JPH11273075A

JPH11273075A - 光学的情報記録再生方法および光学的情報記録再生装置

Info

Publication number: JPH11273075A
Application number: JP10070163A
Authority: JP
Inventors: Kenji Narumi; 建治鳴海; Naoyasu Miyagawa; 直康宮川
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1998-03-19
Filing date: 1998-03-19
Publication date: 1999-10-08

Abstract

(57)【要約】【課題】記録密度を上げたときの再生信号の振幅低
下、また長いマークの歪みを抑制する光学的情報記録再
生方法を提供する。【解決手段】検出回路１０１でのマーク長検出結果に
基づき、所定の長さより短いマーク長の場合のみ選択回
路１０７を閉じて、冷却パルス発生回路１０５から冷却
パルス信号を発生させる。所定の長さより短いマークの
記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設けるこ
とにより、歪みのない再生信号を得られ短いマークでは
再生信号の振幅が増大する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に情報を記
録・再生する光学的情報記録媒体の記録再生方法および
光学的情報記録再生装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光学的に情報を記録する媒体とし
て、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発
されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密
度に情報を記録・再生できる媒体として注目されてい
る。

【０００３】以下に、従来の光ディスクの記録再生方法
および記録再生装置について、図面を参照しながら説明
する。

【０００４】図２０は光ディスクとして相変化型を用い
た場合の、従来の記録再生装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。

【０００５】１２０１は情報を記録再生する光ディスク
で、１２０２は記録再生装置全体を制御するシステム制
御回路である。１２０３は記録する情報に応じて２値化
された記録データ信号を発生させる記録信号変調器で、
１２０４は記録データ信号に応じてレーザを駆動するパ
ルスを発生させる記録信号生成回路である。１２０５は
記録信号生成回路が出力するパルスに応じて、光ヘッド
１２０６内のレーザを駆動させる電流を変調するレーザ
変調回路である。１２０６は光ヘッドであり、レーザ光
を集束して光ディスク１２０１に照射する。１２０７は
光ディスク１２０１を回転させるスピンドルモーターで
ある。１２０８は光ディスク１２０１からの反射光に基
づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理器であ
り、１２０９は再生情報を得るための復調回路である。

【０００６】図２１は記録信号生成回路１２０４の構成
を説明するブロック図である。１０１は記録データ信号
からマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する
検出回路、１０２はマークを形成するための先頭の記録
パルスを発生する始端パルス発生回路、１０４は後尾の
記録パルスを発生する終端パルス発生回路、１０３は始
端パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサ
ブパルス（マルチパルスとも呼ばれる）発生回路であ
る。始端パルス発生回路１０２、サブパルス発生回路１
０３、終端パルス発生回路１０４をあわせて記録パルス
発生回路１１４と呼ぶことにする。１０６は１０２〜１
０４の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算す
る加算回路である。

【０００７】次に、この従来の光ディスクの記録再生装
置の動作について、図２０を用いて説明する。

【０００８】まず、情報を再生する場合、スピンドルモ
ーター１２０７により光ディスク１２０１を回転させ、
光ヘッド１２０６内のレーザを低い一定パワーＰｒ（こ
れを再生パワーと呼ぶ）で点灯させる。レーザから出射
した光は回折限界まで絞り込まれた集束スポットとなり
光ディスク１２０１に照射される。光ディスク１２０１
からの反射光は光ヘッド１２０６内の検出器に導かれ、
情報再生のための信号やサーボ動作のための信号を得
る。再生信号処理回路１２０８において再生信号に対し
２値化やイコライズ等の処理を行ない、復調回路１２０
９で再生信号から再生情報を復調する。復調された再生
情報はシステム制御回路１２０２内のバッファメモリに
蓄積され、上位計算機に転送される。

【０００９】次に、情報を記録する場合の動作を図２２
〜図２５を用いて説明する。図２２は図２１における各
部分の信号とレーザのパワー変化を説明する波形図であ
る。図２２（ａ）は記録データ信号（図２１の１０
８）、図２２（ｂ）は始端パルス発生回路１０２が出力
する信号（図２１の１０９）、図２２（ｃ）はサブパル
ス発生回路１０３が出力する信号（図２１の１１０）、
図２２（ｄ）は終端パルス発生回路１０４が出力する信
号（図２１の１１１）、図２２（ｅ）は図２０における
光ヘッド１２０６から照射されるレーザのパワー変化を
示す。

【００１０】図２３（ａ）〜（ｃ）は３Ｔマーク（これ
を３Ｔｍで示す）−３Ｔスペース（これを３Ｔｓで示
す）の単一周期信号、図２４（ａ）〜（ｃ）は６Ｔマー
ク（６Ｔｍ）−６Ｔスペース（６Ｔｓ）の単一周期信
号、図２５（ａ）〜（ｃ）は１１Ｔマーク（１１Ｔｍ）
−１１Ｔスペース（１１Ｔｓ）の単一周期信号を記録再
生する場合の光ディスク１２０１のトラック上への記録
状態、および記録再生の動作を説明する図である（Ｔは
記録データ信号のチャネルクロック周期を表す）。図２
３〜図２５は説明を容易にするため、それぞれ３Ｔ、６
Ｔ、１１Ｔの単一周期信号を記録再生する場合を想定し
ている。また図２３〜図２５の各（ａ）はレーザのパワ
ー変化、図２３〜図２５の各（ｂ）は光ディスク１２０
１のガイド溝上への記録状態、図２３〜図２５の各
（ｃ）はそのガイド溝を再生したときの再生信号の変化
を示している。

【００１１】情報を記録する場合には、図２０に示す上
位計算機からシステム制御回路１２０２内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路１２０３に送られる。
そして記録情報はクロックに同期して変調・２値化さ
れ、記録データ信号となる（図２２(ａ)）。記録データ
信号は記録信号生成回路１２０４に入力される。

【００１２】記録信号生成回路１２０４ではまず、図２
１に示すマーク/スペース長さ検出回路１０１において
記録データ信号（図２２（ａ））の信号反転間隔がクロ
ック周期Ｔの何倍に相当するかを検出する。そして、マ
ークの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の
記録パルスを発生する。すなわち、図２２（ｂ）に示す
始端パルス、図２２（ｃ）に示すサブパルス、図２２
（ｄ）に示す終端パルスを発生する。その後、加算回路
１０６で（ｂ）〜（ｄ）の信号を加算し、レーザ変調回
路１２０５に入力する。レーザ駆動回路は記録パルスに
応じてレーザを駆動する電流を変調する。その結果、記
録パルスに応じて図２０に示す光ディスク１２０１に照
射されるレーザ光のパワーが図２２（ｅ）に示すように
変化する。

【００１３】図２０の光ヘッド１２０６により集束させ
た、Ｐｒより強いレーザ光（図２３〜図２５の各（ａ）
のレーザ光のパワーＰｐのことで、以下記録パワーとい
う）を光ディスク１２０１の記録膜に照射して記録膜の
温度を融点を越えて上昇させると、レーザ光の通過とと
もに溶融部分は急速に冷却されて非晶質（アモルファ
ス）状態の記録マーク３０２（図２３〜図２５の各
（ｂ））になる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上
融点以下の温度まで上昇させる程度のレーザ光（図２３
〜図２５の各（ａ）のレーザ光のパワーＰｂのことで、
以下消去パワーという）を集束して照射すると、照射部
の記録膜は結晶状態になる。

【００１４】このようにしてガイド溝３０１上には、記
録データ信号に対応した非晶質領域のマーク３０２と結
晶質領域３０３との記録パターンが形成される。そして
結晶質と非晶質との反射率の相違を利用して、情報の再
生が行われる（図２３〜図２５の各（ｃ））。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例えば
図２０および図２１の構成による上記従来の記録再生方
法では、記録密度が高い場合に再生信号の振幅が低下
し、正しく情報を再生できないという課題を有してい
た。以下、その課題について説明する。

【００１６】相変化記録をはじめとする熱記録では、レ
ーザ光を光ディスクに照射して熱エネルギーを与え、光
ディスクの記録膜の状態を変化させる。レーザ光による
熱エネルギーは、ディスクの記録膜面方向におおよそ等
方的に拡散する。そのため、ガイド溝方向に短い長さの
マークを記録しようとして記録パルスの幅を小さくする
と、ガイド溝に対して直角方向の溶融領域も小さくな
り、結果として形成されるマークの幅も小さくなる。す
なわち、図２３（ｂ）における３Ｔマークは、その長さ
が６Ｔマークの幅ＭＷ₆や１１Ｔマークの幅ＭＷ₁₁より
も小さいので、３Ｔマークの幅ＭＷ₃はＭＷ₆やＭＷ₁₁は
比べて極端に小さくなる。その結果、３Ｔマークを再生
したときの信号振幅（図２３（ｃ）のＡ₃に相当）が小
さくなり、短いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。

【００１７】これに対し、マークの幅を広げるため、記
録パルスの後に消去パワーレベルよりも低い冷却パルス
を付加する提案が特開昭63-113938号公報にてなされて
いる。ところがそのような記録再生方法では、特に長い
マークを記録したときには再生波形が歪むため、正しく
情報を再生できない課題を有していた。以下、その課題
について説明する。

【００１８】図２６〜図２８において、冷却パルスのパ
ワーレベルＰｂ₂は消去パワーレベルＰｂより低いの
で、マーク後端で溶融した部分はよりレーザビームの通
過とともに急速に冷却され、冷却パルス直後の消去パワ
ーＰｂでマーク３０２の後端が再結晶化し（図２６〜図
２８の３０３の領域に相当する）、マーク３０２の後端
が削れた形状となる。このとき、６Ｔマークや１１Ｔマ
ークのような長いマークでは、マーク後端部分のみの非
晶質領域が大きくなり、マークの後端（ＭＷ₆'，Ｍ
Ｗ₁₁'）がマークの前端（ＭＷ₆，ＭＷ₁₁）よりふくらん
だ形状となる。従って、６Ｔマークや１１Ｔマークを再
生したときの信号には歪みが生じ（Ａ₆，Ａ₁₁とＡ₆'，
Ａ₁₁'）、長いマークの情報を正しく再生できないとい
う問題があった。

【００１９】また、３Ｔマークのような短いマークにつ
いては、マークの非晶質領域が大きくなり、マークの幅
の拡大（ＭＷ₃'）に伴って再生したときの信号振幅（Ａ
₃'）も大きくなるものの、スポットサイズに対してマー
ク長が相対的に大きい場合には、６Ｔマークや１１Ｔマ
ークと同様に、マークの歪みが再生信号にも反映され
て、再生信号に歪みが生ずる可能性があった。

【００２０】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、高い記録密度で正しく情報を再生できる光学的情報
記録再生方法を提供することを目的とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る光学的情報記録再生方法は、光学的情
報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切り換えて照射
し、相変化記録膜の光学的特性を変化させ、データをマ
ークおよびスペースの長さとして記録またはマークおよ
びスペースの長さで記録された前記マークを消去する記
録再生方法であって、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パ
ルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時に
のみ、前記記録パルス列の後に前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを設ける構成、または前記マークは記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短い
マークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消
去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えた冷却パルスを設ける構成、または、前記マーク
は記録パワーと消去パワーとを交互に切り換えた少なく
とも一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより
短いマークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前
記消去パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互
に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを
設ける構成、または、前記マークは記録パワーと消去パ
ワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一
つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、前記記録パルス列の後に前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスと、前記冷却パルスの後に前記消去パ
ワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えたアニールパルスとを設ける
構成、の何れかとする。

【００２２】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ、記録パルス列を構成する複数の記
録パルスに、前記記録パルスの内少なくとも一つの記録
パルスのパワーが他の記録パルスのパワーに比べ高い第
２の記録パルスを含ませることが好ましい。

【００２３】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をｗ、所定の長さより短いマークの長さ
をＭＬとすると、ＭＬ／ｗ＜１．２を満たすことがより
好ましい。

【００２４】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。

【００２５】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生方法においては、所定の長さより短いマ
ークは最短マークのみであることが好ましい。

【００２６】本発明に係る第１の光学的情報記録再生装
置は、光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ光を切
り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変化さ
せ、データをマークおよびスペースの長さとして記録ま
たはマークおよびスペースの長さで記録された前記マー
クを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マ
ークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーとを交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パル
ス列を発生する記録パルス発生手段と、前記長さ判別手
段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定の長さ
より短いときのみ、前記記録パルス列の後に、前記消去
パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り
換えた冷却パルスを発生する冷却パルス発生手段と、前
記記録パルス列および前記冷却パルスに基づき前記レー
ザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、また
は、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを
判別する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して
記録パワーと消去パワーより低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列を発生する記
録パルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応
じて、前記マークの長さが所定の長さより短いときの
み、前記記録パルス列の後に、前記消去パワーより低い
パワーと前記消去パワーとを交互に切り換えた冷却パル
スを発生する冷却パルス発生手段と、前記記録パルス列
および前記冷却パルスに基づき前記レーザ光を照射する
レーザ駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前
記マークおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別
手段と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去
パワーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応じ
て、前記マークの長さが所定の長さより短いときのみ、
前記冷却パルスの後に、前記消去パワーより高く前記記
録パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えたアニールパルスを発生するアニールパルス発生
手段と、前記記録パルス列、前記冷却パルスおよび前記
アニールパルスに基づき前記レーザ光を照射するレーザ
駆動手段とを備える構成、または、記録すべき前記マー
クおよび前記スペースの長さを判別する長さ判別手段
と、前記マークの長さに対応して記録パワーと消去パワ
ーより低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段と、
前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長
さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス列の
後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パワー
とを交互に切り換えた単一の冷却パルスまたは複数の冷
却パルス列を発生する冷却パルス発生手段と、前記長さ
判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが所定
の長さより短いときのみ、前記冷却パルスの後に、前記
消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワーと前
記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルスを発
生するアニールパルス発生手段と、前記記録パルス列、
前記冷却パルスおよび前記アニールパルスに基づき前記
レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを備える構成、の
何れかとする。

【００２７】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、長さ判別手段の判別結
果に応じて、前記マークの長さが所定の長さより短いと
きのみ、記録パワーよりも高いパワーと消去パワーとを
交互に切り換えた第２の記録パルスを少なくとも一つ以
上発生する第２の記録パルス発生手段とを備えることが
より好ましい。

【００２８】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、レーザ光のスポットサ
イズの半値全幅をｗ、所定の長さより短いマークの長さ
をＭＬとすると、ＭＬ／ｗ＜１．２を満たすことがより
好ましい。

【００２９】前記いずれかの構成を有する本発明の光学
的情報記録再生装置においては、所定の長さより短いマ
ークの長さは、所定の長さ以上のマークの幅よりも小さ
くすることがより好ましい。

【００３０】前記いずれかの構成を有する本発明の第１
〜第４の光学的情報記録再生装置においては、所定の長
さより短いマークは最短マークのみであることがより好
ましい。

【００３１】

【発明の実施の形態】以下、実施の形態を用いて本発明
をさらに具体的に説明する。

【００３２】図１は本発明の第１の実施の形態における
光学的情報記録再生装置の主要部、特に記録信号生成回
路の構成を示すブロック図である。光学的情報記録再生
装置全体の構成は図２０と同様であるので省略する。

【００３３】図１において、１０１は記録データ信号か
らマークまたはスペースとなる長さの情報を検出する検
出回路、１０２はマークを形成するための先頭の記録パ
ルスを発生する始端パルス発生回路、１０４は後尾の記
録パルスを発生する終端パルス発生回路、１０３は始端
パルスと終端パルスの間の記録パルス列を発生するサブ
パルス発生回路、１０５は冷却パルスを発生させるため
の冷却パルス発生回路である。１０６は１０２〜１０４
の各パルス発生回路で発生した記録パルスを加算する加
算回路である。冷却パルス発生回路１０５のあとに選択
回路１０７を設け、検出回路１０１からの検出結果に従
い選択回路１０７の接続を切り換える。

【００３４】次に、本発明の第１の実施の形態における
光学的情報記録再生装置において、情報を記録する場合
の動作を図２〜図５を用いて説明する。

【００３５】図２は、図２０における記録信号生成回路
１２０４の各部分の信号と、レーザのパワー変化とを説
明する図である。図２（ａ）は記録データ信号（図１の
１０８）、図２（ｃ）は始端パルス発生回路１０２が出
力する信号（図１の１０９）、図２（ｄ）はサブパルス
発生回路１０３が出力する信号（図１の１１０）、図２
（ｅ）は終端パルス発生回路１０４が出力する信号（図
２１の１１１）、図２（ｇ）は光ヘッド１２０６から照
射されるレーザのパワー変化を示す。

【００３６】図３（ａ）〜（ｃ）は３Ｔマーク（３Ｔ
ｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）の単一周期信号、図４
（ａ）〜（ｃ）は６Ｔマーク（６Ｔｍ）−６Ｔスペース
（６Ｔｓ）の単一周期信号、図５（ａ）〜（ｃ）は１１
Ｔマーク（１１Ｔｍ）−１１Ｔスペース（１１Ｔｓ）の
単一周期信号を、記録再生する場合の光ディスク１２０
１のトラック上への記録状態、および記録再生の動作を
説明する図である。また、図３〜図５の各（ａ）はレー
ザのパワー変化、図３〜図５の各（ｂ）は光ディスク１
２０１のトラック上への記録状態、図３〜図５の各
（ｃ）は再生信号の変化を示している。

【００３７】情報を記録する場合には、図２０に示す上
位計算機からシステム制御回路１２０２内のバッファメ
モリを介して記録情報が変調回路１２０３に送られる。
そして記録情報は基準クロックに同期して変調・２値化
され、記録データ信号となる（図２(ａ)）。記録データ
信号は記録信号生成回路１２０４に入力される。

【００３８】記録信号生成回路１２０４では、まず図１
に示すマーク／スペース長さ検出回路１０１において、
記録データ信号（図２（ａ））の信号反転間隔がクロッ
ク周期Ｔの何倍に相当するかを検出する。そして、マー
クの長さに応じて所定のタイミングで所定個数・幅の記
録パルスを発生する。すなわち、図２（ｃ）に示す始端
パルス、図２（ｄ）に示すサブパルス、図２（ｅ）に示
す終端パルス、図２（ｆ）で冷却パルスを発生する。そ
の後、加算回路１０６で（ｂ）〜（ｄ）の信号を加算し
てレーザ駆動回路に入力する。図２（ａ）の記録データ
信号に基づいて、検出回路１０１から図２（ｂ）に示す
３Ｔマーク判別信号１１２を発生させる。この判別信号
１１２に基づき３Ｔマークの場合のみ選択回路１０７を
閉じ、図２（ｆ）に示すように冷却パルスをレーザ駆動
回路に入力する。光ディスク１２０１に照射されるレー
ザ光のパワーは図２（ｇ）に示すように変化し、３Ｔマ
ークの場合のみ記録パルス列の後に冷却パルスが付加さ
れる。その結果、図４（ａ）〜（ｃ）および図５（ａ）
〜（ｃ）に示すように６Ｔや１１Ｔなどの長いマークで
は冷却パルスを付加しないので、マークの後端の幅が大
きくなることがなく（ＭＷ₆，ＭＷ₁₁）、歪みのない再
生信号を得ることができる（Ａ₆，Ａ₁₁）。

【００３９】また、図３（ａ）〜（ｃ）に示すように短
い３Ｔマークでは、冷却パルスの付加によりマークの幅
が大きくなり（ＭＷ₃'）、再生信号の振幅が増大する
（Ａ₃'）。ここで３Ｔのマーク形状には歪みが生ずるも
のの、スポットによるマーク再生の光学的な分解能に限
界があるので、本発明のようにスポットサイズに対する
マーク長の比を小さくすると再生波形には歪みが現れな
い。

【００４０】以下ではスポットサイズと再生波形の歪み
とについて説明する。図２９（ａ）は、光ディスクを一
定の線速で再生したときのスポットサイズと再生信号の
周波数特性との関係を示す図である。レーザ光のスポッ
トには有限の大きさがあるため、高い周波数（すなわち
小さいマーク）ほど再生信号の振幅は小さくなる。そし
てスポットサイズを小さくすると、高い周波数（すなわ
ち小さいマーク）の振幅はより大きくなり、より小さい
マークまで再生できる。一方、スポットサイズを大きく
すると、振幅はより小さくなり、小さいマークは再生で
きなくなる。

【００４１】図２９（ｂ）は、３Ｔマーク−３Ｔスペー
スの単一周期信号を再生したときのスペクトラムであ
る。３Ｔマークを再生すると、周波数ｆ₃に再生信号の
基本波成分が生じ、ｎｆ₃（ｎは２以上の整数）にマー
ク歪みに起因する高調波歪み成分が生ずる。図２９
（ｃ）は、１１Ｔマーク−１１Ｔスペースの単一周期信
号を再生したときのスペクトラムである。１１Ｔマーク
を再生した場合にも、３Ｔの場合と同様に周波数ｆ₁₁に
基本波成分、ｎｆ₁₁に高調波歪み成分が生ずるが、１１
Ｔのほうが再生周波数が低い（すなわちマーク長が大き
い）ため、図２９（ａ）で示した周波数特性の再生可能
な範囲内に多数の歪み成分が存在することになる。この
ことから、マーク長の小さな方が再生信号に歪みが生じ
にくいこと、およびスポットサイズを大きくすると再生
信号に歪みが生じにくいことがわかる。

【００４２】本実施形態の効果を確かめるために行った
比較実験（実施例）について以下に説明する。光ディス
ク１２０１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０.６ｍ
ｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂基板に
は、凸凹形状の位相ピットをあらかじめアドレス情報と
してプリフォーマットし、セクタ領域には記録用ガイド
溝を形成した。ガイド溝のピッチは１．２μｍである。
基板上に保護膜、相変化記録膜、保護膜、反射膜をスパ
ッタリング法により成膜し、その上に保護基板を接着し
た。

【００４３】保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ₂、相変化記
録膜としてＴｅ−Ｓｂ−Ｇｅ、反射膜としてＡlを用い
た。そして、スピンドルモーター１２０７によりこのデ
ィスクを線速度８．２ｍ／ｓで回転させ、波長６６０ｎ
ｍのレーザ光を開口数（ＮＡ）０．６の対物レンズで集
束させて記録を行なった。スポットサイズの半値全幅は
０．６２μｍである。

【００４４】記録再生時のレーザ光のパワーは、Ｐｐ＝
１２ｍＷ、Ｐｂ＝４ｍＷ、Ｐｒ＝１ｍＷとした。記録情
報の変調方式はＤＶＤで用いられている（８−１６）パ
ルス幅変調を用いた。最短マーク長（すなわち、３Ｔの
マーク長）は０．４２μｍとした。

【００４５】まず、最短周期である３Ｔマーク（３Ｔ
ｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）から、１１Ｔマーク（１
１Ｔｍ）−１１Ｔスペース（１１Ｔｓ）までの単一周期
信号を冷却パルスを付加して記録し、再生信号の波形を
観測した。３Ｔマークを記録するときの記録パルスの幅
Ｔｔｐ₃は１．５Ｔ、冷却パルスの幅Ｔｃｐ₃は１Ｔ、冷
却パルスパワーレベルＰｂ₂＝１ｍＷとした（但し、Ｔ
ｔｐ₃，Ｔｃｐ₃の定義は図２６（ａ）を参照）。また、
５Ｔ以上１１Ｔ以下のマークを記録するときの記録パル
スは、始端パルスの幅Ｔｔｐ_nは１．５Ｔ、サブパルス
幅Ｔｓｐ_n・終端パルス幅Ｔｌｐ_nは０．５Ｔ、冷却パル
スの幅Ｔｃｐ_nは１Ｔとした（但し、ｎは整数で４≦ｎ
≦１１。Ｔｔｐ₁₁, Ｔｓｐ₁₁，Ｔｌｐ₁₁，Ｔｃｐ₁₁の定
義は図２８（ａ）を参照）。冷却パルスパワーレベル
は、３Ｔマークの場合と同様にPb₂＝１ｍＷとした。測
定は、再生信号のスペクトラムから基本波および高調波
成分を観測し、歪み率を求めることにより行った。測定
に用いたスペクトラムアナライザは、ヒューレット・パ
ッカード社の4396Aである。基本波の振幅をＡ_f、ｎ次高
調波の振幅をＡ_n、観測可能な高調波の最大の次数をｍ
として、再生信号の歪み率を以下のように定義した。

【００４６】

【数１】

【００４７】図３０は、マーク長と測定した歪み率との
関係を示す図である。この結果、３Ｔマーク−３Ｔスペ
ースから５Ｔマーク−５Ｔスペースまでの短い周期を記
録した場合には、再生信号の歪み率が０．０５以下であ
り、再生には問題ないレベルであった。５Ｔマークのマ
ーク長は０．７０μｍであり、スポットサイズが０．６
２μｍである。従って、マーク長ＭＬとスポットサイズ
ｗとの比がＭＬ／ｗ＜１．２の場合には、スポットに対
してマークが相対的に小さいため、冷却パルスを付加し
ても再生波形への影響が小さいことがわかった。

【００４８】次に、最短周期である３Ｔマーク（３Ｔ
ｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）の単一周期信号を記録し
て振幅とジッタを測定した。記録パルスの幅Ｔｔｐ₃は
１．５Ｔ、冷却パルスの幅Ｔｃｐ₃は１Ｔ、冷却パルス
パワーレベルＰｂ₂＝１ｍＷとした。冷却パルスを付加
した場合としない場合との両方で、再生信号のＣ／Ｎ
（信号対雑音比）および振幅をＲＢＷ（Resolution Ban
d Width, 分解能バンド幅）＝３０ｋＨｚで測定して比
較した。Ｃ／Ｎ測定に用いたスペクトラムアナライザ
は、ヒューレット・パッカード社の4396Aである。冷却
パルスを付加しない場合にはＣ／Ｎが５０．２ｄＢであ
ったのに対し、冷却パルスを付加すると５１．５ｄＢと
１．３ｄＢ向上し、再生信号の振幅も同様に１．３ｄＢ
向上した。

【００４９】また、再生信号処理回路１２０８中にブー
スト量＋６ｄＢ、ブースト周波数１２ＭＨｚの３タップ
イコライザと２値化用のコンパレータ回路とを設け、２
値化出力信号のジッタを測定した。ジッタ測定に用いた
タイムインターバルアナライザは、インターナショナル
・テスト・インスツルメンツ社のDTA-8850である。ジッ
タは、信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとの
標準偏差を、それぞれウィンドウ幅（すなわちクロック
周期）で除したものを２乗平均して求めた。冷却パルス
を付加しない場合にはジッタが１０．８％であったのに
対し、冷却パルスを付加すると９．９％と０．９％向上
した。

【００５０】次に、最長周期である１１Ｔマーク（１１
Ｔｍ）−１１Ｔスペース（１１Ｔｓ）の単一周期信号を
記録した。始端パルスの幅Ｔｔｐ₁₁は１．５Ｔ、サブパ
ルス幅Ｔｓｐ₁₁・終端パルス幅Ｔｌｐ₁₁は０．５Ｔ、冷
却パルスの幅Ｔｃｐ₁₁は１Ｔ、冷却パルスパワーレベル
Ｐｂ₂＝１ｍＷとした。冷却パルスを付加した場合とし
ない場合との両方で、再生信号のジッタを３Ｔマーク−
３Ｔスペースの場合と同様にして比較すると、冷却パル
スを付加した場合には１１．４％であったのに対し、冷
却パルスを付加しない場合には１０．０％と１．４％向
上した。

【００５１】さらに、（８−１６）変調のランダム信号
を記録した。始端パルス幅は、マークの長さおよびマー
クの前のスペースの長さに応じて、所定のマーク長にな
るように調整した。また、終端パルス幅と冷却パルスと
の位置は、マークの長さおよびマークの後のスペースの
長さに応じて、所定のマーク長になるように調整した
（これらの調整については、例えば特開平7-129959号公
報に記載されている）。すべてのマークに冷却パルスを
付加しない場合、すべてのマークに冷却パルスを付加し
た場合、３Ｔマークのみに冷却パルスを付加した場合
（本実施形態に相当）の３通りについて再生信号のジッ
タを比較した。その結果、すべてのマークに冷却パルス
を付加しない場合にはジッタ１０．５％、すべてのマー
クに冷却パルスを付加した場合にはジッタ１０．７％だ
ったのに対し、３Ｔマークのみに冷却パルスを付加した
場合にはジッタが９．９％に改善した。

【００５２】以上述べたように、所定の長さより短いマ
ークの記録時にのみ記録パルス列の後に冷却パルスを設
ける本発明に係る光学的情報記録再生方法により、歪み
のない再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号
の振幅が増大するので、正しく情報を再生できるという
点で優れた効果が得られる。

【００５３】また、図１の別の実施の形態として、記録
パルス間のパワーを消去パワー以下にしてもよい。この
第２の実施の形態を、図６および図７〜図９を用いて以
下説明する。図６は、第２の実施の形態における記録信
号生成回路１２０４の各部分の信号とレーザのパワー変
化とを説明する図である。図６（ａ）は記録データ信
号、図６（ｂ）は検出回路１０１から発せられる３Ｔマ
ーク判別信号、図６（ｃ）は始端パルス発生回路１０２
が出力する信号、図６（ｄ）はサブパルス発生回路１０
３が出力する信号、図６（ｅ）は終端パルス発生回路１
０４が出力する信号、図６（ｆ）は冷却パルス発生回路
１０５が出力する信号、図６（ｇ）は光ヘッド１２０６
から照射されるレーザのパワー変化を示す。

【００５４】また、図７（ａ）〜（ｃ）は３Ｔマーク
（３Ｔｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）の単一周期信号、
図８（ａ）〜（ｃ）は６Ｔマーク（６Ｔｍ）−６Ｔスペ
ース（６Ｔｓ）の単一周期信号、図９（ａ）〜（ｃ）は
１１Ｔマーク（１１Ｔｍ）−１１Ｔスペース（１１Ｔ
ｓ）の単一周期信号それぞれを記録再生する場合の、光
ディスク１２０１のトラック上への記録状態、および記
録再生の動作を説明する図である。

【００５５】図６〜図９の第２の実施の形態と、第１の
実施の形態（図２〜図５）と異なるのは以下の点であ
る。図６（ｆ）に示すように、３Ｔ以外のマークについ
て記録パルスの間で冷却パルスを発生させ、図６（ｇ）
および図８（ａ）、図９（ａ）に示すように、記録パル
スの間を冷却パルスレベルＰｂ₂まで下げていることで
ある。この場合、第１の実施の形態と比べ、マーク後半
部分の温度上昇を抑えることができる。従って、線速度
が遅い場合には、長いマークを再生したときの信号歪み
をより小さくすることが可能である。

【００５６】さらに、第３の実施の形態として、図１０
〜図１４に示すように、冷却パルスの後にアニールパル
スを付加した記録再生方法としてもよい。図１０は第３
の実施の形態における記録信号生成回路１２０４の構成
を示す図である。

【００５７】図１の構成と異なるのは、消去パワーより
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るためのアニールパルス発生回路６０１、およびその後
に第２の選択回路６０２を設けて、所定の長さより短い
マークの場合のみアニールパルスを発生させることであ
る。

【００５８】図１１は、第３の実施の形態における記録
信号生成回路１２０４の各部分の信号とレーザのパワー
変化とを説明する図である。図１１（ａ）は記録データ
信号、図１１（ｂ）は検出回路１０１から発せられる３
Ｔマーク判別信号、図１１（ｃ）は始端パルス発生回路
１０２が出力する信号、図１１（ｄ）はサブパルス発生
回路１０３が出力する信号、図１１（ｅ）は終端パルス
発生回路１０４が出力する信号、図１１（ｆ）は冷却パ
ルス発生回路１０５が出力する信号、図１１（ｇ）はア
ニールパルス発生回路６０１が出力する信号、図１１
（ｈ）は光ヘッド１２０６から照射されるレーザのパワ
ー変化を示す。

【００５９】また、図１２（ａ）〜（ｃ）は３Ｔマーク
（３Ｔｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）の単一周期信号、
図１３（ａ）〜（ｃ）は６Ｔマーク（６Ｔｍ）−６Ｔス
ペース（６Ｔｓ）の単一周期信号、図１４（ａ）〜
（ｃ）は１１Ｔマーク（１１Ｔｍ）−１１Ｔスペース
（１１Ｔｓ）の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク１２０１のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。

【００６０】図１１〜図１４の第３の実施の形態の動作
と、第２の実施形態（図６〜図９）と異なるのは以下の
点である。図１１（ｇ）に示すように３Ｔマークについ
て冷却パルスの後にアニールパルスを発生させ、図１１
（ｇ）および図１２（ａ）に示すように、冷却パルスの
後でパワーをアニールパルスレベルＰｐ₂まで上げてい
ることである。このアニールパルスレベルＰｐ₂は、消
去パワーより大きく、記録パワーより小さい、すなわち
記録膜を溶融させないレベルとする。この場合、３Ｔマ
ークの記録において、冷却パルス直後のパワーＰｐ₂が
Ｐｂより高いので、マーク８０２形成時の後端部分の温
度が結晶化温度より十分高くなる（ただし、融点よりは
低い）。その結果、マーク８０２の後端部のより大きい
領域を再結晶化させることができ、マークの長さに対し
て幅のより広い３Ｔマークを形成できる利点がある。な
お、第３の実施の形態において、記録パルス間のパワー
レベルを消去パワーレベルととしても同様の効果が得ら
れる。

【００６１】さらに、第４の実施の形態として、図１５
〜図１９に示すように３Ｔマークのみ、他の長さのマー
クより高い記録パワーで記録する方法としてもよい。図
１５は第４の実施の形態における記録信号生成回路１２
０４の構成を示す図である。

【００６２】図１の構成と異なるのは、消去パワーより
高く記録パワーより低いパワーレベルのパルスを発生す
るための第２の記録パルス発生回路９０１、およびその
後に第２の選択回路９０２を設けて、特に短いマークの
場合のみ第２の記録パルスを発生させることである。

【００６３】図１６は、第４の実施の形態における記録
信号生成回路１２０４の各部分の信号と、レーザのパワ
ー変化とを説明する図である。図１６（ａ）は記録デー
タ信号、図１６（ｂ）は検出回路１０１から発せられる
３Ｔマーク判別信号、図１６（ｃ）は始端パルス発生回
路１０２が出力する信号、図１６（ｄ）はサブパルス発
生回路１０３が出力する信号、図１６（ｅ）は終端パル
ス発生回路１０４が出力する信号、図１６（ｆ）は冷却
パルス発生回路１０５が出力する信号、図１６（ｇ）は
第２の記録パルス発生回路９０１が出力する信号、図１
６（ｈ）は光ヘッド１２０６から照射されるレーザのパ
ワー変化を示す。

【００６４】また、図１７（ａ）〜（ｃ）は３Ｔマーク
（３Ｔｍ）−３Ｔスペース（３Ｔｓ）の単一周期信号、
図１８（ａ）〜（ｃ）は６Ｔマーク（６Ｔｍ）−６Ｔス
ペース（６Ｔｓ）の単一周期信号、図１９（ａ）〜
（ｃ）は１１Ｔマーク（１１Ｔｍ）−１１Ｔスペース
（１１Ｔｓ）の単一周期信号それぞれを記録再生する場
合の、光ディスク１２０１のトラック上への記録状態、
および記録再生の動作を説明する図である。

【００６５】図１６〜図１９の第４の実施の形態の動作
と、第２の実施形態（図６〜図９）と異なるのは以下の
点である。図１６（ｇ）に示すように、３Ｔマークにつ
いて第２の記録パルスを発生させ、図１６（ｈ）および
図１７（ａ）に示すように、３Ｔマークのみ記録パルス
のパワーレベルをＰｐより高いＰｐ₂としていることで
ある。この場合、３ＴマークのパワーレベルがＰｐの時
に比べ、ガイド溝と直角方向の溶融領域が増大するた
め、より幅の大きな３Ｔマークを記録できる利点がある
（ガイド溝方向のマーク長は、冷却パルスによるマーク
後端の再結晶化で制限されるので、３Ｔのマーク長はパ
ワーレベルＰｐの時と変わらない）。なお、第４の実施
の形態において、記録パルス間のパワーレベルを消去パ
ワーレベルととしても同様の効果が得られる。

【００６６】なお、上記の冷却パルス／アニールパルス
／第２の記録パルスを設けるマーク長は最短マークであ
る３Ｔのみとしたが、５Ｔ以下のすべてのマークに（す
なわち、ＭＬ／ｗ＜１．２を満たすマーク長のすべての
マークに）設ければ、４Ｔと５Ｔの再生信号振幅も大き
くなるので、正しい情報の再生により効果的である。た
だ、単一のマーク長のマークに冷却パルス／アニールパ
ルス／第２の記録パルスを設ける記録信号生成回路が、
回路構成が最も単純になる。従って、ＭＬ／ｗ＜１．２
を満たすマーク長の範囲内で、必要に応じて冷却パルス
／アニールパルス／第２の記録パルスを設けるマーク長
を決定すればよい。

【００６７】また、上記の実施の形態において、冷却パ
ルス／アニールパルス／第２の記録パルスを設けるマー
クの長さは、冷却パルス／アニールパルス／第２の記録
パルスを設けないマークの幅よりも小さくすることが、
冷却パルス／アニールパルス／第２の記録パルスを設け
ることによるマーク幅拡大の効果を最大に得る観点から
好ましい。

【００６８】また、上記の実施の形態において、記録パ
ルスから一定のディレイの後に冷却パルス／アニールパ
ルスを付加しても良い（すなわち、記録パワーレベルの
後、一定の時間の消去パワーレベルを経由して冷却パワ
ーレベルにする）。しかし、マーク後端の冷却速度を最
大にしてマーク幅を大きくするためには、本実施の形態
のように、記録パルスの直後に冷却パルス／アニールパ
ルスを設けるのが最も好ましい。

【００６９】また、ディスクの層数、構成や材料も上記
に限るものではない。さらに、上記の記録パワー、線速
度、変調方式、記録密度、各パルスの長さ・位置等は本
実施の形態で示したものに限るわけではなく、記録条件
や媒体に応じて適切な値を設定することが可能なことは
言うまでもない。

【００７０】

【発明の効果】以上述べたように本発明は、所定の長さ
より短いマークの記録時にのみ冷却パルス／アニールパ
ルス／第２の記録パルスを設けることにより、歪みのな
い再生信号が得られ、かつ短いマークでは再生信号の振
幅が増大するので、正しく情報を再生できるという優れ
た光学的記録再生装置を実現できるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態における記録信号生成
回路の構成図

【図２】本発明の第１の実施形態における記録信号生成
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図

【図３】本発明の第１の実施形態における一例のレーザ
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図

【図４】本発明の第１の実施形態における他の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図５】本発明の第１の実施形態における別の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図６】本発明の第２の実施形態における記録信号生成
回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波形
図

【図７】本発明の第２の実施形態における一例のレーザ
パワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図

【図８】本発明の第２の実施形態における他の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図９】本発明の第２の実施形態における別の例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図１０】本発明の第３の実施形態における記録信号生
成回路の構成図

【図１１】本発明の第３の実施形態における記録信号生
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図

【図１２】本発明の第３の実施形態における一例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図１３】本発明の第３の実施形態における他の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図

【図１４】本発明の第３の実施形態における別の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図

【図１５】本発明の本発明の第４の実施形態における記
録信号生成回路の構成図

【図１６】本発明の第４の実施形態における記録信号生
成回路の各部の信号波形図およびレーザパワーの変化波
形図

【図１７】本発明の第４の実施形態における一例のレー
ザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状
態図、再生信号の波形図

【図１８】本発明の第４の実施形態における他の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図

【図１９】本発明の第４の実施形態における別の例のレ
ーザパワーの変化図、光ディスクのガイド溝上への記録
状態図、再生信号の波形図

【図２０】光学的情報記録再生装置の構成図

【図２１】従来の形態における記録信号生成回路の構成
図

【図２２】従来の形態における記録信号生成回路の各部
の信号波形図およびレーザパワーの変化波形図

【図２３】従来の形態におけるレーザパワーの一例にお
ける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態図、
再生信号の波形図

【図２４】従来の形態におけるレーザパワーの他の例に
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図

【図２５】従来の形態におけるレーザパワーの別の例に
おける変化図、光ディスクのガイド溝上への記録状態
図、再生信号の波形図

【図２６】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した一
例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイド
溝上への記録状態図、再生信号の波形図

【図２７】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した他
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図

【図２８】従来の形態にさらに冷却パルスを付加した別
の例の場合のレーザパワーの変化図、光ディスクのガイ
ド溝上への記録状態図、再生信号の波形図

【図２９】スポットサイズと光学系の周波数特性図、３
Ｔおよび１１Ｔ周期信号再生時のスペクトラムを示す波
形図

【図３０】マーク長と再生信号の歪み率との関係を示す
関係図

【符号の説明】

１０１マーク/スペース長さ検出回路１０２始端パルス発生回路１０３サブパルス発生回路１０４終端パルス発生回路１０５冷却パルス発生回路１０６加算回路１０７選択回路１１４記録パルス発生回路３０１ガイド溝３０２マーク（非晶質領域）３０３結晶質領域６０１アニールパルス発生回路６０２第２の選択回路９０１第２の記録パルス発生回路１２０１光ディスク１２０２システム制御回路１２０３変調回路１２０４記録信号生成回路１２０５レーザ駆動回路１２０６光ヘッド１２０７スピンドルモーター１２０８再生信号処理回路１２０９復調回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスを設けることを
特徴とする光学的情報記録再生方法。
【請求項２】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーよりさらに低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスを設けることを
特徴とする光学的情報記録再生方法。
【請求項３】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーとを交互に切り換えた少なくとも一つ
以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パ
ルスの後に前記消去パワーより高く前記記録パワーより
低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換えたアニ
ールパルスとを設けることを特徴とする光学的情報記録
再生方法。
【請求項４】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、前記マークは記録パワーと前記記録パワーよりもパワー
が低い消去パワーよりさらに低いパワーとを交互に切り
換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列で記録し、所定の長さより短いマークの記録時にのみ、前記記録パ
ルス列の後に前記消去パワーより低いパワーと前記消去
パワーとを交互に切り換えた冷却パルスと、前記冷却パ
ルスの後に前記消去パワーより高く前記記録パワーより
低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換えたアニ
ールパルスとを設けることを特徴とする光学的情報記録
再生方法。
【請求項５】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生方法であって、所定の長さより短いマークの記録時にのみ、記録パルス
列を構成する複数の記録パルスに、前記記録パルスの内
少なくとも一つの記録パルスのパワーが他の記録パルス
のパワーに比べ高い第２の記録パルスを含ませることを
特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の光学的情報
記録再生方法。
【請求項６】レーザ光のスポットサイズの半値全幅を
ｗ、所定の長さより短いマークの長さをＭＬとすると、
ＭＬ／ｗ＜１．２を満たすことを特徴とする請求項１〜
５のいずれかに記載の光学的情報記録再生方法。
【請求項７】所定の長さより短いマークの長さは、所定
の長さ以上のマークの幅よりも小さくすることを特徴と
する請求項１〜６のいずれかに記載の光学的情報記録再
生方法。
【請求項８】所定の長さより短いマークが、最短マーク
のみであることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに
記載の光学的情報記録再生方法。
【請求項９】光学的情報記録媒体に複数パワーのレーザ
光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を変
化させ、データをマークおよびスペースの長さとして記
録またはマークおよびスペースの長さで記録された前記
マークを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マーク長さに対応して記録パ
ワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワーと
を交互に切り換えた少なくとも一つ以上の記録パルス列
を発生する記録パルス発生手段と、前記長さ判別手段の
判別結果に応じて、前記マークの長さが所定の長さより
短いときのみ、前記記録パルス列の後に、前記消去パワ
ーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切り換え
た冷却パルスを発生する冷却パルス発生手段と、前記記
録パルス列および前記冷却パルスに基づき前記レーザ光
を照射するレーザ駆動手段とを備えることを特徴とする
光学的情報記録再生装置。
【請求項１０】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マーク長さに対応して記録パ
ワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワーよ
りさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも一
つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記記録パルス列および前記冷却パル
スに基づき前記レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを
備えることを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項１１】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して記録
パワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワー
よりさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた冷却パルスを発生する冷却パ
ルス発生手段と、前記長さ判別手段の判別結果に応じ
て、前記マークの長さが所定の長さより短いときのみ、
前記冷却パルスの後に、前記消去パワーより高く前記記
録パワーより低いパワーと前記消去パワーとを交互に切
り換えたアニールパルスを発生するアニールパルス発生
手段と、前記記録パルス列、前記冷却パルスおよび前記
アニールパルスに基づき前記レーザ光を照射するレーザ
駆動手段とを備えることを特徴とする光学的情報記録再
生装置。
【請求項１２】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよびスペースの長さとして
記録またはマークおよびスペースの長さで記録された前
記マークを消去する記録再生装置であって、記録すべき前記マークおよび前記スペースの長さを判別
する長さ判別手段と、前記マークの長さに対応して記録
パワーと前記記録パワーよりもパワーが低い消去パワー
よりさらに低いパワーとを交互に切り換えた少なくとも
一つ以上の記録パルス列を発生する記録パルス発生手段
と、前記長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マーク
の長さが所定の長さより短いときのみ、前記記録パルス
列の後に、前記消去パワーより低いパワーと前記消去パ
ワーとを交互に切り換えた単一の冷却パルスまたは複数
の冷却パルス列を発生する冷却パルス発生手段と、前記
長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが
所定の長さより短いときのみ、前記冷却パルスの後に、
前記消去パワーより高く前記記録パワーより低いパワー
と前記消去パワーとを交互に切り換えたアニールパルス
を発生するアニールパルス発生手段と、前記記録パルス
列、前記冷却パルスおよび前記アニールパルスに基づき
前記レーザ光を照射するレーザ駆動手段とを備えること
を特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項１３】光学的情報記録媒体に複数パワーのレー
ザ光を切り換えて照射し、相変化記録膜の光学的特性を
変化させ、データをマークおよび/またはスペースの長
さとして記録またはマークおよびスペースの長さで記録
された前記マークを消去する記録再生装置であって、長さ判別手段の判別結果に応じて、前記マークの長さが
所定の長さより短いときのみ、記録パワーよりも高いパ
ワーと消去パワーとを交互に切り換えた第２の記録パル
スを少なくとも一つ以上発生する第２の記録パルス発生
手段とを備えることを特徴とする請求項９〜１２のいず
れかに記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１４】レーザ光のスポットサイズの半値全幅を
ｗ、所定の長さより短いマークの長さをＭＬとすると、
ＭＬ／ｗ＜１．２を満たすことを特徴とする請求項９〜
１３のいずれかに記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項１５】所定の長さより短いマークの長さは、所
定の長さ以上のマークの幅よりも小さくすることを特徴
とする請求項９〜１４のいずれかに記載の光学的情報記
録再生装置。
【請求項１６】所定の長さより短いマークが、最短マー
クのみであることを特徴とする請求項９〜１５のいずれ
かに記載の光学的情報記録再生装置。