JP2004152473A - 光書込み媒体の自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 光書込み媒体の自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供する。
【解決手段】 本発明は光書込み媒体の書込み条件を最適化するために所定の試験書込みパターンを複数のトラックに試験書込みし、試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか１つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って書込み条件を決定するが、再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを自動で最適化し、再生信号の大きさ、アシメトリー値及び／またはジッター値を利用して書込みパターンを自動で最適化する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光書込み媒体の書込み最適化分野に係り、特に、自動で光書込み媒体の書込みを最適化できる方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置に関する。

従来の光書込み媒体の書込み最適化方法は、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ−Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）に適用される書込み最適化方法が知られているが、これはディスク媒体の構成方式が核生成方式にだけ限定されたものであった。高速成長方式を採択しているＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷなどの再書込み系列のディスクまたは特に次世代の高密度書込み方式の光ディスクに対する書込み最適化方法は知られていない。

従来の書込み最適化方法の例として、特許文献１には位相離脱を最小化させて書込みを最適化する方法が開示されている。すなわち、書込みパワーを変化させながらマークとスペースとの組合せよりなった所定のパターンで書き込んだ後、再生時、書込みパターンエッジとＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋ Ｌｏｏｐ）クロックエッジとの位相差をエラーパルスとして抽出する。所定のマークとスペースとの組合せによる位相差（エラーパルス）が分類されて貯蔵されているテーブルから最小になる条件（シフト量）を求めてディスクに書込みパターンを再書き込んだ後で再生する過程を繰り返して位相差が最小値になる最適の書込みパルス幅とパワーとを決定している。この方法はパワー、パルス幅または位置を変化させながら、またはパワー、パルス幅及び位置を組合せて変化させながら書込みパターンをディスクに書込みし、それを再生して各要素のエラーパルス数が最小になる書込み条件を探している。

従来の書込み最適化方法の他の例として、特許文献２にはレーザーパワーを変化させながらランダムデータを利用した試験書込みパターンを書込み及び再生してジッターまたはエラーレートが最適になる書込みパワーＰ_ｗと消去パワーＰ_ｅとの比（最適ジッターとアシメトリーでのＰ_ｗ／Ｐ_ｅは一定）を求めて処理時間を短縮し、単一パターンを利用してｎトラックに最長Ｔ（ビット間隔）を書込みし、ｎ＋２トラックに最短Ｔを書込み及び再生してアシメトリー値が最適になる書込みパワーと消去パワーとを求めている。

従来の書込み最適化方法のさらに他の例として、非特許文献１にはジッターを最小化させて書込みを最適化する方法が開示されている。すなわち、まず書込みパワーをアシメトリー補正方法で最適化した後、ジッター値が最小化されるようにマークエッジ、すなわち書込みパルスの最初のパルスと最後のパルスとをシフトする。また、この技法をマークとスペースとの組合せよりなった所定の書込みパターンにも適用し、この書込みパターンを分類して書き込んだ後で再生し、再生信号のジッターを演算してジッターが最小化されるように書込みパルスをシフトする。

しかし、従来の技術は反復書込み可能な媒体のうちクロスイレーズが比較的少なく発生する核生成方式のＤＶＤ−ＲＡＭタイプの媒体のために制限されていた。また、従来には書込みパワー決定時、アシメトリーの値にだけ決定する方法が主に発表されたが、これだけでは最適の書込み条件を満足させない。最近、光書込み傾向である高密度書込みでは書込み品質確保に問題になる所持のある書込み時に引き起こされるクロスイレーズまたは書込み後再生時に引き起こされるクロストークの影響を考慮する必要性が現れている。
国際特許公開 ＷＯ２００１／１１６１４号公報（日立社、“試験書込み方法及びそれを利用した光ディスク装置”） 日本特許公開２０００−２５１２５６号公報（“書込み装置、レーザーパワー設定方法”） "Ｎｅｗ Ｍｅｔｈｏｄ ｏｆ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｎｇ Ａｄａｐｔｉｖｅ Ｗｒｉｔｉｎｇ Ｐｕｌｓｅｓ ｆｏｒ ＤＶＤ−ＲＡＭ ４.７ ＧＢ Ｄｒｉｖｅ"、ＪＪＡＰ Ｖｏｌ. ４０（２００１）１６９４〜１６９７

したがって、本発明の目的は、従来の核生成方式だけでなく高速成長方式の光書込み媒体に対して自動で書込みを最適化する方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供するところにある。

本発明の他の目的は、書込み時、クロスイレーズを考慮して光書込み媒体の書込み条件を自動で最適化する方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供するところにある。

本発明のさらに他の目的は、ＣＤ、ＤＶＤだけでなく次世代高密度ディスクの書込み方式に対応した自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供するところにある。

本発明のさらに他の目的は、回路の単純化と作動時間の短縮のための新しい書込みパターンの組合せとを書込み最適化に利用する方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供するところにある。

本発明のさらに他の目的はアシメトリー補正とジッター補正だけでなく再生信号の大きさ補正を利用して自動的にパワーと書込みパターンの最適書込み条件を探し出す方法及びそれを遂行する光書込み／再生装置を提供するところにある。

本発明によって、上記の目的は光書込み媒体の書込み条件を最適化する方法において、（ａ）試験書込みパターンを光書込み媒体の複数のトラックに試験記録する段階と、（ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮したある１つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って最適化された書込み条件を決定する段階とを含む自動書込み最適化方法によって遂行される。

前記（ａ）段階では、前記試験書込みパターンを最短Ｔ（Ｔは書込み／再生クロックの周期）とマーク形成によるパワーとが飽和される時点のＴの２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースよりなるパターンを利用して試験記録するのが望ましい。ここで、ＲＬＬ（１,７）コード使用時には試験書込みパターンを２Ｔ及び５Ｔの２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースよりなるパターンを利用して試験記録するのが望ましい。また、ＲＬＬ（１,７）コードを使用時には試験書込みパターンを２Ｔ長さ及び５Ｔ長さのマークと、スペースとを含む試験書込みパターンを利用して試験記録するのが望ましい。また、ＲＬＬ（２,１０）コードの使用時には２つまたはそれ以上のＴの組み合わせでマークとスペースとよりなる試験書込みパターンを利用して試験書込みすることが望ましい。また、ＲＬＬ（２,１０）コードの使用時には３Ｔ長さのマーク及び６Ｔ長さのマークと、スペースとを含む試験書込みパターンを利用して試験書込みすることが望ましい。

前記（ｂ）段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを最適化する条件を決定するのが望ましい。

前記（ｂ）段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。

前記（ｂ）段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。

前記（ｂ）段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。

本発明は光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みに必要なパワーを決定する方法において、（ａ）試験書込みパターンを前記光書込み媒体の複数トラックに書き込む段階と、（ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した何れか１つのトラックで再生される信号の大きさを利用して最適の前記パワーを決定する段階とを含む自動書込み最適化方法によって遂行される。

前記方法は（ｃ）前記（ｂ）段階で決定された最適のパワーを設定し、所定の試験書込みパターンを書き込む段階、（ｄ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、（ｅ）前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とをさらに含む。

前記方法は（ｆ）前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。

前記方法は（ｇ）前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。

また、本発明は光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、（ａ）前記光書込み媒体上に試験書込みパターンを書き込む段階と、（ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、（ｃ）前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階と、を含む自動書込み最適化方法によって遂行される。

前記方法は（ｄ）前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。

前記方法は（ｅ）前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。

本発明の他の分野によれば、所定の試験書込みパターンを１つまたはそれ以上の複数のトラックに書込みし、前記光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか１つのトラックで再生するピックアップ＆再生信号検出部と、前記再生信号の大きさを検出する第１検出部と、前記再生信号の大きさを利用して最適のパワーを決定するシステムコントローラとを含む光書込み／再生装置によって遂行される。

前記装置は前記再生信号のアシメトリーを検出する第２検出部と、前記再生信号のジッターを検出する第３検出部とをさらに含む。

また、本発明は、高速成長方法及び核生成方式を使用する光記録媒体上の記録最適化方法において、前記光記録媒体上の複数のトラックに試験記録パターンを記録する段階と、前記記録パターンが記録された光記録媒体から隣接トラックの記録影響を考慮した前記複数のトラックのうち１つから再生される無線周波数信号の品質を評価して最適の記録条件を決定する段階とを含む方法によって遂行される。

本発明は核生成方式だけでなく高速成長方式の光書込み媒体に対して自動で書込みを最適化できる。本発明は光書込み時にクロスイレーズを考慮して書込み条件を自動で最適化でき、あらゆる書込み用ＣＤ、ＤＶＤ、及びＨＤ−ＤＶＤなどの書込み方式に対応でき、特に高密度書込み方式のＨＤ−ＤＶＤ ＲＷディスクの書込みに利用できる。また、本発明は実際書込みパターンのような書込み／再生傾向を有する試験書込みパターンを利用して回路を単純化させ、作動時間を短縮できる。

以下、図面を参照して本発明の望ましい実施例を説明する。

図１は、本発明による光書込み／再生装置の一実施例によるブロック図である。

図１において、ピックアップ＆ＲＦ検出部１１０は光書込み媒体、例えば、ディスク１００上にデータを書き込むか、ディスク１００上に書き込まれたデータを再生する。このピックアップ＆ＲＦ検出部１１０は書込みユニット１１１と再生ユニット１１２とを含んでいる。書込みユニット１１１はレーザーダイオード（図示せず）から照射されるビームを光学系（図示せず）を通じて書込みパルス形態にディスク１００上に成形し、再生ユニット１１２はディスク１００から反射される光信号を光学系を通じて電気的な信号に変換し、変換された電気的な信号を利用してＲＦ信号（再生信号という）を検出する。

本発明の自動書込み最適化方法を遂行するためにシステムコントローラ１５０はまずパワー試験書込みを実施する。標準書込みパワーＰ_ｗ、標準消去パワーＰ_ｅ、標準バイアスパワーＰ_ｂｗを設定した後、ＷＳ（Ｗｒｉｔｅ Ｓｔｒａｔｅｇｙ）＆ＡＰＣ（自動パワー制御）部１６０に命令して書込みユニット１１１を通じてディスク１００のテスト領域に２Ｔと５Ｔ（Ｔはビット間隔）とを組み合わせてマークとスペースとよりなる試験書込みパターン（以下、２Ｔ＋５Ｔパターン）を書込む時に引き起こされるクロスイレーズに対応するために複数トラック（ここでは、３トラック）上に連続的に書き込む。

ここで、本発明の自動書込み最適化に使われる試験書込みパターンとして２Ｔと５Ｔとの組合せよりなったパターンを使用する理由はパワー（特に、書込みパワー）が最適化されない時、短Ｔに影響を与えるが、長Ｔには影響をあまり与えない特性を利用して最短マークを形成するＴに該当する２Ｔとマーク形成によるパワーが飽和される時点のＴ（ここでは、５Ｔ）とを利用する。長Ｔに対する短Ｔの比を示すアシメトリーを利用するために本発明の実施例では２Ｔと５Ｔとを組み合わせたパターンを使用している。

書き込まれた３トラックのうち隣接トラックの書込みに影響される中間トラックに書き込まれた書込みパターンを再生ユニット１１２を通じて再生し、エンベロープ検出部１２０は再生ユニット１１２から再生されたＲＦ信号のエンベロープを検出して最大振幅値、具体的には５Ｔに対するＲＦ信号のピーク対ピーク値Ｉ５ｐｐをシステムコントローラ１５０に出力する。システムコントローラ１５０はエンベロープ検出部１２０から出力される標準パワーＰ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗで検出された最大振幅値Ｉ５ｐｐを記憶させ、書込みパワーＰ_ｗ、消去パワーＰ_ｅ、バイアスパワーＰ_ｂｗの範囲を１つずつ可変させた後、例えばＰ_ｂｗ＝０.１ｍＷとＰ_ｗ＝４.７ｍＷに固定し、Ｐ_ｅ＝１.５ｍＷ〜２.５ｍＷ範囲内で可変しながら試験書込みパターンを前述したような過程で再び書込み／再生する。この時、エンベロープ検出部１２０によって検出されたＩ５ｐｐ値とシステムコントローラ１５０に記憶されている標準Ｐ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗで得られたＩ５ｐｐ値とを比較する過程を繰り返して最大振幅値とを有する時点のＰ_ｅ値を最適の消去パワーに決定し、同じく、Ｐ_ｗ、Ｐ_ｂｗに対しても前述した過程を通じて最適の書込みパワーと最適のバイアスパワーとを決定する。

最適のパワーＰ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗが決定されれば、システムコントローラ１５０は書込みパターンに対する試験書込みを実施する。まず、標準書込みパターンを設定した後、第１書込みパルスの幅を示す書込みパターン要素Ｔ１、マルチパルスの幅を示す書込みパターン要素Ｔ２を所定の値に固定し、第１パルスの開始点のシフト量を示す書込みパターン要素ｄＴ１を変数に設定して２Ｔ＋５Ｔパターンを１回書き込む。書き込まれた２Ｔ＋５Ｔパターンを再生してアシメトリー検出部１４０によって検出されたアシメトリー値とその時の書込みパターン要素ｄＴ１の設定値とをシステムコントローラ１５０に出力する。前述した方法で所定の範囲にｄＴ１を可変させながら２Ｔ＋５Ｔパターンを書込み／再生した後、システムコントローラ１５０はアシメトリー検出部１４０で検出されたアシメトリー値を以前に入力されているアシメトリー値と比較して検出されたアシメトリー値が最小である時のｄＴ１を最適のｄＴ１に決定する。ｄＴ１が決定された後、クーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素ｄＴ２も前記と同じ方法でｄＴ２を変数に設定して２Ｔ＋５Ｔパターンを書き込んだ後で再生してシステムコントローラ１５０はエンベロープ検出部１２０で検出されたＩ５ｐｐが最大である時のｄＴ２を最適のｄＴ２に決定する。

最適のｄＴ１、ｄＴ２が決定されれば、決定されたｄＴ１とｄＴ２とを固定した後、第１パルス幅を示す書込みパターン要素Ｔ１とマルチパルスの幅を示す書込みパターン要素Ｔ２とをそれぞれ所定の範囲に可変させながら２Ｔ＋５Ｔパターンを書込み／再生した後、システムコントローラ１５０はジッター検出部１３０で検出されたジッターが最小である時のＴ１、Ｔ２を最適のＴ１、Ｔ２に決定する。

図２（Ａ）は、消去パワーＰ_ｅによるランダムパターンのジッターを示し、図２（Ｂ）は、消去パワーＰ_ｅによる２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターを示し、図２（Ｃ）は、消去パワーＰ_ｅによる５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐとの関係を示し、図２（Ｄ）は、消去パワーＰ_ｅとアシメトリーとの関係を示す。

すなわち、図２（Ａ）及び図２（Ｂ）で分かるようにランダムパターンと２Ｔ＋５Ｔパターンとは同じ書込み／再生傾向を有し、図２（Ｃ）で分かるようにジッターが最小である時、Ｉ５ｐｐは最大値を示し、この時のアシメトリー値（図２（Ｄ））も所定の範囲内に存在する。したがって、本発明では最適の消去パワーＰ_ｅの決定において２Ｔ＋５Ｔパターンを書き込んだ後、Ｉ５ｐｐ値が最大である時、最適の消去パワーに決定する。

図３（Ａ）は、書込みパワーＰ_ｗによるランダムパターンのジッターを示し、図３（Ｂ）は、書込みパワーＰ_ｗによる２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターを示し、図３（Ｃ）は、書込みパワーＰ_ｗによる５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐとの関係を示す。

すなわち、書込みパワーＰ_ｗも消去パワーＰ_ｅと同じく図３（Ａ）及び図３（Ｂ）で分かるようにランダムパターンと２Ｔ＋５Ｔパターンとは同じ書込み／再生傾向を有し、図３（Ｃ）で分かるようにジッターが最小である時、Ｉ５ｐｐは最大値を示す。したがって、本発明では書込みパワーＰ_ｗ決定において２Ｔ＋５Ｔパターンを書き込んだ後、Ｉ５ｐｐ値が最大である時、最適の書込みパワーに決定する。

図４（Ａ）は、バイアスパワーＰ_ｂｗによるランダムパターンのジッターを示し、図４（Ｂ）、はバイアスパワーＰ_ｂｗによる２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターを示し、図４（Ｃ）は、バイアスパワーＰ_ｂｗによる５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐとの関係を示す。

すなわち、バイアスパワーＰ_ｂｗもやはり消去パワーＰ_ｅと書込みパワーＰ_ｗと同じく図４（Ａ）及び図４（Ｂ）で分かるようにランダムパターンと２Ｔ＋５Ｔパターンは同じ書込み／再生傾向を有し、図４（Ｃ）で分かるようにジッターが最小である時、Ｉ５ｐｐは最大値を示す。したがって、本発明ではバイアスパワーＰ_ｂｗ決定において２Ｔ＋５Ｔパターンを書き込んだ後、Ｉ５ｐｐ値が最大である時、最適のバイアスパワーに決定する。

結論的に、書込みに使われる光パワーＰ_ｅ、Ｐ_ｗ、Ｐ_ｂｗがジッターによって同じ書込み／再生傾向があるので、Ｐ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗ条件を順次に変化させながら書き込んだ後で再生してＩ５ｐｐ値が最大である時点のＰ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗを最適のＰ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗに決定する。例えば、Ｐ_ｂｗ＝０.１ｍＷに、Ｐ_ｗ＝４.７ｍＷに固定し、Ｐ_ｅ＝１.５ｍＷ〜２.５ｍＷに調整した後、Ｉ５ｐｐ値が最大である時点で最適のＰ_ｅを決定する。Ｐ_ｂｗと決定されたＰ_ｅとは固定した後、Ｐ_ｗを調整してＩ５ｐｐ値が最大である時点で最適のＰ_ｗを決定する。決定されたＰ_ｅとＰ_ｗとを固定し、Ｐ_ｂｗを調整してＩ５ｐｐ値が最大である時点で最適のＰ_ｂｗを決定する。

図５は書込みパターンと光パワーＰ_ｅ、Ｐ_ｗまたはＰ_ｂｗが最適化されていない時の一例で書込みパワーが大きくなれば、隣接トラックが消されてジッターが発生する。すなわち、隣接トラックの書込み影響によってクロスイレーズ現象が発生してジッター値に影響を与える現象を示す。

図６（Ａ）に示されているように所定長さ（図では８Ｔ_ｗ）を有するマークは図６（Ｂ）に示されているようにディスク上に書込みパルス形態で書き込まれ、光パワーと書込みパターンとによる書込み条件要素を示した図である。書込みパルスは書込みパワーＰ_ｗを有する第１パルスと、バイアスパワーＰ_ｂｗを有する最後のパルス（クーリングパルスという）があり、第１パルスとクーリングパルス間にＴ_ｗによって個数が変わるマルチパルス列がある。また、スペース期間には消去パワーＰ_ｅが必要である。Ｔ１は第１パルスの幅を示し、ｄＴ１は第１パルスの開始点のシフト量を示し、Ｔ２はマルチパルスの幅を示し、ｄＴ２はクーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素である。

一方、光書込み時に安定した書込み品質を得るために光パワーだけでなく書込みパルス形態の書込みパターンに対する最適化が必要であり、これは光書込み／再生装置及び書込み媒体の特性によって変わるので、図６（Ｂ）に示されたような書込みパターンの構成と書込みとに必要なパワーの決定を自動化せねばならない。特に、高密度書込み影響によるクロスイレーズ現象を最小化することも考慮すべきである。このような目的を達成するために実際具現においても単純な回路構造で速い速度の最適化が必要なので、実際書込みパターンと同じ書込み／再生傾向を有する新しい試験書込みパターンが要求される。

したがって、本発明では試験書込みパターンとして最短マークを形成するＴとマーク形成によるパワーが飽和される時点のＴとを利用し、磁気書込みシステムや光ディスクドライブのようなデータ貯蔵システムで最も多く使われる変調コードは（ｄ、ｋ）制限（ビット１とビット１間に連続されるビット０の数が最小ｄから最大ｋまでに制限）をするＲＬＬ（ｒｕｎ−ｌｅｎｇｔｈ−ｌｉｍｉｔｅｄ）コードであって、ＲＬＬ（１,７）コード使用時、試験書込みパターンは最短Ｔ（ここでは、２Ｔ）とマーク形成によるパワーが飽和される時点のＴ（ここでは、５Ｔ）の２つまたはそれ以上のＴの組合せで決定できる。このＲＬＬ（１,７）コードを使用する光書込み媒体はＨＤ−ＤＶＤ、ＨＤ−ＤＶＤ
ＲＷのような高密度書込み媒体に該当する。

また、ＲＬＬ（２,１０）コード使用時、試験書込みパターンは最短Ｔ（ここでは、３Ｔ）とマーク形成によるパワーが飽和される時点のＴ（ここでは、６Ｔ）の２つまたはそれ以上のＴの組合せで決定できる。このＲＬＬ（２,１０）コードを使用する光書込み媒体はＣＤとＤＶＤ系列の書込み媒体に該当する。

本発明の実施例では最短マークのＴである２Ｔと５Ｔとの組合せとよりなった書込みパターンを最適化に利用する。

図７（Ａ）は、クーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素ｄＴ２の変化に対するランダムパターンのジッターを示し、図７（Ｂ）は、書込みパターン要素ｄＴ２の変化に対する２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターを示し、図７（Ｃ）は、書込みパターン要素ｄＴ２変化に対する５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐとの関係を示し、図７（Ｄ）は、書込みパターン要素ｄＴ２変化に対するアシメトリーとの関係を示している。

すなわち、図７（Ａ）及び図７（Ｂ）で分かるようにランダムパターンと２Ｔ＋５Ｔパターンとの書込み／再生傾向は一致し、図７（Ｃ）で分かるようにジッターが最小である時、Ｉ５ｐｐは最大であることが分かり、この時、図７（Ｄ）に示されたアシメトリー値も所定の範囲内に入っていることが分かる。したがって、最適のｄＴ２はＩ５ｐｐが最大である時に決定できる。

図８（Ａ）は、第１パルスの開始点のシフト量を示す書込みパターン要素ｄＴ１の変化に対するランダムパターンのジッターを示し、図８（Ｂ）は、書込みパターン要素ｄＴ１の変化に対する２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターを示し、図８（Ｃ）は、書込みパターン要素ｄＴ１変化に対するアシメトリーとの関係を示している。

すなわち、図８（Ａ）及び図８（Ｂ）で分かるようにランダムパターンと２Ｔ＋５Ｔパターンとの書込み／再生傾向は一致し、図８（Ｃ）で分かるように書込みパターン要素ｄＴ１を変化させる時、ジッターが最小である時点でアシメトリーも最小であることが分かる。したがって、最適のｄＴ１はアシメトリーが最小である時に決定できる。

残りの第１書込みパルス幅を表す書込みパターン要素Ｔ１とマルチパルス幅を表す書込みパターン要素Ｔ２とは２Ｔ＋５Ｔパターンのジッターが最小である時点で最適のＴ１とＴ２とを決定できる。

図９は、本発明によるパワーを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートであって、図１に関連させて説明する。

図９において、試験書込みのための標準書込みパワーＰ_ｗ、標準消去パワーＰ_ｅ、標準バイアスパワーＰ_ｂｗを設定し（９０１段階）、２Ｔ＋５Ｔを組み合わせた試験書込みパターンをクロスイレーズ影響をチェックするためにディスク１００のテスト領域の複数のトラック（ここでは、３トラック）に連続して書き込む（９０２段階）。試験書込みパターンが書き込まれた３トラックのうち中間トラックを再生し、エンベロープ検出部１２０によって検出された５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐを検出する（９０３段階）。設定された書込みパワーＰ_ｗ、消去パワーＰ_ｅ、バイアスパワーＰ_ｂｗでＩ５ｐｐが最大値であるかどうかを判断し（９０４段階）、最大値でなければ、書込みパワーＰ_ｗ、消去パワーＰ_ｅ、またはバイアスパワーＰ_ｂｗを調整する。

例えば、書込みパワーＰ_ｗとバイアスパワーＰ_ｂｗは固定し、消去パワーＰ_ｅを所定範囲内で調整してエンベロープ検出部１２０で検出されたＩ５ｐｐが最大値になるまで９０２段階ないし９０５段階を遂行し続ける。検出されたＩ５ｐｐが最大値になる時点の消去パワーＰ_ｅを最適の消去パワーとして決定する。次いで、決定された消去パワーＰ_ｅとバイアスパワーＰ_ｂｗとを固定し、書込みパワーＰ_ｗを所定の範囲内で調整してエンベロープ検出部１２０で検出されたＩ５ｐｐが最大値になるまで９０２段階ないし９０５段階を遂行し続ける。検出されたＩ５ｐｐが最大値になる時点の書込みパワーＰ_ｗを最適の書込みパワーとして決定する。最後に、決定された書込みパワーＰ_ｗと決定された消去パワーＰ_ｅとを固定し、バイアスパワーＰ_ｂｗを所定範囲内で調整してエンベロープ検出部１２０で検出されたＩ５ｐｐが最大値になるまで９０２段階ないし９０５段階を遂行し続ける。検出されたＩ５ｐｐが最大値を有する時点のバイアスパワーＰ_ｂｗを最適のバイアスパワーとして決定する（９０６段階）。９０５段階でパワーを調整する順序は製作業者の意図によって変わりうる。

図１０は、本発明による書込みパターンを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートであって、図１に関連させて説明する。図１０において、試験書込みのためのパワーＰ_ｗ、Ｐ_ｅ、Ｐ_ｂｗを設定し、標準パターンを設定する（１００１段階）。ここで、試験書込みのためのパワーは図９に示された方法によって決定された最適の書込みパワーＰ_ｗ、最適の消去パワーＰ_ｅ、最適のバイアスパワーＰ_ｂｗを設定するのが望ましいが、標準書込みパワーＰ_ｗ、標準消去パワーＰ_ｅ、標準バイアスパワーＰ_ｂｗを設定しうる。

書込みパターン要素のうち第１パルス幅を表すＴ１とマルチパルス幅を表すＴ２とは固定し、第１パルスの開始点のシフト量を示すｄＴ１、クーリングパルスの持続時間を示すｄＴ２は設定して２Ｔと５Ｔとを組み合わせた書込みパターンを書き込む（１００２段階）。ここで、書込みパターンを１トラックに書き込むこともでき、複数トラックに連続して書き込むこともできる。また、１００２段階で書込みパターン要素Ｔ１、Ｔ２、ｄＴ１は固定し、ｄＴ２を可変させて最適のｄＴ２を決定した後、ｄＴ１を可変させて最適のｄＴ１を決定できるが、処理時間短縮のために２個の書込みパターン要素またはそれ以上の書込みパターン要素を同時に設定できる。

２Ｔ＋５Ｔパターンが書き込まれた書込みトラックを再生ユニット１１２によって再生してＲＦ信号を出力し、アシメトリー検出部１４０はＲＦ信号のアシメトリー値を検出し、エンベロープ検出部１２０は５Ｔに対するＲＦ信号の最大振幅値Ｉ５ｐｐ値を検出する（１００３段階）。最適のｄＴ１はアシメトリー検出部１４０で検出されたアシメトリー値が最小値である時に決定し、最適のｄＴ２はエンベロープ検出部１２０で検出されたＩ５ｐｐ値が最大値である時に決定するので、アシメトリー値が最小値であるかまたはＩ５ｐｐ値が最大値であるかを判断し（１００４段階）、アシメトリー値が最小値でないか。またはＩ５ｐｐ値が最大値でなければ、ｄＴ１またはｄＴ２を調整して（１００５段階）アシメトリー値が最小値であり、Ｉ５ｐｐ値が最大値になるまで１００２段階及び１００５段階を遂行し続ける。前述した過程を通じてアシメトリー値が最小値であり、Ｉ５ｐｐ値が最大値であれば、最適のｄＴ１及びｄＴ２を決定する（１００６段階）。

決定された最適のｄＴ１及びｄＴ２値を固定し、Ｔ１及びＴ２を設定した後、２Ｔ及び５Ｔを組み合わせた書込みパターンを書き込む（１００７段階）。１００７段階でも書込みパターンを１トラックに書き込め、複数トラックに書込みうる。また、書込みパターン要素ｄＴ１、ｄＴ２、Ｔ１は固定し、Ｔ２を可変させて最適のｄＴ２を決定した後、Ｔ１を可変させて最適のＴ１を決定できるが、処理時間短縮のために２個の書込みパターン要素Ｔ１、Ｔ２を設定する。

２Ｔ＋５Ｔパターンが書き込まれた書込みトラックを再生ユニット１１２によって再生してＲＦ信号を出力し、ジッター検出部１３０はＲＦ信号のジッター値を検出する（１００８段階）。ジッター値が最小値であるかどうかを判断し（１００９段階）、最小値でなければＴ１及びＴ２を調整する（１０１０段階）。ジッター値が最小値になるまで１００７段階ないし１０１０段階を遂行し続ける。ジッター検出部１３０で検出されたジッター値が最小値になれば、最適のＴ１及びＴ２を決定する（１０１１段階）。

このように、本発明の詳細なる説明では具体的な実施例について説明したが、本発明の範疇から外れない限度内で色々な変形が可能であるのはもとよりである。したがって、本発明の範囲は説明された実施例に限定されて定められてはならず、特許請求の範囲だけでなくこの特許請求の範囲と均等なものによって定められねばならない。

本発明は光記録媒体の記録を最適に遂行する光記録／再生装置に係り、核生成方式だけでなく、拘束成長方式の光記録媒体についての自動記録、すべての記録用ＣＤ、ＤＶＤ及びＨＤ−ＤＶＤなどの記録方式、そして特に高密度記録方式のＨＤ−ＤＶＤ ＲＷディスクの記録に利用できる。

本発明による光書込み／再生装置の一実施例によるブロック図である。 （Ａ）ないし（Ｄ）は、本発明の消去パワー決定方法を説明するための図である。 （Ａ）ないし（Ｃ）は、本発明の書込みパワー決定方法を説明するための図である。 （Ａ）ないし（Ｃ）は、本発明のバイアスパワー決定方法を説明するための図である。 クロスイレーズによるジッターを説明するための図である。 （Ａ）及び（Ｂ）は本発明の書込み条件要素を示した図である。 （Ａ）ないし（Ｄ）は本発明のクーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素ｄＴ２による書込みパターン決定を説明するための図である。 （Ａ）ないし（Ｃ）は本発明の第１パルスの開始点のシフト量を示す書込みパターン要素ｄＴ１による書込みパターン決定を説明するための図である。 本発明によるパワーを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートである。 本発明による書込みパターンを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートである。

符号の説明

１００ ディスク
１１０ ピックアップ＆ＲＦ検出部
１１１ 書込みユニット
１１２ 再生ユニット
１２０ エンベロープ検出部
１３０ ジッター検出部
１４０ アシメトリー検出部
１５０ システムコントローラ
１６０ ＷＳ＆ＡＰＣ部

Claims (60)

1. 光書込み媒体の書込み条件を最適化する方法において、
   （ａ）試験書込みパターンを光記録媒体の複数のトラックに試験記録する段階と、
   （ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れかある１つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って最適化された書込み条件を決定する段階とを含む方法。
2. 前記（ａ）段階では前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上の長さの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験記録することを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 前記試験書込みパターンは長さＴの第１マークと、前記第１マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さＮＴの第２マークと、を含み、前記Ｔは書き込み及び／または再生クロックのサイクルであり、Ｎは整数であることを特徴とする請求項１に記載の方法。
4. 前記（ａ）段階では前記光書き込み媒体はＲＬＬ（１,７）コードを使用し、２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項２に記載の方法。
5. 前記光書き込み媒体はＲＬＬ（１,７）コードを使用し、前記試験書込みパターンは２Ｔ長さのマーク及び５Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項２に記載の方法。
6. 前記（ａ）段階では前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードを使用し、前記試験書込みパターンを２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項２に記載の方法。
7. 前記（ａ）段階では前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードを使用し、前記試験書込みパターンは３Ｔ長さのマーク及び６Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項２に記載の方法。
8. 前記（ｂ）段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
9. 前記（ｂ）段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書き込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
10. 前記（ｂ）段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用して書き込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
11. 前記（ｂ）段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項１に記載の方法。
12. 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みに必要なパワーを決定する方法において、 （ａ）試験書込みパターンを前記光書込み媒体の複数トラックに書き込む段階と、 （ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した何れか１つのトラックで再生される信号の大きさを利用して最適の前記パワーを決定する段階とを含む方法。
13. 前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペーサとを含むことを特徴とする請求項１２に記載の方法。
14. 前記試験書込みパターンは長さＴの第１マークと、前記第１マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さＮＴの第２マークと、を含み、前記Ｔは書込み及び／または再生クロックのサイクルであり、Ｎは整数であることを特徴とする請求項１２に記載の方法。
15. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（１,７）コードを使用し、前記試験書込みパターンを２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペーサとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
16. 前記光書き込み媒体はＲＬＬ（１,７）コードを使用し、前記試験書込みパターンは２Ｔ長さのマーク及び５Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項１３に記載の方法。
17. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードの使用時、前記試験書込みパターンを２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
18. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードを使用し、前記試験書込みバターンは３Ｔ長さのマーク及び６Ｔ長さのマークと、スペースとを含むことを特徴とする請求項１３に記載の方法。
19. 前記再生信号の大きさは試験書込みパターンでマーク形成によるパワーが飽和される時点のＴに対する再生信号のピーク対ピーク値として定められることを特徴とする請求項１３に記載の方法。
20. 前記（ｂ）段階は、
    （ｂ１）前記複数トラックのうち隣接トラックの書込み影響を考慮した中間トラックに書き込まれた試験書込みパターンを再生して再生信号を提供する段階と、
    （ｂ２）書込みパワー、バイアスパワー及び消去パワーのうち２個のパワーは固定し、残りの１つのパワーは所定の範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大値である時、最適のパワーとして決定する段階とを含む請求項１２に記載の方法。
21. 前記（ａ）段階は、
    （ａ１）試験書込みのための標準書込みパワー、標準消去パワー、標準バイアスパワーを設定する段階と、
    （ａ２）所定の試験書込みパターンを所定数の複数トラックに書き込む段階とを含む請求項１２に記載の方法。
22. 前記（ｂ）段階は、
    （ｂ１）前記複数トラックのうち隣接トラックの影響を考慮した中間トラックに書き込まれた書込みパターンを再生して再生信号を提供する段階と、
    （ｂ２）前記再生信号のエンベロープを検出して最大振幅値を検出する段階と、
    （ｂ３）書込みパワーとバイアスパワーとを固定し、消去パワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
    （ｂ４）前記（ｂ３）段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記（ｂ１）段階ないし前記（ｂ３）段階を遂行し続け、最大振幅値であれば、この時の消去パワーを最適の消去パワーとして決定する段階とを含む請求項２１に記載の方法。
23. 前記（ｂ）段階は、
    （ｂ５）バイアスパワーと最適の消去パワーとを固定し、書込みパワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
    （ｂ６）前記（ｂ５）段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記（ｂ１）段階ないし前記（ｂ３）段階を遂行し続け、最大振幅値が検出されれば、この時の書込みパワーを最適の書込みパワーとして決定する段階とをさらに含む請求項２２に記載の方法。
24. 前記（ｂ）段階は、
    （ｂ７）最適の消去パワーと書込みパワーとを固定し、バイアスパワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
    （ｂ８）前記（ｂ７）段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記（ｂ１）段階ないし前記（ｂ３）段階を遂行し続け、最大振幅値であれば、この時のバイアスパワーを最適のバイアスパワーとして決定する段階とをさらに含む請求項２３に記載の方法。
25. 前記方法は、
    （ｃ）前記（ｂ）段階で決定された最適のパワーを設定し、所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
    （ｄ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
    （ｅ）前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とをさらに含む請求項１２に記載の方法。
26. 前記（ｅ）段階では前記再生信号の大きさが最大振幅値である時、クーリングパルスの持続時間を表わす書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項２５に記載の方法。
27. （ｆ）前記再生信号のアシメトリー値を利用して試験書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項２５に記載の方法。
28. 前記（ｆ）段階では前記再生信号のアシメトリー値が最小値である時、第１パルスの開始点のシフト量を表わす書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項２７に記載の方法。
29. （ｇ）前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項２５に記載の方法。
30. 前記（ｇ）段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、第１パルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項２９に記載の方法。
31. 前記（ｇ）段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、マルチパルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項２９に記載の方法。
32. 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、
    （ａ）前記光書込み媒体上に試験書込みパターンを書き込む段階と、
    （ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
    （ｃ）前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とを含む方法。
33. 前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項３２に記載の方法。
34. 前記試験書込みパターンは長さＴの第１マークと、前記第１マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さＮＴの第２マークとを含み、前記Ｔは書込み及び／または再生クロックのサイクルであり、Ｎは整数であることを特徴とする請求項３２に記載の方法。
35. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（１,７）コード使用時、前記試験書込みパターンを２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験記録することを特徴とする請求項３３に記載の方法。
36. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（１,７）コードを使用し、前記試験書込みパターンは２Ｔ長さのマーク及び５Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項３３に記載の方法。
37. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コード使用時、前記試験書込みパターンを２つまたはそれ以上のＴの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みをすることを特徴とする請求項３３に記載の方法。
38. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードを使用し、前記試験書込みパターンは３Ｔ長さのマーク及び６Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項３３に記載の方法。
39. 前記（ｃ）段階では前記再生信号の大きさが最大振幅値である時、クーリングパルスの持続時間を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項３２に記載の方法。
40. （ｄ）前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項３２に記載の方法。
41. 前記（ｄ）段階では前記再生信号のアシメトリー値が最小値である時、第１パルスの開始点のシフト量を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項４０に記載の方法。
42. （ｅ）前記再生信号のジッター値の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項３２に記載の方法。
43. 前記（ｅ）段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、第１パルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項４２に記載の方法。
44. 前記（ｅ）段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、マルチパルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項４２に記載の方法。
45. 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、
    （ａ）第１パルス幅を表す第１書込みパターン要素とマルチパルス幅を表す第２書込みパターン要素とは固定し、第１パルスの開始点のシフト量を表す第３書込みパターン要素とクーリングパルスの持続時間を表す第４書込みパターン要素とは設定して所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
    （ｂ）前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
    （ｃ）前記再生信号のアシメトリーを検出する段階と、
    （ｄ）前記再生信号のエンベロープを検出する段階と、
    （ｅ）前記（ｃ）段階で検出された再生信号のアシメトリー値を利用して前記第３書込みパターン要素を決定して、前記（ｄ）段階で検出された再生信号の大きさを利用して前記第４書込みパターン要素を決定する段階とを含む方法。
46. 前記方法は、
    （ｆ）前記再生信号のジッターを検出する段階と、
    （ｇ）前記（ｅ）段階で決定された第３及び第４書込みパターン要素を固定し、前記第１及び第２書込みパターン要素を設定した後、所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
    （ｈ）前記（ｆ）段階で検出された再生信号のジッター値を利用して前記第１及び第２書込みパターン要素を決定する段階とをさらに含む請求項４５に記載の方法。
47. 光書込み／再生装置において、
    所定の試験書込みパターンを１つまたはそれ以上の複数のトラックに書込みし、前記光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか１つのトラックで再生するピックアップ＆再生信号検出部と、
    前記再生信号の大きさを検出する第１検出部と、
    前記再生信号の大きさを利用して最適のパワーを決定するシステムコントローラとを含む装置。
48. 前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項４７に記載の装置。
49. 前記試験書込みパターンは長さＴの第１マークと、前記第１マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さＮＴの第２マークとを含み、前記Ｔは書込み及び／または再生クロックのサイクルであり、Ｎは整数であることを特徴とする請求項４７に記載の装置。
50. ＲＬＬ（１,７）コードを使用し、前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上他の長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項４８に記載の装置。
51. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（１,７）コード使用し、前記試験書き込みパターンは２Ｔ長さのマーク及び５Ｔ長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項４８に記載の方法。
52. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コード使用し、前記試験書込みパターンは２つまたはそれ以上のＴの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項４８に記載の装置。
53. 前記光書込み媒体はＲＬＬ（２,１０）コードを使用し、前記試験書込みパターンは３Ｔ長さのマーク及び６Ｔ長さのマークと、スペースとを含むことを特徴とする４８に記載の方法。
54. 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号の最大振幅値になる時点で書込みに必要な書込みパワー、消去パワー、バイアスパワーを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項４７に記載の装置。
55. 前記再生信号のアシメトリーを検出する第２検出部と、
    前記再生信号のジッターを検出する第３検出部とをさらに含むことを特徴とする請求項４７に記載の装置。
56. 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して第１パルスの開始点のシフト量を表す書込みパターン要素を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項５４に記載の装置。
57. 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用してクーリングパルスの持続時間を表す書込みパターン要素を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項５４に記載の装置。
58. 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して第１パルスの幅を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項５４に記載の装置。
59. 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用してマルチパルスの幅を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項５４に記載の装置。
60. 高速成長方法及び核生成方式を使用する光書込み媒体上の書込み最適化方法において、
    前記光書込み媒体上の複数のトラックに試験書込みパターンを書き込む段階と、
    前記書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した前記複数のトラックのうち１つから再生される無線周波数信号の品質を評価して最適の書込み条件を決定する段階とを含む方法。

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