DE1087869B - Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder Halbleitergrundstoffe - Google Patents
Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder HalbleitergrundstoffeInfo
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
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Description
B EKANNTMACHUNG DER ANMELDUNG UND AUSGABE DER
AÜSLEGESCHRIFT: 25. AU G U ST 1 9 6 0
'_J. 1^ ' V(JS
Anmelder: Siemens & Halske Aktiengesellschaft,
Berlin und München, München 2, Witteisbacherplatz 2
Dr. Theodor Rummel, München, ist als Erfinder genannt worden
Verfahren zum Gewinnen
Es ist bereits em Verfahren zur Abscheidung von , , . ..
Elementen mit metallischem Charakter, z. B. von hochreiner Metalle
Titan, Zirkon, Bor und Silizium, aus ihren Verbin- oder Halbleitergrundstoffe
düngen bekannt, bei dem flüchtige Verbindungen, z. B.
Halogenide, der betreffenden Elemente, in der'Dampf- 5
bzw. Gasphase durch die ionisierende Wirkung einer elektrischen Gasentladung, die sowohl als Glimmentladung
als auch bis an das Gebiet der Bogenentladung heran betrieben werden kann, gespalten werden und das
Element mit metallischem Charakter kondensiert wird. 10
Dieses Verfahren hat sich den rein chemisch arbeitenden Darstellungsverfahren dahingehend überlegen
erwiesen, als es zu viel reineren Stoffen führt, welche
für die Verwendung in der Halbleitertechnik geeignet
sind. Es hat jedoch den Nachteil einer relativ geringen 15
Ausbeute. Zur Erhöhung der Ausbeute wird deshalb
dem Ausgangsgas vielfach Wasserstoff beigemischt,
welcher als Reduktionsmittel wirkt und auf diese
Weise den Abscheidungsvorgang beschleunigt. Bei der ώ
erwiesen, als es zu viel reineren Stoffen führt, welche
für die Verwendung in der Halbleitertechnik geeignet
sind. Es hat jedoch den Nachteil einer relativ geringen 15
Ausbeute. Zur Erhöhung der Ausbeute wird deshalb
dem Ausgangsgas vielfach Wasserstoff beigemischt,
welcher als Reduktionsmittel wirkt und auf diese
Weise den Abscheidungsvorgang beschleunigt. Bei der ώ
Herstellung von Metallen für metallurgische Zwecke, 20 kannte Verfahren zu kompakten Halbleiterstoffen
wo im allgemeinen ein geringer Reinheitsgrad erfor- führt, welche eine unmittelbare Weiterbearbeitung zu
derlich ist, hat man mit diesem Verfahren dann zuf rie- Halbleitervorrichtungen möglich erscheinen lassen. Im
denstellende Ergebnisse erzielt. vorliegenden Fall muß jedoch der in feinverteilter
Bei den für Halbleiterzwecke benötigten Materia- Form anfallende, zu gewinnende Stoff, insbesondere
lien, insbesondere bei der Herstellung von hochreinem 25 Halbleiterstoff, zu größeren Kristallen, insbesondere
Silizium, hat es sich jedoch als nachteilig herausge- zu Stäben, zusammengeschmolzen werden. Diesem
stellt, daß die Herstellung von Wasserstoff mit einer Nachteil eines erhöhten Arbeitsaufwands stehen jedoch
ausreichenden Reinheit nur sehr schwierig durchführ- die Unabhängigkeit in der Auswahl der Reaktionsbar ist, so daß gerade in vielen Fällen das Reduktions- stoffe die Vermeidung eines Reduktionsmittels und
mittel einen erheblichen Anteil der in den Halbleiter 30 einer hohen Ausbeute als Vorteile gegenüber,
gelangenden Verunreinigungen bedingt. Es hat sich z. B. herausgestellt, daß Siliziumtetra-
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zum chlorid sich durch Destillation und chemische Metho-Gewinnen
hochreiner Metalle oder Halbleitergrund- den wesentlich leichter und vollständiger reinigen läßt
stoffe in Nadel- oder Pulverform durch thermische als die nur teilweise halogenhaltigen Silane, wie z. B.
Zersetzung einer flüchtigen halogenhaltigen Verbin- 35 SiHCl3. Diesem Vorteil des SiCl4 steht jedoch der
dung des zu gewinnenden Stoffes durch elektrische Nachteil gegenüber, daß sich dieser Stoff auch in einer
Gasentladung, wobei gemäß der Erfindung eine Stoß- Bogenentladung nur wenig zersetzt, weshalb ihm als
funkenentladung zwischen den Elektroden im Reak Reduktionsmittel gewöhnlicher Wasserstoff zugetionsgefäß
erzeugt wird. Die Elektroden der Stoß- mischt wird, um die Zersetzung zu erleichtern. Hier
funkenstrecke bestehen entweder aus wassergekühlten, 40 macht sich jedoch ungünstig bemerkbar, daß sich
durch an der Reaktion beteiligte Stoffe nicht angreif- Wasserstoff in dem erforderlichen Ausmaß nur sehr
baren Metallen oder bei der Herstellung von Halb- schwierig reinigen läßt. Bei dem Verfahren gemäß der
leiterstoffen, zweckmäßigerweise aus dem zu gewin- Erfindung gelingt es hingegen innerhalb kurzer Zeit,
nenden Halbleiter selbst. Die für die Halbleiter wich- aus jeder halogenhaltigen Siliziunrverbindung, insbetigen
halbleitenden Elemente wie Silizium, Germa- 45 sondere auch aus SiCl4, ohne Beteiligung eines Reduknium
oder Bor oder die Komponenten für halbleitende tionsmittels elementares Silizium mit hoher Ausbeute
Legierungen oder Verbindungen, z. B. von A1n Bv- zu erhalten, was durch die enorme Hitze dieser Ent
Verbindungen, können durch das vorgeschlagene Verfahren mit hoher Ausbeute und ebenfalls sehr großer
Reinheit dargestellt werden.
Durch die-Einwirkung einer Stoßfunkenentladung
wird der zu gewinnende Stoff nicht in kompaktem kristallinem Zustand, sondern in Gestalt von feinen
Nadeln bzw. als Pulver erhalten, während das be-
ladungsform möglich ist. Man kann also gerade den Vorteil, daß Si Cl4 besonders gut und bequem zu rei-50
nigen ist, durch Anwendung des Verfahrens gemäß der Erfindung voll ausnutzen.
Da das Halbleitermaterial in Gestalt sehr kleiner Kristalle anfällt, ist eine Verunreinigung durch die
Wände des verwendeten Reaktionsgefäßes ausge-
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schlossen. Es bilden sich nämlich beim Durchschlagen
der Stoßfunken durch das Entladungsgefäß sofort dichte Nebel, die unmittelbar nach dem Erlöschen der
Funken in Gestalt von sehr kleinen Kristallenen auf
den Boden des Reaktionsgefäßes sinken, wo sie sich als Pulver ansammeln. Infolge ihrer Kleinheit kühlen
sich die Kristallenen bereits beim Niederfallen so
rasch ab, daß sie bei Berührung mit dem Boden des Reaktionsgefäßes keine Verunreinigungen mit aufnehmen
können.
Obgleich das zu gewinnende Halbleitermaterial bei dem Verfahren gemäß der Erfindung in einem Zustand
anfällt, der ein nochmaliges Umschmelzen erforderlich macht, um es in eine für die Weiterverarbeitung zu
Halbleitervorrichtungen geeignete Gestalt zu bringen, empfiehlt es sich, das Verfahren gemäß der Erfindung
anzuwenden. Überdies ist ein Verfahren bekannt, welches es gestattet, dieses Umschmelzen verhältnismäßig
rasch und ohne Gefahr einer Verunreinigung durchzuführen. Dieses Verfahren besteht darin, daß
das Pulver einer von einem Kristallstück des betreffenden Halbleiters getragenen Schmelze, die beispielsweise
an einem Ende des Kristallstücks erzeugt wird, kontinuierlich zugeführt wird und in dem Maße, in
dem das Pulver von der Schmelze aufgenommen wird, geschmolzenes Material aus der Schmelze zur
Ankristallisation an das feste Kristallstück gebracht wird. So kann z. B. das obere Ende eines als Kristallisationskeim
dienenden Halbleiterkristallstabes durch eine Wärmequelle aufgeschmolzen werden und das
durch das Verfahren gemäß der Erfindung gewonnene Halbleiterpulver auf die Schmelze in stetem Zufluß
aufgestreut werden, wobei der Kristallstab nach Maßgabe des von der Schmelze aufgenommenen Pulvers
allmählich nach unten aus dem Wirkungsbereich der die geschmolzene Zone am oberen Ende des Kristallstabes
erzeugenden Wärmequelle zurückgezogen wird. Mit diesem Verfahren gelingt es bereits nach kurzer
Zeit, relativ große Mengen des gemäß der Erfindung hergestellten Halbleiterpulvers umzuschmelzen, wobei
— da die Schmelze von dem Kristallstab frei gehaltert wird — eine Verunreinigung ausgeschlossen sein
dürfte.
Die Anwendung von Stoßfunken zum Bewirken der Zersetzung einer Metall- oder Halbleiterverbindung 4S
mit dem Ziel der Reindarstellung des in dieser Verbindung enthaltenen Metalls oder Halbleiters ist in
der Technik bisher nicht bekanntgeworden. Lediglich ein bekanntes Verfahren zum Vergüten von Metallen,
bei dem eine kohlenstoffhaltige Verbindung, nämlich Acethylen, durch Wirkung einer schlagartig ein- und
aussetzenden Glimmentladung zersetzt und der durch die Entladung aktivierte Kohlenstoff zum Eindiffundieren
des in der Entladungsbahn angeordneten, zu vergütenden Metallgegenstandes gebracht wird, weist
scheinbar gewisse Berührungspunkte mit dem Verfahren gemäß der Erfindung auf. Jedoch verlangt die
beim Bekannten zu lösende Aufgabe, daß die aktiven Kohlenstoffpartikel auf möglichst breiter Front mit
einer hohen Ionendichte sich auf der Oberfläche des zu vergütenden Gegenstandes niederschlagen und in
diesen eindringen, um eine möglichst gleichmäßige Vergütung zu erreichen. Es muß also eine Entladungsform angewendet werden, die einen großen, zeitlich
möglichst konstanten Querschnitt der Entladungsbahn besitzt und die außerdem die zu vergütende Oberfläche
möglichst wenig beeinträchtigt. Dies kann zwar mit einer Glimmentladung bzw. mit einer schlagartigen
Glimmentladung, niemals jedoch mit Stoßfunken erreicht werden. Funken werden beim Bekannten nur
insofern verwendet, als die Glimmentladung durch eine schlagartige Entladung eines kapizitiven Energiespeichers
erzeugt und die Entladung über eine in Reihe mit den Elektroden der Gasentladung liegenden Funkenstrecke
erfolgen soll. Die Gasentladung ist jedoch beim Bekannten lediglich eine schlagartige Glimmentladung.
Gemäß einer Weiterentwicklung der vorliegenden Erfindung werden die Wände des Reaktionsgefäßes
und gegebenenfalls auch die Elektroden auf einer erhöhten oder erniedrigten Temperatur gehalten, damit
sich die maximale Ausbeute unter Berücksichtigung des Gasdruckes, der Stromstärke der Funkenentladung
und der Spannung ergibt. Bei der Stoß funkenentladung, die gemäß der Erfindung angewendet werden
soll, handelt es sich insbesondere um eine kompensierte Kanalentladung, welche bei einer Gleichspannung
von der Größenordnung von 50 000 V durchgeführt wird, wobei Temperaturen von mindestens
10 000 bis 60000° C entstehen. Der Abstand, mit dem
sich die Elektroden der Stoßfunkenstrecke im Entladungsgefäß gegenüberstehen, beträgt einen bzw.
mehrere Zentimeter bis zu etwa einem Meter.
In der Figur ist eine Schaltanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung beispielsweise
dargestellt. Die Gleichspannungsquelle 1 lädt über einen ohmschen Widerstand 2 den Kondensator 3
auf 50 000 Volt auf. Die Gleichspannungsquelle 1 kann unter Umständen nach Art einer Marxschen
Stoßschaltung ausgebildet sein. Im Entladungsgefäß 4 mit keramischen Wänden undElektroden aus Silizium,
deren Abstand etwa einen halben Meter beträgt, befindet sich das Reaktionsgas. Durch Schließen des
Schalters 5 wird die Entladung ausgelöst. Es können für den Zersetzungsvorgang mehrere Entladungen
nacheinander durchgeführt werden. In manchen Fällen genügt schon eine Entladung, um das Reaktionsgas
praktisch vollkommen zu zersetzen.
Claims (5)
1. Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder Halbleitergrundstoffe in Nadel- oder Pulverform
durch thermische Zersetzung ihrer flüchtigen Halogenverbindungen durch elektrische Gasentladung,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Stoßfunkenentladung zwischen den Elektroden im Reaktionsgefäß
erzeugt wird.
2. Anordnung zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Elektrodenabstand der Stoßfunkenstrecke in der Größenordnung eines oder mehrerer Dezimeter
liegt.
3. Anordnung nachAnspruchl, dadurch gekennzeichnet,
daß die Entladungsspannung in der Größenordnung von 50 000 Volt liegt.
4. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Gefäßwände und/oder
Elektroden auf konstanten erhöhten oder erniedrigten Temperaturen gehalten sind.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden aus
demselben Material bestehen wie das zu erzeugende Produkt.
In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 601 847.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 009 588/241 8.60
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1955S0045099 DE1087869B (de) | 1955-08-08 | 1955-08-08 | Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder Halbleitergrundstoffe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1955S0045099 DE1087869B (de) | 1955-08-08 | 1955-08-08 | Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder Halbleitergrundstoffe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1087869B true DE1087869B (de) | 1960-08-25 |
Family
ID=599809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1955S0045099 Pending DE1087869B (de) | 1955-08-08 | 1955-08-08 | Verfahren zum Gewinnen hochreiner Metalle oder Halbleitergrundstoffe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1087869B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0124901A2 (de) * | 1983-05-07 | 1984-11-14 | Sumitomo Electric Industries Limited | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung feinen Pulvers |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE601847C (de) * | 1933-04-01 | 1934-08-25 | Siemens Schuckertwerke Akt Ges | Verfahren zum Einbringen eines Stoffes in ein Metall |
-
1955
- 1955-08-08 DE DE1955S0045099 patent/DE1087869B/de active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE601847C (de) * | 1933-04-01 | 1934-08-25 | Siemens Schuckertwerke Akt Ges | Verfahren zum Einbringen eines Stoffes in ein Metall |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0124901A2 (de) * | 1983-05-07 | 1984-11-14 | Sumitomo Electric Industries Limited | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung feinen Pulvers |
EP0124901A3 (en) * | 1983-05-07 | 1988-01-07 | Sumitomo Electric Industries Limited | Process and apparatus for manufacturing fine powder |
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