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TECHNISCHES GEBIET
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Prüfgerät
und eine elektronische Vorrichtung, und insbesondere bezieht sich
die vorliegende Erfindung auf ein Prüfgerät, das
einen geprüften Speicher prüft, sowie eine elektronische
Vorrichtung, die eine Prüfschaltung enthält.
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STAND DER TECHNIK
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Herkömmlich
ist als eine Prüfung eines geprüften Speichers
wie eines Halbleiterspeichers eine Prüfung zum Beurteilen
von gut/schlecht jeder Speicherzelle durch Schreiben eines vorgeschriebenen logischen
Werts in jede Speicherzelle des geprüften Speichers, Lesen
des geschriebenen logischen Werts und Vergleichen des geschriebenen
logischen Werts mit einem er warteten Wert bekannt. Informationen über
gut/schlecht der Speicherzelle werden in einem Fehlerspeicher des
Prüfgeräts gespeichert.
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er
Fehlerspeicher enthält viele Speicherzellen entsprechend
eins zu eins mit vielen Speicherzellen des geprüften Speichers
und speichert Informationen über gut/schlecht jeder Speicherzelle
des geprüften Speichers in der entsprechenden Speicherzelle
(siehe z. B. Patentdokument 1 und Patentdokument 2). In einem derartigen
Fall wird das Schreiben der Informationen von gut/schlecht in den
Fehlerspeicher durch eine Lese-Modifizier-Schreib-Operation ausgeführt.
- Patentdokument 1: Veröffentlichung
der ungeprüften Japanischen
Patentanmeldung Nr. 2005-259265 .
- Patentdokument 2: Veröffentlichung der ungeprüften Japanischen Patentanmeldung Nr.
2005-259266 .
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OFFENBARUNG DER ERFINDUNG
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DURCH DIE ERFINDUNG ZU LÖSENDE
PROBLEME
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In
den letzten Jahren wurde eine beträchtliche Zunahme der
Kapazität von Halbleiterspeichern durch eine Zunahme der
Prüfzeit begleitet. Hierdurch ist es erwünscht,
die Prüfzeit zu verkürzen. Beim herkömmlichen
Prüfen jedoch werden, selbst in einem Fall, in welchem
jede Speicherzelle entweder gut oder schlecht ist, die Informationen über
gut/schlecht bei der Prüfung in die Speicherzelle des entsprechenden
Fehlerspeichers durch eine Lese-Modifizier-Schreib-Operation geschrieben.
Hierdurch hat das Schreiben der Informationen über gut/schlecht
in den Fehlerspeicher stark zugenommen relativ zu der vergrößerten
Kapazität des Halbleiterspeichers.
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Es
ist daher eine Aufgabe eines Aspekts der vorliegenden Erfindung,
ein Prüfgerät und eine elektronische Vorrichtung
vorzusehen, die in der Lage sind, die vorgenannten, den Stand der
Technik begleitenden Nachteile zu überwinden. Die vorstehende
und andere Aufgaben können durch in den unabhängigen
Ansprüchen beschriebene Kombinationen gelöst werden.
Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte
und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.
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MITTEL ZUM LÖSEN
DER PROBLEME
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Gemäß einem
ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Prüfgerät
zum Prüfen eines geprüften Speichers vorgesehen,
aufweisend einen Mustergenerator, der eine Leseadresse, aus der
Daten aus dem geprüften Speicher gelesen werden, und einen
erwarteten Wert der aus der gelesenen Adresse des geprüften
Speichers gelesenen Daten erzeugt; einen logischen Komparator, der
aus der gelesenen Adresse des geprüften Speichers gelesene Daten
mit dem erwarteten Wert vergleicht und Fehlerdaten ausgibt, die
gut/schlecht für jedes Bit der gelesenen Daten anzeigen;
einen ersten Fehlerspeicher, der eine Gruppierung der gelesenen
Adresse und der Fehlerdaten in einem Fall, in welchem die gelesenen
Daten nicht mit dem erwarteten Wert identisch sind, speichert; einen
zweiten Fehlerspeicher, der Fehlerdaten betreffend Adressen entsprechend jeder
Adresse des geprüften Speichers speichert; und eine Aktualisierungsschaltung,
die in dem zweiten Fehlerspeicher gespeicherte Fehlerdaten und entsprechend
der gelesenen Adresse auf der Grundlage des Gruppie rens der gelesenen
Adresse und der aus dem ersten Fehlerspeicher gelesenen Fehlerdaten
aktualisiert.
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Gemäß einem
zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine elektronische
Vorrichtung vorgesehen, aufweisend eine Speicherschaltung, die gemäß einem
in eine Vorrichtung während der Operation der Vorrichtung
eingegebenen Signal arbeitet; und eine Prüfschaltung zum
Prüfen der Speicherschaltung, die elektronische Vorrichtung,
bei der die Prüfschaltung enthält: einen Mustergenerator,
der eine gelesene Adresse, aus der Daten aus der Speicherschaltung
gelesen werden, und einen erwarteten Wert für die aus der
gelesenen Adresse der Speicherschaltung gelesenen Daten erzeugt;
einen logischen Komparator, der aus der gelesenen Adresse der Speicherschaltung
gelesene Daten mit dem erwarteten Wert vergleicht und Fehlerdaten,
die gut/schlecht jedes Bits der gelesenen Daten anzeigen, ausgibt;
einen ersten Fehlerspeicher, der eine Gruppierung der gelesenen
Adresse und der Fehlerdaten in einem Fall, in welchem die gelesenen
Daten nicht mit dem erwarteten Wert identisch sind, speichert; einen
zweiten Fehlerspeicher, der Fehlerdaten betreffend Adressen entsprechend
jeder Adresse der Speicherschaltung speichert; und eine Aktualisierungsschaltung,
die die in dem zweiten Fehlerspeicher gespeicherten Fehlerdaten
und entsprechend der gelesenen Adresse auf der Grundlage der Gruppierung
der gelesenen Adresse und der aus dem ersten Fehlerspeicher gelesenen
Fehlerdaten aktualisiert.
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Die
Zusammenfassung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen
Merkmale der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung.
Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen
Merkmale sein. Die vorstehenden und andere Merkmale und Vorteile
der vorliegenden Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden
Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung
mit den begleitenden Zeichnungen gegeben wird.
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KURZBESCHREIBUGN DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration eines Prüfgeräts 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
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2 zeigt
ein Beispiel für in einem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherte
Fehlerinformationen.
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3 beschreibt
ein Beispiel für eine Operation, die einen zweiten Fehlerspeicher 50 aktualisiert.
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4 zeigt
ein Beispiel für eine detaillierte Konfiguration einer
Speicherschaltung 20 für Informationen über
gut/schlecht.
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5 ist
ein Flussdiagramm, das ein Beispiel für eine Operation
des in den 1 bis 4 beschriebenen
Prüfgeräts 100 zeigt.
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6 beschreibt
ein Beispiel für eine Speichervorrichtung, die als der
erste Fehlerspeicher 30 und der zweite Fehlerspeicher 50 wirkt.
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7 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer elektronischen Vorrichtung 400 BIST(eingebaute
Selbstprüfung)-Aspekt gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung.
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BESTE ART DER AUSFÜHRUNG
DER ERFINDUNG
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Nachfolgend
wird ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
beschrieben. Das Ausführungsbeispiel beschränkt
die Erfindung gemäß den Ansprüchen nicht,
und alle Kombinationen der in dem Ausführungsbeispiel beschriebenen
Merkmale sind nicht notwendigerweise wesentlich für durch
Aspekte der Erfindung vorgesehene Mittel.
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1 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration eines Prüfgeräts 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Das Prüfgerät 100 ist
ein Gerät zum Prüfen eines geprüften
Speichers 200 wie eines Halbleiterspeichers und ist mit
einem Mustergenerator 10, einer Wellenform-Formungsvorrichtung 12,
einem Taktgenerator 14, einem logischen Komparator 16 und
einer Speicherschaltung 20 für Informationen über
gut/schlecht versehen.
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Der
Mustergenerator 10 erzeugt ein Prüfmuster zum
Prüfen des geprüften Speichers 200 auf der
Grundlage eines zugeführten Prüfprogramms. Beispielsweise
kann in einem Fall, in welchem Prüfdaten in den geprüften
Speicher 200 geschrieben werden, der Mustergenerator 10 ein
Prüfmuster enthaltend eine Adresse des geprüften
Speichers 200, in die die Prüfdaten zu schreiben
sind, einen logischen Wert der Prüfdaten, der in die vorgenannte Adresse
geschrieben wird, und Steuerdaten zum Steuern des geprüften
Speichers 200, so dass er in einer Schreibbedingung ist,
erzeugen. Weiterhin kann in einem Fall, in welchem die in den geprüften Speicher 200 geschriebenen
Prüfdaten gelesen werden, der Mustergenerator 10 ein
Prüfmuster enthaltend eine Adresse des geprüften
Speichers 200, aus der die Prüfdaten zu lesen
sind, einen erwarteten Wert für die gelesenen Daten und
Steuerdaten zum Steuern des geprüften Speichers 200,
so dass er in einer lesbaren Bedingung ist, erzeugen. Der Mustergenerator 10 kann
logische Daten verwenden, die in jede Adresse als erwartete Wertedaten
geschrieben sind. Der Mustergenerator 10 kann aufeinanderfolgend
mehrere Prüfmuster erzeugen, die mehrere Prüfungen
verwenden durch aufeinanderfolgendes Ausführen mehrerer
Prüfprogramme.
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Die
Wellenform-Formungsvorrichtung 12 bildet ein in den geprüften
Speicher 200 eingegebenes Prüfsignal auf der Grundlage
des von dem Mustergenerator 10 zugeführten Prüfmusters.
Beispielsweise kann die Wellenform-Formungsvorrichtung 12 ein Prüfsignal
bilden durch Ausgeben von Spannungen entsprechend logischen Werten
des Prüfmusters gemäß einem vorgesehenen
Taktsignal. Die Wellenform-Formungsvorrichtung 12 kann
als das Prüfsignal ein Adressensignal, ein Prüfdatensignal,
ein Steuersignal oder dergleichen bilden.
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Der
logische Komparator 16 vergleicht aus dem geprüften
Speicher 200 gelesene Lesedaten mit den erwarteten Werten.
Beispielsweise kann der logische Komparator 16 aufeinanderfolgend
einen logischen Wert jedes Bits der gelesenen Daten mit dem entsprechenden
erwarteten Wert vergleichen. Jedes Bit der gelesenen Daten kann
jeder Speicherzelle des geprüften Speichers 200 entsprechen.
Der logische Komparator 16 kann den logischen Wert jedes Bits
erfassen durch Erfassen der logischen Werte der aus dem geprüften
Speicher 200 gelesenen Daten gemäß einem
zugeführten Strobesignal. Für jedes Bit der gelesenen
Daten kann der logische Komparator 16 Fehlerinformationen
ausgeben, die zeigen, ob der logische Wert derselbe wie der oder
verschieden von dem erwarteten Wert ist.
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Weiterhin
kann der logische Komparator 16 Fehlerinformationen für
jede Adresse des geprüften Speichers 200 erzeugen.
Beispielsweise kann in einem Fall, in welchem der geprüfte
Speicher 200 eine Speicherzelle mit mehreren Bits an einer
einzelnen Adresse enthält, der logische Komparator 16 eine Anzahl
von Kanälen entsprechend den mehreren Bits enthalten. Der
logische Komparator kann Fehlerinformationen enthaltend eine Leseadresse,
die die Adresse zeigt, aus der die Daten gelesen werden, und Fehlerdaten
für die mehreren Bits, die gut/schlecht für jede
Speicherzelle der vorgenannten Adresse zeigen, erzeugen.
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Die
Speicherschaltung 20 für Informationen über
gut/schlecht speichert die von dem logischen Komparator 16 ausgegebenen
Fehlerinformationen. Die Speicherschaltung 20 für
Informationen über gut/schlecht enthält einen
ersten Fehlerspeicher 30, eine Aktualisierungsschaltung 40 und
einen zweiten Fehlerspeicher 50.
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Der
erste Fehlerspeicher 30 speichert die Fehlerinformationen
für jede Prüfung. Beispielsweise speichert in
einem Fall, in welchem die gelesenen Daten und der erwartete Wert
nicht identisch sind, der erste Fehlerspeicher 30 die entsprechende
Leseadresse und die Fehlerdaten als eine Gruppe. Insbesondere kann
in einem Fall, in welchem eines der Bits ”Fehler” in
den von dem logischen Komparator 16 ausgegebenen Fehlerinformationen
anzeigt, der erste Fehlerspeicher 30 die gelesene Adresse
und die in den Fehlerinformationen enthaltenen Fehlerdaten speichern.
Weiterhin kann ein Speicherbereich des ersten Fehlerspeichers 30 kleiner
als ein Speicherbereich des ge prüften Speichers 200 sein.
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Der
erste Fehlerspeicher 30 kann einen zwischengeschalteten
Hochgeschwindigkeits-Cachespeicher verwenden zum Erfassen der Fehlerinformationen
in Echtzeit während der Prüfung der geprüften
Vorrichtung 200. Weiterhin werden die in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten
Fehlerinformationen in dem zweiten Fehlerspeicher 50 akkumuliert.
Beispielsweise können die in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten
Fehlerinformationen kumulativ in dem zweiten Fehlerspeicher 50 jedes
Mal, wenn eine der Prüfungen beendet ist, addiert werden.
Weiterhin können die in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten
Fehlerinformationen kumulativ in dem zweiten Fehlerspeicher 50 zu
vorgeschriebenen Zeiten während der Prüfung addiert
werden. In einem Fall, in welchem der Hochgeschwindigkeits-Cachespeicher
vorgesehen ist, kann ein Speicher mit niedrigerer Geschwindigkeit
als der erste Fehlerspeicher 30 verwendet werden.
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Der
zweite Fehlerspeicher 50 speichert Fehlerinformationen über
jede Adresse des geprüften Speichers 200. Beispielsweise
kann der zweite Fehlerspeicher 50 Fehlerdaten über
die Adresse für jede Adresse des geprüften Speichers 200 speichern.
Der zweite Fehlerspeicher 50 kann einen Speicherbereich
mit einer Größe gleich der des geprüften
Speichers 200 enthalten. Der zweite Fehlerspeicher 50 kann
einen Speicherbereich mit einer Größe, die größer
als die des ersten Fehlerspeichers 30 ist, enthalten. Der
zweite Fehlerspeicher 50 kann ein Speicher mit niedriger
Geschwindigkeit sein.
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Beispielsweise
kann der zweite Fehlerspeicher 50 Adressen entsprechend
eins zu eins mit der Adresse des geprüften Speichers 200 enthalten. Weiterhin
kann die Anzahl von Bits jeder Adresse des zweiten Fehlerspeichers 50 dieselbe
wie die Anzahl von Bits jeder Adresse des geprüften Speichers 200 sein.
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Die
Aktualisierungsschaltung 40 addiert akkumulativ die in
dem zweiten Fehlerspeicher 50 gespeicherten Fehlerinformationen
auf der Grundlage der in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten Fehlerinformationen.
Wie vorstehend beschrieben ist, kann die Aktualisierungsschaltung 40n die
in dem zweiten Fehlerspeicher 50 gespeicherten Fehlerinformationen
zu einer Zeit aktualisieren, zu der jede Prüfung beendet
ist, oder zu vorgeschriebenen Zeiten während der Prüfung.
Hier können die vorgeschriebenen Zeiten während
der Prüfung solche Zeiten sein, bei denen beispielsweise
die Speicherung der Fehlerinformationen in dem ersten Fehlerspeicher 30 nicht
gestört wird.
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Die
Aktualisierungsschaltung 40 kann akkumulativ die in den
Fehlerinformationen enthaltenen Fehlerdaten an einer entsprechenden
Adresse des zweiten Fehlerspeichers 50 auf der Grundlage
der gelesenen Adresse, die in jedem Stück von in dem ersten
Fehlerspeicher 30 gespeicherten Fehlerinformationen enthalten
ist, addieren. Beispielsweise kann die Aktualisierungsschaltung 40 die
Fehlerinformationen des zweiten Fehlerspeichers durch eine Lese-Modifizier-Schreib-Operation
aktualisieren.
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Insbesondere
kann die Aktualisierungsschaltung 40 die Fehlerdaten der
Adresse des zweiten Fehlerspeichers 50 entsprechend der
gelesenen Adresse, die in den in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten
Fehlerinformationen enthalten ist, lesen. Die Aktualisierungsschaltung 40 kann
dann jede logische Summe der einander entsprechenden Bits zwischen
den Fehlerdaten der Fehlerinformationen und den aus dem zweiten
Fehlerspeicher 50 gelesenen Fehlerdaten erhalten. Der Prozess
zum Erhalten der logischen Summen der entsprechenden Bits kann ein
Prozess sein, bei dem die logische Summe von zwei entsprechenden
Bits ”Fehler” ist, in einem Fall, in welchem zumindest
eines der Bits ”Fehler” anzeigt. Durch einen derartigen
Prozess kann die Aktualisierungsschaltung 40 an den Adressen
des zweiten Fehlerspeichers 50 die neuen, akkumulativ addierten
Fehlerdaten betreffend jedes der Bits überschreiben.
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Durch
einen derartigen Prozess können in einem Fall, in welchem
die Prüfung mit mehreren Prüfbedingungen durchgeführt
wird, Fehlerdaten akkumuliert werden, worin eine Speicherzelle,
in der ein ”Fehler” in irgendeiner der Prüfungen
erfasst wird, als fehlerhaft bestimmt wird. Weiterhin kann, da der
Lese-Modifizier-Schreib-Prozess nicht in Echtzeit durchgeführt
wird, ein Speicher niedriger Geschwindigkeit als der zweite Fehlerspeicher 50 mit
einer Kapazität gleich der des geprüften Speichers 200 verwendet
werden.
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2 zeigt
ein Beispiel für in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherte
Fehlerinformationen. Wie vorstehend beschrieben ist, speichert der
erste Fehlerspeicher 30 aufeinanderfolgend Gruppierungen
von Fehlerdaten und einer gelesenen Adresse, an der der ”Fehler” in
einem der Bits in den Fehlerdaten von beispielsweise acht Bits auftritt.
Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel enthält
der geprüfte Speicher 200 eine Acht-Bit-Speicherzelle
für jede der Adressen. Die gelesenen Adressen können
beispielsweise dreißig Bits sein. In einem Fall, in welchem
sämtliche Bits der Fehlerdaten ”gut” (P)
sind, werden die Fehlerinformationen nicht in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeichert.
Allgemein ist die Frequenz des Auftretens von ”Fehler” niedrig.
Aufgrund der niedrigen Frequenz kann der erste Fehlerspeicher 30 einen
Speicherbereich haben, der kleiner als der geprüfte Speicher 200 ist.
Weiterhin kann die Menge von in Echtzeit in den ersten Fehlerspeicher 30 während
der Prüfung geschriebenen Daten verringert werden. Noch
weiterhin kann ein Speicher niedriger Geschwindigkeit als der erste
Fehlerspeicher 30 durch vorheriges Zwischenschalten des
Hochgeschwindigkeits-Cachespeichers verwendet werden.
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3 beschreibt
ein Beispiel für die Operation, bei der der zweite Fehlerspeicher 50 aktualisiert wird. 3 zeigt
ein Beispiel für die Aktualisierung des zweiten Fehlerspeichers 50 unter
Verwendung der in 2 gezeigten Fehlerinformationen.
Wie vorstehend beschrieben ist, aktualisiert die Aktualisierungsschaltung 40 durch
die Lese-Modifizier-Schreib-Operation die Fehlerinformationen des zweiten
Fehlerspeichers 50 unter Verwendung jedes Stücks
von in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten Fehlerinformationen.
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Beispielsweise
liest die Aktualisierungsschaltung 40 aus dem ersten Fehlerspeicher 30 die Leseadresse ”0001” und
die Fehlerdaten ”PPPFPPPP”, die in 2 gezeigt
sind. Die Aktualisierungsschaltung 40 liest dann aus dem
zweiten Fehlerspeicher 50 die Fehlerdaten ”PPPPPPPP”,
wenn die Adresse ”0001” der gelesenen Adresse ”0001” entspricht.
Die Aktualisierungsschaltung 40 erhält dann die
logischen Summen von entsprechenden Bits in den beiden Sätzen
von Fehlerdaten und erzeugt die neuen Fehlerdaten ”PPPFPPPP”.
Die erzeugten Fehlerdaten werden dann in die Adresse ”0001” des zweiten
Fehlerspeichers 50 geschrieben. Die Aktualisierungsschaltung 40 aktualisiert
den zweiten Fehlerspeicher 50, indem ein derartiger Prozess
für jedes Stück von in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten
Fehlerinformationen durchgeführt wird.
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4 zeigt
ein Beispiel für eine detaillierte Konfiguration der Speicherschaltung 20 für
Informationen über gut/schlecht. Die Speicherschaltung 20 für Informationen über
gut/schlecht enthält den ersten Fehlerspeicher 30,
die Aktualisierungsschaltung 40, den zweiten Fehlerspeicher 50,
eine Steuereinheit 22, einen Cachespeicher 24 und
eine Speichersteuerschaltung 28. Die Speichersteuerschaltung 28 enthält
einen Fehlerzähler 26, ein Maximalwertregister 32 und
eine Zyklusregister 34. Der erste Fehlerspeicher 30,
die Aktualisierungsschaltung 40 und der zweite Fehlerspeicher 50 können
mit den strukturellen Elementen, die unter Verwendung derselben
Bezugszahlen in den 1 bis 3 beschrieben
sind, identisch sein. Die Aktualisierungsschaltung 40 kann einen
nicht gezeigten Adressenzeiger für den ersten Fehlerspeicher 30 enthalten.
Die Aktualisierungsschaltung 40 kann über den
Adressenzeiger zu dem ersten Fehlerspeicher 30 zugreifen
und aufeinanderfolgend die Fehlerinformationen lesen, um den Aktualisierungsprozess
durchzuführen.
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Der
Cachespeicher 24 ist ein Hochgeschwindigkeits-Pufferspeicher
mit einer geringen Kapazität (so wie ein FIFO), der zwischen
dem logischen Komparator 16 und der Steuerschaltung 22 angeordnet ist.
Der Cachespeicher 24 speichert aufeinanderfolgend als Fehlerinformationen
die von dem logischen Komparator 16 ausgegebenen Fehlerdaten
und die Adressendaten von dem Mustergenerator 10. Die Steuerschaltung 22 liest aufeinanderfolgend
die in dem Cachespeicher 24 gespeicherten Fehlerinformationen.
In einem Fall, in welchem die Steuerschaltung 22 die Fehlerinformationen
aus dem Cachespeicher 24 liest, kann der Speicherbereich
des Cachespeichers 24 frei eingestellt werden.
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Die
Steuerschaltung 22 speichert aufeinanderfolgend an leeren
Adressen des ersten Fehlerspeichers 30 die aus dem Cachespeicher 24 gelesenen
Fehlerinformationen.
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Der
Fehlerzähler 26 zählt die Anzahl von
in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeicherten Stücken
von Fehlerinformationen durch die Steuerschaltung 22. Der
Fehlerzähler 26 untersagt die Speicherung der
Fehlerinformationen in dem ersten Fehlerspeicher 30 von
der Steuerschaltung 22 unter einer Bedingung, dass ein
Zählwert, der die gezählte Anzahl von Stücken
von Fehlerinformationen darstellt, einen vorbestimmten Maximalwert
erreicht. Der Maximalwert kann beispielsweise gemäß der
Anzahl von in dem ersten Fehlerspeicher 30 enthaltenen Adressen
eingestellt sein. Weiterhin kann der Maximalwert vorher in dem Maximalwertregister 32 eingestellt
sein.
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Durch
eine derartige Operation kann in dem Fall, in welchem keine verbleibende
Speicherkapazität in dem ersten Fehlerspeicher 30 ist
oder die verbleibende Speicherkapazität kleiner als ein
vorgeschriebener Betrag ist, der Verlust von Fehlerinformationen,
die bereits in dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeichert
sind, verhindert werden, da das neue Schreiben von nachfolgenden
Fehlerinformationen in den ersten Fehlerspeicher 30 unterbunden
wird. Mit anderen Worten, das Schreiben von neuen Fehlerinformationen über
Feh lerinformationen, die noch nicht in dem zweiten Fehlerspeicher 50 berücksichtigt
wurden, in den ersten Fehlerspeicher 30 wird verhindert.
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Weiterhin
kann das Zyklusregister 34 einen Prüfzyklus einer
Prüfung, bei der das Schreiben in den ersten Fehlerspeicher 30 unterbunden
wird, speichern, so dass Fehlerinformationen in den folgenden Prüfzyklen
nicht in den ersten Fehlerspeicher 30 geschrieben werden
können. Daher kann, nachdem die Fehlerinformationen des
zweiten Fehlerspeichers 50 unter Verwendung der im ersten
Fehlerspeicher 30 gespeicherten Fehlerinformationen aktualisiert
wurden, die Speichersteuerschaltung 28 den Speicherbereich
des ersten Fehlerspeichers 30 löschen und bewirken,
dass der Mustergenerator 10 wieder ein Prüfprogramm
entsprechend der Prüfung durchführt.
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Die
Speichersteuerschaltung 28 kann die Steuerschaltung 22 so
steuern, dass das Schreiben der Fehlerinformationen in den ersten
Fehlerspeicher 30 wieder aufgenommen wird unter einer Bedingung, dass
der Prüfzyklus der wieder durchgeführten Prüfung
wieder den in dem Zyklusregister 34 gehaltenen Prüfzyklus
erreicht hat. Daher wird die Speicherung der nachfolgenden Fehlerinformationen
in dem ersten Fehlerspeicher 30 ermöglicht, so
dass die Fehlerinformationen, deren Speicherung in dem ersten Fehlerspeicher 30 während
des vorhergehenden Prüfvorgangs unterbunden war, nun in
dem ersten Fehlerspeicher 30 gespeichert werden können.
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Beispielsweise
gibt in einem Fall, in welchem der Zählwert größer
als oder gleich dem Maximalwert ist, der Fehlerzähler 26 ein
Freigabesignal aus, das das Schreiben in den ersten Fehlerspeicher 30 unterbin det,
und in einem Fall, in welchem der Zählwert kleiner als
der Maximalwert ist, gibt der Fehlerzähler 26 ein
Freigabesignal aus, das das Schreiben in den ersten Fehlerspeicher 30 ermöglicht.
In einem Fall, in welchem der Prüfzyklus der wieder durchgeführten Prüfung
wieder den in dem Zyklusregister 34 gehaltenen Prüfzyklus
erreicht hat, kann das Zyklusregister 34 den Zählwert
des Fehlerzählers 26 auf einen Anfangswert zurücksetzen.
Daher wird das Schreiben in den ersten Fehlerspeicher 30 zugelassen,
so dass die Fehlerinformationen in den ersten Fehlerspeicher 30 geschrieben
werden können, bis die Anzahl von Stücken von
geschriebenen Fehlerinformationen wieder den Maximalwert erreicht.
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5 ist
ein Flussdiagramm, das ein Beispiel für eine Operation
des in den 1 bis 4 beschriebenen
Prüfgeräts 100 zeigt. Indem ein vorher
gesetztes Prüfprogramm durchgeführt wird, erfasst
das Prüfgerät 100 aufeinanderfolgend
die Fehlerinformationen betreffend jede Adresse des geprüften
Speichers 200 (S300). In einem Fall, in welchem ein neues
Prüfprogramm durchgeführt wird, ist es wünschenswert,
dass das Zyklusregister 34 und der Fehlerzähler 26 zurückgesetzt
werden.
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Die
Speichersteuerschaltung 28 empfängt die Fehlerinformationen,
die anzeigen, dass eines der Bits der Fehlerdaten ”Fehler” anzeigen,
von dem Cachespeicher 24, und speichert aufeinanderfolgend diese
Informationen in dem ersten Fehlerspeicher 30 (S310). Zu
dieser Zeit zählt der Fehlerspeicher 26 die Anzahl
von in den ersten Fehlerspeicher 30 geschriebenen Stücken
von Fehlerinformationen.
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Der
Fehlerzähler 26 führt eine Beurteilung dahinge hend
durch, ob der Zählwert den von dem Maximalwertregister 32 gesetzten
Maximalwert überschreitet, beispielsweise für
jede Erhöhung des Zählwerts (S312). In einem Fall,
in welchem der Zählwert den Maximalwert nicht überschreitet,
bis das Prüfprogramm beendet ist, aktualisiert die Aktualisierungsschaltung 40 den
zweiten Fehlerspeicher 50 unter Verwendung der Fehlerinformationen
des ersten Fehlerspeichers 30, nachdem das Prüfprogramm
beendet ist (S320). Weiterhin kann nach dem Aktualisieren des zweiten
Fehlerspeichers 50 die Aktualisierungsschaltung 40 den
Speicherbereich des ersten Fehlerspeichers 30 löschen.
Das Prüfgerät 100 führt dann
eine Beurteilung dahingehend durch, ob alle Programme ausgeführt
sind (S340). In einem Fall, in welchem ein Programm noch durchgeführt
werden muss, wird das nächste Programm erstellt und die Prozesse
vom Schritt S300 an werden wiederholt. In einem Fall, in welchem
keine Programme mehr durchgeführt werden müssen,
ist die Prüfung beendet.
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Bei
S312 hält in einem Fall, in welchem die Anzahl von in den
ersten Fehlerspeicher 30 geschriebenen Stücken
von Fehlerinformationen den Maximalwert überschreitet,
hält die Speichersteuerschaltung 28 das Schreiben
von nachfolgenden Fehlerinformationen in den ersten Fehlerspeicher 30 an (S314).
Zu dieser Zeit meldet die Speichersteuerschaltung 28 dem
Mustergenerator 10 und der Aktualisierungsschaltung 40,
dass das Schreiben der Fehlerinformationen betreffend das gegenwärtige Prüfprogramm
angehalten wurde. In einem Fall, in welchem der Mustergenerator 10 die
genannte Meldung empfängt, kann die Durchführung
des Prüfprogramms angehalten werden oder das Prüfprogramm kann
durchgeführt werden, bis es beendet ist.
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Das
Zyklusregister 34 speichert den Prüfzyklus, in
welchem das Schreiben der Fehlerinformationen angehalten wurde.
Die Benachrichtigung über die Nummer des durchgeführten
Prüfzyklus kann von dem Mustergenerator 10 zu
dem Zyklusregister 34 geliefert werden. Zu einer Zeit,
zu der die Benachrichtigung von dem Fehlerzähler 26,
dass das Schreiben der Fehlerinformationen angehalten wurde, empfangen
wird, kann das Zyklusregister 34 die Nummer des durchgeführten
Prüfzyklus speichern, die von dem Mustergenerator 10 geliefert
wurde.
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In
einem Fall, in welchem die Benachrichtigung empfangen wird, dass
das Schreiben der Fehlerinformationen angehalten wurde, liest die
Aktualisierungsschaltung 40 aufeinanderfolgend die in den ersten
Fehlerspeicher 30 geschriebenen Fehlerinformationen und
aktualisiert die Fehlerinformationen des zweiten Fehlerspeichers 50 (S320).
In einem Fall, in welchem die Aktualisierungsschaltung 40 alle in
den ersten Fehlerspeicher 30 geschriebenen Fehlerinformationen
liest und die Fehlerinformationen des zweiten Fehlerspeichers 50 aktualisiert,
kann die Aktualisierungsschaltung 40 den Speicherbereich des
ersten Fehlerspeichers 30 löschen. Weiterhin kann
die Aktualisierungsschaltung 40 den Mustergenerator 10 benachrichtigen,
dass die Aktualisierung des zweiten Fehlerspeichers 50 beendet
ist.
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Nach
Empfang der Benachrichtigung, dass das Schreiben der Fehlerinformationen
angehalten wurde, führt der Mustergenerator 10 in
einem Fall, in welchem die Benachrichtigung empfangen wird, dass
die Aktualisierung des zweiten Fehlerspeichers 50 beendet
ist, wieder dasselbe Prüfprogramm durch (S300). Das Prüfgerät 100 führt
die folgenden Prozesse durch. Es ist hier festzustellen, dass in
dem Prozess nach S310 während einer und weiteren Durchführung
desselben Prüfprogramms in einem Fall, in welchem der Prüfzyklus
des Prüfprogramms den in dem Zyklusregister 34 gehaltenen
Prüfzyklus erreicht, das Schreiben der Fehlerinformationen
in den ersten Fehlerspeicher 30 wieder aufgenommen wird.
Durch einen derartigen Prozess können die Fehlerinformationen
des geprüften Speichers 200 ohne Störungen
erfasst werden.
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Weiterhin
wird während der Prozesse nach S320 und S330 der zweite
Fehlerspeicher 50 aktualisiert und der erste Fehlerspeicher 30 wird
gelöscht, jedes Mal, wenn ein Prüfprogramm beendet
ist. Im Gegensatz hierzu kann bei anderen Beispielen das nächste
Prüfprogramm ausgeführt werden, ohne den ersten
Fehlerspeicher 30 zu löschen, nachdem ein Prüfprogramm
beendet ist. Mit anderen Worten, das Prüfgerät 100 kann
mehrere Programme aufeinanderfolgend durchführen, bis die
Anzahl von in den ersten Fehlerspeicher 30 geschriebenen
Stücken von Fehlerinformationen des Maximalwerts erreicht. Durch
einen derartigen Vorgang können die Fehlerinformationen
effektiver erhalten werden.
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Weiterhin
ist in dem vorbeschriebenen Fall ein Fall denkbar, in welchem Stücke
von Fehlerinformationen, die identische Leseadressen haben, in dem
ersten Fehlerspeicher 30 gespeichert sind. Beispielsweise
werden in 2 zwei Stücke von Fehlerinformationen
mit einer Leseadresse ”0100” gespeichert. In einem
derartigen Fall kann die Aktualisierungsschaltung 40 neue
Fehlerdaten erzeugen durch Erhalten der logischen Summen der mehreren
Stücke von Fehlerdaten entsprechend den gelesenen Adressen
des ersten Fehlerspeichers 30 und der entsprechenden Stücke
von Fehlerda ten in dem zweiten Fehlerspeicher 50. Die so
erzeugten Fehlerdaten werden dann in den zweiten Fehlerspeicher 50 geschrieben.
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Durch
einen derartigen Prozess kann der zweite Fehlerspeicher 50 durch
eine einzelne Lese-Modifizier-Schreib-Operation, die bei den mehreren
Stücken von Fehlerinformationen in dem ersten Fehlerspeicher 30 durchgeführt
wird, aktualisiert werden. Daher können die Fehlerinformationen
effizienter akkumuliert werden.
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6 beschreibt
ein Beispiel für eine Speichervorrichtung, die als der
erste Fehlerspeicher 30 und der zweite Fehlerspeicher 50 arbeitet.
Der erste Fehlerspeicher 30 und der zweite Fehlerspeicher 50 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel können als
verschiedene Adressenbereiche innerhalb derselben Speichervorrichtung
zugeteilt werden. Die Speichervorrichtung kann ein Halbleiterspeicher
mit geringer Geschwindigkeit und niedrigen Kosten sein, wie ein
DRAM.
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In
einem derartigen Fall kann der Steuerschaltung 22 und der
Aktualisierungsschaltung 40 mitgeteilt werden, welche der
Adressenbereiche der Speichervorrichtung dem ersten Fehlerspeicher 30 und
dem zweiten Fehlerspeicher 50 zugeteilt sind. Die Speicherschaltung 20 für
Gut/Schlecht-Informationen kann ein Register enthalten, das die
erste und letzte Adresse der Adressenbereiche, die als der erste
Fehlerspeicher 30 bzw. der zweite Fehlerspeicher 50 zugeteilt
sind, speichert. Die Aktualisierungsschaltung 40 kann einen
Adressenzeiger, der für den ersten Fehlerspeicher 30 verwendet
wird, und einen Adressenzeiger, der für den zweiten Fehlerspeicher 50 verwendet
wird, enthalten und kann in der Lage sein, zu beiden Adres sen gleichzeitig
zuzugreifen.
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In
der Speichervorrichtung können die Speicherkapazitäten,
die für den ersten Fehlerspeicher 30 und den zweiten
Fehlerspeicher 50 zugeteilt sind, beide geändert
werden. Es ist festzustellen, dass die als der zweite Fehlerspeicher 50 zugeteilte
Speicherkapazität so zugeteilt werden kann, dass sie dem
geprüften Speicher 200 entspricht.
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Beispielsweise
kann das Prüfgerät 100 den als den zweiten
Fehlerspeicher 50 zugeteilten Adressenbereich so setzen,
dass die Speicherkapazität des zweiten Fehlerspeichers 50 gleich
der Speicherkapazität des geprüften Speichers 200 ist.
Der verbleibende Adressenbereich der Speichervorrichtung kann dann
als der erste Fehlerspeicher 30 zugeteilt werden.
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In
einem Fall, in welchem der erste Fehlerspeicher 30 und
der zweite Fehlerspeicher 50 DRAMs sind, kann die Aktualisierungsschaltung 40 die
mehreren Stücke von Gut/Schlecht-Daten aus dem ersten Fehlerspeicher 30 und
dem zweiten Fehlerspeicher 50 gemäß einem
einzelnen Lesebefehl als Bündel lesen. In einem derartigen
Fall kann die Aktualisierungsschaltung 40 die neuen Fehlerdaten, die
für jedes Stück von gelesenen Fehlerinformationen
erzeugt wurden, als Bündel in den zweiten Fehlerspeicher 50 schreiben.
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7 zeigt
eine beispielhafte Konfiguration einer elektronischen Vorrichtung 400 BIST(eingebaute
Selbstprüfung)-Aspekt gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Die elektronische Vorrichtung 400 enthält
eine Speicherschaltung 410, eine Prüfschaltung 420,
einen Eingabe-/Ausgabestift 430 und einen BIST-Stift 440.
Die Speicherschaltung 410 kann eine Schaltung sein, die zu
einer Zeit arbeitet, wenn die elektronische Vorrichtung 400 implementiert
ist (eine Zeit tatsächlicher Operation). Die Speicherschaltung 410 arbeitet
gemäß einem von dem Eingabe-/Ausgabe-Stift 430 zugeführten
Signal zu einer Zeit, zu der die elektronische Vorrichtung 400 implementiert
ist.
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Beispielsweise
kann die Speicherschaltung 410 eine Schaltung enthaltend
eine Speichervorrichtung wie die Speichervorrichtung des in den 1 bis 6 beschriebenen
geprüften Speichers 200 sein. Die Prüfschaltung 420 befindet
sich auf demselben Halbleiterchip wie die Speicherschaltung 410 und
prüft die Speicherschaltung 410. Die Prüfschaltung 420 kann
eine Konfiguration haben, die identisch mit der des in den 1 bis 6 beschriebenen
Prüfgeräts 100 ist. Weiterhin kann die
Prüfschaltung 420 einen Teil der Konfiguration
des Prüfgeräts 100 haben. Die Prüfschaltung 420 kann
eine Schaltung sein, die einen Teil der Funktionen des Prüfgeräts 100 ausführt.
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In
einem Fall, in welchem ein Signal von einem externen Prüfgerät über
den BIST-Stift 440, das mitteilt, dass eine Selbstprüfung
der Speicherschaltung 410 durchgeführt wird, geliefert
wird, kann die Prüfschaltung 420 bewirken, dass
die Speicherschaltung 410 eine Selbstprüfung durchführt.
Der BIST-Stift 440 ist ein Stift, der während
der Implementierung der elektronischen Vorrichtung 400 nicht verwendet
wird. Weiterhin kann die Prüfschaltung 420 ein
Prüfergebnis der Speicherschaltung 410 über
den BIST-Stift 440 zu dem externen Prüfgerät ausgeben.
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Das
externe Prüfgerät 100 kann ein Prüfprogramm,
ein Prüfmuster und dergleichen zu der Prüfschaltung 420 liefern,
um zu bewirken, dass die Prüfschaltung 420 in
derselben Weise wie das in Beziehung stehende, in den 1 bis 6 beschriebene Prüfgerät
arbeitet.
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Während
das Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung beschrieben
wurde, ist der technische Bereich der Erfindung nicht auf das vorbeschriebene
Ausführungsbeispiel beschränkt. Es ist für
den Fachmann augenscheinlich, dass verschiedene Änderungen
und Verbesserungen zu dem vorbeschriebenen Ausführungsbeispiel
hinzugefügt werden können. Es ist auch aus dem
Bereich der Ansprüche ersichtlich, dass die Ausführungsbeispiele, denen
derartige Änderungen oder Verbesserungen hinzugefügt
sind, in dem technischen Bereich der Erfindung enthalten sein können.
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Gewerbliche Anwendbarkeit
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Wie
aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, werden durch
ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ein
Prüfgerät und eine elektronische Vorrichtung,
die effektiv Fehlerinformationen von jeder Adresse eines geprüften
Speichers erfassen können realisiert.
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Zusammenfassung:
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Es
ist ein Prüfgerät zum Prüfen eines geprüften
Speichers vorgesehen, aufweisend einen Mustergenerator, der eine
Leseadresse, aus der Daten aus dem geprüften Speicher gelesen
werden, und einen erwarteten Wert für die aus der Leseadresse
des geprüften Speichers gelesenen Daten erzeugt; einen logischen
Komparator, der aus der Leseadresse des geprüften Speichers
gelesene Daten mit dem erwarteten Wert vergleicht und Fehlerdaten,
die gut/schlecht anzeigen, für jedes Bit der gelesenen Daten
ausgibt; einen ersten Fehlerspeicher, der eine Gruppierung aus der
Leseadresse und den Fehlerdaten in einem Fall, in welchem die gelesenen
Daten nicht mit dem erwarteten Wert identisch sind, speichert; einen
zweiten Fehlerspeicher, der Fehlerdaten betreffend Adressen entsprechend
jeder Adresse des geprüften Speichers speichert; und eine
Aktualisierungsschaltung, die Fehlerdaten, die in dem zweiten Fehlerspeicher
gespeichert sind, und entsprechend der Leseadresse auf der Grundlage
der Gruppierung aus der Leseadresse und den aus dem ersten Fehlerspeicher
gelesenen Fehlerdaten aktualisiert.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- - JP 2005-259265 [0003]
- - JP 2005-259266 [0003]