DE102005001924A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer BoundaryScan Testschnittstelle - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer BoundaryScan Testschnittstelle Download PDFInfo
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Abstract
Eine
Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung versteckter Signale
in einer Boundary Scan Testschnittstelle wird offenbart, die eine
Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife
in einer Boundary Scan Testschnittstelle definiert und anfänglich eine
Eingabe des Zustandsübergangsdiagramms
der Boundary Scan Testschnittstelle überwacht, so dass eine Ausgabe
von ersten Daten erzeugt wird, wenn ein erster vorbestimmter Eingabestrom
entdeckt wird, der mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife
konform geht, und dann eine Ausgabe von zweiten Daten erzeugt wird,
wenn ein zweiter vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, wobei
der zweite vorbestimmte Eingabestrom vom ersten verschieden ist und
auch mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform
geht.
Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- 1. Gebiet der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein technisches Feld einer Boundary Scan Testschnittstelle, und genauer auf eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung versteckter Signale in einer Boudary Scan Testschnittstelle.
- 2. Beschreibung der verwandten Technik
- Da Chippakete und Mehrebenen-Leiterplatten (PCBs) immer komplizierter geworden sind, ist der konventionelle Test im Schaltkreis, der ein Nagelbett verwendet, nicht zufrieden stellend, da es schwierig ist, die Knoten auf einer PCB präzise zu kontaktieren. Wegen des Fortschritts der Oberflächenmontage-Technologie (Surface Mount Technology SMT) werden die meisten ICs darüber hinaus direkt auf die Oberfläche einer Leiterplatte montiert, was das Problem mit sich bringt, dass interne Signale der ICs nicht direkt getestet werden können. Um dem abzuhelfen, wurde die Boundary Scan Technologie entwickelt. Die Joint Test Action Group (JTAG) Boundary Scan, früher IEEE-Std-1149.1 und IEEE 1149.4 Digital Test Access Port Schnittstelle, definieren z.B. verfügbare Boundary Scan Testschnittstellen zum IC-Testen, das eine serielle Scan-Kette zum Testen der internen Module eines IC verwendet.
1 zeigt ein Blockdiagramm einer typischen JTAG Schnittstelle. In1 benutzt die JTAG Schnittstelle fünf Signalpins (TDI, TDO, TMS, TCK und nTRST) in der Scan-Ketten-Datenoperation, d.h. - TDI-Pin als serielle Dateneingabe, TDO-Pin als serielle Datenausgabe, TMS-Pin als Modusauswahleingabe, TCK-Pin als Takteingabe und nTRST-Pin als System-Reset. Wie in
1 dargestellt, beinhaltet die JTAG-Schnittstelle einen Testzugangsport (Test Access Port TAP) Controller11 , ein Testdatenregister12 , ein Befehlsregister13 und einen Decoder14 . - Das Testdatenregister
12 beinhaltet ein Scan-Ketten-Register121 als eine Scan-Kette, um serielle Daten zu speichern, die vom TDI-Pin erhalten wurden, ein ID-Code-Register122 , das spezielle auszugebende Zahlen speichert, ein Bypass-Register123 , um die seriellen Daten direkt vom TDI-Pin zum TDO-Pin zur Ausgabe weiterzuleiten. - Das Befehlsregister
13 speichert einen seriellen Befehl, der vom TDI-Pin erhalten wurde. Der Decoder14 dekodiert den seriellen Befehl, um so die Operationen des TAP-Controllers11 zu steuern. - Der TAP-Controller
11 führt auf der Grundlage der Eingabe am TMS-Pin einen Zustandsübergang durch und arbeitet mit den Daten des Registers12 und der Ausgabe des Decoders14 .2 ist ein Zustandsübergangsdiagramm des TAP-Controllers11 , wobei ein Zustandsübergang beim Abgreifen der TMS-Signaldaten bei den ansteigenden Flanken der TCK-Signalausgabe stattfindet. Wie in2 dargestellt ist, ist der TAP-Controller11 anfangs in einem Test-Logic Reset (Test-Logik Reset) Zustand. Als nächstes kann der Controller11 in die Zustände Leerlaufprozess21 , Datenregisterprozess22 und Befehlsregisterprozess23 eintreten. Wenn TMS=1, bleibt der Test-Logic Reset Zustand unverändert, und wenn TMS=0, geht der Zustand in den Run-Test/Idle (Testlauf/Leerlauf) Zustand des Leerlaufesprozesses21 über. Als nächstes bleibt der Run-Test/Idle Zustand unverändert, wenn TMS=0, und er geht in den Select-DR-Scan (DR-Scan-Auswahl) Zustand des Datenregisterprozesses22 über, wenn TMS=1. Im Select-DR-Scan Zustand geht der Zustand in den Capture-DR (DR-Laden) Zustand über, wenn TMS=0, zur Verarbeitung des Registers12 , und andernfalls, wenn TMS=1, geht der Zustand in den Select-IR-Scan (IR-Scan-Auswahl) Zustand des Befehlsregisterprozesses23 über. Im Select-IR-Scan Zustand geht der Zustand, wenn TMS=0, in den Capture-IR (IR-Laden) Zustand über. zur Verarbeitung des Registers13 , und andernfalls, wenn TMS=1, geht der Zustand in den anfänglichen Test-Logic Reset Zustand über. - Die oben erwähnte JTAG kann Steuersignale übertragen oder auf Register durch TDI- und TDO-Pins zum Lesen oder Schreiben von Daten zugreifen. Das Lesen und Schreiben von Daten durch TDI- und TDO-Pins sind jedoch sequentiell und können leicht entdeckt werden. Solche geheimen Steuersignale können deshalb nicht geschützt werden. Derzeitige Prozessentwicklung muss jedoch Ausrüstung vor dem Stehlen durch andere schützen. Es ist daher wünschenswert, eine verbesserte Vorrichtung und ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, um die oben genannten Probleme zu lindern oder zu vermeiden.
- ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
- Eine Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle zur Verfügung zu stellen, die Signale eingeben kann, ohne durch einen Standard-Eingabe-/Ausgabe-Pin zu gehen, wodurch eine sichere Übertragung für geheime Steuersignale in der Boundary Scan Testschnittstelle erreicht wird. Eine andere Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle zur Verfügung zu stellen, die geheime Steuersignale als kompatibel mit der Boundary Scan Testschnittstelle erhalten kann und die nicht vollständig auf Zustand und Datenpfad der Boundary Scan Testschnittstelle Auswirkungen hat.
- Gemäß einer Eigenschaft der Erfindung wird eine Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle zur Verfügung gestellt. Die Boundary Scan Testschnittstelle arbeitet mit einem vorbestimmten Zu standsübergangsdiagramm, um auf der Grundlage einer Eingabe Zustandsübergang durchzuführen, wobei der durchgeführte Zustandsübergang mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife beinhaltet. Die Vorrichtung beinhaltet: einen Zustandsdetektor zur Überwachung der Eingabe, um erste Daten auszugeben, wenn ein erster vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, und dann zweite Daten auszugeben, wenn ein zweiter vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, wobei der erste und der zweite vorbestimmte Eingabestrom verschieden sind und beide mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform gehen.
- Gemäß einer weiteren Eigenschaft der Erfindung wird ein Verfahren zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle zur Verfügung gestellt. Die Boundary Scan Testschnittstelle arbeitet mit einem vorbestimmten Zustandsübergangsdiagramm, um auf der Grundlage einer Eingabe Zustandsübergang durchzuführen, worin der durchgeführte Zustandsübergang mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife beinhaltet. Das Verfahren beinhaltet die Schritte: (A) der Überwachung der Eingabe, um erste Daten auszugeben, wenn ein erster vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, wobei der erste vorbestimmte Eingabestrom mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform geht; und (B) der Überwachung der Eingabe, um zweite Daten auszugeben, wenn ein zweiter vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, wobei der zweite vorbestimmte Eingabestrom vom ersten verschieden ist und auch mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform geht.
- Andere Aufgaben, Vorteile und neue Eigenschaften der Erfindung werden offensichtlicher werden von der folgenden detaillierten Beschreibung, wenn sie in Verbindung mit der beiliegenden Zeichnung genommen wird.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG
-
1 ist ein Blockdiagramm einer typischen JTAG-Schnittstelle; -
2 ist ein Zustandsübergangsdiagramm eines TAP-Controllers aus1 ; -
3 ist ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle gemäß der Erfindung; -
4 ist ein Flussdiagramm einer Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife in einem Zustandsübergangsdiagramm eines TAP-Controllers gemäß der Erfindung; -
5 ist ein Blockdiagramm eines Detektors für geheime Daten aus3 gemäß der Erfindung; und -
6 ist ein Flussdiagramm einer Operation eines Zustandsdetektors aus3 gemäß der Erfindung. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
-
3 ist ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle gemäß der Erfindung. In3 beinhaltet die Vorrichtung einen TAP-Controller31 , ein Testdatenregister32 , ein Befehlsregister33 , einen Decoder34 und einen Detektor geheimer Daten35 . Die Boundary Scan Testschnittstelle kann JTAG, IEEE 1149.1, IEEE 1149.4 oder Ähnliches sein. In dieser Ausführungsform verwendet die Boundary Scan Testschnittstelle eine JTAG-Schnittstelle zur beispielhaften Beschreibung. Entsprechend werden der TAP-Controller31 , das Testdatenregister32 , das Befehlsregister33 und der Decoder34 mit JTAG-Standard betrieben, der Pins der seriellen Dateneingabe (TDI), der seriellen Datenausgabe (TDO), der Modusauswahleingabe (TMS), der Takteingabe (TCK) und des System-Resets (nTRST) verwendet, um Scan-Kettendaten zu handhaben. Der Detektor geheimer Daten35 kann darüber hinaus geheime Signaleingabe basierend auf dem TMS-Signal haben. - Mit Bezug noch einmal auf
2 ist das Zustandsübergangsdiagramm, das durch den JTAG-Standard definiert wird, anfangs im Test-Logic Reset Zustand. Um die JTAG-Schnittstelle inaktiv zu machen, ist eine Eingabe des TMS-Pins bei logischen 1en (d.h., es wird ununterbrochen eine Sequenz von ,1' eingegeben), um im Test-Logic Reset Zustand zu bleiben. Wenn man die JTAG-Schnittstelle aktivieren möchte, wird die Eingabe des TMS-Pins auf logisch ,0' verändert, für einen Zustandsübergang. Um jedoch zu vermeiden, dass eine ,0' versehentlich in einer ,1'-Sequenz auftritt und so die JTAG-Schnittstelle fälschlich aktiviert, kehrt der Zustandsübergang in den anfänglichen Test-Logic Reset Zustand über den Select-DR-Scan und Select-IR-Scan Zustand zurück, wenn die Eingabe am TMS-Pin bei ,1' bleibt, nachdem der Run-Test/Idle Zustand betreten wurde durch Eingabe von ,0' am TMS-Pin. Eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife wird nämlich im Wesentlichen durchgeführt, ohne irgendeinen Zustand zu betreten, der eine tatsächliche Operation durchführt, wobei eine fehlerhafte Operation vermieden wird. -
4 zeigt weiterhin die oben erwähnte Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife. Ein TMS-Eingabestrom, der mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform geht, wird keine tatsächliche Operation in der JTAG-Schnittstelle verursachen. Die Erfindung definiert daher mindestens zwei TMS-Eingabeströme, die mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform gehen, um zwei unterschiedliche Eingabedaten A bzw. B darzustellen. In dieser Ausführungsform ist A binär ,0' und B ist binär ,1'. Wie in4 dargestellt, ist es bevorzugt, einen TMS-Eingabestrom von ,0111' als die Eingabedaten B (=1) zu definieren, und den nachfolgenden TMS-Eingabestrom von ,1' als die Eingabedaten A (=0). Da der Run-Testdata/Idle Zustand nicht verändert wird, wenn ,0' eingegeben wird, ist es darüber hinaus anwendbar, einen TMS-Eingabestrom von ,00 111' als die Eingabedaten A oder B zu definieren, wobei0 mindestens eine ,0' darstellt. -
5 zeigt ein Blockdiagramm des Detektors geheimer Daten35 aus3 . In5 beinhaltet der Detektor geheimer Daten35 einen Zustandsdetektor51 und ein Schieberegister52 . Die Operation des Zustandsdetektors51 ist in6 dargestellt. Wie in6 dargestellt, wird nach TCK-Eingabe, TMS-Eingabe und durch den TAP-Controller31 erzeugten JTAG-Zustand, wenn der TAP-Controller31 als im Test-Logic Reset Zustand ermittelt wird, die Überwachung der TMS-Eingabe gestartet. Wenn ein TMS-Eingabestrom von ,0111' entdeckt wird, erzeugt die Datenausgabe511 Daten B (=1) zur Ausgabe (Schritt S601). Als nächstes erzeugt, wenn ein TMS-Eingabestrom von ,1' entdeckt wird, die Datenausgabe511 Daten A (=0) zur Ausgabe (Schritt S602). Datenkombination zur Ausgabe wird im Schieberegister52 gespeichert, wenn die Datenausgabe511 Daten ausgibt. Die erwünschte Datenkombination zur Eingabe kann daher durch die Datenausgabe511 des Zustandsdetektors51 erzeugt werden, durch Eingabe geeigneter Kombinationen von Strömen am TMS-Pin. Die Datenkombination wird im Schieberegister52 zwischengespeichert, wodurch eine sichere versteckte Signalübertragung erreicht wird. - Angesichts des Vorangegangenen weiß man, dass die Erfindung die Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife im Zustandsübergangsdiagramm der Boundary Scan Testschnittstelle anwendet, um versteckte Signale zu übertragen, ohne Signale durch die Standarddaten-Eingabe/Ausgabe-Pins einzugeben, wodurch eine geschützte Übertragung geheimer Steuersignale in der Boundary Scan Testschnittstelle erreicht wird, was vollständig kompatibel mit der Boundary Scan Testschnittstelle sein kann und Zustände und Datenpfade der Boundary Scan Testschnittstelle nicht vollständig beeinflusst.
- Obwohl die vorliegende Erfindung mit Bezug auf ihre bevorzugte Ausführungsform erklärt wurde, muss verstanden werden, dass viele andere mögliche Veränderungen und Variationen gemacht werden können, ohne vom Geist und dem Schutzbereich der Erfindung, wie er nachfolgend beansprucht wird, abzuweichen.
Claims (18)
- Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle, wobei die Boundary Scan Testschnittstelle mit einem vorbestimmten Zustandsübergangsdiagramm arbeitet, um auf der Grundlage einer Eingabe Zustandsübergang durchzuführen, worin der durchgeführte Zustandsübergang mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife hat, wobei die Vorrichtung umfasst: einen Zustandsdetektor, zur Überwachung der Eingabe, um erste Daten auszugeben, wenn ein erster vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, und dann zweite Daten auszugeben, wenn ein zweiter vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, worin der erste und der zweite vorbestimmte Eingabestrom unterschiedlich sind und beide mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform gehen.
- Vorrichtung wie in Anspruch 1, weiter umfassend: ein Schieberegister, zur Speicherung einer Kombination der ersten Daten und der zweiten Daten, die durch den Zustandsdetektor ausgegeben werden.
- Vorrichtung wie in Anspruch 2, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine JTAG Schnittstelle ist und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Vorrichtung wie in Anspruch 2, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine IEEE 1149.1 Schnittstelle ist und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Vorrichtung wie in Anspruch 2, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine IEEE 1149.4 Digital Test Access Port Schnittstelle ist und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Vorrichtung wie in Anspruch 3, worin das Zustandsübergangsdiagramm anfangs in einem Test-Logic Reset Zustand ist, unverändert, wenn die TMS Eingabe ,1' ist, in einen Run-Test/Idle Zustand übergeht, wenn die TMS Eingabe ,0' ist, im Run-Test/Idle Zustand bleibt, wenn die TMS Eingabe ,0' ist, und in den Test-Logic Reset Zustand übergeht, wenn die TMS Eingabe auf drei aufeinanderfolgende 1 en stößt, um die mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife zu bilden.
- Vorrichtung wie in Anspruch 6, worin der erste vorbestimmte Eingabestrom ,0111' ist und der zweite vorbestimmte Eingabestrom ,1' ist.
- Vorrichtung wie in Anspruch 7, worin die ersten Daten ,1' sind und die zweiten Daten ,0' sind.
- Vorrichtung wie in Anspruch 6, worin der erste vorbestimmte Eingabestrom ,0
0 111' ist und der zweite vorbestimmte Eingabestrom ,1' ist, wobei0 mindestens eine ,0' darstellt. - Vorrichtung wie in Anspruch 9, worin die ersten Daten ,1' sind und die zweiten Daten ,0' sind.
- Vorrichtung zur Übertragung versteckter Signale in einer Boundary Scan Testschnittstelle, wobei die Boundary Scan Testschnittstelle mit einem vorbestimmten Zustandsübergangsdiagramm arbeitet, um auf der Grundlage einer Eingabe Zustandsübergang durchzuführen, worin der durchgeführte Zustandsübergang mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife hat, wobei das Verfahren die Schritte umfasst: (A) der Überwachung der Eingabe, um erste Daten auszugeben, wenn ein erster vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, worin der erste vorbestimmte Eingabestrom mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform geht; und (B) der Überwachung der Eingabe, um zweite Daten auszugeben, wenn ein zweiter vorbestimmter Eingabestrom entdeckt wird, worin der zweite vorbestimmte Eingabestrom vom ersten verschieden ist und auch mit der Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife konform geht.
- Verfahren wie in Anspruch 11, weiterhin umfassend den Schritt: (C) des Speicherns der ersten Daten und der zweiten Daten in Kombination.
- Verfahren wie in Anspruch 12, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine JTAG Schnittstelle verwendet und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Verfahren wie in Anspruch 12, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine IEEE 1149.1 Schnittstelle verwendet und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Verfahren wie in Anspruch 12, worin die Boundary Scan Testschnittstelle eine IEEE 1149.4 Digital Test Access Port Schnittstelle verwendet und die Eingabe eine TMS Eingabe ist.
- Verfahren wie in Anspruch 13, worin das Zustandsübergangsdiagramm anfangs in einem Test-Logic Reset Zustand ist, unverändert, wenn die TMS Eingabe ,1' ist, in einen Run-Test/Idle Zustand übergeht, wenn die TMS Eingabe ,0' ist, im Run-Test/Idle Zustand bleibt, wenn die TMS Eingabe ,0' ist, und in den Test-Logic Reset Zustand übergeht, wenn die TMS Eingabe auf drei aufeinanderfolgende 1 en stößt, um die mindestens eine Ungültiger-Zustandsübergang-Schleife zu bilden.
- Verfahren wie in Anspruch 16, worin in Schritt (A) der erste vorbestimmte Eingabestrom ,0111' ist, während die ersten Daten ,1' sind; in Schritt (B) der zweite vorbestimmte Eingabestrom in Schritt (B) ,1' ist, während die zweiten Daten ,0' sind.
- Verfahren wie in Anspruch 16, worin in Schritt (A) der erste vorbestimmte Eingabestrom ,0
0 111' ist, während die ersten Daten ,1' sind, wobei0 mindestens eine ,0' darstellt; in Schritt (B) der zweite vorbestimmte Eingabestrom ,1' ist, während die zweiten Daten ,0' sind.
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