CN105242195A - 一种带编号结构的测试板以及对该编号的识别方法 - Google Patents
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Abstract
一种带编号结构的测试板以及对该编号的识别方法，涉及芯片测试技术领域，其结构包括至少一个测试插座，每个测试插座均包括接地管脚和编号管脚，其中一个未使用的管脚设为高电平管脚，每个测试插座的至少两个所述编号管脚中与该高电平管脚或者与接地管脚电连接以作为编号的管脚，可利用软件识别作为编号的管脚的电平情况，再通过软件将该电平情况转换为数字编号，就可直接读取该测试板的编号，因此，本发明的测试板可通过软件从测试板上识别出该测试板的编号，进而节省识别测试板的时间，该编号的识别方法简单易实现。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种带编号结构的测试板以及对该编号的识别方法。
背景技术
随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构复杂的、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度，多功能的集成电路仅是通过数目有限的引脚和外部电路连接，这就给判断集成电路好坏带来不少困难。
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，集成电路的测试就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。可是由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的工程都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。
测试系统包括测试板、测试机和测试程序等。现有的测试板都没有加编号，在集成电路测试的过程中看不到测试板的编号，如果需要了解用的是哪块测试板的话，就必须暂停测试，取下测试板，这样的话就会耽误测试，浪费时间。
发明内容
本发明的目的之一在于避免现有技术中的不足之处而提供一种带编号结构的测试板，该带编号结构的测试板可通过软件从测试板上识别出该测试板的编号，进而节省识别测试板的时间。
本发明的目的之二在于避免现有技术中的不足之处而提供一种带编号结构的测试板的编号识别方法，该编号识别方法简单易实现。
本发明的目的通过以下技术方案实现：
提供一种带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号。
所述测试插座设置有四个，每个测试插座的两个所述编号管脚与该高电平管脚或者与接地管脚直接焊接。
所述测试插座设置有两个，每个测试插座有一个编号管脚。
所述测试插座设置有三个，每个测试插座有两个编号管脚。
所述测试插座设置有三个，每个测试插座有三个编号管脚。
所述测试插座设置有四个，每个测试插座有两个编号管脚。
一种对以上所述的带编号结构的测试板的编号的识别方法：
分别识别所述编号管脚的电平情况，将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，再将该八位二进制数字串转换为十进制数字。
将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。
一种对以上所述的带编号结构的测试板的编号的识别模块：
包括
识别模块：用于分别识别所述管脚的电平情况，
第一转换模块：用于将高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，
排序模块：用于将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，
第二转换模块：用于将该八位二进制数字串转换为十进制数字。
所述第一转换模块具体地：用于将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。
本发明的有益效果：本发明的带编号结构的测试板，可利用软件识别编号管脚的电平情况，再通过软件将该电平情况转换为数字编号，就可直接读取该测试板的编号，因此，本发明可通过软件从测试板上识别出该测试板的编号，进而节省识别测试板的时间。
本发明的对测试板的编号的识别方法简单易实现。
附图说明
利用附图对发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本发明的一种带编号为46的测试板的局部结构示意图。
图2是实施例1的测试插座SL0T7的结构示意图。
图3是实施例1的测试插座SL0T4的结构示意图。
图4是实施例1的测试插座SL0T3的结构示意图。
图5是实施例1的测试插座SL0T1的结构示意图。
图中包括有
测试板1。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明作进一步描述。
实施例1。
本实施例的一种带编号结构的测试板，如图2至图5所示，包括四个测试插座SL0T7、SL0T4、SL0T3和SL0T1，每个测试插座有两个编号管脚。
四个测试插座SL0T7、SL0T4、SL0T3和SL0T的编号管脚均为第14管脚和第16管脚，15管脚为高电平管脚。
该测试板1的编号为46号，要达到编号为46，需对测试板1的管脚进行如下焊接：
如图1所示，将测试插座SL0T7的第16管脚与测试插座SL0T7的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T4的第16管脚与测试插座SL0T4的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T3的第16管脚与测试插座SL0T3的第15管脚焊接在一起(即接高电平)，测试插座SL0T1的第16管脚与测试插座SL0T1的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T7的第14管脚与测试插座SL0T7第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T4的第14管脚与测试插座SL0T4的第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T3的第14管脚与测试插座SL0T3第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T1的第14管脚与测试插座SL0T1的第46管脚焊接在一起（即接地）。
以上的带编号结构的测试板1，可利用软件识别作为编号的管脚的电平情况，再通过软件将该电平情况转换为数字编号，就可直接读取该测试板1的编号，因此，本实施例在软件的辅助下可节省识别测试板1的时间。
使用四个测试插座可以实现更多的编号，只需要修改编号管脚与高电平管脚或者低电平管脚的焊接关系即可。
实施例2。
本实施例的一种带编号结构的测试板，其特点是：测试插座设置有两个，每个测试插座有两个编号管脚，即一共有四个编号管脚，可实现2的4次方个编号，即16个编号。
实施例3。
本实施例的一种带编号结构的测试板，其特点是：测试插座设置有三个，每个测试插座有三个编号管脚，即一共有九个编号管脚，可实现2的9次方个编号，即512个编号。
实施例4。
本实施例的一种编号识别方法，用于识别实施例1的带编号结构的测试板的编号，具体如下：
分别识别四个测试插座的两个编号的管脚的电平情况，将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，再将该八位二进制数字串转换为十进制数字。
在实施例1的四个测试插座上，在程序上将四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的第15管脚均置1。
四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的第14管脚和第16管脚是编号管脚。
四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的编号管脚的电平如下：
测试插座SL0T7的第16管脚接地，为低电平，测试插座SL0T4的第16管脚接地，为低电平，测试插座SL0T3的第16管脚跟测试插座SL0T3第15管脚相接，为高电平，测试插座SL0T1的第16管脚接地，为低电平，将测试插座SL0T7的第14管脚接测试插座SL0T7第15管脚，为高电平，测试插座SL0T4的第14管脚接测试插座SL0T4第15管脚，为高电平，测试插座SL0T3的第14管脚跟测试插座SL0T3第15管脚相接，为高电平，测试插座SL0T1的第14管脚接地，为低电平。
分别识别四个测试插座的两个编号的管脚的电平情况。
将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字：将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。则可得到测试插座SL0T7的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T4的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T3的第16管脚对应二进制1，测试插座SL0T1的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T7的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T4的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T3的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T1的第14管脚对应二进制0。
将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串：按照测试插座SL0T7的第16管脚、测试插座SL0T4的第16管脚、测试插座SL0T3的第16管脚、测试插座SL0T1的第16管脚、测试插座SL0T7的第14管脚、测试插座SL0T4的第14管脚、，测试插座SL0T3的第14管脚、测试插座SL0T1的第14管脚的顺序对以上的二进制数字进行依序排列，得到八位二进制数字串为00101110。
将该八位二进制数字串转换为十进制数字：八位二进制数字串为00101110转换为十进制数字则为46，因此，实施例1的测试板1的编号为46号。
对于其它数字的编号的识别方法依次类推，在此不再一一阐述。
以上对测试板1的编号的识别方法简单易实现。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (10)
1.一种带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，其特征在于：至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号。
2.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有四个，每个测试插座的两个所述编号管脚与该高电平管脚或者与接地管脚直接焊接。
3.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有两个，每个测试插座有一个编号管脚。
4.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有三个，每个测试插座有两个编号管脚。
5.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有三个，每个测试插座有三个编号管脚。
6.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有四个，每个测试插座有两个编号管脚。
7.一种对权利要求1至6任意一项所述的带编号结构的测试板的编号识别方法，其特征在于：分别识别所述编号管脚的电平情况，将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，再将该八位二进制数字串转换为十进制数字。
8.如权利要求7所述的一种带编号结构的测试板的编号识别方法，其特征在于：将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。
9.一种对权利要求1至6任意一项所述的带编号结构的测试板的编号识别装置，其特征在于：包括
识别模块：用于分别识别所述管脚的电平情况，
第一转换模块：用于将高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，
排序模块：用于将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，
第二转换模块：用于将该八位二进制数字串转换为十进制数字。
10.如权利要求9所述的一种带编号结构的测试板的编号识别装置，其特征在于：所述第一转换模块具体地：用于将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106249001A (zh) * | 2016-05-05 | 2016-12-21 | 苏州能讯高能半导体有限公司 | 一种测试板 |
| CN106776494A (zh) * | 2016-10-26 | 2017-05-31 | 江苏芯艾科半导体有限公司 | 一种利用视觉符号组合图形表征测试产品测量结果的方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101661453A (zh) * | 2009-08-26 | 2010-03-03 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 刀片服务器中识别刀片序号的方法 |
| CN103778077A (zh) * | 2012-10-17 | 2014-05-07 | 深圳市三艾科技有限公司 | 一种自动识别驱动器功率型号的装置及方法 |
| US8922233B2 (en) * | 2011-03-08 | 2014-12-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for testing a semiconductor device and method of testing a semiconductor device |
| CN205280892U (zh) * | 2015-10-30 | 2016-06-01 | 广东利扬芯片测试股份有限公司 | 一种带编号结构的测试板 |
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2015
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101661453A (zh) * | 2009-08-26 | 2010-03-03 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 刀片服务器中识别刀片序号的方法 |
| US8922233B2 (en) * | 2011-03-08 | 2014-12-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for testing a semiconductor device and method of testing a semiconductor device |
| CN103778077A (zh) * | 2012-10-17 | 2014-05-07 | 深圳市三艾科技有限公司 | 一种自动识别驱动器功率型号的装置及方法 |
| CN205280892U (zh) * | 2015-10-30 | 2016-06-01 | 广东利扬芯片测试股份有限公司 | 一种带编号结构的测试板 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106249001A (zh) * | 2016-05-05 | 2016-12-21 | 苏州能讯高能半导体有限公司 | 一种测试板 |
| CN106249001B (zh) * | 2016-05-05 | 2019-06-14 | 苏州能讯高能半导体有限公司 | 一种测试板 |
| CN106776494A (zh) * | 2016-10-26 | 2017-05-31 | 江苏芯艾科半导体有限公司 | 一种利用视觉符号组合图形表征测试产品测量结果的方法 |
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