TWI430265B - 光學記錄媒體記錄品質之分析方法和系統，記錄系統書寫策略採取方法，以及光學記錄媒體之書寫裝置和書寫方法 - Google Patents

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Description

光學記錄媒體記錄品質之分析方法和系統，記錄系統書寫策略採取方法，以及光學記錄媒體之書寫裝置和書寫方法
本發明係關於旨在使用第一波長的光記錄而旨在使用第二波長的光閱讀之光學記錄媒體上記錄品質之分析方法。
邇來，倡議一種記錄系統，使用具有藍光波長的雷射，以產生ROM，像DVD媒體，旨在以使用紅光波長的DVD播放器閱讀。此系統稱為燒錄於DVD。為了直接以藍光記錄系統分析記錄品質，必須有可靠的品質規範。
本發明之目的，在於擬議一種對光學記錄媒體的記錄品質之分析方法，該光學記錄媒體旨在使用第一波長的光加以記錄，而旨在使用第二波長的光閱讀。而直接以記錄系統所用第一波長的光進行分析。
按照本發明，此目的之達成是利用一種對光學記錄媒體的記錄品質之分析方法，具有如下步驟：－使用第一波長的光，測量所記錄資訊之顫動值；－從測得之顫動值，發生第二波長的光之修改顫動值；－分析修改的顫動值，以決定記錄品質。
同理，光學記錄媒體的記錄品質之分析系統，具有：－顫動檢測器，使用第一波長測量所記錄資訊之顫動值；－校正段，供從所測量顫動值，發生第二波長光之修改顫動值；和－分析器，分析修改之顫動值，以決定記錄品質。
用上述記錄系統之記錄實驗顯示，使用藍光波長閱讀時，如果所記錄HF目視圖型顯示某些量的不對稱，則以記錄系統所用的藍光，可達成最佳記錄品質，即低度顫動。所 以，本發明擬議發生特殊之修改顫動值，其性質是使用低波長測定的低度修改顫動，暗示是紅光波長之低度顫動。當然，本發明不限於以藍光波長供記錄，和紅光波長供閱讀。同樣可應用於波長之其他組合。
修改的顫動宜用來進行測試記錄，在開始實際記錄過程之前，適應記錄系統，例如記錄功率。即使有組合磁碟可用，含有使用第一波長的記錄系統，和使用第二波長的閱讀系統，仍難以使用第一波長進行測試記錄，再使用第二波長加以分析。蓋因事實上，二焦斑一般不會聚焦在正好同一磁軌上。因而，以第二波長的光束，難以找到使用第一波長所記錄的測試圖型位置。
有益的是，以一或以上的校正係數，操作所測量顫動值，可得修改顫動值。此舉可免複雜計算，得以容易決定修改顫動值。
一或以上之校正係數，由光學記錄媒體或系統內所含記憶器獲得為宜。在第一情況下，光學記錄媒體上宜設特殊面積，供儲存一或以上之校正係數。
本發明方法因此可兼用於快速核對所記錄媒體，並使記錄策略最適化，俾在光學記錄媒體發展中，有優良的顫動、對稱和解像度。
是故，適應記錄系統書寫策略的方法，具有如下步驟：－在光學記錄媒體上，進行一或以上之測試記錄；－使用第一波長光，測量測試記錄之顫動值；－由所測得顫動值，發生第二波長光之修改顫動值；－修改書寫策略之參數，獲得最適之修改顫動值。
上述方法有益於在光學記錄媒體之書寫裝置內進行。為此，裝置具有：－第一檢測器，使用第一波長光測量所記錄資訊之顫動值； －校正段，由所測量顫動值，發生第二波長光之修改顫動值；－分析器，分析修改顫動值，以測定記錄品質；和－修改機構，因應修改顫動值，修改書寫策略之參數。
適應書寫策略，達成最適記錄品質。所適應書寫策略係例如由光學記錄媒體廠商實驗決定，或在書寫裝置的校準程序架構內。在後一情況下，適應最好是以逐時基礎進行，或在發動書寫過程前為之。
本發明方法在以第一波長進行記錄測試之際，賦予優良預估在第二波長時之閱讀特性。所以，不需以第二波長的光源浪費時間測量。可用標準記錄最適化程序，例如書寫短暫測試圖型。不需額外硬體。
修改之顫動值宜使用特殊等化器，考量所需不對稱得之。
為更佳明瞭起見，參照附圖詳述本發明如下。惟須知本發明不限於此具體例，而特殊之特點可權宜組合和/或修改，不悖本發明之範圍。
第1圖表示使用藍光波長決定之典型不對稱目視圖型，可見小波幅之短符號，與全訊號之DC位階相較，有DC移動。發現此種不對稱目視圖型，是達成以紅光波長的良好閱讀結果所必須。目視圖型有很高的顫動。所以，所測得顫動，對記錄品質並非適宜規範。
可用之規範為修改之顫動值，可由第2圖簡示之電路1得之。進來的不對稱HF訊號，利用等化器2加以等化。不對稱校正段3進行等化後的HF訊號之不對稱校正。另外，HF訊號的不對稱校正是在等化之前進行，如第3圖另類實施方式所示。PLL 4(鎖相環路)用於電路1之妥當計時，為不 對稱校正，使用固定校正係數。此固定校正係數視光學記錄媒體而定。例如由光學記錄媒體的廠商按實驗決定，或由使用者決定。在後一情況，校正係數宜以逐時基礎，或在啟用書寫過程之前決定，決定數值之一方式為，對紅光波長採取有很好顫動值之光學記錄媒體，而以藍光波長測量修改之顫動。然後，改變固定校正係數，直至修改之顫動達到最低值。固定校正係數最好儲存在光學儲存媒體上之特別面積內。另外或加上，把不同型光學記錄媒體之校正係數，儲存在光學記錄媒體讀寫裝置之記憶器內。
不對稱校正段3的第一和第二實施方式，分別如第4和5圖所示。
不對稱校正段3由三個副段組成。比較器段5(Y＝－sign(X))和後繼之積分器段6，用來造成以零對稱之輸入訊號X。為此目的，積分器段6之輸出訊號，以加算器7加到輸入訊號X。第三段8(Y＝Xz＋c*f(X,z))使用校正係數c，以補正不對稱訊號部份。校正係數c由光學記錄媒體或記憶器11所得，不一定包含在不對稱校正段3內。在第4和5圖所示式中，Y指訊號的輸出樣本，而X指訊號的輸入樣本。
舉例而言，為補正不對稱和適應符號波幅，第三段8可用下式： 其中係數ai 和c適合所測量資料。除校正係數c外，係數ai 同樣可加以儲存。在此式中z－n 指數位系統內n循環之延遲元素。n數是由訊號頻率對抽樣頻率之比決定。例如，對26.16 MHz訊號頻率之DVD言，抽樣率為100 MS/s時，n大約20。
第6圖表示第1圖之目視圖型，於應用所擬議校正之後。可見不對稱減到近乎零。以藍光波長加上應用校正所測 得顫動，得以決定將由紅光波長測得之顫動。
第7圖表示具有所記錄校正係數之光學記錄媒體9。光學記錄媒體有特別面積10，儲存校正係數。校正係只與光學記錄媒體有關。意即對各類光學記錄媒體9及其特殊記錄層系統而言，需要稍微不同之校正係數。此校正係數宜由光學記錄媒體廠商事先決定，儲存於特別面積10內。在光學記錄媒體9的記錄策略最適化之際，可用校正係數。
上述是使用單一校正係數。惟不但是不對稱，而且有不同解像度的較短符號長度(3T,4T,…)之一或以上額外係數，可經修飾。此可用於最適化並達成紅光波長的短符號(尤指3T)之臨界解像度。此可藉選擇第4和5圖所示適當函數f達成之。
1‧‧‧電路
2‧‧‧等化器
3‧‧‧不對稱校正段
4‧‧‧鎖相環路
5‧‧‧比較器段
6‧‧‧積分器段
7‧‧‧加算器
8‧‧‧第三段
9‧‧‧光學記錄媒體
10‧‧‧特別面積
11‧‧‧記憶器
第1圖表示使用藍光波長決定之典型不對稱目視圖型；第2圖表示實施本發明方法之簡略電路圖；第3圖表示第2圖電路之另一實施方式；第4圖表示不對稱校正段之實施方式；第5圖表示不對稱校正段之另一實施方式；第6圖表示第1圖之目視圖型，於應用修改顫動後不對稱幾近乎零；第7圖描繪儲存有發生修飾顫動值的資訊之光學記錄媒體。
1‧‧‧電路
2‧‧‧等化器
3‧‧‧不對稱校正段
4‧‧‧鎖相環路

Claims (7)

  1. 一種光學記錄媒體(9)的記錄品質之分析方法，包括如下步驟：使用第一波長光，測量所記錄資訊之顫動值；由所測得顫動值，產生修飾顫動值；分析修飾顫動值，以決定記錄品質；其特徵為，修飾顫動值係為第二波長光而產生，並且係基於為第一波長所測得之顫動值，使在第一波長所測得顫動值產生之低修飾顫動值，即隱含在第二波長測得之低顫動值者。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中修飾顫動值產生步驟包含，以一或以上之校正係數，操作所測得顫動值者。
  3. 如申請專利範圍第2項之方法，其中一或以上校正係數，係由光學記錄媒體(9)或由記憶器(11)閱讀者。
  4. 一種光學記錄媒體(9)的記錄品質之分析系統，包括：顫動檢測器，使用第一波長光，測量所記錄資訊之顫動值；校正段(3)，由所測得顫動值，產生修飾顫動值；和分析器，分析所修飾顫動值，以決定記錄品質，其特徵為，修飾顫動值係為第二波長光而產生，並且係基於為第一波長所測得之顫動值，使在第一波長所測得顫動值產生之低修飾顫動值，即隱含在第二波長測得之低顫動值者。
  5. 如申請專利範圍第4項之系統，又包括記憶器，儲存校正段(3)用之校正係數者。
  6. 一種以第一波長光書寫於光學記錄媒體(9)上之方法，包括如下步驟：(a)以書寫策略在光學記錄媒體(9)上，進行測試記錄；(b)使用第一波長光，測量測試記錄之顫動值； (c)由測得之顫動值，產生第二波長光之修飾顫動值，其中產生修飾顫動值，使在第一波長所測得顫動值產生之低修飾顫動值，即隱含在第二波長測得之低顫動值；(d)因應修飾顫動值，修飾書寫策略之參數，和(e)重複步驟(a)至(d)，直至決定最適書寫策略，得到低度顫動值為止，(f)以最適書寫策略，書寫於光學記錄媒體(9)者。
  7. 一種光學記錄媒體(9)，其特徵為，含有一或以上之校正係數，由使用第一波長光測得之顫動值，產生第二波長光之修飾顫動值，其中決定校正係數，使在第一波長所測得顫動值產生之低修飾顫動值，隱含在第二波長測得之低顫動值者。
TW097122967A 2007-07-09 2008-06-20 光學記錄媒體記錄品質之分析方法和系統，記錄系統書寫策略採取方法，以及光學記錄媒體之書寫裝置和書寫方法 TWI430265B (zh)

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