JPH11273075A - 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置Info
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- JPH11273075A JPH11273075A JP10070163A JP7016398A JPH11273075A JP H11273075 A JPH11273075 A JP H11273075A JP 10070163 A JP10070163 A JP 10070163A JP 7016398 A JP7016398 A JP 7016398A JP H11273075 A JPH11273075 A JP H11273075A
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- mark
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- pulse
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
- G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 記録密度を上げたときの再生信号の振幅低
下、また長いマークの歪みを抑制する光学的情報記録再
生方法を提供する。 【解決手段】 検出回路101でのマーク長検出結果に
基づき、所定の長さより短いマーク長の場合のみ選択回
路107を閉じて、冷却パルス発生回路105から冷却
パルス信号を発生させる。所定の長さより短いマークの
記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設けるこ
とにより、歪みのない再生信号を得られ短いマークでは
再生信号の振幅が増大する。
下、また長いマークの歪みを抑制する光学的情報記録再
生方法を提供する。 【解決手段】 検出回路101でのマーク長検出結果に
基づき、所定の長さより短いマーク長の場合のみ選択回
路107を閉じて、冷却パルス発生回路105から冷却
パルス信号を発生させる。所定の長さより短いマークの
記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設けるこ
とにより、歪みのない再生信号を得られ短いマークでは
再生信号の振幅が増大する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に情報を記
録・再生する光学的情報記録媒体の記録再生方法および
光学的情報記録再生装置に関するものである。
録・再生する光学的情報記録媒体の記録再生方法および
光学的情報記録再生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、光学的に情報を記録する媒体とし
て、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発
されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密
度に情報を記録・再生できる媒体として注目されてい
る。
て、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発
されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密
度に情報を記録・再生できる媒体として注目されてい
る。
【0003】以下に、従来の光ディスクの記録再生方法
および記録再生装置について、図面を参照しながら説明
する。
および記録再生装置について、図面を参照しながら説明
する。
【0004】図20は光ディスクとして相変化型を用い
た場合の、従来の記録再生装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。
た場合の、従来の記録再生装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。
【0005】1201は情報を記録再生する光ディスク
で、1202は記録再生装置全体を制御するシステム制
御回路である。1203は記録する情報に応じて2値化
された記録データ信号を発生させる記録信号変調器で、
1204は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパ
ルスを発生させる記録信号生成回路である。1205は
記録信号生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド
1206内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ
変調回路である。1206は光ヘッドであり、レーザ光
を集束して光ディスク1201に照射する。1207は
光ディスク1201を回転させるスピンドルモーターで
ある。1208は光ディスク1201からの反射光に基
づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理器であ
り、1209は再生情報を得るための復調回路である。
で、1202は記録再生装置全体を制御するシステム制
御回路である。1203は記録する情報に応じて2値化
された記録データ信号を発生させる記録信号変調器で、
1204は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパ
ルスを発生させる記録信号生成回路である。1205は
記録信号生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド
1206内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ
変調回路である。1206は光ヘッドであり、レーザ光
を集束して光ディスク1201に照射する。1207は
光ディスク1201を回転させるスピンドルモーターで
ある。1208は光ディスク1201からの反射光に基
づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理器であ
り、1209は再生情報を得るための復調回路である。
【0006】図21は記録信号生成回路1204の構成
を説明するブロック図である。101は記録データ信号
からマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する
検出回路、102はマークを形成するための先頭の記録
パルスを発生する始端パルス発生回路、104は後尾の
記録パルスを発生する終端パルス発生回路、103は始
端パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサ
ブパルス(マルチパルスとも呼ばれる)発生回路であ
る。始端パルス発生回路102、サブパルス発生回路1
03、終端パルス発生回路104をあわせて記録パルス
発生回路114と呼ぶことにする。106は102〜1
04の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算す
る加算回路である。
を説明するブロック図である。101は記録データ信号
からマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する
検出回路、102はマークを形成するための先頭の記録
パルスを発生する始端パルス発生回路、104は後尾の
記録パルスを発生する終端パルス発生回路、103は始
端パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサ
ブパルス(マルチパルスとも呼ばれる)発生回路であ
る。始端パルス発生回路102、サブパルス発生回路1
03、終端パルス発生回路104をあわせて記録パルス
発生回路114と呼ぶことにする。106は102〜1
04の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算す
る加算回路である。
【0007】次に、この従来の光ディスクの記録再生装
置の動作について、図20を用いて説明する。
置の動作について、図20を用いて説明する。
【0008】まず、情報を再生する場合、スピンドルモ
ーター1207により光ディスク1201を回転させ、
光ヘッド1206内のレーザを低い一定パワーPr(こ
れを再生パワーと呼ぶ)で点灯させる。レーザから出射
した光は回折限界まで絞り込まれた集束スポットとなり
光ディスク1201に照射される。光ディスク1201
からの反射光は光ヘッド1206内の検出器に導かれ、
情報再生のための信号やサーボ動作のための信号を得
る。再生信号処理回路1208において再生信号に対し
2値化やイコライズ等の処理を行ない、復調回路120
9で再生信号から再生情報を復調する。復調された再生
情報はシステム制御回路1202内のバッファメモリに
蓄積され、上位計算機に転送される。
ーター1207により光ディスク1201を回転させ、
光ヘッド1206内のレーザを低い一定パワーPr(こ
れを再生パワーと呼ぶ)で点灯させる。レーザから出射
した光は回折限界まで絞り込まれた集束スポットとなり
光ディスク1201に照射される。光ディスク1201
からの反射光は光ヘッド1206内の検出器に導かれ、
情報再生のための信号やサーボ動作のための信号を得
る。再生信号処理回路1208において再生信号に対し
2値化やイコライズ等の処理を行ない、復調回路120
9で再生信号から再生情報を復調する。復調された再生
情報はシステム制御回路1202内のバッファメモリに
蓄積され、上位計算機に転送される。
【0009】次に、情報を記録する場合の動作を図22
〜図25を用いて説明する。図22は図21における各
部分の信号とレーザのパワー変化を説明する波形図であ
る。図22(a)は記録データ信号(図21の10
8)、図22(b)は始端パルス発生回路102が出力
する信号(図21の109)、図22(c)はサブパル
ス発生回路103が出力する信号(図21の110)、
図22(d)は終端パルス発生回路104が出力する信
号(図21の111)、図22(e)は図20における
光ヘッド1206から照射されるレーザのパワー変化を
示す。
〜図25を用いて説明する。図22は図21における各
部分の信号とレーザのパワー変化を説明する波形図であ
る。図22(a)は記録データ信号(図21の10
8)、図22(b)は始端パルス発生回路102が出力
する信号(図21の109)、図22(c)はサブパル
ス発生回路103が出力する信号(図21の110)、
図22(d)は終端パルス発生回路104が出力する信
号(図21の111)、図22(e)は図20における
光ヘッド1206から照射されるレーザのパワー変化を
示す。
【0010】図23(a)〜(c)は3Tマーク(これ
を3Tmで示す)−3Tスペース(これを3Tsで示
す)の単一周期信号、図24(a)〜(c)は6Tマー
ク(6Tm)−6Tスペース(6Ts)の単一周期信
号、図25(a)〜(c)は11Tマーク(11Tm)
−11Tスペース(11Ts)の単一周期信号を記録再
生する場合の光ディスク1201のトラック上への記録
状態、および記録再生の動作を説明する図である(Tは
記録データ信号のチャネルクロック周期を表す)。図2
3〜図25は説明を容易にするため、それぞれ3T、6
T、11Tの単一周期信号を記録再生する場合を想定し
ている。また図23〜図25の各(a)はレーザのパワ
ー変化、図23〜図25の各(b)は光ディスク120
1のガイド溝上への記録状態、図23〜図25の各
(c)はそのガイド溝を再生したときの再生信号の変化
を示している。
を3Tmで示す)−3Tスペース(これを3Tsで示
す)の単一周期信号、図24(a)〜(c)は6Tマー
ク(6Tm)−6Tスペース(6Ts)の単一周期信
号、図25(a)〜(c)は11Tマーク(11Tm)
−11Tスペース(11Ts)の単一周期信号を記録再
生する場合の光ディスク1201のトラック上への記録
状態、および記録再生の動作を説明する図である(Tは
記録データ信号のチャネルクロック周期を表す)。図2
3〜図25は説明を容易にするため、それぞれ3T、6
T、11Tの単一周期信号を記録再生する場合を想定し
ている。また図23〜図25の各(a)はレーザのパワ
ー変化、図23〜図25の各(b)は光ディスク120
1のガイド溝上への記録状態、図23〜図25の各
(c)はそのガイド溝を再生したときの再生信号の変化
を示している。
【0011】情報を記録する場合には、図20に示す上
位計算機からシステム制御回路1202内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路1203に送られる。
そして記録情報はクロックに同期して変調・2値化さ
れ、記録データ信号となる(図22(a))。記録データ
信号は記録信号生成回路1204に入力される。
位計算機からシステム制御回路1202内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路1203に送られる。
そして記録情報はクロックに同期して変調・2値化さ
れ、記録データ信号となる(図22(a))。記録データ
信号は記録信号生成回路1204に入力される。
【0012】記録信号生成回路1204ではまず、図2
1に示すマーク/スペース長さ検出回路101において
記録データ信号(図22(a))の信号反転間隔がクロ
ック周期Tの何倍に相当するかを検出する。そして、マ
ークの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の
記録パルスを発生する。すなわち、図22(b)に示す
始端パルス、図22(c)に示すサブパルス、図22
(d)に示す終端パルスを発生する。その後、加算回路
106で(b)〜(d)の信号を加算し、レーザ変調回
路1205に入力する。レーザ駆動回路は記録パルスに
応じてレーザを駆動する電流を変調する。その結果、記
録パルスに応じて図20に示す光ディスク1201に照
射されるレーザ光のパワーが図22(e)に示すように
変化する。
1に示すマーク/スペース長さ検出回路101において
記録データ信号(図22(a))の信号反転間隔がクロ
ック周期Tの何倍に相当するかを検出する。そして、マ
ークの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の
記録パルスを発生する。すなわち、図22(b)に示す
始端パルス、図22(c)に示すサブパルス、図22
(d)に示す終端パルスを発生する。その後、加算回路
106で(b)〜(d)の信号を加算し、レーザ変調回
路1205に入力する。レーザ駆動回路は記録パルスに
応じてレーザを駆動する電流を変調する。その結果、記
録パルスに応じて図20に示す光ディスク1201に照
射されるレーザ光のパワーが図22(e)に示すように
変化する。
【0013】図20の光ヘッド1206により集束させ
た、Prより強いレーザ光(図23〜図25の各(a)
のレーザ光のパワーPpのことで、以下記録パワーとい
う)を光ディスク1201の記録膜に照射して記録膜の
温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とと
もに溶融部分は急速に冷却されて非晶質(アモルファ
ス)状態の記録マーク302(図23〜図25の各
(b))になる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上
融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光(図23
〜図25の各(a)のレーザ光のパワーPbのことで、
以下消去パワーという)を集束して照射すると、照射部
の記録膜は結晶状態になる。
た、Prより強いレーザ光(図23〜図25の各(a)
のレーザ光のパワーPpのことで、以下記録パワーとい
う)を光ディスク1201の記録膜に照射して記録膜の
温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とと
もに溶融部分は急速に冷却されて非晶質(アモルファ
ス)状態の記録マーク302(図23〜図25の各
(b))になる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上
融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光(図23
〜図25の各(a)のレーザ光のパワーPbのことで、
以下消去パワーという)を集束して照射すると、照射部
の記録膜は結晶状態になる。
【0014】このようにしてガイド溝301上には、記
録データ信号に対応した非晶質領域のマーク302と結
晶質領域303との記録パターンが形成される。そして
結晶質と非晶質との反射率の相違を利用して、情報の再
生が行われる(図23〜図25の各(c))。
録データ信号に対応した非晶質領域のマーク302と結
晶質領域303との記録パターンが形成される。そして
結晶質と非晶質との反射率の相違を利用して、情報の再
生が行われる(図23〜図25の各(c))。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例えば
図20および図21の構成による上記従来の記録再生方
法では、記録密度が高い場合に再生信号の振幅が低下
し、正しく情報を再生できないという課題を有してい
た。以下、その課題について説明する。
図20および図21の構成による上記従来の記録再生方
法では、記録密度が高い場合に再生信号の振幅が低下
し、正しく情報を再生できないという課題を有してい
た。以下、その課題について説明する。
【0016】相変化記録をはじめとする熱記録では、レ
ーザ光を光ディスクに照射して熱エネルギーを与え、光
ディスクの記録膜の状態を変化させる。レーザ光による
熱エネルギーは、ディスクの記録膜面方向におおよそ等
方的に拡散する。そのため、ガイド溝方向に短い長さの
マークを記録しようとして記録パルスの幅を小さくする
と、ガイド溝に対して直角方向の溶融領域も小さくな
り、結果として形成されるマークの幅も小さくなる。す
なわち、図23(b)における3Tマークは、その長さ
が6Tマークの幅MW6や11Tマークの幅MW11より
も小さいので、3Tマークの幅MW3はMW6やMW11は
比べて極端に小さくなる。その結果、3Tマークを再生
したときの信号振幅(図23(c)のA3に相当)が小
さくなり、短いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。
ーザ光を光ディスクに照射して熱エネルギーを与え、光
ディスクの記録膜の状態を変化させる。レーザ光による
熱エネルギーは、ディスクの記録膜面方向におおよそ等
方的に拡散する。そのため、ガイド溝方向に短い長さの
マークを記録しようとして記録パルスの幅を小さくする
と、ガイド溝に対して直角方向の溶融領域も小さくな
り、結果として形成されるマークの幅も小さくなる。す
なわち、図23(b)における3Tマークは、その長さ
が6Tマークの幅MW6や11Tマークの幅MW11より
も小さいので、3Tマークの幅MW3はMW6やMW11は
比べて極端に小さくなる。その結果、3Tマークを再生
したときの信号振幅(図23(c)のA3に相当)が小
さくなり、短いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。
【0017】これに対し、マークの幅を広げるため、記
録パルスの後に消去パワーレベルよりも低い冷却パルス
を付加する提案が特開昭63-113938号公報にてなされて
いる。ところがそのような記録再生方法では、特に長い
マークを記録したときには再生波形が歪むため、正しく
情報を再生できない課題を有していた。以下、その課題
について説明する。
録パルスの後に消去パワーレベルよりも低い冷却パルス
を付加する提案が特開昭63-113938号公報にてなされて
いる。ところがそのような記録再生方法では、特に長い
マークを記録したときには再生波形が歪むため、正しく
情報を再生できない課題を有していた。以下、その課題
について説明する。
【0018】図26〜図28において、冷却パルスのパ
ワーレベルPb2は消去パワーレベルPbより低いの
で、マーク後端で溶融した部分はよりレーザビームの通
過とともに急速に冷却され、冷却パルス直後の消去パワ
ーPbでマーク302の後端が再結晶化し(図26〜図
28の303の領域に相当する)、マーク302の後端
が削れた形状となる。このとき、6Tマークや11Tマ
ークのような長いマークでは、マーク後端部分のみの非
晶質領域が大きくなり、マークの後端(MW6',M
W11')がマークの前端(MW6,MW11)よりふくらん
だ形状となる。従って、6Tマークや11Tマークを再
生したときの信号には歪みが生じ(A6,A11とA6',
A11')、長いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。
ワーレベルPb2は消去パワーレベルPbより低いの
で、マーク後端で溶融した部分はよりレーザビームの通
過とともに急速に冷却され、冷却パルス直後の消去パワ
ーPbでマーク302の後端が再結晶化し(図26〜図
28の303の領域に相当する)、マーク302の後端
が削れた形状となる。このとき、6Tマークや11Tマ
ークのような長いマークでは、マーク後端部分のみの非
晶質領域が大きくなり、マークの後端(MW6',M
W11')がマークの前端(MW6,MW11)よりふくらん
だ形状となる。従って、6Tマークや11Tマークを再
生したときの信号には歪みが生じ(A6,A11とA6',
A11')、長いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。
【0019】また、3Tマークのような短いマークにつ
いては、マークの非晶質領域が大きくなり、マークの幅
の拡大(MW3')に伴って再生したときの信号振幅(A
3')も大きくなるものの、スポットサイズに対してマー
ク長が相対的に大きい場合には、6Tマークや11Tマ
ークと同様に、マークの歪みが再生信号にも反映され
て、再生信号に歪みが生ずる可能性があった。
いては、マークの非晶質領域が大きくなり、マークの幅
の拡大(MW3')に伴って再生したときの信号振幅(A
3')も大きくなるものの、スポットサイズに対してマー
ク長が相対的に大きい場合には、6Tマークや11Tマ
ークと同様に、マークの歪みが再生信号にも反映され
て、再生信号に歪みが生ずる可能性があった。
【0020】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、高い記録密度で正しく情報を再生できる光学的情報
記録再生方法を提供することを目的とする。
で、高い記録密度で正しく情報を再生できる光学的情報
記録再生方法を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る光学的情報記録再生方法は、光学的情
報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切り換えて照射
し、相変化記録膜の光学的特性を変化させ、データをマ
ークおよびスペースの長さとして記録またはマークおよ
びスペースの長さで記録された前記マークを消去する記
録再生方法であって、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パ
ルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時に
のみ、前記記録パルス列の後に前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを設ける構成、または前記マークは記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短い
マークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消
去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えた冷却パルスを設ける構成、または、前記マーク
は記録パワーと消去パワーとを交互に切り換えた少なく
とも一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより
短いマークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前
記消去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互
に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを
設ける構成、または、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一
つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記消去パ
ワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを設ける
構成、の何れかとする。
め、本発明に係る光学的情報記録再生方法は、光学的情
報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切り換えて照射
し、相変化記録膜の光学的特性を変化させ、データをマ
ークおよびスペースの長さとして記録またはマークおよ
びスペースの長さで記録された前記マークを消去する記
録再生方法であって、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パ
ルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時に
のみ、前記記録パルス列の後に前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを設ける構成、または前記マークは記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短い
マークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消
去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えた冷却パルスを設ける構成、または、前記マーク
は記録パワーと消去パワーとを交互に切り換えた少なく
とも一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより
短いマークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前
記消去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互
に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを
設ける構成、または、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一
つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記消去パ
ワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを設ける
構成、の何れかとする。
【0022】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、記録パルス列を構成する複数の記
録パルスに、前記記録パルスの内少なくとも一つの記録
パルスのパワーが他の記録パルスのパワーに比べ高い第
2の記録パルスを含ませることが好ましい。
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、記録パルス列を構成する複数の記
録パルスに、前記記録パルスの内少なくとも一つの記録
パルスのパワーが他の記録パルスのパワーに比べ高い第
2の記録パルスを含ませることが好ましい。
【0023】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をw、所定の長さより短いマークの長さ
をMLとすると、ML/w<1.2を満たすことがより
好ましい。
的情報記録再生方法においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をw、所定の長さより短いマークの長さ
をMLとすると、ML/w<1.2を満たすことがより
好ましい。
【0024】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。
【0025】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークは最短マークのみであることが好ましい。
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークは最短マークのみであることが好ましい。
【0026】本発明に係る第1の光学的情報記録再生装
置は、光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切
り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変化さ
せ、データをマークおよびスペースの長さとして記録ま
たはマークおよびスペースの長さで記録された前記マー
クを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マ
ークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パル
ス列を発生する記録パルス発生手段と、前記長さ判別手
段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定の長さ
より短いときのみ、前記記録パルス列の後に、前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスを発生する冷却パルス発生手段と、前
記記録パルス列および前記冷却パルスに基づき前記レー
ザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、また
は、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを
判別する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して
記録パワーと消去パワーより低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列を発生する記
録パルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応
じて、前記マークの長さが所定の長さより短いときの
み、前記記録パルス列の後に、前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを発生する冷却パルス発生手段と、前記記録パルス列
および前記冷却パルスに基づき前記レーザ光を照射する
レーザ駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前
記マークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別
手段と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応じ
て、前記マークの長さが所定の長さより短いときのみ、
前記冷却パルスの後に、前記消去パワーより高く前記記
録パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えたアニールパルスを発生するアニールパルス発生
手段と、前記記録パルス列、前記冷却パルスおよび前記
アニールパルスに基づき前記レーザ光を照射するレーザ
駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前記マー
クおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段と、
前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長
さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス列の
後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パワー
とを交互に切り換えた単一の冷却パルスまたは複数の冷
却パルス列を発生する冷却パルス発生手段と、前記長さ
判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定
の長さより短いときのみ、前記冷却パルスの後に、前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスを発
生するアニールパルス発生手段と、前記記録パルス列、
前記冷却パルスおよび前記アニールパルスに基づき前記
レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、の
何れかとする。
置は、光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切
り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変化さ
せ、データをマークおよびスペースの長さとして記録ま
たはマークおよびスペースの長さで記録された前記マー
クを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マ
ークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パル
ス列を発生する記録パルス発生手段と、前記長さ判別手
段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定の長さ
より短いときのみ、前記記録パルス列の後に、前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスを発生する冷却パルス発生手段と、前
記記録パルス列および前記冷却パルスに基づき前記レー
ザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、また
は、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを
判別する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して
記録パワーと消去パワーより低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列を発生する記
録パルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応
じて、前記マークの長さが所定の長さより短いときの
み、前記記録パルス列の後に、前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを発生する冷却パルス発生手段と、前記記録パルス列
および前記冷却パルスに基づき前記レーザ光を照射する
レーザ駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前
記マークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別
手段と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応じ
て、前記マークの長さが所定の長さより短いときのみ、
前記冷却パルスの後に、前記消去パワーより高く前記記
録パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えたアニールパルスを発生するアニールパルス発生
手段と、前記記録パルス列、前記冷却パルスおよび前記
アニールパルスに基づき前記レーザ光を照射するレーザ
駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前記マー
クおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段と、
前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長
さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス列の
後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パワー
とを交互に切り換えた単一の冷却パルスまたは複数の冷
却パルス列を発生する冷却パルス発生手段と、前記長さ
判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定
の長さより短いときのみ、前記冷却パルスの後に、前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスを発
生するアニールパルス発生手段と、前記記録パルス列、
前記冷却パルスおよび前記アニールパルスに基づき前記
レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、の
何れかとする。
【0027】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、長さ判別手段の判別結
果に応じて、前記マークの長さが所定の長さより短いと
きのみ、記録パワーよりも高いパワーと消去パワーとを
交互に切り換えた第2の記録パルスを少なくとも一つ以
上発生する第2の記録パルス発生手段とを備えることが
より好ましい。
的情報記録再生装置においては、長さ判別手段の判別結
果に応じて、前記マークの長さが所定の長さより短いと
きのみ、記録パワーよりも高いパワーと消去パワーとを
交互に切り換えた第2の記録パルスを少なくとも一つ以
上発生する第2の記録パルス発生手段とを備えることが
より好ましい。
【0028】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をw、所定の長さより短いマークの長さ
をMLとすると、ML/w<1.2を満たすことがより
好ましい。
的情報記録再生装置においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をw、所定の長さより短いマークの長さ
をMLとすると、ML/w<1.2を満たすことがより
好ましい。
【0029】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。
的情報記録再生装置においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。
【0030】前記いずれかの構成を有する本発明の第1
〜第4の光学的情報記録再生装置においては、所定の長
さより短いマークは最短マークのみであることがより好
ましい。
〜第4の光学的情報記録再生装置においては、所定の長
さより短いマークは最短マークのみであることがより好
ましい。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態を用いて本発明
をさらに具体的に説明する。
をさらに具体的に説明する。
【0032】図1は本発明の第1の実施の形態における
光学的情報記録再生装置の主要部、特に記録信号生成回
路の構成を示すブロック図である。光学的情報記録再生
装置全体の構成は図20と同様であるので省略する。
光学的情報記録再生装置の主要部、特に記録信号生成回
路の構成を示すブロック図である。光学的情報記録再生
装置全体の構成は図20と同様であるので省略する。
【0033】図1において、101は記録データ信号か
らマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する検
出回路、102はマークを形成するための先頭の記録パ
ルスを発生する始端パルス発生回路、104は後尾の記
録パルスを発生する終端パルス発生回路、103は始端
パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサブ
パルス発生回路、105は冷却パルスを発生させるため
の冷却パルス発生回路である。106は102〜104
の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算する加
算回路である。冷却パルス発生回路105のあとに選択
回路107を設け、検出回路101からの検出結果に従
い選択回路107の接続を切り換える。
らマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する検
出回路、102はマークを形成するための先頭の記録パ
ルスを発生する始端パルス発生回路、104は後尾の記
録パルスを発生する終端パルス発生回路、103は始端
パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサブ
パルス発生回路、105は冷却パルスを発生させるため
の冷却パルス発生回路である。106は102〜104
の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算する加
算回路である。冷却パルス発生回路105のあとに選択
回路107を設け、検出回路101からの検出結果に従
い選択回路107の接続を切り換える。
【0034】次に、本発明の第1の実施の形態における
光学的情報記録再生装置において、情報を記録する場合
の動作を図2〜図5を用いて説明する。
光学的情報記録再生装置において、情報を記録する場合
の動作を図2〜図5を用いて説明する。
【0035】図2は、図20における記録信号生成回路
1204の各部分の信号と、レーザのパワー変化とを説
明する図である。図2(a)は記録データ信号(図1の
108)、図2(c)は始端パルス発生回路102が出
力する信号(図1の109)、図2(d)はサブパルス
発生回路103が出力する信号(図1の110)、図2
(e)は終端パルス発生回路104が出力する信号(図
21の111)、図2(g)は光ヘッド1206から照
射されるレーザのパワー変化を示す。
1204の各部分の信号と、レーザのパワー変化とを説
明する図である。図2(a)は記録データ信号(図1の
108)、図2(c)は始端パルス発生回路102が出
力する信号(図1の109)、図2(d)はサブパルス
発生回路103が出力する信号(図1の110)、図2
(e)は終端パルス発生回路104が出力する信号(図
21の111)、図2(g)は光ヘッド1206から照
射されるレーザのパワー変化を示す。
【0036】図3(a)〜(c)は3Tマーク(3T
m)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、図4
(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tスペース
(6Ts)の単一周期信号、図5(a)〜(c)は11
Tマーク(11Tm)−11Tスペース(11Ts)の
単一周期信号を、記録再生する場合の光ディスク120
1のトラック上への記録状態、および記録再生の動作を
説明する図である。また、図3〜図5の各(a)はレー
ザのパワー変化、図3〜図5の各(b)は光ディスク1
201のトラック上への記録状態、図3〜図5の各
(c)は再生信号の変化を示している。
m)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、図4
(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tスペース
(6Ts)の単一周期信号、図5(a)〜(c)は11
Tマーク(11Tm)−11Tスペース(11Ts)の
単一周期信号を、記録再生する場合の光ディスク120
1のトラック上への記録状態、および記録再生の動作を
説明する図である。また、図3〜図5の各(a)はレー
ザのパワー変化、図3〜図5の各(b)は光ディスク1
201のトラック上への記録状態、図3〜図5の各
(c)は再生信号の変化を示している。
【0037】情報を記録する場合には、図20に示す上
位計算機からシステム制御回路1202内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路1203に送られる。
そして記録情報は基準クロックに同期して変調・2値化
され、記録データ信号となる(図2(a))。記録データ
信号は記録信号生成回路1204に入力される。
位計算機からシステム制御回路1202内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路1203に送られる。
そして記録情報は基準クロックに同期して変調・2値化
され、記録データ信号となる(図2(a))。記録データ
信号は記録信号生成回路1204に入力される。
【0038】記録信号生成回路1204では、まず図1
に示すマーク/スペース長さ検出回路101において、
記録データ信号(図2(a))の信号反転間隔がクロッ
ク周期Tの何倍に相当するかを検出する。そして、マー
クの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の記
録パルスを発生する。すなわち、図2(c)に示す始端
パルス、図2(d)に示すサブパルス、図2(e)に示
す終端パルス、図2(f)で冷却パルスを発生する。そ
の後、加算回路106で(b)〜(d)の信号を加算し
てレーザ駆動回路に入力する。図2(a)の記録データ
信号に基づいて、検出回路101から図2(b)に示す
3Tマーク判別信号112を発生させる。この判別信号
112に基づき3Tマークの場合のみ選択回路107を
閉じ、図2(f)に示すように冷却パルスをレーザ駆動
回路に入力する。光ディスク1201に照射されるレー
ザ光のパワーは図2(g)に示すように変化し、3Tマ
ークの場合のみ記録パルス列の後に冷却パルスが付加さ
れる。その結果、図4(a)〜(c)および図5(a)
〜(c)に示すように6Tや11Tなどの長いマークで
は冷却パルスを付加しないので、マークの後端の幅が大
きくなることがなく(MW6,MW11)、歪みのない再
生信号を得ることができる(A6,A11)。
に示すマーク/スペース長さ検出回路101において、
記録データ信号(図2(a))の信号反転間隔がクロッ
ク周期Tの何倍に相当するかを検出する。そして、マー
クの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の記
録パルスを発生する。すなわち、図2(c)に示す始端
パルス、図2(d)に示すサブパルス、図2(e)に示
す終端パルス、図2(f)で冷却パルスを発生する。そ
の後、加算回路106で(b)〜(d)の信号を加算し
てレーザ駆動回路に入力する。図2(a)の記録データ
信号に基づいて、検出回路101から図2(b)に示す
3Tマーク判別信号112を発生させる。この判別信号
112に基づき3Tマークの場合のみ選択回路107を
閉じ、図2(f)に示すように冷却パルスをレーザ駆動
回路に入力する。光ディスク1201に照射されるレー
ザ光のパワーは図2(g)に示すように変化し、3Tマ
ークの場合のみ記録パルス列の後に冷却パルスが付加さ
れる。その結果、図4(a)〜(c)および図5(a)
〜(c)に示すように6Tや11Tなどの長いマークで
は冷却パルスを付加しないので、マークの後端の幅が大
きくなることがなく(MW6,MW11)、歪みのない再
生信号を得ることができる(A6,A11)。
【0039】また、図3(a)〜(c)に示すように短
い3Tマークでは、冷却パルスの付加によりマークの幅
が大きくなり(MW3')、再生信号の振幅が増大する
(A3')。ここで3Tのマーク形状には歪みが生ずるも
のの、スポットによるマーク再生の光学的な分解能に限
界があるので、本発明のようにスポットサイズに対する
マーク長の比を小さくすると再生波形には歪みが現れな
い。
い3Tマークでは、冷却パルスの付加によりマークの幅
が大きくなり(MW3')、再生信号の振幅が増大する
(A3')。ここで3Tのマーク形状には歪みが生ずるも
のの、スポットによるマーク再生の光学的な分解能に限
界があるので、本発明のようにスポットサイズに対する
マーク長の比を小さくすると再生波形には歪みが現れな
い。
【0040】以下ではスポットサイズと再生波形の歪み
とについて説明する。図29(a)は、光ディスクを一
定の線速で再生したときのスポットサイズと再生信号の
周波数特性との関係を示す図である。レーザ光のスポッ
トには有限の大きさがあるため、高い周波数(すなわち
小さいマーク)ほど再生信号の振幅は小さくなる。そし
てスポットサイズを小さくすると、高い周波数(すなわ
ち小さいマーク)の振幅はより大きくなり、より小さい
マークまで再生できる。一方、スポットサイズを大きく
すると、振幅はより小さくなり、小さいマークは再生で
きなくなる。
とについて説明する。図29(a)は、光ディスクを一
定の線速で再生したときのスポットサイズと再生信号の
周波数特性との関係を示す図である。レーザ光のスポッ
トには有限の大きさがあるため、高い周波数(すなわち
小さいマーク)ほど再生信号の振幅は小さくなる。そし
てスポットサイズを小さくすると、高い周波数(すなわ
ち小さいマーク)の振幅はより大きくなり、より小さい
マークまで再生できる。一方、スポットサイズを大きく
すると、振幅はより小さくなり、小さいマークは再生で
きなくなる。
【0041】図29(b)は、3Tマーク−3Tスペー
スの単一周期信号を再生したときのスペクトラムであ
る。3Tマークを再生すると、周波数f3に再生信号の
基本波成分が生じ、nf3(nは2以上の整数)にマー
ク歪みに起因する高調波歪み成分が生ずる。図29
(c)は、11Tマーク−11Tスペースの単一周期信
号を再生したときのスペクトラムである。11Tマーク
を再生した場合にも、3Tの場合と同様に周波数f11に
基本波成分、nf11に高調波歪み成分が生ずるが、11
Tのほうが再生周波数が低い(すなわちマーク長が大き
い)ため、図29(a)で示した周波数特性の再生可能
な範囲内に多数の歪み成分が存在することになる。この
ことから、マーク長の小さな方が再生信号に歪みが生じ
にくいこと、およびスポットサイズを大きくすると再生
信号に歪みが生じにくいことがわかる。
スの単一周期信号を再生したときのスペクトラムであ
る。3Tマークを再生すると、周波数f3に再生信号の
基本波成分が生じ、nf3(nは2以上の整数)にマー
ク歪みに起因する高調波歪み成分が生ずる。図29
(c)は、11Tマーク−11Tスペースの単一周期信
号を再生したときのスペクトラムである。11Tマーク
を再生した場合にも、3Tの場合と同様に周波数f11に
基本波成分、nf11に高調波歪み成分が生ずるが、11
Tのほうが再生周波数が低い(すなわちマーク長が大き
い)ため、図29(a)で示した周波数特性の再生可能
な範囲内に多数の歪み成分が存在することになる。この
ことから、マーク長の小さな方が再生信号に歪みが生じ
にくいこと、およびスポットサイズを大きくすると再生
信号に歪みが生じにくいことがわかる。
【0042】本実施形態の効果を確かめるために行った
比較実験(実施例)について以下に説明する。光ディス
ク1201の基板には、直径120mm、厚さ0.6m
mのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂基板に
は、凸凹形状の位相ピットをあらかじめアドレス情報と
してプリフォーマットし、セクタ領域には記録用ガイド
溝を形成した。ガイド溝のピッチは1.2μmである。
基板上に保護膜、相変化記録膜、保護膜、反射膜をスパ
ッタリング法により成膜し、その上に保護基板を接着し
た。
比較実験(実施例)について以下に説明する。光ディス
ク1201の基板には、直径120mm、厚さ0.6m
mのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂基板に
は、凸凹形状の位相ピットをあらかじめアドレス情報と
してプリフォーマットし、セクタ領域には記録用ガイド
溝を形成した。ガイド溝のピッチは1.2μmである。
基板上に保護膜、相変化記録膜、保護膜、反射膜をスパ
ッタリング法により成膜し、その上に保護基板を接着し
た。
【0043】保護膜としてZnS−SiO2、相変化記
録膜としてTe−Sb−Ge、反射膜としてAlを用い
た。そして、スピンドルモーター1207によりこのデ
ィスクを線速度8.2m/sで回転させ、波長660n
mのレーザ光を開口数(NA)0.6の対物レンズで集
束させて記録を行なった。スポットサイズの半値全幅は
0.62μmである。
録膜としてTe−Sb−Ge、反射膜としてAlを用い
た。そして、スピンドルモーター1207によりこのデ
ィスクを線速度8.2m/sで回転させ、波長660n
mのレーザ光を開口数(NA)0.6の対物レンズで集
束させて記録を行なった。スポットサイズの半値全幅は
0.62μmである。
【0044】記録再生時のレーザ光のパワーは、Pp=
12mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情
報の変調方式はDVDで用いられている(8−16)パ
ルス幅変調を用いた。最短マーク長(すなわち、3Tの
マーク長)は0.42μmとした。
12mW、Pb=4mW、Pr=1mWとした。記録情
報の変調方式はDVDで用いられている(8−16)パ
ルス幅変調を用いた。最短マーク長(すなわち、3Tの
マーク長)は0.42μmとした。
【0045】まず、最短周期である3Tマーク(3T
m)−3Tスペース(3Ts)から、11Tマーク(1
1Tm)−11Tスペース(11Ts)までの単一周期
信号を冷却パルスを付加して記録し、再生信号の波形を
観測した。3Tマークを記録するときの記録パルスの幅
Ttp3は1.5T、冷却パルスの幅Tcp3は1T、冷
却パルスパワーレベルPb2=1mWとした(但し、T
tp3,Tcp3の定義は図26(a)を参照)。また、
5T以上11T以下のマークを記録するときの記録パル
スは、始端パルスの幅Ttpnは1.5T、サブパルス
幅Tspn・終端パルス幅Tlpnは0.5T、冷却パル
スの幅Tcpnは1Tとした(但し、nは整数で4≦n
≦11。Ttp11, Tsp11,Tlp11,Tcp11の定
義は図28(a)を参照)。冷却パルスパワーレベル
は、3Tマークの場合と同様にPb2=1mWとした。測
定は、再生信号のスペクトラムから基本波および高調波
成分を観測し、歪み率を求めることにより行った。測定
に用いたスペクトラムアナライザは、ヒューレット・パ
ッカード社の4396Aである。基本波の振幅をAf、n次高
調波の振幅をAn、観測可能な高調波の最大の次数をm
として、再生信号の歪み率を以下のように定義した。
m)−3Tスペース(3Ts)から、11Tマーク(1
1Tm)−11Tスペース(11Ts)までの単一周期
信号を冷却パルスを付加して記録し、再生信号の波形を
観測した。3Tマークを記録するときの記録パルスの幅
Ttp3は1.5T、冷却パルスの幅Tcp3は1T、冷
却パルスパワーレベルPb2=1mWとした(但し、T
tp3,Tcp3の定義は図26(a)を参照)。また、
5T以上11T以下のマークを記録するときの記録パル
スは、始端パルスの幅Ttpnは1.5T、サブパルス
幅Tspn・終端パルス幅Tlpnは0.5T、冷却パル
スの幅Tcpnは1Tとした(但し、nは整数で4≦n
≦11。Ttp11, Tsp11,Tlp11,Tcp11の定
義は図28(a)を参照)。冷却パルスパワーレベル
は、3Tマークの場合と同様にPb2=1mWとした。測
定は、再生信号のスペクトラムから基本波および高調波
成分を観測し、歪み率を求めることにより行った。測定
に用いたスペクトラムアナライザは、ヒューレット・パ
ッカード社の4396Aである。基本波の振幅をAf、n次高
調波の振幅をAn、観測可能な高調波の最大の次数をm
として、再生信号の歪み率を以下のように定義した。
【0046】
【数1】
【0047】図30は、マーク長と測定した歪み率との
関係を示す図である。この結果、3Tマーク−3Tスペ
ースから5Tマーク−5Tスペースまでの短い周期を記
録した場合には、再生信号の歪み率が0.05以下であ
り、再生には問題ないレベルであった。5Tマークのマ
ーク長は0.70μmであり、スポットサイズが0.6
2μmである。従って、マーク長MLとスポットサイズ
wとの比がML/w<1.2の場合には、スポットに対
してマークが相対的に小さいため、冷却パルスを付加し
ても再生波形への影響が小さいことがわかった。
関係を示す図である。この結果、3Tマーク−3Tスペ
ースから5Tマーク−5Tスペースまでの短い周期を記
録した場合には、再生信号の歪み率が0.05以下であ
り、再生には問題ないレベルであった。5Tマークのマ
ーク長は0.70μmであり、スポットサイズが0.6
2μmである。従って、マーク長MLとスポットサイズ
wとの比がML/w<1.2の場合には、スポットに対
してマークが相対的に小さいため、冷却パルスを付加し
ても再生波形への影響が小さいことがわかった。
【0048】次に、最短周期である3Tマーク(3T
m)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号を記録し
て振幅とジッタを測定した。記録パルスの幅Ttp3は
1.5T、冷却パルスの幅Tcp3は1T、冷却パルス
パワーレベルPb2=1mWとした。冷却パルスを付加
した場合としない場合との両方で、再生信号のC/N
(信号対雑音比)および振幅をRBW(Resolution Ban
d Width, 分解能バンド幅)=30kHzで測定して比
較した。C/N測定に用いたスペクトラムアナライザ
は、ヒューレット・パッカード社の4396Aである。冷却
パルスを付加しない場合にはC/Nが50.2dBであ
ったのに対し、冷却パルスを付加すると51.5dBと
1.3dB向上し、再生信号の振幅も同様に1.3dB
向上した。
m)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号を記録し
て振幅とジッタを測定した。記録パルスの幅Ttp3は
1.5T、冷却パルスの幅Tcp3は1T、冷却パルス
パワーレベルPb2=1mWとした。冷却パルスを付加
した場合としない場合との両方で、再生信号のC/N
(信号対雑音比)および振幅をRBW(Resolution Ban
d Width, 分解能バンド幅)=30kHzで測定して比
較した。C/N測定に用いたスペクトラムアナライザ
は、ヒューレット・パッカード社の4396Aである。冷却
パルスを付加しない場合にはC/Nが50.2dBであ
ったのに対し、冷却パルスを付加すると51.5dBと
1.3dB向上し、再生信号の振幅も同様に1.3dB
向上した。
【0049】また、再生信号処理回路1208中にブー
スト量+6dB、ブースト周波数12MHzの3タップ
イコライザと2値化用のコンパレータ回路とを設け、2
値化出力信号のジッタを測定した。ジッタ測定に用いた
タイムインターバルアナライザは、インターナショナル
・テスト・インスツルメンツ社のDTA-8850である。ジッ
タは、信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとの
標準偏差を、それぞれウィンドウ幅(すなわちクロック
周期)で除したものを2乗平均して求めた。冷却パルス
を付加しない場合にはジッタが10.8%であったのに
対し、冷却パルスを付加すると9.9%と0.9%向上
した。
スト量+6dB、ブースト周波数12MHzの3タップ
イコライザと2値化用のコンパレータ回路とを設け、2
値化出力信号のジッタを測定した。ジッタ測定に用いた
タイムインターバルアナライザは、インターナショナル
・テスト・インスツルメンツ社のDTA-8850である。ジッ
タは、信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとの
標準偏差を、それぞれウィンドウ幅(すなわちクロック
周期)で除したものを2乗平均して求めた。冷却パルス
を付加しない場合にはジッタが10.8%であったのに
対し、冷却パルスを付加すると9.9%と0.9%向上
した。
【0050】次に、最長周期である11Tマーク(11
Tm)−11Tスペース(11Ts)の単一周期信号を
記録した。始端パルスの幅Ttp11は1.5T、サブパ
ルス幅Tsp11・終端パルス幅Tlp11は0.5T、冷
却パルスの幅Tcp11は1T、冷却パルスパワーレベル
Pb2=1mWとした。冷却パルスを付加した場合とし
ない場合との両方で、再生信号のジッタを3Tマーク−
3Tスペースの場合と同様にして比較すると、冷却パル
スを付加した場合には11.4%であったのに対し、冷
却パルスを付加しない場合には10.0%と1.4%向
上した。
Tm)−11Tスペース(11Ts)の単一周期信号を
記録した。始端パルスの幅Ttp11は1.5T、サブパ
ルス幅Tsp11・終端パルス幅Tlp11は0.5T、冷
却パルスの幅Tcp11は1T、冷却パルスパワーレベル
Pb2=1mWとした。冷却パルスを付加した場合とし
ない場合との両方で、再生信号のジッタを3Tマーク−
3Tスペースの場合と同様にして比較すると、冷却パル
スを付加した場合には11.4%であったのに対し、冷
却パルスを付加しない場合には10.0%と1.4%向
上した。
【0051】さらに、(8−16)変調のランダム信号
を記録した。始端パルス幅は、マークの長さおよびマー
クの前のスペースの長さに応じて、所定のマーク長にな
るように調整した。また、終端パルス幅と冷却パルスと
の位置は、マークの長さおよびマークの後のスペースの
長さに応じて、所定のマーク長になるように調整した
(これらの調整については、例えば特開平7-129959号公
報に記載されている)。すべてのマークに冷却パルスを
付加しない場合、すべてのマークに冷却パルスを付加し
た場合、3Tマークのみに冷却パルスを付加した場合
(本実施形態に相当)の3通りについて再生信号のジッ
タを比較した。その結果、すべてのマークに冷却パルス
を付加しない場合にはジッタ10.5%、すべてのマー
クに冷却パルスを付加した場合にはジッタ10.7%だ
ったのに対し、3Tマークのみに冷却パルスを付加した
場合にはジッタが9.9%に改善した。
を記録した。始端パルス幅は、マークの長さおよびマー
クの前のスペースの長さに応じて、所定のマーク長にな
るように調整した。また、終端パルス幅と冷却パルスと
の位置は、マークの長さおよびマークの後のスペースの
長さに応じて、所定のマーク長になるように調整した
(これらの調整については、例えば特開平7-129959号公
報に記載されている)。すべてのマークに冷却パルスを
付加しない場合、すべてのマークに冷却パルスを付加し
た場合、3Tマークのみに冷却パルスを付加した場合
(本実施形態に相当)の3通りについて再生信号のジッ
タを比較した。その結果、すべてのマークに冷却パルス
を付加しない場合にはジッタ10.5%、すべてのマー
クに冷却パルスを付加した場合にはジッタ10.7%だ
ったのに対し、3Tマークのみに冷却パルスを付加した
場合にはジッタが9.9%に改善した。
【0052】以上述べたように、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設
ける本発明に係る光学的情報記録再生方法により、歪み
のない再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号
の振幅が増大するので、正しく情報を再生できるという
点で優れた効果が得られる。
ークの記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設
ける本発明に係る光学的情報記録再生方法により、歪み
のない再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号
の振幅が増大するので、正しく情報を再生できるという
点で優れた効果が得られる。
【0053】また、図1の別の実施の形態として、記録
パルス間のパワーを消去パワー以下にしてもよい。この
第2の実施の形態を、図6および図7〜図9を用いて以
下説明する。図6は、第2の実施の形態における記録信
号生成回路1204の各部分の信号とレーザのパワー変
化とを説明する図である。図6(a)は記録データ信
号、図6(b)は検出回路101から発せられる3Tマ
ーク判別信号、図6(c)は始端パルス発生回路102
が出力する信号、図6(d)はサブパルス発生回路10
3が出力する信号、図6(e)は終端パルス発生回路1
04が出力する信号、図6(f)は冷却パルス発生回路
105が出力する信号、図6(g)は光ヘッド1206
から照射されるレーザのパワー変化を示す。
パルス間のパワーを消去パワー以下にしてもよい。この
第2の実施の形態を、図6および図7〜図9を用いて以
下説明する。図6は、第2の実施の形態における記録信
号生成回路1204の各部分の信号とレーザのパワー変
化とを説明する図である。図6(a)は記録データ信
号、図6(b)は検出回路101から発せられる3Tマ
ーク判別信号、図6(c)は始端パルス発生回路102
が出力する信号、図6(d)はサブパルス発生回路10
3が出力する信号、図6(e)は終端パルス発生回路1
04が出力する信号、図6(f)は冷却パルス発生回路
105が出力する信号、図6(g)は光ヘッド1206
から照射されるレーザのパワー変化を示す。
【0054】また、図7(a)〜(c)は3Tマーク
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図8(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tスペ
ース(6Ts)の単一周期信号、図9(a)〜(c)は
11Tマーク(11Tm)−11Tスペース(11T
s)の単一周期信号それぞれを記録再生する場合の、光
ディスク1201のトラック上への記録状態、および記
録再生の動作を説明する図である。
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図8(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tスペ
ース(6Ts)の単一周期信号、図9(a)〜(c)は
11Tマーク(11Tm)−11Tスペース(11T
s)の単一周期信号それぞれを記録再生する場合の、光
ディスク1201のトラック上への記録状態、および記
録再生の動作を説明する図である。
【0055】図6〜図9の第2の実施の形態と、第1の
実施の形態(図2〜図5)と異なるのは以下の点であ
る。図6(f)に示すように、3T以外のマークについ
て記録パルスの間で冷却パルスを発生させ、図6(g)
および図8(a)、図9(a)に示すように、記録パル
スの間を冷却パルスレベルPb2まで下げていることで
ある。この場合、第1の実施の形態と比べ、マーク後半
部分の温度上昇を抑えることができる。従って、線速度
が遅い場合には、長いマークを再生したときの信号歪み
をより小さくすることが可能である。
実施の形態(図2〜図5)と異なるのは以下の点であ
る。図6(f)に示すように、3T以外のマークについ
て記録パルスの間で冷却パルスを発生させ、図6(g)
および図8(a)、図9(a)に示すように、記録パル
スの間を冷却パルスレベルPb2まで下げていることで
ある。この場合、第1の実施の形態と比べ、マーク後半
部分の温度上昇を抑えることができる。従って、線速度
が遅い場合には、長いマークを再生したときの信号歪み
をより小さくすることが可能である。
【0056】さらに、第3の実施の形態として、図10
〜図14に示すように、冷却パルスの後にアニールパル
スを付加した記録再生方法としてもよい。図10は第3
の実施の形態における記録信号生成回路1204の構成
を示す図である。
〜図14に示すように、冷却パルスの後にアニールパル
スを付加した記録再生方法としてもよい。図10は第3
の実施の形態における記録信号生成回路1204の構成
を示す図である。
【0057】図1の構成と異なるのは、消去パワーより
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るためのアニールパルス発生回路601、およびその後
に第2の選択回路602を設けて、所定の長さより短い
マークの場合のみアニールパルスを発生させることであ
る。
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るためのアニールパルス発生回路601、およびその後
に第2の選択回路602を設けて、所定の長さより短い
マークの場合のみアニールパルスを発生させることであ
る。
【0058】図11は、第3の実施の形態における記録
信号生成回路1204の各部分の信号とレーザのパワー
変化とを説明する図である。図11(a)は記録データ
信号、図11(b)は検出回路101から発せられる3
Tマーク判別信号、図11(c)は始端パルス発生回路
102が出力する信号、図11(d)はサブパルス発生
回路103が出力する信号、図11(e)は終端パルス
発生回路104が出力する信号、図11(f)は冷却パ
ルス発生回路105が出力する信号、図11(g)はア
ニールパルス発生回路601が出力する信号、図11
(h)は光ヘッド1206から照射されるレーザのパワ
ー変化を示す。
信号生成回路1204の各部分の信号とレーザのパワー
変化とを説明する図である。図11(a)は記録データ
信号、図11(b)は検出回路101から発せられる3
Tマーク判別信号、図11(c)は始端パルス発生回路
102が出力する信号、図11(d)はサブパルス発生
回路103が出力する信号、図11(e)は終端パルス
発生回路104が出力する信号、図11(f)は冷却パ
ルス発生回路105が出力する信号、図11(g)はア
ニールパルス発生回路601が出力する信号、図11
(h)は光ヘッド1206から照射されるレーザのパワ
ー変化を示す。
【0059】また、図12(a)〜(c)は3Tマーク
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図13(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tス
ペース(6Ts)の単一周期信号、図14(a)〜
(c)は11Tマーク(11Tm)−11Tスペース
(11Ts)の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク1201のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図13(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tス
ペース(6Ts)の単一周期信号、図14(a)〜
(c)は11Tマーク(11Tm)−11Tスペース
(11Ts)の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク1201のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。
【0060】図11〜図14の第3の実施の形態の動作
と、第2の実施形態(図6〜図9)と異なるのは以下の
点である。図11(g)に示すように3Tマークについ
て冷却パルスの後にアニールパルスを発生させ、図11
(g)および図12(a)に示すように、冷却パルスの
後でパワーをアニールパルスレベルPp2まで上げてい
ることである。このアニールパルスレベルPp2は、消
去パワーより大きく、記録パワーより小さい、すなわち
記録膜を溶融させないレベルとする。この場合、3Tマ
ークの記録において、冷却パルス直後のパワーPp2が
Pbより高いので、マーク802形成時の後端部分の温
度が結晶化温度より十分高くなる(ただし、融点よりは
低い)。その結果、マーク802の後端部のより大きい
領域を再結晶化させることができ、マークの長さに対し
て幅のより広い3Tマークを形成できる利点がある。な
お、第3の実施の形態において、記録パルス間のパワー
レベルを消去パワーレベルととしても同様の効果が得ら
れる。
と、第2の実施形態(図6〜図9)と異なるのは以下の
点である。図11(g)に示すように3Tマークについ
て冷却パルスの後にアニールパルスを発生させ、図11
(g)および図12(a)に示すように、冷却パルスの
後でパワーをアニールパルスレベルPp2まで上げてい
ることである。このアニールパルスレベルPp2は、消
去パワーより大きく、記録パワーより小さい、すなわち
記録膜を溶融させないレベルとする。この場合、3Tマ
ークの記録において、冷却パルス直後のパワーPp2が
Pbより高いので、マーク802形成時の後端部分の温
度が結晶化温度より十分高くなる(ただし、融点よりは
低い)。その結果、マーク802の後端部のより大きい
領域を再結晶化させることができ、マークの長さに対し
て幅のより広い3Tマークを形成できる利点がある。な
お、第3の実施の形態において、記録パルス間のパワー
レベルを消去パワーレベルととしても同様の効果が得ら
れる。
【0061】さらに、第4の実施の形態として、図15
〜図19に示すように3Tマークのみ、他の長さのマー
クより高い記録パワーで記録する方法としてもよい。図
15は第4の実施の形態における記録信号生成回路12
04の構成を示す図である。
〜図19に示すように3Tマークのみ、他の長さのマー
クより高い記録パワーで記録する方法としてもよい。図
15は第4の実施の形態における記録信号生成回路12
04の構成を示す図である。
【0062】図1の構成と異なるのは、消去パワーより
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るための第2の記録パルス発生回路901、およびその
後に第2の選択回路902を設けて、特に短いマークの
場合のみ第2の記録パルスを発生させることである。
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るための第2の記録パルス発生回路901、およびその
後に第2の選択回路902を設けて、特に短いマークの
場合のみ第2の記録パルスを発生させることである。
【0063】図16は、第4の実施の形態における記録
信号生成回路1204の各部分の信号と、レーザのパワ
ー変化とを説明する図である。図16(a)は記録デー
タ信号、図16(b)は検出回路101から発せられる
3Tマーク判別信号、図16(c)は始端パルス発生回
路102が出力する信号、図16(d)はサブパルス発
生回路103が出力する信号、図16(e)は終端パル
ス発生回路104が出力する信号、図16(f)は冷却
パルス発生回路105が出力する信号、図16(g)は
第2の記録パルス発生回路901が出力する信号、図1
6(h)は光ヘッド1206から照射されるレーザのパ
ワー変化を示す。
信号生成回路1204の各部分の信号と、レーザのパワ
ー変化とを説明する図である。図16(a)は記録デー
タ信号、図16(b)は検出回路101から発せられる
3Tマーク判別信号、図16(c)は始端パルス発生回
路102が出力する信号、図16(d)はサブパルス発
生回路103が出力する信号、図16(e)は終端パル
ス発生回路104が出力する信号、図16(f)は冷却
パルス発生回路105が出力する信号、図16(g)は
第2の記録パルス発生回路901が出力する信号、図1
6(h)は光ヘッド1206から照射されるレーザのパ
ワー変化を示す。
【0064】また、図17(a)〜(c)は3Tマーク
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図18(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tス
ペース(6Ts)の単一周期信号、図19(a)〜
(c)は11Tマーク(11Tm)−11Tスペース
(11Ts)の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク1201のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。
(3Tm)−3Tスペース(3Ts)の単一周期信号、
図18(a)〜(c)は6Tマーク(6Tm)−6Tス
ペース(6Ts)の単一周期信号、図19(a)〜
(c)は11Tマーク(11Tm)−11Tスペース
(11Ts)の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク1201のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。
【0065】図16〜図19の第4の実施の形態の動作
と、第2の実施形態(図6〜図9)と異なるのは以下の
点である。図16(g)に示すように、3Tマークにつ
いて第2の記録パルスを発生させ、図16(h)および
図17(a)に示すように、3Tマークのみ記録パルス
のパワーレベルをPpより高いPp2としていることで
ある。この場合、3TマークのパワーレベルがPpの時
に比べ、ガイド溝と直角方向の溶融領域が増大するた
め、より幅の大きな3Tマークを記録できる利点がある
(ガイド溝方向のマーク長は、冷却パルスによるマーク
後端の再結晶化で制限されるので、3Tのマーク長はパ
ワーレベルPpの時と変わらない)。なお、第4の実施
の形態において、記録パルス間のパワーレベルを消去パ
ワーレベルととしても同様の効果が得られる。
と、第2の実施形態(図6〜図9)と異なるのは以下の
点である。図16(g)に示すように、3Tマークにつ
いて第2の記録パルスを発生させ、図16(h)および
図17(a)に示すように、3Tマークのみ記録パルス
のパワーレベルをPpより高いPp2としていることで
ある。この場合、3TマークのパワーレベルがPpの時
に比べ、ガイド溝と直角方向の溶融領域が増大するた
め、より幅の大きな3Tマークを記録できる利点がある
(ガイド溝方向のマーク長は、冷却パルスによるマーク
後端の再結晶化で制限されるので、3Tのマーク長はパ
ワーレベルPpの時と変わらない)。なお、第4の実施
の形態において、記録パルス間のパワーレベルを消去パ
ワーレベルととしても同様の効果が得られる。
【0066】なお、上記の冷却パルス/アニールパルス
/第2の記録パルスを設けるマーク長は最短マークであ
る3Tのみとしたが、5T以下のすべてのマークに(す
なわち、ML/w<1.2を満たすマーク長のすべての
マークに)設ければ、4Tと5Tの再生信号振幅も大き
くなるので、正しい情報の再生により効果的である。た
だ、単一のマーク長のマークに冷却パルス/アニールパ
ルス/第2の記録パルスを設ける記録信号生成回路が、
回路構成が最も単純になる。従って、ML/w<1.2
を満たすマーク長の範囲内で、必要に応じて冷却パルス
/アニールパルス/第2の記録パルスを設けるマーク長
を決定すればよい。
/第2の記録パルスを設けるマーク長は最短マークであ
る3Tのみとしたが、5T以下のすべてのマークに(す
なわち、ML/w<1.2を満たすマーク長のすべての
マークに)設ければ、4Tと5Tの再生信号振幅も大き
くなるので、正しい情報の再生により効果的である。た
だ、単一のマーク長のマークに冷却パルス/アニールパ
ルス/第2の記録パルスを設ける記録信号生成回路が、
回路構成が最も単純になる。従って、ML/w<1.2
を満たすマーク長の範囲内で、必要に応じて冷却パルス
/アニールパルス/第2の記録パルスを設けるマーク長
を決定すればよい。
【0067】また、上記の実施の形態において、冷却パ
ルス/アニールパルス/第2の記録パルスを設けるマー
クの長さは、冷却パルス/アニールパルス/第2の記録
パルスを設けないマークの幅よりも小さくすることが、
冷却パルス/アニールパルス/第2の記録パルスを設け
ることによるマーク幅拡大の効果を最大に得る観点から
好ましい。
ルス/アニールパルス/第2の記録パルスを設けるマー
クの長さは、冷却パルス/アニールパルス/第2の記録
パルスを設けないマークの幅よりも小さくすることが、
冷却パルス/アニールパルス/第2の記録パルスを設け
ることによるマーク幅拡大の効果を最大に得る観点から
好ましい。
【0068】また、上記の実施の形態において、記録パ
ルスから一定のディレイの後に冷却パルス/アニールパ
ルスを付加しても良い(すなわち、記録パワーレベルの
後、一定の時間の消去パワーレベルを経由して冷却パワ
ーレベルにする)。しかし、マーク後端の冷却速度を最
大にしてマーク幅を大きくするためには、本実施の形態
のように、記録パルスの直後に冷却パルス/アニールパ
ルスを設けるのが最も好ましい。
ルスから一定のディレイの後に冷却パルス/アニールパ
ルスを付加しても良い(すなわち、記録パワーレベルの
後、一定の時間の消去パワーレベルを経由して冷却パワ
ーレベルにする)。しかし、マーク後端の冷却速度を最
大にしてマーク幅を大きくするためには、本実施の形態
のように、記録パルスの直後に冷却パルス/アニールパ
ルスを設けるのが最も好ましい。
【0069】また、ディスクの層数、構成や材料も上記
に限るものではない。さらに、上記の記録パワー、線速
度、変調方式、記録密度、各パルスの長さ・位置等は本
実施の形態で示したものに限るわけではなく、記録条件
や媒体に応じて適切な値を設定することが可能なことは
言うまでもない。
に限るものではない。さらに、上記の記録パワー、線速
度、変調方式、記録密度、各パルスの長さ・位置等は本
実施の形態で示したものに限るわけではなく、記録条件
や媒体に応じて適切な値を設定することが可能なことは
言うまでもない。
【0070】
【発明の効果】以上述べたように本発明は、所定の長さ
より短いマークの記録時にのみ冷却パルス/アニールパ
ルス/第2の記録パルスを設けることにより、歪みのな
い再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号の振
幅が増大するので、正しく情報を再生できるという優れ
た光学的記録再生装置を実現できるものである。
より短いマークの記録時にのみ冷却パルス/アニールパ
ルス/第2の記録パルスを設けることにより、歪みのな
い再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号の振
幅が増大するので、正しく情報を再生できるという優れ
た光学的記録再生装置を実現できるものである。
【図1】本発明の第1の実施形態における記録信号生成
回路の構成図
回路の構成図
【図2】本発明の第1の実施形態における記録信号生成
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図
【図3】本発明の第1の実施形態における一例のレーザ
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
【図4】本発明の第1の実施形態における他の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図5】本発明の第1の実施形態における別の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図6】本発明の第2の実施形態における記録信号生成
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図
【図7】本発明の第2の実施形態における一例のレーザ
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
【図8】本発明の第2の実施形態における他の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図9】本発明の第2の実施形態における別の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図10】本発明の第3の実施形態における記録信号生
成回路の構成図
成回路の構成図
【図11】本発明の第3の実施形態における記録信号生
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図
【図12】本発明の第3の実施形態における一例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図13】本発明の第3の実施形態における他の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
【図14】本発明の第3の実施形態における別の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
【図15】本発明の本発明の第4の実施形態における記
録信号生成回路の構成図
録信号生成回路の構成図
【図16】本発明の第4の実施形態における記録信号生
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図
【図17】本発明の第4の実施形態における一例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図
【図18】本発明の第4の実施形態における他の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
【図19】本発明の第4の実施形態における別の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図
【図20】光学的情報記録再生装置の構成図
【図21】従来の形態における記録信号生成回路の構成
図
図
【図22】従来の形態における記録信号生成回路の各部
の信号波形図およびレーザパワーの変化波形図
の信号波形図およびレーザパワーの変化波形図
【図23】従来の形態におけるレーザパワーの一例にお
ける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態図、
再生信号の波形図
ける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態図、
再生信号の波形図
【図24】従来の形態におけるレーザパワーの他の例に
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
【図25】従来の形態におけるレーザパワーの別の例に
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図
【図26】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した一
例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイド
溝上への記録状態図、再生信号の波形図
例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイド
溝上への記録状態図、再生信号の波形図
【図27】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した他
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図
【図28】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した別
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図
【図29】スポットサイズと光学系の周波数特性図、3
Tおよび11T周期信号再生時のスペクトラムを示す波
形図
Tおよび11T周期信号再生時のスペクトラムを示す波
形図
【図30】マーク長と再生信号の歪み率との関係を示す
関係図
関係図
101 マーク/スペース長さ検出回路 102 始端パルス発生回路 103 サブパルス発生回路 104 終端パルス発生回路 105 冷却パルス発生回路 106 加算回路 107 選択回路 114 記録パルス発生回路 301 ガイド溝 302 マーク(非晶質領域) 303 結晶質領域 601 アニールパルス発生回路 602 第2の選択回路 901 第2の記録パルス発生回路 1201 光ディスク 1202 システム制御回路 1203 変調回路 1204 記録信号生成回路 1205 レーザ駆動回路 1206 光ヘッド 1207 スピンドルモーター 1208 再生信号処理回路 1209 復調回路
Claims (16)
- 【請求項1】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、 前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列で記録し、 所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスを設けることを
特徴とする光学的情報記録再生方法。 - 【請求項2】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、 前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーよりさらに低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録し、 所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスを設けることを
特徴とする光学的情報記録再生方法。 - 【請求項3】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、 前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列で記録し、 所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パ
ルスの後に前記消去パワーより高く前記記録パワーより
低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換えたアニ
ールパルスとを設けることを特徴とする光学的情報記録
再生方法。 - 【請求項4】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、 前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーよりさらに低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録し、 所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パ
ルスの後に前記消去パワーより高く前記記録パワーより
低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換えたアニ
ールパルスとを設けることを特徴とする光学的情報記録
再生方法。 - 【請求項5】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、 所定の長さより短いマークの記録時にのみ、記録パルス
列を構成する複数の記録パルスに、前記記録パルスの内
少なくとも一つの記録パルスのパワーが他の記録パルス
のパワーに比べ高い第2の記録パルスを含ませることを
特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の光学的情報
記録再生方法。 - 【請求項6】レーザ光のスポットサイズの半値全幅を
w、所定の長さより短いマークの長さをMLとすると、
ML/w<1.2を満たすことを特徴とする請求項1〜
5のいずれかに記載の光学的情報記録再生方法。 - 【請求項7】所定の長さより短いマークの長さは、所定
の長さ以上のマークの幅よりも小さくすることを特徴と
する請求項1〜6のいずれかに記載の光学的情報記録再
生方法。 - 【請求項8】所定の長さより短いマークが、最短マーク
のみであることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに
記載の光学的情報記録再生方法。 - 【請求項9】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生装置であって、 記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マーク長さに対応して記録パ
ワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワーと
を交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列
を発生する記録パルス発生手段と、前記長さ判別手段の
判別結果に応じて、前記マークの長さが所定の長さより
短いときのみ、前記記録パルス列の後に、前記消去パワ
ーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換え
た冷却パルスを発生する冷却パルス発生手段と、前記記
録パルス列および前記冷却パルスに基づき前記レーザ光
を照射するレーザ駆動手段とを備えることを特徴とする
光学的情報記録再生装置。 - 【請求項10】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、 記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マーク長さに対応して記録パ
ワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワーよ
りさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一
つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記記録パルス列および前記冷却パル
スに基づき前記レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを
備えることを特徴とする光学的情報記録再生装置。 - 【請求項11】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、 記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して記録
パワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワー
よりさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応じ
て、前記マークの長さが所定の長さより短いときのみ、
前記冷却パルスの後に、前記消去パワーより高く前記記
録パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えたアニールパルスを発生するアニールパルス発生
手段と、前記記録パルス列、前記冷却パルスおよび前記
アニールパルスに基づき前記レーザ光を照射するレーザ
駆動手段とを備えることを特徴とする光学的情報記録再
生装置。 - 【請求項12】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、 記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して記録
パワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワー
よりさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた単一の冷却パルスまたは複数
の冷却パルス列を発生する冷却パルス発生手段と、前記
長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが
所定の長さより短いときのみ、前記冷却パルスの後に、
前記消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワー
と前記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルス
を発生するアニールパルス発生手段と、前記記録パルス
列、前記冷却パルスおよび前記アニールパルスに基づき
前記レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを備えること
を特徴とする光学的情報記録再生装置。 - 【請求項13】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよび/またはスペースの長
さとして記録またはマークおよびスペースの長さで記録
された前記マークを消去する記録再生装置であって、 長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが
所定の長さより短いときのみ、記録パワーよりも高いパ
ワーと消去パワーとを交互に切り換えた第2の記録パル
スを少なくとも一つ以上発生する第2の記録パルス発生
手段とを備えることを特徴とする請求項9〜12のいず
れかに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項14】レーザ光のスポットサイズの半値全幅を
w、所定の長さより短いマークの長さをMLとすると、
ML/w<1.2を満たすことを特徴とする請求項9〜
13のいずれかに記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項15】所定の長さより短いマークの長さは、所
定の長さ以上のマークの幅よりも小さくすることを特徴
とする請求項9〜14のいずれかに記載の光学的情報記
録再生装置。 - 【請求項16】所定の長さより短いマークが、最短マー
クのみであることを特徴とする請求項9〜15のいずれ
かに記載の光学的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10070163A JPH11273075A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10070163A JPH11273075A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11273075A true JPH11273075A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=13423624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10070163A Pending JPH11273075A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11273075A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8045437B2 (en) | 2002-06-18 | 2011-10-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for recording marks representing data in an information layer of an optical record carrier |
US8072863B2 (en) | 2004-12-28 | 2011-12-06 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Optical recording method, optical recording apparatus and optical storage medium |
-
1998
- 1998-03-19 JP JP10070163A patent/JPH11273075A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8045437B2 (en) | 2002-06-18 | 2011-10-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for recording marks representing data in an information layer of an optical record carrier |
US8072863B2 (en) | 2004-12-28 | 2011-12-06 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Optical recording method, optical recording apparatus and optical storage medium |
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