DE102017130059B4 - Fotoelektrischer sensor - Google Patents

Fotoelektrischer sensor Download PDF

Info

Publication number
DE102017130059B4
DE102017130059B4 DE102017130059.7A DE102017130059A DE102017130059B4 DE 102017130059 B4 DE102017130059 B4 DE 102017130059B4 DE 102017130059 A DE102017130059 A DE 102017130059A DE 102017130059 B4 DE102017130059 B4 DE 102017130059B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
pattern
period
photoelectric sensor
projected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102017130059.7A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102017130059A1 (de
Inventor
Mingke YU
Kuniharu Shibata
Motoharu Okuno
Ryosuke Tsuzuki
Masanobu Horino
Yuki Matsui
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Publication of DE102017130059A1 publication Critical patent/DE102017130059A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102017130059B4 publication Critical patent/DE102017130059B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/20Detecting, e.g. by using light barriers using multiple transmitters or receivers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/12Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0214Constructional arrangements for removing stray light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0228Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0238Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor or optical parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4228Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/74Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of diodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

Fotoelektrischer Sensor (1, 1a, 1b), umfassend:eine Lichtprojektionseinheit (100), die so konfiguriert ist, dass sie, als Signallicht, wiederholt einen Satz von Pulslicht ausstrahlt, das einem projizierten Lichtmuster folgt, bei dem eine Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne verschieden gemacht worden ist;ein Lichtempfangselement (200), das so konfiguriert ist, dass es das Signallicht von der Lichtprojektionseinheit (100) empfängt; undeine Lichtempfangssteuerung (206), die so konfiguriert ist, dass sie auf der Grundlage eines von dem Lichtempfangselement (200) empfangenen Lichtsignals zwischen einem Zustand einfallenden Lichts und einem Zustand blockierten Lichts unterscheidet,wobei die Lichtprojektionseinheit (100) als das projizierte Lichtmuster ein erstes Muster aufweist, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne vergrößert ist, und ein zweites Muster aufweist, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne verringert ist, und wobei bei dem ersten Muster und dem zweiten Muster ein Impuls, der eine kürzeste Periode anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen ist, welche anders als die kürzeste Periode ist.

Description

  • HINTERGRUND
  • Technischer Bereich
  • Die Offenbarung bezieht sich auf einen fotoelektrischer Sensor.
  • Beschreibung des Standes der Technik
  • Bekannt ist ein fotoelektrischer Sensor bzw. eine Lichtschranke aufweisend einen Lichtprojektor und einen Lichtempfänger. Bei einem solchen fotoelektrischen Sensor sind der Lichtprojektor und der Lichtempfänger so zueinander ausgerichtet, dass das Licht des Lichtprojektors in den Lichtempfänger einfällt. Beispielsweise wird ein fotoelektrischer Sensor bzw. eine Lichtschranke mit der obigen Konfiguration in der Japanischen Patentanmeldung mit Offenlegungsschrift JP 2010- 205 454 A (Patentdokument 1) offenbart.
  • In den letzten Jahren hat sich eine Inverter-Beleuchtung oder eine LED-Beleuchtung bzw. -Lichttechnik durchgesetzt. Diese Beleuchtungsgeräte erzeugen Licht in einem festen Zyklus. Im Fall eines fotoelektrischen Sensors kann Licht, welches von der Inverter-Beleuchtungslampe oder der LED-Beleuchtungslampe emittiert wird, eine Störung darstellen, die zu einer Fehlfunktion des fotoelektrischen Sensors führt.
  • Beispielsweise wird ein optischer Sensor zur Verbesserung der Widerstandsfähigkeit gegen Störlicht einer festen Frequenz in der Japanischen Patentanmeldung mit Offenlegungsschrift JP 2015- 212 711 A (Patentdokument 2) offenbart. Bei diesem optischen Sensor projiziert eine Lichtprojektionseinheit Pulslicht in ungleichen Pulsabständen.
    • [Patentschrift 1] Japanische Patentanmeldung JP 2010- 205 454 A.
    • [Patentschrift 2] Japanische Patentanmeldung JP 2015- 212 711 A.
  • Weitere aus dem Stand der Technik zu nennende Druckschriften:
  • DE 41 41 468 A1 offenbart ein Verfahren zum Betreiben einer optischen Sensoreinrichtung zur Feststellung von in einem Überwachungsbereich vorhandenen Gegenständen mit einem Lichtsender und einem Lichtempfänger, wobei der Lichtsender Lichtsignale aussendet, die jeweils aus einer Anzahl von Impulsen bestehen, die mit einer bestimmten Impulsfolgefrequenz aufeinanderfolgen.
  • DE 10 2017 122 604 A1 offenbart einen photoelektrischen Sensor, bei dem, zur Vermeidung von Interferenz mit anderen benachbarten photoelektrischen Sensoren, eine lichtemittierende Einheit vorgesehen ist, die eine Vielzahl von Lichtemissionsmustern aufweist und Licht in einem der Lichtemissionsmuster emittiert. Zudem ist eine lichtrezipierende Einheit vorgesehen, die eine Vielzahl von Lichtrezeptionsmustern aufweist, welche die gleichen Pulsmuster aufweisen wie die Vielzahl von jeweiligen Lichtemissionsmustern, und die einfallendes Licht detektiert, indem sie eines der Lichtrezeptionsmuster verwendet. Eine Pulsgruppenperiode des ersten Lichtemissionsmusters ist so eingestellt, dass sie kürzer ist als ein Flankenintervall einer zweiten Pulsgruppe. Und eine zweite Pulsgruppenperiode des zweiten Lichtemissionsmusters ist so eingestellt, dass sie kürzer ist als ein Flankenintervall einer dritten Pulsgruppe.
  • EP 3 211 457 A1 offenbart einen photoelektrischen Sensor und ein Steuerverfahren dafür, wobei der photoelektrische Sensor aufweist: eine Ansteuerimpuls-Erzeugungseinheit; einen lichtemittierenden Teil, der den Ansteuerimpuls empfängt, um Licht zu emittieren; einen lichtempfangenden Teil, der das von einem detektierten Objekt reflektierte Licht empfängt, um ein Lichtempfangssignal zu erzeugen; eine Ausgabeeinheit, die das Lichtempfangssignal verarbeitet, um ein Detektionssignal auszugeben; und eine Steuereinheit, die die Ansteuerimpuls-Erzeugungseinheit steuert, um einen ersten Ansteuerimpuls eines Ruhezyklus gewöhnlich zu erzeugen, und die durch eine Variation des Detektionssignals getriggert wird, um die Ansteuerimpuls-Erzeugungseinheit zu steuern, um eine spezifizierte Anzahl von zweiten Ansteuerimpulsen eines Arbeitszyklus zu erzeugen, wobei der Arbeitszyklus durch zwei oder mehr spezifische Zyklen gebildet wird, ein Durchschnitt der spezifischen Zyklen als der Arbeitszyklus dient und der Arbeitszyklus kürzer als der Ruhezyklus ist.
  • JP H09- 297 184 A offenbart einen Infrarot-Detektor mit einem Projektor, mit zwei Lichtprojektionsmitteln zum Aussenden von Infrarotimpulssignallicht, und mit einem Lichtempfänger mit zwei Lichtempfangsmitteln, die einander gegenüberliegend über einen Warnabschnitt installiert sind, um das Infrarot-Impulssignallicht zu empfangen. In der Vorrichtung ist der Projektor so konfiguriert, dass er zwei Arten von Impulssignalen zu unterschiedlichen Zeitpunkten abwechselnd mit einer Projektionssignal-Erzeugungseinheit erzeugt. Ferner sind zwei Lichtprojektionsmittel zum Emittieren von Licht vorgesehen, und der Lichtempfänger umfasst zwei Lichtempfangsmittel, einen Abstimmungsverstärker, einen Synchrondetektor, einen Signalwellendetektor, einen Signalwellenverstärker und zwei Komparatoren. Der Ausgang einer ODER-Schaltung, die das Ausgangssignal des Signals empfängt, ist mit einer Signalidentifizierungseinrichtung verbunden, und die Signalidentifizierungseinrichtung überwacht das Timing der Signalerzeugung und gibt die zwei Arten von Licht aus, das von dem Projektor ausgestrahlt wird.
  • ÜBERBLICK
  • Wie oben beschrieben, wird ein fotoelektrischer Sensor bzw. eine Lichtschranke mit einer Funktion zur Verhinderung einer durch Störlicht verursachten Fehlfunktion vorgeschlagen. Indes ist eine Funktion zur Verhinderung einer Fehlfunktion, die durch wechselseitige Interferenz zwischen mehreren fotoelektrischen Sensoren verursacht wird, noch nicht vorgeschlagen worden. Daher wurde auch noch kein fotoelektrischer Sensor vorgeschlagen, der in der Lage ist, sowohl wechselseitige Interferenzen als auch Interferenzen durch Störlicht zu verhindern. Die wechselseitige Interferenz bzw. Beeinflussung allein ist ebenso für den Betrieb des fotoelektrischen Sensors problematisch.
  • Die Ausführungsbeispiele der Erfindung stellen einen fotoelektrischen Sensor bereit, der beschaffen ist, eine durch wechselseitige Beeinflussung verursachte Fehlfunktion zu verhindern.
  • Ein fotoelektrischer Sensor bzw. eine Lichtschranke gemäß eines Aspekts der Erfindung umfasst: eine Lichtprojektionseinheit, die so konfiguriert ist, dass sie als Signallicht wiederholt einen Satz von Pulslicht ausstrahlt, das einem projizierten Lichtmuster folgt, in dem eine Lichtprojektionsperiode verschieden gemacht wird durch eine feste Zeitspanne; ein Lichtempfangselement, das so konfiguriert ist, dass es das Signallicht von der Lichtprojektionseinheit empfängt; und eine Lichtempfangssteuerung, die so konfiguriert ist, dass sie einen Zustand einfallenden Lichts und einen Zustand blockierten Lichts auf der Grundlage eines von dem Lichtempfangselement empfangenen Lichtsignals unterscheidet. Die Lichtprojektionseinheit hat ein erstes Muster, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeit vergrößert wird, und hat ein zweites Muster, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeit als das projizierte Lichtmuster reduziert wird, und bei dem ersten und zweiten projizierten Lichtmuster wird ein Puls, der eine kürzeste Zeitdauer anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen, die nicht die kürzeste Zeitspanne ist.
  • In einem oder mehreren exemplarischen Ausführungsbeispielen sind das erste Muster und das zweite Muster Muster, die sich wechselseitig umkehren.
  • In einem oder mehreren exemplarischen Ausführungsbeispielen sind ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem ersten Muster und ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem zweiten Muster vollständig getrennt.
  • In einem oder mehreren exemplarischen Ausführungsbeispielen werden ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem ersten Muster und ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem zweiten Muster teilweise überlagert.
  • In einem oder mehreren exemplarischen Ausführungsbeispielen wird der Puls, der die kürzeste Periode angibt, in die längste Periode des ersten Musters und in die längste Periode des zweiten Musters einbezogen.
  • In einem oder mehreren beispielhaften Ausführungsbeispielen weist der fotoelektrische Sensor einen Normalbetrieb und einen Störlichtbetrieb bzw. -modus auf. Die Lichtempfangssteuerung enthält einen Komparator, der die Intensität des empfangenen Lichtsignals mit einem Bestimmungs-Schwellenwert vergleicht. Die Lichtempfangssteuerung stellt die Hysterese im Vergleich der Intensität des empfangenen Lichtsignals und des Bestimmungs-Schwellenwerts durch den Komparator im Störlichtbetrieb ein.
  • Nach den Ausführungsbeispielen der Erfindung kann ein fotoelektrischer Sensor vorgesehen werden, der Störungen durch wechselseitige Beeinflussung verhindern kann.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
    • 1 ist ein Blockschaltbild zur Beschreibung einer schematischen Konfiguration eines fotoelektrischen Sensors nach einer Ausführungsform der Erfindung.
    • 2 ist eine Ansicht, die ein erstes projiziertes Lichtmuster einer Lichtprojektionseinheit des fotoelektrischen Sensors nach der Ausführungsform der Erfindung darstellt.
    • 3 ist eine Ansicht, die ein zweites projiziertes Lichtmuster der Lichtprojektionseinheit des fotoelektrischen Sensors entsprechend der Ausführungsform der Erfindung darstellt.
    • 4 ist eine Ansicht zur Beschreibung der wechselseitigen Beeinflussung einer Vielzahl von fotoelektrischen Sensoren.
    • 5 ist eine Ansicht, die ein erstes Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster zeigt.
    • 6 zeigt ein zweites Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster.
    • 7 zeigt ein drittes Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster.
    • 8 ist eine Ansicht zur Beschreibung des Einflusses eines Rückpralls einer empfangenen Lichtwellenform.
    • 9 ist eine schematische Darstellung zur Beschreibung der Fluktuation, die bei der Bestimmung des einfallenden Lichts aufgrund eines Rückpralls der empfangenen Lichtwellenform, der auf weißes Rauschen zurückgeführt wird, entsteht.
    • 10 ist eine schematische Darstellung zur Beschreibung einer fehlerhaften Bestimmung, die durch das weiße Rauschen verursacht wird, das der empfangenen Lichtwellenform überlagert ist.
    • 11 ist eine Ansicht zur Beschreibung der Hysterese eines Komparators nach der Ausführungsform der Erfindung.
    • 12 ist eine Ansicht zur Beschreibung eines Beispiels für einen Hysterese-Betrieb des Komparators (226) in einem Störlichtmodus entsprechend der Ausführungsform der Erfindung.
    • 13 ist ein erstes Flussdiagramm zur Beschreibung eines Prozesses einer Lichtempfangseinheit.
    • 14 ist ein zweites Flussdiagramm zur Beschreibung des Prozesses der Lichtempfangseinheit.
  • BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen ausführlich beschrieben. In den Zeichnungen werden identische oder gleichwertige Teile bzw. Elemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen und die Beschreibung wird nicht wiederholt.
  • 1 ist ein Blockschaltbild zur Beschreibung einer schematischen Konfiguration eines fotoelektrischen Sensors nach einer Ausführungsform der Erfindung. Wie in 1 dargestellt, ist ein fotoelektrischer Sensor 1 nach einer Ausführungsform der Erfindung ein lichtdurchlässiger fotoelektrischer Sensor bzw. eine Lichtschranke und besteht aus einer Lichtprojektionseinheit 100 und einer Lichtempfangseinheit 200. In dieser Ausführungsform sind die Lichtprojektionseinheit 100 und die Lichtempfangseinheit 200 voneinander unabhängig und im Abstand gegenüberstehend zueinander angeordnet.
  • Die Lichtprojektionseinheit 100 umfasst ein Lichtprojektionselement 102, einen Lichtprojektionstreiberschaltkreis 104, einen Lichtprojektionssteuerungs- Integrierter Schaltkreis (IC) 106, eine Betriebsanzeigelampe 108 und eine Stabilitätsanzeigelampe 110. Das Lichtprojektionselement 102 wird über den Lichtprojektionstreiberschaltkreis 104 angesteuert und erzeugt Pulslicht. Das Lichtprojektionselement 102 ist eine LED oder eine Laserdiode (LD).
  • Der Lichtprojektionssteuerungs-IC 106 steuert umfassend die Lichtprojektionseinheit 100. Insbesondere der Lichtprojektionssteuerungs-IC 106 steuert den Lichtprojektionstreiberschaltkreis 104 nach einem projizierten Lichtmuster. Dadurch erzeugt das Lichtprojektionselement 102 einen Satz des Pulslichts als Signallicht nach einem projizierten Lichtmuster davon.
  • Während die Lichtprojektionseinheit 100 in Betrieb ist, schaltet der Lichtprojektionssteuerungs-IC 106 die Betriebsanzeigelampe 108 ein. Zusätzlich steuert der Lichtprojektionssteuerungs-IC 106 die Stabilitätsanzeigelampe 110, die anzeigt, ob ein Betrieb der Lichtprojektionseinheit 100 stabil ist oder nicht.
  • Die Lichtempfangseinheit 200 enthält ein Lichtempfangselement 202, einen Lichtempfangssteuerungs-IC 206, eine Betriebsanzeigelampe 208, eine Stabilitätsanzeigelampe 210 und einen Ausgangsabschnitt 212. Das Lichtempfangselement 202 empfängt das Pulslicht von dem Lichtprojektionselement 102.
  • Typischerweise enthält das Lichtempfangselement 202 eine Photodiode (PD). Ein Signal des Lichtempfangselementes 202 wird in den Lichtempfangssteuerungs-IC 206 (ein Lichtempfangs-Controller) eingespeist. Der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 unterscheidet anhand eines von dem Lichtempfangselement 202 empfangenen Lichtsignals zwischen einem Zustand einfallenden Lichts und einem Zustand blockierten Lichts. Der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 enthält einen A/D-Wandler (ADC) 222, einen Speicher 224 und einen Komparator 226. Der ADC 222 wandelt ein analoges Signal von dem Lichtempfangselement 202 in ein digitales Signal um. Der Speicher 224 speichert Daten für den Vergleich des Digitalsignals unter Einsatz des Komparators 226. Diese Daten werden zuvor in den Speicher 224 eingegeben. Die im Speicher 224 gespeicherten Daten können Daten sein, die ein Muster des von der Lichtprojektionseinheit 100 an die Lichtempfangseinheit 200 gesendeten Pulslichts (ein Eigensignal) anzeigen, oder können ein Vergleichswert sein, der mit dem digitalen Signal des ADC 222 verglichen werden soll.
  • Während die Lichtempfangseinheit 200 in Betrieb ist, schaltet der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Betriebsanzeigelampe 208 ein. Zusätzlich steuert der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Stabilitätsanzeigelampe 210, die anzeigt, ob ein Betrieb der Lichtempfangseinheit 200 stabil ist oder nicht.
  • Das Pulslicht der Lichtprojektionseinheit 100 trifft auf die Lichtempfangseinheit 200. Wenn ein Detektionsziel 2 zwischen der Lichtprojektionseinheit 100 und der Lichtempfangseinheit 200 durchtritt, wird der Einfall des Pulslichts auf die Lichtempfangseinheit 200 durch das Detektionsziel 2 blockiert. Der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 empfängt das Signal von dem Lichtempfangselement 202 zur Detektion des Detektionsziels 2. Der Ausgangsabschnitt bzw. -bereich 212 gibt ein verarbeitetes Ergebnis des Lichtempfangssteuerungs-IC 206 aus.
  • 2 ist eine Ansicht, die ein erstes projiziertes Lichtmuster der Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1 entsprechend der Ausführungsform der Erfindung darstellt. Wie in 2 dargestellt, emittiert die Lichtprojektionseinheit 100 Pulslicht mit unterschiedlichen Intervallen. Genauer gesagt, wird eine Lichtpulsperiode (Lichtprojektionsperiode) um eine feste Zeitspanne erhöht bzw. vergrößert.
  • Beispielsweise wird die Lichtprojektionsperiode um eine Zeitspanne a vergrößert, z.B. T1, T1+a, T1+2a und T1+3a (a steht für einen bestimmten Wert). Das in 2 dargestellte projizierte Lichtmuster wird wiederholt. Das heißt, das projizierte Lichtmuster kehrt nach (Ende) der Lichtprojektionsperiode (T1+3a) zu T1 zurück.
  • In dieser Ausführungsform wird ein Impuls, der eine kürzeste Periode (Zeitintervall) anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen, die nicht die kürzeste Periode ist. Typischerweise wird der Impuls, der die kürzeste Periode anzeigt, in die längste Periode eingeschlossen bzw. einbezogen. Der Impuls, der die kürzeste Zeitspanne angibt, dient zum Verbinden der Lichtprojektionsperiode. In dem Muster von 2 wird ein Monoimpuls, der die Lichtprojektionsperiode T1 anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode (T1+3a) eingefügt.
  • 3 ist eine Ansicht, die ein zweites projiziertes Lichtmuster der Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1 entsprechend der Ausführungsform der Erfindung darstellt. Wie in 3 dargestellt, reduziert bzw. verringert die Lichtprojektionseinheit 100 die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne. Beispielsweise wird die Lichtprojektionsperiode um eine Zeitspanne b verkürzt, z.B. T2, T2-b, T2-2b und T2-3b (b steht für einen bestimmten Wert). Wie das in 2 dargestellte projizierte Lichtmuster wird auch das in 3 dargestellte projizierte Lichtmuster wiederholt.
  • Wie bei dem ersten projizierten Lichtmuster wird im zweiten projizierten Lichtmuster, um die Lichtprojektionsperiode zu verbinden, ein Impuls, der eine kürzeste Periode bzw. Zeitintervall anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen, mit Ausnahme der kürzesten Periode. Typischerweise wird im zweiten Muster der Impuls, der die kürzeste Periode angibt, in die längste Periode eingeschlossen. Im Muster von 3 wird ein Monoimpuls, der die Lichtprojektionsperiode (T2-3b) angibt, in die Lichtprojektionsperiode T2 eingefügt.
  • Der Lichtprojektionssteuerungs-IC 106 verfügt über das erste projizierte Lichtmuster, das in 2 dargestellt ist, und über das zweite projizierte Lichtmuster, das in 3 dargestellt ist. Der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 speichert vorab das Muster des Eigensignals folgend dem ersten und zweiten projizierten Lichtmuster im Speicher 224 ab. Der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 vergleicht das digitale Signal des ADC 222 mit dem Muster des in dem Speicher 224 gespeicherten Eigensignals unter Verwendung des Komparators 226. Wenn kein Störlicht auf die Lichtempfangseinheit 200 trifft, stimmt das Muster des empfangenen Lichtsignals mit dem im Speicher 224 gespeicherten Muster überein.
  • Inzwischen wird z.B. Pulslicht wie Licht der Inverter-Beleuchtung oder LED-Beleuchtung als Störlicht auf die Lichtempfangseinheit 200 auftreffen. Wenn das Störlicht nicht mit dem projizierten Lichtmuster synchronisiert ist, wird das Störlicht zu einem beliebigen Zeitpunkt innerhalb der Lichtprojektionsperiode auf die Lichtempfangseinheit 200 einfallen. Daher unterscheidet sich das Muster des empfangenen Lichtsignals von dem Muster des Eigensignals. Daher kann die Lichtempfangssteuerungs-IC 206 erkennen, dass das Störlicht auf die Lichtempfangseinheit 200 trifft.
  • Eine spezifische Methode zur Unterscheidung von Störlicht und Signallicht (Eigensignal), die auf dem Vergleich des empfangenen Lichtmusters mit dem Eigensignalmuster beruht, ist nicht beschränkt. Das gespeicherte Muster und das empfangene Lichtmuster des Lichtempfangselementes 202 können nacheinander verglichen werden. Es kann eine Differenz der Periode an dem gespeicherten Muster und eine Differenz der Periode an dem empfangenen Lichtmuster des Lichtempfangselementes 202 verglichen werden. Wenn die Differenzen der Perioden eine bestimmte Anzahl von Zeitenintervallen (z.B. 16 Mal) konsistent sind, kann das empfangene Lichtmuster als Muster des Eigensignals (das Signallicht) erkannt werden. Das heißt, es kann zwischen Störlicht und Signallicht unterschieden werden.
  • Hier, wie in 4 dargestellt, wenn eine Vielzahl von transmissiven fotoelektrischen Sensoren sich nebeneinander befinden, wird das von der Lichtprojektionseinheit eines fotoelektrischen Sensors emittierte Licht auf eine Lichtempfangseinheit des anderen fotoelektrischen Sensors als Störung einfallen und es besteht die Möglichkeit einer Fehlfunktion des anderen fotoelektrischen Sensors. Ein Beispiel, in dem die Lichtempfangseinheit 200 des fotoelektrischen Sensors 1a das Pulslicht von der Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1 b empfängt, ist in 4 dargestellt. Die Lichtempfangseinheit 200 des fotoelektrischen Sensors 1b kann aber auch das Pulslicht von der Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1a empfangen. Auf diese Weise kann, wenn mehrere transmissive bzw. lichtdurchlässige fotoelektrische Sensoren sich nebeneinander befinden, es zu einem Problem der wechselseitigen Beeinflussung der Vielzahl von fotoelektrischen Sensoren kommen.
  • Wie oben beschrieben, hat die Lichtprojektionseinheit in der Ausführungsform der Erfindung das erste projizierte Lichtmuster und das zweite projizierte Lichtmuster. In dem in 4 dargestellten Beispiel projiziert z.B. die Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1a das Pulslicht nach dem ersten projizierten Lichtmuster und die Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1b das Pulslicht nach dem zweiten projizierten Lichtmuster. Die Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1a kann das Pulslicht nach dem zweiten projizierten Lichtmuster projizieren, und die Lichtprojektionseinheit 100 des fotoelektrischen Sensors 1b kann das Pulslicht nach dem ersten projizierten Lichtmuster projizieren.
  • Als nächstes wird eine Beziehung zwischen dem ersten und zweiten projizierten Lichtmuster, die auf die gegenwärtige Ausführungsform angewendet werden kann, detailliert beschrieben. Es ist zu beachten, dass ein Wert (Einheit: µs) des unten angegebenen Zeitraums ein Beispiel für das Verständnis ist und die Erfindung nicht einschränkt.
  • 5 zeigt ein erstes Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster. Wie in 5 dargestellt, haben das erste projizierte Lichtmuster und das zweite projizierte Lichtmuster eine völlig umgekehrte Beziehung. Das heißt, die Periode wird im ersten projizierten Lichtmuster geändert als 105, 110, 115 und 120, während die Periode im zweiten projizierten Lichtmuster geändert wird als 120, 115, 110 und 105.
  • 6 zeigt ein zweites Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster. Wie in 6 dargestellt, sind ein Bereich des Zeitraums nach dem ersten projizierten Lichtmuster und ein Bereich des Zeitraums nach dem zweiten projizierten Lichtmuster vollständig getrennt. Das heißt, der Bereich bzw. Weite der Periode ist 105 bei 120 in dem ersten projizierten Lichtmuster, während der Bereich bzw. die Weite der Periode 185 bei 200 in dem zweiten projizierten Lichtmuster ist.
  • 7 zeigt ein drittes Beispiel für die Beziehung zwischen dem ersten projizierten Lichtmuster und dem zweiten projizierten Lichtmuster. Wie in 7 dargestellt, werden der Bereich der Periode nach dem ersten projizierten Lichtmuster und der Bereich der Periode nach dem zweiten projizierten Lichtmuster teilweise überlagert. Mit anderen Worten, der Bereich des Zeitraums nach dem ersten projizierten Lichtmuster und der Bereich des Zeitraums nach dem zweiten projizierten Lichtmuster sind leicht verschoben. Der Bereich der Periode ist 105 an 120 im ersten projizierten Lichtmuster, während der Bereich der Periode 115 an 130 im zweiten projizierten Lichtmuster ist. Daher werden das erste projizierte Lichtmuster und das zweite projizierte Lichtmuster im Bereich bzw. Umfang von 115 bis 120 überlagert.
  • Das erste projizierte Lichtmuster und das zweite projizierte Lichtmuster, das insbesondere dem in 7 dargestellten Verhältnis zwischen den oben genannten drei Relationen folgt, wird übernommen. Der Grund dafür ist, dass ein Einfluss des Rückpralls einer empfangenen Lichtwellenform in Abhängigkeit von der Intensität des einfallenden Lichts auf das Lichtempfangselement vermieden wird.
  • 8 ist eine Ansicht zur Beschreibung des Einflusses eines Rückpralls einer empfangenen Lichtwellenform. Wie in 8 dargestellt, weist eine empfangene Lichtwellenform des Lichtempfangselements einen Rückprall auf. Wenn die Bestimmung des einfallenden Lichts durch den Rückprall immer erst nach einer bestimmten Zeitspanne erfolgt, wird das Auftretensmuster restriktiv und es treten keine unterschiedlichen Muster auf. Aufgrund des Rückpralls erfolgt die Bestimmung des einfallenden Lichts jedoch zu verschiedenen Zeitpunkten, die sich von einer Lichtprojektionsperiode auf der Grundlage des Zustands einfallenden Lichtes (Intensität) unterscheiden.
  • Darüber hinaus weist ein Timing eines Ergebnisses der Bestimmung des einfallenden Lichts aus dem Rückprall Schwankungen auf. Wie in 9 dargestellt, tritt bei der Bestimmung des einfallenden Lichts aus dem Rückprall der empfangenen Lichtwellenform die Schwankung bzw. Fluktuation durch weißes Rauschen auf. Zum Beispiel angenommen, eine Breite des weißen Rauschens beträgt etwa 50 mV und eine Anstiegsgeschwindigkeit des Rückpralls beträgt 50 mV/20 µs, so beträgt die Schwankung in der Zeit der Bestimmung des einfallenden Lichts durch den Rückprall etwa 20 µs. Andererseits beträgt in dem obigen Beispiel ein Inkrement/Dekrement der Lichtprojektionsperiode in dem ersten projizierten Lichtmuster und in dem zweiten projizierten Lichtmuster 5 µs.
  • Daher wird im Falle des Verhältnisses des in 5 dargestellten projizierten Lichtmusters durch den Rückprall bzw. Rückstoß der empfangenen Lichtwellenform ein weiteres projiziertes Lichtmuster erzeugt, und die Lichtprojektionsperiode hat eine Fluktuation von etwa 20 µs in dem projizierten Lichtmuster. Das heißt, ein Muster des Rückpralls, der durch das erste projizierte Lichtmuster erzeugt wird, schwankt um etwa ±10 µs. Aufgrund des Musters des Rückpralls lässt sich leicht ein Muster der Bestimmung des einfallenden Lichts, das mit dem zweiten projizierten Lichtmuster übereinstimmt, erzeugen. Im Falle des in 6 dargestellten Musters sind das erste projizierte Lichtmuster mit einer kurzen Lichtprojektionsperiode und das Muster der Bestimmung des einfallenden Lichts, das dem zweiten projizierten Lichtmuster mit einer langen Lichtprojektionsperiode durch einen Rückprall der empfangenen Lichtwellenform des ersten projizierten Lichtmusters nahe kommt, leicht zu erzeugen. Dementsprechend sind, wie in 7 dargestellt, der Bereich des Zeitraums nach dem ersten projizierten Lichtmuster und der Bereich des Zeitraums nach dem zweiten projizierten Lichtmuster leicht verschoben.
  • Wie in 10 dargestellt, führt das weiße Rauschen selbst, das der empfangenen Lichtwellenform überlagert ist, zu einer fehlerhaften Bestimmung. Tritt beispielsweise eine rauschbedingte Änderung der empfangenen Lichtwellenform in der Nähe einer Schwelle des Komparators auf, so wird das Ergebnis der Bestimmung eingeschaltet.
  • Entsprechend der Ausführungsform der Erfindung schaltet der fotoelektrische Sensor 1 einen Normalbetrieb und einen Störlichtbetrieb. Die Umschaltung zwischen Normalbetrieb und Störlichtbetrieb bzw. -modus kann durch einen Benutzer, der den fotoelektrischen Sensor 1 bedient, oder automatisch erfolgen. Wenn z.B. ein empfangenes Lichtsignal, das durch Störlicht mit einer Frequenz, die gleich oder höher als eine vorgegebene Frequenz ist (z.B. 100 kHz), durch ein Filter geleitet wird und in den Lichtempfangssteuerungs-IC 206 eingespeist wird, kann der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 eine Umschaltung vom Normalmodus in den Störlichtmodus vornehmen.
  • Im Normalbetrieb wird die empfangene Lichtwellenform mit einem einzigen Bestimmungs- bzw. Ermittlungs-Schwellenwert verglichen. Andererseits ist, wie in 11 dargestellt, im Störlichtbetrieb eine Hysterese für die Bestimmung bzw. Ermittlung durch den Komparator 226 vorgesehen. Die fehlerhafte Bestimmung, die dem Rückprall und dem Weißen Rauschen der empfangenen Lichtwellenform zugeschrieben wird, kann durch die Hysterese zuverlässiger aufgelöst werden.
  • 12 ist eine Ansicht zur Beschreibung eines Hysterese-Betriebs des Komparators 226 im Störlichtmodus entsprechend der Ausführungsform der Erfindung. Bezogen auf 1 und 11, sind aufgrund der Einstellung der Hysterese, ein Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei eingeschaltetem Ausgang des Komparators und ein Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei ausgeschaltetem Ausgang des Komparators unterschiedlich. Obwohl der Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei eingeschaltetem Ausgang des Komparators und der Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei ausgeschaltetem Ausgang des Komparators entsprechend der Umkehrung des Steuerausgangs geändert werden, bleibt die Hysterese erhalten. Beispielsweise wird der Steuerungs- bzw. Regelausgang eingeschaltet und damit werden der Bestimmungs-Schwellenwert (CMP2ON) des Komparators bei eingeschaltetem Ausgang des Komparators und der Bestimmungs-Schwellenwert (CMP2OFF) des Komparators bei ausgeschaltetem Ausgang des Komparators reduziert. Der Regelausgang wird ausgeschaltet und damit werden der Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei eingeschaltetem Ausgang des Komparators und der Bestimmungs-Schwellenwert des Komparators bei ausgeschaltetem Ausgang des Komparators wiederhergestellt. Der Regelausgang wird umgekehrt, wenn ein Pulszählwert einen festen Wert erreicht.
  • 13 ist ein erstes Flussdiagramm zur Beschreibung eines Prozesses der Lichtempfangseinheit 200. 14 ist ein zweites Flussdiagramm zur Beschreibung des Prozesses der Lichtempfangseinheit 200. Die in diesen Flussdiagrammen dargestellten Prozesse bzw. Verfahren werden im Störlichtmodus durchgeführt.
  • In 13 wird im Schritt S10 die Bestimmung des Regelausgangs eingeleitet. Der Regelausgang befindet sich im Aus-Zustand. Bezogen auf 1 und 13, bestimmt im Schritt S11 der Lichtempfangssteuerungs-IC 206, ob ein Eigensignal, d.h. ob das Pulslicht der Lichtprojektionseinheit 100, in der Lichtempfangseinheit 200 erfasst bzw. erkannt wird.
  • Wenn das Eigensignal erkannt wird (JA in Schritt S11), schreitet das Verfahren mit Schritt S12 fort. In Schritt S12 setzt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 ein Flag auf 1. Anschließend schreitet das Verfahren mit Schritt S13 fort. Wenn die Bestimmung des einfallenden Lichts auf der Grundlage eines vom Eigensignal verschiedenen Signals erfolgt, d.h. Störlicht oder wechselseitige Beeinflussung (NEIN in Schritt S11), wird der Prozess von Schritt S12 übersprungen und der Prozess von Schritt S13 ausgeführt.
  • Im Schritt S13 vergrößert bzw. erhöht der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Ermittlungs- bzw. Bestimmungs-Impuls-Zählung um 1. Im Schritt S14 bestimmt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206, ob ein Wert der Ermittlungs-Impuls-Zählung N erreicht. N ist eine ganze Zahl, die die Anzahl der kontinuierlichen Zeitenspannen angibt. In einem Beispiel ist N 16, aber ein Wert von N ist nicht beschränkt. Erreicht der Wert der Ermittlungs-Impuls-Zählung N (JA in Schritt S14), so schreitet das Verfahren mit Schritt S15 fort. Wenn der Wert Ermittlungs-Impuls-Zählung kleiner als N ist (NEIN in Schritt S14), so kehrt das Verfahren zu Schritt S11 zurück.
  • Im Schritt S15 löscht der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Ermittlungs-Impuls-Zählung bzw. den -Zähler. In Schritt S16 kehrt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 den Steuerungs- bzw. Regelausgang um. Dadurch wird der Regelausgang zum EIN-Zustand.
  • Im Schritt S17 schaltet der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Hysterese des Komparators 226 ein. Der Prozess schreitet in der Reihenfolge der Schritte S20 und S21 nach Schritt S17 fort.
  • Bezogen auf 1 und 14, bestimmt in Schritt S21 der Lichtempfangssteuerungs-IC 206, ob in der Lichtempfangseinheit 200 ein Eigensignal erkannt wird.
  • Wenn das Eigensignal erkannt wird (JA in Schritt S21), schreitet das Verfahren mit Schritt S22 fort. Im Schritt S22 setzt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 das Flag auf 0. Anschließend schreitet das Verfahren mit Schritt S23 fort. Wird dagegen ein empfangenes Lichtsignal basierend auf Störlicht erkannt (NEIN in Schritt S21), so wird der Prozess der Stufe S22 übersprungen und der Prozess der Stufe S23 ausgeführt.
  • Im Schritt S23 vergrößert der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Anzahl der ermittelten Impulse bzw. den Ermittlungs-Impuls-Zähler um 1. Im Schritt S24 bestimmt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206, ob der Wert des Ermittlungs-Impuls-Zählers N erreicht. N ist eine ganze Zahl, die die Anzahl der kontinuierlichen Zeiten angibt. In einem Beispiel ist N 16, aber ein Wert von N ist nicht beschränkt. Die Anzahl der kontinuierlichen Zeiten, die für die Bestimmung in Schritt S14 verwendet werden, und die Anzahl der kontinuierlichen Zeiten, die für die Bestimmung in Schritt S24 verwendet werden, können unterschiedlich sein. Erreicht der Wert des Ermittlungs-Impuls-Zählers N (JA in Schritt S24), so schreitet das Verfahren mit Schritt S25 fort. Wenn der Wert der Ermittlungs-Impuls-Zähler kleiner als N ist (NEIN in Schritt S24), kehrt der Prozess zu Schritt S21 zurück.
  • Im Schritt S25 löscht der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 den Ermittlungs-Impuls-Zähler. Im Schritt S26 kehrt der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 den Steuerungs- bzw. Regelausgang um. Dadurch wird der Regelausgang in den AUS-Zustand versetzt. In Schritt S27 schaltet der Lichtempfangssteuerungs-IC 206 die Hysterese des Komparators 226 ab. Nach dem Ablauf von Schritt S27 kehrt der Prozess zu Schritt S10 zurück.
  • Auf diese Weise kann in der Ausführungsform der Erfindung die Fehlfunktion durch periodisches Störlicht bei hoher Frequenz verhindert und eine hohe Schutzfunktion für die wechselseitige Beeinflussung der fotoelektrischen Sensoren geschaffen werden. In der Ausführungsform der Erfindung weist die Lichtprojektionseinheit das erste projizierte Lichtmuster auf, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeit vergrößert wird, und weist das zweite projizierte Lichtmuster auf, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeit als das projizierte Lichtmuster reduziert wird. Im ersten und zweiten projizierten Lichtmuster wird der Puls, der die kürzeste Periode anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen, die nicht die kürzeste Periode ist. Dadurch kann die wechselseitige Beeinflussung verhindert werden. In der Ausführungsform der Erfindung wird die Hysterese für die Bestimmung bzw. Ermittlung der empfangenen Lichtwellenform durch den Komparator eingestellt. Dadurch wird der Einfluss, der entweder durch den Rückprall der empfangenen Lichtwellenform in Abhängigkeit von der Intensität des einfallenden Lichtes oder des Weißen Rauschens verursacht wird, verhindert und die empfangene Lichtwellenform kann genau erkannt werden.
  • [Erläuterung der Bezeichnungen]
  • 1, 1a, 1b fotoelektrischer Sensor; 2 Detektionsziel; 100 Lichtprojektionseinheit; 102 Lichtprojektionselement; 104; Lichtprojektionstreiberschaltung; 106 Lichtprojektionssteuerungs-IC; 108 Betriebsanzeigelampe; 110, 210 Stabilitätsanzeigelampe; 200 Lichtempfangseinheit; 202 Lichtempfangselement; 206 Lichtempfangssteuer-IC; 208 Betriebsanzeigelampe; 212 Ausgangsabschnitt; 222 ADC; 224 Speicher; 226 Komparator; CMP2ON, CMP2OFF Bestimmungs-Schwellenwert; S10 bis S17 und S20 bis S27 Schritte; T1, T1+a, T1+2a, T1+3a; T2, T2-b, T2-2b, T2-3b Lichtprojektionsperiode.

Claims (6)

  1. Fotoelektrischer Sensor (1, 1a, 1b), umfassend: eine Lichtprojektionseinheit (100), die so konfiguriert ist, dass sie, als Signallicht, wiederholt einen Satz von Pulslicht ausstrahlt, das einem projizierten Lichtmuster folgt, bei dem eine Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne verschieden gemacht worden ist; ein Lichtempfangselement (200), das so konfiguriert ist, dass es das Signallicht von der Lichtprojektionseinheit (100) empfängt; und eine Lichtempfangssteuerung (206), die so konfiguriert ist, dass sie auf der Grundlage eines von dem Lichtempfangselement (200) empfangenen Lichtsignals zwischen einem Zustand einfallenden Lichts und einem Zustand blockierten Lichts unterscheidet, wobei die Lichtprojektionseinheit (100) als das projizierte Lichtmuster ein erstes Muster aufweist, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne vergrößert ist, und ein zweites Muster aufweist, bei dem die Lichtprojektionsperiode um eine feste Zeitspanne verringert ist, und wobei bei dem ersten Muster und dem zweiten Muster ein Impuls, der eine kürzeste Periode anzeigt, in die Lichtprojektionsperiode einbezogen ist, welche anders als die kürzeste Periode ist.
  2. Fotoelektrischer Sensor (1, 1 a, 1b) nach Anspruch 1, wobei das erste und zweite projizierte Lichtmuster Muster sind, die sich wechselseitig umkehren.
  3. Fotoelektrischer Sensor (1, 1 a, 1b) nach Anspruch 1, wobei ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem ersten Muster und ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem zweiten Muster vollständig getrennt sind.
  4. Fotoelektrischer Sensor (1, 1a, 1b) nach Anspruch 1, wobei sich ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem ersten Muster und ein Bereich der Lichtprojektionsperiode nach dem zweiten Muster teilweise wechselseitig überlagern.
  5. Fotoelektrischer Sensor (1, 1a, 1b) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der Impuls, der die kürzeste Periode anzeigt, in einer längsten Periode des ersten projizierten Lichtmusters und einer längsten Periode des zweiten projizierten Lichtmusters einbezogen ist.
  6. Fotoelektrischer Sensor (1, 1a, 1b) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der fotoelektrische Sensor (1, 1a, 1b) einen Normalbetrieb und einen Störlichtbetrieb aufweist; die Lichtempfangssteuerung (206) einen Komparator (226) umfasst, der die Intensität des empfangenen Lichtsignals mit einem Bestimmungs-Schwellenwert vergleicht; und die Lichtempfangssteuerung (206) eine Hysterese beim Vergleich der Intensität des empfangenen Lichtsignals und des Bestimmungs-Schwellenwerts durch den Komparator (226) im Störlichtbetrieb einstellt.
DE102017130059.7A 2017-03-15 2017-12-15 Fotoelektrischer sensor Active DE102017130059B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017049579A JP6852481B2 (ja) 2017-03-15 2017-03-15 光電センサ
JP2017-049579 2017-03-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102017130059A1 DE102017130059A1 (de) 2018-09-20
DE102017130059B4 true DE102017130059B4 (de) 2024-03-07

Family

ID=63372435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102017130059.7A Active DE102017130059B4 (de) 2017-03-15 2017-12-15 Fotoelektrischer sensor

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10386535B2 (de)
JP (1) JP6852481B2 (de)
CN (1) CN108627881B (de)
DE (1) DE102017130059B4 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018151352A (ja) * 2017-03-15 2018-09-27 オムロン株式会社 光センサおよびセンサシステム
CN110365405B (zh) * 2019-06-24 2020-11-17 深圳怡化电脑股份有限公司 光电传感器检测方法、装置、可读存储介质及终端设备
EP4395296A1 (de) * 2021-08-31 2024-07-03 Shanghai Lanbao Sensing Technology Co., Ltd. Photoelektrischer sensor mit widerstandsfähigkeit gegen hochfrequente lichtinterferenz
CN113721517B (zh) * 2021-08-31 2024-05-28 上海兰宝传感科技股份有限公司 一种接近开关传感器回差设定系统及方法
CN114200534B (zh) * 2021-12-09 2024-04-26 欧姆龙(上海)有限公司 光电传感器及其控制方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4141468A1 (de) 1991-12-16 1993-06-17 Sick Optik Elektronik Erwin Optische sensoranordnung
JPH09297184A (ja) 1996-05-01 1997-11-18 Takenaka Eng Kk 赤外線式検知装置
JP2010205454A (ja) 2009-02-27 2010-09-16 Sunx Ltd 光電センサ
JP2015212711A (ja) 2015-07-22 2015-11-26 株式会社キーエンス 光学センサ
EP3211457A1 (de) 2016-02-29 2017-08-30 Omron Corporation Fotoelektrischer sensor und steuerungsverfahren dafür
DE102017122604A1 (de) 2016-09-30 2018-04-05 Panasonic Industrial Devices Sunx Co., Ltd. Photoelektrischer Sensor

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04137911A (ja) * 1990-09-28 1992-05-12 Nippon Kaiheiki Kogyo Kk 光電スイッチのヒステリス可変装置
JP3275323B2 (ja) * 1991-06-03 2002-04-15 オムロン株式会社 電子スイッチ
JPH06152366A (ja) * 1992-11-09 1994-05-31 Yamatake Honeywell Co Ltd 光電スイッチの相互干渉防止方法
JP3296516B2 (ja) * 1993-05-31 2002-07-02 アツミ電氣株式会社 マルチビームセンサシステム
JP3465263B2 (ja) * 1996-09-04 2003-11-10 オムロン株式会社 動作統括制御装置
JP3719322B2 (ja) * 1996-11-21 2005-11-24 オムロン株式会社 センサ装置およびその表示方法
JP4353047B2 (ja) * 2004-09-30 2009-10-28 オムロン株式会社 多光軸光電センサ
JP2006180175A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Sick Optex Kk 光電センサ
JP5182064B2 (ja) * 2008-12-19 2013-04-10 オムロン株式会社 多光軸光電センサ
JP5893518B2 (ja) * 2012-06-26 2016-03-23 株式会社キーエンス 光学センサ
EP2878255B1 (de) * 2012-07-24 2018-10-31 Olympus Corporation Steuerungsvorrichtung und bildgebungssystem
JP2014131165A (ja) * 2012-12-28 2014-07-10 Azbil Corp 光電センサ
JP2015159385A (ja) 2014-02-23 2015-09-03 オムロン株式会社 光電センサ
US11243294B2 (en) * 2014-05-19 2022-02-08 Rockwell Automation Technologies, Inc. Waveform reconstruction in a time-of-flight sensor
US9921300B2 (en) * 2014-05-19 2018-03-20 Rockwell Automation Technologies, Inc. Waveform reconstruction in a time-of-flight sensor
JP6590553B2 (ja) 2015-06-29 2019-10-16 アズビル株式会社 光電センサ
WO2017098684A1 (ja) * 2015-12-09 2017-06-15 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカ 映像表示方法および映像表示装置
CN205333886U (zh) 2015-12-18 2016-06-22 天津市杰泰克自动化技术有限公司 一种频率可选择的对射式光电传感器
CN108885263B (zh) * 2016-03-21 2024-02-23 威力登激光雷达有限公司 具有可变脉冲重复的基于lidar的3d成像

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4141468A1 (de) 1991-12-16 1993-06-17 Sick Optik Elektronik Erwin Optische sensoranordnung
JPH09297184A (ja) 1996-05-01 1997-11-18 Takenaka Eng Kk 赤外線式検知装置
JP2010205454A (ja) 2009-02-27 2010-09-16 Sunx Ltd 光電センサ
JP2015212711A (ja) 2015-07-22 2015-11-26 株式会社キーエンス 光学センサ
EP3211457A1 (de) 2016-02-29 2017-08-30 Omron Corporation Fotoelektrischer sensor und steuerungsverfahren dafür
DE102017122604A1 (de) 2016-09-30 2018-04-05 Panasonic Industrial Devices Sunx Co., Ltd. Photoelektrischer Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
CN108627881B (zh) 2019-12-24
DE102017130059A1 (de) 2018-09-20
US20180267202A1 (en) 2018-09-20
JP6852481B2 (ja) 2021-03-31
US10386535B2 (en) 2019-08-20
JP2018152819A (ja) 2018-09-27
CN108627881A (zh) 2018-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102017130059B4 (de) Fotoelektrischer sensor
DE3514982C2 (de)
EP1936400B1 (de) Laserscanner
EP2189805B1 (de) Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Messung von Entfernungen nach dem Lichtlaufzeitprinzip
DE10219126B4 (de) Photoelektrischer Sensor
DE102006012537B4 (de) Lichtgitter
EP2071363B1 (de) Lichtgitter und Verfahren zu dessen Betrieb
EP1972961A2 (de) Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Messung einer Entfernung oder einer Entfernungsänderung
EP2189814A1 (de) Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Messung von Entfernungen nach dem Lichtlaufzeitprinzip
DE2513356C3 (de) Photoelektrischer Schußfadenwächter
WO2018215251A1 (de) Vorrichtung und verfahren zur entfernungsmessung
DE10211387B4 (de) Strahlungsimpulse verwendender Sensor
DE102007031430B4 (de) Verfahren zum Betrieb eines Lichtgitters und Lichtgitter
EP0768545B1 (de) Verfahren zum Betrieb eines optischen Lichttasters
DE10018948B4 (de) Optoelektronische Vorrichtung
DE4319451C1 (de) Aus einem Sender und einem Empfänger bestehende Einrichtung zum Erfassen von Gegenständen
DE102012102067A1 (de) Sensoranordnung
EP1717605A2 (de) Verfahren zum Betrieb eines Optosensors
DE102015116151B4 (de) Verfahren zum Betreiben eines photoelektrischen Sensors und photoelektrischer Sensor
DE10136242C5 (de) Photozellendetektor
EP3244237A1 (de) Optischer sensor
DE102004022812B4 (de) Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich mittels eines Lichtgitters
DE102011014195B4 (de) Optischer Sensor
DE10200905B4 (de) Photoelektrischer Schalter
DE19506390A1 (de) Entfernungsmeßgerät

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R083 Amendment of/additions to inventor(s)
R079 Amendment of ipc main class

Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: G01V0008100000

Ipc: G01V0008120000

R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division