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TECHNISCHES
GEBIET
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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Prüfvorrichtung ein Prüfverfahren.
Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine Prüfvorrichtung
und ein Prüfverfahren
zum Prüfen
eines geprüften
Speichers mit mehreren Bereichen, die jeweils mehrere Blöcke enthalten.
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auch auf die folgende Anmeldung,
deren Inhalt hier einbezogen wird, sofern dies anwendbar ist.
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Japanische
Patentanmeldung Nr. 2004-185585, eingereicht am 23. Juni 2004.
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STAND DER
TECHNIK
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Eine
herkömmliche
Prüfvorrichtung
prüft jeden
Block eines geprüften
Speichers mit mehreren Blöcken.
Dann speichert die Prüfvorrichtung
ein Prüfergebnis
für einen
Block in einem Speicher für
fehlerhafte Blöcke
in Verbindung mit einer Adresse des Blocks und erzeugt eine Karte
für fehlerhafte
Blöcke. Dann
bezieht sich die Prüfvorrichtung
auf das in dem Speicher für
fehlerhafte Blöcke
gespeicherte Prüfergebnis,
um zu entscheiden, ob der geprüfte
Speicher gut oder schlecht ist. Insbesondere zählt die Prüfvorrichtung die Anzahl von
fehlerhaften Blöcken,
die in dem Speicher für
fehlerhafte Blöcke
gespeichert sind, um zu entscheiden, ob der geprüfte Speicher 150 gut
oder schlecht ist. Darüber
hinaus entlastet, wenn die Anzahl von fehlerhaften Blöcken nicht
größer als
die Anzahl von Reparaturblöcken,
die in dem geprüften
Speicher enthalten sind, ist, die Prüfvorrichtung den geprüften Speicher
durch Ersetzen fehlerhafter Blöcke
durch Reparaturblöcke.
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Da
kein relevantes Patentdokument gefunden wurde, wird die Beschreibung
bezüglich
Dokumenten des Standes der Technik weggelassen.
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OFFENBARUNG
DER ERFINDUNG
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DURCH DIE
ERFINDUNG ZU LÖSENDE
PROBLEME
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6 ist
eine Ansicht, die die Ausbildung eines Flashspeichers gemäß dem Stand
der Technik zeigt. In den letzten Jahren wurde ein Flashspeicher entwickelt,
der Reparaturblöcke
in jedem in einem geprüften
Speicher enthaltenen Bereich aufweist, wie in 6 gezeigt
ist. Ein derartiger Flashspeicher kann einen bestimmten Bereich
nicht entlasten, wenn die Anzahl von fehlerhaften Blöcken in
diesem Bereich größer als
die Anzahl von Reparaturblöcken ist.
Jedoch kann die herkömmliche
Prüfvorrichtung nicht
die Anzahl von fehlerhaften Blöcken
und den Ort des Be reichs erfassen, wenn auf eine Karte für fehlerhafte
Blöcke,
die in dem Speicher für
fehlerhafte Blöcke
erzeugt wurde, Bezug genommen wird, nachdem eine Prüfung aller
Blöcke
in dem geprüften Speicher
beendet ist. Daher wird, obgleich die Anzahl von fehlerhaften Blöcken in
einem Bereich größer als die
Anzahl von Reparaturblöcken
in der Mitte des Prüfvorgangs
des geprüften
Speichers ist, eine Prüfzeit
unproduktiv verlängert
und somit ein Durchsatz für
eine Prüfung
herabgesetzt, da die Prüfung
bei allen Blöcken
durchgeführt
werden muss.
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Es
ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Prüfvorrichtung
vorzusehen, die die vorgenannten Probleme lösen kann. Die vorstehende und
andere Aufgaben können
durch in den unabhängigen
Ansprüchen
beschriebene Kombinationen gelöst
werden. Die abhängigen
Ansprüche
definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der
vorliegenden Erfindung.
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MITTEL ZUM
LÖSEN DER
PROBLEME
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Gemäß dem ersten
der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfvorrichtung vorgesehen, die
einen geprüften
Speicher mit mehreren Bereichen, die jeweils mehrere Blöcke enthalten,
prüft.
Die Prüfvorrichtung
enthält:
einen Mustergenerator, der ein Adressensignal und ein zu dem geprüften Speicher zu
lieferndes Prüfmustersignal
und ein von dem geprüften
Speicher gemäß dem Adressensignal
und dem Prüfmustersignal
auszugebendes Erwartungssignal erzeugt; einen logischen Komparator,
der ein von dem geprüften
Speicher ausgegebenes Ausgangssignal und das Erwartungssignal gemäß dem Adressensignal
und dem Prüfmustersignal
vergleicht und Defektdaten ausgibt, wenn das Ausgangssignal und
das Erwartungssignal nicht einander identisch sind; und mehrere
Defektzähler,
die entsprechend den mehreren Bereichen vorgesehen sind und jeweils
die Anzahl der Defektdaten für
das von dem geprüften
Speicher ausgegebene Ausgangssignal entsprechend dem Adressensignal,
das eine Adresse des in dem Bereich enthaltenen Blocks zeigt, zählen.
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Die
Prüfvorrichtung
kann weiterhin einen Speicher für
fehlerhafte Blöcke
enthalten, der die von dem logischen Komparator ausgegebenen Defektdaten
in Verbindung mit der durch das Adressensignal gezeigten Adresse
speichert, und die mehreren Defektzähler können die Anzahl der Defektdaten
zählen,
wenn der logische Komparator die Defektdaten ausgibt, und die Defektdaten
werden nicht in dem Speicher für
fehlerhafte Blöcke
in Verbindung mit der durch das Adressensignal gezeigten Adresse
gespeichert.
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Die
Prüfvorrichtung
kann weiterhin einen Zählersteuerabschnitt
enthalten, der den Defektzähler
auswählt,
der entsprechend dem Bereich vorgesehen ist, der den durch die durch
das Adressensignal gezeigte Adresse angezeigten Block enthält, auf der
Grundlage des von dem Mustergenerator erzeugten Adressensignals,
und ein Freigabesignal zu dem ausgewählten Defektzähler liefert.
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Der
Zählersteuerabschnitt
kann mehrere Zählerfreigabegeneratoren
enthalten, die entsprechend den mehreren Defektzählern vorgesehen sind und das
Freigabesignal zu dem Defektzähler
liefern, wenn das Adressensignal, das die Adresse des in dem Bereich
entsprechend dem Defektzähler
enthaltenen Blocks zeigt, geliefert wurde.
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Der
Zählerfreigabegenerator
kann enthalten: ein Minimalwert-Setzregister, das einen Minimalwert der
Adresse des Blocks hält;
einen Minimalwertkomparator, der einen Ausgangswert ausgibt, der
zeigt, ob die durch das von dem Mustergenerator erzeugte Adressensignal
gezeigte Adresse nicht geringer als der in dem Minimalwert-Setzregister
gehaltene Minimalwert ist; ein Maximalwert-Setzregister, das einen Maximalwert
der Adresse des Blocks hält;
einen Maximalwertkomparator, der einen Ausgangswert ausgibt, der
zeigt, ob die durch das von dem Mustergenerator erzeugte Adressensignal
gezeigt Adresse nicht größer als
der in dem Maximalwert-Setzregister gehaltene Maximalwert ist; und
eine UND-Schaltung, die das Freigabesignal zu dem Defektzähler liefert, wenn
die durch das von dem Mustergenerator erzeugte Adressensignal gezeigte
Adresse nicht kleiner als der in dem Minimalwert-Setzregister gehaltene
Minimalwert und nicht größer als
der in dem Maximalwert-Setzregister gehaltene Maximalwert ist, auf der
Grundlage der Ausgangswerte von dem Minimalwertkomparator und dem
Maximalwertkomparator.
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Die
Prüfvorrichtung
kann weiterhin einen Begrenzer enthalten, der eine Prüfung für diesen
Bereich anhält,
wenn die Anzahl der durch den Defektzähler gezählten Defektdaten größer als
die Anzahl von in jedem Bereich des geprüften Speichers enthaltenen
Reparaturblöcken
wird.
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Der
Zählersteuerabschnitt
kann einen Zählerfreigabespeicher
enthalten, der den Defektspeicher identifizierende Informationen
hält, der
das Freigabesignal in Verbindung mit der Adresse des Blocks liefern
sollte und das Freigabesignal zu dem Defektzähler liefert, gehalten in Verbindung
mit der durch das von dem Mustergenerator erzeugte Adressensignal
gezeigten Adresse.
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Der
Zählersteuerabschnitt
kann enthalten: eine Adressenauswahlvorrichtung, die nur einen Teil des
Bitstroms in der durch das von dem Mustergenerator erzeugte Adressensignal
gezeigten Adresse auswählt
und ausgibt; und einen Zählerfreigabespeicher,
der Informationen hält,
die den Defektzähler identifizieren,
der das Freigabesignal liefern sollte, in Verbindung mit nur einem
Teil des Bitstroms in der Adresse des Blocks, und liefert das Freigabesignal zu
dem Defektzähler,
gehalten in Verbindung mit dem von der Adressenauswahlvorrichtung
ausgegebenen Teil des Bitstroms.
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Gemäß dem zweiten
Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Prüfverfahren zum Prüfen eines geprüften Speichers
mit mehreren Bereichen, die jeweils mehrere Blöcke enthalten, vorgesehen.
Das Prüfverfahren
enthält:
Erzeugen eines Adressensignals und eines Prüfmustersignals, das zu dem
geprüften
Speicher zu liefern ist, und eines Erwartungssignals, das von dem
geprüften
Speicher gemäß dem Adressensignal
und dem Prüfmustersignal
auszugeben ist; Vergleichen eines von dem geprüften Speicher ausgegebenen
Ausgangssignals und des Erwartungssignals gemäß dem Adressensignal und dem
Prüfmustersignal
und Ausgeben von Defektdaten, wenn das Ausgangssignal und das Erwartungssignal
nicht einander identisch sind; und Zählen der Anzahl der Defektdaten
für das
von dem geprüften Speicher
ausgegebene Ausgangssignal entsprechend dem Adressensignal, das
eine Adresse des in dem Bereich enthaltenen Blocks zeigt, für jeden
der mehreren Bereiche parallel zu der Prüfung für den geprüften Speicher.
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Die
Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise
alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende
Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorstehend beschriebenen
Merkmale sein.
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WIRKUNGEN
DER ERFINDUNG
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Mit
einer Prüfvorrichtung
nach der vorliegenden Erfindung ist es möglich, eine Prüfzeit für einen geprüften Speicher
mit Reparaturblöcken
in jedem Bereich zu verkürzen.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration einer Prüfvorrichtung
zeigt.
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2 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration eines Defektspeichers
zeigt.
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3 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration eines Zählerfreigabegenerators
zeigt.
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4 ist
eine Ansicht, die das erste alternative Beispiel für die Konfiguration
des Defektspeichers zeigt.
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5 ist
eine Ansicht, die das zweite alternative Beispiel für die Konfiguration
des Defektspeichers zeigt.
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6 ist
eine Ansicht, die eine Konfiguration eines Flashspeichers gemäß dem Stand
der Technik zeigt.
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BESTE ART
DER AUSFÜHRUNG
DER ERFINDUNG
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Die
Erfindung wird nun auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele
beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung nicht begrenzen,
sondern die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und
deren Kombinationen, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben
sind, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.
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1 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt. Die Prüfvorrichtung 100 enthält einen
Taktgenerator 102, einen Mustergenerator 104,
eine Wellenform-Formungsvorrichtung 106,
einen Treiber 108, einen Komparator 110, einen
logischen Komparator 112, einen Defektspeicher 114 und
einen Qualitätsentscheidungsabschnitt 116.
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Bei
der Prüfung
des geprüften
Speichers 150 mit mehreren Bereichen, die jeweils mehrere
Blöcke und
mehrere Reparaturblöcke
enthalten, ist es eine Aufgabe der Prüfvorrichtung 100 gemäß der vorliegenden
Erfindung, die Anzahl von fehlerhaften Blöcken in jedem Bereich zu zählen, um
einen Bereich genau zu erfassen, der in der Lage ist, nicht entlastet zu
werden, und über
die Fehlerfreiheit oder Fehlerhaftigkeit des geprüften Speichers 150 zu
entscheiden und weiterhin genau die Sortierung gemäß dem Leistungsvermögen des
geprüften
Speichers 150 durchzuführen.
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Der
Mustergenerator 104 gibt ein Takteinstellsignal (nachfolgend
als "TS-Signal" bezeichnet) aus,
um das Signal zu dem Taktgenerator 102 zu liefern. Der
Taktgenerator 102 erzeugt einen Zyklustakt und einen Verzögerungstakt
auf der Grundlage der durch das TS-Signal bezeichneten Zeitpunktdaten, um
den Zyklustakt zu dem Mustergenerator 104 zu liefern und
den Verzögerungstakt
zu der Wellenform-Formungsvorrichtung 106 zu liefern. Dann
erzeugt der Mustergenerator 104 ein Adressensignal und
Musterdaten, die auf der Grundlage des von dem Taktgenerator 102 gelieferten
Zyklustakts zu dem geprüften
Speicher 150 zu liefern sind, und liefert das Signal und
die Daten zu der Wellenform-Formungsvorrichtung 106.
Zusätzlich
zeigt das Adressensignal eine Adresse, die einen Block in dem geprüften Speicher 150 bezeichnet.
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Die
Wellenform-Formungsvorrichtung 106 erzeugt ein Prüfmustersignal,
gezeigt durch die von dem Mustergenerator 104 erzeugten
Musterdaten, auf der Grundlage des von dem Taktgenerator 102 gelieferten
Verzögerungstakts.
Dann liefert die Wellenform-Formungsvorrichtung 106 das
von dem Mustergenerator 104 gelieferte Adressensignal und
das erzeugte Prüfmustersignal über den
Treiber 108 zu dem geprüften
Speicher 150.
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Darüber hinaus
erzeugt der Mustergenerator 104 ein Erwartungssignal, das
ein Ausgangswert eines von dem geprüften Speicher 150 entsprechend dem
Adressensignal und dem Prüfmustersignal
auszugebenden Ausgangssignals ist, und liefert das Erwartungssignal
zu dem logischen Komparator 112. Dann vergleicht der logische
Komparator 112 das von dem geprüften Speicher 150 ausgegebene
Ausgangssignal und das Erwartungssignal gemäß dem Adressensignal und dem
Prüfmustersignal
und gibt Defektdaten aus, wenn das Ausgangssignal und das Erwartungssignal
nicht einander identisch sind.
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Der
Defektspeicher 114 speichert aufeinander folgend die von
dem logischen Komparator 112 ausgegebenen Defektdaten in
Verbindung mit einer durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal
gezeigten Adresse. Darüber
hinaus zählt
der Defektspeicher 114 die Anzahl von Defektdaten in jedem
in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Bereich. Dann entscheidet der
Qualitätsentscheidungsabschnitt 116 über die
Fehlerfreiheit oder Fehlerhaftigkeit des geprüften Speichers 150 auf
der Grundlage der in dem Defektspeicher 114 gespeicherten
Defektdaten und der Anzahl der von dem Defektspeicher 114 gespeicherten
Defektdaten.
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Mit
der Prüfvorrichtung 100 nach
dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
ist es möglich,
da die Prüfung
von Bereichen, die in der Lage sind, nicht entlastet zu werden,
durch das Zählen
der Anzahl von in jedem Bereich des geprüften Speichers 150 enthaltenen
fehlerhaften Blöcken
in Echtzeit angehalten werden kann, eine Prüfung des geprüften Speichers 150 zu
verkürzen.
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2 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration des Defektspeichers 114 gemäß der vorliegenden
Erfindung zeigt. Der Defektspeicher 114 enthält einen
Speicher 200 für
fehlerhafte Blöcke,
eine ODER-Schaltung 210,
eine UND-Schaltung 212, einen Zählersteuerabschnitt 214,
UND-Schaltungen 222, 224, 226 und 228,
Defektzähler 232, 234, 236 und 238 sowie
Begrenzer 242, 244, 246 und 248.
Der Zählersteuerabschnitt 214 hat
Zählerfreigabegeneratoren 202, 204, 206 und 208.
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Der
Speicher 200 für
fehlerhafte Blöcke
speichert die von dem logischen Komparator 112 ausgegebenen
Defektdaten in Verbindung mit der durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte
Adressensignal gezeigten Adresse. Insbesondere speichert der Speicher 200 für fehlerhafte
Blöcke
die Defektdaten durch einen lesemodifizierenden Schreibvorgang.
D.h., der Speicher 200 für fehlerhafte Blöcke gibt
Daten aus, die an der von dem durch den Mustergenerator 104 gelieferten
Adressensignal gezeigten Adresse gespeichert sind. Dann führt die ODER-Schaltung 210 eine
ODER-Operation für
die von dem Speicher 200 für fehlerhafte Blöcke ausgegebenen
Daten und die von dem logischen Komparator 112 gelieferten
Defektdaten durch und liefert ein Ergebnis der Operation zu dem
Speicher 200 für
fehlerhafte Blöcke.
Dann speichert der Speicher 200 für fehlerhafte Blöcke die
von der ODER-Schaltung 210 gelieferten Daten an der durch
das von dem Mustergenerator 104 gelieferte Adressensignal
gezeigten Adresse. Auf diese Weise ist es möglich, wenn die mehreren Prüfungen bei
derselben Adresse in dem geprüften
Speicher 150 durchgeführt
werden, eine Karte für
fehlerhafte Blöcke
zu erzeugen.
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Der
Zählersteuerabschnitt 214 wählt den
Defektzähler 232, 234, 236 oder 238 aus,
der entsprechend den mehreren in dem geprüften Speicher 150 enthaltenen
Bereichen vorgesehen ist, auf der Grundlage des von dem Mustergenerator 104 erzeugten
Adressensignals, und liefert ein Freigabesignal zu dem ausgewählten Defektzähler. Die
mehreren Zählerfreigabegeneratoren 202, 204, 206 und 208 sind
jeweils entsprechend den mehreren Defektzählern 232, 234, 236 und 238 vorgesehen
und liefern das Freigabesignal zu jedem der Defektzähler 232, 234, 236 und 238,
wenn ein Adressensignal, das eine Adresse eines in einem Bereich
in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Blocks ent sprechend dem Defektzähler zeigt,
geliefert wurde.
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Beispielsweise
liefert unter der Annahme, dass der geprüfte Speicher 150 einen
Bereich mit Blöcken
der Adressen #000-#0FF hat, einen Bereich mit Blöcken der Adressen #100-#1FF
hat, einen Bereich mit Blöcken
der Adressen #200-#2FF hat, einen Bereich mit Blöcken der Adressen #300-#3FF
hat, der Zählerfreigabegenerator 202 das
Freigabesignal zu dem Defektzähler 232,
wenn das Adressensignal die Adressen #000-#0FF zeigt, der Zählerfreigabegenerator 204 liefert
das Freigabesignal zu dem Defektzähler 234, wenn das
Adressensignal die Adressen #100-#1FF zeigt, der Zählerfreigabegenerator 206 liefert
das Freigabesignal zu dem Defektzähler 236, wenn das
Adressensignal die Adressen #200-#2FF zeigt, und der Zählerfreigabegenerator 208 liefert
das Freigabesignal zu dem Defektzähler 238, wenn das Adressensignal
die Adressen #300-#3FF zeigt.
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Zusätzlich kann
der Defektspeicher 114 weiterhin eine Adressenauswahlvorrichtung
enthalten, die ein zu dem Speicher 200 für fehlerhafte
Blöcke
zu lieferndes Adressensignal auswählt und ausgibt. Dann kann
der Speicher 200 für
fehlerhafte Blöcke Defektdaten
in Verbindung mit einer durch das von der Adressenauswahlvorrichtung
erzeugte Adressensignal gezeigten Adresse speichern. Darüber hinaus
kann der Zählersteuerabschnitt 214 das
Freigabesignal auf der Grundlage des von der Adressenauswahlvorrichtung
erzeugten Adressensignals zu dem Defektzähler 232, 234, 236 und 238 liefern.
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Die
Defektzähler 232, 234, 236 und 238 sind entsprechend
den mehreren in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Bereichen vorgesehen und zählen jeweils
die Anzahl von Defektdaten für
ein von dem geprüften Speicher 150 ausgegebenes
Ausgangssignal entsprechend einem Adressensignal, das eine Adresse
eines in einem Bereich enthaltenen Blocks zeigt. Die Defektzähler 232, 234, 236 und 238 zählen die
Anzahl von Defektdaten, wenn der logische Komparator 112 Defektdaten
ausgibt, und Defektdaten werden in dem Speicher 200 für fehlerhafte Blöcke nicht
gespeichert in Verbindung mit der durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte
Adressensignal gezeigten Adresse.
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Insbesondere
führt die
UND-Schaltung 212 eine UND-Operation mit den von dem logischen Komparator 112 ausgegebenen
Defektdaten "1" und umgekehrten
Daten von von dem Speicher 200 für fehlerhafte Blöcke ausgegebenen
Daten, die an der durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal
gezeigten Adresse gespeichert sind, durch, und liefert ein Ergebnis
der Operation zu den UND-Schaltungen 222, 224, 226 und 228.
Jede der UND-Schaltungen 222, 224, 226 und 228 führt eine UND-Operation
mit dem Ausgangssignal der UND-Schaltung 212 und dem Freigabesignal "1", das von jedem der Zählerfreigabegeneratoren 202, 204, 206 und 208 erzeugt
wurde, durch, und liefert ein Ergebnis der Operation zu jedem der
Defektzähler 232, 234, 236 und 238.
Dann erhöht
jeder der Defektzähler 232, 234, 236 und 238 einen
gezählten
Wert, wenn ihnen jeweils das Freigabesignal "1" von
den UND-Schaltungen 222, 224, 226 und 228 zugeführt wurde.
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Wenn
die Anzahl von Defektdaten, die von einem der Defektzähler 232, 234, 236 und 238 gezählt wurde,
größer als
die Anzahl von in dem geprüften
Speicher 150 in jedem Bereich enthaltenen Reparaturblöcken wird,
hält der
Begrenzer 242, 244, 246 oder 248 eine
Prüfung
für diesen
Bereich an. Darüber
hinaus kann, wenn die Anzahl von durch einen der Defektzähler 232, 234, 236 und 238 gezählten Defektdaten
größer als
die Anzahl von in dem geprüften
Speicher 150 in jedem Bereich enthaltenen Reparaturblöcke wird,
der Begrenzer 242, 244, 246 oder 248 eine
Prüfung
für den
geprüften
Speicher 150 anhalten.
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Wie
vorstehend beschrieben ist, ist es möglich, da die Defektzähler 232, 234, 236 und 238 jeweils
für den
jeden in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Bereich vorgesehen sind, die Anzahl
von fehlerhaften Blöcken
in jedem Bereich zu zählen
und somit angemessenen über
die Fehlerfreiheit oder Fehlerhaftigkeit des geprüften Speichers 150 mit
Reparaturblöcken
für jeden
Bereich, um den geprüften Speicher
zu entlasten, zu entscheiden. Darüber hinaus ist es möglich, da
die Anzahl von fehlerhaften Blöcken
in jedem Bereich in Echtzeit parallel zu der Prüfung des geprüften Speichers 150 gezählt wird, einen
Bereich zu erfassen, der nicht in der Lage ist, entlastet zu werden,
und die Prüfung
für diesen
Bereich anzuhalten, bevor alle Prüfungen des geprüften Speichers 150 beendet
werden. Auf diese Weise ist es möglich,
die Prüfzeit
für den
geprüften
Speicher 150 zu verkürzen
und somit einen Durchsatz für
die Prüfung
zu verbessern.
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3 ist
eine Ansicht, die beispielhaft eine Konfiguration des Zählerfreigabegenerators 202 gemäß dem vorliegenden
Ausführungsbeispiel
zeigt. Der Zählerfreigabegenerator 202 hat
ein Minimalwert-Setzregister 300, ein Maximalwert-Setzregister 302,
einen Minimalwertkomparator 310, einen Maximalwertkomparator 312 und
deine UND-Schaltung 314. Zusätzlich wird, da eine Konfiguration
und eine Funktion der Zählerfreigabegeneratoren 204, 206 und 208 gleich
denen des Zählerfreigabegenerators 202 sind,
die Beschreibung hiervon weggelassen.
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Das
Minimalwertsetzregister 300 hält einen Minimalwert für eine Adresse
eines Blocks in einem vorbestimmten Bereich unter den mehreren in
dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Bereichen. Das Maximalwert-Setzregister 302 hält einen
Maximalwert für
die Adresse des Blocks in dem vorbestimmten Bereich. Wenn beispielsweise
die Adresse des Blocks in dem vorbestimmten Bereich gleich #000-#0FF
ist, hält
das Minimalwert-Setzregister 300 #000 als einen Minimalwert
und das Maximalwert-Setzregister 302 hält #0FF als einen Maximalwert.
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Der
Minimalwertkomparator 310 vergleicht die durch das von
dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal angezeigte
Adresse und den in dem Minimalwert-Setzregister 300 gehaltenen
Minimalwert und gibt einen Ausgangswert aus, der anzeigt, ob die
durch das Adressensignal gezeigte Adresse nicht kleiner als der
in dem Minimalwert-Setzregister 300 gehaltene Minimalwert
ist. Beispielsweise gibt der Minimalwertkomparator 310 "1" aus, wenn die durch
das Adressensignal angezeigte Adresse nicht kleiner als der in dem
Minimalwert-Setzregister 300 gehaltene Minimalwert ist.
Der Maximalwertkomparator 312 vergleicht die durch das von
dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal gezeigte
Adresse und den in dem Maximalwert-Setzregister 302 gehaltenen
Maximalwert und gibt einen Ausgangswert aus, der anzeigt, ob die durch
das Adressensignal angezeigte Adresse nicht größer als der in dem Maximalwert-Setzregister 302 gehaltene
Maximalwert ist. Beispielsweise gibt der Maximalwertkomparator 312 "1" aus, wenn die durch das Adressensignal
gezeigte Adresse nicht größer als
der in dem Maximalwert-Setzregister 302 gehaltene Maximalwert ist.
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Die
UND-Schaltung 314 führt
eine UND-Operation mit dem Ausgangswert des Minimalwertkomparators 310 und
dem Ausgangswert des Maximalwertkomparators 312 durch und
liefert ein Ergebnis der Operation zu dem Defektzähler 232. D.h.,
die UND-Schaltung 314 liefert das Freigabesignal "1" zu dem Defektzähler 232 auf der Grundlage der
Ausgangswerte des Minimalwertkomparators 310 und des Maximalwertkomparators 312,
wenn die durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal
angezeigte Adresse nicht kleiner als der in dem Minimalwert-Setzregister 300 gehaltene Minimalwert
und nicht größer als
der in dem Maximalwert-Setzregister 302 gehaltene
Maximalwert ist.
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Durch
die vorbeschriebene Konfiguration ist es möglich, die Anzahl von fehlerhaften
Blöcken
in jedem Bereich in Echtzeit parallel zu der Prüfung des geprüften Speichers 150 zu
zählen.
Daher ist es möglich,
eine Prüfzeit
für den
geprüften
Speicher 150 im Vergleich zu einem Verfahren zum Zählen der
Anzahl von fehlerhaften Blöcken
in jedem Bereich mit Bezug auf den Speicher 200 für fehlerhafte
Blöcke nach
der Beendigung der Prüfung
zu verkürzen.
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4 ist
eine Ansicht, die das erste alternative Beispiel für die Konfiguration
des Defektspeichers 114 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
zeigt. Der Defektspeicher 114 nach dem vorliegenden Beispiel
hat einen Zählersteuerabschnitt 414 anstelle
des in dem in 2 gezeigten Defektspeicher 114 enthaltenen
Zählersteuerabschnitts 214.
Da die Konfiguration der anderen in dem Defektspeicher 114 nach
dem vorliegenden Beispiel enthaltenen Teile gleich der der in dem
in 2 gezeigten Defektspeicher 114 ist, wird
deren Beschreibung weggelassen.
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Der
Zählersteuerabschnitt 414 hat
einen Zählerfreigabespeicher 400.
Der Zählerfreigabespeicher 400 hält Informationen,
die den Defektzähler 232, 234, 236 oder 238 identifizieren,
zu welchem das Freigabesignal in Verbindung mit der Adresse des
in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Blocks geliefert werden sollte.
Dann liefert der Zählerfreigabespeicher 400 das
Freigabesignal zu dem Defektzähler 232, 234, 236 oder 238,
der in Verbindung mit der durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte
Adressensignal angezeigten Adresse gehalten wird.
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Insbesondere
speichert der Zählerfreigabespeicher 400 Vierbit-Daten
entsprechend jedem der Defektzähler 232, 234, 236 und 238 in
Verbindung mit der Adresse des in dem geprüften Speicher 150 enthaltenen
Blocks. Dann liefert der Zählerfreigabespeicher 400 jeweils
jedes Bit von Vierbit-Daten, die in Verbindung mit der durch das
von dem Mustergenerator 104 gelieferte Adressensignal gezeigten Adresse
gespeichert sind, zu den Defektzählern, 232, 234, 236 und 238.
In den Vierbit-Daten ist ein Bit entsprechend dem Defektzähler, zu
welchem das Freigabesignal geliefert werden sollte, auf "1" gesetzt, und die anderen drei Bits
sind auf "0" gesetzt.
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Bei
dem vorliegenden Beispiel ist es möglich, da der Zählersteuerabschnitt 414 aus
nur einem Zählerfreigabespeicher 400 gebildet
sein kann, eine Hardwarekonfiguration auf einfache Weise zu realisieren.
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5 ist
eine Ansicht, die das zweite alternative Beispiel für die Konfiguration
des Defektspeichers 114 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
zeigt.
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Der
Defektspeicher 114 nach dem vorliegenden Beispiel hat einen
Zählersteuerabschnitt 514 anstelle
des in dem in 2 gezeigten Defektspeicher 114 enthaltenen
Zählersteuerabschnitts 214.
Da die Konfiguration der anderen in dem Defektspeicher 114 nach
dem vorliegenden Beispiel enthaltenen Teile gleich der der in dem
in 2 gezeigten Defektspeicher 114 enthaltenen
Teile ist, wird die Beschreibung hiervon weggelassen.
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Der
Zählersteuerabschnitt 514 hat
eine Adressenauswahlvorrichtung 500 und einen Zählerfreigabespeicher 502.
Die Adressenauswahlvorrichtung 500 wählt nur einen Teil des Bitstroms
in der durch das von dem Mustergenerator 104 erzeugte Adressensignal
angezeigten Adresse aus und gibt diesen aus. Dann hält der Zählerfreigabespeicher 502 Informationen,
die den Defektzähler
identifizieren, zu dem das Freigabesignal geliefert werden sollte,
in Verbindung mit einem Teil des Bitstroms in der Adresse des in
dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Blocks. Dann liefert der Zählerfreigabespeicher 502 das
Freigabesignal zu den Defektzählern 232, 234, 236 und 238,
die in Verbindung mit dem von der Adressenauswahlvorrichtung 500 ausgegebenen
Teil des Bitstroms gehalten sind.
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Insbesondere
wählt die
Adressenauswahlvorrichtung 500 einen Zweibit-Bitstrom aus
dem achten Bit und dem neunten Bit in einem 16-Bit-Adressensignal,
das von dem Mustergenerator 104 erzeugt wurde, aus und
gibt diesen aus. Dann speichert der Zählerfreigabespeicher 502 Vierbit-Daten entsprechend
jedem der Defektzähler 232, 234, 236 und 238 in
Verbindung mit dem Zweibit-Bitstrom. Dann
liefert der Zählerfreigabespeicher 502 jeweils jedes
Bit von in Verbindung mit dem von der Adressenauswahlvorrichtung 500 ausgegebenen
Zweibit- Bitstrom
gespeicherten Vierbit-Daten zu den Defektzählern 232, 234, 236 und 238.
In den Vierbit-Daten ist ein Bit entsprechend dem Defektzähler, zu welchem
das Freigabesignal geliefert werden sollte, auf "1" gesetzt,
und die anderen drei Bits sind auf "0" gesetzt.
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Auf
diese Weise kann, wenn die Größe der mehreren
in dem geprüften
Speicher 150 enthaltenen Bereichen einander gleich ist,
der Defektzähler 232, 234, 236 oder 238,
zu dem das Freigabesignal geliefert werden sollte, ausgewählt werden
mit Beachtung nur eines Teils von Bits, die in der Lage sind, einen
Bereich zwischen Adressen von Blöcken
zu unterscheiden, die in dem geprüften Speicher 150 enthalten
sind. Gemäß dem Zählersteuerabschnitt 514 nach
dem vorliegenden Beispiel ist es möglich, die Größe des Zählerfreigabespeichers 502 herabzusetzen.
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Obgleich
die vorliegende Erfindung im Wege eines Ausführungsbeispiels beschrieben
wurde, ist festzustellen, dass der Fachmann viele Änderungen und
Substitutionen durchführen
kann, ohne den Geist und den Bereich der vorliegenden Erfindung
zu verlassen. Es ist anhand der Definition der angefügten Ansprüche offensichtlich,
dass Ausführungsbeispiele
mit derartigen Modifikationen auch zu dem Bereich der vorliegenden
Erfindung gehören.
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GEWERBLICHE
ANWENDBARKEIT
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Wie
aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, ist es ei der
Prüfvorrichtung
nach der vorliegenden Erfindung möglich, eine Prüfzeit für den geprüften Speicher
mit Reparaturblöcken
in jedem Bereich zu verkürzen.
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Zusammenfassung:
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Eine
erfindungsgemäße Prüfvorrichtung, enthält einen
Mustergenerator, der ein Adressensignal und ein Prüfmustersignal,
die zu einem geprüften Speicher
zu liefern sind, sowie ein von dem geprüften Speicher gemäß dem Adressensignal
und dem Prüfmustersignal
auszugebendes Erwartungssignal erzeugt, einen logischen Komparator,
der ein von dem geprüften
Speicher ausgegebenes Ausgangssignal und das Erwartungssignal gemäß dem Adressensignal
und dem Prüfmustersignal
vergleicht und Defektdaten ausgibt, wenn das Ausgangssignal und
das Erwartungssignal nicht einander identisch sind, und mehrere
Defektspeicher, die entsprechend mehreren Bereichen vorgesehen sind
und jeweils die Anzahl der Defektdaten für das von dem geprüften Speicher ausgegebene
Ausgangssignal entsprechend dem eine Adresse eines in einem Bereich
enthaltenen Blocks anzeigenden Adressensignal zählen.