TWI497062B - 中央處理器腳座的光學檢測系統及其方法 - Google Patents

Description

中央處理器腳座的光學檢測系統及其方法

一種光學檢測系統及其方法，尤其是指一種中央處理器腳座的光學檢測系統及其方法。

現有進行中央處理器腳座的光學檢測，一般是在擷取到包含有中央處理器腳座的擷取圖像後，對擷取圖像進行二值化處理時，往往會受到嚴重的光線干擾而造成擷取圖像轉換為二催化圖像時，二值化圖像與擷取圖像產生過大的失真，進一步造成在中央處理器腳座的檢測出現不精確的問題，而需要再依靠人力進行二次檢測，導致中央處理器腳座的光學檢測效率不彰。

綜上所述，可知先前技術中長期以來一直存在現有中央處理器腳座的光學檢測效率不彰的問題，因此有必要提出改進的技術手段，來解決此一問題。

有鑒於先前技術存在現有中央處理器腳座的光學檢測效率不彰的問題，本發明遂揭露一種中央處理器腳座的光學檢測系統及其方法，其中：本發明所揭露的中央處理器腳座的光學檢測系統，其包含：圖像擷取模組、圖像轉換模組、分析模組、圖像處理模組、腳位模組及檢測模組。

圖像擷取模組是用以擷取包含中央處理器腳座的擷取圖像；圖像轉換模組是用以將擷取圖像轉換為灰階圖像；分析模組是用以取得灰階圖像中中央處理器腳座預先劃分的多個區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈；圖像處理模組是依據分析模組的分析結果進行下列圖像處理：當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理；當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據 區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理；及將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像；腳位模組是用以自二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的腳位本體，再依據頂點與腳位本體找出每一個腳位的基準線；檢測模組是用以將二值化圖像中每一個腳位的基準線與標準圖像中每一個腳位的基準線進行下列比對：當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上；及當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的夾角大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上。

本發明所揭露的中央處理器腳座的光學檢測方法，其包含下列步驟：首先，擷取包含中央處理器腳座的擷取圖像；接著，將擷取圖像轉換為灰階圖像；接著，取得灰階圖像中中央處理器腳座預先劃份的多個區域，並對每的個區域的灰階值分佈進行分，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈；接著，當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理；接著，當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理；接著，將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像；接著，自二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的腳位本體，再依據頂點與腳位本體找出每一個腳位的基準線；接著，將二值化圖像中每一個腳位的基準線與標準圖像中每一個腳位的基準線進行比對；接著，當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上；最後，當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的夾角大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上。

本發明所揭露的裝置與操作方法如上，與先前技術之間的差異在於本發明將擷取圖像轉換為灰階圖像後，依據不同的區域進行灰階值分佈進行分析，當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理，當區域的灰階值分 佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理，以將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像，可以有效的避免外在光線的影響，以清楚且準確的分離中央處理腳座的腳位以及中央處理腳座的其餘部份，藉以提高後續中央處理器腳座的光學檢測精確度。

透過上述的技術手段，本發明可以達成提高中央處理器腳座的光學檢測效率的技術功效。

11‧‧‧圖像擷取模組

12‧‧‧圖像轉換模組

13‧‧‧分析模組

14‧‧‧圖像處理模組

15‧‧‧腳位模組

16‧‧‧檢測模組

17‧‧‧顯示模組

18‧‧‧儲存模組

21‧‧‧灰階圖像

22‧‧‧二值化圖像

221‧‧‧第1腳位

222‧‧‧第2腳位

23‧‧‧標準圖像

231‧‧‧第1腳位

232‧‧‧第2腳位

24‧‧‧擷取圖像

31‧‧‧高灰階值區域

32‧‧‧低灰階值區域

33‧‧‧灰階值區域

41‧‧‧基準線

42‧‧‧基準線

步驟101‧‧‧擷取包含中央處理器腳座的擷取圖像

步驟102‧‧‧將擷取圖像轉換為灰階圖像

步驟103‧‧‧取得灰階圖像中中央處理器腳座預先劃分的多個區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈

步驟104‧‧‧當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理

步驟105‧‧‧當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理

步驟106‧‧‧將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像

步驟107‧‧‧自二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的腳位本體，再依據頂點與腳位本體找出每一個腳位的基準線

步驟108‧‧‧將二值化圖像中每一個腳位的基準線與標準圖像中每一個腳位的基準線進行比對

步驟109‧‧‧當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上

步驟110‧‧‧當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的夾角大於預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上

第1圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測系統的系統方塊圖。

第2A圖以及第2B圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測方法的方法流程圖。

第3圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中灰階圖像部份內容示意圖。

第4A圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中第1區域灰階值分佈示意圖。

第4B圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中第2區域灰階值分佈示意圖。

第5圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中二值化圖像部份內容示意圖。

第6A圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中二值化圖像的基準線示意圖。

第6B圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中標準圖像的基準線示意圖。

第7圖繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中擷取圖像的標示結果示意圖。

以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明的實施方式，藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。

以下首先要說明本發明所揭露的中央處理器腳座的光學檢測系統，並請參考「第1圖」所示，「第1圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測系層的系統方塊圖。

本發明所揭露的中央處理器腳座的光學檢測系統，其包含：圖像擷取模組11、圖像轉換模組12、分析模組13、圖像處理模組14、腳位模組15及檢測模組16。

在進行中央處理器腳座的光學檢測時，先由圖像擷取模組11擷取包含中央處理器腳座的擷取圖像，且已知中央處理器腳座的腳位數量，接著，圖像轉換模組12即可將擷取圖像轉換為灰階圖像，圖像轉換模組12更包含對擷取圖像進行旋轉以及偏移的交正後，再將擷取圖像轉換為灰階圖像。

接著，由於不同腳位數量的中央處理器其對應的中央處理器腳座不相同，故需要依據不同腳位數量的中央處理器腳座預先劃分多個區域，每一個區域的大小以及形狀會有相同或是不相同的情況，並且每一個區域會對應有一個比例值，比例值即是區域中所有頂點與所有腳位本體所佔區域的面積比例，其中一個頂點對應一個腳位本體即為一個腳位。

圖像轉換模組12將擷取圖像轉換為灰階圖像後，即可由分析模組13依據已知中央處理器腳座的腳位數量取得預先劃分的多個區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈。

而圖像處理模組14即可依據分析模組13的分析結果進行下列圖像處理：當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域設定為255以及將低灰階值區域設定為0的二值化處理。

舉例來說，假設區域的灰階值分佈為灰階值範圍為“180至220”的高灰階值區域以及灰階值範圍為“80至120”的低灰階值區域，圖像處理模組14即可將灰階值範圍為“180至220”的高灰階值區域所有像素點設定為255，以及圖像處理模組14即可將灰階值範圍為“180至220”的低灰階值區域所有像素點設定為0。

當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的灰階值設定為255以及將小於門檻值的灰階值設定為0的二值化處理。

舉例來說，假設區域的灰階值分佈為灰階值範圍為“81至220”的區域，圖像處理模組14即可取得區域的比例值為“20%”，區域的灰階值分佈範圍即為“140”，即可由最高灰階值減去灰階值分佈範圍乘以比例值以計算出門檻值，門檻值即為“192”(即220-140×20%=192)，而圖像處理模組14即可將大於以及等於門檻值為“192”的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理。

最後圖像處理模組14會將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像，上述對於灰階圖像轉換為二值化圖像的轉換過程可以有效的避免外在光線的影響，以清楚且準確的分離中央處理腳座的腳位以及中央處理腳座的其餘部份。

接著，腳位模組15即可自二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的腳位本體，再依據頂點與腳位本體找出每一個腳位的基準線，腳位模組15可以透過近似外形以找出每一個頂點以及每一個腳位本體，再透過特定方向以使一個頂點與一個腳位本體相互對應，再由頂點中心至腳位本體底部中點的連線設定為基準線。

接著，檢測模組16將二值化圖像中每一個腳位的基準線與標準圖像中每一個腳位的基準線進行下列比對：當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於偏移預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上。

當二值化圖像中腳位的基準線與標準圖像中腳位的基準線的夾角大於夾角預設值，則檢測出腳位異常，並將異常腳位標示於擷取圖像上。

在檢測模組16將異常腳位標示於擷取圖像上後，即可再透過顯 示模組17對檢測後的所述擷取圖像進行顯示，並且可由儲存模組18儲存檢測後的所述擷取圖像，藉以進一步進行再次的檢測。

接著，以下將以一個實施例來解說本發明的運作方式及流程，以下的實施例說明將同步配合「第1圖」、「第2A圖」以及「第2B圖」所示進行說明，「第2A圖」與「第2B圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測方法的方法流程圖。

請參考「第3圖」所示，「第3圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中灰階圖像部份內容示意圖。

在進行中央處理器腳座的光學檢測時，先由圖像擷取模組11擷取包含中央處理器腳座的擷取圖像(步驟101)，且已知中央處理器腳座的腳位數量，接著，圖像轉換模組12即可將擷取圖像轉換為灰階圖像21，圖像轉換模組12更包含對擷取圖像進行旋轉以及偏移的校正後，再將擷取圖像轉換為灰階圖像21(步驟102)，在「第3圖」中僅繪示出中央處理器腳座中的部份內容，在此僅為示意說明，並不以此局限本發明的應用範疇。

接著，由於不同腳位數量的中央處理器其對應的中央處理器腳座不相同，故需要依據不同腳位數量的中央處理器腳座預先劃分8個區域，每一個區域的大小以及形狀會有相同或是不相同的情況，並且每一個區域會對應有一個比例值，比例值即是區域中所有頂點與所有腳位本體所佔區域的面積比例，其中一個頂點對應一個腳位本體即為一個腳位。

圖像轉換模組12將擷取圖像轉換為灰階圖像21後，即可由分析模組13依據已知中央處理器腳座的腳位數量取得預先劃分的8區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈(步驟103)。

請參考「第4A圖」所示，「第4A圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中第1區域灰階值分佈示意圖。

如「第4A圖」所示，可以看出第1區域的灰階值分佈為雙區域值，並且第1區域的灰階值分佈為灰階值範圍為“180至220”的高灰階值區域31以及灰階值範圍為“80至120”的低灰階值區域32，圖像處理模組14即可將灰階值範圍為“180至220”的高灰階值區域31所有像素點設定為255，以及圖像處理模組14即可將灰階值範圍為“180至220”的低灰階值區域32所有 像素點設定為0的二值化處理(步驟104)。

請參考「第4B圖」所示，「第4B圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中第2區域灰階值分佈示意圖。

如「第4B圖」所示，可以看出第2區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈，第2區域的灰階值分佈為灰階值範圍為“81至220”的灰階值區域33，圖像處理模組14即可取得區域的比例值為“20%”，灰階值區域33的灰階值分佈範圍即為“140”，即可由最高灰階值減去灰階值分佈範圍乘以比例值以計算出門檻值，門檻值即為“192”(即220-140×20%=192)，而圖像處理模組14即可將大於以及等於門檻值為“192”的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理(步驟105)。

其於第3區域至第8區域的灰階值分析可以參考上述說明，在此不再進行贅述，以由圖像處理模組14會將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像22(步驟106)，二值化圖像22的示意請參考「第5圖」所示，「第5圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中二值化圖像部份內容示意圖，在「第5圖」中僅繪示出中央處理器腳座中的部份內容，在此僅為示意說明，並不以此局限本發明的應用範疇，上述對於灰階圖像轉換為二值化圖像的轉換過程可以有效的避免外在光線的影響，以清楚且準確的分離中央處理腳座的腳位以及中央處理腳座的其餘部份。

接著，請參考「第6A圖」以及「第6B圖」所示，「第6A圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中二值化圖像的基準線示意圖；「第6B圖」繪示為本發明中央處理器腳座的光學檢測中標準圖像的基準線示意圖。

腳位模組15即可自二值化圖像22中找出每一個頂點與每一個頂點對應的腳位本體，再依據頂點與腳位本體找出每一個腳位的基準線41(步驟107)，腳位模組15可以透過近似外形以找出每一個頂點以及每一個腳位本體，再透過特定方向以使一個頂點與一個腳位本體相互對應，再由頂點中心至腳位本體底部中點的連線設定為基準線41，在「第6A圖」中僅繪示出中央處理器腳座中的部份內容，在此僅為示意說明，並不以此局限本發明的應用範疇。

接著，檢測模組16將二值化圖像22中每一個腳位的基準線41與標準圖像23中每一個腳位的基準線42進行比對(步驟108)，在「第6B圖」中僅繪示出中央處理器腳座中的部份內容，在此僅為示意說明，並不以此局限本 發明的應用範疇，即可比對出二值化圖像22中第1腳位221的基準線41與標準圖像23中第1腳位231的基準線42的偏移距離大於偏移預設值，則檢測出第1腳位221異常，並將異常的第1腳位標示於擷取圖像24上(步驟109)，摘取圖像24請參考「第7圖」所示，「第7圖」繪示為本發鳴中央處理器腳座的光學檢測中擷取圖像的標示結果示意圖，在「第7圖」中僅繪示出中央處理器腳座中的部份內容，在此僅為示意說明，並不以此局限本發明的應用範疇。

檢測模組16將二值化圖像22中每一個腳位的基準線41與標準圖像23中每一個腳位的基準線42進行比對(步驟108)，即可比對出二值化圖像22中第2腳位222的基準線41與標準圖像23中第2腳位232的基準線42的夾角大於夾角預設值，則檢測出第2腳位222異常，並將異常的第2腳位222標示於擷取圖24像上(步驟110)。

在檢測模組16將異常腳位標示於擷取圖像24上後，即可再透過顯示模組17對檢測後的擷曲圖24像進行顯示，並且可由儲存模組18儲存檢測後的擷取圖像24，藉以進一步進行再次的檢測。

綜上所述，可知本發明與先前技術之間的差異在於本發明將擷取圖像轉換為灰階圖像後，依據不同的區域進行灰階值分佈進行分析，當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理，當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與比例值計算出門檻值，並將大於以及等於門檻值的像素點設定為255以及將小於門檻值的像素點設定為0的二值化處理，以將每一個區域的二值化處理結果整合為二值化圖像，可以有效的避免外在光線的影響，以清楚且準確的分離中央處理腳座的腳位以及中央處理腳座的其餘部份，藉以提高後續中央處理器腳座的光學檢測精確度。

藉由此一技術手段可以來解決先前技術所存在現有中央處理器腳座的光學檢測效率不彰的問題，進而達成提高中央處理器腳座的光學檢測效率的技術功效。

雖然本發明所揭露的實施方式如上，惟所述的內容並非用以直接限定本發明的專利保護範圍。任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明所揭露的精神和範圍的前提下，可以在實施的形式上及細節上作些許的更動。本發明的專利保護範圍，仍須以所附的申請專利範圍所界定者為準。

11‧‧‧圖像擷取模組

12‧‧‧圖像轉換模組

13‧‧‧分析模組

14‧‧‧圖像處理模組

15‧‧‧腳位模組

16‧‧‧檢測模組

17‧‧‧顯示模組

18‧‧‧儲存模組

Claims (10)

1. 一種中央處理器腳座的光學檢測系統，其包含：一圖像擷取模組，用以擷取包含一中央處理器腳座的一擷取圖像；一圖像轉換模組，用以將所述擷取圖像轉換為一灰階圖像；一分析模組，用以取得所述灰階圖像中所述中央處理器腳座預先劃分的多個區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈；一圖像處理模組，依據所述分析模組的分析結果進行下列圖像處理：當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理；當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的一比例值，以依據區域的灰階值分佈範圍與所述比例值計算出一門檻值，並將大於以及等於所述門檻值的像素點設定為255以及將小於所述門檻值的像素點設定為0的二值化處理；及將每一個區域的二值化處理結果整合為一二值化圖像；一腳位模組，用以自所述二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的一腳位本體，再依據所述頂點與所述腳位本體找出每一個腳位的基準線；及一檢測模組，用以將所述二值化圖像中每一個腳位的基準線與一標準圖像中每一個腳位的基準線進行下列比對：當所述二值化圖像中腳位的基準線與所述標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於偏移頂設值，則檢測出所述腳位異常，並將異常腳位標示於所述擷取圖像上；及當所述二值化圖像中腳位的基準線與所述標準圖像中腳位的基準 線的夾角大於夾角預設值，則檢測出所述腳位異常，並將異常腳位標示於所述擷取圖像上。
2. 如申請專利範圍第1項所述的中央處理器腳座的光學檢測系統，其中所述圖像轉換模組更包含對所述擷取圖像進行旋轉以及偏移的校正，以將所述擷取圖像轉換為所述灰階圖像。
3. 如申請專利範圍第1項所述的中央處理器腳座的光學檢測系統，其中所述中央處理器腳座的光學檢測系統更包含一顯示模組，用以顯示檢測後的所述擷取圖像以進一步進行再次的檢測。
4. 如申請專利範圍第1項所述的中央處理器腳座的光學檢測系統，其中所述中央處理器腳座的光學檢測系統更包含一儲存模組，用以儲存檢測後的所述擷取圖像。
5. 如申請專利範圍第1項所述的中央處理器腳座的光學檢測系統，其中所述分析模組是依據不同中央處理器腳座取得對應的所述中央處理器腳座預先劃分的多個區域，且每一個區域對應有所述比例值，所述比例值為所述區域中所有頂點與所有腳位本體所佔所述區域的面積比例。
6. 一種中央處理器腳座的光學檢測方法，其包含下列步驟：擷取包含一中央處理器腳座的一擷取圖像；將所述擷取圖像轉換為一灰階圖像；取得所述灰階圖像中所述中央處理器腳座預先劃分的多個區域，並對每一個區域的灰階值分佈進行分析，以分析出區域的灰階值分佈是否為雙區域值分佈；當區域的灰階值分佈為雙區域值分佈時，則將高灰階值區域的像素點設定為255以及將低灰階值區域的像素點設定為0的二值化處理；當區域的灰階值分佈為非雙區域值分佈時，則取出區域的一比例值，以 依據區域的灰階值分佈範圍與所述比例值計算出一門檻值，並將大於以及等於所述門檻值的像素點設定為255以及將小於所述門檻值的像素點設定為0的二值化處理；將每一個區域的二值化處理結果整合為一二值化圖像；自所述二值化圖像中找出每一個頂點與每一個頂點對應的一腳位本體，再依據所述頂點與所述腳位本體找出每一個腳位的基準線；將所述二值化圖像中每一個腳位的基準線與一標準圖像中每一個腳位的基準線進行比對；當所述二值化圖像中腳位的基準線與所述標準圖像中腳位的基準線的偏移距離大於偏移預設值，則檢測出所述腳位異常，並將異常腳位標示於所述擷取圖像上；及當所述二值化圖像中腳位的基準線與所述標準圖像中腳位的基準線的夾角大於夾角預設值，則檢測出所述腳位異常，並將異常腳位標示於所述擷取圖像上。
7. 如申請專利範圍第6項所述的中央處理器腳座的光學檢測方法，其中將所述擷取圖像轉換為所述灰階圖像的步驟更包含對所述擷取圖像進行旋轉以及偏移的校正的步驟。
8. 如申請專利範圍第6項所述的中央處理器腳座的光學檢測方法，其中所述中央處理器腳座的光學檢測方法更包含顯示檢測後的所述擷取圖像以進一步進行再次的檢測的步驟。
9. 如申請專利範圍第6項所述的中央處理器腳座的光學檢測方法，其中所述中央處理器腳座的光學檢測方法更包含儲存檢測後的所述擷取圖像的步驟。
10. 如申請專利範圍第6項所述的中央處理器腳座的光學檢測方法，其中取得 所述灰階圖像中所述中央處理器腳座預先劃分的多個區域的步驟是依據不同中央處理器腳座取得對應的所述中央處理器腳座預先劃分的多個區域，且每一個區域對應有所述比例值，所述比例值為所述區域中所有頂點與所有腳位本體所佔所述區域的面積比例。