CN1691144A - 光学记录介质以及在其上记录/再现数据的方法和设备 - Google Patents

Abstract

提供了一种光学记录介质，一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，和一种将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，以使用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定。光学记录介质包括参考信号区，参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件记录在其中。因此，一旦当光学记录介质第一次被装入盘驱动器时参考信号被记录在光学记录介质的导入区或导出区的预定部分中，而后用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定而无需另外地执行最佳功率控制(OPC)。

Description

光学记录介质以及在其上记录/再现数据的方法和设备

本申请要求于2004年4月28日在韩国知识产权局提交的10-2004-0029589号韩国专利申请的利益，该申请全部公开于此以资参考。

                       技术领域

本发明涉及一种光学记录介质，更具体地讲，涉及一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法和用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备。

                       背景技术

通常，光学记录介质，例如光盘，被广泛地在光学拾取设备中使用，该光学拾取设备无需物理地接触光学数据存储介质而将数据记录在光学数据存储介质上或者从光学数据存储介质再现数据。光盘根据它们的存储容量被分为压缩盘(CD)或多用途数字盘(DVD)。数据可被记录在其上并且数据可从其擦除和再现的光盘的例子包括650MB的CD-R、CD-可重写(RW)、4.7GB的DVD+R/RW、DVD-随机存取存储器(RAM)、和DVD-R/RW。数据从其不能被擦除而只能被再现的光盘的例子包括650MB的CD和4.7GB的DVD-ROM。具有至少15GB的存储容量的高密度(HD)DVD或蓝光(BD)盘的开发几乎完成，并且具有比HD DVD或BD盘更高存储容量的超解析近场结构(super-resolution near-field structure，super RENS)盘或全息盘(hologramdisc)的开发如今正在进行中。

用于将数据记录在光盘上/从光盘再现数据的设备，如盘驱动器或诸如此类，通过在光盘上施加高能量光束来将数据记录在光盘上，从而光盘的记录层的物理特性可以改变，并且通过将其能量不足够高而引起光盘的记录层的物理特性改变的光束施加到光盘来从光盘再现数据。换句话说，当将数据记录在光盘上时，包括在这种设备中的激光二极管用这种凹坑能够被形成在光盘上的高记录功率来驱动。在光盘上形成具有预定长度的凹坑被称为写策略(write strategy)。

用于将数据记录在光盘上/从光盘再现数据的设备执行最佳功率控制(optimum power control，OPC)，以确定用于将数据记录在光盘，如CD-R/RW上的最佳功率。因此，包含信息的功率校准区(power calibration area，PCA)可被限定在光盘的导入区(lead-in area)中，以确定用于光盘的最佳记录功率。

以下，将参照图1、图2、和图3对传统光学记录介质的结构进行更充分描述。

图1是示出传统双记录层的逆光道路径(opposite track path，OTP)光学记录介质的示图，其有益于获得对本发明更彻底的理解。参照图1，传统双记录层的OTP光学记录介质包括两个记录层，即第一记录层L0和第二记录层L1。第一记录层L0包括导入区10、用户数据区11、和中间区12。第二记录层L1包括中间区13、用户数据区14、和导出区15。数据以逆光道路径(OPT)方式被记录在传统双记录层的OTP光学记录介质上。具体地讲，数据从第一记录层L0的内圆周部分到外圆周部分被记录在第一记录层L0上，并且数据从第二记录层L1的外圆周部分到内圆周部分被记录在第二记录层L1上。

图2示出传统双记录层的顺光道路径(parallel track path，PTP)光学记录介质的示图，其有益于获得对本发明更彻底的理解。参照图2，传统双记录层的PTP光学记录介质包括两个记录层，即第一记录层L0和第二记录层L1。第一记录层L0包括导入区10、用户数据区11、和中间区12。第二记录层L1包括中间区13、用户数据区14、和导出区15。数据以顺光道路径(PTP)方式被记录在传统双记录层的PTP光学记录介质上。具体地讲，数据被记录在第一记录层L0上的方向与数据被记录在第二记录层L1上的方向相同。

图3是示出传统光学记录介质的导入区的结构的示图。参照图3，该传统光学记录介质包括：导入区20、位于传统光学记录介质的内圆周附近；导出区40，位于传统光学记录介质的外圆周附近；和用户数据区30，位于导入区20和导出区40之间并且在其中记录用户数据。

导入区20包含：预先记录区(pre-recorded zone)21，在其上预定数据已经被写入并且预定数据从其不能被擦除而只能被再现；和可记录区31，在其上数据可被写入或重写并且数据从其也可被擦除。

预先记录区21是仅再现的并且用作在其中记录控制数据的控制数据区22。控制数据包括：盘类型和版本信息23、盘大小信息24、盘结构信息25、记录速度信息26、和记录参数27。

可记录区31包括：缓冲区32、缺陷管理区(DMA)33、测试区34、驱动器/盘状态信息区35。

缓冲区32用作预先记录区21和可记录区31之间的缓冲器。DMA 33存储作为关于在用户数据区30中发生的缺陷的信息的缺陷管理信息。测试区34是为了确定最佳记录功率而检测的区。检测区34也被称为功率校准区(PCA)。驱动器/盘状态信息区35将状态信息存储在驱动器或传统光学记录介质上。

如上所述，提供PCA以用于确定最佳记录条件，即最佳记录功率。用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如盘驱动器或诸如此类，花费很长时间来确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件。这是因为这种设备必须顺序地将多组记录/再现条件施加到光学记录介质，并且随后将多组记录/再现条件之一确定为用于光学记录介质的最佳记录/再现条件。因此，最佳记录/再现条件高度依赖光学记录介质和用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备的特性。另外，最佳记录/再现条件也高度依赖作为用于多种伺服操作的成功的确定因素的聚焦位置、跟踪位置、和增益，以及作为再现信号处理条件的均衡特性和二进制限制电平(binary slice level)。

因此，每当被激活时，用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备改变记录/再现条件，如脉冲条件、伺服条件、和再现信号处理条件，并随后将数据测试-记录在光学记录介质上。从光学记录介质再现的信号的质量与参考信号的质量比较以确定最佳记录/再现条件。其后，数据在最佳记录/再现条件下被记录在光学记录介质上。其结果是，确定最佳记录/再现条件的操作必须总是在用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如盘驱动器或诸如此类，将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据之前被执行，这不被期望地增加了用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备的总待机时间(standbytime)。

另外，如果光学记录介质包括多个存储层，那么必须通过将数据测试-记录在多个存储层的每一层上的测试区域中来对每一存储层确定最佳记录/再现条件。其结果是，由用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备确定最佳记录/再现条件所花费的时间量可以与光学记录介质的存储层的数量成比例。例如，用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备确定用于包括多个存储层的光学记录介质的最佳记录/再现条件所花费的时间量大于用于确定用于包括单存储层的光学记录介质的最佳记录/再现条件的时间量。因此，用户必须在用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如盘驱动器或诸如此类，将用户数据记录在包括多个记录层的光学记录介质上之前等待很长时间。

另外，在用于将数据记录在光学记录设备上/从光学记录介质再现数据的设备仅能够从光学记录介质再现数据的情况下，例如，当这种光学记录介质是已经被最终确定的一次写入盘时，或者当这种光学记录介质被写保护时，其仍然必须通过均衡频率控制、增益控制、或聚焦控制来确定光学记录介质的最佳再现条件。

                         发明内容

本发明有利地提供了一种光学记录介质，一种将数据记录光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，和用于将数据记录光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如盘驱动器或诸如此类，其能够通过快速确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件来最小化整个待机时间，该待机时间是这种设备准备好将数据记录在光学记录介质上所需的时间。

根据本发明一方面，一种光学记录介质，设置有：数据区；和参考信号区，在其中参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件被记录。

参考信号可满足预定振幅调制条件和/或满足预定抖动条件。参考信号区可被安排在光学记录介质上的导入区或导出区的可记录区中。

光学记录介质还可包括一个或多个记录层，在这种情况下，参考信号区被安排在每一记录层上，并且参考信号基于为相应记录层确定的最佳记录条件被记录在每一记录层上的参考信号区中。

参考信号可由用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，例如盘驱动器记录在光学记录介质上，其中，该光学记录介质第一次被装入。

根据本发明另一方面，提供一种将数据记录在光学记录介质上的方法，其包括：基于为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件来将参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

在参考信号的记录期间，参考信号可满足预定振幅调制条件和/或满足预定抖动条件。参考信号区可被安排在光学记录介质上的导入区或导出区的可记录区中。

在参考信号的记录期间，如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么参考信号可基于为相应记录层确定的最佳记录条件被记录在每一记录层上。

参考信号还可由用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，例如盘驱动器记录在光学记录介质上，其中，光学记录介质第一次被装入其中。

根据本发明另一方面，一种用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，包括：从限定在光学记录介质上的参考信号区读取参考信号，该参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件被记录在参考信号区中；基于读取的参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件；和在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

如果光学记录介质包括一个或多个记录层，则参考信号可从限定在每一记录层上的参考信号区被读取，用于每一记录层的最佳记录/再现条件可基于从相应记录层读出的参考信号来被确定，并且数据可在用于相应记录层的最佳记录/再现条件下被记录在每一记录层上/从每一记录层被再现。

根据本发明另一方面，一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的方法，包括：确定参考信号是否被记录在安排于光学记录介质上的参考信号区中；如果没有参考信号被记录在参考信号区中，那么在为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录/再现条件下，将参考信号记录在参考信号区中；和如果参考信号被记录在参考信号区中，那么从参考信号区读取参考信号，基于该参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

根据本发明另一方面，一种用于将数据记录在光学记录介质上的设备设置有：写入器，用于将数据记录在光学记录介质上；和控制器，用于控制写入器在为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件下将参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

控制器可控制写入器将满足预定振幅调制条件的参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

控制器还可控制写入器将满足预定抖动条件的参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

控制器可控制写入器将参考信号记录在限定于光学记录介质上的导入区或导出区的可记录区中。

如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么控制器可控制写入器在为相应记录层确定的最佳记录条件下将参考信号记录在每一记录层上。

根据本发明另一方面，一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，设置有：读取器/写入器单元，用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据；和控制器，用于控制读取器/写入器单元从光学记录介质的可记录区读取参考信号，基于读取的参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么控制器可控制读取器/写入器单元从安排在每一记录层上的参考信号区读取参考信号，确定为相应记录层确定的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在相应记录层上/从相应记录层再现数据。

根据本发明另一方面，一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，设置有：读取器/写入器单元，用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据；控制器，用于确定参考信号是否被记录在限定于光学记录介质上的参考信号区中。如果没有参考信号被记录在参考信号区，那么控制器控制读取器/写入器单元在为光学记录介质确定的最佳记录/再现条件下将参考信号记录在参考信号。另外，如果参考信号被记录在参考信号区中，那么控制器还基于从参考信号区读出的参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且控制读取器/写入器在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

根据本发明另一方面，一种系统，设置有：存储介质，具有数据区和参考信号区；和盘驱动器，被安排以确定参考信号是否被记录在限定在存储介质上的参考信号区中，并且，如果参考信号被记录在参考信号区中，那么基于参考信号确定最佳记录/再现条件，并且随后在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在存储介质的数据区上/从存储介质的数据区再现数据。如果没有参考信号被记录在限定在存储介质上的参考信号区中，那么还安排盘驱动器通过在一组记录/再现条件下将测试数据测试记录在光学记录介质上的测试区中来确定最佳记录/再现条件，并且在将数据记录在存储介质上的数据区/从存储介质上的数据区再现数据之前在预定最佳记录/再现条件下将参考信号记录在光学记录介质上的参考信号区中。

参考信号区可被设置在安排于存储介质上的数据区的任一侧的导入区和导出区之一中。另外，参考信号可以随机模式和唯一模式之一被记录在参考信号区中，参考信号满足预定振幅调制条件和/或预定抖动条件。

将在接下来的描述中部分阐述本发明另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明的实施而得知。

                          附图说明

当结合附图阅读时，从以下对示例性实施例和权利要求的详细描述，本发明的更好理解将会变得清楚，所有的形成了本发明公开的部分。当接下来所写和示出的公开集中在公开本发明的示例性实施例时，应清楚地理解的是，本发明仅为了说明和示例并且本发明不限于其。本发明的精神和范围仅由所附权利要求的条款限制。以下表示对附图的简要描述，其中：

图1是示出传统双记录层的OTP光学记录介质的示图，其有益于获得对本发明更彻底的理解；

图2是示出传统双记录层的PTP光学记录介质的示图，其有益于获得对本发明更彻底的理解；

图3是示出传统光学记录介质的导入区域的结构的示图，其有益于获得对本发明更彻底的理解；

图4是示出确定用于根据本发明实施例的光学记录介质的光学记录/再现条件的处理的示图；

图5是示出根据本发明实施例的单记录层的光学记录介质的例子的示图；

图6是示出根据本发明实施例的双记录层的光学记录介质的例子的示图；

图7是用于将数据记录在根据本发明实施例的光学记录介质上/从根据本发明实施例的光学记录介质再现数据的设备的例子的方框图；和

图8是将数据记录在根据本发明实施例的光学记录介质上/从根据本发明实施例的光学记录介质再现数据的方法的流程图。

                        具体实施方式

现在，将参照附图对本发明进行更充分的描述，在附图中显示了本发明的示例性实施例。

图4是示出确定用于根据本发明实施例的光学记录介质，即光盘50的最佳记录/再现条件的处理的示图。参照图4，光学记录介质可以是光盘50，并且该处理可需要多个用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如第一盘驱动器41和第二盘驱动器42，以确定用于最佳地将数据记录在光盘50上/从光盘50再现数据的最佳记录/再现条件。例如，如果光盘50从未使用过，则第一盘驱动器41可被用于确定用于光盘50的最佳记录条件，并且用于在确定的最佳记录条件下将参考数据记录在光盘50上。第二盘驱动器42可随后被用于基于先前记录在光盘50上的参考数据来确定最佳记录/再现条件。

具体地讲，如图4所示，光盘50包括：导入区，其包括测试区58和参考信号区56。测试区58是为了确定最佳记录/再现条件的测试而提供的区域，第一盘驱动器41使用该最佳记录/再现条件可最佳地将数据记录在装入其中的光盘50上。参考信号区56是在其中参考数据在最佳记录/再现条件下被记录的区域。

假设光盘50从未使用过，光盘被装入第一盘驱动器41。当施加多组记录条件时，盘驱动器41将数据记录在光盘50上的测试区58中，并随后确定用于光盘50的最佳记录条件。其后，第一盘驱动器41在最佳记录条件下将参考数据记录在光盘上的参考信号区56中。

其后，如果在其上参考数据已经在最佳记录条件下被记录的光盘50被装入第二盘驱动器42，则第二盘驱动器42从光盘50再现参考数据，基于参考数据确定用于光盘50的最佳记录/再现条件，并且在最佳记录/再现条件，如脉冲条件、伺服条件、和再现信号处理条件下将数据记录在光盘50上/从光盘50再现数据。

如参照图4所描述，仅光盘50在第一次被装入其中的第一盘驱动器41执行最佳功率控制(OPC)，从而确定用于光盘50的最佳记录/再现条件。其后，第一盘驱动器41在最佳记录/再现条件下将参考数据记录在光盘50上的参考信号区56中。然后，第二盘驱动器42通过简单地从光盘50上的参考信号区56读取参考数据来获得用于光盘50的最佳记录/再现条件，而无需将数据测试-记录在光盘50上的测试区58中。因此，第二盘驱动器42或另一盘驱动器能够有利并且相当显著地减小确定用于光盘50的最佳记录/再现条件所需的时间。

现在转到图5，示出了根据本发明实施例的用作光盘50的单记录层的光学记录介质的例子。参照图5，单记录层的光学记录介质50包括导入区51、用户数据区52、和导出区53。

导入区51包括可记录区54。记录区54包括缓冲区55、参考信号区56、缺陷管理区57、测试区58、和驱动器/盘状态信息区59。

单记录层的光学记录介质50的结构与传统双记录层的PTP光学记录介质的结构相似，如图5所示，除了参考信号区56被设置在单记录层的光学记录介质50的导入区51的可记录区54中。这里，在参考信号区56中，参考信号在最佳记录条件下被记录，该最佳记录条件通过在多组记录条件下将数据测试记录在测试区58中来被确定。参考信号区56可被限定在导出区53中。

记录在参考信号区56中的参考信号用于为最佳记录/再现条件设置均衡条件、伺服条件、二进制条件、和脉冲条件。

最好但并非必要，当单记录层的光学记录介质50在第一次被装入盘驱动器中时，参考信号被记录在单记录层的光学记录介质50上。最好但并非必要，参考信号满足以下三个条件中的至少一个。首先，参考信号应该在最佳记录条件下被记录在单记录层的光学记录介质50上，该最佳记录条件通过最佳功率控制(OPC)来被确定。其次，参考信号的振幅调制幅度(amplitude modulationlevel)应该高于0.3。最后，参考信号应具有小于7％的抖动幅度(jitter level)。参考信号只要满足三个条件之一就可被记录在单记录层的光学记录介质50上。另外，可通过适当地确定用于单记录层的光学记录介质50的最佳记录条件来满足第二或第三条件。

这里，根据单记录层的光学记录介质50的规格，参考信号可具有与这里阐述的不同的振幅调制幅度和不同的抖动幅度。

另外，最好但并非必要，参考信号以随机模式被记录在参考信号区56中。然而，为了特定目的，例如参考信号的振幅中被调制的程度的测量，参考信号也可以唯一模式被记录在参考信号区56中。例如，在游程长度限制(RLL)(1-7)调制的情况下，参考信号可仅使用2T和8T被记录在参考信号区56中，其中2T和8T中的“T”表示参考时钟的周期。为了特定目的，例如RLL(1，7)调制中的“不对称测量”，参考信号使用2T和8T被记录在参考信号区56中。使用2T和8T记录的参考信号从其再现，并且，从由2T和8T组成的眼孔模式(eye pattern)，“不对称”可从表示2T的眼孔模式距离8T的眼孔模式的中心多远的程度来被测量。

图6是示出根据本发明另一实施例的用作光盘50的双记录层的光学记录介质的例子的示图。参照图6，双记录层的光学记录介质50包括两个记录层L0和L1。通常，包括多个记录层的光学记录介质具有用于多个记录层的多组最佳记录/再现条件。因此，双记录层的光学记录介质50的记录层L0和L1每个包括参考信号区64，参考信号在用于相应记录层的最佳记录条件下被记录在其中。

具体地讲，记录层L0包括导入区60、用户数据区61、和中间区62。相似地，记录层L1包括中间区65、用户数据区66、和导出区67。当双记录层的光学记录介质50例如如图4所示第一次被装入时，被装入用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的第一设备，如第一盘驱动器41时，第一盘驱动器41通过将数据测试-记录在测试区#0(63)上/从测试区#0(63)测试-再现数据来确定用于记录层L0的最佳记录/再现条件，测试区#0(63)被限定在记录层L0上的导入区60中，并且随后在记录层L0的最佳记录条件下将参考信号记录在参考信号区#0(64)中。第一盘驱动器41还通过将数据测试-记录在测试区#1(63)上/从测试区#1(63)测试-再现数据来确定用于记录层L1的最佳记录/再现条件，测试区#1被限定在记录层L1上的导出区67中，并且随后在记录层L1的最佳记录条件下将参考信号记录在参考信号区#1(64)中。

其后，当双记录层的光学记录介质50例如如图4所示被装入用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的第二设备，例如第二盘驱动器42时，第二盘驱动器42通过从参考信号区#0和#1(63)每个再现参考信号来获得用于每一记录层L0和L1的最佳记录/再现条件。

参考信号区也可被安排在具有一个或多个记录层的光学记录介质50的每一记录层上的中间区中。

图7是根据本发明实施例的用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备的方框图。参照图7，这种设备可代表图4所示的第一盘驱动器41或第二盘驱动器42。这种设备包括主轴电机70、光头71、激光驱动器72、伺服控制器73、放大器74、均衡器75、二进制电路76、数据解调器77、数据调制器78、脉冲控制器79、和控制器5。该设备还包括记录/再现条件设置单元，其包括伺服条件设置器1、均衡条件设置器2、二进制条件设置器3、和脉冲条件设置器4。

主轴电机70旋转装入该设备中的光盘50。控制器5控制整个设备。数据调制器78将待被记录在光盘50上的数据转换为记录信号。脉冲控制器79通过遵循预定脉冲条件来控制激光的脉冲。激光驱动器72基于从脉冲控制器79输出的信号来驱动激光二极管。具有激光二极管的光头71将数据记录在光盘50上，或者通过将激光光束聚焦在光盘50上以产生再现信号来从光盘50的表面反射的激光光束产生再现信号。

伺服控制器73通过遵循预定伺服条件基于从放大器74输出的信号来控制光头71的聚焦和追踪操作。放大器74放大从光头71输出的信号。均衡器75改变从放大器74输出的再现信号的频率特性。二进制电路76将从均衡器75输出的信号转换为二进制信号。数据解调器77对从二进制电路76输出的二进制数据解调。

伺服条件设置器1设置伺服控制器73中的预定伺服条件。均衡条件设置器2设置均衡器75中的预定均衡条件。二进制条件设置器3设置二进制电路76中的二进制限制电平。脉冲条件设置器电路4设置脉冲控制器79中的预定脉冲条件。

图8是根据本发明实施例的将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的方法的流程图。参照图8，在操作步骤81中，光盘50被装入用于记录/再现数据的设备，如图4中所示的盘驱动器41和42。然后，盘驱动器的主轴电机70旋转光盘50，并且随后盘驱动器的光头71将激光光束施加在光盘50上。当光头访问光盘50的导入区时，例如如图5和6所示被记录在光盘50的导入区中的光盘50的标识信息被读出。光头71从光盘50反射的激光光束获得再现信号。其后，盘驱动器的放大器74放大再现信号，并且其中设置了预定均衡条件的盘驱动器的均衡器75改变放大的再现信号的频率特性。其中设置了预定二进制限制电平的盘驱动器的二进制电路76将从均衡器75输出的改变结果转换为二进制信号。其后，盘驱动器的数据解调器77解调二进制信号，并且随后将解调的二进制信号发送到盘驱动器的伺服控制器73。伺服控制器73通过遵循设置在其中的预定伺服条件基于从放大器74输出的信号来控制光头71的聚焦和跟踪操作。最后，光盘50的标识信息被发送到盘驱动器的控制器5。

在操作步骤82中，被限定在光盘50上的参考信号区别被访问。这种参考信号区可被设置在如图5所示的单记录层的光学记录介质50的导入区51的可记录区54中，或另一方面，可被设置在如图6所示的双记录层的光学记录介质50的导入区60或导出区67中。此外，这种参考信号区也可被安排在具有一个或多个记录层的光学记录介质的每一记录层上的中间区中。在参考信号区中，参考信号可能已经在根据本发明实施例确定的最佳记录条件下被记录。参考信号可被以与光盘50的标识信息被从导入区读出的方式相同的方式从参考信号区读出。

当参考信号区被访问时，根据在伺服控制器73中设置的预定伺服条件来控制光头71的聚焦或跟踪操作。从光盘50反射的激光光束获得的再现信号由放大器74放大，并且放大的再现信号的频率特性由其中设置了预定均衡条件的均衡器75来改变。从均衡器75输出的改变结果被其中设置了预定二进制限制电平的二进制电路76转换为二进制信号。二进制信号被解调并随后被施加到控制器5。

在操作步骤83中，控制器5确定参考信号是否被记录在光盘50上的参考信号区中。具体地讲，控制器5基于提供到其的二进制信号来确定参考信号是否被记录在光盘50上的参考信号区中。

在操作步骤84中，如果没有参考信号被记录在光盘50上的参考信号区中，那么控制器5通过在多组记录/再现条件下将数据测试-记录在光盘50上的测试区中来确定用于光盘50的最佳记录/再现条件。

遵循先前设置或由光盘50的标识信息指定的条件，脉冲条件设置器设置脉冲控制器79中的预定脉冲条件，伺服条件设置器1设置伺服控制器73中的预定伺服条件，均衡条件设置器2设置均衡器75中的预定均衡条件，并且二进制条件设置器3设置二进制电路76中的二进制限制电平。

将被记录在光盘50上的测试区中的测试数据从控制器5输出，并且随后被盘驱动器的调制器78转换为记录信号。与参考信号区相似，测试区可被设置在如图5所示的单记录层的光学记录介质50的导入区51的同一可记录区54中，或另一方面，被简单地设置在如图6所示的双记录层的光学记录介质50的导入区60或导出区67中。其后，记录信号被转换为满足在脉冲控制器79中设置的预定脉冲条件的激光驱动信号。盘驱动器的激光二极管驱动器72基于激光驱动信号来驱动光头71的激光二极管。其聚焦和跟踪操作由伺服控制器73控制的光头71以通过将从激光二极管发射的激光光束聚焦在测试区上在光盘50上的测试区中留下标记的方式，来将数据记录在光盘50上的测试区中。

从测试数据获得的再现信号由放大器74放大。其后，放大的再现信号的频率特性由均衡器75改变。其后，从均衡器75输出的改变结果被转换为二进制信号。其后，二进制信号的抖动幅度由控制器5来测量。测量的抖动幅度与预定参考值比较。如果测量的抖动幅度满足预定条件，则在其下测试数据被记录在测试区/从测试区再现数据的记录/再现条件被确定为用于光盘50的最佳记录/再现条件。否则，脉冲条件、伺服条件、均衡条件、和二进制限制电平被顺序改变，测试数据被再次记录在测试区中，并且测试数据的抖动值被测量。这些处理被重复地执行直到获得满足预定条件的测试数据的抖动幅度为止。

在操作步骤85中，参考信号在操作步骤84中确定的最佳记录条件下被记录在光盘50上的参考信号区中。

具体地讲，最佳记录条件在盘驱动器的条件设置单元中被设置，该条件设置单元包括脉冲条件设置器4、伺服条件设置器1、均衡条件设置器2、和二进制条件设置器3。换句话说，脉冲条件设置器4参照最佳记录条件设置脉冲控制器79中的最佳脉冲条件，伺服条件设置器1参照最佳记录条件设置伺服控制器73中的最佳伺服条件，均衡条件设置器2参照最佳记录条件来设置均衡器75中的最佳均衡条件，二进制条件设置器3参照最佳记录条件设置二进制电路76中的最佳二进制限制电平。

将被记录在光盘50上的参考信号区中的参考信号从控制器5输出，并且随后被调制器78转换为记录信号。其后，记录信号被转换为满足设置在脉冲控制器79中的最佳脉冲条件的激光驱动信号。最好但并非必要，参考信号以随机模式被记录在参考信号区中。然而，为了特定目的，例如参考信号的振幅的调制的程度的测量，参考信号也可以唯一方式被记录在参考信号区中。例如，在RLL(1-7)调制的情况下，参考信号可仅使用2T和8T被记录在参考信号区中。

激光二极管驱动器72以通过基于激光驱动信号驱动光头71的激光二极管而在参考信号区中留下标记的方式，来将参考信号记录在参考信号区中。

在操作步骤86中，用户数据在操作步骤84中确定的最佳记录条件下被记录在光盘50的用户数据区中，或另一方面，用户数据在操作步骤84中确定的最佳再现条件下从用户数据区被再现。

在操作步骤87中，如果在操作步骤83中说明参考信号已经被记录在参考信号区中，那么参考信号从参考信号区被再现，并且随后最佳记录/再现条件基于参考信号被确定。

在操作步骤86中，用户数据在操作步骤87中确定的最佳记录条件下被记录在光盘50上的用户数据区中，或者另一方面，用户数据在操作步骤87中确定的最佳再现条件下从用户数据区被再现。

如在前的描述，本发明有利地提供了几种技术，在其中光学记录介质的最佳记录/再现条件被预先确定以减小用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，如盘驱动器将数据记录在这种光学记录介质上/从光学记录介质再现数据所需的时间量。当光学记录介质第一次被装入盘驱动器中时，一旦参考信号被记录在光学记录介质的导入区或导出区或中间区的预定部分中，当前都可能快速地确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，稍后无需另外地执行最佳功率控制(OPC)。此外，即使在从光学记录介质再现数据的情况下，也可基于记录在光学记录介质上的参考信号来执行均衡增益或频率控制或最佳聚焦控制。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，但本领域的技术人员应该理解，并且随着技术的发展，可对其进行各种修改和改变，并且在不脱离本发明的精神和范围的情况下，等同物可以替代其中的部件。在不脱离其范围的情况下可进行许多修改以将本发明的内容适用于特定情况。例如其它计算机可读介质，例如蓝光(BD)光盘或全息数据存储装置可被利用，只要参考信号被记录在其上以反射最佳记录条件。另外，这种参考信号可被记录在光学记录介质的任何指定区域中，包括但不限于光学记录介质的导入或导出区或中间区的预定部分。相似地，CPU可被实现为具有固件的芯片组，或被实现为被编程以执行参照图7和图8描述的方法的通用或专用计算机。因此，意图是，本发明不被限于所公开的多种实施例，但是本发明包括落入所附权利要求的范围内的所有实施例。

Claims (36)

1、一种光学记录介质，包括：

数据区；和

参考信号区，在其中参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质的数据区/从光学记录介质的数据区再现数据而确定的最佳记录条件被记录。

2、如权利要求1所述的光学记录介质，其中，参考信号满足预定振幅调制条件。

3、如权利要求1所述的光学记录介质，其中，参考信号满足预定抖动条件。

4、如权利要求1所述的光学记录介质，其中，参考信号区被安排在光学记录介质上的数据区的任一侧的导入区或导出区的可记录区中。

5、如权利要求1所述的光学记录介质，还包括：

一个或多个记录层，

其中，参考信号区被安排在每一记录层上，并且参考信号基于为相应记录层确定的最佳记录条件被记录在每一记录层上的参考信号区中。

6、如权利要求1所述的光学记录介质，其中，参考信号由用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备记录在光学记录介质上，其中，该光学记录介质第一次被装入。

7、一种将数据记录在光学记录介质上的方法，包括：

基于为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件来将参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

8、如权利要求7所述的方法，其中，在参考信号的记录期间，参考信号满足预定振幅调制条件。

9、如权利要求7所述的方法，其中，在参考信号的记录期间，参考信号满足预定抖动条件。

10、如权利要求7所述的方法，其中，在参考信号的记录期间，参考信号区被限定在光学记录介质上的数据区的任一侧的导入区或导出区的可记录区中。

11、如权利要求7所述的方法，其中，在参考信号的记录期间，如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么参考信号基于为相应记录层确定的最佳记录条件被记录在每一记录层上。

12、如权利要求7所述的方法，其中，参考信号由用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备记录在光学记录介质上，其中，光学记录介质第一次被装入该设备。

13、一种用于将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，包括：

从限定在光学记录介质上的参考信号区读取参考信号，该参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件被记录在参考信号区中；

基于读取的参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件；和

在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

14、如权利要求13所述的方法，其中，如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么参考信号从限定在每一记录层上的参考信号区被读取，用于每一记录层的最佳记录/再现条件基于从相应记录层读出的参考信号来被确定，并且数据在用于相应记录层的最佳记录/再现条件下被记录在每一记录层/从每一记录层被再现。

15、一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的方法，包括：

确定参考信号是否被记录在安排于光学记录介质上的参考信号区中；

如果没有参考信号被记录在参考信号区中，那么在为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录/再现条件下，将参考信号记录在参考信号区中；和

如果参考信号被记录在参考信号区中，那么从参考信号区读取参考信号，基于该参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

16、一种用于将数据记录在光学记录介质上的设备，包括：

写入器，用于将数据记录在光学记录介质上；和

控制器，用于控制写入器在为最佳地将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件下将参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

17、如权利要求16所述的设备，其中，控制器控制写入器将满足预定振幅调制条件的参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

18、如权利要求16所述的设备，其中，控制器控制写入器将满足预定抖动条件的参考信号记录在光学记录介质的可记录区中。

19、如权利要求16所述的设备，其中，控制器控制写入器将参考信号记录在限定于光学记录介质上的数据区的任一侧的导入区或导出区的可记录区中。

20、如权利要求16所述的设备，其中，如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么控制器控制写入器在为相应记录层确定的最佳记录条件下将参考信号记录在每一记录层上。

21、一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，包括：

读取器/写入器单元，用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据；和

控制器，用于控制读取器/写入器单元从光学记录介质的可记录区读取参考信号，基于参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

22、如权利要求21所述设备，其中，如果光学记录介质包括一个或多个记录层，那么控制器控制读取器/写入器单元从安排在每一记录层上的参考信号区读取参考信号，确定为相应记录层确定的最佳记录/再现条件，并且在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在相应记录层上/从相应记录层再现数据。

23、一种用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，包括：

读取器/写入器单元，用于将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据；

控制器，用于确定参考信号是否被记录在限定于光学记录介质上的参考信号区中，

其中，如果没有参考信号被记录在参考信号区中，那么控制器控制读取器/写入器单元在为光学记录介质确定的最佳记录/再现条件下将参考信号记录在参考信号区中，和

其中，如果参考信号被记录在参考信号区中，那么控制器基于从参考信号区读出的参考信号确定用于光学记录介质的最佳记录/再现条件，并且控制读取器/写入器在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据。

24、如权利要求13所述的方法，其中，参考信号区被设置在安排于光学记录介质上的数据区的任一侧的导入区和导出区之一中。

25、如权利要求24所述的方法，其中，参考信号以随机模式和唯一模式之一被记录在参考信号区中，参考信号满足预定振幅调制条件和/或预定抖动条件。

26、如权利要求13所述的方法，其中，用于光学记录介质的最佳记录/再现条件通过在一组记录/再现条件下将测试数据测试记录在光学记录介质上的测试区中来被获得。

27、如权利要求15所述的方法，其中，参考信号区被设置在安排于光学记录介质上的数据区的任一侧的导入区和导出区之一中。

28、如权利要求27所述的方法，其中，参考信号以随机模式和唯一模式之一被记录在参考信号区中，参考信号满足预定振幅调制条件和/或预定抖动条件。

29、如权利要求15所述的方法，其中，如果没有参考信号被记录在参考信号区中，那么在参考信号被记录在参考信号区中之前，用于光学记录介质的最佳记录/再现条件通过在一组记录/再现条件下将测试数据测试记录在光学记录介质上的测试区中来被获得。

30、如权利要求23所述的设备，其中，参考信号区被设置在安排于光学记录介质上数据区的任一侧的导入区和导出区之一中。

31、如权利要求30所述的设备，其中，参考信号以随机模式和唯一模式之一被记录在参考信号区中，参考信号满足预定振幅调制条件和/或预定抖动条件。

32、如权利要求23所述的设备，其中，如果没有参考信号被记录在参考信号区中，那么在将参考信号记录在光学记录介质上的参考信号区中之前，控制器控制读取器/写入器单元通过在一组记录/再现条件下将测试数据测试记录在光学记录介质上的测试区中，来获得用于光学记录介质的最佳记录/再现条件。

33、一种执行将数据记录在具有数据区和参考信号区的存储介质中/从该存储介质再现数据的系统，包括：

盘驱动器，被安排以确定参考信号是否被记录在限定在存储介质上的参考信号区中，并且，如果参考信号被记录在参考信号区中，那么基于参考信号确定最佳记录/再现条件，并且随后在确定的最佳记录/再现条件下将数据记录在存储介质的数据区上/从存储介质的数据区再现数据。

34、如权利要求33所述的系统，其中，如果没有参考信号被记录在限定在存储介质上的参考信号区中，那么还安排盘驱动器通过在一组记录/再现条件下将测试数据测试记录在光学记录介质上的测试区中来确定最佳记录/再现条件，并且在将数据记录在存储介质上的数据区/从存储介质上的数据区再现数据之前在预定最佳记录/再现条件下将参考信号记录在光学记录介质上的参考信号区中。

35、如权利要求33所述的系统，其中，参考信号区被设置在安排于存储介质上数据区上的任一侧的导入区和导出区之一中。

36、如权利要求33所述的系统，其中，参考信号以随机模式和唯一模式之一被记录在参考信号区中，参考信号满足预定振幅调制条件和/或预定抖动条件。

Images