CN102308334B - 光学信息再生装置、光学信息再生方法以及集成电路 - Google Patents

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Abstract

本发明提供的光学信息再生装置包括：生成近场光的聚光部(8)；利用由聚光部生成的近场光测定光学信息记录介质的再生信号质量的信号质量测定电路(22)；基于信号质量测定电路的再生信号质量的测定结果，将聚光部与光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值来决定的间隙长决定电路(17a)；以及基于间隙长决定电路所决定的设定值控制聚光部与光学信息记录介质的表面的间隙的间隙控制电路(24)，利用由聚光部生成的近场光，从光学信息记录介质再生信息。

Description

光学信息再生装置、光学信息再生方法以及集成电路
技术领域
本发明涉及一种从光学信息记录介质光学地再生信息的光学信息再生装置及光学信息再生方法、以及用于该装置的集成电路，尤其涉及使用近场光(near-field light)的光学信息再生装置的控制。
背景技术
作为能够以更高密度对作为光学信息记录介质的光盘记录及再生数据的方式，提出了使用近场光的技术。
作为用于产生近场光的聚光手段，近年来受到关注的是将聚光透镜和固体浸没透镜(Solid Immersion Lens，以下称为SIL)组合起来的光学系统。通过该组合，能够实现比聚光透镜的NA(数值孔径)更高的数值孔径。提高光学系统的数值孔径，能够减小光点的尺寸，因而能够进行更高密度的记录。
在使用SIL的光学系统中，要求SIL与光盘表面的距离极为靠近。在DVD等光学系统中，物镜与光盘表面的距离约为1mm，但在SIL的情况下，SIL的射出面与光盘表面的距离必须为约100nm以下。如果SIL的射出面与光盘表面的距离发生变动，则有可能变得无法得到近场光，或者SIL与光盘发生冲突(即发生碰撞)。因此，需要进行将SIL的射出面与光盘表面的距离保持恒定的控制。
为了实现这种控制，提出了一种称为间隙伺服(gap servo)的方法。该方法例如在专利文献1中公开。在该方法中，检测基于近场光的来自光盘的反射光中指定的偏振成分的光量，利用致动器主动地调整聚光透镜及SIL的光轴方向的位置，以使该光量为恒定值。由此，控制SIL的射出面与光盘表面的距离(即间隙)(以下将该公开称为以往例)。
但是，在上述以往例公开的技术中，存在因未考虑以下情况而产生的问题。
第一，光盘的再生特性的良否以及碰撞的概率敏感地依赖于间隙的长度(以下称为间隙长)。若将间隙长设定得较短，则从SIL射出的光中射入光盘的光的比率(即耦合效率)增高。其结果，来自光盘的再生信号的SNR(signal-to-noise-ratio)(信噪比)增高，再生信号质量提高。
另一方面，若间隙长变短，则在光盘的表面形状存在变动或光盘旋转时发生晃动的情况下，SIL与光盘发生冲突的概率增高。因此，在以往例中，存在着无法既降低碰撞概率又提高再生信号质量的问题。
第二，光盘的表面形状或记录凹坑(或记录标记)的光学特性存在个体差异。因此，如果对所有光盘设定相等的间隙长，则存在根据光盘发生碰撞的概率增高或再生信号质量不够的问题。
专利文献1：国际公开第03/021583号小册子
发明内容
本发明是为了解决上述以往技术所存在的问题，目的在于提供一种即使光学信息记录介质的表面形状或光学特性存在个体差异，也能够既降低碰撞概率又提高再生信号质量的光学信息再生装置、光学信息再生方法以及集成电路。
本发明所提供的光学信息再生装置是从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生装置，包括：生成近场光的聚光部；利用由所述聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量的测定部；基于所述测定部的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值来决定的间隙长决定部；以及基于由所述间隙长决定部决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙的间隙控制部。
根据上述的光学信息再生装置，即使光学信息记录介质的表面形状或光学特性存在个体差异，也能够既降低碰撞概率又提高再生信号质量。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式1所涉及的光学信息再生装置的结构的方框图。
图2是说明所述实施方式所涉及的光学信息再生装置的动作的流程图。
图3是说明在所述实施方式中求出间隙长与抖动的关系及间隙长的方法的图。
图4是说明在所述实施方式中求出间隙长与抖动的关系及间隙长的其他的方法的图。
图5是说明在所述实施方式中求出间隙长与抖动的关系及间隙长的其他的方法的图。
图6是表示本发明的实施方式所涉及的间隙长与抖动的关系的图。
具体实施方式
以下，利用实施方式进一步具体地说明本发明。
(实施方式1的结构)
首先，用图1对本发明的实施方式1的光学信息再生装置的结构进行说明。以下，以光学信息记录介质为可记录型(recordable)或可重写型(rewritable)的介质、光学信息再生装置光学记录及再生信息的情况为例进行说明。此外，本发明适用的光学信息再生装置并不特别限定于此例，也可以是仅光学再生信息的光学信息再生装置。
图1所示的光学信息再生装置包括光学头2、系统控制电路17、主轴马达(spindlemotor)18、旋转控制电路19、激光器驱动电路20、再生信号处理电路21、信号质量测定电路22、间隙长检测电路23、以及间隙控制电路24。光学头2包括激光器3、准直透镜4、偏振分束器(polarizing beam splitter)5、分束器(beam splitter)6、1/4波长板7、聚光部8、检测透镜13、15以及检测器14、16。
在图1中，1表示作为光学信息记录介质的光盘，光学头2具有包括以下部件的去路光学系统。激光器3为激光的光源。准直透镜4将射出的激光转换为平行光。偏振分束器5让来自准直透镜4的激光透过，并分离来自光盘1的反射光。分束器6让来自偏振分束器5的激光透过，并分离来自生成有近场光的区域的返回光。1/4波长板7将直线偏振转换为圆偏振。
另外，聚光部8是用于产生近场光的部件，包括聚光透镜9和SIL10这两片透镜。作为SIL10，例如使用半球形的透镜，其平面侧正对光盘1的表面。聚光透镜9和SIL10由透镜支架(lens holder)11固定为一体，并在透镜支架11上安装有致动器12。该致动器12使聚光透镜9以及SIL10在光轴方向上移动，由此能够调整光盘1的表面与SIL10的射出面的间隙。
接着，说明从光盘1到检测器14、16的来路光学系统。
由分束器6反射的来路光通过检测透镜13聚光后射入检测器14。射入该检测器14的光的光量与来自生成有近场光的区域的返回光的光量相对应。该光量依据SIL10与光盘1表面的间隙长而变化。
具体而言，在SIL10与光盘1的表面完全接触的情况下，射入SIL10的去路光在光盘1表面的透射最大，因而返回光的光量最小。另一方面，如果SIL10与光盘1的表面离得足够远时，则由于不产生近场光，所以射入SIL10的光的环带部分的光被全反射，返回光的光量最大。
在上述的两种情况之间，返回光的光量与SIL10和光盘1的距离大致成比例地变化。因此，在利用SIL10生成近场光的情况下，通过检测射入检测器14的光的光量，能够检测出SIL10与光盘1的表面的距离。
另外，由偏振分束器5反射的来路光通过检测透镜15聚光后射入检测器16。射入该检测器16的光的光量与来自光盘1的反射光的光量相对应。
接着，对图1所示的光学信息再生装置的电系统以及控制系统进行说明。
系统控制电路17是控制本实施方式的记录再生装置整体的电路。系统控制电路17包括间隙长决定电路17a、记录功率设定电路17b、记录策略设定电路17c、再生停止电路17d以及其他的控制电路(省略图示)。
主轴马达18是使光盘1旋转的马达，在系统控制电路17的控制下，通过旋转控制电路19其旋转/停止或转速得以控制。
激光器驱动电路20控制激光器3的激光照射/熄灭以及照射时的功率。另外，在光盘1为可记录或可重写的光学信息记录介质的情况下，激光器驱动电路20由系统控制电路17控制，用预先确定的记录功率(recording power)以及记录策略(recording strategy)将测试信号记录到光盘1中。
记录功率设定电路17b在间隙控制电路24控制了间隙之后，将激光器驱动电路20的记录功率设定为作为目标值的最佳值。记录策略设定电路17c在间隙控制电路24控制了间隙之后，将激光器驱动电路20的记录策略设定为作为目标值的最佳值。此外，记录功率设定电路17b、记录策略设定电路17c、以及再生停止电路17d可以根据需要省略。
再生信号处理电路21是将检测器16接收到的光量转换为电信号(电压值)，进行波形均衡(waveform equalization)或二进制处理以便能够对光盘1中记录的信息进行解码，并生成再生信号的电路。信号质量测定电路22是测定再生信号的质量(例如抖动(jitter)、错误率(error rate))的良否的电路。
间隙长决定电路17a基于信号质量测定电路22的再生信号质量的测定结果，将聚光部8与光盘1的表面之间的间隙长决定为设定值。
间隙长检测电路23是将检测器14接收到的光量转换为电信号(电压值)的电路。间隙控制电路24是由系统控制电路17控制、进行伺服控制以便通过改变致动器12的驱动电流以使来自间隙长检测电路23的电信号为恒定值，从而将SIL10与光盘1的表面的间隙长保持为恒定值的电路。
在即使将聚光部8与光盘1的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，基于信号质量测定电路22的再生信号质量的测定值也不满足指定的质量条件的情况下，再生停止电路17d停止光盘1的再生。
此外，图1仅图示了用于说明本实施方式的动作的必要结构，未图示对跟踪伺服进行控制的电路、生成记录脉冲的波形的电路等。在实际的再生装置中，根据需要增加这些电路。
另外，上述的信号质量测定电路22、间隙长决定电路17a、以及间隙控制电路24能够由半导体集成电路构成，根据需要，也可以和记录功率设定电路17b、记录策略设定电路17c、再生停止电路17d等其他电路一起作为集成电路构成。另外，系统控制电路17还可以通过由CPU(中央运算处理装置)执行指定的程序，执行间隙长决定电路17a、记录功率设定电路17b、记录策略设定电路17c、再生停止电路17d等的功能。
(实施方式1的动作)
接着，用图1的方框图以及图2的流程图，说明本实施方式的光学信息再生装置的动作。
图2的流程图中的“开始”的状态例如有光学信息再生装置刚刚起动之后的状态、光学信息再生装置刚刚从Standby(待机)状态恢复之后的状态、光盘1刚刚插入(即载入)光学信息再生装置之后的状态、在信息的记录再生前光学信息再生装置刚刚除去光盘1表面附着的异物之后的状态等等。
开始后，在光学头移动工序步骤201(以下简称为S201)中，系统控制电路17利用指定的进给马达(feed motor)以及指定的致动器(省略图示)，使光学头2移动到光盘1的测试区域所在的半径位置。
此处，作为测试区域，可使用光盘1上的各种区域，例如，在与BD(Blu-ray Disc，蓝光光盘)同样，光盘1为可重写型光盘(rewritable disc)的情况下，可以将与其内周及/或外周的管理区域相邻的区域用作为测试区域，在光盘1为只读型光盘(read-only disc)的情况下，可以将数据区域用作为测试区域。另外，为了以更高精度测定再生信号质量，较为理想的是，在接近光盘1的最内周轨道的内周侧、例如最内周轨道位置或其附近区域中设置测试区域。这是因为，一般而言光盘的外周容易具有晃动等干扰因素。
接着，在照射工序S202中，系统控制电路17向激光器驱动电路20发送设定让激光器3以再生时的激光功率的值(将其称为再生功率)开始发光的信号。按照该信号，激光器驱动电路20使激光器3以再生功率发光。
接着，在间隙长临时控制工序S203中，系统控制电路17的间隙长决定电路17a进行设定，以便使间隙控制电路24将聚光部8(即SIL10)与光盘1的表面的间隙控制为能够进行近场光的记录及/或再生的指定距离。如果SIL10与光盘1的表面的间隙足够大，则间隙控制电路21(应为24)进行控制以使聚光部8靠近光盘1的表面，在到达指定距离时将该距离保持恒定。相反，如果SIL10与光盘1的表面的间隙比指定距离短(或者SIL10与光盘1的表面接触)，则间隙控制电路24进行控制以使聚光部8远离光盘1的表面，在到达指定距离时将该间隙长保持恒定。
如上所述，通过检测射入检测器14的光的光量，能够检测出SIL10与光盘1的表面的距离。间隙长检测电路23将射入检测器14的光的光量转换为电信号。间隙控制电路24基于来自该间隙长检测电路23的电信号控制间隙。换言之，利用基于射入检测器14的光(即返回光)的光量这一光学手段的检测信号来控制间隙。
例如，较为理想的是，间隙控制电路24按照间隙长决定电路17a的指示控制致动器12，以便使SIL10从SIL10与光盘1的表面离得充分远的状态起逐渐靠近光盘1，将返回光的光量开始降低的点设定为上述指定距离，并将该距离保持恒定。
接着，在旋转工序S204中，系统控制电路17向旋转控制电路19发送设定主轴马达18的转速的信号。按照该信号，旋转控制电路19使光盘1以指定的转速旋转。
接着，在测试信号记录工序S205中，系统控制电路17的记录功率设定电路17b及/或记录策略设定电路17c向激光器驱动电路20发送设定以预先确定的记录功率及/或记录策略驱动激光器3的信号。按照该信号，激光器驱动电路20调制激光器3的发光光量。由此，实施测试信号的记录。在测试信号的记录结束后，系统控制电路17使激光器3以再生功率发光，使光学头2返回到进行了测试记录的轨道。此处，记录功率设定电路17b及/或记录策略设定电路17c以及激光器驱动电路20相当于测试记录部的一例。
接着，在测试再生工序S206中，检测器16检测来自进行了测试记录的轨道的反射光量并将该光量转换为电信号，再生信号处理电路21实施波形均衡/二进制等信号处理，生成再生信号。信号质量测定电路22测定再生信号的质量的良否。表示该质量的值，例如有抖动(jitter)、比特错误率(bit error rate)、符号错误率(symbol error rate)、振幅、调制度、分辨率、CN比的值、或与这些值有关的指标值等。
接着，在结束判断工序S207中，系统控制电路17的间隙长决定电路17a判断足以决定间隙长的设定值的测试再生是否已结束。如果未结束，则在间隙长变化工序S208中，间隙长决定电路17a设定与先前进行测试记录/再生时的间隙长不同的间隙长，再次实施S205及S206。
利用S205至S208的循环，测试记录/再生至少实施两次为宜。换言之，测试记录/再生以至少两种不同的间隙长实施为宜。这是因为，由于能够将间隙长与再生信号质量的关系作为特性曲线(或直线)来描绘，因而容易决定间隙长的设定值。
接着，在间隙长决定工序S209中，系统控制电路17的间隙长决定电路17a基于作为测试再生的结果得到的间隙长与再生信号质量的关系，决定针对光盘1为最佳的间隙长的设定值。决定设定值的方法例如有将可得到指定的再生信号质量的范围内最大的间隙长作为设定值的方法。用图3来说明该方法。
图3是表示以四种不同的间隙长实施测试再生，用抖动作为再生信号质量的测定值时的间隙长与再生信号质量的关系的图。
作为表示期望的再生信号质量的值预先规定有抖动的阈值Jth，间隙长决定电路17a在四种不同的间隙长的抖动测定结束后，将在抖动为Jth以下的范围内最大的间隙长Gset作为间隙长的设定值。这样，既能够尽可能地增大间隙长(即尽可能地降低碰撞的概率)又能够以所期望的再生信号质量再生信息。
此处，作为抖动的阈值Jth，可以直接使用可允许的抖动值Jref，或为了考虑指定的余裕(margin)，也可以使用将可允许的抖动值Jref乘以指定的系数(1以下的值，例如0.8)所得到的值。另外，作为间隙长的设定值，也可以使用将在抖动为Jth以下的范围内最大的间隙长乘以指定的系数(1以下的值，例如0.8)所得到的值。
另外，在图3所示的例子中，以四种不同的间隙长测定了再生信号质量，但并不特别限定于该例，也可以以三种或五种以上不同的间隙长测定再生信号质量。
另外，作为间隙长的间隔，能够使用均等间隔、依次变宽的间隔、或者依次变窄的间隔等各种间隔，而且，能够进行各种变形，例如在最初以较大的间隔测定再生信号质量后，在抖动的阈值Jth附近以较小的间隔测定再生信号质量，根据该高精度的测定结果，将在抖动为Jth以下的范围内最大的间隙长Gset作为间隙长的设定值等等。
另外，也可以以不同的间隙长依次测定再生信号质量，当抖动达到Jth以下时，将该间隙长作为设定值，结束再生信号质量的测定。在此情况下，能够以短时间结束再生信号质量的测定。
接着，在间隙控制工序S210中，系统控制电路17的间隙长决定电路17a进行设定，以便使间隙控制电路24将聚光部8(即SIL10)与光盘1的表面的间隙控制为作为设定值而被决定的间隙长。间隙控制电路24按照间隙长决定电路17a的指示，控制致动器12以保持作为设定值而被决定的间隙长。
接着，在寻道工序S211中，系统控制电路17使光学头2的半径位置移动到光盘1的数据区域内的半径位置。在该工序中，可以一边再生记录在光盘1中的地址信息，一边移动到指定的地址。
最后，在记录再生工序S212中，光学信息再生装置对光盘1记录/再生信息。
通过以上的工序，在本实施方式中，能够根据光盘1的个体决定最佳的间隙长，因而能够减少因SIL10碰撞而对光盘1造成损害的可能性。另外，可获得提高再生信号质量、能够进行正确的信息再生的特殊效果。
此外，在本实施方式中，间隙长临时控制工序S203及/或间隙控制工序S210利用基于光学手段的检测信号来控制间隙，但也可以利用由空气流产生的上浮等不借助于光学手段的方法进行控制。不过，利用基于光学手段的检测信号，能够将检测信号直接用于间隙控制，因而能够容易进行控制，在这一点上是较为理想的。
另外，较为理想的是，系统控制电路17具备再生停止电路17d，该再生停止电路17d在即使将间隙长缩短为指定的长度(发生碰撞的概率非常高的长度)，再生信号质量的测定值也超过指定值的情况下，停止光盘1的再生。例如，在测试再生工序S206中，由于在即使将间隙长缩短为指定的长度，再生信号质量的测定值也超过指定值的情况下，再生停止电路17d能够停止光盘1的再生，所以能够防止由于碰撞对光盘1造成损害，因此较为理想。
另外，在本实施方式中，通过间隙长决定工序S209，将在能得到指定的再生信号质量的范围内最大的间隙长作为设定值，但是，将表示间隙长与再生信号质量的测定值的关系的特性曲线的切线斜率为指定值时的间隙长作为设定值，也能容易决定设定值。用图4来说明该方法。
与图3同样，图4是表示以四种不同的间隙长实施测试再生，用抖动作为再生信号质量的测定值时的间隙长与再生信号质量的关系的图。间隙长决定电路17a在四种不同的间隙长的抖动的测定结束后，用曲线在四个测定点之间进行插值，计算曲线的切线斜率(dJ/dG)，将在斜率为指定值a以下的范围内最大的间隙长Gset作为间隙长的设定值。随着间隙长减小，再生信号质量的提高量减小，并接近于饱和值，因此，通过采用这种方式，既能够尽量增大间隙长，又能以尽可能高的再生信号质量从光盘1再生信息。此外，作为间隙长的设定值，也可以使用将在斜率为指定值a以下的范围内最大的间隙长乘以指定的系数(1以下的值，例如0.8)所得到的值。
此处，在图4所示的例子中，也以四种不同的间隙长测定了再生信号质量，但并不特别限定于该例，也可以以三种或五种以上不同的间隙长测定再生信号质量。
另外，作为间隙长的间隔，能够使用均等间隔、依次变宽的间隔、或者依次变窄的间隔等各种间隔，而且，能够进行各种变形，例如在最初以较大的间隔测定再生信号质量并作成插值曲线后，在斜度为指定值a时的间隙长附近以较小的间隔测定再生信号质量并作成插值曲线，根据该高精度的插值曲线，将在斜率为指定值a以下的范围内最大的间隙长Gset作为间隙长的设定值等等。
另外，也可以在每次以不同的间隙长测定再生信号质量时，作成对测定点进行插值的插值曲线，当斜率达到指定值a以下时，将该间隙长作为设定值，结束再生信号质量的测定。在此情况下，能够以短时间结束再生信号质量的测定。
此外，在光盘1的表面状况较差的情况下，或者晃动或偏心较大的情况下，如图5所示，间隙长与抖动的关系有可能具有极小值(即，(dJ/dG)＝0)。在这种情况下，可以将抖动达到极小值的间隙长Gset作为设定值。另外，在间隙长与抖动的关系中存在多个极小值的情况下，可以将最长的间隙长作为设定值。
另外，较为理想的是，系统控制电路17具备在间隙控制电路24控制了间隙之后，将激光器驱动电路20的记录功率设定为作为目标值的最佳值的记录功率设定电路17b，及/或在间隙控制电路24控制了间隙之后，将激光器驱动电路20的记录策略设定为作为目标值的最佳值的记录策略设定电路17c。
例如，在间隙控制工序S210中间隙控制电路24控制了间隙之后，在记录再生工序S212中，记录功率设定电路17b及/或记录策略设定电路17c将记录功率及/或记录策略设定为最佳值，激光器驱动电路20能够以最佳的记录功率及/或最佳的记录策略驱动激光器3。在此情况下，能够更为正确地决定记录功率或记录策略。
另外，也可以在将上述记录功率及/或记录策略设定为最佳值之后，再次执行测试信号记录工序S205至间隙长决定工序S209。在此情况下，能够再生以最佳的记录功率及/或记录策略记录的测试信号，从而以更高精度测定再生信号质量。
另外，在本实施方式中，说明了光学信息记录介质为可记录型或可重写型的情况，但也可以是只读型。在此情况下，省略测试信号记录工序S205，通过再生预先记录在测试区域中的测试信号，能够测定再生信号质量。或者，也可以通过再生预先记录在数据区域中的信息，测定再生信号质量，在此情况下，能够省略光学头移动工序S201。而且，在记录再生工序S212中，也不需要记录信息的工序。
另外，在本实施方式中，作为聚光部8使用包括SIL10的装置。这是因为，具有通过提高NA得到微小的光点，能够进行高密度的记录及/或再生的优点。作为该聚光部，也可以是使聚光部的表面接近光盘1的表面与其相距数nm至数百nm，利用近场光记录及/或再生信息的其他装置(例如光纤探测器)。
(实施例)
以下，基于更为具体的实验结果说明本发明的实施方式的效果。
作为光盘1的基板，使用形成有螺旋状的轨道(沟)的聚碳酸酯基板。沟的间隔为250nm，沟的深度为20nm。在该基板上，通过溅射法(sputtering)形成具有可重写型的相变记录层的薄膜层。该薄膜层为4层结构，从基板侧开始以Ag合金层、ZnS-SiO2介电质层、GeSbTe相变记录层、ZnS-SiO2介电质层的顺序进行了层压。利用这种制造方法，准备了相变记录层的膜厚不同的光盘A以及光盘B这两张盘。各层的膜厚如表1所示。
(表1)
  光盘A   光盘B
  Ag合金   100nm   100nm
  ZnS-SiO2   30nm   30nm
  GeSbTe   10nm   15nm
  ZnS-SiO2   70nm   70nm
另一方面，激光器3的振荡波长为405nm。SIL10的透镜使用半球形的透镜。基于聚光透镜9与SIL10的NA为1.84。
另外，致动器12、主轴马达18、旋转控制电路19、激光器驱动电路20、以及再生信号处理电路21使用了利用远场光(即不利用近场光)的光盘评价机的部件。间隙长检测电路23和间隙控制电路24基于上述实施方式1中描述的方法制作。作为信号质量测定电路22，用作为测定器的时间间隔分析器(time interval analyzer)来代替。
此外，虽然在图1中并未图示，但在本实施例中，还使用控制跟踪伺服的光学系统及电路、用于再生信息的光学系统及电路、以及生成记录脉冲的波形的电路。这些也使用了利用远场光的光盘评价机的部件。
对以上述方式制作的光盘A以及光盘B的各盘，将间隙长设定为20nm、30nm、40nm、50nm四种并进行间隙伺服动作，通过记录再生随机信号测定了再生信号的抖动。此处，记录再生时的线速度为2.5m/s，信道时钟周期Tw为15ns。激光器3的记录功率为5.0mW，删除功率(偏压功率)为2.0mW，再生功率为0.2mW。另外，可允许的抖动的阈值Jth为10％。
光盘A及光盘B各自的间隙长与抖动的关系在图6中示出。光盘B与光盘A相比在相同的间隙长下得到较好的抖动。与抖动的阈值Jth 10％对应的间隙长对光盘A而言是32nm，对光盘B而言是40nm。
接着，对各光盘将间隙长设定为32nm及40nm，将半径30mm至35mm的轨道反复再生10000次，测定发生碰撞的次数。在表2中示出其测定结果。
(表2)
  间隙长   光盘A   光盘B
  32nm   6次   8次
  40nm   2次   1次
从表2的结果可知，对任一张光盘而言，将间隙长设定得较小时发生碰撞的概率均较高。
根据上述情况可知，通过对光盘A将间隙长设定为32nm，对光盘B将间隙长设定为40nm，可以取得能够在抖动满足可允许值的范围内使发生碰撞的概率最小的效果。
如果如以往那样采用不考虑光盘的个体差异，将间隙长设定为恒定值的方法，则无法取得这种效果。其理由在于，在将间隙长设为32nm的恒定值的情况下，对光盘B而言无法使发生碰撞的概率最小，而在设为40nm的恒定值的情况下，对于光盘A其抖动越出允许范围。
此外，在上述的实施例中，使用了基板上层压有薄膜层的光盘1，但也可以在薄膜层上设置保护层。
另外，上述的记录条件、再生条件等并不限定于上述实施例中所示的条件，能够根据装置或介质的特性设定适当的条件。
另外，在上述的实施例中，作为可重写型的光学信息记录介质的记录材料使用了相变材料，但并不限于此，只要是可记录型的色素材料或光磁性材料等形成记录标记的介质，则均能适用。而且，在只读型的情况下，只要是形成记录凹坑的介质，任一种均能适用。
而且，对使用上述的光学信息再生方法及光学信息再生装置的个人计算机、服务器、刻录机、或半导体元件而言，也能够取得与上述相同的效果。
根据上述的实施方式，本发明被归纳为如下内容。即，本发明所提供的光盘装置是从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生装置，包括：生成近场光的聚光部；使用由所述聚光部生成的近场光测定所述光学信息记录介质的再生信号质量的测定部；基于所述测定部的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长决定为设定值的间隙长决定部；以及基于由所述间隙长决定部决定的设定值来控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙的间隙控制部。
根据该装置，由于能够根据光学信息记录介质设定各自最佳的间隙长，因而既能够降低碰撞概率又能提高再生信号质量。即，能够减少因聚光部碰撞对光学信息记录介质造成损害的可能性，并且能够提高再生信号质量，从而进行正确的信息再生。
较为理想的是，上述光学信息再生装置还包括光学检测所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长并输出检测信号的检测部，所述间隙控制部利用所述检测信号控制所述间隙。
在此情况下，间隙控制部利用基于光学手段的检测信号控制间隙，因而间隙长的检测较为容易。
较为理想的是，所述测定部以至少两种不同的间隙长测定所述再生信号质量。
在此情况下，进行测试再生的测定部以至少两种不同的间隙长测定再生信号质量，因而能够容易地决定最佳的间隙长。
较为理想的是，上述光学信息再生装置还包括再生停止部，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，由所述测定部测定的所述再生信号质量的测定值也不满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。
在此情况下，当即使将间隙长缩短为指定的长度，例如再生信号质量的测定值也超过指定值时，停止光学信息记录介质的再生，因而能够防止由于碰撞对光学信息记录介质造成损害。
较为理想的是，所述间隙长决定部将所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系为指定关系时的间隙长作为所述设定值来决定，另外，更为理想的是，所述间隙长决定部将所述再生信号质量的测定值为指定值时的最大间隙长作为所述设定值来决定，或者，更为理想的是，所述间隙长决定部将表示所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系的特性曲线的切线斜率为指定值时的间隙长作为所述设定值来决定。上述任一种情况，都能容易地决定最佳的间隙长。
较为理想的是，所述光学信息记录介质为可记录或可重写的介质，所述光学信息再生装置还包括以预先确定的记录功率及记录策略将测试信号记录到所述光学信息记录介质中的测试记录部，所述测定部通过从所述光学信息记录介质再生所述测试信号测定所述再生信号质量。
在此情况下，能够根据光学信息记录介质的记录特性设定各自最佳的间隙长。
较为理想的是，所述光学信息再生装置还包括在所述间隙控制部控制了所述间隙后将所述记录功率设定为目标值的记录功率设定部。
在此情况下，在间隙控制部控制了间隙后，将记录功率设定为目标值，因而能够正确地决定记录功率。
较为理想的是，所述光学信息再生装置还包括在所述间隙控制部控制了所述间隙后，将所述记录策略设定为目标值的记录策略设定部。
在此情况下，在间隙控制部控制了间隙后，将记录策略设定为目标值，因而能够正确地决定记录策略。
本发明所提供的光学信息再生方法是用于从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生方法，包括：利用由聚光部生成的近场光测定所述光学信息记录介质的再生信号质量的测试再生工序；基于在所述测试再生工序的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长决定为设定值的间隙长决定工序；以及基于在所述间隙长决定工序中决定的设定值控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙的间隙控制工序间隙控制工序，。
根据该方法，能够根据光学信息记录介质设定各自最佳的间隙长，因而能够既降低碰撞概率又提高再生信号质量。
较为理想的是，在所述间隙控制工序中，利用光学检测所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长所得的检测信号控制所述间隙。
在此情况下，由于利用基于光学手段的检测信号控制间隙，因而间隙长的检测较为容易。
较为理想的是，所述测试再生工序包括以至少两种不同的间隙长测定所述再生信号质量的工序。
在此情况下，由于在测试再生工序中以至少两种不同的间隙长测定再生信号质量，因而能够容易地决定最佳的间隙长。
较为理想的是，所述光学信息再生方法还包括再生停止工序，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，在所述测试再生工序中测定的所述再生信号质量的测定值也不满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。
在此情况下，当即使将间隙长缩短为指定的长度，例如再生信号质量的测定值也超过指定值时，停止光学信息记录介质的再生，因而能够防止由于碰撞对光学信息记录介质造成损害。
较为理想的是，所述间隙长决定工序包括将所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系为指定关系时的间隙长作为所述设定值来决定的工序，另外，更为理想的是，所述间隙长决定工序包括将所述再生信号质量的测定值为指定值时的最大间隙长作为所述设定值来决定的工序，或者，更为理想的是，所述间隙长决定工序包括将表示所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系的特性曲线的切线斜率为指定值时的间隙长作为所述设定值来决定的工序。上述任一种工序，都能容易地决定最佳的间隙长。
较为理想的是，所述光学信息记录介质为可记录或可重写的介质，所述光学信息再生方法还包括以预先确定的记录功率及记录策略将测试信号记录到所述光学信息记录介质中的测试记录工序，所述测试再生工序包括通过从所述光学信息记录介质再生所述测试信号测定所述再生信号质量的工序。
在此情况下，能够根据光学信息记录介质的记录特性设定各自最佳的间隙长。
较为理想的是，所述光学信息再生方法还包括在所述间隙控制工序中控制了所述间隙后，将所述记录功率设定为目标值的记录功率决定工序。
在此情况下，由于在间隙控制工序中控制了间隙后，将记录功率设定为目标值，因而能够正确地决定记录功率。
较为理想的是，所述光学信息再生方法还包括在所述间隙控制工序中控制了所述间隙后，将所述记录策略设定为目标值的记录策略决定工序。
在此情况下，由于在间隙控制工序中控制了间隙后，将记录策略设定为目标值，因而能够正确地决定记录策略。
本发明所提供的集成电路是用于具备生成近场光的聚光部并从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生装置中的集成电路，包括：利用由所述聚光部生成的近场光测定所述光学信息记录介质的再生信号质量的测定电路；基于所述测定电路的再生信号质量的测定结果将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长决定为设定值的间隙长决定电路；以及基于由所述间隙长决定电路决定的设定值来控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙的间隙控制电路，。
根据该集成电路，由于能够根据光学信息记录介质设定各自最佳的间隙长，因而能够实现既降低碰撞概率又提高再生信号质量的光学信息再生装置。
产业上的可利用性
本发明所涉及的光学信息再生方法以及光学信息再生装置能够减小聚光部与光学信息记录介质的表面发生冲突而造成损害的可能性，而且能够提高再生信号质量，从而进行正确的信息再生，因此，尤其是作为与利用近场光的再生装置的控制有关的方法及装置是有用的。

Claims (11)

1.一种光学信息再生装置，从光学信息记录介质再生信息，其特征在于包括：
聚光部，生成近场光；
测定部，利用由所述聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量;
间隙长决定部，基于所述测定部的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；
间隙控制部，基于由所述间隙长决定部决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙；以及
再生停止部，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，由所述测定部测定的所述再生信号质量的测定值还不能满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。
2.根据权利要求1所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：
检测部，光学检测所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长并输出检测信号，其中，
所述间隙控制部，利用所述检测信号控制所述间隙。
3.根据权利要求1或2所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述测定部以至少两种不同的间隙长测定所述再生信号质量。
4.根据权利要求1所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系为指定关系时的间隙长作为所述设定值而决定。
5.根据权利要求4所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将所述再生信号质量的测定值为指定值时的最大间隙长作为所述设定值而决定。
6.根据权利要求4所述的光学信息再生装置，其特征在于：所述间隙长决定部将表示所述间隙长与所述再生信号质量的测定值的关系的特性曲线的切线斜率为指定值时的间隙长作为所述设定值而决定。
7.根据权利要求1所述的光学信息再生装置，其特征在于：
所述光学信息记录介质为可记录或可重写的介质，
所述光学信息再生装置还包括，以预先确定的记录功率及记录策略将测试信号记录到所述光学信息记录介质中的测试记录部，其中，
所述测定部，通过从所述光学信息记录介质再生所述测试信号来测定所述再生信号质量。
8.根据权利要求7所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：在所述间隙控制部控制了所述间隙后，将所述记录功率设定为目标值的记录功率设定部。
9.根据权利要求7所述的光学信息再生装置，其特征在于还包括：在所述间隙控制部控制了所述间隙后，将所述记录策略设定为目标值的记录策略设定部。
10.一种光学信息再生方法，用于从光学信息记录介质再生信息，其特征在于包括以下工序：
测试再生工序，利用由聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量；
间隙长决定工序，基于在所述测试再生工序中的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；
间隙控制工序，基于在所述间隙长决定工序中决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙；以及
再生停止工序，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，由所述测试再生工序所测定的所述再生信号质量的测定值还不能满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。
11.一种集成电路，用于具备生成近场光的聚光部并从光学信息记录介质再生信息的光学信息再生装置中，其特征在于包括：
测定电路，利用由所述聚光部生成的近场光，测定所述光学信息记录介质的再生信号质量；
间隙长决定电路，基于所述测定电路的再生信号质量的测定结果，将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长作为设定值而决定；
间隙控制电路，基于由所述间隙长决定电路决定的设定值，控制所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面的间隙；以及
再生停止电路，在即使将所述聚光部与所述光学信息记录介质的表面之间的间隙长缩短为指定的长度，由所述测定电路测定的所述再生信号质量的测定值还不能满足指定的质量条件的情况下，停止所述光学信息记录介质的再生。
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