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Hintergrund der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft allgemein das Prüfen von Halbleiterbauelementen
und betrifft insbesondere ein Verfahren und eine Vorrichtung, um gebrochene
Stifte in einem Testsockel zu erkennen.
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Halbleiterchips
werden für
gewöhnlich
in großen
Zahlen auf Scheiben aus Halbleitermaterial, beispielsweise aus Silizium,
hergestellt. Nachdem die Chips aus den Scheiben vereinzelt wurden,
werden diese Chips einzeln in beispielsweise Kunststoffgehäuse oder
keramische Gehäuse
eingebracht. Ein Anschlussrahmen kann für die Aufnahme des Chips zur
Drahtverbindung und das Eindringen in das Gehäuse sorgen und das Anschlusssystem
für das
vollständige
Gehäuse
bereitstellen. Im Allgemeinen wird die elektrische Schaltung, die
auf dem Chip ausgebildet ist, mit Anschlussflächen auf dem Chip gekoppelt, um
damit eine Verbindung der elektrischen Schaltung mit der Außenwelt
zu ermöglichen.
Während des
Vorgangs für
die Drahtanbindung und das Einbringen in ein Gehäuse wird jede Anschlussfläche elektrische
mittels Anschlussdrähten
mit dem Anschlussrahmen verbunden. Die elektrische Verbindung umfasst
eine Drahtverbindung, die auf der Anschlussfläche gebildet wird, einen Anschlussdraht und
eine Drahtverbindung, die an dem Anschlussrahmen hergestellt wird.
Ein einhüllendes
Materials schützt
und isoliert den Chip und dieser wird in einem Gehäuse montiert,
das externe Anschlussstifte aufweist, um die elektrische Schaltung
auf dem Chip über
die Drahtverbindungen mit der Außenwelt zu verbinden.
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In
ein Gehäuse
eingebrachte Bauelemente werden typischerweise in Sockel auf automatischen Prüfanlagen
eingefügt,
um diverse Funktionsprüfungen
und Leistungsprüfungen
vor der Auslieferung an einen Kunden durchzuführen. Ein Beispiel einer Prüfung, die
an einem Chip in einem Gehäuse
ausgeführt
wird, wird üblicherweise
als „Einbrenntest” bezeichnet.
Der Einbrenntest bzw. burn-in-Test beinhaltet das beschleunigte
Belasten der Teile durch Anwenden von Betriebsbedingungen mit einem
Belastungspegel für
das Bauelement derart, dass vorzeitige Auftreten von Ausfällen zu
beschleunigen, die ansonsten auftreten können, wenn das Bauelement in einem
Produkt eingebaut ist. Das Einbrennen beinhaltet im Allgemeinen
das Erhöhen
der Temperatur eines Bauelements über die normalen Betriebs bedingungen
hinaus und das elektrische Beaufschlagen des Bauelements. Es können selbstverständlich auch
andere Arten von Prüfprogrammen
eingerichtet werden, um Leistungsstufen und Betriebseigenschaften
zu verifizieren/zu ermitteln.
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In
einem typischen Testgerät
werden viele Sockel verwendet, um das Prüfen mehrerer Bauelemente parallel
oder der Reihe nach zu ermöglichen. Die
Sockel sind auf einer Schaltungsplatine montiert, über die
diverse elektrische Signale gemäß einem Prüfprogramm
bereitgestellt werden, um die erforderlichen Prüfungen einzurichten. Es werden
Bauelemente unter Test (DUT) in die Sockel mittels automatischer
Handhabungsanlagen eingefügt,
die jedes DUT zu einem Sockel ausrichten und eine Kraft für das Einfügen ausüben, um
das Bauelement in dem Sockel anzuordnen.
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Während des
Vorgangs des Einfügens
ist es möglich,
dass ein oder mehrere Anschlussstifte des DUT's nicht in ausreichender Weise zu den
entsprechenden Kontaktlöchern
in dem Sockel so justiert sind, dass der Anschlussstift in korrekter
Weise eingeführt
oder platziert werden kann. In einigen Fällen wird der Anschlussstift
im Sockel gebogen, gebrochen oder verkantet. Abhängig von dem speziellen Anschlussstift,
der geschädigt
ist und abhängig
von der Natur der Schädigung
kann das Bauelement den Funktionstest erfolgreich oder nicht erfolgreich durchlaufen.
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Wenn
das Bauelement aus dem Sockel entfernt wird, kann ein geschädigter Anschlussstift
ggf. in dem Sockel verbleiben. Wenn nachfolgend ein anderes DUT
in den Sockel eingeführt
wird, kann der entsprechende Anschlussstift nicht in dem Sockel eingeführt werden,
da das Kontaktloch bereits gefüllt ist.
Als Folge davon kann der Anschlussstift des zweiten DUT's selbst geschädigt werden.
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Häufig wird
ein gebrochener Anschlussstift nicht erkannt, bis nicht eine Fehlertendenz
erkannt wird, und es wird eine nachfolgende manuelle Inspektion
ausgeführt,
um die Funktionsfähigkeit
des Sockels zu verifizieren. Während
der Zeitverzögerung
zwischen dem auftretenden Problem und der Problembehebung können mehrere
Bauelemente geschädigt
werden oder die mit den Bauelementen verknüpften Prüfergebnisse können beeinträchtigt sein.
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Dieser
Abschnitt dieser Anmeldung soll in diverse Aspekte des Stands der
Technik einführen,
die zu den diversen Aspekten der vorliegenden Erfindung, wie sie
nachfolgend beschrieben und/oder beansprucht ist, in Beziehung stehen
können.
Dieser Abschnitt liefert Hintergrundinformation, um ein besseres
Verständnis
der diversen Aspekte der vorliegenden Erfindung zu ermöglichen.
Zu beachten ist, dass die Aussagen in diesem Abschnitt dieser Anmeldung
unter diesem Hintergrund zu verstehen sind und keine Abhandlungen
des Stands der Technik darstellen. Die vorliegende Erfindung zielt
darauf ab, eines oder mehrere der oben erkannten Probleme zu lösen oder
zumindest die Auswirkungen zu reduzieren.
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Kurzer Überblick über die Erfindung
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Das
Folgende stellt eine vereinfachte Zusammenfassung der Erfindung
dar, um ein grundlegendes Verständnis
einiger Aspekte der Erfindung zu ermöglichen. Diese Zusammenfassung
ist kein erschöpfender Überblick über die
Erfindung. Es ist nicht beabsichtigt, wesentliche oder kritische
Elemente der Erfindung anzugeben oder den Schutzbereich der Erfindung
abzugrenzen. Der Zweck ist lediglich darin zu sehen, einige Konzepte
in vereinfachter Form als Einleitung für die detailliertere Beschreibung,
die nachfolgend angegeben ist, darzulegen.
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Ein
Aspekt der vorliegenden Erfindung wird in einem Verfahren gesehen,
das das Prüfen
eines Testsockels nach dem Entfernen eines zu prüfenden Bauelements enthält, um Prüfdaten zu
erzeugen. Die Prüfdaten
werden mit Referenzdaten verglichen. Die Anwesenheit zumindest eines
Teils eines Anschlussstiftes im Testsockel wird auf Grundlage des
Vergleichs ermittelt.
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Ein
weiterer Aspekt der vorliegenden Erfindung wird in einem Testsystem
gesehen, das einen Testsockel, eine Prüfeinrichtung und eine Steuereinheit
aufweist. Der Testsockel ist ausgebildet, zu prüfende Bauelemente aufzunehmen.
Die Prüfeinheit
ist ausgebildet, einen Testsockel nach dem Entfernen eines zu prüfenden Bauelements
zu prüfen,
um Prüfdaten
zu erzeugen. Die Steuereinheit ist ausgebildet, die Prüfdaten mit
Referenzdaten zu vergleichen und das Vorhandenseins zumindest eines
Teils eines Anschlussstiftes in dem Testsockel auf der Grundlage des
Vergleichs zu erkennen.
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Kurze Beschreibung der diversen
Darstellungen der Zeichnungen
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Im
Weiteren wird die Erfindung in Bezug zu den begleitenden Zeichnungen
beschrieben, wobei gleiche Bezugszeichen gleiche Elemente bezeichnen
und wobei:
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1 eine
vereinfachte Blockansicht eines Testsystems gemäß einer anschaulichen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ist;
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2 eine
Draufsicht eines Sockels ist, der in dem Testsystem aus 1 verwendet
wird;
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3 eine
Teilansicht des Systems aus 1 ist, wobei
eine optische Prüf-
bzw. Abtasteinrichtung dargestellt ist;
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4 eine
Teilansicht des Systems aus 1, wobei
eine Prüfeinrichtung
gezeigt ist, die ein Bild des Testsockels erzeugt;
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5 eine
Teilansicht des Systems aus 1 ist, wobei
eine elektrische Prüfeinrichtung
gezeigt ist;
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6a, 6b und 6c diverse
beispielhafte Kontaktanordnungen zeigen, die in dem Testsockel in
Verbindung mit der elektrischen Prüfeinrichtung aus 5 verwendet
werden können;
und
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7 ein
vereinfachtes Flussdiagramm ist, um einen geschädigten Anschlussstift in dem
Testsockel aus 2 gemäß einer weiteren anschaulichen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zu erkennen.
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Obwohl
die Erfindung diversen Modifizierungen und alternativen Formen unterliegen
kann, sind dennoch spezielle Ausführungsformen beispielhaft in den
Zeichnungen dargestellt und werden hierin detaillierter beschrieben.
Zu beachten ist jedoch, dass die Beschreibung spezieller Ausführungsformen nicht
beabsichtigt, die Erfindung auf die speziellen offenbarten Formen
einzuschränken,
sondern die Erfindung soll vielmehr alle Modifizierungen, Äquivalente
und Alternativen abdecken, die innerhalb des Grundgedankens und
Schutzbereichs der Erfindung liegen, wie sie durch die angefügten Patentansprüche definiert
ist.
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Detaillierte Beschreibung
der Erfindung
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Im
Folgenden werden eine oder mehrere spezielle Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Es ist insbesondere beabsichtigt, dass
die vorliegende Erfindung nicht auf die Ausführungsformen und Darstellungen,
die darin enthalten sind, eingeschränkt ist, sondern dass modifizierte Formen
dieser Ausführungsformen
mit eingeschlossen sind, in denen Teile der Ausführungsformen und Kombinationen
von Elementen unterschiedliche Ausführungsformen enthalten sind,
wie sie im Schutzbereich der folgenden Patentansprüche liegen.
Es sollte beachtet werden, dass bei der Entwicklung derartiger tatsächlicher
Implementierungen wie in jedem technischen Projekt oder Entwurfsprojekt
diverse implementationsspezifische Entscheidungen getroffen werden
müssen,
um die speziellen Ziele der Entwickler zu erreichen, etwa die Verträglichkeit
mit systemabhängigen
und geschäftsabhängigen Rahmenbedingungen,
die sich von einer Implementierung zur anderen unterscheiden können. Es
sollte jedoch beachtet werden, dass ein derartiger Entwicklungsaufwand
komplex und zeitaufwendig sein können,
aber dennoch eine Routinemaßnahme
hinsichtlich des Entwurfs, der Herstellung und der Fabrikation für den Fachmann
darstellt, der im Besitze der vorliegenden Offenbarung ist. In dieser
Anmeldung ist nichts als kritisch oder essentiell für die vorliegende
Erfindung zu verstehen, sofern dies nicht als „wesentlich” oder „essentiell” bezeichnet
ist.
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Die
vorliegende Erfindung wird nunmehr mit Bezug zu den begleitenden
Zeichnungen beschrieben. Diverse Strukturen, Systeme und Bauelemente sind
in den Zeichnungen zum Zwecke der Erläuterung lediglich schematisch
dargestellt, um das Wesen der vorliegenden Erfindung nicht durch
Details zu verdunkeln, die dem Fachmann bekannt sind. Dennoch sind
die angefügten
Zeichnungen hierin enthalten, um anschauliche Beispiele der vorliegenden
Erfindung zu beschreiben und zu erläutern. Die Terme und Begriffe,
wie sie hierin verwendet sind, sollten so verstanden und interpretiert
werden, dass diese eine Bedeutung besitzen, wie dies konsistent
ist mit dem Verstehen dieser Terme und Begriffe, wenn sie vom Fachmann
verwendet werden. Es ist keine spezielle Definition eines Terms
oder eines Begriffes beabsichtigt, d. h. eine Definition, die sich
von der normalen und üblichen
Bedeutung unterscheidet, wie sie vom Fachmann verstanden wird, wenn
ein entsprechender Term oder ein Begriff hierin konsistent verwendet wird.
Wenn ein Begriff oder ein Term eine spezielle Bedeutung haben soll,
d. h. eine Bedeutung, die sich von jener des Fachmanns unterscheidet,
wird eine derartige spezielle Definition explizit in der Beschreibung
in definierender Weise angegeben, so dass direkt und unzweideutig
die spezielle Definition für
diesen Term oder Begriff bereitgestellt wird.
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Bezugnehmend
auf die Zeichnungen, in denen gleiche Bezugszeichen durchwegs in
den Ansichten die gleichen Komponenten angeben, und insbesondere
unter Bezugnahme auf die 1 wird die vorliegende Erfindung
im Zusammenhang eines Testsystems 100 beschrieben. Das
Testsystem 100 enthält
eine Testeinheit 110 mit einem Testsockel 120 und
einer Testschaltung 130, einer Abtast- bzw. Prüfeinrichtung 140,
einer Steuereinheit 150 und einer Datenbank 160.
Das Testsystem 100 nimmt ein zu prüfendes Bauelement 170 in
dem Testsockel 120 auf und führt Prüfvorgänge durch, um die Funktion
zu verifizieren oder um Leistungseigenschaften des zu prüfenden Bauelements 170 zu
bestimmen.
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Zur
Vereinfachung der Darstellung und zur Vermeidung einer komplizierteren
Darstellung der Merkmale der Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung
sind nicht alle Teile des Testsystems 100 dargestellt.
Beispielsweise wird typischerweise ein automatisierter Materialhandhabungsmechanismus (beispielsweise
ein Roboterarm) verwendet, um das zu prüfende Bauelement 170 in
den Testsockel 120 einzufügen. Des weiteren kann die
Testeinheit 110 mehrere Testsockel 120 aufweisen,
um ein sequenzielles oder paralleles Prüfen mehrerer zu prüfender Bauelemente 170 mittels
Testschaltung 130 zu ermöglichen. Im allgemeinen ist
die spezielle Art der Prüfung,
die von der Testeinheit 110 ausgeführt wird, nicht Gegenstand
der Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung. Der Fachmann kennt die Prüfvorgänge, die
ausgeführt
werden, und kennt den Aufbau der Testschaltung 130, wie
dies zum Einrichten der Prüfungen
erforderlich ist. Obwohl die Prüfeinrichtung 140 und
die Steuereinheit 150 als unterschiedliche Einheiten dargestellt
sind, sollte beachtet werden, dass diese auch in einer einzelnen
Einheit zusammengefasst sein können
oder eine oder beide Einheiten in der Testeinheit 110 untergebracht
sein können.
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Die
Abtast- bzw. Prüfeinheit 140 prüft den Testsockel 120 bzw.
tastet diesen ab (beispielsweise optisch oder elektrisch) zwischen
den Einfügevorgängen für zu prüfende Bauelemente 170,
um geschädigte
Anschlussstifte zu erkennen, die sich von einem zu prüfenden Bauelement 170 abgelöst haben und
die während
des Vorgangs zum Einführen
und Entfernen in dem Testsockel 120 vorhanden sind. Durch
Prüfen
des Sockels zwischen den Einführvorgängen wird
der Durchsatz des Testsystems 100 nicht verringert. Die
Häufigkeit des
Prüfens
kann in Abhängigkeit
von der speziellen Ausführungsform variieren.
Beispielsweise wird der Testsockel 120 nach jedem Einfügen eines
zu prüfenden
Bauteilelements 170 abgetastet bzw. geprüft. Alternativ
kann die Prüfung
bei einer vorgegebenen Häufigkeit
(beispielsweise nach jeder 5. Einfügung) durchgeführt werden.
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Die
Prüfeinrichtung 140 übermittelt
Prüfergebnisse
an die Steuereinheit 150, die die Prüfdaten analysiert, um einen
möglichen
Stift zu erkennen, der in dem Testsockel 120 vorhanden
ist. Die Steuereinheit 150 speichert die Prüfdaten in
der Datenbank 160. In einigen Ausführungsformen kann die Steuereinheit 150 alle
Prüfresultate
speichern, während
in anderen Ausführungsformen
die Steuereinheit 150 lediglich Prüfdaten speichert, die mit vermutlich
geschädigten
Anschlussstiften verknüpft
sind.
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Es
sei kurz auf die 2 verwiesen, in der eine Draufsicht
des Testsockels 120 gezeigt ist. Der Testsockel 120 enthält mehrere Öffnungen 200 zur Aufnahme
von Anschlussstiften des zu prüfenden Bauelements 170.
Ein geschädigter
Stift 210 ist in einer der Öffnungen 200 vorhanden.
Der geschädigte Stift 210 bewirkt,
dass sich Eigenschaften des Testsockels 120 im Vergleich
zu einem Referenzzustand ändern.
Die von der Prüfeinrichtung 140 ausgeführten Messungen
ermöglichen
es der Steuereinheit 150, die geänderten Eigenschaften zu erkennen,
um damit den geschädigten
Stift 210 zu erkennen. Die spezielle Anordnung des Testsockels 120 in
Bezug auf die Anzahl und die Konfiguration von Öffnungen 200 kann
sich abhängig
von der speziellen Ausführungsform
und dem Aufbau des zu prüfenden
Bauelements 170 ändern.
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In
einigen Ausführungsformen
ist die Prüfeinrichtung 140 eine
optische Prüfeinrichtung,
die den Testsockel 120 mittels Beleuchtung oder durch Aufnahme
eines Bildes des Testsockels 120 prüft bzw. abtastet. In anderen
Ausführungsformen
ist die Prüfeinrichtung 140 eine
elektrische Prüfeinrichtung, die
die elektrischen Eigenschaften des Testsockels 120 (beispielsweise
Widerstand) bewertet, um das Vorhandensein des geschädigten Stiftes 210 zu
erkennen.
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In
einer ersten in 3 gezeigten Ausführungsform
enthält
die Prüfeinrichtung 140 eine
Lichtquelle 300 (beispielsweise einen Laser) und einen Detektor 310,
der ausgebildet ist, Eigenschaften (beispielsweise Intensität bei einer
oder mehreren Frequenzen) von Licht zu messen, das aus der Lichtquelle
stammt und von dem Testsockel 120 zu dem Detektor 130 reflektiert
wird. Die Orientierung der Lichtquelle 300 in Bezug auf
den Detektor 310 kann abhängig von der speziellen Ausführungsform
unterschiedlich sein. Auch die Geometrie der Lichtquelle 300 und
des Detektors 310 kann sich von dem gezeigten Beispiel
unterscheiden. In der dargestellten Ausführungsform sind die Lichtquelle 300 und
der Detektor 310 in einer speziellen Orientierung in Bezug
auf den Testsockel 120 angeordnet.
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Die
optischen Prüfdaten
werden mit Referenzdaten verglichen, um eine Diskrepanz zu erkennen,
die auf das Vorhandensein eines Stiftes in dem Testsockel 120 hindeutet.
Beispielsweise können
die gemessenen Prüfdaten
mit einem Referenzintensitätsschwellwert
verglichen werden. Das Vorhandensein eines Stiftes kann in Reaktion
auf die gemessene Intensität
erkannt werden, wenn ein vorbestimmter Schwellwert nicht eingehalten
wird, d. h. wenn dieser über-
oder unterschritten wird abhängig von
den optischen Eigenschaften des Testsockels 120 und/oder
der Anschlussstifte. Die Prüfeinrichtung 140 kann
den gesamten Testsockel 120 untersuchen oder alternativ
kann die Prüfeinrichtung 140 einen
Teil des Testsockels 120 prüfen und Ergebnisse für jede Teiluntersuchung
an die Steuereinheit 150 berichten.
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In
einer weiteren in 4 gezeigten Ausführungsform
nimmt die Prüfeinrichtung 140 ein
Bild 400 des Testsockels 120 auf und vergleicht
das aufgenommene Bild 400 mit einem Referenzbild 410,
um den geschädigten
Stift 210 zu erkennen. Das Referenzbild 410 kann
für den
Testsockel 120 im Voraus erzeugt werden, oder das Referenzbild 410 kann
unter Anwendung eines oder mehrerer vorhergehender Abtastvorgänge des
Testsockels 120 erzeugt werden, für die bekannt ist, dass kein
geschädigter
Anschlussstift 210 vorhanden war. Durch Aktualisieren des
Referenzbildes 410 kann einer Änderung der Umgebung in der
Nähe des
Testsystems 100 (beispielsweise der Umgebungsbeleuchtung)
oder Änderungen
des Testsockels 120 auf Grund der Abnutzung Rechnung getragen
werden, wodurch die Möglichkeit
für ein
fehlerhaftes Prüfergebnis
reduziert wird.
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Diverse
Techniken können
eingesetzt werden, um das aufgenommene Bild 400 mit dem
Referenzbild 410 zu vergleichen. Beispielsweise können Pixel
oder Gruppen aus Pixeln verglichen werden, um das Vorhandensein
eines geschädigten
Stiftes 210 zu erkennen. In einer Ausführungsform, in der der Testsockel 120 dunkelfarbig
ist, erscheint ein metallischer Stift als eine deutlich hellere
Gruppe aus Pixeln. Somit kann der geschädigte Anschlussstift 210 in
Reaktion darauf erkannt werden, dass die mittlere Farbe einer Gruppe aus
Pixeln in dem aufgenommenen Bild 400 von dem erwarteten
Farbmittelwert des Referenzbildes 410 abweicht. Es können auch
andere Vergleichstechniken eingesetzt werden. In einigen Ausführungsformen
wird ein Vergleich zwischen einzelnen Pixeln durchgeführt und
es werden diverse statistische Werte bestimmt, etwa mittlerer Absolutfehler,
mittlerer quadratischer Fehler, Wurzel des mittleren quadratischen
Fehlers, quadratischer Fehlerspitzenwert (Signal-zu-Rauschen-Verhältnis) am Spitzenwert,
unterschiedliche Pixelzahl, etc. Es werden einer oder mehrere der
unterschiedlichen statistischen Werte verglichen, um zu bestimmen,
ob das aufgenommene Bild 400 in ausreichender Weise sich von
dem Referenzbild 410 unterscheidet, um damit auf das Vorhandensein
eines oder mehrerer geschädigter
Anschlussstifte 210 hinzuweisen.
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In
einer weiteren Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung, die in 5 gezeigt
ist, ist die Prüfeinrichtung 410 elektrisch
mit dem Testsockel 120 verbunden, um eine elektrische Prüfung des Testsockels 120 auszuführen, um
damit den geschädigten
Stift 210 zu erkennen. Die Prüfeinrichtung 140 kommuniziert
mit der Testschaltung 130 oder ist in dieser integriert.
Die Prüfeinrichtung 140 führt einen elektrischen
Test an dem Testsockel 120 aus, um die Anwesenheit eines
geschädigten
Stiftes 210 zu bestimmen. Eine anschauliche elektrische
Prüfung
zum Bestimmen der Anwesenheit eines geschädigten Stiftes 210 ist
eine Prüfung
auf Durchgang oder ein Signaleinspeisetest.
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Es
sei kurz auf die Querschnittsansichten der 6a bis 6c verwiesen,
in denen der Testsockel 120 Kontakte 600, 610 aufweist,
die normalerweise nicht miteinander in Verbindung sind. Beispielsweise
repräsentiert
der Kontakt 600 einen Testkontakt, der für die Funktionsprüfung des
zu prüfenden
Bauelements 170 verwendet wird, und der Kontakt 610 ist
ein Abtastkontakt, der lediglich für das Erkennen des geschädigten Stiftes 210 verwendet wird.
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Während der
Prüfung
prüft die
Prüfeinrichtung 140 den
Durchgang zwischen dem Testkontakt 600 und dem Prüfkontakt 610.
Alternativ kann die Prüfeinrichtung 140 ein
Signal am Prüfkontakt 610 einspeisen
und die Testschaltung 130 abfragen, um zu bestimmen, ob
das Signal an dem Testkontakt 600 vorhanden ist. Wenn ein
Durchgang oder eine Reaktion auf das Signal vorhanden ist, ist es
wahrscheinlich, dass ein geschädigter
Anschlussstift 210 in der Öffnung 200 vorhanden
ist.
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Die
Orientierung der Kontakte 600, 610 kann sich in
Abhängigkeit
der speziellen Ausführungsform ändern. Beispielsweise
sind beide Kontakte 600, 610 in der Seitenwand
der Öffnung 200 angeordnet,
wie in 6a gezeigt ist. In einer weiteren
Ausführungsform,
die in 6b gezeigt ist, ist ein Kontakt 600, 610 an
einer Seitenwand der Öffnung 200 angeordnet,
und der andere Kontakt 600, 610 ist an der Unterseite
der Öffnung 200 angeordnet.
In einer noch weiteren Ausführungsform,
die in 6c gezeigt ist, sind zwei Prüfkontakte 610, 620 vorgesehen,
um zu ermöglichen,
dass die Prüfung
unabhängig
zu dem Testkontakt 600 durchgeführt werden kann. In einer derartigen
Ausführungsform
muss die Prüfeinrichtung 140 nicht
mit der Testschaltung 120 kommunizieren, um zu bestimmen,
ob ein Durchgang oder eine Signalantwort vorhanden ist.
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Es
sei wieder auf 1 verwiesen; die Prüfeinrichtung 140 liefert
die Prüfergebnisse
an die Steuereinheit 150, die die Prüfergebnisse analysiert, um
das Vorhandensein eines geschädigten
Stiftes 210 zu erkennen. Im Falle einer optischen Prüfeinrichtung 140 vergleicht
die Steuereinheit 150 die Prüfdaten mit Referenzdaten, indem
beispielsweise eine gemessene Intensität mit einer Referenzintensität verglichen
wird oder indem ein aufgenommenes Bild mit einem Referenzbild verglichen
wird, um einen geschädigten
Stift 210 zu erkennen. Im Falle einer elektrischen Prüfeinrichtung 140 vergleicht
die Steuereinheit 140 die gemessenen elektrischen Prüfdaten mit
Referenzdaten (beispielsweise kein Durchgang oder keine Signalantwort),
um die mögliche
Anwesenheit des geschädigten
Stiftes 210 zu erkennen.
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Nach
dem Erkennen eines möglichen
geschädigten
Anschlussstiftes 210 kann die Steuereinheit 210 diverse
Korrekturaktivitäten
ausführen.
In einer Ausführungsform
unterrichtet die Steuereinheit 150 die Testeinrichtung 110 davon,
dass der Testsockel 120 verdächtig ist, und die Testeinheit 110 verhindert,
dass weitere zu prüfende
Bauelemente 170 in den Testsockel 120 eingeladen
werden. Diese Aktivität
verhindert, dass andere zu prüfende
Bauelemente 170 geschädigt
werden, wenn versucht wird, den Stift aus einem nachfolgenden zu
prüfenden Bauelement 170 in
eine besetzte Öffnung 200 im Testsockel 120 einzuführen. Wenn
die Testeinheit 110 mit mehreren Testsockeln 120 versehen
ist, werden die verbleibenden Sockel für zu prüfende Bauelemente 170 ohne
Unterbrechung verwendet. Eine weitere mögliche Korrekturaktivität, die die
Steuereinheit 150 ausführen
kann, besteht darin, eine elektronische Nachricht (beispielsweise
eine E-Mail) an einen Anlagenbediener zu senden, oder einen Alarm oder
eine Statusangabe zu aktivieren, die den möglicherweise geschädigten Anschlussstift 210 bezeichnen.
Eine noch weitere Aktivität,
die die Steuerein heit 150 ausführen kann, besteht darin, eine
Disponieranfrage an ein Wartungssystem (nicht gezeigt) in der Fertigungsstätte zu senden.
Das Wartungssystem kann die Testeinheit 110 automatisch
abschalten und/oder eine Wartungsaktivität disponieren, um den verdächtigen
Testsockel 120 zu inspizieren und zu reparieren.
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Die
Steuereinheit 150 kann ferner Korrekturmaßnahmen
im Hinblick auf das bzw. die zu prüfenden Bauelemente 170 ergreifen,
die seit dem vorhergehenden erfolgreichen Prüfung getestet wurden. Das letzte
zu prüfende
Bauelement 170, das getestet wurde, kann als möglicherweise
fehlerhaft eingestuft werden. In der Ausführungsform, in der mehrere
Einfügevorgänge zwischen
jedem Prüfvorgang
ausgeführt
werden, können
alle zu prüfende
Bauelemente 170, die zwischen den Prüfungen bearbeitet wurden, als
möglicherweise
fehlerhaft erkannt werden. Abhängig
davon, welches zu prüfende
Bauelement 170 für
den geschädigten
Stift 210 verantwortlich war, können jene Bauelement, die nach
dem fehlerhaften zu prüfenden
Bauelement 170 eingefügt
wurden, gebogene oder geschädigte
Stifte aufweisen.
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7 ist
ein vereinfachtes Flussdiagramm eines Verfahrens zum Bestimmen der
Verfügbarkeit eines
Testsockels. Im Verfahrensblock 700 wird ein Testsockel
zwischen den Einfügevorgängen für zu prüfende Bauelemente
abgetastet bzw. geprüft,
um Prüfdaten
zu erzeugen. Im Verfahrensblock 710 werden die Prüfdaten mit
Referenzdaten (beispielsweise einem Referenzbild, einem Intensitätsschwellwert, einem
elektrischen Schwellwert, etc.) verglichen. Im Verfahrensblock 720 wird
die Anwesenheit eines Stiftes, der in dem Testsockel vorhanden ist,
auf der Grundlage des Vergleichs erkannt.
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Die
speziellen oben offenbarten Ausführungsformen
sind lediglich anschaulicher Natur, da die Erfindung in unterschiedlicher
aber äquivalenter Weise
modifiziert und praktiziert werden kann, wie sich dies für den Fachmann
im Besitze der vorliegenden Lehre ergibt. Ferner sind keine Beschränkungen im
Hinblick auf Details des Aufbaus oder der hierin gezeigten Gestaltung
beabsichtigt, sofern dies nicht in den nachfolgenden Patentansprüchen beschrieben
ist. Es ist daher klar, dass die speziellen offenbarten Ausführungsformen
geändert
oder modifiziert werden können
und dass alle derartigen Variationen als innerhalb des Schutzbereichs
des Grundgedankens der Erfindung liegend erachtet werden. Folglich ergibt
sich der Schutzbereich aus den nachfolgenden Patentansprüchen.
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Zusammenfassung
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Ein
Verfahren umfasst das Prüfen
eines Testsockels (120) nach dem Entfernen eines zu prüfenden Bauelements
(170), um Prüfdaten
zu erzeugen. Die Prüfdaten
werden mit Referenzdaten verglichen. Die Anwesenheit zumindest eines
Teils eines Anschlussstiftes (210) in dem Testsockel (120)
wird auf der Grundlage des Vergleichs erkannt. Ein Testsystem (100)
enthält
einen Testsockel (120), eine Prüfeinrichtung (140)
und eine Steuereinheit (150). Der Testsockel (120)
ist ausgebildet, zu prüfende
Bauelemente (170) aufzunehmen. Die Prüfeinrichtung (140) ist
ausgebildet, den Testsockel (120) nach dem Entfernen eines
zu prüfenden
Bauelements (170) zu prüfen,
um Prüfdaten
zu erzeugen. Die Steuereinheit (150) ist ausgebildet, die
Prüfdaten
mit Referenzdaten zu vergleichen und die Anwesenheit zumindest eines
Teils eines Anschlussstiftes (210) in dem Testsockel (120)
auf der Grundlage des Vergleichs zu erkennen.