CN106249001B - 一种测试板 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种测试板。该测试版包括若干管脚，若干管脚被划分为两列，每列管脚均包括电流检测管脚和电压检测管脚，两列管脚沿测试板的列向中心轴镜像对称，每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称，且每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称的管脚功能相同且相互短接。本发明的测试板的两列管脚的功能和布局，沿着测试板的列向中心轴和横向中心轴镜像对称。如此，对各类测试电极排布的待测器件，能够使用无差别的封装方式进行封装，能够避免因测试电极排布不佳造成封装后不能测试的问题，能够实现电流方向随意变更的测试需求，也能够实现同时测试多处电阻的功能。

Description

一种测试板

技术领域

本发明涉及电子测试领域，具体而言，涉及一种测试板。

背景技术

电子测试领域中，若需长期监控电阻的变化，通常将待测器件以封装的形式加载在测量设备上，并使用开尔文方法进行准确的测量。如此，要求待测器件与测试设备能够匹配。

实际工作中，为实现测试结构的功能，研发人员常常设计出诸多不同排布方式的测试电极。封装生产商需要权衡与测试板匹配的引线封装方式，在进行不同测试电极的封装时是否会有引线交叉和引线过长的风险。另外，实际工作中，也会遇到需要在材质交接处或在层叠排布的结构上进行材料电阻与电流加载方向的研究，这时研究人员也必须考虑在待测材料上如何加载不同方向的电流、以及如何监测不同位置处电阻的变化，如进行电子迁移作用与电流方向的研究，或者监测电子迁移作用下发生的材料的空洞和突起处的电阻。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种测试板。

本发明实施例提供的一种测试板，包括若干管脚，所述若干管脚被划分为两列，每列管脚均包括电流检测管脚和电压检测管脚，两列管脚沿测试板的列向中心轴镜像对称，所述每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称，且每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称的管脚功能相同且相互短接。

优选的，所述测试板包括第一组功能管脚及第二组功能管脚，所述第二组功能管脚对称设置在所述第一组功能管脚的两端。

优选的，所述第一组功能管脚包括位于每列的m个短接的电流检测管脚，所述第二组功能管脚包括位于每列的n个短接的电压检测管脚。

优选的，所述测试板包括第一组功能管脚、第二组功能管脚及第三组功能管脚，所述第一组功能管脚、第二组功能管脚为电压检测管脚，所述第三组功能管脚为电流检测管脚。

优选的，所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚的每列均包括沿横向中心轴轴对称的两个管脚，所述第一组功能管脚的每列的两个管脚设置于测试板的上端和下端，所述第三组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第一组功能管脚的每列的两个管脚之间，所述第二组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第三组功能管脚的每列的两个管脚之间，且每组每列的横向中心轴镜像对称的功能管脚均短接。

优选的，所述测试板还包括与所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚任一组短接的第k组功能管脚，所述第k组功能管脚包括四个管脚，四个管脚两两一组设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间，并沿横向中心轴及列向中心轴对称。

优选的，所述第一组功能管脚以及所述第二组功能管脚的每列均包括沿横向中心轴轴对称的两个管脚，所述第一组功能管脚的每列的两个管脚设置于测试板的上端和下端，所述第二组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第一组功能管脚的每列的两个管脚之间，且每组每列的横向中心轴镜像对称的功能管脚均短接；所述第三组功能管脚每列设置有一个管脚，所述第三组功能管脚的每列的一个管脚均设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间并位于每列管脚的中央。

优选的，所述测试板还包括与所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚任一组短接的第i组功能管脚，所述第i组功能管脚包括四个管脚，四个管脚两两一组设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间，并沿横向中心轴及列向中心轴对称。

优选的，所述电流检测管脚包括电流输入管脚及电流输出管脚，所述电流输入管脚及电流输出管脚分别设置在测试板的两列。

优选的，所述电压检测管脚包括电压高端检测管脚及电压低端检测管脚，所述电压高端检测管脚及电压低端检测管脚分别设置在测试板的两列。

与现有技术相比，本发明的测试板的两列管脚的功能和布局，沿着测试板的列向中心轴和横向中心轴镜像对称。如此，不仅能够避免因待测器件测试电极排布不佳造成封装后不能测试的问题，还能够通过调转待测样品的加载方向(即翻转待测器件)，实现不同电流方向加载的测试需求。

将多个管脚并接在一起可以防止任意一个管脚与待测器件接触松动时，可以由其他并联在一起的未松动的管脚形成测试回路；及使用较大的测试电流时，还可防止单根金丝通过过大电流时发生的金丝熔断的情况。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1(a)为本发明第一较佳实施例提供的测试板的结构示意图。

图1(b)为本发明第一较佳实施例提供的测试板的另一结构示意图。

图2为本发明第一较佳实施例提供的测试板横向中心轴及列向中心轴的结构示意图。

图3为本发明第二较佳实施例提供的测试板的结构示意图，其中测试板每列管脚个数为偶数。

图4为本发明第三较佳实施例提供的测试板的结构示意图，其中测试板每列管脚个数为奇数。

主要元件符号说明

测试板10；电流输入管脚101；电流输出管脚102；电压高端检测管脚103；电压低端检测管脚104；第一组功能管脚105，105’，105”；第二组功能管脚106，106’，106”；第三组功能管脚107’，107”；第k组功能管脚108；第i组功能管脚109。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

实施例一

如图1(a)所示，是本发明较佳实施例提供的一种测试板10的结构示意图。在本实施例中，该测试板10用于电子测试领域，例如测试待测器件的电阻。

本发明的测试板10具有若干管脚，在本实施例中，该测试板10的若干管脚以双列直插式封装(dual inline-pin package，DIP)的形式排列。

请参考图2，该测试板10大致为长方形，其具有一列向中心轴YY’和一与该列向中心轴垂直的横向中心轴XX’。该测试板10的若干管脚被划分为左右两列，该左右两列管脚沿测试板10的列向中心轴YY’镜像对称。

为方便描述，本实施例重点以左列管脚为例加以介绍。该左列管脚沿测试板10的横向中心轴XX’镜像对称，其包括三个区域，即中心区域和设置在中心区域相对两端的第一区域和第二区域。

具体的，请继续参考图1(a)，左列管脚的中心区域包括m(m取大于或等于1的整数)个管脚，本实施例中，m等于5，且该5个管脚短接。对应地，右列管脚的中心区域也包括5个相互短接的管脚。并且，左列管脚的中心区域的5个管脚和右列管脚的中心区域5个管脚共同作为第一组功能管脚105。需要说明的是，左列管脚的中心区域的5个管脚和右列管脚的中心区域5个管脚不能短接。

左列管脚的第一区域和第二区域共同包括n(n取大于或等于2的偶数)个管脚，在本实施例中，n等于4，具体为第一区域包括位于中心区域上端的两个管脚，第二区域包括位于中心区域下端的两个管脚，第一区域的两个管脚和第二区域的两个管脚短接。对应的，右列管脚的上端的两个管脚与下端的两个管脚短接，与左列的第一区域和第二区域短接的管脚共同作为第二组功能管脚106。

其中，上述“短接”的含义是，直接用导线电连接，且中间不增加其他电阻(不考虑导线自身的电阻)。需要提到的是，待测器件放在测试板10上测试时，待测器件的管脚与测试板10上的管脚个数和位置都对应。

为便于测试，所述第一组功能管脚105和第二组功能管脚106的其中任意一组用来检测电流，另一组用来检测电压。例如，第一组功能管脚105可以用来检测电流，第二组功能管脚106可以用来检测电压。当然，第一组功能管脚105也可以用来检测电压，此时，第二组功能管脚106可以用来检测电流。在本实施例中，请再参考图1(a)，第一组功能管脚105用来检测电流，其中，左列管脚的中心区域的5个短接在一起的管脚作为电流输入管脚101，右列管脚的中心区域的5个管脚作为电流输出管脚102；第二组功能管脚106用来检测电压，左列管脚的第一区域和第二区域的4个管脚作为电压高端检测管脚103，右列管脚的第一区域和第二区域的4个管脚作为电压低端检测管脚104。也就是说，电流输入管脚101和电流输出管脚102构成了电流检测管脚，电压高端检测管脚103和电压低端检测管脚104构成了电压检测管脚。当待测器件管脚与测试板10上相应的功能管脚对应接入时，电流从待测器件左侧输入，从右侧输出。当水平旋转(180°旋转)待测器件，且与测试板10上相应的功能管脚对应接入时，此时，电流从待测器件右侧输入，左侧输出。如此，通过调转待测器件的加载方向，实现不同电流方向加载的测试需求。

当然电流也可以反向输入和输出，请参考图1(b)，此时，右列的5个短接在一起的管脚作为电流输入管脚101，左列的5个管脚作为电流输出管脚102。

将多个管脚短接在一起且沿横向中心轴对称分布，例如电流检测管脚由5个管脚短接位于测试板的中心，电压检测管脚由4个管脚短接且位于测试板的两端，主要有三个优点。第一，请参图1(a)，在封装过程中，选择不同区域功能管脚跳线和靠近测试电极就近引线，可以避免封装引线交叉和引线过长的封装问题。第二，如图1(a)所示，当测试电流时，电流输入管脚101中的5个管脚有一个与待测器件接触的不紧密导致电流不能流入时，电流还可以从另外4个管脚流入，确保加载有效性。第三，测试板10管脚与待测器件的接触片相连，一般一个接触片通过1根金丝跳线到测试电极。在有较大的电流输入情况下，考虑到单位直径的金丝能够承受的最大电流有限，若只用一个管脚来传输电流，可能造成金丝熔断，以致损坏待测器件。多个管脚的设置，可以避免金丝熔断的风险。

在本实施例中，测试板10上的第一组功能管脚105与设备电流供应端相连，与待测器件共同构成完整的电流施加回路。请参图1(a)，其中，每个测试板10上短接后的电流输入管脚101与设备单根电流输入端相连，作为电流流入端与待测器件相连。类似地，位于右列管脚的电流输出管脚102短接后与设备单根电流输出端相连，作为电流流出端与待测器件相连。由电流流入端、待测器件、电流流出端构成完整的电流施加回路。另外，若干个测试板10的电流输入管脚101可以与设备电流输入端的若干条导线分别串联，若干个测试板10的电流输出管脚102与设备电流输出端的若干条导线分别串联，以实现多个待测器件的同时加载。

类似地，每个测试板10上的短接后的电压高端检测管脚103与设备单根高电压测试端相连，作为测试待测器件电阻的高电压端，每个测试板10上的短接后的电压低端检测管脚104与设备单根低电压测试端相连，作为测试待测器件电阻的低电压端。另外，若干个测试板10的电压高端检测管脚103和电压低端检测管脚104分别与设备若干个高电压检测端和设备若干个低电压检测端串联，以实现多样品的同时检测。

测试板10的两列管脚的功能和布局，沿着测试板10的列向中心轴YY’镜像对称，沿着测试板10的横向中心轴XX’也镜像对称。如此，由于此测试板10的管脚的上下左右均对称设置，这样的管脚布局，能够避免因待测器件测试电极排布不佳造成封装后不能测试的问题。通过调转待测器件的加载方向，还可以实现不同电流方向加载的测试需求。

电流输入管脚101和电流输出管脚102构成了第一组功能管脚105，电压高端检测管脚103和电压低端检测管脚104构成了第二组功能管脚106。本发明中的测试板10要求待测器件按照与此测试板10功能管脚匹配的方式封装，各种方式排布测试电极的待测器件，按照这样的封装要求，都不会产生封装上的不便。而且，通过调转待测器件的加载方向，即可实现不同电流方向加载的测试需求。

实施例二

请参考图3，是本发明较佳实施例提供的测试板10的结构示意图。与第一实施例不同的是，在本实施例中，该测试版10额外增加一组电压测试管脚。具体地，该测试板10的若干管脚被划分为左右两列，每列管脚的个数为偶数。该测试板10的若干管脚包括位于测试板左右两列的三组管脚。本实施例中，所述三组管脚分别为，第一组功能管脚105’、第二组功能管脚106’以及第三组功能管脚107’。所述第一组功能管脚105’、第二组功能管脚106’以及第三组功能管脚107’均沿测试板10的横向中心轴XX’和列向中心轴YY’对称。

本实施例中，以左列管脚为例，第一组功能管脚105’、第二组功能管脚106’以及第三组功能管脚107’均包括两个管脚。其中，第一组功能管脚105’的两个管脚设置在测试板的上端和下端且沿横向中心轴XX’轴对称，第三组功能管脚107’的两个管脚设置在第一组功能管脚105’的两个管脚之间且沿横向中心轴XX’轴对称，第二组功能管脚106’的两个管脚设置在第三组功能管脚107’的两个管脚之间且沿横向中心轴XX’轴对称。并且，以左列管脚为例，每一组功能管脚且沿横向中心轴XX’轴对称的两个管脚短接。

第一组功能管脚105’、第二组功能管脚106’以及第三组功能管脚107’中的任意一组管脚被作为电流检测管脚，另外两组功能管脚分别作为第一电压检测管脚和第二电压检测管脚。相同电流下，由于待测器件不同位置的电阻可能不同，所以本实施例通过设置两个电压检测管脚来检测不同区域的电压，计算相应的电阻。

本实施例中不同位置的电阻，是指同一个待测结构，在长时间的电流作用下发生质量的转移，而引起相应位置处电阻的变化，如电子迁移实验中观测到的材料的空洞和向邻近区域的突起。材料空洞导致的电阻变化可以通过实施例一中所述的测试板10测量，材料突起导致的电阻变化可以通过实施例二中所述的增加的第二电压检测管脚进行测量。进行突起处电阻的测量，需在测试结构上设计相应的测试电极，如上方或侧方材料上引出电压测试电极，当突起导致材料间短路后，突起处通过的电流与空洞处通过的电流一致，通过检测层间电压实现突起处电阻的检测。即，使用实施例二所述的测试板10可以同时测量相同电流下空洞处和突起处两处的电阻。

优选的，选择第一组功能管脚105’和第二组功能管脚106’分别作为第一电压检测功能管脚和第二电压检测功能管脚，选择第三组功能管脚107’作为电流检测功能管脚。第一组功能管脚105’作为第一电压检测管脚可以用来检测空洞处的电压；第二组功能管脚106’作为第二电压检测管脚可以用来检测突起处的电压。如此，与第三组功能管脚107’共同实现相同电流应力下对待测器件不同位置处的电阻测量。

此外，本实施例的测试板10中还包括第k组功能管脚108，第k组功能管脚108包括四个管脚，其中该四个管脚两两一组设置在第二组功能管脚106’的两个管脚之间，并沿横向中心轴XX’及列向中心轴YY’对称。为了检测方便可以将第k组功能管脚108短接至第一组功能管脚105’、第二组功能管脚106’或第三组功能管脚107’中，本实施例中，将第k组功能管脚108短接至第二组功能管脚106’中。短接后可增加额外的电流或电压检测路径，具有防止待测器件接触不良或金丝熔断等优点，具体参考实施例一，在此不再赘述。

实施例三

请参考图4，是本发明较佳实施例提供的测试板10的结构示意图。在本实施例中，该测试板10的若干管脚被划分为左右两列，每列管脚的个数为奇数。具体地，该测试板10的若干管脚包括三组管脚，所述三组管脚分别为第一组功能管脚105”、第二组功能管脚106”以及第三组功能管脚107”。所述第一组功能管脚105”、第二组功能管脚106”以及第三组功能管脚107”均沿横向中心轴XX’和列向中心轴YY’对称。

本实施例中，以左列管脚为例，第一组功能管脚105”、第二组功能管脚106”均包括两个管脚。第一组功能管脚105”的两个管脚设置在测试板的上端和下端且沿横向中心轴XX’轴对称，第二组功能管脚106”的两个管脚设置在第一组功能管脚105”的两个管脚之间且沿横向中心轴XX’轴对称，第三组功能管脚107”为单个管脚，设置于第二组功能管脚106”的两个管脚之间并大致位于左列管脚的中央。并且，以左列管脚为例，每一组功能管脚且沿横向中心轴XX’轴对称的两个管脚短接。

优选的，选择第一组功能管脚105”和第三组功能管脚107”分别作为第一电压检测管脚和第二电压检测管脚，选择第二组功能管脚106”作为电流检测管脚。第一组功能管脚105”作为第一电压检测管脚可以用来可以检测空洞处的电压；第三组功能管脚107”作为第二电压检测管脚以用来可以检测突起处的电压。当然在其他具体实施方式中还可以有其他的设置方式，例如，第一组功能管脚105”和第二组功能管脚106”分别作为第一电压检测管脚和第二电压检测管脚，第三组功能管脚107”作为电流检测管脚。

进一步的，本实施例的测试板10还包括偶数个管脚，例如第i组功能管脚109。在本实施例中，该第i组功能管脚109包括沿横向中心轴XX’轴和沿列向中心轴YY’轴均对称的四个管脚。以左列管脚为例，该第i组功能管脚109的两个管脚位于第二组功能管脚106”的两个管脚之间，并位于第三组功能管脚107”的两侧。为了检测方便，可以将第i组功能管脚109短接至第一组功能管脚105”、第二组功能管脚106”或第三组功能管脚107”中。当短接至第三组功能管脚107”后，以左列为例，第三组功能管脚107”最中间的三个管脚短接在一起。

可以理解，在第三实施例中，测试板10还可以包括第j组功能管脚(图未示)，只要保证该第j组功能管脚的每列均为偶数个管脚，并沿横向中心轴XX’轴对称即可。例如，该第j组功能管脚在左列管脚中包括两个管脚，其可设置在第一组功能管脚105”的两个管脚之间。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种测试板，其特征在于：包括若干管脚，所述若干管脚被划分为两列，每列管脚均包括电流检测管脚和电压检测管脚，两列管脚沿测试板的列向中心轴镜像对称，所述每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称，且每列管脚沿测试板的横向中心轴镜像对称的管脚功能相同且相互短接。

2.根据权利要求1所述的测试板，其特征在于：所述测试板包括第一组功能管脚及第二组功能管脚，所述第二组功能管脚对称设置在所述第一组功能管脚的两端。

3.根据权利要求2所述的测试板，其特征在于：所述第一组功能管脚包括位于每列的m个短接的电流检测管脚，所述第二组功能管脚包括位于每列的n个短接的电压检测管脚。

4.根据权利要求1所述的测试板，其特征在于：所述测试板包括第一组功能管脚、第二组功能管脚及第三组功能管脚，所述第一组功能管脚、第二组功能管脚为电压检测管脚，所述第三组功能管脚为电流检测管脚。

5.根据权利要求4所述的测试板，其特征在于：所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚的每列均包括沿横向中心轴轴对称的两个管脚，所述第一组功能管脚的每列的两个管脚设置于测试板的上端和下端，所述第三组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第一组功能管脚的每列的两个管脚之间，所述第二组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第三组功能管脚的每列的两个管脚之间，且每组每列的横向中心轴镜像对称的功能管脚均短接。

6.根据权利要求5所述的测试板，其特征在于：所述测试板还包括与所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚任一组短接的第k组功能管脚，所述第k组功能管脚包括四个管脚，四个管脚两两一组设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间，并沿横向中心轴及列向中心轴对称。

7.根据权利要求4所述的测试板，其特征在于：所述第一组功能管脚以及所述第二组功能管脚的每列均包括沿横向中心轴轴对称的两个管脚，所述第一组功能管脚的每列的两个管脚设置于测试板的上端和下端，所述第二组功能管脚的每列的两个管脚设置于所述第一组功能管脚的每列的两个管脚之间，且每组每列的横向中心轴镜像对称的功能管脚均短接；所述第三组功能管脚每列设置有一个管脚，所述第三组功能管脚的每列的一个管脚均设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间并位于每列管脚的中央。

8.根据权利要求7所述的测试板，其特征在于：所述测试板还包括与所述第一组功能管脚、所述第二组功能管脚以及所述第三组功能管脚任一组短接的第i组功能管脚，所述第i组功能管脚包括四个管脚，四个管脚两两一组设置于所述第二组功能管脚的每列的两个管脚之间，并沿横向中心轴及列向中心轴对称。

9.根据权利要求1所述的测试板，其特征在于：所述电流检测管脚包括电流输入管脚及电流输出管脚，所述电流输入管脚及电流输出管脚分别设置在测试板的两列。

10.根据权利要求1所述的测试板，其特征在于：所述电压检测管脚包括电压高端检测管脚及电压低端检测管脚，所述电压高端检测管脚及电压低端检测管脚分别设置在测试板的两列。