CN1525451A - 光学记录介质写入自动优化方法及执行其的光学记录装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种对光学记录介质的记录条件进行优化的方法以及使用该方法的装置。该方法包括将一个测试写入模式记录在光学记录介质的多个轨道中；检查从多个轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量，从而确定优化的记录条件，其中该轨道中记录有预定的写入模式，并受到相邻轨道中写入的影响。

Description

光学记录介质写入自动优化方法及执行其的光学记录装置
本申请请求2002年10月30日在韩国知识产权局申请的韩国专利申请No.2002-66574作为优先权，在本申请中将全文引用其公开内容。
技术领域
本发明涉及光学记录介质的写入优化领域，特别涉及一种自动优化在光学记录介质上的写入的方法以及执行该方法的光学记录/再现装置。
背景技术
现在已知有多种传统的对在光学记录介质上写入进行优化的方法，这些方法应用于数字通用光盘-随机存取存储器(DVD-RAM)。但是，这些方法将光盘的结构限制为成核控制技术(nucleation dominant technology)。而用于使用快速生长方法的可重写光盘，例如可重写的压缩盘(CD-RW)、DVD-RW等或者下一代高密度光盘的写入优化方法还没有出现。
作为传统写入优化方法的一个例子，属于Hitachi Co.的、名称为“试验写入方法和使用它的光盘装置”的国际专利公开说明书No.2001/11614公开了一种通过最小化相移的优化写入的方法。换句话说，当利用不断改变的写入功率按照包括一个标记和一个间隔的预定模式记录数据然后再现它时，将写入模式的一个边缘和锁相环(PLL)时钟的一个边缘之间的相位差提取出作为一误差脉冲。根据标记和间隔的组合从一对相位差(误差脉冲)进行分类和存储的列表中获得一个最小条件(位移量)，重复在光盘上重新写入该写入模式然后从光盘中再现该写入模式的过程，从而确定相位差最小时的最佳写入脉冲宽度和功率。在该方法中，是在不断改变功率、脉冲宽度和位置或者不断改变功率、脉冲宽度和位置的组合的同时，在光盘上写入该写入模式以及从光盘中再现写入模式的，从而可以检测出在其中各元件的误差脉冲数目最小的写入条件。
传统写入优化方法的另一例子是名称为“记录装置和激光功率设置方法”的日本专利公开说明书No.2000-251256，它公开一种获取具有最佳不对称值的写入和擦除功率的方法。在该方法中，在不断改变激光功率的同时，将随机数据写入一个测试模式中然后将其再现，从而获得抖动率或误差率最佳的写入功率Pw和擦除功率Pe的比率(最佳抖动率且不对称性恒定时Pw与Pe的比值)，并减少写入和再现数据所需的时间。而且，通过使用一个单一模式，将具有最大长度T(位间隙)的多个标记写入n个轨道中，并从第n+2轨道开始写入和再现具有最小长度T的多个标记，从而获得可实现最佳不对称值的写入和擦除功率。
传统的写入优化方法的另一个例子是一篇名称为“用于DVD-RAM4.7GB驱动的校准适应写入脉冲的新方法”JJAP vol.40(2001)1694-1697的文献，其中公开了通过最小化抖动值优化写入的方法。换句话说，在根据不对称校准方法优化写入功率后，位移一个标记的边缘，即写入脉冲的第一和最后脉冲，从而最小化抖动。而且，该方法可用于包括一个标记和一个间隔的预定写入模式，从而分类、写入和再现该预定的写入模式，计算射频(RF)信号的抖动值，并使写入脉冲位移从而最小化抖动值。
但是，传统的写入优化技术都只限于可重写介质中DVD-RAM类型的介质，这些可重写介质使用成核方法产生相对较低的交叉擦除率。而且，传统方法主要提出的是只利用不对称值来确定写入功率的方法。但是，该方法不能满足优化写入条件。在作为最近的光学写入趋势的高密度记录中，需要考虑在写入中引起的交叉擦除或在再现中引起的串扰，这些可能影响写入质量。
发明内容
因此，本发明提供了一种自动优化在采用快速生长方法以及通常的成核方法的光学记录介质上的写入的方法，以及执行该方法的光学记录和/或再现装置。
本发明还提供了一种通过考虑写入中的交叉擦除实现自动优化光学记录介质上的写入条件的方法，以及一种执行该方法的光学记录和/或再现装置。
本发明还提供了一种适合用于CD、DVD以及下一代高密度盘的自动写入优化方法，还有用于执行该方法的光学记录和/或再现装置。
本发明还提供了一种使用新的写入模式的组合的方法，从而优化写入以简化电路和减少操作时间，还有用于执行该方法的光学记录和/或再现装置。
本发明还提供了一种通过校准不对称、抖动值以及RF信号的幅度，自动检测功率和写入模式的最佳写入条件的方法，还有用于执行该方法的光学记录和/或再现装置。
本发明的其他方面和/或优点将部分在下面的说明书中进行说明，其中部分可以很明显的从说明书中看出或者在实践本发明时得出。
根据本发明的一个方面，提供了一种优化光学记录介质的记录条件的方法。将一个测试写入模式记录在多个轨道中。检测从光学记录介质的多个轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量，从而确定记录条件，其中该轨道中记录有测试写入模式，且它受到在相邻轨道中写入的影响。
该测试写入模式包括两个不同长度的标记和一个间隔的组合，即一个最小长度T的标记，其中T为记录和/或再现时钟的一个周期，和一个长度为T的标记，其中由于标记的结构功率是饱和的，以及一个间隔；或者该测试写入模式包括两个或更多不同长度和一个间隔的组合。这里，当使用一个RLL(1，7)码时，测试写入模式可包括两个不同长度的标记，即一个长度为2T的标记和一个长度为5T的标记以及一个间隔的组合，或者包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔.4的组合。当使用RLL(2，10)码时，测试写入模式可包括两个不同长度的标记，即一个长度为3T的标记和一个长度为6T的标记以及一个间隔的组合，或者包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
该射频信号的质量的检测还包括利用该射频信号的幅度优化测试写入模式的功率条件。
该射频信号的质量的检测还包括利用该射频信号的幅度优化写入模式的条件。
该射频信号的质量的检测还包括利用该射频信号的不对称值优化写入模式的条件。
该射频信号的质量的检测还包括利用该射频信号的抖动值优化写入模式的条件。
根据本发明的另一方面，提供了一种通过在光学记录介质上执行测试记录，确定记录所需的最佳功率的方法。测试写入模式被记录在光学记录介质的多个轨道中。利用从多个轨道中的一个中所再现出的射频信号的幅度，确定该最佳功率，其中该轨道中记录有测试写入模式，且它受到在相邻轨道中写入的影响。
该方法还包括将在最佳功率确定中所确定的功率设为最佳功率，并记录该测试写入模式，再现记录在光学记录介质上的测试写入模式从而输出射频信号，利用该射频信号的幅度确定写入模式。
该方法还包括利用射频信号的不对称值确定测试写入模式。
该方法还包括利用射频信号的抖动值确定测试写入模式。
根据本发明的另一方面，提供了一种通过在光学记录介质上执行测试记录来确定一个写入模式的方法。一个测试写入模式被记录。再现记录在光学记录介质上的测试写入模式从而输出一个射频信号。利用该射频信号的幅度确定写入模式。
本方法还包括利用射频信号的不对称值确定写入模式。
本方法还包括利用射频信号的抖动值确定写入模式。
根据本发明的另一方面，提供了一种通过在光学记录介质上执行测试记录来确定写入模式的方法。该方法包括：固定指示第一脉冲宽度的第一写入模式要素和指示多脉冲宽度的第二写入模式要素，设置指示第一脉冲的开始边缘的位移量的第三写入模式要素，设置指示冷却脉冲持续的时间长度的第四写入模式要素，该冷却脉冲持续以记录测试写入模式；再现该测试写入模式以输出一射频信号；检测该射频信号的不对称；检测该射频信号的包络；利用该射频信号的不对称性确定第三写入模式要素以及利用该射频信号的包络确定第四写入模式要素。
根据本发明的另一方面，提供了一种光学记录和/或再现装置。该光学记录和/或再现装置包括拾取头和射频信号检测器，用于在一个或多个轨道记录测试写入模式并再现记录在这些轨道中的一个中的测试写入模式，该轨道受到相邻轨道写入的影响；第一检测器，它检测射频信号的幅度；以及系统控制器，它利用该射频信号的幅度确定最佳功率。
该光学记录和/或再现装置还包括检测射频信号的不对称性的第二检测器和检测该射频信号的抖动值的第三检测器。
根据本发明的另一方面，提供了一种对在光学记录介质上记录进行优化的方法，该光学记录介质是利用快速生长方法或成核控制方法实现写入的。该方法包括在光学记录介质的多个轨道上记录一个测试写入模式，并检测从这些轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量，从而确定优化的记录条件，该轨道中记录有写入模式，并受到相邻轨道写入的影响。
附图说明
本发明的这些和/或其他方面和优点将在下面结合附图的实施例说明中变得明显和容易理解。
图1是根据本发明的一个实施例的光学记录和/或再现装置的方块图；
图2A-2D为根据本发明的一个实施例的用于说明确定擦除功率的方法的图表；
图3A-3C为根据本发明的一个实施例用于说明确定写入功率的方法的图表；
图4A-4C为根据本发明的一个实施例用于说明确定偏置功率的方法的图表；
图5为说明由交叉擦除引起的抖动的图表；
图6A和6B为说明根据本发明的一个实施例的写入条件要素的视图；
图7A-7D是用于说明根据本发明的一个实施例，根据指示冷却脉冲持续的时间长度的写入模式要素dT2来确定写入模式的方法的图表。
图8A-8C是用于说明根据本发明的一个实施例，根据指示第一脉冲的开始边缘的位移量的写入模式要素dT1来确定写入模式的方法的图表。
图9是根据本发明的一个实施例自动优化在光学记录介质上的写入从而确定功率的方法的流程图。
图10是根据本发明的一个实施例自动优化在光学记录介质上的写入从而确定写入模式的方法的流程图。
具体实施方式
在本发明的实施例中将使用附图标记，其例子如附图中所示，其中全文中相同的附图标记都表示相同的元件。为了说明本发明下面将参照附图说明本发明的实施例。
图1是根据本发明实施例的光学记录和/或再现装置的方块图。参照图1，拾取头和射频(RF)检测器110在光学记录介质，例如光盘100上记录数据或者从其上再现数据。该拾取头和RF检测器110包括记录单元111和再现单元112。该记录单元111经过光学系统(未示出)将激光二极管(未示出)发射的激光束成形为光盘100上的写入脉冲。该再现单元112通过光学系统将光盘100反射的光学信号转换为电信号，并利用该电信号检测RF信号(称为再现信号)。
在执行本发明实施例的自动写入优化方法中，系统控制器150执行写入以检测特征功率。该系统控制器150设置标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw。然后，为了防止由写入操作引起的交叉擦除，系统控制器150向写入策略(WS)和自动功率控制器(APC)160发出命令，通过记录单元111在光盘100的一个测试区域内的多个轨道(这里，三个轨道)中顺序记录一个测试写入模式(下称为2T+5T模式)，其中该测试写入模式具有长度为2T和长度为5T(T为位间隙)的标记和一个间隔的组合。
这里，在本发明实施例中，由于具有最小长度2T的标记受到非优化的功率(特别是写入功率)的影响，而写入功率饱和且具有较长长度5T的标记很难或者很少受到非优化功率的影响，因此该2T+5T模式是用作自动写入优化方法中的测试写入模式。在本实施例中，该2T+5T模式采用不对称性来指示较短标记长度T与较长标记长度T之间的比值。
该再现单元112再现记录在这三个轨道的中间轨道中的写入模式，该中间轨道受到在与它相邻的轨道中执行的写入的影响。包络检测器120检测该再现单元112再现出的RF信号的包络，并向系统控制器150输出一个最大幅度值，即用于长度为5T的标记的RF信号的峰到峰值15pp。该系统控制器150存储根据标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw检测出的包络检测器120输出的最大幅度值15pp，顺序改变标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw，例如将偏置功率Pbw固定为0.1mW，写入功率固定为4.7mW，在1.5mW-2.5mW的范围内改变擦除功率Pe，根据上述步骤重写和/再现测试写入模式。这里，对包络检测器120检测到的最大幅度值15pp和存储在系统控制器150中的、根据标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw得到的最大幅度值15pp进行重复的比较处理，从而将具有最大幅度值15pp的擦除功率Pe确定为最佳擦除功率。根据上述步骤同样可以得到标准写入和偏置功率Pw和Pbw的最佳写入和偏置功率。
当确定了最佳功率Pw、Pe和Pbw时，系统控制器150记录测试写入模式。首先，在设置标准写入模式后，将指示第一脉冲宽度的写入模式要素T1和指示多脉冲宽度的写入模式要素T2固定为预定值，将指示第一脉冲的开始边缘的位移量的写入模式要素dT1设置为可变参数。然后将2T+5T模式记录一次。再现所记录的2T+5T模式，从而向系统控制器150输出由不对称检测器140检测到的不对称值以及此时写入模式要素dT1的设置值。系统控制器150在预定范围内不断改变写入模式要素dT1时，系统控制器150还记录和/或再现该2T+5T模式。然后，系统控制器150将不对称检测器140检测到的不对称值与之前输入的不对称值进行比较，并确定当检测到的不对称值为最小时所测量到的写入模式要素dT1为最佳写入模式要素dT1。使用上述的方法，系统控制器150还可以将指示冷却脉冲所持续的时间周期的写入模式要素dT2设置为一可变参数，记录和/或再现该2T+5T图形，并在包络检测器120检测到的峰到峰值15pp最大时将所测量到的写入模式要素dT2确定为最佳写入模式要素dT2。
在固定了所确定的最佳写入模式要素dT1和dT2之后，系统控制器150在不断的在预定范围内改变指示第一脉冲宽度的写入模式要素dT1和指示多脉冲宽度的写入模式要素dT2中的每个的同时，记录和/或再现该2T+5T模式。然后，当抖动检测器130检测到的抖动最小时，系统控制器150将所测量到的写入模式要素T1和T2确定为最佳写入模式要素T1和T2。
图2A说明由擦除功率Pe导致的在随机模式中的抖动，图2B说明由擦除功率Pe导致的在2T+5T模式中的抖动，图2C说明抖动和由擦除功率Pe导致的对于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp之间的关系，图2D说明在擦除功率Pe和不对称性之间的关系。
从图2A和2B可以看出，随机模式和2T+5T模式具有相同的记录和/或再现特征。如图2C可以看出，当抖动最小时，RF信号具有最大幅度值15pp。这里，如图2D可以看出，该不对称值处于一个预定范围内。因此，在本发明的当前实施例中，当2T+5T模式被记录且RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的擦除功率被确定为最佳擦除功率Pe。
图3A说明由写入功率Pw导致的在随机模式中的抖动，图3B说明由写入功率Pw导致的在2T+5T模式中的抖动，图3C说明写入功率Pw与用于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp之间的关系。
从图3A和3B可以看出，与提供擦除功率Pe时一样，当提供写入功率Pe时，该随机模式与2T+5T模式具有相似的记录和/或再现特征。从图3C可以看出，当抖动最小时，RF信号具有最大幅度值15pp。因此，在本发明的本实施例中，将当记录2T+5T模式且RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的写入功率Pw被确定为最佳写入功率。
图4A说明由偏置功率Pbw导致的在随机模式中的抖动，图4B说明由偏置功率Pbw导致的在2T+5T模式中的抖动，图4C说明偏置功率Pbw与用于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp之间的关系。
从图4A和4B可以看出，与应用擦除功率Pe和写入功率Pw时一样，即使当应用偏置功率Pbw时，该随机模式与2T+5T模式具有相同的记录和/或再现特征。从图4C可以看出，当抖动最小时，RF信号具有最大幅度值15pp。因此，在本发明的本实施例中，当记录2T+5T模式且RF信号具有最大幅度值15pp时把测量到的偏置功率Pbw确定为最佳偏置功率。
总之，用于记录的擦除功率Pe、写入功率Pw和偏置功率Pbw具有相同的关于抖动的记录和/或再现特征。这样，在顺序改变擦除功率Pe、写入功率Pw和偏置功率Pbw的同时，对写入模式进行记录和再现。然后，当RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的擦除功率Pe、写入功率Pw和偏置功率Pbw被确定为最佳擦除、写入和偏置功率。例如，当将偏置功率Pbw固定为0.1mW、写入功率固定为4.7mW后，在1.5mW-2.5mW之间调节该擦除功率Pe，当RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的擦除功率Pe被确定为最佳擦除功率Pe。在偏置功率Pbw和已确定的最佳擦除功率Pe固定后，调节写入功率Pw，将当RF信号具有最大值15pp时所测量到的写入功率Pw确定为最佳写入功率Pw。在将已确定的擦除功率Pe和写入功率Pw固定后，调节偏置功率Pbw，当RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的偏置功率Pbw被确定为最佳偏置功率Pbw。
图5是说明当写入模式以及擦除、写入和偏置功率Pe、Pw和Pbw未最佳化时，利用增加写入功率Pw来擦除记录在相邻轨道中的写入模式时所出现的抖动的影响的图表。换句话说，当写入模式记录在相邻轨道中时会出现交叉擦除现象，它会导致抖动。
一个具有预定长度(图6A中的8Tw)的标记可以图6B所示的写入脉冲形式记录在光盘上。图6B说明用于写入模式等的光功率和写入条件要素。写入脉冲包括具有写入功率Pw的第一脉冲和具有偏置功率Pbw的最后脉冲(称为冷却脉冲)。在第一脉冲和冷却脉冲之间存在一个多脉冲阵列，其脉冲数目根据位间隙Tw而改变。而且，在一间隔期间需要擦除功率Pe。T1为指示第一脉冲宽度的写入模式要素，dT1为第一脉冲的开始边缘的位移量，T2为指示多脉冲宽度的写入模式要素，dT2为指示冷却脉冲持续时间长度的写入模式要素。
为了在光学记录期间获得稳定的写入质量，应当对具有写入脉冲形式以及光功率的写入模式进行优化。写入模式的优化取决于记录和/或再现装置以及记录介质的特征。因此，图6B所示的写入模式的结构和记录所需的光功率应当自动确定。特别是，应当使由高密度记录引起的交叉擦除现象最小化。为了实现这些目的，应当利用简单电路结构来实现高速优化。因此，需要具有与实际写入模式相同的记录和/或再现特征的新的测试写入模式。
因此，本发明实施例使用具有最小标记长度T和标记长度T的测试写入模式，其中标记长度T由于其标记结构而使功率饱和。一个调制码，其主要用于数据存储系统，例如磁记录系统、光盘驱动等中，是运行长度有限(RLL)码，它将在1之间连续零的最小数目限制为“d”，而将其最大数目限制为“k”。当使用RLL(1，7)码时，测试写入模式可包括两个不同长度即最小长度T(这里，2T)和长度T(这里，5T)的标记的组合，或者可包括两个或更多不同长度的标记的组合，其中长度5T的标记由于标记的结构使功率饱和。使用RLL(1，7)码的光学记录介质为高密度记录介质，例如HD-DVD或可重写的HD-DVD。
当使用RLL(2，10)码时，测试写入模式可包括两个不同长度即最小长度T(这里是3T)和一个长度T(这里，6T)的标记的组合，或者可包括两个或更多不同长度的标记的组合，其中长度6T的标记由于标记的结构使功率饱和。使用RLL(2，10)码的光学记录介质为记录介质，例如CD或DVD系列记录介质。
在所公开的本发明实施例中，使用一个具有最小长度2T的标记和一个长度为5T的标记的写入模式来进行优化。
图7A说明根据在写入模式要素dT2中的变动的在随机模式中的抖动，其中，写入模式要素dT2指示冷却脉冲在其中持续的时间周期。图7B说明根据在写入模式要素dT2中的变动的在2T+5T模式中的抖动，图7C说明根据在写入模式要素dT2中的变动和对于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp之间的关系，图7D说明在写入模式要素dT2中的变化和不对称性之间的关系。
从图7A和7B可以看出，随机模式和2T+5T模式具有相同的记录和/或再现特征。如图7C可以看出，当抖动最小时RF信号具有最大的幅度值15pp。这里，图7D所示的不对称值处于预定的范围内。因此，当RF信号具有最大幅度值15pp时，可以确定最佳写入模式要素dT2。
图8A说明根据在写入模式要素dT1中的变动的在随机模式中的抖动，其中，写入模式要素dT1指示第一脉冲的开始缘的位移量。图8B说明根据在写入模式要素dT1中的变动的在2T+5T模式中的抖动，图8C说明写入模式要素dT1中的变化和不对称性之间的关系。
如图8A和8B所示，随机模式和2T+5T模式具有相同的记录和/或再现特征。如图8C可以看出，当写入模式要素dT1改变时，在抖动最小的时间点，不对称性最小。因此，当不对称性最小时可以确定最佳写入模式要素dT1。
可在当2T+5T模式中的抖动最小时的时间点确定指示第一脉冲的宽度的最佳写入模式要素T1和指示多脉冲宽度的最佳写入模式要素T2。
图9是说明根据本发明的一个实施例，自动优化在光学记录介质上的写入以确定功率的方法的流程图。本方法也可同时参照图1说明。参照图9，在操作901，设置用于测试写入的标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw。在操作902，为了检查交叉擦除的影响，顺序在光盘100的测试区域的多个轨道(这里是三个)中记录一个包括长度为2T的标记和一个长度为5T的标记的组合的测试写入模式。在操作903，从这三个轨道的中间轨道中再现该测试写入模式，利用包络检测器120检测用于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp。在操作904，确定在标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw该RF信号是否具有最大幅度值15pp。在操作905，如果RF信号具有最大幅度值15pp，调节标准写入功率Pw、标准擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw，重复执行操作901-904。
例如，通过固定标准写入功率Pw和偏置功率Pbw并在预定范围内调节擦除功率Pe，重复操作902-905，直到该包络检测器120检测到该RF信号具有最大幅度值15pp。在操作906中，当RF信号具有最大幅度值15pp时将所测量到的擦除功率Pe确定为最佳擦除功率。此后，在固定已确定的最佳擦除功率Pe和标准偏置功率Pbw后，在预定范围内调节写入功率Pw，重复操作902-905，直到该包络检测器120检测到该RF信号具有最大幅度值15pp。在操作905中将当RF信号具有最大值15pp时所测量到的写入功率Pw确定为最佳写入功率。最后，在将已确定写入功率Pw和已确定的擦除功率Pe固定后，在预定范围内调节偏置功率Pbw，重复操作902-905，直到该包络检测器120检测到该RF信号具有最大幅度值15pp。在操作906中，将当RF信号具有最大幅度值15pp时所测量到的偏置功率Pbw确定为最佳偏置功率。虽然已经说明了调节标准擦除功率Pe、标准写入功率Pw和标准偏置功率Pbw的特定顺序，但应当理解人们可以根据无数的因素，例如制造商的设计选择，改变该顺序。
图10是自动优化在光盘记录介质上的写入以确定一个写入模式的方法的流程图。本方法也可以参照图1说明。
参照图10，在操作1001中，用于测试记录的写入、擦除和偏置功率Pw、Pe和Pbw分别被设置，同时设置一个标准模式。这里，写入、擦除和偏置功率Pw、Pe和Pbw都被设置为根据图9的方法所确定的最佳写入、擦除和偏置功率Pw、Pe和Pbw。但是，写入、擦除和偏置功率Pw、Pe和Pbw也可分别被设置为标准写入、擦除和偏置功率Pw、Pe和Pbw。
在操作1002中，固定指示第一脉冲宽度的写入模式要素T1和指示多脉冲宽度的写入模式要素T2，设置指示第一脉冲的开始边缘的位移量的写入模式要素dT1和指示冷却脉冲持续时间周期写入模式要素dT2，设置一个具有长度为2T的标记和一个长度为5T的标记的写入模式。这里，可将写入模式记录在一个轨道中或顺序记录在三个轨道中。或者，在操作1002中，可固定写入模式要素T1、T2、dT1，改变写入模式要素dT2来确定最佳写入模式要素dT2，改变写入模式要素dT1来确定最佳写入模式要素dT1。但是，可以同时设置两个或更多写入模式要素以减少优化所需的时间。
在操作1003中，再现单元112再现记录在一个轨道中的2T+5T模式从而输出一个RF信号，不对称性检测器140检测该RF信号的不对称值，包络检测器120检测对于长度为5T的标记的RF信号的最大幅度值15pp。在操作1004中，当不对称性检测器140检测到的不对称值最小时确定最佳写入模式要素dT1，当包络检测器120检测该RF信号具有最大幅度值15pp时确定最佳写入模式要素dT2，并且确定该不对称值是否最小或者RF信号是否具有最大幅度值15pp。如果不对称值不是最小或者该RF信号不具有最大幅度值15pp，则在操作1005中调节写入模式要素dT1或dT2。然后重复操作102-105，直到不对称值变为最小且RF信号具有最大幅度值15pp。在操作1006中，当RF信号具有最大幅度值15pp时确定最佳写入模式要素dT1和dT2。
在操作1007中，固定所确定的最佳写入模式要素dT1和dT2，设置写入模式要素T1和T2，记录包括长度为2T的标记和长度为5T的标记的写入模式。这里，可将写入模式记录在一个轨道中或顺序记录在多个轨道中。或者，固定写入模式要素dT1、dT2和T1，改变写入模式要素T2以确定最佳写入模式要素dT2，改变写入模式要素dT1以确定最佳写入模式要素dT1。但是，也可设置两个写入模式要素T1和T2以减少优化所需的时间。
在操作1008中，再现单元112再现记录在一个轨道中的2T+5T从而输出一个RF信号，抖动检测器130检测该RF信号中的抖动。在操作1009中，确定抖动是否最小。如果抖动不是最小，在操作1010中调节写入模式要素T1和T2。然后重复操作1007-1010直到抖动最小。在操作1011中，当抖动检测器130检测到的抖动最小时，确定最佳写入模式要素T1和T2。
如上所述，本发明可自动地优化在使用快速生长方法和成核控制方法的光学记录介质上的写入。本发明的实施例还可通过考虑光学记录期间的交叉擦除，自动地优化记录条件，可用于CD、DVD以及HD-DVD中，特别是可用于在使用高密度记录方法的HD-DVD可重写光盘上的记录。另外，本发明的实施例可通过使用与实际写入图像具有相同记录和/或再现特征的测试写入模式来简化电路和减少操作时间。
虽然上面已经示出和说明了本发明的几个实施例，但本发明并不局限于所述的实施例。本领域技术人员可以在不脱离本发明原则和精神的情况下进行变化，本发明的原则和精神由权利要求进行限定。

Claims (60)

1.一种优化光学记录介质的记录条件的方法，包括：
将一个测试写入模式记录在光学记录介质的多个轨道中；和
检查从多个轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量，从而确定优化的记录条件，其中该轨道中记录有写入模式，且它受到在相邻轨道中写入的影响。
2.如权利要求1所述的方法，其中该测试写入模式包括两个或更多个不同长度的标记和一个间隔的组合。
3.如权利要求1所述的方法，其中该测试写入模式包括一个长度为T的第一标记，和长度为NT的第二标记，以及一个间隔，该第二标记的长度大于第一标记的长度，且由于这些标记的结构，第二标记中的功率是饱和的，其中T为记录和/或再现时钟的周期，N为整数。
4.如权利要求2所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(1，7)码时，测试写入模式可包括两个或更多个不同长度的标记和一个间隔的组合。
5.如权利要求2所述的方法，其中当光学记录介质使用一RLL(1，7)码时，测试写入模式包括一个长度为2T的标记和一个长度为5T的标记以及一个间隔。
6.如权利要求2所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，6)码时，测试写入模式可包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
7.如权利要求2所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，10)码时，测试写入模式包括一个长度为3T的标记和一个长度为6T的标记以及一个间隔。
8.如权利要求1所述的方法，其中检测还包括利用该射频信号的幅度来优化测试写入模式的功率条件。
9.如权利要求1所述的方法，其中检测还包括利用该射频信号的幅度来优化写入模式的条件。
10.如权利要求1所述的方法，其中检测还包括利用该射频信号的不对称值来优化写入模式的条件。
11.如权利要求1所述的方法，其中检测还包括利用该射频信号的抖动值来优化写入模式的条件。
12.一种通过在光学记录介质上执行测试记录，确定记录所需的最佳功率的方法，包括：
将一测试写入模式记录在光学记录介质的多个轨道中；和
利用从多个轨道中的一个中所再现出的射频信号的幅度，确定该最佳功率，其中该轨道受到在相邻轨道中执行写入的影响。
13.如权利要求12所述的方法，其中该测试写入模式包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
14.如权利要求12所述的方法，其中该测试写入模式包括一个长度为T的第一标记，和长度为NT的第二标记，以及一个间隔，第二标记的长度大于第一标记的长度，且由于这些标记的结构，第二标记中的功率是饱和的，其中T为记录和/或再现时钟的周期，N为整数。
15.如权利要求13所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(1，7)码时，测试写入模式可包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
16.如权利要求13所述的方法，其中当光学记录介质使用一个RLL(1，7)码时，测试写入模式包括一个长度为2T的标记和一个长度为5T的标记以及一个间隔。
17.如权利要求13所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，6)码时，测试写入模式可包括两个或更多个不同长度的标记和一个间隔的组合。
18.如权利要求13所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，10)码时，测试写入模式包括一个长度为3T的标记和一个长度为6T的标记以及一个间隔。
19.如权利要求12所述的方法，其中射频信号的幅度被确定为对于该测试写入模式的一个长度为T的标记的射频信号的峰到峰值，其中由于这些标记的结构，该长度为T的标记中功率饱和。
20.如权利要求12所述的方法，其中该确定包括：
再现在多个轨道的中间轨道中记录的测试写入模式从而输出一射频信号，该中间轨道受到在其相邻轨道中写入的影响；和
当射频信号的幅度为最大值时，固定写入、偏置和擦除功率中的两个并在预定范围内改变写入、偏置和擦除功率中的另一个，从而确定最佳写入、偏置和擦除功率。
21.如权利要求12所述的方法，其中该记录包括：
设置用于记录测试写入模式的标准写入、擦除和偏置功率；和
在多个轨道中记录测试写入模式。
22.如权利要求21所述的方法，其中确定包括：
通过射频信号再现在多个轨道的中间轨道中记录的写入模式，该中间轨道受到其相邻轨道中写入的影响；
检测该射频信号的包络从而检测该射频信号的最大幅度；
固定写入和偏置功率并在一个范围内改变擦除功率从而确定该射频信号的幅度是否为最大幅度值，
其中，当射频的幅度不是最大幅度时，重复执行再现、检测和固定，当射频的幅度为最大幅度值时，确定擦除功率为最佳擦除功率。
23.如权利要求22所述的方法，其中确定过程还包括：
固定偏置功率和最佳擦除功率并在一个范围内改变写入功率，从而确定射频信号的幅度是否为最大幅度值，
其中，当射频信号的幅度不是最大幅度时，重复再现、检测和固定，当射频信号的幅度为最大幅度值时，确定写入功率为最佳写入功率。
24.如权利要求23所述的方法，其中确定过程还包括：
固定最佳擦除功率和最佳写入功率，并在一个范围内改变偏置功率，从而确定该射频信号的幅度是否为最大幅度值，
其中，当射频信号的幅度不是最大幅度时，重复再现、检测和固定，当射频信号的幅度为最大幅度值时，确定该偏置功率为最佳偏置功率。
25.如权利要求12所述的方法，还包括：
设置在确定中所确定的最佳功率并记录测试写入模式；
再现记录在光学记录介质上的测试写入模式从而输出射频信号；和
利用射频信号的幅度来确定测试写入模式。
26.如权利要求25所述的方法，其中在测试写入模式确定中，当射频信号的幅度为最大幅度时，确定指示冷却脉冲所持续时间长度的写入模式要素。
27.如权利要求25所述的方法，还包括利用射频信号的不对称值确定测试写入模式。
28.如权利要求27所述的方法，其中在测试写入模式确定中，当射频信号的不对称值为最小时，确定一个指示第一脉冲开始边缘的位移量的写入模式要素。
29.如权利要求25所述的方法，还包括利用射频信号的抖动值确定测试写入模式。
30.如权利要求29所述的方法，其中在利用抖动值确定写入模式中，当射频信号的抖动值为最小时，确定一个指示第一脉冲的宽度的写入模式要素。
31.如权利要求29所述的方法，其中在测试写入模式确定中，当射频信号的抖动值为最小时，确定一个指示多脉冲的宽度的写入模式要素。
32.一种通过在光学记录介质上执行测试记录来确定一种写入模式的方法，包括：
将一测试写入模式记录在光学记录介质上；
再现该测试写入模式从而输出一射频信号；和
利用射频信号的幅度确定写入模式。
33.如权利要求32所述的方法，其中该测试写入模式包括两个或更多个不同长度的标记和一个间隔的组合。
34.如权利要求32所述的方法，其中该测试写入模式包括一个长度为T的第一标记，和长度为NT的第二标记，以及一个间隔，该第二标记的长度大于第一标记的长度，且由于这些标记的结构，第二标记中的功率是饱和的，其中T为记录和/或再现时钟的周期，N为整数。
35.如权利要求33所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(1，7)码时，测试写入模式可包括两个或更多个不同长度的标记和一个间隔的组合。
36.如权利要求33所述的方法，其中当光学记录介质使用一个RLL(1，7)码时，测试写入模式包括一个长度为2T的标记和一个长度为5T的标记以及一个间隔。
37.如权利要求33所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，6)码时，测试写入模式可包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
38.如权利要求33所述的方法，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，10)码时，测试写入模式包括一个长度为3T的标记和一个长度为6T的标记以及一个间隔。
39.如权利要求32所述的方法，其中在确定中，当射频信号的幅度为最大幅度值时，确定一个指示冷却脉冲所持续的时间长度的写入模式要素。
40.如权利要求32所述的方法，还包括利用射频信号的不对称值来确定写入模式。
41.如权利要求40所述的方法，其中在利用不对称值确定写入模式中，当射频信号的不对称值最小时，确定一个指示第一脉冲的开始边缘的位移量的写入模式要素。
42.如权利要求32所述的方法，还包括利用射频信号的抖动值来确定写入模式。
43.权利要求42所述的方法，其中在利用抖动值确定写入模式中，当射频信号的抖动值最小时，确定一个指示第一脉冲的宽度的写入模式要素。
44.如权利要求42所述的方法，其中在利用抖动值确定写入模式中，当射频信号的抖动值最小时，确定一个指示多脉冲宽度的写入模式要素。
45.一种通过在光学记录介质上执行测试记录来确定写入模式的方法，包括：
固定指示第一脉冲宽度的第一写入模式要素和指示多脉冲宽度的第二写入模式要素，设置指示第一脉冲的开始边缘的位移量的第三写入模式要素，设置指示冷却脉冲持续的时间长度的第四写入模式要素，该冷却脉冲持续以记录测试写入模式；
再现该测试写入模式以输出一射频信号；
检测该射频信号的不对称性；
检测该射频信号的包络；和
利用该射频信号的不对称性确定第三写入模式要素以及利用该射频信号的包络确定第四写入模式要素。
46.如权利要求45所述的方法，还包括：
检测射频信号的抖动；
固定第三和第四写入模式要素，重设第一和第二写入模式要素，记录测试写入模式；和
利用射频信号的抖动来确定第一和第二写入模式要素。
47.一种光学记录和/或再现装置，包括：
拾取头和射频信号检测器，用于在一个或多个轨道中记录测试写入模式并再现记录在这些轨道中的一个中的测试写入模式，该轨道受到相邻轨道写入的影响；
第一检测器，它检测射频信号的幅度；以及
系统控制器，它利用该射频信号的幅度确定最佳功率。
48.如权利要求47所述的光学记录和/或再现装置，其中该测试写入模式包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
49.如权利要求47所述的光学记录和/或再现装置，其中该测试写入模式包括一个长度为T的第一标记，和长度为NT的第二标记，以及一个间隔，该第二标记的长度大于第一标记的长度，且由于这些标记的结构，第二标记中的功率是饱和的，其中T为记录和/或再现时钟的周期，N为整数。
50.如权利要求48所述的光学记录和/或再现装置，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(1，7)码时，测试写入模式可包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
51.如权利要求48所述的方法，其中当光学记录介质使用一个RLL(1，7)码时，测试写入模式包括一个长度为2T的标记和一个长度为5T的标记以及一个间隔。
52.如权利要求48所述的光学记录和/或再现装置，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，6)码时，测试写入模式可包括两个或更多不同长度的标记和一个间隔的组合。
53.如权利要求48所述的光学记录和/或再现装置，其中当光学记录介质使用一个运行长度有限(RLL)(2，10)码时，测试写入模式包括一个长度为3T的标记和一个长度为6T的标记以及一个间隔。
54.如权利要求47所述的光学记录和/或再现装置，其中当用于应测试写入模式的射频信号具有最大幅度值时，系统控制器确定记录所需的优化后的写入、擦除和偏置功率。
55.如权利要求47所述的光学记录和/或再现装置，还包括：
检测射频信号的不对称性的第二检测器；和
检测该射频信号的抖动值的第三检测器。
56.如权利要求55所述的光学记录和/或再现装置，其中系统控制器利用对于测试写入模式的射频信号的幅度，确定指示第一脉冲开始边缘的位移量的最佳写入模式要素。
57.如权利要求55所述的光学记录和/或再现装置，其中系统控制器利用对于测试写入模式的射频信号的不对称性，确定指示冷却脉冲持续时间周期的最佳写入模式要素。
58.如权利要求55所述的光学记录和/或再现装置，其中系统控制器利用射频信号的抖动来确定第一脉冲的最佳宽度。
59.如权利要求55所述的光学记录和/或再现装置，其中系统控制器利用射频信号的抖动来确定多脉冲的最佳宽度。
60.一种对在光学记录介质上记录进行优化的方法，该光学记录介质是利用快速生长方法或成核控制方法实现写入的，该方法包括：
在光学记录介质的多个轨道上记录测试写入模式；和
检测从这些轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量，从而确定优化的记录条件，该轨道中记录有写入模式，并受到相邻轨道写入的影响。
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