DE102006045081B4 - Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung Download PDF

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Abstract

Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung eines kommerziellen elektronischen Produkts, umfassend: a) eine Strom- bzw. Spannungsquelle; b) eine Schalteinrichtung; c) eine Prüfeinrichtung, die umfasst: eine Fassung (1320), die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung (137) aufzunehmen; eine Leiterplatine (1331), die im Wesentlichen identisch zu derjenigen des kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beinhalten; und eine Mehrzahl von Leitern (140), die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung mit zumindest einem elektrischen Kontakt der Leiterplatine leitend verbinden; dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfeinrichtung außerdem einen leitenden Kasten (1310) umfasst, der eine Stufe aufweist, die einen oberen Abschnitt des leitenden Kastens bildet, wobei die ht ist und die Leiterplatine auf einer unteren Fläche der Stufe angebracht ist, wobei die Vorrichtung zum Prüfen der integrierten Schaltung außerdem eine Schaltung (1440; 1640) umfasst, die ausgelegt...

Description

  • Im Zusammenhang stehende Anmeldungen
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein das Gebiet von integrierten Schaltungen. Genauer gesagt beziehen sich Ausführungsbeispiele gemäß der vorliegenden Erfindung auf Vorrichtungen und Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung, wobei die Vorrichtung eine Fassung, ein modifiziertes kommerzielles elektronischen Produkt und eine elektrische Verbindung zwischen der Fassung und dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt umfasst.
  • Diskussion des Standes der Technik
  • Integrierte Schaltungen (IC's) werden in einer großen Vielzahl von kommerziellen elektronischen Produkten eingesetzt, beispielsweise in Handys bzw. Mobiltelefonen, PDA's (Persönliche Digitale Assistenten), Digitalkameras etc. Im Allgemeinen ist ein IC ausgelegt, um einen speziellen Einsatzzweck innerhalb eines elektronischen Geräts zu realisieren. Beispielsweise kann ein Mobiltelefon einen IC zum Power Management, einen IC für einen Funk- bzw. RF-Betrieb und einen IC für Multimedia-Anwendungen umfassen. Ein IC, der ausgelegt ist, um einen speziellen Einsatzzweck zu realisieren, kann jedoch zahlreiche Funktionen enthalten, was von dem kommerziellen elektronischen Produkt abhängt, in welchem dieser vorgesehen sein soll. Gewisse Mobiltelefon bzw. Handys besitzen Peripherie-Bauelemente, beispielsweise Bildsensoren, MP3-Encoder und LCD-Anzeigen. Außerdem kann es verschiedene Versionen oder Typen von Peripherie-Bauelementen geben (beispielsweise kann der Bildsensor auf einer CCD-Technologie oder CMOS-Technologie basieren oder können verschiedene Hardware-Versionen oder Hersteller einer LCD-Anzeige vorliegen). Folglich kann es erforderlich sein, dass ein einzelner IC kompatibel zu einer Mehrzahl von unterschiedlichen Typen und Versionen von Peripherie-Komponenten sein muss.
  • Zusätzlich zu den zahlreichen Arbeitsumgebungen, in denen ein vorgegebener IC betrieben werden kann, gibt es andere Überlegungen, wenn man ein kommerzielles elektronisches Produkt herstellt. Ein IC kann Zehn Millionen bis Hunderte von Millionen von elektronischen Bauelementen auf einem Halbleitersubstrat enthalten, beispielsweise Transistoren und Kondensatoren. Außerdem können Tausende von Chips (nicht eingehäuste integrierte Schaltungen) auf einem einzigen Halbleiterwafer während des Herstellungsprozesses vorhanden sein. Die Bearbeitung eines Wafers ist kompliziert und kann aus zahlreichen Schritten bestehen, beispielsweise Belichten, Abscheiden, Dotieren, Ätzen, Planarisieren und Reinigen. Nach Abschluss der Waferbearbeitung wird der Wafer in einzelne Chips getrennt, verpackt bzw. eingehäust und verdrahtet, was in der Erzeugung von bis zu Zehntausenden von integrierten Schaltungen resultiert, die bereit stehen, um in ein kommerzielles Produkt integriert zu werden. Der Prozess zur Erzeugung eines ICs ist nicht fehlerfrei: viele der Chips und/oder eingehäusten ICs können Defekte oder Fehler enthalten.
  • In gewissen kommerziellen elektronischen Produkten ist ein IC gemeinsam mit anderen elektrischen, mechanischen oder elektromechanischen Elementen an einer Leiterplatine (PCB) befestigt. Gewisse integrierte Schaltungen sind kostspieliger als die anderen Bauelemente. Weil der Prozess des Fixierens der anderen Bauelemente an einer Leiterplatine bei gewissen temperaturempfindlichen integrierten Schaltungen zu Beschädigungen führen kann, können Hersteller empfindliche integrierte Schaltungen während eines der letzten Herstellungsschritte an der Leiterplatine befestigen. Falls jedoch ein fehlerbehafteter IC an einer Leiterplatine befestigt wird, können andere Bauelemente oder Peripheriegeräte beschädigt werden, wenn eine elektrische Spannung angelegt wird. Dies kann die anderen Bauelemente, die auf der Leiterplatine befestigt sind, die Peripherie-Komponenten, die an der Leiterplatine angebracht sind oder gar die Leiterplatine selbst wertlos machen. Selbst wenn ein fehlerbehafteter IC die anderen Bauelemente oder Peripheriegeräte nicht beschädigt, werden Herstellungs- und Ingenieurzeit und -kosten zum Prüfen und Reparieren der Leiterplatine aufgewendet, falls der IC fehlerbehaftet ist. Somit ist es wünschenswert, dass man über eine ausreichende Sicherheit verfügt, dass ein beliebiger vorgegebener IC nicht fehlerbehaftet ist, bevor dieser an einer Leiterplatine angebracht wird.
  • Es gibt zahlreiche herkömmliche Verfahren zum Prüfen eines IC. Der Wafer kann zwischen den verschiedenen Prozessschritten geprüft werden um sicherzustellen, dass dieser nicht durch einen vorherigen Prozessschritt beschädigt worden ist. Auch können Herstellungshäuser nach Abschluss der Wafer-Prozessierung eine Bausteinprüfung an den einzelnen Chips vornehmen. Dies soll sicherstellen, dass gewisse der zahlreichen Bausteine bzw. Einheiten in dem Chip ordnungsgemäß funktionieren. Üblicherweise werden die Kosten für diese Dienstleistung an den Kunden weiterberechnet. Herstellungshäuser berechnen den Prozentsatz von guten Chips unter den insgesamt hergestellten Chips für eine beliebige vorgegebene Charge (die „Ausbeute”). Gewisse Herstellungshäuser können auch den Chip nach der Einhäusung bzw. Verpackung prüfen um sicherzustellen, dass dieser während des Einhäusens nicht beschädigt worden ist und um die Güte des Verdrahtungs-Prozessschrittes zu bestätigen. Diese Dienstleistung kann ebenfalls an den Kunden weiterberechnet werden. Im Hinblick auf die Anzahl von Einheiten auf einem typischen IC und die zahlreichen Arbeitsumgebungen, unter denen ein vorgegebener IC betrieben werden muss, können die herkömmlichen Prüfprozeduren jedoch weder adäquat noch kosteneffizient sein.
  • Deshalb besteht das Bedürfnis nach einer Vorrichtung und einem Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung, welche bzw. welches kosteneffizient ist und im Wesentlichen sämtliche vordefinierten Funktionen der integrierten Schaltung vollständig ausführt.
  • DE 103 18 394 A1 offenbart eine Vorrichtung zum automatischen Prüfen einer integrierten Schaltung. Ein Prüfcomputer ist auf einem Stationsrahmen montiert. Für die integrierte Schaltung ist die Umgebung in der Vorrichtung so ausgebildet, dass die Hardwareumgebung dort identisch zu der in einer tatsächlichen Arbeitsumgebung ist, in welcher die integrierte Schaltung bestimmungsgemäß eingesetzt werden soll. Auf diese Weise ist ein reales Endbenutzersystem ausgebildet, in welchem die zu prüfende integrierte Schaltung Teil des Prüfcomputers ist.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine verbesserte Vorrichtung zur Prüfung einer integrierten Schaltung bereitzustellen, womit sich integrierte Schaltungen für ein kommerzielles elektronisches Produkt in einfacher und zuverlässiger Weise noch realistischer prüfen lassen. Gemäß einem weiteren Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung soll ferner ein entsprechendes Verfahren zur Prüfung einer integrierten Schaltung mittels einer solchen Vorrichtung bereitgestellt werden.
  • Die Aufgaben werden gemäß der vorliegenden Erfindung durch eine Vorrichtung zum Prüfen nach Anspruch 1 sowie durch ein Verfahren nach Anspruch 9 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen sind Gegenstand der rückbezogenen Unteransprüche.
  • Die Vorrichtung ist allgemein ausgelegt, um die Betriebsumgebung einer vorgegebenen elektronischen Anwendung nachzuahmen, in welcher der IC eingesetzt werden soll. Mit Hilfe eines solchen Lösungsansatzes wird die Umgebung zum Prüfen einer integrierten Schaltung auch die vorgegebene elektronische Anwendung nachahmen.
  • Eine Vorrichtung zum Prüfern einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung weist auf: eine Fassung, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen; ein modifiziertes kommerzielles elektronisches Produkt, das eine Leiterplatine umfasst, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu enthalten, wobei das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt die integrierte Schaltung nicht enthält; und eine Mehrzahl von Leitern, die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts miteinander leitend verbinden.
  • Eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung weist auf: eine Stromquelle; eine Schalteinrichtung; eine Prüfeinrichtung, die eine Fassung, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen, eine Leiterplatine, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, eine Mehrzahl von Leitern umfasst, die zumindest ein elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt der Leiterplatine leitend miteinander verbinden; und eine Schaltung, die ausgelegt ist, um festzustellen ob (i) die integrierte Schaltung in geeigneter Weise in der Fassung ausgerichtet bzw. angeordnet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder den Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung.
  • Ein Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung umfasst die folgenden Schritte: Anordnen der integrierten Schaltung in einer Fassung, die mechanisch mit einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt gekoppelt ist, wobei das kommerzielle elektronische Produkt eine Leiterplatine, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, umfasst, welches jedoch nicht die integrierte Schaltung beinhaltet; und Prüfen der integrierten Schaltung.
  • Die vorliegende Erfindung sorgt in vorteilhafter Weise für einen wirtschaftlichen und kommerziell brauchbaren Lösungsansatz, um eine integrierte Schaltung zu testen. Der Lösungsansatz verringert das Bedürfnis nach einer extensiven und kostenaufwendigen Einheitenprüfung bei einem Herstellungshaus und sorgt außerdem für eine kompakter aufgebaute Prüfumgebung zum Prüfen von ICs nach deren Einhäusung. Die Prüfgenauigkeit kann verbessert werden, weil die ICs in einer tatsächlichen vorgegebenen Anwendung geprüft werden können. Außerdem sorgt die vorliegende Erfindung in vorteilhafter Weise für eine neue Realisierung einer Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung. Diese und weitere Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der nachfolgenden ausführlichen Beschreibung von bevorzugten Ausführungsbeispielen besser ersichtlich werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist eine schematische Darstellung, welche die Draufsicht auf ein kommerzielles elektronisches Produkt zeigt.
  • 2 ist eine schematische Darstellung, die eine beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung zeigt und einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dient.
  • 3A und 3B sind schematische Darstellungen, die eine weiteren Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung zeigen und einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dienen.
  • 4 ist eine schematische Darstellung, die eine Fassung für einen einzelnen Chip zeigt.
  • 5 ist eine schematische Darstellung, die eine Fassung für mehrere Chips zeigt.
  • 6A–6D sind schematische Darstellungen, die beispielhafte Detektorschaltungen zeigen.
  • 7 ist eine schematische Darstellung, die eine Detektorschaltung wiedergibt und einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dient.
  • 8 ist eine schematische Darstellung, die eine Draufsicht auf eine Vorrichtung zum Prüfen zeigt und einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dient.
  • 9 ist eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht der Vorrichtung gemäß der 8 zeigt.
  • 10A und 10B sind schematische Darstellungen, die eine alternative Ausführungsform zeigen.
  • 11 ist eine schematische Darstellung, die eine Draufsicht auf eine weitere Vorrichtung zeigt und einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung dient.
  • 12 ist eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht einer Vorrichtung zum Prüfen gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 13 ist eine schematische Darstellung, die ein Detail des Bereichs A gemäß der 12 zeigt.
  • 14 ist eine schematische Darstellung, die eine weitere Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 15 ist eine schematische Darstellung, die eine beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 16 ist eine schematische Darstellung, die eine weitere beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 17 ist eine schematische Darstellung, die noch eine weitere beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • Ausführliche Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • Nachfolgend wird ausführlich Bezug genommen auf die bevorzugten Ausführungsbeispiele gemäß der Erfindung, von denen Beispiele in den beigefügten Zeichnungen dargestellt sind.
  • Aus Gründen der Zweckmäßigkeit und Vereinfachung können die Ausdrücke „Leiter”, Draht/Drähte” Kontaktstift(e)” Bahn(en)” Leitung(en)” Bus” oder Busse” „Ebene(n)”, „Kontaktloch/Kontaktlöcher”, „Kontaktstecker”, „Kontakt(e)”, „Lötfleck(en)”, „elektrischer Kontaktelektrische Kontakte”, „Kontakt/Kontakte”, „Kabel” und „Durchgangsbohrung/Durchgangsbohrungen” durch einander ersetzt werden, was auch für die Ausdrücke „Halter”, „Halteeinrichtung(en)”, „Struktur(en)”, „Stufe(n)” und „Befestigungseinrichtung(en)” gilt, diesen Ausdrücken soll jedoch generell auch ihre im Stand der Technik anerkannte Bedeutung zugewiesen werden. Ebenfalls können aus Gründen der Zweckmäßigkeit und Vereinfachung die Ausdrücke „Leiterplatine(n)” und „gedruckte Leiterplatine(n)” durch einander ersetzt werden und beziehen sich diese generell auf eine Einrichtung, um eine(s) oder mehrere elektronische Einheiten, Bauelemente und/oder Leiter leitend miteinander zu verbinden. Die Ausdrücke „elektronisches Produktelektronische Produkte” und „kommerzielles elektronisches Produkt/Produkte” können ebenfalls gegeneinander ausgetauscht werden. Die Ausdrücke „Aufnahme(n)”, „Prüfaufnahme(n)”, „Halter” und „Befestigungseinrichtung(en)” können außerdem aus Gründen der Zweckmäßigkeit und Vereinfachung gegeneinander ausgetauscht werden und beziehen sich generell auf eine Vorrichtung, in welcher der Chip einer integrierten Schaltung angeordnet und gehalten wird. Solche Vorrichtungen (und insbesondere ein Sockel oder ein Prüfsockel) können eine Mehrzahl von elektrischen Verbindungseinrichtungen aufweisen, die im Wesentlichen in eine Ausrichtung mit Eingangs- und/oder Ausgangskontaktstiften einer integrierten Schaltung gebracht werden. Diesen Ausdrücken soll jedoch ihre im Stand der Technik anerkannte Bedeutung zuteil werden.
  • Die vorliegende Erfindung betrifft Vorrichtungen und Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung. Eine Vorrichtung kann umfassen eine Fassung, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen; ein modifiziertes kommerzielles elektronisches Produkt, das eine Leiterplatine umfasst, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu enthalten, wobei das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt die integrierte Schaltung nicht enthält; und eine Mehrzahl von Leitern, die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts miteinander leitend verbinden.
  • Eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung umfasst: eine Stromquelle; eine Schalteinrichtung; eine Prüfeinrichtung, die eine Fassung, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen, eine Leiterplatine, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, eine Mehrzahl von Leitern umfasst, die zumindest ein elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt der Leiterplatine leitend miteinander verbinden; und eine Schaltung, die ausgelegt ist, um festzustellen ob (i) die integrierte Schaltung in geeigneter Weise in der Fassung ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder den Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung.
  • Gemäß noch einem weiteren Gesichtspunkt betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung, mit den Schritten: Anordnen der integrierten Schaltung in einer Fassung, die mechanisch mit einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt gekoppelt ist, wobei das kommerzielle elektronische Produkt eine Leiterplatine, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, umfasst, welches jedoch nicht die integrierte Schaltung beinhaltet; und Prüfen der integrierten Schaltung.
  • Die Erfindung wird unter zahlreichen Gesichtspunkten nachfolgend ausführlicher anhand von beispielhaften Ausführungsbeispielen erläutert werden.
  • Ausführungsbeispiel für eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung
  • Gemäß einer Ausführungsform umfasst eine beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung: eine Fassung, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen; ein modifiziertes kommerzielles elektronisches Produkt, das eine Leiterplatine umfasst, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist, das ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, wobei das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt die integrierte Schaltung nicht beinhaltet; und eine Mehrzahl von Leitern, die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts leitend miteinander verbinden.
  • Ein kommerzielles elektronisches Produkt kann mehrere elektrische, mechanische oder elektromechanische Elemente enthalten, die notwendig sind, um eine oder mehrere vordefinierte Funktionen auszuführen. Beispielsweise zeigt die 1 ein kommerzielles elektronisches Produkt 30, das ein mechanisches Gehäuse 10 umfasst. Das kommerzielle elektronische Produkt 30 kann Peripheriekomponenten enthalten, beispielsweise einen LCD-Bildschirm 34, einen Bildsensor 36 und/oder einen Lautsprecher (nicht gezeigt) sowie einen oder mehrere Eingangs-/Ausgangsanschlüsse zum Senden und/oder Empfangen von Information, beispielsweise einen Anschluss 30b. Außerdem kann das kommerzielle elektronische Produkt 30 eine Leiterplatine 31 umfassen, die grundsätzlich in dem mechanischen Gehäuse 10 eingeschlossen ist. Die Leiterplatine 31 kann mit den Peripheriekomponenten leitend verbinden und kann außerdem zusätzliche elektrischen, mechanischen oder elektromechanischen Bauelemente enthalten. Beispielsweise kann die Leiterplatine 31 mit elektrischen Kontakten 33 zum Anbringen eines elektronischen Bauelements 37 ausgelegt sein. Das elektronische Bauelement 37 kann eine aktive Einrichtung, eine passive Einrichtung oder eine Kombination aus diesen sein. Das elektronische Bauelement 37 kann außerdem eingehäust oder nicht eingehäust sein und kann auch ein Modul mit mehreren Chips oder eine gewisse andere elektronische Einrichtung mit einer Verbindungseinrichtung sein. Zum Zwecke der Erläuterung ist das zu prüfende elektronische Bauelement, nämlich das elektronische Bauelement 37, ein eingehäuster integrierter Chip. Ein Fachmann auf diesem Gebiet wird jedoch die Notwendigkeit, andere Typen von elektronischen Bauelementen zu prüfen, erkennen und kann die Beschreibung der Erfindung weiter anpassen, so dass solche Einrichtungen mit beinhaltet sind. Die Leiterplatine 31 kann zahlreiche elektronische Bauelemente 38a, 38b, 38c zusätzlich zu der integrierten Schaltung 37 enthalten, welche notwendig sind, um eine vorbestimmte Funktion des kommerziellen elektronischen Produkts zu realisieren. Die Leiterplatine kann auch einen oder mehrere Eingangs-/Ausgangsanschlüsse enthalten, beispielsweise einen Anschluss 35, um Information zu senden und/oder zu empfangen. Wie dargestellt ist, enthalten die Anschlüsse 30b und 35 elektrische Kontakte, an die ein Kabel oder andere Leiter angebracht werden können. Die Anschlüsse 30b und 35 können jedoch auch funktionelle Anschlüsse darstellen, beispielsweise Anschlüsse, die Information senden und/oder empfangen, ohne dass die Anbringung von Drähten erforderlich ist (beispielsweise Infrarot- oder Funkanschlüsse).
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung zur Verwendung in einem kommerziellen elektronischen Produkt, welche bzw. welches kosteneffizient ist und die integrierte Schaltung in deren vorgegebener elektronischer Anwendung vollständig einsetzen kann. Ein Ausführungsbeispiel, das in der 2 gezeigt ist, dient einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung. Ein modifiziertes kommerzielles elektronisches Produkt 130 kann eine Leiterplatine 131 enthalten, die zahlreiche elektronische Bauelemente 38a, 38b, 38c sowie einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 135 aufweist. Wenngleich die Leiterplatine 131 elektrische Kontakte 133 aufweist, um die Einrichtung unter Prüfbedingungen anzubringen (eine integrierte Schaltung), ist der IC 137 nicht an der Leiterplatine 131 angebracht. Stattdessen ist die integrierte Schaltung 137 in einer Fassung 120 angeordnet, die ihrerseits im Wesentlichen mit den selben elektrischen Kontakten auf der Leiterplatine 131 leitend verbunden ist, mit denen die integrierte Schaltung 137 ansonsten verbunden wäre. Somit weist das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt 130 eine Leiterplatine 131 auf, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen des kommerziellen elektronischen Produkts gemäß der 1 ist; dieses enthält jedoch nicht die integrierte Schaltung 137. Wie man nachfolgend erkennen wird, können verschiedene Modifikationen an der Leiterplatine 131 innerhalb des Schutzbereichs dieser Erfindung vorgenommen werden. Eine Mehrzahl von Leitern 140 verbindet einen oder mehrere (im Allgemeinen eine Mehrzahl von) elektrischen Kontakten 133 des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts 130 mit einem oder mehreren (im Allgemeinen einer Mehrzahl von) elektrischen Kontakten (nicht gezeigt) der integrierten Schaltung 137 elektrisch leitend. Auf diese Weise kann die integrierte Schaltung in einer Umgebung geprüft werden, die ähnlich zu derjenigen Umgebung ist, in welcher diese schließlich eingesetzt wird. Dies sorgt für eine vollständigere Umgebung, in welcher eine integrierte Schaltung geprüft werden soll, und sorgt für eine höhere Gewissheit, dass die Prüfergebnisse das tatsächliche Ergebnis wiedergeben werden, wenn der geprüfte IC an der vorbestimmten Stelle auf der Leiterplatine angeordnet wird. Dies kann auch kostengünstiger sein als die aufwendige Einheitenprüfung bei einem Herstellungshaus.
  • Eine Leiterplatine, in der mehrere elektronische Einrichtungen (beispielsweise integrierte Schaltungen) angebracht sind, kann mehrere elektronische Kontakte aufweisen. Elektronische Einrichtungen sind allgemein in einem Gehäuse enthalten und können mehrere elektronischen Kontakte zur elektrischen Verbindung mit externen Einrichtungen aufweisen. Allgemein sind elektrische Einrichtungen an einer Leiterplatine durch Löten der elektrischen Kontakte der elektronischen Einrichtung an elektrische Kontakte der Leiterplatine befestigt. Ein Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung schließt eine Fassung ein, die ausgelegt ist, um eine elektronische Einrichtung (beispielsweise eine integrierte Schaltung) aufzunehmen, eine Leiterplatine, die Felder bzw. Lötaugen (beispielsweise elektrische Kontakte) aufweist, die den elektrischen Kontakten der elektrischen Einrichtung entsprechen, sowie eine Mehrzahl von Leitern, um die elektrischen Kontakte der elektrischen Einrichtung und die Felder bzw. Lötaugen der Leiterplatine leitend miteinander zu verbinden. Bei einem Beispiel weist die integrierte Schaltung elektrische Leitungen auf und weist die Leiterplatine leitende Felder in Entsprechung zu den elektrischen Leitungen der integrierten Schaltung auf. Die Mehrzahl von Leitern kann einen oder mehrere elektrische Leiter mit einem oder mehreren leitenden Feldern leitend verbinden. Jeder Leiter der Mehrzahl von Leitern kann einen Kupferdraht aufweisen, der an einem Leiterplatinenkontakt an einem Ende angebracht ist, sowie einen Anschluss an dem anderen Ende. Der Anschluss kann körperlich von der Fassung gehalten werden und einen elektrischen Kontakt der elektrischen Einrichtung elektrisch kontaktieren. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann einer der Mehrzahl von Leitern einen Kontaktstift umfassen, der körperlich in einer Durchgangsbohrung einer Leiterplatine an einem Ende angeordnet und eingelötet ist und körperlich und elektrisch leitend mit einem Adapter an einem anderen Ende verbunden ist, wobei der Adapter außerdem ausgelegt ist, um mit einem Anschluss leitend verbunden zu werden. Folglich kann ein beliebiger oder können sämtliche der Mehrzahl von Leitern gemäß der vorliegenden Erfindung mehrere leitende Teile umfassen (das heißt Kontaktstift, Draht, Adapter und/oder Anschluss). Außerdem kann ein leitender Teil von einem oder mehreren der Mehrzahl von Leitern einen Kupferdraht, einen Draht mit Emaille bzw. Lackbeschichtung, einen Leiter in einem Kabel mit mehreren Leitern, Bahnen oder andere leitende Schichten, die innerhalb oder auf einer Leiterplatine eingebettet sind, und dergleichen umfassen. Der Aufbau eines einzelnen Leiters mit mehreren Teilen ist aus dem Stand der Technik bekannt.
  • Bei einer Ausführungsform umfasst das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt 130 im Wesentlichen sämtliche elektrischen, mechanischen und/oder elektro-mechanischen Bauelemente, die, wenn diese mit der integrierten Schaltung 137 gekoppelt sind, eine vordefinierte Funktion des kommerziellen elektronischen Produkts ausführen. Das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt 130 kann Peripherie-Bauelemente aufweisen, beispielsweise einen LCD-Bildschirm 34, einen Bildsensor 36 und/oder einen Lautsprecher (nicht gezeigt). Das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt 130 kann auch einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 130b aufweisen. Die Prüfumgebung spiegelt die tatsächliche Betriebsumgebung der integrierten Schaltung genauer wider, wenn eine größere Anzahl von Peripherie-Bauelementen in dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt enthalten ist.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel weist die Prüfvorrichtung außerdem ein mechanisches Gehäuse auf, das die Leiterplatine enthält oder trägt. Wie in der 2 gezeigt, ist die Leiterplatine 131 in einem mechanischen Gehäuse 110 enthalten. Das mechanische Gehäuse 110 kann auch für eine mechanische Abstützung des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts 130 und der Peripherie-Bauelemente sorgen, beispielsweise eines LCD-Bildschirms 34 und eines Bildsensors 36. In der 3A ist ein anderes beispielhaftes mechanisches Gehäuse gezeigt, wobei die Leiterplatine 231 von dem mechanischen Gehäuse 210a gehalten wird. Das mechanische Gehäuse 210a kann auch eine Haltefassung 220a und/oder Leiter 240a aufweisen. Bei einem anderen Beispiel weist das mechanische Gehäuse gemäß der 3B ein mechanisches Gehäuse 210b auf, welches das mechanische Gehäuse 210c trägt, das eine Leiterplatine (nicht gezeigt) enthält. In entsprechender Weise kann auch das mechanische Gehäuse 210b eine Fassung 220b und/oder Leiter 240b tragen. Außerdem können mechanische Gehäuse 210a und 210b, wie in den 3A und 3B gezeigt, andere Bauelemente enthalten, beispielsweise einen Anschluss 11, eine Schalteinrichtung 12, eine Anzeige 13, eine Stromversorgung 14 und/oder ein anderes Bauelement 13a, wobei deren sämtliche Funktionen aus dem nachfolgenden ersichtlich werden.
  • Wie vorstehend ausgeführt, wird die zu prüfende integrierte Schaltung in einer Fassung angeordnet. Bezug nehmend nun auf die 4 ist eine Fassung 320 gezeigt. Bei einem Ausführungsbeispiel umfasst die Fassung 320 eine Aufnahme 322, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung 137 zu halten und diese auszurichten, sowie eine Basis 323, die für eine mechanische Abstützung der Aufnahme 322 sorgt. Bei der Aufnahme 322 kann es sich um einen ausgesparten Abschnitt der Basis 323 handeln, so dass die Aufnahme 322 tiefer liegt als eine Oberseite der Basis 323. Man beachte, dass Ausdrücke, wie „tiefer”, „höher”, „obere”, „oben”, „unten”, „aufwärts”, „abwärts”, „Seite” und andere Ausdrücke Relativausdrücke sind und nur der Erläuterung dienen sollen. Die Aufnahme kann auch als von der Basis 323 vorstehende mechanische Struktur ausgebildet sein, mit Innenabmessungen, die in etwa gleich den Außenabmessungen der integrierten Schaltung 137 sind. In diesem Fall wäre der Vorsprung „höher” sowohl als die Aufnahme 322 als auch die Basis 323, welche sich in etwa auf derselben Höhe befinden können.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Fassung 320 auch Anschlusshalter 321 aufweisen, die den elektrischen Kontakten der integrierten Schaltung 137 entsprechen, so dass dann, wenn eine integrierte Schaltung 137 in der Aufnahme 322 angeordnet ist, Anschlüsse der Anschlusshalter 321 die elektrischen Kontakte der integrierten Schaltung 137 kontaktieren. Die Anschlüsse können einen Teil der Mehrzahl von Leitern 140 darstellen, wie in der 2 gezeigt, die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung 137 und zumindest einen elektrischen Kontakt 133 der modifizierten kommerziellen elektronischen Anwendung 130 leitend miteinander verbinden. Bei der Mehrzahl von Leitern 140 kann es sich um mit Emaille oder Lackfarbe beschichtete Drähten oder Kupferdrähten, leitfähige Kontaktstifte, ein Kabel, das mehrere Leiter umfasst und/oder eine Kombination daraus handeln. Bei einem Ausführungsbeispiel können die mit Emaille bzw. Lackfarbe beschichteten Drähte oder Kupferdrähte 140 an einem Ende mit elektrischen Kontakten 133 verlötet sein und an dem anderen Ende mit leitenden Anschlüssen, die in Anschlusshaltern der Fassung 120 angeordnet sind. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel ist ein erster Adapter an elektrische Kontakte 133 gelötet, ist ein zweiter Adapter ausgelegt, um mit Anschlüssen zu verbinden, die in Anschlusshaltern der Fassung 120 angeordnet sind, und verbindet ein Kabel den ersten und zweiten Adapter leitend. Bei noch einem anderen Ausführungsbeispiel handelt es sich bei den elektrischen Kontakten 133 um Durchgangsbohrungen und sind leitende Kontaktstifte, die an einem Ende mit den in Anschlusshaltern der Fassung 120 angeordneten Anschlüssen verbunden sind, in Durchgangsbohrungen 133 eingelötet.
  • Bezug nehmend erneut auf die 4 sitzt die integrierte Schaltung 137 in oder auf der Aufnahme 322. Die Fassung kann auch andere Strukturen aufweisen, um die integrierte Schaltung weiter in der Aufnahme zu sichern. Gemäß einer Ausführungsform umfasst die Fassung 320 eine obere Abdeckung 324, die ausgelegt ist, um die Aufnahme 322 freizulegen und die integrierte Schaltung 137 in der Aufnahme 322 zu sichern. Bei einem Ausführungsbeispiel kann die obere Abdeckung 324 über Scharniere (nicht gezeigt) mechanisch mit der Basis 323 gekoppelt sein. Die obere Abdeckung 324 kann an der Basis 323 verrastet sein, so dass die integrierte Schaltung 137 in der Aufnahme 322 gesichert ist. Außerdem braucht die obere Abdeckung 324 nicht mit der Basis 323 verrastet sein, so dass die Aufnahme 322 freigelegt ist und die integrierte Schaltung 137 darin angeordnet werden kann.
  • Bei einer anderen Ausführungsform kann die Fassung so ausgelegt sein, um mehr als eine integrierte Schaltung aufzunehmen. Wie in der 5 gezeigt, kann die Basis 423 für eine mechanische Abstützung für die Aufnahme 422a und die Aufnahme 422b sorgen. Die Fassung 420 kann für mehrere Gruppen von Anschlusshaltern 421a und 421b ausgelegt sein. Die integrierte Schaltung 137a sitzt in oder auf einer Aufnahme 422a, so dass Anschlüsse innerhalb der Anschlusshalter 421a die elektrischen Kontakte der integrierten Schaltung 137a kontaktieren. In vergleichbarer Weise sitzt die integrierte Schaltung 137b in oder auf einer Aufnahme 422b, so dass Anschlüsse innerhalb der Anschlusshalter 421b die elektrischen Kontakte der integrierten Schaltung 137b kontaktieren. Wie vorstehend beschrieben, kann die Fassung 420 auch eine obere Abdeckung 424 aufweisen, die ausgelegt sein kann, um eine oder mehrere Aufnahmen 422a, 422b freizulegen und um in diesen eine oder mehrere integrierte Schaltungen 137a, 137b zu sichern. Gemäß diesem Gesichtspunkt sei darauf hingewiesen, dass es sich bei der oberen Abdeckung um eine einzelne obere Abdeckung handeln kann, die sämtliche Aufnahmen freilegt, oder dass es sich bei dieser um mehrere obere Abdeckungen handeln kann, wobei jede obere Abdeckung eine oder mehrere Aufnahmen freilegt. Wenngleich dieses Ausführungsbeispiel eine einfache Fassung mit mehreren Chips zeigt, sei darauf hingewiesen, dass die Fassung ausgelegt sein kann, um eine beliebige Anzahl von integrierten Schaltungen zu akzeptieren, und ist die Erfindung nicht auf eine solche Konfiguration beschränkt.
  • Bei noch einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Fassung eine Schaltung aufweisen um festzustellen, ob die gerade geprüfte Einrichtung in der Aufnahme geeignet ausgerichtet bzw. angeordnet ist. Ein Beispiel einer solchen Schaltung ist in der 6A gezeigt. Die Basis 523 kann einen oberen Abschnitt 523a und einen ausgesparten Seitenwandabschnitt 523b aufweisen. Die obere Abdeckung 524 kann aus einem oberen Abschnitt 524a und einem beweglichen Seitenabschnitt 524b bestehen, so dass der bewegbare Seitenabschnitt 524b geschlossen werden kann, um den ausgesparten Seitenwandabschnitt 523b der Basis 523 abzusperren bzw. zu bedecken. Eine solche Auslegung ist beispielhaft und es sei darauf hingewiesen, dass die Basis keinen ausgesparten Abschnitt aufzuweisen braucht und dass die obere Abdeckung keinen beweglichen Seitenabschnitt aufweisen muss. Diese Erfindung soll eine beliebige solche Konfiguration der Basis und der oberen Abdeckung mit einschließen, so dass bei einem Ausführungsbeispiel ein erster Teil einer Schaltung auf der Basis enthalten sein kann und ein zweiter Teil einer Schaltung auf der oberen Abdeckung enthalten sein kann, so dass dann, wenn die obere Abdeckung geschlossen ist, eine geschlossene elektrische Schaltung ausgebildet ist. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel ist die elektrische Schaltung geschlossen, wenn die obere Abdeckung geschlossen ist und die integrierte Schaltung mit der Aufnahme 522 ausgerichtet und darin geeignet aufgenommen ist. Gemäß einem Ausführungsbeispiel sind zwei oder mehr elektrisch leitende Anschlüsse 551a, 551b auf einem ausgesparten Außenwandabschnitt 523b der Basis 523 befestigt. Der Leiter 552a ist in oder auf einem beweglichen Seitenabschnitt 524b der oberen Abdeckung 524 ausgelegt. Wenn die obere Abdeckung geschlossen und an der Basis gesichert ist, wird eine leitende Schaltung ausgebildet: nämlich aus einem leitenden Kontaktstift 551a, einem Leiter 552a und einem leitenden Anschluss 551b.
  • Bei einem anderen Beispiel und wie in der 6B gezeigt, können leitende Anschlüsse 551c, 551d, 551e, 551f auf einem oberen Abschnitt 523a der Basis 523 angeordnet sein und kann der Leiter 552b auf einem oberen Abschnitt 524a der oberen Abdeckung 524 angeordnet sein. Oder, wie in der 6C gezeigt, können die leitenden Anschlüsse 551c, 551d auf einem oberen Abschnitt 523a der Basis angeordnet sein und kann der Leiter 552c auf einem oberen Abschnitt 524a der oberen Abdeckung 524 angeordnet sein. Es sei darauf hingewiesen, dass, wenngleich der Leiter 552c als einzelner Leiter dargestellt ist, der Leiter 552c mehrere Leiter umfassen kann, deren besondere Konfiguration der Anordnung der leitenden Anschlüsse entspricht. Als solcher kann der Leiter 552 eine „L”-Form (wie in der 6C gezeigt), die Form eines Kreises (wie in der 6B gezeigt), die Form von mehreren Stangen bzw. Stäben oder eine beliebige andere geometrische Konfiguration aufweisen, die eine elektrische Verbindung zwischen zwei oder mehr leitenden Anschlüssen ermöglicht. Außerdem kann bzw. können einer oder mehrere leitende Anschlüsse 551 auf einem oberen Abschnitt 523a und auf einem ausgesparten Seitenwandabschnitt 523b der Basis vorgesehen sein und kann bzw. können einer oder mehrere Leiter 552 auf einem oberen Abschnitt 524a und einem beweglichen Seitenabschnitt 524b der oberen Abdeckung vorgesehen sein.
  • Bei noch einem anderen Beispiel für eine Schaltung zum Detektieren, ob die integrierte Schaltung in der Aufnahme geeignet ausgerichtet ist, können leitende Anschlüsse gemäß den 6A, 6B und 6C durch einen elektro-mechanischen Schalter ersetzt sein, wie in der 6D gezeigt. Der Schalter 551g ist ausgelegt, um geöffnet oder geschlossen zu sein {das heißt, um einen Strom von einem Anschluss des Schalters zu einem anderen Anschluss zu leiten oder nicht zu leiten), wenn der obere Deckel 524 ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung 137 in der Aufnahme 522 zu sichern. Als solcher braucht der Leiter nicht auf dem Abschnitt der Fassung gegenüberliegend dem Schalter vorgesehen sein (beispielsweise in dem gezeigten Beispiel auf der oberen Abdeckung oder auf der Basis). Wenngleich die beispielhafte Schaltung, wie in der 6D gezeigt, einen Schalter aufweist, wird man erkennen, dass mehr als ein Schalter vorgesehen sein kann. Gemäß der vorstehenden Beschreibung und den 6A, 6B, 6C und 6D kann bzw. können einer oder mehrere Schalter auf einem oberen Abschnitt 523a und/oder ausgesparten Seitenwandabschnitt 523b der Basis 523 vorgesehen sein. Außerdem kann bzw. können einer oder mehrere Schalter auf einem oberen Abschnitt 524a oder einem beweglichen Seitenabschnitt 524b der oberen Abdeckung 524 vorgesehen sein oder in Gestalt einer Kombination des Vorstehenden. Bei einem anderen Beispiel kann eine Fassung zwei oder mehr leitende Anschlüsse und Leiter aufweisen, wie in den 6A, 6B und 6C gezeigt, sowie einen oder mehrere Schalter, wie in der 6D gezeigt, und zwar auf der Basis und/oder der oberen Abdeckung.
  • Ein Beispiel für eine Schaltung, die detektiert, ob die integrierte Schaltung in der Aufnahme geeignet ausgerichtet bzw. angeordnet ist, ist in der 7 gezeigt. Die Detektionsschaltung kann eine Stromquelle 601 und eine Anzeige 602 aufweisen. Die Anzeige 602 kann eine LED sein, wie dargestellt, oder eine beliebige andere Einrichtung zum Erzeugen einer Anzeige. Ein Schalter 603 ist ausgelegt, um einen elektrischen Stromkreis zu schließen, wenn eine integrierte Schaltung in geeigneter Weise in einer Fassung angeordnet ist, und kann leitende Anschlüsse, Leiter und/oder elektro-mechanische Schalter umfassen, wie vorstehend beschrieben. Die Schaltung kann auch andere Bauelemente 604 aufweisen, deren Konfiguration aus dem Stand der Technik bekannt ist. Bei einem Beispiel ist der Schalter geschlossen ausgelegt, um der Anzeige 602 einen Strom zur Verfügung zu stellen, wenn die integrierte Schaltung in der Aufnahme geeignet ausgerichtet ist. Es sei darauf hingewiesen, dass dies ein einfaches Beispiel einer Detektionsschaltung darstellt, und der Fachmann auf diesem Gebiet kann kompliziertere Detektionsschaltungen erkennen, die eine Logik und/oder andere Bauelemente enthalten.
  • Bei einer Realisierungsform befestigen Haltestrukturen die Fassung mechanisch an dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt. Die 8 zeigt eine Draufsicht auf eine Fassung 720, die mit einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt verbunden ist, das eine Leiterplatine enthält. Haltestrukturen 761 erstrecken sich von der Basis 723 zu der Leiterplatine 731. Anschlusshalter 721 sorgen für eine mechanische Abstützung bzw. Halterung von Anschlüssen an einem Ende einer Mehrzahl von Leitern. Bei einem Beispiel enthält die Basis 723 Löcher, durch die hindurch sich die Haltestrukturen 761 erstrecken können. Bei einem anderen Beispiel stellen die Haltestrukturen 761 einen Teil der Fassung 720 dar. Es sei jedoch darauf hingewiesen, dass die Haltestrukturen an der Außenseite der Basis angebracht sein können.
  • Die 9 ist eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht einer Fassung und eines modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts gemäß der 8 zeigt. Bei diesem Beispiel ist die Fassung mit Hilfe von Haltestrukturen, die in einem Innenbereich der Leiterplatine angebracht sind, unmittelbar an dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt befestigt. Die Leiterplatine 731 kann mehrere elektronische Bauelemente aufweisen, beispielsweise Bauelemente 38a, 38b und 38c. Die Leiterplatine 731 weist auch elektrische Kontakte 133 auf, die elektrischen Kontakten der zu prüfenden Einrichtung entsprechen, insbesondere der integrierten Schaltung 137. Eine Fassung 720 mit Anschlusshaltern (nicht gezeigt), einer Aufnahme 722, einer Basis 723, einer oberen Abdeckung 724 ist mit Hilfe von einer oder mehreren Haltestrukturen 761 an der Leiterplatine 731 angebracht. Wie dargestellt, verbindet eine Mehrzahl von Leitern 140 zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung 137 mit zumindest einem elektrischen Kontakt 133 der Leiterplatine 731. Die Mehrzahl von Leitern kann an einem Adapter 841 auf der Leiterplatine 731 und Anschlüssen, die in oder an den Anschlusshaltern (nicht gezeigt) enthalten bzw. vorgesehen sind, angebracht sein. Bei der Mehrzahl von Leitern kann es sich um leitende Kontaktstifte handeln, wie gezeigt, um mit Emaille bzw. Lackfarbe beschichtete Drähte oder Kupferdrähte oder einen beliebigen anderen Leiter. Die Haltestrukturen 761 können an den Seiten der Basis 723 angebracht sein, wie dargestellt, oder können für eine Verbindung mit dem Boden der Basis 723 ausgelegt sein. Außerdem können die Haltestrukturen an einer Oberseite der Leiterplatine angebracht sein oder können sich durch Löcher in der Leiterplatine hindurch erstrecken. Vorzugsweise gibt es einen Haltestruktur-Anbringungsbereich 839, der größer ist als die Haltestrukturen 761, wo es keine elektrischen Bauelemente oder Leiter gibt. Somit können die Haltestrukturen 761 in nicht leitender und/oder passiver Weise an der Leiterplatine angebracht sein.
  • In anderen Anwendungen kann jedoch nicht ausreichend Anbringungsfläche für Haltestrukturen zur Verfügung stehen, damit die Haltestrukturen in nicht-leitender und/oder passiver Weise für eine Befestigung sorgen oder sich durch die Leiterplatine hindurch erstrecken. In noch anderen Anwendungen kann es nicht wünschenswert sein, die Anordnung des Bauelements und/oder Leiters der Leiterplatine zu modifizieren (beispielsweise bei Funk- bzw. RF-Schaltungen). Bei diesen Anwendungen muss deshalb die Fassung mit Hilfe von Haltestrukturen befestigt werden, die entweder an einer Außenfläche der Leiterplatine angebracht sind oder überhaupt nicht mit der Leiterplatine verbunden sind.
  • Bei einem Beispiel können die Haltestrukturen an der Außenfläche einer Leiterplatine angebracht sein. Wie in der 10A gezeigt, weist die Leitplatine 931 elektrische Bauelemente 38d, 38e sowie elektrische Kontakte 133a, 133b, 133c auf, die den elektrischen Kontakten der elektrischen Einrichtungen 38a, 38b bzw. der integrierten Schaltung 137 entsprechen. Die Fassung 920 weist Aufnahmen 922a, 922b, 922c, eine Basis 923 und eine obere Abdeckung 924 auf. Wenngleich die Fassung des vorliegenden Ausführungsbeispiels eine Halterung für mehrere Aufnahmen aufweist, ist der Schutzbereich der Erfindung als solcher nicht darauf beschränkt und kann das Beispiel Fassungen beinhalten, bei denen die Basis für eine mechanische Abstützung für nur eine Aufnahme sorgt. Wie in der 10A gezeigt, sind Haltestrukturen 961 an der Fassung 920 angebracht und weisen diese außerdem einen Mechanismus zum Sichern bzw. Festigen der Leiterplatine 931 auf. Die Haltestrukturen 961 können einen verlängerten Abschnitt umfassen, gegenüberliegend derjenigen Seite, an welcher die Fassung angebracht ist, wobei die Leiterplatine 931 zwischen einem mechanischen Gehäuse 910 und einem verlängertem Abschnitt der Haltestrukturen 961 befestigt ist. Eine Mehrzahl von Leitern 140 verbindet zumindest einem elektrischen Kontakt von jedem elektrischen Bauelement 38a, 38b und von der integrierten Schaltung 137 und zumindest einen elektrischen Kontakt der Leiterplatine 133a, 133b und 133c leitend miteinander. Die Mehrzahl von Leitern kann an einem Adapter 941a, 941b, 941c und/oder an Anschlüssen angebracht sein, die in den Anschlusshaltern (nicht gezeigt) enthalten sind.
  • Ein Beispiel für die Befestigung der Leiterplatine zwischen einem mechanischen Gehäuse und einem verlängerten Abschnitt von Haltestrukturen ist in der 10B gezeigt. Ein mechanisches Gehäuse 910b kann einen Kasten mit einem oberen und einem unteren Abschnitt umfassen. Eine Leiterplatine, deren Anordnung durch eine gestrichelte Linie 931b dargestellt ist, ist zwischen dem oberen Abschnitt des mechanischen Gehäuses 910b und verlängerten Abschnitten der Haltestrukturen 961b befestigt. Die Haltestrukturen sind außerdem an einer Fassung 920b angebracht, die auf einer anderen Seite des oberen Abschnittes des mechanischen Gehäuses 910b vorgesehen sein kann. Bei diesem Beispiel kann es notwendig sein, die Leiterplatine dergestalt zu modifizieren, dass die verlängerten Abschnitte der Haltestrukturen 961b und das mechanische Gehäuse 910b die Leiterplatine in einem passiven und/oder nicht leitenden Bereich berühren. Bei einem Beispiel kann, falls das mechanische Gehäuse und/oder die Haltestrukturen leitend sind, eine nicht leitende Schicht oder eine Dichtung auf dem mechanischen Gehäuse, den Haltestrukturen und/oder der Leiterplatine angeordnet sein, so dass sich diese zwischen der Leiterplatine und dem mechanischen Gehäuse und/oder den Haltestrukturen befindet.
  • Bei einem anderen Beispiel können die Haltestrukturen für eine Befestigung an einem mechanischen Gehäuse sorgen, welches die Leiterplatine enthält. Gemäß der 11 ist die Fassung 1020 mit Hilfe von Haltestrukturen 1061 an einem mechanischen Gehäuse 1010 angebracht. Das mechanische Gehäuse 1010 weist außerdem die Leiterplatine 1031a auf oder stützt diese ab und kann auch zusätzliche Leiterplatinen 1031b, 1031c enthalten oder diese abstützen.
  • Eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung gemäß der vorliegenden Erfindung weist eine Stufe zur mechanischen Befestigung der Fassung und des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts auf. Eine Stufe kann aus einer Struktur parallel zu einer Leiterplatine eines modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts bestehen und für eine mechanische Abstützung für eine Fassung sorgen. Bei einem Ausführungsbeispiel sorgt eine erste Mehrzahl von Haltestrukturen für eine mechanische Anbringung des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts an der Stufe. Die ersten Haltestrukturen können für eine unmittelbare Anbringung an dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt sorgen oder die Haltestrukturen können an einem mechanischen Gehäuse angebracht sein, an welchem das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt ebenfalls gemäß der vorstehenden Beschreibung angebracht ist. Die Fassung kann unmittelbar an der Stufe angebracht sein. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel sorgt eine zweite Mehrzahl von Haltestrukturen für eine mechanische Anbringung der Stufe an der Fassung. Bei diesem Ausführungsbeispiel können die zweite Mehrzahl von Haltestrukturen die Fassung oberhalb der Stufe abgehängt lagern oder können diese die Fassung an der Stufe sichern bzw. befestigen.
  • Gemäß der 12 ist die Leitplatine 1131 an einem mechanischen Gehäuse 1110 angebracht und weist diese elektrische Bauelemente 38a, 38b, 38c sowie elektrische Kontakte 133 auf. Die Stufe 1165 ist mit Hilfe von ersten Haltestrukturen 1161 an dem mechanischen Gehäuse 1110 angebracht. Hierbei weisen die ersten Haltestrukturen 1161 eine gewisse (oder vorbestimmte minimale) Höhe auf, um so die Stufe 1165 und den Sockel 1120 oberhalb von anderen Bauelementen (beispielsweise elektrischen Bauelementen 38a, 38b, 38c, etc.) anzuheben oder anzuordnen, um die Gefahr einer Beschädigung von diesen zu vermeiden. Bei diesem Ausführungsbeispielen lagern zweite Haltestrukturen 1162 die Fassung 1120 oberhalb der Stufe nicht in abgehängter Weise sondern ruht die Fassung 1120 auf der Stufe 1165 und ist diese mit Hilfe mit Hilfe von Haltestrukturen 1162 gesichert. Wenngleich die ersten Haltestrukturen 1161, wie dargestellt ist, nicht an der Leiterplatine 1131 angebracht sind, sei darauf hingewiesen, dass die ersten Haltestrukturen an einer Innenfläche oder Außenfläche der Leiterplatine 1131 angebracht sein können, wie vorstehend beschrieben. Die Fassung umfasst eine Basis 1122, eine Aufnahme 1123, eine obere Abdeckung 1124 sowie Anschlusshalter (nicht gezeigt) und ist ausgelegt, um eine integrierte Schaltung 137 aufzunehmen.
  • Die Aufnahme 1123 kann auch eine mechanische Halterung für Anschlüsse umfassen, die mit einem oder mehreren elektrischen Kontakten (nicht gezeigt) der integrierten Schaltung 137 verbinden. Eine Mehrzahl von Leitern 140 verbindet zumindest einen (vorzugsweise eine Mehrzahl von) elektrischen Kontakt (Kontakten) der integrierten Schaltung 137 und zumindest einen (vorzugsweise eine Mehrzahl von) elektrischen Kontakt (Kontakten) 133 der Leiterplatine 1131 leitend miteinander. Die Mehrzahl von Leitern 140 kann an einem Adapter 1132 angebracht sein sowie an Anschlüssen, die in den Anschlusshaltern (nicht gezeigt) enthalten sind. Bei einem Ausführungsbeispiel weist die Stufe zumindest ein Loch auf, durch welches sich die Mehrzahl von Leitern hindurch erstrecken kann, ohne die Stufe zu berühren. Die 13 ist eine vergrößerte Ansicht von dem, was durch den Bereich A in der 12 dargestellt ist. Die Basis 1122 des Sockels sitzt auf einer Oberseite der Stufe 1165. Eine Mehrzahl von Leitern kann Anschlüsse 142 umfassen, die in Anschlusshaltern 1121 enthalten sind, die in der Fassung 1120 positioniert sind und elektrisch mit Leitern 140 verbunden sind. Bei einem Ausführungsbeispiel weist die Stufe 1165 Löcher 1166 auf, durch die hindurch sich Leiter 140 erstrecken können, ohne die Stufe 1165 zu berühren. Bei einem anderen Beispiel kann die Stufe eine Durchgangsbohrung umfassen, durch die sich sämtliche Leiter hindurch erstrecken, oder kann diese eine beliebige Anzahl von Durchgangsbohrungen aufweisen, durch die hindurch sich einer ohne mehrere Leiter erstrecken können. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Stufe außerdem eine elektrische Schaltung aufweisen. Eine solche elektrische Schaltung kann Leiter zum Leiten aufweisen und kann außerdem andere elektronische Einrichtungen umfassen, beispielsweise Verbindungsstecker, Schalter, Anzeigen, Anschlüsse und/oder Steuereinrichtungen. Als solche kann die Stufe ihrerseits eine Leiterplatine umfassen, die elektrische Leiter und Bauelemente aufweist, die mit der Fassung 1120 (vorzugsweise einschließlich der Detektionsschaltung) und/oder Leitern 140 verbunden sind.
  • Bei gewissen Anwendungen kann ein kommerzielles elektronisches Produkt empfindlich gegen Funkstörungen bzw. RF-Störungen sein. Solche kommerziellen elektronischen Produkte können Unterdrückungseinrichtungen beinhalten, beispielsweise leitende Bleche oder Käfige, um jegliche unerwünschten Funksignale zu verringern. Die Prüfvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung kann es erforderlich machen, dass eine solche Abschirmung entfernt oder modifiziert werden muss, so dass eine Mehrzahl von Leitern eine integrierte Schaltung und ein modifiziertes kommerzielles elektronisches Produkt leitend miteinander verbinden können. Die 14 zeigt eine beispielhafte Vorrichtung, die bei Anwendungen eingesetzt werden kann, wo Funkstörungen beim Testen einer integrierten Schaltung berücksichtigt werden müssen. Die Leiterplatine 1331 ist in einem leitenden Kasten oder Käfig 1310 angeordnet und kann deshalb von einer unerwünschten Funkstörung abgeschirmt werden. Bei einem Beispiel ist ein oberer Abschnitt des Kastens 1310 parallel zu der Leiterplatine und kann zum Zwecke dieser Diskussion als eine Stufe betrachtet werden, wie vorstehend beschrieben. Erste Haltestrukturen 1361 sorgen für eine Anbringung an einer Leiterplatine 1331 und einer unteren Fläche einer Stufe/eines mechanischen Gehäuses 1310. Zweite Haltestrukturen 1362 sorgen für eine Anbringung einer Fassung 1320 an einer oberen Fläche einer Stufe/eines mechanischen Gehäuses 1310. Wenngleich die Leiterplatine 1331 gemäß der 14 auf der unteren Fläche der Stufe 1310 angeordnet ist, sei darauf hingewiesen, dass die Leiterplatine 1331 alternativ auf einer oberen Fläche einer Stufe 1310 angeordnet sein kann und dass die Fassung 1320 und somit die integrierte Schaltung auf der unteren Fläche der Stufe 1310 angeordnet sein kann.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung einen Eingangs- und/oder Ausgangsanschluss umfassen. Bezug nehmend erneut auf die 3B kann es sich bei dem optionalen Bauelement 13a um einen Eingangs- und/oder Ausgangsanschluss handelt. Der Anschluss 13a kann mit dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt 230, der Fassung 220b, dem Anschluss 11, dem Schalter 12 und/oder der Anzeige 13 leitend verbinden. Bei noch einem anderen Ausführungsbeispiel kann eine Stromquelle mit dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt verbunden sein. Bei der Stromquelle 14 kann es sich um einen DC-DC-Wandler, einen AC-DC-Wandler oder um eine freistehende Stromversorgung handeln, beispielsweise eine Batterie bzw. einen Akkumulator. Bei einem anderen Beispiel ist die Stromquelle 14 die Batterie des kommerziellen elektronischen Produkts. Die Stromquelle 14 kann außerdem mit dem Anschluss 11 oder dem Anschluss 13a verbunden sein.
  • Eine andere beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen von integrierten Schaltungen
  • Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel kann eine beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung umfassen: Eine Stromquelle; einen Schalter; eine Prüfeinrichtung, die eine Fassung umfasst, die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung aufzunehmen, eine Leiterplatine, die im Wesentlichen identisch zu derjenigen eines kommerziellen elektronischen Produkts ist, das ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, eine Mehrzahl von Leitern, die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt der Leiterplatine leitend miteinander verbinden; sowie eine Schaltung, die ausgelegt ist, um festzustellen (i), ob die integrierte Schaltung in geeigneter Weise in der Fassung ausgerichtet bzw. angeordnet ist, und/oder (ii) die Spannung an und/oder den Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung.
  • Wie in der 15 gezeigt, kann eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung eine Stromquelle 1410, eine Unterbrechungseinrichtung bzw. einen Schalter 1420, eine Prüfeinrichtung 1430, die eine Fassung 1431 umfasst, sowie eine Schaltung 1440 beinhalten. Bei einem Beispiel kann die Vorrichtung eine Anzeige 1441 beinhalten, die mit der Schaltung 1440 verbunden ist. Bei einem anderen Beispiel und wie in der 16 gezeigt, kann die Vorrichtung einen Steuerungscomputer 1542, eine automatische Chip-Beschickungsseinrichtung 1551, ein Beschickungsfach 1552 und ein Entladungsfach 1553 umfassen. Die automatische Chip-Beschickungseinrichtung 1551 kann einen Roboterarm mit zwei oder mehr (vorzugsweise drei oder mehr) Freiheitsgraden und einer Halteeinrichtung (beispielsweise einem Vakuumstab) an einem Ende des Arms aufweisen, um eine integrierte Schaltung oder einen Chip aufzugreifen, zu halten und wieder freizugeben, gemeinsam mit einer Logik, Anzeigeeinrichtungen und/oder Eingangs- und/oder Ausgangsanschlüssen. Beispielsweise kann die automatische Chip-Beschickungseinrichtung 1551 ausgelegt sein, um eine integrierte Schaltung aus einem Beschickungsfach bzw. -kasten 1552 aufzugreifen, diese in eine Prüfeinrichtung 1430 freizugeben (beispielsweise den IC in einer Fassung anzuordnen), anzuzeigen, dass die integrierte Schaltung in die Prüfeinrichtung 1430 angeordnet wurde (beispielsweise durch automatisches Schließen einer Abdeckung auf der Prüffassung, die mit einer Detektorschaltung, wie vorstehend beschrieben, versehen ist), um auf einen Befehl von einer Schaltung 1440 zu warten, um die geprüfte integrierte Schaltung aus der Prüfeinrichtung 1430 aufzugreifen und um die geprüfte integrierte Schaltung in ein Entladungsfach 1553 freizugeben. Das Entladungsfach 1553 kann so unterteilt sein, dass eine integrierte Schaltung, die erfolgreich geprüft worden ist, in dem Fach 1554 angeordnet wird, und dass eine integrierte Schaltung, die nicht erfolgreich geprüft worden ist, in einem der Fächer 1555a, 1555b, 1555c angeordnet wird, was von der Fehlerart der integrierten Schaltung abhängt. Alternativ kann das Entladungsfach 1553 so unterteilt sein, dass eine für fehlerhaft befundene integrierte Schaltung in dem Fach 1554 angeordnet wird und dass „erfolgreich geprüfte” integrierte Schaltungen in einem der Fächer 1555a, 1555b, 1555c angeordnet werden, was von den Prüfkriterien und/oder Ergebnissen (beispielsweise Wert bzw. Werte eines Schwellenwertparameters) für das jeweilige Fach abhängt.
  • Genauer gesagt und nun Bezug nehmend auf die 17 kann eine Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung eine Stromquelle 1610, eine Schalteinrichtung 1620, eine Prüfeinrichtung 1630 und eine Schaltung 1640 aufweisen. Bei der Stromquelle 1610 kann es sich um einen DC-DC-Wandler, einen AC-DC-Wandler, eine Batterie oder eine beliebige andere Stromquelle handeln. Gemäß einem Bespiel ist die Schalteinrichtung 1620 geöffnet konfiguriert, um das Fließen eines Stroms von der Stromquelle 1610 zu der Prüfeinrichtung 1630 zu verhindern. Gemäß einem anderen Beispiel kann die Schalteinrichtung 1620 konfiguriert sein, um den Ausgang der Stromquelle 1610 auf eine Masse kurzzuschließen. Wenngleich der beispielhafte Schalter ein Element separat zu der Prüfeinrichtung 1630 oder der Stromquelle 1610 ist, sei darauf hingewiesen, dass es sich bei dem Schalter 1620 um ein Element der Stromquelle, der Prüfeinrichtung und/oder einer beliebigen anderen Einrichtung in der Prüfvorrichtung handeln kann. Bei dem Schalter kann es sich um einen körperlichen Schalter oder einen beliebigen anderen funktionellen Schalter handeln und die vorliegende Erfindung soll die folgenden Funktionen eines Schalters mit abdecken: Um das Fließen eines Stroms zu der Fassung 1631, zu der Leiterplatine 1632, zu der Prüfeinrichtung 1630 und/oder der gesamten Prüfeinrichtung zu verhindern. Die Prüfeinrichtung 1630 kann ebenfalls eine Mehrzahl von Leitern 1633 aufweisen, die ausgelegt sind, um zumindest einen elektrischen Kontakt einer integrierten Schaltung 1660 und zumindest einen elektrischen Kontakt 1635 der Leiterplatine 1632 leitend miteinander zu verbinden. Bei den leitenden Anschlüssen innerhalb von Anschlusshaltern 1637 kann es sich um einen oder mehrere der Mehrzahl von Leitern 1633 handeln. Die Prüfeinrichtung kann außerdem einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 1634 zur Verbindung mit der Schaltung 1640 aufweisen.
  • Die Schaltung 1640 kann mehrere Detektoren umfassen. Gemäß einem Beispiel empfängt die Schaltung 1640 von der Fassung 1631 ein Signal bzw. eine Anzeige, was die Bereitstellung einer zusätzlichen Schaltung erforderlich machen kann um zu detektieren, ob die integrierte Schaltung 1660 geeignet ausgerichtet bzw. angeordnet ist. Gemäß einem anderen Beispiels kann die Schaltung 1640 einen Spannungsdetektor aufweisen, mit einer Spannungsreferenz und einem Komparator, welcher ausgelegt ist um zu detektieren, wenn die detektierte Spannung an einem vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung 1630 größer oder gleich einer Referenzspannung ist. Oder die Schaltung kann eine Mehrzahl von Spannungsdetektoren aufweisen, die ausgelegt sind um zu detektieren, wenn die detektierte Spannung an einem vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung 1630 innerhalb oder außerhalb eines vorbestimmten Spannungsbereichs liegt. Gemäß einem anderen Beispiel kann die Schaltung 1640 einen Stromdetektor aufweisen, um den Strom zu detektieren, der durch einen vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung 1630 fließt. Dies kann, wenngleich dies nicht gezeigt ist, einen Stromdetektor einschließen, der in Reihe zu einem vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung 1630 geschaltet ist. Dieser Stromdetektor kann auch andere Elemente beinhalten, beispielsweise Komparatoren, die ausgelegt sind um anzuzeigen, wenn der Strom größer oder gleich einem Referenzstrom ist oder wenn dieser innerhalb oder außerhalb eines vorbestimmten Strombereichs liegt.
  • Die Stromquelle 1610 kann über einen Schalter 1620 mit der Prüfeinrichtung 1630 verbunden sein. Bei einem Ausführungsbeispiel kann die Schaltung 1640 ausgelegt sein, um den Schalter 1620 zu öffnen, falls (i) die integrierte Schaltung 1660 nicht geeignet in der Fassung 1631 ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung 1630 außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann die Prüfeinrichtung eine Anzeige 1641 aufweisen, die ausgelegt ist um anzuzeigen, (i) ob die integrierte Schaltung 1660 in der Fassung 1631 geeignet ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung 1630 außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt. Gemäß einem Beispiel kann eine visuelle Anzeige einen oder mehrere LCD-Bildschirme, LEDs und/oder analoge Displays (beispielsweise Voltmeter oder Galvanometer) beinhalten. Gemäß einem anderen Beispiel kann es sich bei der Anzeige um ein Audiosignal handeln, das von einem Summer oder Lautsprecher erzeugt wird. Gemäß noch einem anderen Beispiel kann es sich bei der Anzeige um ein elektrisches Signal in einer Schaltung handeln.
  • Die Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung kann außerdem eine analoge und/oder digitale Logik aufweisen. Wenngleich die Logik 1642 als ein Element der Schaltung 1640 dargestellt ist, sei darauf hingewiesen, dass es sich bei der Logik 1642 um ein Bauelement handeln kann, beispielsweise einen Controller oder Computer, das mit der Schaltung 1640 verbunden ist. Beispielsweise kann es sich bei der Logik 1642 um einen Mikrocontroller handeln, der einen Teil der Schaltung 1640 darstellt oder kann es sich dabei um einen Personal Computer (PC) handeln, der mit der Schaltung 1640 verbunden ist. Gemäß einem Ausführungsbeispiel kann die Logik 1642 ausgelegt sein, um den Schalter 1620 zu öffnen, falls (i) die integrierte Schaltung in der Aufnahme geeignete ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung von der Stromquelle außerhalb eines vorbestimmten Wertbereichs liegt. Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist die Schaltung 1640 ausgelegt, um von Spannungs- oder Stromdetektoren und/oder Detektoren zum Detektieren, ob die integrierte Schaltung in der Aufnahme geeignet ausgerichtet ist, eine Anzeige bzw. ein Signal zu empfangen. Die Schaltung 1640 ist außerdem ausgelegt, um den Schalter 1620 in Entsprechung zu der Anzeige bzw. den Signalen zu steuern. Wenn beispielsweise die integrierte Schaltung 1660 in der Fassung 1631 nicht geeignet angeordnet ist oder die Spannung bzw. der Strom an einem vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung 1630 außerhalb eines vorbestimmten Bereichs liegt, ist die Schaltung 1640 ausgelegt, um den Schalter 1620 zu öffnen, um einen Stromfluss durch die Prüfeinrichtung 1630 zu verhindern.
  • Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel ist die Logik auch über einen Eingangs- und/oder Ausgangsanschluss mit der Prüfeinrichtung verbunden und ausgelegt, um die Prüfeinrichtung in Entsprechung zu einem Programm zu steuern. Wie vorstehend ausgeführt, kann die Prüfeinrichtung 1630 einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 1634 aufweisen. Außerdem kann die Leiterplatine 1632 einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 1636 aufweisen. Die Logik 1642 kann über einen Eingangs-/Ausgangsanschluss 1634 und/oder -anschluss 1636 mit der Prüfeinrichtung 1630 verbunden sein. Die Logik 1642 kann ein Programm aufweisen, das Instruktionen zum Steuern der Prüfeinrichtung 1630 enthält. Ein Beispiel kann eine Instruktion zum „Hochfahren” der Prüfeinrichtung enthalten. Ein anderes Beispiel kann eine Instruktion enthalten, welche die Prüfeinrichtung konfiguriert, um verschiedene Peripheriegeräte anzuschalten. Gemäß einem anderen Beispiel kann die Logik 1642 ein Prüfsignal bewirken, das sich durch die Prüfeinrichtung 1630 ausbreiten soll, und die tatsächliche Antwort der Prüfeinrichtung 1630 mit der erwarteten Antwort vergleichen. Eine solche Signalform kann mit Hilfe eines Eingangs-/Ausgangsanschlusses 1634 oder 1636 oder an einen vorbestimmten Anschluss der Prüfeinrichtung (vorzugsweise Stromversorgungsanschluss) gesendet oder empfangen werden. Bei der Signalform kann es sich auch um ein elektro-magnetisches und/oder optisches Signal handeln, das an ein Peripherie-Bauelement gesendet wird, beispielsweise an eine Antenne, einen Lichtsensor oder Empfänger und/oder einen Bildsensor. Das Programm kann zahlreiche Instruktionen beinhalten, von denen jede ausgelegt ist, um eine bestimmte Funktion der Prüfeinrichtung auszuführen.
  • Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung ein Speicherelement 1643 auf, das ausgelegt ist, um ein Ergebnis oder mehrere Ergebnisse des Programms aufzuzeichnen. Ein solches Speicherelement kann in der Logik 1642 beinhaltet sein oder mit dieser verbunden sein. Ein anderes Ausführungsbeispiel weist eine Anzeige 1644 auf, die ausgelegt ist, um ein Ergebnis oder mehrere Ergebnisse des Programms anzuzeigen. Bei der Anzeige kann es sich um eine visuelle Anzeige handeln, beispielsweise eine solche, die einen LCD, LED und/oder eine beliebige andere analoge Anzeige verwendet, oder kann es sich um ein Audiosignal handeln, beispielsweise eines, das unter Verwendung eines Summers oder Lautsprechers erzeugt wird. Bei der Anzeige kann es sich auch um ein elektrisches Signal in einer Schaltung handeln. Die Anzeige 1644, die ausgelegt ist, um die Ergebnisse des Programms anzuzeigen, kann mit der Anzeige 1641 kombiniert werden, die ausgelegt ist um anzuzeigen, ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist und/oder die Spannung und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt. Die Anzeige 1641 und/oder die Anzeige 1644 kann außerdem ein Ergebnis eines Vergleichs zwischen der tatsächlichen Spannung und/oder dem tatsächlichen Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung mit der erwarteten Spannung und/oder dem erwarteten Strom anzeigen.
  • Bei einem Ausführungsbeispiel weist die Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung eine automatische Chip-Beschickungseinrichtung 1650 auf, die mit einer Schaltung 1640 verbunden ist und ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beschicken und wieder herauszunehmen, und zwar in Entsprechung zu dem Programm innerhalb der Logik 1642. Die automatische Chip-Beschickungseinrichtung 1650 weist eine mechanische Einrichtung 1651 auf, um integrierte Schaltungen in die Fassung 1631 hinein zu bewegen und aus dieser heraus zu bewegen. In der 17 ist die mechanische Einrichtung 1651 ausgelegt, um eine integrierte Schaltung 1660a aus einem Beschickungsfach 1652 heraus zu nehmen und diese in einer Fassung 1631 anzuordnen. Bei der integrierten Schaltung 1660a handelt es sich um eine zu prüfende Schaltung und bei der integrierten Schaltung 1660b handelt es sich um eine Schaltung, die bereits geprüft worden ist. Nachdem die integrierte Schaltung geprüft worden ist, ist die mechanische Einrichtung 1651 ausgelegt, um die integrierte Schaltung 1660b aus der Fassung 1631 heraus zu nehmen und diese in einem Entladungsfach 1653 anzuordnen. Gemäß einem Beispiel kann die mechanische Einrichtung 1651 außerdem die integrierten Schaltungen mit verschiedenen Farben oder Farbstoffen in Entsprechung zu den Ergebnissen des Programms markieren. Gemäß einem anderen Beispiel kann die mechanische Einrichtung 1651 die integrierten Schaltungen in ein Teilfach oder mehrere Teilfächer (beispielsweise das Fach 1654 oder 1655a, 1655b, 1655c) des Entladungsfachs 1653 in Entsprechung zu den Ergebnissen des Programms sortieren. Außerdem kann die automatische Chip-Beschickungseinrichtung 1650 ausgelegt sein, um (i) die Ergebnisse des Programms in Entsprechung zu einer integrierten Schaltung und (ii) die Position der integrierten Schaltung aufzuzeichnen.
  • Beispielhaftes Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung.
  • Gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel kann ein beispielhaftes Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung die folgenden Schritte umfassen: Anordnen der integrierten Schaltung in einer Fassung, die mechanisch mit einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt verbunden ist, wobei das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt eine Leiterplatine umfasst, die im Wesentlichen identisch zu der Leiterplatine eines kommerziellen elektronischen Produkts ist, das ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu enthalten, welches jedoch nicht die integrierte Schaltung enthält; und Prüfen der integrierten Schaltung.
  • Die 17 zeigt eine beispielhafte Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung, die eine Fassung 1631 aufweist, die mit einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt 1638 verbunden ist. Gemäß einem Gesichtspunkt der Erfindung umfasst ein Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung den Schritt des Anordnens der integrierten Schaltung in einer Fassung. Das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt weist eine Leiterplatine auf, die im Wesentlichen identisch zu einem kommerziellen elektronischen Produkt ist. Wenngleich die Leiterplatine ausgelegt ist, um eine integrierte Schaltung aufzuweisen, weist die Leiterplatine des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts nicht die integrierte Schaltung auf. Stattdessen ist die integrierte Schaltung in der Fassung bzw. dem Sockel angeordnet.
  • Bei einem Ausführungsbeispiel kann das Verfahren außerdem den Schritt einer Verbindung des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts mit einer Strom- bzw. Spannungsquelle umfassen. Die Stromquelle kann ein DC-DC-Wandler, ein AC-DC-Wandler sein oder eine freistehende Stromquelle, beispielsweise eine Batterie. Das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt kann unmittelbar mit der Stromquelle verbunden werden oder kann indirekt mit der Stromquelle verbunden werden, beispielsweise durch Verbinden mittels Sicherungen, Schaltern oder anderen Leitern, Elementen oder Schaltungen.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann das Verfahren den Schritt einer Anzeige der Spannung an und/oder des Stroms durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts umfassen. Die vorbestimmten Anschlüsse des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts können sich körperlich auf dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt befinden oder die vorbestimmten Anschlüsse können leitend mit dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt verbunden sein. Beispielsweise kann die Spannung und/oder der Strom auf einem Leiter nicht körperlich auf dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt gemessen werden, beispielsweise auf den Ausgangsanschlüssen der Stromquelle oder auf einem Teil eines Leiters gemessen werden, der elektrisch mit der Stromquelle und dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt verbindet. Die Spannung und/oder der Strom können visuell unter Verwendung eines LCD-Displays, von LEDs, von analogen Displays, mittels Audiosignalen von einem Summer oder Lautsprecher und/oder elektrisch mit Hilfe eines elektrischen Signals in einer Schaltung angezeigt werden oder mit Hilfe einer beliebigen Kombination der vorstehend angeführten Elemente bzw. Größen.
  • Bei noch einem anderen Ausführungsbeispiel kann das Verfahren den Schritt einer Detektion umfassen, ob die integrierte Schaltung in der Schaltung geeignet angeordnet ist. Ein Beispiel zum Detektieren, ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist, umfasst ein Konfigurieren (i) der Fassung, so dass diese zwei oder mehr leitende Anschlüsse und einen Leiter aufweist, und (ii) einer Schaltung um zu detektieren, ob die leitenden Anschlüsse den Leiter elektrisch kontaktieren. Ein anderes Beispiel kann den Schritt einer Anordnung von einem oder mehreren elektro-mechanischen Schaltern auf einem ersten Abschnitt einer Fassung und eines Konfigurierens eines zweiten Abschnittes einer Fassung umfassen, um den Schalter mechanisch vorzudrücken bzw. zu betätigen, wenn die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist. Ein anderes Ausführungsbeispiel kann den Verfahrensschritt einer Anzeige umfassen, ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist. Die Anzeige kann visuell unter Verwendung eines LCD-Displays, von LEDs, von analogen Displays oder als Audiosignal von einem Summer oder Lautsprecher und/oder elektrisch mit Hilfe eines elektrischen Signals in einer Schaltung oder mit Hilfe einer beliebigen Kombination der vorstehenden Elemente oder Größen erfolgen.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel umfasst das Verfahren eine elektrische Trennung des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts von der Stromquelle, wenn (i) die integrierte Schaltung in der Fassung nicht geeignet angeordnet ist und/oder (ii) die Spannung an und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt. Bei einem Beispiel kann das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt von der Stromquelle durch Öffnen eines Schalters getrennt werden, der in Reihe zu dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt und der Stromquelle geschaltet ist. Bei einem anderen Beispiel wird das Ausgangssignal der Stromquelle auf eine Masse kurzgeschlossen.
  • Ein anderes Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung weist den Schritt des Ausführens eines Programms auf, das von einem Prozessor und/oder externen Computer gesteuert wird. Das Programm kann in dem Prozessor und/oder dem externen Computer gespeichert sein oder das Programm kann in mit diesen verbundenen Speicherelementen gespeichert sein. Das Programm kann Instruktionen umfassen, die ausgelegt sind, um das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt zu steuern, um eine vordefinierte Funktion auszuführen. Außerdem kann das Verfahren ferner erwartete Ergebnisse des Ausführens der Instruktionen mit tatsächlichen Ergebnissen vergleichen. Der Prozessor und/oder externe Computer kann auch die Ergebnisse in einem Speicherelement speichern, das in dem Prozessor und/oder dem externen Computer enthalten ist, oder kann die Ergebnisse in einem externen Speicherelement speichern.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann das Verfahren die Schritte einer automatischen Beschickung und eines automatischen Herausnehmens der integrierten Schaltung in die Fassung und/oder aus der Fassung umfassen. Ein Beispiel kann eine Verbindung einer automatisierten Chip-Beschickungseinrichtung mit dem Prozessor und/oder dem externen Computer umfassen, worauf ein Programm abläuft, und eines Anordnens von integrierten Schaltungen in der Fassung und eines Herausnehmens derselben aus dieser Fassung, und zwar in Entsprechung zu dem Programm. Die Auslegung und Realisierung einer solchen automatisierten Ausrüstung, die ausgelegt ist, um ein solches Verfahren auszuführen, liegt im Rahmen des dem Fachmann auf diesem Gebiet Zugänglichen, wie vorstehend beschrieben.
  • Beispielsweise können der Prozessor und/oder externe Computer programmiert sein, um: (1) eine erste integrierte Schaltung in eine Fassung zu beschicken bzw. anzuordnen; (2) zu detektieren, ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist; (3) einen Schalter zu schließen, um an das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt einen Strom bzw. eine Spannung anzulegen; (4) das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt anzuweisen, eine oder mehrere vorbestimmte Funktionen auszuführen; (5) die Ergebnisse eines solchen Programms zu vergleichen, aufzuzeichnen und/oder anzuzeigen; (6) den Schalter zu öffnen, um eine Spannung bzw. einen Strom von dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt zu trennen; (7) die integrierte Schaltung heraus zu nehmen und diese in einem Fach abzulegen; (8) und die Ergebnisse des Programms in Entsprechung zu der integrierten Schaltung sowie deren Position in dem Fach aufzuzeichnen und/oder die integrierte Schaltung mit Farbe zu markieren. Der Prozessor und/oder externe Prozessor kann bzw. können außerdem programmiert sein, um: eine integrierte Schaltung in einer Fassung anzuordnen; die Schritte (2) bis (8), wie vorstehend ausgeführt, zu wiederholen; und diese solange zu wiederholen, bis die letzte integrierte Schaltung, die geprüft werden soll, aus dem Sockel heraus genommen worden ist.
  • Bei noch einem anderen Ausführungsbeispiel kann das Verfahren den Schritt einer Anzeige von einem oder mehreren Ergebnissen des Programms umfassen. Die Anzeige kann visuell unter Verwendung eines LCD-Displays, von LEDs, von analogen Displays oder mit Hilfe eines Audiosignals von einem Summer oder Lautsprecher oder elektrisch mit Hilfe eines elektrisches Signals in einer Schaltung und/oder mit Hilfe einer beliebigen Kombination der vorstehend genannten Elemente oder Größen erfolgen.
  • Beispielhaftes Verfahren zum Herstellen einer Prüfvorrichtung für integrierte Schaltungen
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann ein beispielhaftes Verfahren zum Herstellen einer Prüfvorrichtung für integrierte Schaltungen die Schritte umfassen: Mechanisches Anbringen einer Fassung an einem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt, wobei das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt eine Leiterplatine umfasst, die im Wesentlichen identisch zu der Leiterplatine eines kommerziellen elektronischen Produkts ist, das ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beinhalten, welches jedoch nicht die integrierte Schaltung beinhaltet; und Konfigurieren einer Mehrzahl von Leitern, um zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung und zumindest einen elektrischen Kontakt des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts leitend miteinander zu verbinden, wenn sich die integrierte Schaltung in der Fassung befindet.
  • Bei einem Ausführungsbeispiel kann das Verfahren zum mechanischen Anbringen der Fassung an dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt den Schritt eines Verbinden von einer oder mehreren Haltestrukturen mit dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt in einem passiven und/oder nicht-leitenden Bereich umfassen. Ein passiver und/oder nicht-leitender Bereich ist ein Bereich, in oder nahe welchem keine elektrisch leitenden Elemente vorhanden sind, die den normalen Betrieb der integrierten Schaltung oder des modifizierten kommerziellen elektronischen Produkts im Allgemeinen stören würden.
  • Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel kann das Verfahren außerdem den Schritt eines Modifizierens des kommerziellen elektronischen Produkts dergestalt umfassen, dass eine oder mehrere der Haltestrukturen das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt in einem passiven und/oder nicht-leitenden Bereich mechanisch anbringen. Beispielsweise kann eine Leiterplatine in dem kommerziellen elektronischen Produkt modifiziert werden, um Bahnen, Leitungen, Busse, Kontaktlöcher oder andere Elemente zu bewegen und um elektrische Kontakte umzuordnen, um zur Anbringung solcher Haltestrukturen aufgenommen zu werden. Bei einem anderen Beispiel können Bahnen, Leitungen, Busse, Kontaktlöcher oder andere Elemente von einem Rand der Leiterplatine zurückgezogen werden, um Durchgangsbohrungen aufzunehmen, um darin eine oder mehrere Haltestrukturen anzuordnen.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel kann das Verfahren den Schritt einer Modifikation des kommerziellen elektronischen Produkts dergestalt umfassen, dass ein elektrischer Kontakt oder mehrere elektrische Kontakte das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt leitend mit einem oder mehreren elektrischen Kontakten der integrierten Schaltung verbinden. Es kann notwendig sein, einen oder mehrere elektrische Kontakte zu bewegen, um für eine mechanische Anbringung einer Mehrzahl von Leitern zu sorgen. Beispielsweise kann es notwendig sein, einen oder mehrere elektrische Kontakte auf einer Seite der Leiterplatine auf einer anderen Seite einer Leiterplatine umzuordnen, so dass eine Mehrzahl von Leitern daran angebracht werden kann.
  • In dem Ausmaß, dass eine Modifikation eines kommerziellen elektronischen Produkts erforderlich ist, um Haltestrukturen mechanisch anzubringen oder um das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt mit der integrierten Schaltung leitend zu verbinden, wird es bevorzugt, dass die Umordnung dergestalt minimiert ist, dass das modifizierte kommerzielle elektronische Produkt in größestmöglichen Ausmaß identisch zu dem nicht modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt ist.
  • Bei einem Beispiel kann das kommerzielle elektronische Produkt in einer oder mehreren der nachfolgenden Art und Weisen modifiziert sein: es kann für eine integrierte Schaltung, die geprüft werden soll, konfiguriert werden, ohne diese zu beinhalten; eine Fassung kann körperlich und/oder elektrisch an dem modifizierten kommerziellen elektronischen Produkt angebracht bzw. mit diesem verbunden werden; Bahnen auf dem kommerziellen elektronischen Produkt können umgeordnet werden, um eine Anbringung bzw. Verbindung der Fassung und/oder von Haltestrukturen für eine Stufe und/oder eine Fassung zu ermöglichen; und das kommerzielle elektronische Produkt und/oder die Fassung können für eine automatisierte Chip-Beschickungseinrichtung ausgelegt werden, um eine oder mehrere integrierte Schaltungen in der Fassung anzuordnen.
  • Schlussfolgerung/Zusammenfassung
  • Somit stellt die vorliegende Erfindung Vorrichtungen und Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung bereit.

Claims (16)

  1. Vorrichtung zum Prüfen einer integrierten Schaltung eines kommerziellen elektronischen Produkts, umfassend: a) eine Strom- bzw. Spannungsquelle; b) eine Schalteinrichtung; c) eine Prüfeinrichtung, die umfasst: eine Fassung (1320), die ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung (137) aufzunehmen; eine Leiterplatine (1331), die im Wesentlichen identisch zu derjenigen des kommerziellen elektronischen Produkts ist und ausgelegt ist, um die integrierte Schaltung zu beinhalten; und eine Mehrzahl von Leitern (140), die zumindest einen elektrischen Kontakt der integrierten Schaltung mit zumindest einem elektrischen Kontakt der Leiterplatine leitend verbinden; dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfeinrichtung außerdem einen leitenden Kasten (1310) umfasst, der eine Stufe aufweist, die einen oberen Abschnitt des leitenden Kastens bildet, wobei die Fassung auf einer oberen Fläche der Stufe angebracht ist und die Leiterplatine auf einer unteren Fläche der Stufe angebracht ist, wobei die Vorrichtung zum Prüfen der integrierten Schaltung außerdem eine Schaltung (1440; 1640) umfasst, die ausgelegt ist um zu detektieren, (i) ob die integrierte Schaltung (137) in der Fassung geeignet ausgerichtet ist und/oder um (ii) die Spannung an einem oder mehreren der vorbestimmten Anschlüsse der Prüfvorrichtung und/oder den Strom durch einen oder mehreren der vorbestimmten Anschlüsse der Prüfvorrichtung zu detektieren.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Schaltung (1440; 1640) außerdem ausgelegt ist, um die Schalteinrichtung zu öffnen, falls (i) die integrierte Schaltung in der Fassung nicht geeignet ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an einem oder mehreren der vorbestimmten Anschlüsse der Prüfvorrichtung und/oder der Strom durch einen oder mehrere der vorbestimmten Anschlüsse der Prüfeinrichtung außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, weiterhin umfassend eine Anzeige, die ausgelegt ist, um anzuzeigen, (i) ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung an einem oder mehreren der vorbestimmten Anschlüsse der Prüfvorrichtung und/oder den Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfvorrichtung.
  4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, weiterhin umfassend eine Logikeinheit, die ausgelegt ist, um die Schalteinrichtung zu öffnen, falls (i) die integrierte Schaltung in der Fassung nicht geeignet ausgerichtet ist und/oder (ii) die Spannung und/oder den Strom von der Stromquelle durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Prüfeinrichtung außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, bei der die Logikeinheit außerdem über einen Eingangs- und/oder Ausgangsanschluss mit der Prüfeinrichtung verbunden ist und ausgelegt ist, um die Prüfeinrichtung in Entsprechung zu einem Programm zu steuern.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, weiterhin umfassend ein Speicherelement, das ausgelegt ist, um ein Ergebnis oder mehrere Ergebnisse des Programms aufzuzeichnen.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 5, weiterhin umfassend eine Anzeige, die ausgelegt ist, um ein Ergebnis oder mehrere Ergebnisse des Programms anzuzeigen.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 5, weiterhin umfassend eine automatische Chip-Beschickungsvorrichtung, um die integrierte Schaltung in Entsprechung zu dem Programm der Vorrichtung zum Prüfen zuzuführen und heraus zu nehmen.
  9. Verfahren zum Prüfen einer integrierten Schaltung mit einer Vorrichtung zum Prüfen nach einem der Ansprüche 1 bis 8, umfassend die Schritte: a) Anordnen der integrierten Schaltung (137) in der Fassung (1320); b) Feststellen, ob die integrierte Schaltung geeignet in der Fassung (1320) ausgerichtet ist, mittels der Schaltung (1440; 1640); und c) Prüfen der integrierten Schaltung.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, weiterhin umfassend den Schritt eines Verbindens der Leiterplatine mit einer Strom- bzw. Spannungsquelle.
  11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, weiterhin umfassen den Schritt eines Anzeigens der Spannung an einem oder mehreren vorbestimmten Anschlüssen der Leiterplatine und/oder des Stroms durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Leiterplatine.
  12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, weiterhin umfassend den Schritt eines Anzeigens, ob die integrierte Schaltung in der Fassung geeignet angeordnet ist.
  13. Verfahren nach Anspruch 10, weiterhin umfassend den Schritt, dass die Leiterplatine von der Strom- bzw. Spannungsquelle getrennt wird, wenn (i) die integrierte Schaltung in der Fassung nicht geeignet angeordnet ist und/oder (ii) die Spannung an einem oder mehreren vorbestimmten Anschlüssen der Leiterplatine und/oder der Strom durch einen oder mehrere vorbestimmte Anschlüsse der Leiterplatine außerhalb eines vorbestimmten Wertebereichs liegt.
  14. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 13, bei dem der Schritt des Prüfens der integrierten Schaltung ein Ausführen eines Programms umfasst, das von einem Prozessor und/oder externen Computer gesteuert wird.
  15. Verfahren nach Anspruch 14, weiterhin umfassend den Schritt eines automatischen Zuführens und/oder Herausnehmens der integrierten Schaltung in die Fassung und/oder aus der Fassung heraus.
  16. Verfahren nach Anspruch 14, weiterhin umfassend den Schritt eines Anzeigens von einem Ergebnis oder mehreren Ergebnissen des Programms.
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7511526B2 (en) * 2006-08-23 2009-03-31 Munt Kenneth A Circuit module testing apparatus and method
US8183910B2 (en) * 2008-11-17 2012-05-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Circuit and method for a digital process monitor
CN101834454A (zh) * 2009-03-13 2010-09-15 深圳富泰宏精密工业有限公司 供电装置
TWI425237B (zh) * 2009-04-10 2014-02-01 Chi Mei Comm Systems Inc 供電裝置
US9756262B2 (en) * 2009-06-03 2017-09-05 Flir Systems, Inc. Systems and methods for monitoring power systems
TWM376004U (en) * 2009-08-05 2010-03-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
US20130014983A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 Texas Instruments Incorporated Device contactor with integrated rf shield
CN105717253B (zh) * 2014-12-03 2018-07-10 北大方正集团有限公司 检测渗金的电路板和电路板的制作方法
US10114060B2 (en) * 2015-02-16 2018-10-30 Continental Automotive Systems, Inc. Negative battery main contactor status determination
US10615745B1 (en) * 2019-01-09 2020-04-07 Kuwait Institute For Scientific Research Device and method for measuring effect of soiling on photovoltaic device
US10447201B1 (en) * 2019-01-09 2019-10-15 Kuwait Institute For Scientific Research Device and method for measuring effect of soiling on photovoltaic device
US10476431B1 (en) * 2019-01-09 2019-11-12 Kuwait Institute For Scientific Research Device and method for measuring effect of soiling on photovoltaic device
CN113406399B (zh) * 2021-06-22 2022-07-05 珠海市精实测控技术有限公司 一种Socket RF信号泄漏自动检测装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040004490A1 (en) * 2002-07-05 2004-01-08 David Huang IC component test socket assembly having error protection device
DE10318394A1 (de) * 2002-07-30 2004-02-26 VIA Technologies, Inc., Hsin-Tien Automatisches Prüfsystem und Vorrichtung für integrierte Schaltungen unter Verwendung eines integrativen Computers und ein Verfahren für dieselben

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5808474A (en) * 1994-11-30 1998-09-15 Lsi Logic Corporation Test socket for testing integrated circuit packages
US6046597A (en) * 1995-10-04 2000-04-04 Oz Technologies, Inc. Test socket for an IC device
TW548414B (en) * 2002-01-29 2003-08-21 Via Tech Inc Automatic integrated circuit overall machine testing system, apparatus and its method
US7053496B2 (en) * 2003-06-27 2006-05-30 Intel Corporation Hybrid package with non-insertable and insertable conductive features, complementary receptacle, and methods of fabrication, assembly, and operation therefor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040004490A1 (en) * 2002-07-05 2004-01-08 David Huang IC component test socket assembly having error protection device
DE10318394A1 (de) * 2002-07-30 2004-02-26 VIA Technologies, Inc., Hsin-Tien Automatisches Prüfsystem und Vorrichtung für integrierte Schaltungen unter Verwendung eines integrativen Computers und ein Verfahren für dieselben

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US7800391B2 (en) 2010-09-21

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