenzieren. Ein RAM 910 und ein ROM 912 sind mit der Schreib-Zustandsmaschine 908 gekoppelt. Die Schreib-Zustandsmaschine 908 ist mit einem Setz- und Rücksetz-Impulsgenerator 916 gekoppelt, der an Hochspannungsgeneratoren (HV) 918 gekoppelt ist. Die Schreib-Zustandsmaschine 908 ist auch an einen Block 914 gekoppelt, der eine Phasenwechselspeichermatrix, X-Decoder, Y-Decoder, Schreibschaltungen und Leseschaltkreise umfasst. Die Schreib-Zustandsmaschine 908 ist auch mit einer zusätzlichen I/O gekoppelt. Andere Merkmale können in der Speicherarchitektur 900 umfasst sein, wie z. B. logische und andere analoge Schaltungen 920.
  • Daher sind Verfahren zum Betreiben von Phasenwechselspeichermatrizen offenbart worden. In Übereinstimmung mit einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst ein Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix das Bestimmen eines Musters, das zu einer Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll. Gemäß dem Muster werden dann zwei oder mehr geeignete Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix ausgeführt, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben. Eine Setz-Sequenz wird dann auf der Phasenwechselspeichermatrix ausgeführt. Ein geeignetes Lesen der Phasenwechselspeichermatrix wird dann durchgeführt, um das Muster zu erhalten, das von der Ausführung der Setz-Sequenz abgeleitet ist. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren weiter das Ausgeben eines geeigneten Schreib-Passworts, wobei das Ausführen der zwei oder mehreren geeigneten Rücksetz-Sequenzen das Bereitstellen des geeigneten Schreib-Passworts umfasst. In einem Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren außerdem das Ausgeben eines geeigneten Lese-Passwortes, wobei das Durchführen des geeigneten Lesens das Bereitstellen des geeigneten Lese-Passworts umfasst. Nützliche Information, wie z. B. spezielle Adressen, Passwörter oder Informationsbitpositionen können in internen nicht volatilen Registern gespeichert werden oder davon zurückgeholt werden, wie z. B. einmal programmierbare Bits.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • Normen IEEE 802.11 [0038]
    • IEEE 802.16-2005 [0038]

Claims (23)

  1. Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix, wobei das Verfahren aufweist: Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll; und Ausführen gemäß dem Muster von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben.
  2. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei das Verfahren zum Verschlüsseln der Phasenwechselspeichermatrix dient.
  3. Verfahren gemäß Anspruch 1, das weiter aufweist: Ausgeben eines geeigneten Schreib-Passwortes, wobei das Ausführen der zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen das Bereitstellen des geeigneten Schreib-Passwortes umfasst.
  4. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei eine erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine erste Amplitude hat und eine zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine zweite Amplitude hat, die unterschiedlich von der ersten Amplitude ist.
  5. Verfahren gemäß Anspruch 4, wobei die erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen dazu dient, eine logische ”0” zu schreiben, und wobei die zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen dazu dient, eine logische ”1” zu schreiben.
  6. Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei das Schreiben des Musters zu der Phasenwechselspeichermatrix durch eine interne Zustandsmaschine durchgeführt wird.
  7. Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix, wobei das Verfahren aufweist: Ausführen einer Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix; und Durchführen eines geeigneten Lesens der Phasenwechselspeichermatrix, um ein Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist.
  8. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei das Verfahren zum Entschlüsseln der Phasenwechselspeichermatrix ist.
  9. Verfahren gemäß Anspruch 7, weiter aufweisend: Ausgeben eines geeigneten Lese-Passwortes, wobei das Durchführen des geeigneten Lesens Bereitstellen des geeigneten Lese-Passworts umfasst.
  10. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem All-Zero-Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix umfasst, und wobei das Muster ein Non-All-Zero-Muster ist.
  11. Verfahren gemäß Anspruch 7, wobei das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem ersten Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix umfasst und wobei das Muster ein zweites Muster ist, das unterschiedlich von dem ersten Muster ist.
  12. Verfahren gemäß Anspruch 7, das weiter aufweist: Einstellen einer internen Lesereferenz, um eine Reserve zum Erhalten des Musters aufrecht zu halten.
  13. Verfahren gemäß Anspruch 7, das weiter aufweist: nachfolgend zum Durchführen des geeigneten Lesens, Ausführen von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster in der Phasenwechselspeichermatrix neu zu verstecken.
  14. Verfahren zum Betreiben einer Phasenwechselspeichermatrix, wobei das Verfahren aufweist: Bestimmen eines Musters, das zu der Phasenwechselspeichermatrix geschrieben werden soll; Ausführen gemäß dem Muster von zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu der Phasenwechselspeichermatrix zu schreiben; Ausführen einer Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix; und Durchführen eines geeigneten Lesens der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster zu erhalten, das von dem Ausführen der Setz-Sequenz abgeleitet ist.
  15. Verfahren gemäß Anspruch 14, weiter aufweisend: Ausgeben eines geeigneten Schreib-Passwortes, wobei das Ausführen der zwei oder mehr geeigneten Rücksetz-Sequenzen Bereitstellen des geeigneten Schreib-Passwortes umfasst.
  16. Verfahren gemäß Anspruch 14, weiter aufweisend: Ausgeben eines geeigneten Lese-Passwortes, wobei das Durchführen des geeigneten Lesens Bereitstellen des geeigneten Lese-Passwortes umfasst.
  17. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei eine erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine erste Amplitude hat und eine zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen eine zweite Amplitude hat, die unterschiedlich von der ersten Amplitude ist.
  18. Verfahren gemäß Anspruch 17, wobei die erste der geeigneten Rücksetz-Sequenzen ist, eine logische ”0” zu schreiben und wobei die zweite der geeigneten Rücksetz-Sequenzen ist, eine logische ”1” zu schreiben.
  19. Verfahren gemäß Anspruch 18, wobei das Schreiben des Musters zu der Phasenwechselspeichermatrix durch eine interne Zustandsmaschine durchgeführt wird.
  20. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem All-Zero-Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix umfasst und wobei das Muster ein Non-All-Zero-Muster ist.
  21. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei das Ausführen der Setz-Sequenz auf der Phasenwechselspeichermatrix das Ausführen der Setz-Sequenz mit einem ersten Musterziel für die Phasenwechselspeichermatrix umfasst und wobei das Muster ein zweites Muster ist, das unterschiedlich von dem ersten Muster ist.
  22. Verfahren gemäß Anspruch 14, das weiter aufweist: Einstellen einer internen Lesereferenz, um eine Marge zum Erhalten der Muster aufrecht zu erhalten.
  23. Verfahren gemäß Anspruch 14, das weiter aufweist: nachfolgend zum Durchführen des geeigneten Lesens, Ausführen von zwei oder mehr zusätzlichen geeigneten Rücksetz-Sequenzen auf der Phasenwechselspeichermatrix, um das Muster in der Phasenwechselspeichermatrix neu zu verstecken.
DE112009005490T 2009-12-31 2009-12-31 Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix Pending DE112009005490T5 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IT2009/000603 WO2011080784A1 (en) 2009-12-31 2009-12-31 Methods for a phase-change memory array

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112009005490T5 true DE112009005490T5 (de) 2013-01-24

Family

ID=42133652

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112009005490T Pending DE112009005490T5 (de) 2009-12-31 2009-12-31 Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix

Country Status (7)

Country Link
US (5) US9251897B2 (de)
JP (1) JP5500468B2 (de)
KR (1) KR101546890B1 (de)
CN (1) CN103222005B (de)
DE (1) DE112009005490T5 (de)
TW (1) TWI501233B (de)
WO (1) WO2011080784A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9251897B2 (en) 2009-12-31 2016-02-02 Micron Technology, Inc. Methods for a phase-change memory array

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9471793B2 (en) * 2013-01-07 2016-10-18 Infineon Technologies Ag System on chip with embedded security module
US9424442B2 (en) 2013-11-27 2016-08-23 Huawei Technologies Co., Ltd. Nonvolatile memory and electronic device
CN103631732B (zh) * 2013-11-27 2016-09-07 华为技术有限公司 非易失存储器及电子设备
US10922292B2 (en) 2015-03-25 2021-02-16 WebCloak, LLC Metamorphic storage of passcodes
US10180796B2 (en) * 2015-10-16 2019-01-15 SK Hynix Inc. Memory system
US10191664B2 (en) * 2015-10-16 2019-01-29 SK Hynix Inc. Memory system
US10249351B2 (en) 2016-11-06 2019-04-02 Intel Corporation Memory device with flexible internal data write control circuitry

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5748807A (en) * 1992-10-09 1998-05-05 Panasonic Technologies, Inc. Method and means for enhancing optical character recognition of printed documents
FR2711833B1 (fr) 1993-10-28 1995-12-01 Sgs Thomson Microelectronics Circuit intégré contenant une mémoire protégée et système sécurisé utilisant ledit circuit intégré.
US5583819A (en) * 1995-01-27 1996-12-10 Single Chip Holdings, Inc. Apparatus and method of use of radiofrequency identification tags
US6141241A (en) * 1998-06-23 2000-10-31 Energy Conversion Devices, Inc. Universal memory element with systems employing same and apparatus and method for reading, writing and programming same
US7788553B2 (en) * 2000-01-06 2010-08-31 Super Talent Electronics, Inc. Mass production testing of USB flash cards with various flash memory cells
WO2001089183A1 (en) 2000-05-16 2001-11-22 John Taschereau Method and system for providing geographically targeted information and advertising
US6850432B2 (en) * 2002-08-20 2005-02-01 Macronix International Co., Ltd. Laser programmable electrically readable phase-change memory method and device
US7962361B2 (en) 2002-11-07 2011-06-14 Novitaz Customer relationship management system for physical locations
JP2004164766A (ja) * 2002-11-14 2004-06-10 Renesas Technology Corp 不揮発性記憶装置
US7688621B2 (en) 2003-06-03 2010-03-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system, memory device and apparatus including writing driver circuit for a variable resistive memory
US6944041B1 (en) * 2004-03-26 2005-09-13 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. Circuit for accessing a chalcogenide memory array
KR100587702B1 (ko) * 2004-07-09 2006-06-08 삼성전자주식회사 피크 전류의 감소 특성을 갖는 상변화 메모리 장치 및그에 따른 데이터 라이팅 방법
US20060056227A1 (en) * 2004-09-10 2006-03-16 Parkinson Ward D One time programmable phase change memory
JP4282612B2 (ja) * 2005-01-19 2009-06-24 エルピーダメモリ株式会社 メモリ装置及びそのリフレッシュ方法
WO2007036050A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Mosaid Technologies Incorporated Memory with output control
JP4628935B2 (ja) 2005-11-19 2011-02-09 エルピーダメモリ株式会社 不揮発性半導体記憶装置
US8947233B2 (en) * 2005-12-09 2015-02-03 Tego Inc. Methods and systems of a multiple radio frequency network node RFID tag
US7531825B2 (en) * 2005-12-27 2009-05-12 Macronix International Co., Ltd. Method for forming self-aligned thermal isolation cell for a variable resistance memory array
US7844879B2 (en) * 2006-01-20 2010-11-30 Marvell World Trade Ltd. Method and system for error correction in flash memory
US20110093340A1 (en) 2006-01-30 2011-04-21 Hoozware, Inc. System for providing a service to venues where people perform transactions
US8121237B2 (en) * 2006-03-16 2012-02-21 Rambus Inc. Signaling system with adaptive timing calibration
JP5008947B2 (ja) 2006-10-30 2012-08-22 京セラ株式会社 無線通信端末及び無線通信方法
US7692949B2 (en) 2006-12-04 2010-04-06 Qimonda North America Corp. Multi-bit resistive memory
KR20080060918A (ko) * 2006-12-27 2008-07-02 삼성전자주식회사 상변화 메모리 소자와 그 제조 및 동작 방법
JP5100292B2 (ja) * 2007-10-05 2012-12-19 株式会社東芝 抵抗変化メモリ装置
KR101291222B1 (ko) * 2007-11-29 2013-07-31 삼성전자주식회사 상변화 메모리 소자의 동작 방법
US8269208B2 (en) * 2008-03-07 2012-09-18 Ovonyx, Inc. Memory device
KR20090123244A (ko) * 2008-05-27 2009-12-02 삼성전자주식회사 상 변화 메모리 장치 및 그것의 쓰기 방법
WO2010030392A2 (en) 2008-09-12 2010-03-18 Dimitris Achlioptas Interpersonal spacetime interaction system
WO2010076834A1 (en) * 2008-12-31 2010-07-08 Ferdinando Bedeschi Reliable set operation for phase-change memory cell
US20100226168A1 (en) * 2009-03-04 2010-09-09 Savransky Semyon D Programming methods for phase-change memory
US8107306B2 (en) * 2009-03-27 2012-01-31 Analog Devices, Inc. Storage devices with soft processing
US20100317371A1 (en) 2009-06-12 2010-12-16 Westerinen William J Context-based interaction model for mobile devices
US8809829B2 (en) * 2009-06-15 2014-08-19 Macronix International Co., Ltd. Phase change memory having stabilized microstructure and manufacturing method
US9378507B2 (en) 2009-06-17 2016-06-28 1020, Inc. System and method of disseminating electronic content utilizing geographic and time granularities
JP5178637B2 (ja) * 2009-06-18 2013-04-10 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
KR101546890B1 (ko) 2009-12-31 2015-08-25 마이크론 테크놀로지, 인크. 위상 변화 메모리 어레이를 위한 방법
US20110184945A1 (en) 2010-01-22 2011-07-28 Qualcomm Incorporated Location aware recommendation engine

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IEEE 802.16-2005
Normen IEEE 802.11

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9251897B2 (en) 2009-12-31 2016-02-02 Micron Technology, Inc. Methods for a phase-change memory array
US9851913B2 (en) 2009-12-31 2017-12-26 Micron Technology, Inc. Methods for operating a memory array
US10216438B2 (en) 2009-12-31 2019-02-26 Micron Technology, Inc. Methods and related devices for operating a memory array
US10416909B2 (en) 2009-12-31 2019-09-17 Micron Technology, Inc. Methods for phase-change memory array
US11003365B2 (en) 2009-12-31 2021-05-11 Micron Technology, Inc. Methods and related devices for operating a memory array

Also Published As

Publication number Publication date
JP5500468B2 (ja) 2014-05-21
KR101546890B1 (ko) 2015-08-25
WO2011080784A1 (en) 2011-07-07
US20160162213A1 (en) 2016-06-09
JP2013516724A (ja) 2013-05-13
US20140376306A1 (en) 2014-12-25
CN103222005A (zh) 2013-07-24
US10416909B2 (en) 2019-09-17
TWI501233B (zh) 2015-09-21
CN103222005B (zh) 2016-08-24
US9251897B2 (en) 2016-02-02
US10216438B2 (en) 2019-02-26
US9851913B2 (en) 2017-12-26
US20180095687A1 (en) 2018-04-05
US11003365B2 (en) 2021-05-11
KR20120125265A (ko) 2012-11-14
US20190155528A1 (en) 2019-05-23
US20190391751A1 (en) 2019-12-26
TW201142843A (en) 2011-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112009005490T5 (de) Verfahren für eine Phasenwechselspeichermatrix
DE112008004246B4 (de) Temperaturalarm und Niedrig-Raten-Auffrischen für einen nichtflüchtigen Speicher
DE102013108394A1 (de) Verfahren zum Verwalten eines Schlüssels für sicheres Speichern von Daten und Vorrichtung dafür
DE112008000968T5 (de) Nicht-flüchtiger Speicher mit erweitertem Betriebstemperaturbereich
DE112018000228T5 (de) System und Verfahren zur Verarbeitung und Arbitrierung von Übermittlungs- und Beendigungswarteschlangen
JP2010282630A (ja) 実行可能な不揮発性メモリにおいて実行可能プログラムの一部を動作させる方法
DE112012006172T5 (de) Generischer Adressen-Scrambler für Speicherschaltungs-Testengine
DE102015114592A1 (de) Speichervorrichtung, Speichersystem und Verfahren zum Steuern einer Speichervorrichtung
EP2930610A2 (de) Zufallszahlengenerator und Verfahren zum Erzeugen von Zufallszahlen
US10809925B2 (en) Configurable security memory region
US20110069538A1 (en) Multi-level cell programming of pcm by varying the reset amplitude
DE102015106656A1 (de) Kombinierte auswahl-schreibtechnik für kreuzpunktspeicher
KR102112115B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 그것의 데이터 프로그램 방법
DE112021000215T5 (de) Speichersystem mit verschlüsselten Telemetriedaten einer Datenspeicherungsvorrichtung
CN104241526B (zh) 相变化存储器、其写入方法及其读取方法
DE112018006392T5 (de) Leistungspegeleinstellungen in arbeitsspeichervorrichtungen
DE102022000091A1 (de) Verwaltung verschlüsselter schlüssel
CN103338107B (zh) 密钥生成方法及密钥生成装置
DE102013112897B4 (de) Nichtflüchtiger Speicher und Verfahren zum Betreiben eines nichtflüchtigen Speichers
CN116705117A (zh) 存储器的访问方法及装置
TW201824282A (zh) 半導體記憶體裝置,晶片識別碼產生方法與製造方法
WO2013061191A1 (en) Conditioning phase change memory cells
CN114527699A (zh) 射频信号的控制方法、装置、可编程器件和存储介质
CN116705114A (zh) 存储器的数据写入方法及装置
KR20160007790A (ko) 데이터 저장 장치 및 그것의 동작 방법

Legal Events

Date Code Title Description
R082 Change of representative

Representative=s name: BARDEHLE PAGENBERG PARTNERSCHAFT MBB PATENTANW, DE

Representative=s name: BARDEHLE PAGENBERG PARTNERSCHAFT PATENTANWAELT, DE

R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication