DE102004061311A1

DE102004061311A1 - Temperaturkompensierte Verzögerungssignale

Info

Publication number: DE102004061311A1
Application number: DE200410061311
Authority: DE
Inventors: Thoai Thai Le; Jung Pill Kim
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Qimonda AG
Priority date: 2003-12-23
Filing date: 2004-12-20
Publication date: 2005-07-28
Also published as: US7453302B2; US20050135430A1

Abstract

Eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung zum Verzögern eines Signals innerhalb einer integrierten Schaltung umfasst einen Temperatursensor. Der Temperatursensor ist konfiguriert, um eine Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung zu erfassen, und ist konfiguriert, um ein Steuerungssignal zu liefern, das die erfasste Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung erfasst. Eine Verzögerungskette ist konfiguriert, um ein Signal zu empfangen und eine Mehrzahl von Ausgangssignalen zu liefern. Jedes Ausgangssignal weist eine Zeitverzögerung auf, die sich von anderen Ausgangssignalen unterscheidet. Ein Multiplexer ist konfiguriert, um die Mehrzahl von Ausgangssignalen von der Verzögerungskette zu empfangen und um das Steuerungssignal von dem Temperatursensor, der die erfasste Temperatur darstellt, zu empfangen. Der Multiplexer ist konfiguriert, um ein temperaturkompensiertes verzögertes Ausgangssignal zu liefern.

Description

Die Erfindung bezieht sich allgemein auf eine Verzögerungsschaltung zum Verzögern eines Signals innerhalb einer integrierten Schaltung und insbesondere auf einen temperaturkompensierten Verzögerungsweg für ein Signal, wobei der Verzögerungsweg auf einer Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung basiert.
Eine typische integrierte Schaltung umfasst verschiedene Komponenten mit zahlreichen Signalen, die zwischen Komponenten übertragen werden, die Datensignale, Adresssignale, Befehlssignale, Steuerungssignale, Taktsignale, Lesesignale, Schreibsignale und Auswahlsignale umfassen. Abhängig von der Anwendung sind Signale erforderlich, um eine Synchronisierung beizubehalten, um eine ordnungsgemäße Operation zu garantieren. Zum Beispiel ist bei einigen Ausführungsbeispielen erforderlich, dass ein Signal an einem Signaleingangstor vor einem Taktübergang vorhanden ist. Daher kann bei einer Anwendung ein Eingangssignal als ein Ausgangssignal an einem Taktübergang bereitgestellt werden. Das Signal darf jedoch an dem Signaleingangstor nicht zu früh ankommen, derart, dass das Eingangssignal als das Ausgangssignal an einem bekannten und unerwünschten Taktübergang übergehen gelassen wird. Daher besteht ein Zeitfenster, an dem ein Signal an dem Signaleingangstor ankommen muss.
Jedes Signal innerhalb einer integrierten Schaltung bewegt sich von einer Komponente zu einer anderen Komponente über einen Signalweg. Im Allgemeinen ist der Signalweg im Gegensatz zu Taktsignalen relativ kurz. Andererseits neigt ein Taktsignalweg dazu, relativ lang zu sein, da er sich von einem Takt, der sich an einem Ende der integrierten Schaltung befindet, zu einer Komponente erstrecken kann, die an dem anderen Ende der integrierten Schaltung angeordnet ist. Folglich neigt die Zeitverzögerung auf dem Taktweg dazu, länger zu sein als die Zeitverzögerung auf anderen Signalwegen. Somit muss die Zeitverzögerung in einen Signalweg eingebaut werden, bevor das Signal das Eingangstor einer Komponente erreicht, so dass das Signal an dem Eingangstor in dem gewünschten Zeitgebungsfenster ankommt.

Die zwei am meisten anerkannten und verwendeten Schaltungen zum Verzögern eines Signals sind eine Widerstand-/Kondensator-Elementschaltung (RC-Elementschaltung; RC = resistor/capacitor) und eine Inverterkette. Eine RC-Elementschaltung verwendet eine Referenzquelle zum Laden und Entladen eines RC-Elements, dessen Abmessungen die erforderliche Zeitgebung bestimmen. Ein Nachteil bei dieser Implementierung ist die Abweichung der Zeitverzögerung aufgrund der Temperaturabhängigkeit. Die Verzögerung einer RC-Elementschaltung variiert in unterschiedlichen Temperaturumgebungen.

Eine Inverterkette ist eine einfache serielle Schaltung, die verschiedene Paare von Invertern einlagert. Jedes Paar von Invertern invertiert zuerst das Signal und invertiert dann das invertierte Datensignal, wodurch ein Ausgangssignal gleich im Wert zu dem Eingangssignal geliefert wird. Jeder Inverter bringt jedoch eine Zeitverzögerung in das Signal ein, wodurch ein zeitverzögertes Signal erzeugt wird. Zum Einbringen einer minimalen Zeitverzögerung wird eine minimale Anzahl von Inverterpaaren entlang des Signalwegs bereitgestellt. Umgekehrt, um eine längere Zeitverzögerung einzubringen, werden mehrere Inverterpaare entlang des Signalwegs bereitgestellt.

Inverter sind allgemein derart entworfen, dass sie komplementäre Metalloxidhalbleitervorrichtungen (CMOS-Vorrichtungen; CMOS = complementary metal oxid semiconduc tors) umfassen, die ferner Transistoren umfassen. Transistoren sind die Elemente innerhalb der Inverter, die die Zeitverzögerung einbringen. Im Allgemeinen weist die Geschwindigkeit eines Transistors eine relativ hohe umgekehrt proportionale Abhängigkeit von Temperaturänderungen innerhalb der Transistorumgebung auf. Die Geschwindigkeit des Transistors verringert sich mit einer Erhöhung der Temperatur des Transistors und erhöht sich mit einer Verringerung der Temperatur des Transistors. Der Temperaturabhängigkeitsfaktor einer Inverterkette ist besonders kritisch bei Niedrigleistungsanwendungen.

Integrierte Schaltungen unterliegen häufig einem extrem breiten Temperaturbereich basierend auf spezifischen Anwendungen. Zum Beispiel, abhängig von der verwendeten Anwendung, kann eine integrierte Schaltung Temperaturen unterliegen, die im Bereich von -25°C bis 125°C variieren. Die Zeitverzögerung einer RC-Elementschaltung kann bis zu 20% über dem ausgedehnten Mobilanwendungs-Temperaturbereich von -25°C bis 125°C sein. Auf ähnliche Weise kann die Zeitverzögerung eines einfachen einzelnen Inverterpaares bis zu 20% über dem ausgedehnten Mobilanwendungs-Temperaturbereich von -25°C bis 125°C sein. Die angesammelte Verzögerung ist sogar größer, wenn die Verzögerungskomponenten seriell verbunden sind.

Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung und ein Verfahren zum Kompensieren von Temperaturauswirkungen mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.

Diese Aufgabe wird durch eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 1 und ein Verfahren zum Kompensieren von Temperaturauswirkungen gemäß Anspruch 16 gelöst.

Eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung zum Verzögern eines Signals innerhalb einer integrierten Schaltung umfasst einen Temperatursensor. Der Temperatursensor ist konfiguriert, um eine Temperatur proximal zu der integrierten Schaltung zu erfassen, und ist konfiguriert, um ein Steuerungssignal zu liefern, ansprechend auf die erfasste Temperatur proximal zu der integrierten Schaltung. Eine Verzögerungskette ist konfiguriert, um ein Signal zu empfangen und eine Mehrzahl von Ausgangssignalen zu liefern. Jedes Ausgangssignal weist eine Zeitverzögerung auf, die sich von anderen Ausgangssignalen unterscheidet. Ein Multiplexer ist konfiguriert, um die Mehrzahl von Ausgangssignalen von der Verzögerungskette zu empfangen und um das Steuerungssignal von dem Temperatursensor zu empfangen, der die erfasste Temperatur darstellt. Der Multiplexer ist konfiguriert, um ein temperaturkompensiertes verzögertes Ausgangssignal zu liefern.

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
1 ein Blockdiagramm, das eine Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
2 ein Blockdiagramm, das eine Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
3 ein elektrisches Teilblockdiagramm, das eine Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
4 eine Tabelle, die Eingangs- und Ausgangs-Signale basierend auf Temperaturen gemäß dem elektrischen Teilblockdiagramm aus 1 darstellt;
5 ein elektrisches Teilblockdiagramm, das ein anderes Ausführungsbeispiel einer Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
6 ein Blockdiagramm, das ein anderes Ausführungsbeispiel einer Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt;
7 eine Tabelle, die Eingangs- und Ausgangs-Signale basierend auf Temperaturen gemäß dem elektrischen Teilblockdiagramm aus 4 darstellt;
8 ein Blockdiagramm, das ein anderes Ausführungsbeispiel einer Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt; und
9 eine Tabelle, die Eingangs- und Ausgangs-Signale basierend auf Temperaturen gemäß dem elektrischen Teilblockdiagramm aus 6 darstellt.
Bei der nachfolgenden detaillierten Beschreibung wird Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen genommen, die einen Teil derselben bilden, und in denen auf darstellende Weise spezifische Ausführungsbeispiele gezeigt sind, bei denen die Erfindung praktiziert werden kann. Diesbezüglich wird eine Richtungsterminologie verwendet, wie z. B. „oben", „unten", „vorne", „hinten", „vorder", „hinter", etc., Bezug nehmend auf die Orientierung der Figur(en), die beschrieben wird (werden). Da Komponenten der Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung in einer Anzahl von unterschiedlichen Orientierungen positioniert sein können, wird die Richtungsterminologie zu Zwecken der Darstellung verwendet und ist nicht einschränkend. Es wird darauf hingewiesen, dass andere Ausführungsbeispiele verwendet werden können und strukturelle oder logische Änderungen durchgeführt werden können, ohne von dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Die nachfolgende detaillierte Beschreibung soll daher nicht in einem einschränkenden Sinn genommen werden, und der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung wird durch die beiliegenden Ansprüche definiert.
1 ist ein Blockdiagramm, das eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 darstellt. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 liefert ein Ausgangssignal, das in seinem Wert gleich zu einem Eingangssignal ist; das Ausgangssignal ist jedoch zeitverzögert, um eine ordnungsgemäße Synchronisierung und Taktung von gewünschten Signalen sicherzustellen. Die Verzögerungszeit der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 bleibt konstant, unabhängig von der Temperaturumgebung, in der die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 angeordnet ist. somit sind Signale, wie z. B. Daten-, Adress-, Befehls-, Steuerungs-, Takt-, Lese-, Schreib- und Auswahl-Signale ordnungsgemäß mit Taktungssignalen synchronisiert, unabhängig von Temperaturabweichungen der Schaltungsumgebung.
Im Allgemeinen umfasst die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 einen Auf-Chip-Temperatursensor 102, einen Multiplexer 104 und eine Verzögerungskette 106. Bei dem Ausführungsbeispiel, gezeigt in 1, ist der Auf-Chip-Temperatursensor 102 auf demselben Chip positioniert wie die andere Schaltungsanordnung, wie z. B. der Multiplexer 104 und die Inverterkette 106. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 ist eine Teilkomponente der integrierten Schaltung 50. Andere Komponenten der integrierten Schaltung 50 sind der Klarheit halber in 1 nicht gezeigt. Auf ähnliche Weise ist die integrierte Schaltung 50 eine von vielen Schaltungen, die auf dem Chip 52 positioniert sind. Der Chip 52 kann eine oder mehrere integrierte Schaltungen einlagern, die ähnlich zu der integrierten Schaltung 50 sind.
Der Auf-Chip-Temperatursensor 102 ist konfiguriert, um eine Temperatur proximal zu der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 zu erfassen. Der Auf-Chip-Temperatursensor 102 liefert ein Steuerungssignal 108 zu dem Auswahleingangstor So des Multiplexers 104. Das Steuerungssignal 108 kann ebenfalls ein Auswahlsignal 108 ge nannt werden und ist darstellend für die erfasste Temperatur proximal zu der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100, wie sie durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird.
Die Verzögerungskette 106 liefert eine Verzögerung für das Signal 115, derart, dass das verzögerte Signal 115 zu dem Multiplexer 104 über den Eingang I geliefert wird. Bei einem Ausführungsbeispiel liefert die Verzögerungskette 106 mehrere Signale 115, die in ihrem Wert gleich zu dem Signal 114 sind, jedoch eine Zeitverzögerung aufweisen, die sich von anderen Ausgangssignalen unterscheidet.
Der Multiplexer 104 liefert das Ausgangssignal 120 basierend auf dem Steuerungssignal 108. Das Ausgangssignal 120 ist in seinem Wert gleich zu einem der Mehrzahl von Signalen 115 zu dem Multiplexer 104, der eine ordnungsgemäße und gewünschte Zeitverzögerung einlagert, derart, dass das Signal 114 als das Ausgangssignal 120 über das Ausgangstor Y an dem Taktübergang des Taktsignals 117 geliefert wird, das an dem Takteingangstor C empfangen wird.
2 ist ein Blockdiagramm, das eine Verzögerungsschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt. 2 stellt die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 dar. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 umfasst mehrere identische Elemente von der temperaturkompensierten Verzögerung 100 aus 1. Daher wurden identische Elemente mit identischen Bezugszeichen identifiziert.
Die Verzögerungskette 106 umfasst Verzögerungselemente 110 und 112. Während in 1 nur zwei Verzögerungselemente gezeigt sind, wird darauf hingewiesen, dass eine Anzahl von Verzögerungselementen innerhalb der Verzögerungskette 106 umfasst sein kann, ohne von der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Zwei Verzögerungselemente sind ausschließlich zu Klarheitszwecken gezeigt, um zwei separate Verzögerungswege für das Signal 114 darzustellen, um eine ordnungsgemäße Synchronisierung sicherzustellen, unabhängig von der Umgebungstemperatur. Verzögerungselemente 110 und 112 können eines aus oder eine Kombination der nachfolgenden umfassen, sind jedoch nicht darauf beschränkt: eine Inverterverzögerungskette mit einem oder mehreren Inverterpaaren, eine RC-Verzögerungskette, eine Inverter- und Kondensator-Verzögerungskette, eine Logikgatter-Verzögerungskette, wie z. B. ein NAND-Gatter oder ein NOR-Gatter, oder eine Kombination derselben.
Das Signal 114, das einen oder mehrere der Signaltypen darstellt, die in einer integrierten Schaltung verwendet werden, wie z. B. Datensignale, Adresssignale, Befehlssignale, Steuerungssignale, Lesesignale, Lesesignale, Taktsignale, Schreibsignale und Auswahlsignale, wird zu der Verzögerungskette 106 geliefert. Das Verzögerungselement 100 erlegt dem Signal 114 eine Zeitverzögerung auf. Das Signal 114 wird dann zu zwei separaten Wegen geliefert, Weg 116 und Weg 118. Das Signal 114 wird zu dem Eingangstor I₀ des Multiplexers 104 über den Weg 116 geliefert, der keine zusätzlichen Verzögerungselemente aufweist. Das Signal 114 wird ferner zu dem Eingangstor I₁ des Multiplexers 104 über den Weg 118 geliefert, der ein zusätzliches Verzögerungselement 112 aufweist. Wie in 2 dargestellt ist, liefert das Verzögerungselement 112 eine zusätzliche Zeitverzögerung zu dem Signal 114 vor dem Senden des Signals 114 zu dem Eingangstor I₁.
Die Verzögerungselemente 110 und 112 können eines oder mehrere von verschiedenen bekannten Verzögerungs-Elementen oder -Ketten umfassen. Zum Beispiel können die Verzögerungselemente 110 und 112 jeweils eines oder mehrere der nachfolgenden aufweisen: ein Inverterpaar oder eine Mehrzahl von Inverterpaaren, eine RC-Verzögerungskette oder eine Mehrzahl von RC-Verzögerungsketten, eine Kombination von Inverter- und Kondensator-Ketten, eine Logikgatterverzögerung, die NAND/NOR-Logikgatter umfasst, oder eine Kombina tion von einem oder mehreren der vorangehend aufgelisteten Verzögerungs-Elemente oder -Ketten.
Wie in 2 gezeigt ist, wird das Signal 114 zu dem Multiplexer 104 geliefert, der zwei unterschiedliche Zeitverzögerungen aufweist, über die Wege 116 und 118. Daher ist das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 104 gleich einem der Signale, die in das Eingangssignal I₀ und I₁ des Multiplexers 104 eingegeben werden, basierend auf der Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, um eine ordnungsgemäße Synchronisierung bereitzustellen.
3 ist ein elektrisches Teilblockdiagramm, das eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 darstellt. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 umfasst verschiedene identische Elemente von der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100, gezeigt in 2. Daher wurden identische Elemente mit identischen Bezugszeichen identifiziert. Wie in 3 gezeigt ist, umfassen die Verzögerungselemente 110 und 112 ferner Inverterpaare 111 bzw. 113.
Inverter, wie z. B. die Inverter der Inverterpaare 111 und 113, sind allgemein derart entworfen, dass sie komplementäre Metalloxid-Halbleiter-Inverter (CMOS-Inverter; CMOS = complimentary metal oxid semiconductor) umfassen, die ferner Transistoren umfassen. Die Geschwindigkeit eines Transistors weist eine relativ hohe umgekehrt proportionale Abhängigkeit von Temperaturänderungen innerhalb der Transistorumgebung auf. Die Geschwindigkeit eines bestimmten Transistors verringert sich mit einer Erhöhung der Temperatur des Transistors, während sich die Geschwindigkeit eines Transistors erhöht mit einer Verringerung der Temperatur des Transistors.
Integrierte Schaltungen, wie z. B. die integrierte Schaltung 50, unterliegen häufig einem äußerst breiten Bereich von Temperaturen basierend auf der spezifischen Anwendung. Zum Beispiel, abhängig von der verwendeten Anwendung, kann eine integrierte Schaltung Temperaturen unterliegen, die im Bereich von -25°C bis 125°C variieren. Die Zeitverzögerung eines einfachen, einzelnen Inverterpaars kann bis zu 20% über dem ausgedehnten Mobilanwendungs-Temperaturbereich von -25°C bis 125°C sein. Die akkumulierte Verzögerung ist sogar noch größer, wenn invertierte Paare seriell in einer Inverterkette verbunden sind.
Daher, wie in 3 gezeigt ist, wird das Signal 114 zu dem Eingangstor I₀ über den Weg 116 geliefert, das eine relativ hohe Temperatur darstellt, erfasst durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102, ausschließlich für Beispielzwecke größer als oder gleich 50°C. Umgekehrt wird das Signal 114 zu dem Eingangstor I₁ über den Weg 118 geliefert, das eine relativ niedrige Temperatur darstellt, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, wie z. B. ausschließlich für Beispielzwecke weniger als 50°C. Eine Temperatur von 50°C sollte nicht als einschränkend betrachtet werden. Ein beliebiger Temperaturwert kann abhängig von der gewünschten Anwendung verwendet werden.
Da die Geschwindigkeit von Transistoren innerhalb von invertierenden Paaren 111 und 113 umgekehrt proportional zu der Temperatur in der Nähe der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 ist, wird das Signal 114 durch eine minimale Anzahl von Inverterpaaren in Zuordnung zu einer höheren Temperatur übertragen. Im Vergleich zu dem Übertragen des Signals 114 durch eine größere Anzahl von Inverterpaaren in Zuordnung zu einer niedrigeren Temperatur. Um diesen Punkt weiter zu verdeutlichen, wenn die Temperatur in der Nähe der der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 höher wäre als 50°C, wie z. B. 75°C, ist die Geschwindigkeit der Transistoren innerhalb des Inverterpaars 111 relativ langsam, wodurch eine relativ hohe Zeitverzögerung für das Signal 114 geliefert wird. Das Signal 114 schreitet über den Weg 116 zu dem Eingangstor I₀ des Multiplexers 104 fort. Die gewünschte Zeitverzögerung an dem Signal 104 würde über ein einzelnes Inverterpaar 111 erreicht werden. Umgekehrt wird ein Signal mit einer relativ gesehen niedrigeren Temperatur von weniger als 50°C, wie z. B. 25°C, durch beide Inverterpaare 111 und 113 übertragen, vor dem Erreichen des Eingangstors I₁ des Multiplexers 104. Aufgrund der relativ niedrigen Temperatur ist die Geschwindigkeit der Transistoren innerhalb der Inverterpaare 111 und 113 relativ schnell, wodurch eine relativ kurze Zeitverzögerung an dem Signal 114 bereitgestellt wird. Durch Erhöhen der Anzahl von Inverterpaaren jedoch, durch die ein Signal 114 übertragen werden muss, ist die Zeitverzögerung des Signals 114, das das Eingangstor I₁ bei einer Temperatur von weniger als 50°C erreicht, gleich zu der Zeitverzögerung des Signals 114, das das Eingangstor I₀ des Multiplexers 104 bei einer Temperatur von mehr als 50°C erreicht. Wiederum sollten die bestimmten Temperaturen, die ausgewählt werden, nicht als einschränkend im Hinblick auf diese Anmeldung betrachtet werden. Die Temperaturen, die in dieser Anmeldung beschrieben werden, sind nur zu Referenz- und Verdeutlichungs-Zwecken.
4 ist eine Tabelle, die mögliche Logiksignale von Steuerungs- oder Auswahl-Signalen 108 basierend auf den zugeordneten Temperaturbereichen darstellt. Die Tabelle aus 4 stellt ferner das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 104 in Verbindung mit sowohl dem Steuerungssignal 108 als auch der Temperatur dar, die von dem Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird. Der Auf-Chip-Sensor 102 erfasst die Temperatur in der Nähe der temperaturkompensierenden Verzögerungsschaltung 100. Wie in der Tabelle in 4 gezeigt ist, wenn die Temperatur, wie sie durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, größer oder gleich 50°C ist, empfängt das Steuerungs- oder Auswahl-Tor So das Steuerungs- oder Auswahl-Signal 108 in der Form einer logischen 0, die eine Temperatur höher als 50°C anzeigt. Das Auswahltor 108 ist gleich einer logischen 0 und das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 104 ist gleich dem Signal 114, das zu dem Eingangstor I₀ des Multiplexers 104 geliefert wird. Umgekehrt, wenn der Auf-Chip-Temperatursensor 102 eine Temperatur in der Nähe der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 von weniger als 50°C erfasst, liefert das Steuerungssignal 108 ein Signal in der Form einer logischen 1 zu dem Multiplexer 104, derart, dass das Auswahlsignal 108 gleich 1 ist. Wie in der Tabelle in 2 gezeigt ist, wenn das Auswahltor 108 gleich einer logischen 1 ist, ist das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 104 gleich dem Signal 114, das an dem Eingangstor I₁ des Multiplexers 104 bereitgestellt ist. Die logischen Werte sind ausschließlich zu Darstellungszwecken gezeigt und sollten nicht als einschränkend betrachtet werden.
Es ist in der Technik bekannt, dass während das Inverterpaar 111 und 113 jeweils als ein einzelnes Inverterpaar gezeigt sind, jedes Inverterpaar eines oder mehrere Inverterpaare darstellen kann, abhängig von der gewünschten Anwendung. Ferner sollte die ausgewählte Temperatur von 50°C nur ein Referenzpunkt sein und sollte nicht als einschränkend betrachtet werden. Abhängig von der Anwendung kann jede Temperatur mit 50°C ausgetauscht werden, ohne von der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Zusätzlich dazu stellt das Signal 114 bei einem Ausführungsbeispiel einen einer Anzahl von Signaltypen dar, wie z. B. einen Daten-, Adress-, Befehls-, Steuerungs-, Takt-, Lese-, Schreib-, Auswahl- oder einen anderen Signal-Typ innerhalb einer integrierten Schaltung. Auf ähnliche Weise stellt das Ausgangssignal 120 denselben Signaltyp dar, der in seinem Wert dem Signal 114 entspricht, aber entsprechend zeitverzögert, um eine synchrone und erwünschte Zeitgebung sicherzustellen.
5 stellt ein anderes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar. Genauer gesagt stellt 5 eine temperaturkompensierte Verzögerung 200 dar. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 200 umfasst verschiedene identische Elemente von der temperaturkompensierten Verzö gerungsschaltung 100. Daher wurden identische Elemente mit identischen Bezugszeichen identifiziert. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 200 umfasst den Multiplexer 104, der ein Auswahleingangstor So und Eingangstore I₀ und I₁ aufweist. Zusätzlich dazu, wie in 5 gezeigt ist, umfasst der Multiplexer 104 einen Inverter 202 und Selektoren 204 und 206. Der Inverter 202 und die Selektoren 204 und 206 sind ebenfalls Teil des Multiplexers 104, wie in 1, 2 und 3 gezeigt ist, wurden jedoch zu Klarheitszwecken in diesen Figuren nicht gezeigt. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 200 umfasst ferner eine Verzögerungskette 106 mit Verzögerungselementen 110 und 112 und Wege 116 und 118 für das Signal 114. Verzögerungselemente 110 und 112 können eines oder eine Kombination der nachfolgenden umfassen, sind jedoch nicht darauf beschränkt: eine Inverterverzögerungskette mit einem oder mehreren Inverterpaaren, eine RC-Verzögerungskette, eine Inverter- und Kondensator-Verzögerungskette, eine Logikgatter-Verzögerungskette, wie z. B. ein NAND-Gatter oder ein NOR-Gatter oder eine Kombination derselben. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 200 umfasst ferner einen Außer-Chip-Temperatursensor 208 und ein Erweiterter-Modus-Register 210.
Der Außer-Chip-Temperatursensor 208 und das Erweiterter-Modus-Register 210 stellen zusammen dieselbe Funktionalität bereit wie der Auf-Chip-Temperatursensor 102 aus 1. Der Außer-Chip-Temperatursensor 208 erfasst eine Temperatur in der Nähe der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 200. Der Außer-Chip-Temperatursensor 208 ist jedoch getrennt von der integrierten Schaltung 50 und dem Chip 52 angeordnet. Das Steuerungs- oder Auswahl-Signal 212 wird von dem Außer-Chip-Temperatursensor 208 zu dem Erweiterter-Modus-Register 210 geliefert und zeigt die Temperatur an, die durch den Außer-Chip-Temperatursensor 208 erfasst wird. Das Erweiterter-Modus-Register 210 empfängt ein Signal, das die Temperatur darstellt, die durch den Außer-Chip-Temperatursensor 208 erfasst wird, und liefert das Steue rungs- oder Auswahl-Signal 212 zu dem Auswahltor So des Multiplexers 104.
Der Multiplexer 104 ist ein standardmäßiger Ein-Bit-Multiplexer mit zwei Eingangsleitungen und einer Ausgangsleitung. Der Inverter 202 des Multiplexers 104 invertiert das ausgewählte Signal 108, das an dem Eingangstor So empfangen wird, das dann zu beiden Selektoren 204 und 206 geliefert wird. Auf ähnliche Weise wird das nicht invertierte Auswahlsignal 108 zu beiden Selektoren 204 und 206 geliefert. Wie vorangehend Bezug nehmend auf 3 gezeigt und erörtert wurde, empfängt das Eingangstor I₀ das Signal 114 über den Weg 116, das das Signal 114 darstellt, das durch das Verzögerungselement 110 zeitverzögert wurde. Auf ähnliche Weise empfängt das Eingangstor I₁ das Signal 114 über den Weg 118 und zeitverzögert durch die Verzögerungselemente 110 und 112. Ähnlich zu dem aus 3 stellt das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 104 ein gewünschtes Zeitverzögerungssignal dar, das in seinem Wert gleich dem Signal 114 ist.
Die Position eines Temperatursensors, egal ob es ein Auf-Chip-Temperatursensor 102 oder ein Außer-Chip-Temperatursensor 208 ist, beeinträchtigt das gewünschte Ergebnis der vorliegenden Schaltung nicht. Zusätzlich dazu, wie Bezug nehmend auf 3 erörtert wurde, sollten die Temperaturbereiche, die in Bezug auf 5 gezeigt und beschrieben wurden, die größer oder gleich 50°C und kleiner 50°C sind, nicht als einschränkend betrachtet werden. Abhängig von der gewünschten Anwendung kann jede Temperatur ausgewählt werden, ohne von der vorliegenden Erfindung abzuweichen.
6 ist ein Blockdiagramm, das eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 gemäß der vorliegenden Erfindung darstellt. Elemente der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 300 aus 6, die identisch zu den Elementen der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 aus 3 sind, sind mit identischen Bezugszeichen markiert. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 unterscheidet sich von der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 200 aus 5 und der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 aus 3 dadurch, dass die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 einen 2-Bit-Temperatursensorausgang umfasst. Genauer gesagt können Temperaturinformationen von dem Auf-Chip-Temperatursensor 102 zu dem Auswahltor S₀ und dem Auswahltor S₁ über Steuerungs- oder Auswahl-Signale 302 und 304 übertragen werden.
Der Multiplexer 306 ist ein 2-Bit-Multiplexer mit vier Eingangsleitungen und einer Ausgangsleitung. Der Multiplexer 306 umfasst Eingangstore I₀, I₁, I₂ und I₃, Steuerungs- oder Auswahltore S₀ und S₁ und das Ausgangstor Y. Die Verzögerungskette 308 umfasst Verzögerungselemente 310, 312, 314 und 316 und Wege 318, 320, 322 und 324.
Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 ist auf ähnliche Weise zu der wirksam, die Bezug nehmend auf die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 100 und die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 200 beschrieben wurde. Zum Beispiel erfasst der Auf-Chip-Temperatursensor 102, der auf der integrierten Schaltung 50 und dem Chip 52 positioniert ist, eine Temperatur in der Nähe der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 300. Signale, die sich auf die Temperatur beziehen, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, werden zu den Auswahltoren S₀ und S₁ über Steuerungs- oder Auswahl-Signale 302 und 304 geliefert. Bei dem Ausführungsbeispiel, das in 6 gezeigt ist, ist die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 in der Lage, Steuerungs- oder Auswahl-Signale 302 und 304 zu liefern, die anzeigen, ob die Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, in eine von vier Temperaturkategorien fällt. Steuerungs- oder Auswahl-Signale 302 und 304 sind Signale, die anzeigen, in welcher der vier Temperaturkategorien die Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, fällt.
7 ist eine Tabelle, die vier Temperaturbereiche und die zugeordneten Auswahlsignale und das Ausgangssignal 120 darstellt. Ausschließlich zu darstellenden Zwecken sind die vier Temperaturbereiche: 1) eine Temperatur höher als oder gleich 100°C, 2) eine Temperatur niedriger als 100°C aber höher als oder gleich 50°C; 3) eine Temperatur niedriger als 50°C aber höher als oder gleich 0°C und 4) eine Temperatur niedriger als 0°C.
Wenn der Auf-Chip-Temperatursensor 102 eine Temperatur höher als oder gleich 100°C erfasst, liefern die Steuerungs- oder Auswahl-Signale 302 und 304 eine logische 0 bzw. eine logische 0 zu den Eingangstoren S₀ und S₁ des Multiplexers 306. Wenn beide Auswahlsignale gleich einer logischen 0 sind, ist das Ausgangssignal des Multiplexers 102 gleich dem Signal 114, das zu dem Multiplexer über den Weg 318 und das Eingangstor I₀ geliefert wird. Bei Temperaturen höher als oder gleich 100°C liefert das Verzögerungselement 310 die notwendige und gewünschte Verzögerung des Signals 114. Auf ähnliche Weise, wenn der Auf-Chip-Temperatursensor 102 eine Temperatur niedriger als 100°C aber höher als oder gleich 50°C erfasst, ist das Signal 302, das zu dem Auswahltor S₀ geliefert wurde, gleich einer logischen 1, während das Auswahlsignal 304, das zu dem Auswahltor S₁ geliefert wurde, gleich einer logischen 0 ist. Wie in 7 gezeigt ist, mit dem Auswahltor So gleich einer logischen 1 und dem Auswahltor S₁ gleich einer logischen 0, ist das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 306 gleich dem Signal 114, wie es zu dem Eingangstor I₁ über den Weg 320 geliefert wurde. In diesen Umständen wenn die Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wurde, geringer als 100°C aber höher ist oder gleich 50°C, liefern die Verzögerungselemente 310 und 312 die notwendige und gewünschte Zeitverzögerung des Signals 114.
Wenn der Auf-Chip-Temperatursensor 102 eine Temperatur niedriger als 50°C aber höher als oder gleich 0°C erfasst, liefert das Auswahlsignal 302 ein Signal gleich einer logischen 0, während das Auswahlsignal 304 ein Signal zu dem Auswahltor S₁ gleich einer logischen 1 liefert. In diesen Umständen ist das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 306 gleich dem Signal 114 an dem Eingangstor I₂, bereitgestellt durch Weg 322. In diesen Umständen, wenn die Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, niedriger als 50°C und größer als oder gleich 0°C ist, stellen die Verzögerungselemente 310, 312 und 314 die notwendige und gewünschte Zeitverzögerung des Signals 114 bereit. Auf ähnliche Weise, wenn der Auf-Chip-Temperatursensor 102 eine Temperatur niedriger als 0°C erfasst, liefern beide Auswahlsignale 302 und 304 ein Logiksignal zu den Auswahltoren S₀ bzw. S₁, gleich einer logischen 1. In diesen Umständen ist das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 306 gleich dem Signal 114, das zu dem Eingangstor I₃ des Multiplexers 306 über den Weg 324 geliefert wird. Bei einer erfassten Temperatur von weniger als 0°C arbeiten die Verzögerungselemente 310, 312, 314 und 316 relativ schnell. Daher ist es notwendig, dass das Signal 414 durch verschiedene Inverterpaare übermittelt wird, um die gewünschte und notwendige Zeitverzögerung bereitzustellen.
Unabhängig von der erfassten Temperatur sollte die Zeitverzögerung des Signals 114 ungefähr konstant sein. Daher liefert die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 300 eine relativ konstante Verzögerungsperiode für das Signal 114, unabhängig von der erfassten Temperatur, wodurch eine ordnungsgemäße Synchronisierung der Signale sichergestellt wird.
8 ist ein Blockdiagramm, das eine temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 darstellt. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 umfasst verschiedene identische Elemente zu der der temperaturkompensierten Verzögerungsschaltung 100 aus 3. Daher wurden identische Elemente mit identischen Bezugszeichen etikettiert. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 umfasst einen Auf-Chip-Temperatursensor 102, einen Multiplexer 402, eine Inverterkette 404 und einen dynamischen Direktzugriffsspeicher (DRAM) 406. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 umfasst ferner Steuerungs- oder Auswahl-Signale 408, 410 und 412, Verzögerungselemente 414, 416, 418 und 420 und Wege 422, 424, 426 und 428. Vier zusätzliche Verzögerungselemente und vier zusätzliche Wege wurden aus 8 der Klarheit halber entfernt. Diese vier Verzögerungselemente und Wege wären jedoch zwischen dem Weg 424 und den Verzögerungselementen 418 positioniert und mit den Eingangstoren I₂, I₃, I₄ bzw. I₅ auf ähnliche Weise zu den gezeigten Verzögerungs-Elementen und -Wegen verbunden.
In Betrieb wird das Signal 114 zu dem Multiplexer 402 über acht separate und unterschiedliche Wege geliefert, wobei jeder Weg eine separate und unterschiedliche Anzahl von Verzögerungselementen umfasst. Jeder Weg ist einem separaten und unterschiedlichen Temperaturbereich zugeordnet, wie durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird. Die Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird, wird zu dem Multiplexer 402 über Steuerungssignale 408, 410 und 412 geliefert. Bei dem Ausführungsbeispiel, das in 8 gezeigt ist, stellt der Multiplexer 402 einen 3-Bit-Multiplexer mit acht Eingangsleitungen und einer Ausgangsleitung dar. Wie teilweise in 8 gezeigt ist und in der Tabelle aus 9 gezeigt ist, sind acht unterschiedliche Temperaturbereiche bereitgestellt, wobei die zugeordneten Logiksteuerungssignale und das ausgewählte Signal als das Ausgangssignal bereitgestellt werden. Das Ausgangssignal 120 des Multiplexers 402 ist in seinem Wert gleich zu dem Signal 114 und wird durch einen von acht Eingängen I₀ – I₇ geliefert, abhängig von der Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird. Bei diesem Beispiel werden die meisten Wege für das Signal 114 für einen 15°C-Temperaturbereich verwendet. Diese Temperaturbereiche sollten wiederum nicht als einschränkend be trachtet werden und werden ausschließlich zu Beispielzwecken verwendet. Zusätzlich dazu sollte die Anzahl von Temperaturbereichen ferner nicht als einschränkend betrachtet werden, sondern wird ausschließlich zu Beispielszwecken verwendet.
Ähnlich wie vorangehend beschrieben wurde und Bezug nehmend auf 3, 5 und 6, umfasst ein Weg für das Signal 114 zu dem Multiplexer 402 bei höheren Temperaturen eine minimale Anzahl von Verzögerungselementen. Umgekehrt, wenn die Temperatur abnimmt, die durch den Temperatursensor 102 erfasst wird, umfasst der Weg des Signals 114 zu dem Multiplexer 402 zusätzliche Verzögerungselemente. Somit ist die Anzahl von Verzögerungselementen, durch die das Signal 114 übertragen werden muss, umgekehrt proportional zu der Temperatur, die durch den Auf-Chip-Temperatursensor 102 erfasst wird. Die Zeitverzögerung auf jedem Weg bei zugeordneten Temperaturen ist ungefähr gleich zu allen anderen Wegen und zugeordneten Temperaturen.
Bei einem Ausführungsbeispiel wird das Ausgangssignal 120 aus dem Ausgangstor Y des Multiplexers 402 als ein Eingangssignal zu dem dynamischen Direktzugriffsspeicher (DRAM) 406 geliefert. Der DRAM 406 umfasst üblicherweise Millionen oder Milliarden von individuellen DRAM-Speicherzellen, angeordnet in einem Array, wobei jede Zelle Informationen in der Form eines Datenbits (d. h. eine logische 1 oder eine logische 0) speichert. Die Speicherzellen sind in einer Matrix von adressierbaren Zeilen und Spalten angeordnet, wobei jede Zeile einem Zellenblock entspricht, der ein Mehrfachbit-Datenwort enthält.
Bei dem Ausführungsbeispiel, das in 8 gezeigt ist, synchronisiert die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 das Ausgangssignal 120 über ein Taktgebungssignal 430, das von dem DRAM 406 bereitgestellt wird. Die temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung 400 stellt sicher, dass das Ausgangssignal 120, das bei einem Ausfüh rungsbeispiel einer einer Anzahl von Signaltypen ist, wie z. B. ein Adress-, Daten-, Befehls-, Steuerungs-, Lese-, Schreib-, Auswahl- oder ein anderer Signal-Typ innerhalb einer integrierten Schaltung, mit einem Taktsignal synchronisiert ist, das zu dem DRAM 406 derart geliefert wird, dass das Ausgangssignal 120 ordnungsgemäß in der korrekten Speicherzelle des DRAM 406 zu der ordnungsgemäßen und gewünschten Zeit gespeichert wird.
Während die Ausführungsbeispiele, die Bezug nehmend auf 1-7 gezeigt und beschrieben wurden, spezifische Anzahlen von Eingangswegen, Auswahlsignalleitungen und Invertern umfassen, wird darauf hingewiesen, dass eine beliebige Anzahl von Eingangswegen, Auswahlsignalen und Invertern verwendet werden kann, ohne von der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Es wird darauf hingewiesen, dass zusätzliche Eingangswege präzisere Zeitverzögerungen bereitstellen, um eine ordnungsgemäße Synchronisierung von Signalen sicherzustellen.
Obwohl spezifische Ausführungsbeispiele hierin dargestellt und beschrieben wurden, werden Fachleute auf dem Gebiet erkennen, dass eine Vielzahl von alternativen und/oder entsprechenden Implementierungen für die spezifischen Ausführungsbeispiele eingesetzt werden kann, die gezeigt und beschrieben wurden, ohne von dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Diese Anmeldung soll jegliche Abänderungen oder Variationen der spezifischen hierin erörterten Ausführungsbeispiele abdecken. Daher ist es beabsichtigt, dass diese Erfindung nur durch die Ansprüche und ihre Entsprechungen eingeschränkt wird.

Claims

Temperaturkompensierte Verzögerungsschaltung (100; 200; 300; 400) zum Verzögern eines Signals innerhalb einer integrierten Schaltung, wobei die Verzögerungsschaltung folgende Merkmale aufweist: einen Temperatursensor (102, 208), der konfiguriert ist, um eine Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung zu erfassen, und konfiguriert ist, um ein Steuerungssignal zu liefern, das die erfasste Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung darstellt; eine Verzögerungskette (106; 308), die konfiguriert ist, um ein Signal zu empfangen und eine Mehrzahl von Ausgangssignalen (120) zu liefern, wobei jedes Ausgangssignal eine Zeitverzögerung aufweist, die sich von den anderen Ausgangssignalen unterscheidet; und einen Multiplexer (104; 306; 402), der konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Ausgangssignalen von der Verzögerungskette zu empfangen und das Steuerungssignal von dem Temperatursensor zu empfangen, das die erfasste Temperatur darstellt, wobei der Multiplexer ferner konfiguriert ist, um ein temperaturkompensiertes verzögertes Ausgangssignal zu liefern.
Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 1, bei der das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) gleich einem der Mehrzahl von Ausgangssignalen aus der Verzögerungskette ist.
Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 1 oder 2, bei der der Temperatursensor ferner folgendes Merkmal aufweist: einen Auf-Chip-Temperatursensor (102), der auf einem Chip angeordnet ist, der ferner die integrierte Schaltung einlagert.
Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 1 oder 2, bei der der Temperatursensor ferner folgendes Merkmal aufweist: einen Außer-Chip-Temperatursensor (208), der getrennt von einem Chip angeordnet ist, der die integrierte Schaltung einlagert.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der der Multiplexer konfiguriert ist, um zumindest ein Steuerungssignal von dem Temperatursensor zu empfangen, wobei jede Kombination der Steuerungssignale einen unterschiedlichen Temperaturbereich darstellt.
Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 5, bei der das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) des Multiplexers durch eine unterschiedliche Kombination der gesteuerten Signale bestimmt wird.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei der der Multiplexer konfiguriert ist, um das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) zu einem dynamischen Direktzugriffsspeicher zu liefern.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, bei der das Signal, das in die Verzögerungskette eingegeben wird, ein Dateneingangssignal ist, und bei der das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) des Multiplexers ein temperaturkompensiertes verzögertes Datensignal ist, das in seinem Wert gleich zu dem Dateneingangssignal ist.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei der das Signal, das in die Verzögerungskette eingegeben wird, ein Adresssignal ist, und bei der das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) des Multiplexers ein temperaturkompensiertes Verzögerungsadresssignal ist, das in seinem Wert gleich zu dem Adresssignal ist.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, bei der das Signal, das in die Verzögerungskette eingegeben wird, ein Befehlssignal ist, und bei der das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) des Multiplexers ein temperaturkompensiertes verzögertes Befehlssignal ist, das in seinem Wert gleich dem Befehlssignal ist.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei der das Eingangssignal der Verzögerungskette ein Steuerungssignal ist, und bei der temperaturkompensierte verzögerte Ausgangssignal (120) des Multiplexers ein temperaturkompensiertes verzögertes Steuerungssignal ist, das in seinem Wert gleich dem Steuerungssignal ist.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 11, bei der die Verzögerungskette ferner folgendes Merkmal aufweist: eine Widerstand-/Kondensator-Verzögerungskette.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 12, bei der die Verzögerungskette ferner folgendes Merkmal aufweist: eine NAND/NOR-Gatterkombinations-Verzögerungskette.
Verzögerungsschaltung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 13, bei der die Verzögerungskette ferner folgendes Merkmal aufweist: zumindest ein Inverterpaar.
Verzögerungsschaltung gemäß Anspruch 14, bei der jedes Inverterpaar der Verzögerungskette ferner folgende Merkmale aufweist: einen ersten Inverter, der konfiguriert ist, um ein zeitverzögertes invertiertes Ausgangssignal (120) basierend auf einem empfangenen Eingangssignal zu liefern; und einen zweiten Inverter, der konfiguriert ist, um das invertierte (120) Ausgangssignal des ersten Inverters zu empfangen, um das invertierte Ausgangssignal des ersten Inverters zu invertieren und ein zeitverzögertes Ausgangssignal zu liefern.
Verfahren zum Kompensieren von Temperaturauswirkungen auf eine Verzögerungsschaltung innerhalb einer integrierten Schaltung, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: Erfassen einer Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung; Liefern eines Steuerungssignals, das einen bestimmten Temperaturbereich darstellt, der die erfasste Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung umfasst; Liefern einer Mehrzahl von Signalen, wobei jedes Signal eine Zeitverzögerung aufweist, die sich von anderen Signalen unterscheidet; und Liefern eines temperaturkompensierten verzögerten Ausgangsdatensignals basierend auf dem Steuerungssignal, wobei das temperaturkompensierte verzögerte Ausgangsdatensignal gleich einem der Mehrzahl von Signalen ist.
Verfahren gemäß Anspruch 16, bei dem der Schritt des Erfassens einer Temperatur ferner folgenden Schritt aufweist: Erfassen einer Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung über einen Temperatursensor, der auf einem Chip positioniert ist, der die integrierte Schaltung einlagert.
Verfahren gemäß Anspruch 16 oder 17, bei dem der Schritt des Erfassens einer Temperatur ferner folgenden Schritt aufweist: Erfassen einer Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung über einen Temperatursensor, der getrennt von einem Chip angeordnet ist, der die integrierte Schaltung einlagert.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 16 bis 18, bei dem der Schritt des Lieferns eines Steuerungssignals ferner folgenden Schritt aufweist: Liefern einer Mehrzahl von Steuerungssignalen, wobei jede Kombination der Steuerungssignale einen unterschiedlichen Temperaturbereich darstellt.
Verfahren gemäß Anspruch 19, bei dem der Schritt des Lieferns eines temperaturkompensierten verzögerten Ausgangsdatensignals ferner folgende Schritte aufweist: Bestimmen einer Kombination der Steuerungssignale, die den bestimmten Temperaturbereich darstellen, der die erfasste Temperatur in der Nähe der integrierten Schaltung umfasst; und Auswählen des temperaturkompensierten verzögerten Ausgangsdatensignals basierend auf der bestimmten Kombination der Steuerungssignale.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 16 bis 20, das ferner folgende Schritte aufweist: Liefern eines Anfangssignals; und Erzeugen der Mehrzahl von Signalen mit unterschiedlichen Zeitverzögerungen, wobei jedes der Mehrzahl von Signalen einen Wert aufweist, der gleich einem Wert des Anfangssignals ist.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 16 bis 21, bei dem der Schritt des Lieferns eines temperaturkompensierten verzögerten Ausgangssignals (120) ferner folgenden Schritt aufweist: Liefern des temperaturkompensierten verzögerten Ausgangssignals zu einem dynamischen Direktzugriffsspeicher (406).