JP2004152473A - 光書込み媒体の自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 光書込み媒体の自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供する。
【解決手段】 本発明は光書込み媒体の書込み条件を最適化するために所定の試験書込みパターンを複数のトラックに試験書込みし、試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか1つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って書込み条件を決定するが、再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを自動で最適化し、再生信号の大きさ、アシメトリー値及び/またはジッター値を利用して書込みパターンを自動で最適化する。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明は光書込み媒体の書込み条件を最適化するために所定の試験書込みパターンを複数のトラックに試験書込みし、試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか1つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って書込み条件を決定するが、再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを自動で最適化し、再生信号の大きさ、アシメトリー値及び/またはジッター値を利用して書込みパターンを自動で最適化する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光書込み媒体の書込み最適化分野に係り、特に、自動で光書込み媒体の書込みを最適化できる方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置に関する。
従来の光書込み媒体の書込み最適化方法は、DVD−RAM(Digital Versatile Disc−Random Access Memory)に適用される書込み最適化方法が知られているが、これはディスク媒体の構成方式が核生成方式にだけ限定されたものであった。高速成長方式を採択しているCD−RW、DVD−RWなどの再書込み系列のディスクまたは特に次世代の高密度書込み方式の光ディスクに対する書込み最適化方法は知られていない。
従来の書込み最適化方法の例として、特許文献1には位相離脱を最小化させて書込みを最適化する方法が開示されている。すなわち、書込みパワーを変化させながらマークとスペースとの組合せよりなった所定のパターンで書き込んだ後、再生時、書込みパターンエッジとPLL(Phase Lock Loop)クロックエッジとの位相差をエラーパルスとして抽出する。所定のマークとスペースとの組合せによる位相差(エラーパルス)が分類されて貯蔵されているテーブルから最小になる条件(シフト量)を求めてディスクに書込みパターンを再書き込んだ後で再生する過程を繰り返して位相差が最小値になる最適の書込みパルス幅とパワーとを決定している。この方法はパワー、パルス幅または位置を変化させながら、またはパワー、パルス幅及び位置を組合せて変化させながら書込みパターンをディスクに書込みし、それを再生して各要素のエラーパルス数が最小になる書込み条件を探している。
従来の書込み最適化方法の他の例として、特許文献2にはレーザーパワーを変化させながらランダムデータを利用した試験書込みパターンを書込み及び再生してジッターまたはエラーレートが最適になる書込みパワーPwと消去パワーPeとの比(最適ジッターとアシメトリーでのPw/Peは一定)を求めて処理時間を短縮し、単一パターンを利用してnトラックに最長T(ビット間隔)を書込みし、n+2トラックに最短Tを書込み及び再生してアシメトリー値が最適になる書込みパワーと消去パワーとを求めている。
従来の書込み最適化方法のさらに他の例として、非特許文献1にはジッターを最小化させて書込みを最適化する方法が開示されている。すなわち、まず書込みパワーをアシメトリー補正方法で最適化した後、ジッター値が最小化されるようにマークエッジ、すなわち書込みパルスの最初のパルスと最後のパルスとをシフトする。また、この技法をマークとスペースとの組合せよりなった所定の書込みパターンにも適用し、この書込みパターンを分類して書き込んだ後で再生し、再生信号のジッターを演算してジッターが最小化されるように書込みパルスをシフトする。
しかし、従来の技術は反復書込み可能な媒体のうちクロスイレーズが比較的少なく発生する核生成方式のDVD−RAMタイプの媒体のために制限されていた。また、従来には書込みパワー決定時、アシメトリーの値にだけ決定する方法が主に発表されたが、これだけでは最適の書込み条件を満足させない。最近、光書込み傾向である高密度書込みでは書込み品質確保に問題になる所持のある書込み時に引き起こされるクロスイレーズまたは書込み後再生時に引き起こされるクロストークの影響を考慮する必要性が現れている。
国際特許公開 WO2001/11614号公報(日立社、“試験書込み方法及びそれを利用した光ディスク装置”)
日本特許公開2000−251256号公報(“書込み装置、レーザーパワー設定方法”)
"New Method of Calibrating Adaptive Writing Pulses for DVD−RAM 4.7 GB Drive"、JJAP Vol. 40(2001)1694〜1697
したがって、本発明の目的は、従来の核生成方式だけでなく高速成長方式の光書込み媒体に対して自動で書込みを最適化する方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供するところにある。
本発明の他の目的は、書込み時、クロスイレーズを考慮して光書込み媒体の書込み条件を自動で最適化する方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供するところにある。
本発明のさらに他の目的は、CD、DVDだけでなく次世代高密度ディスクの書込み方式に対応した自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供するところにある。
本発明のさらに他の目的は、回路の単純化と作動時間の短縮のための新しい書込みパターンの組合せとを書込み最適化に利用する方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供するところにある。
本発明のさらに他の目的はアシメトリー補正とジッター補正だけでなく再生信号の大きさ補正を利用して自動的にパワーと書込みパターンの最適書込み条件を探し出す方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置を提供するところにある。
本発明によって、上記の目的は光書込み媒体の書込み条件を最適化する方法において、(a)試験書込みパターンを光書込み媒体の複数のトラックに試験記録する段階と、(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮したある1つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って最適化された書込み条件を決定する段階とを含む自動書込み最適化方法によって遂行される。
前記(a)段階では、前記試験書込みパターンを最短T(Tは書込み/再生クロックの周期)とマーク形成によるパワーとが飽和される時点のTの2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースよりなるパターンを利用して試験記録するのが望ましい。ここで、RLL(1,7)コード使用時には試験書込みパターンを2T及び5Tの2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースよりなるパターンを利用して試験記録するのが望ましい。また、RLL(1,7)コードを使用時には試験書込みパターンを2T長さ及び5T長さのマークと、スペースとを含む試験書込みパターンを利用して試験記録するのが望ましい。また、RLL(2,10)コードの使用時には2つまたはそれ以上のTの組み合わせでマークとスペースとよりなる試験書込みパターンを利用して試験書込みすることが望ましい。また、RLL(2,10)コードの使用時には3T長さのマーク及び6T長さのマークと、スペースとを含む試験書込みパターンを利用して試験書込みすることが望ましい。
前記(b)段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを最適化する条件を決定するのが望ましい。
前記(b)段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。
前記(b)段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。
前記(b)段階では、前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定するのが望ましい。
本発明は光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みに必要なパワーを決定する方法において、(a)試験書込みパターンを前記光書込み媒体の複数トラックに書き込む段階と、(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した何れか1つのトラックで再生される信号の大きさを利用して最適の前記パワーを決定する段階とを含む自動書込み最適化方法によって遂行される。
前記方法は(c)前記(b)段階で決定された最適のパワーを設定し、所定の試験書込みパターンを書き込む段階、(d)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、(e)前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とをさらに含む。
前記方法は(f)前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。
前記方法は(g)前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。
また、本発明は光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、(a)前記光書込み媒体上に試験書込みパターンを書き込む段階と、(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、(c)前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階と、を含む自動書込み最適化方法によって遂行される。
前記方法は(d)前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。
前記方法は(e)前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む。
本発明の他の分野によれば、所定の試験書込みパターンを1つまたはそれ以上の複数のトラックに書込みし、前記光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか1つのトラックで再生するピックアップ&再生信号検出部と、前記再生信号の大きさを検出する第1検出部と、前記再生信号の大きさを利用して最適のパワーを決定するシステムコントローラとを含む光書込み/再生装置によって遂行される。
前記装置は前記再生信号のアシメトリーを検出する第2検出部と、前記再生信号のジッターを検出する第3検出部とをさらに含む。
また、本発明は、高速成長方法及び核生成方式を使用する光記録媒体上の記録最適化方法において、前記光記録媒体上の複数のトラックに試験記録パターンを記録する段階と、前記記録パターンが記録された光記録媒体から隣接トラックの記録影響を考慮した前記複数のトラックのうち1つから再生される無線周波数信号の品質を評価して最適の記録条件を決定する段階とを含む方法によって遂行される。
本発明は核生成方式だけでなく高速成長方式の光書込み媒体に対して自動で書込みを最適化できる。本発明は光書込み時にクロスイレーズを考慮して書込み条件を自動で最適化でき、あらゆる書込み用CD、DVD、及びHD−DVDなどの書込み方式に対応でき、特に高密度書込み方式のHD−DVD RWディスクの書込みに利用できる。また、本発明は実際書込みパターンのような書込み/再生傾向を有する試験書込みパターンを利用して回路を単純化させ、作動時間を短縮できる。
以下、図面を参照して本発明の望ましい実施例を説明する。
図1は、本発明による光書込み/再生装置の一実施例によるブロック図である。
図1において、ピックアップ&RF検出部110は光書込み媒体、例えば、ディスク100上にデータを書き込むか、ディスク100上に書き込まれたデータを再生する。このピックアップ&RF検出部110は書込みユニット111と再生ユニット112とを含んでいる。書込みユニット111はレーザーダイオード(図示せず)から照射されるビームを光学系(図示せず)を通じて書込みパルス形態にディスク100上に成形し、再生ユニット112はディスク100から反射される光信号を光学系を通じて電気的な信号に変換し、変換された電気的な信号を利用してRF信号(再生信号という)を検出する。
本発明の自動書込み最適化方法を遂行するためにシステムコントローラ150はまずパワー試験書込みを実施する。標準書込みパワーPw、標準消去パワーPe、標準バイアスパワーPbwを設定した後、WS(Write Strategy)&APC(自動パワー制御)部160に命令して書込みユニット111を通じてディスク100のテスト領域に2Tと5T(Tはビット間隔)とを組み合わせてマークとスペースとよりなる試験書込みパターン(以下、2T+5Tパターン)を書込む時に引き起こされるクロスイレーズに対応するために複数トラック(ここでは、3トラック)上に連続的に書き込む。
ここで、本発明の自動書込み最適化に使われる試験書込みパターンとして2Tと5Tとの組合せよりなったパターンを使用する理由はパワー(特に、書込みパワー)が最適化されない時、短Tに影響を与えるが、長Tには影響をあまり与えない特性を利用して最短マークを形成するTに該当する2Tとマーク形成によるパワーが飽和される時点のT(ここでは、5T)とを利用する。長Tに対する短Tの比を示すアシメトリーを利用するために本発明の実施例では2Tと5Tとを組み合わせたパターンを使用している。
書き込まれた3トラックのうち隣接トラックの書込みに影響される中間トラックに書き込まれた書込みパターンを再生ユニット112を通じて再生し、エンベロープ検出部120は再生ユニット112から再生されたRF信号のエンベロープを検出して最大振幅値、具体的には5Tに対するRF信号のピーク対ピーク値I5ppをシステムコントローラ150に出力する。システムコントローラ150はエンベロープ検出部120から出力される標準パワーPw、Pe、Pbwで検出された最大振幅値I5ppを記憶させ、書込みパワーPw、消去パワーPe、バイアスパワーPbwの範囲を1つずつ可変させた後、例えばPbw=0.1mWとPw=4.7mWに固定し、Pe=1.5mW〜2.5mW範囲内で可変しながら試験書込みパターンを前述したような過程で再び書込み/再生する。この時、エンベロープ検出部120によって検出されたI5pp値とシステムコントローラ150に記憶されている標準Pw、Pe、Pbwで得られたI5pp値とを比較する過程を繰り返して最大振幅値とを有する時点のPe値を最適の消去パワーに決定し、同じく、Pw、Pbwに対しても前述した過程を通じて最適の書込みパワーと最適のバイアスパワーとを決定する。
最適のパワーPw、Pe、Pbwが決定されれば、システムコントローラ150は書込みパターンに対する試験書込みを実施する。まず、標準書込みパターンを設定した後、第1書込みパルスの幅を示す書込みパターン要素T1、マルチパルスの幅を示す書込みパターン要素T2を所定の値に固定し、第1パルスの開始点のシフト量を示す書込みパターン要素dT1を変数に設定して2T+5Tパターンを1回書き込む。書き込まれた2T+5Tパターンを再生してアシメトリー検出部140によって検出されたアシメトリー値とその時の書込みパターン要素dT1の設定値とをシステムコントローラ150に出力する。前述した方法で所定の範囲にdT1を可変させながら2T+5Tパターンを書込み/再生した後、システムコントローラ150はアシメトリー検出部140で検出されたアシメトリー値を以前に入力されているアシメトリー値と比較して検出されたアシメトリー値が最小である時のdT1を最適のdT1に決定する。dT1が決定された後、クーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素dT2も前記と同じ方法でdT2を変数に設定して2T+5Tパターンを書き込んだ後で再生してシステムコントローラ150はエンベロープ検出部120で検出されたI5ppが最大である時のdT2を最適のdT2に決定する。
最適のdT1、dT2が決定されれば、決定されたdT1とdT2とを固定した後、第1パルス幅を示す書込みパターン要素T1とマルチパルスの幅を示す書込みパターン要素T2とをそれぞれ所定の範囲に可変させながら2T+5Tパターンを書込み/再生した後、システムコントローラ150はジッター検出部130で検出されたジッターが最小である時のT1、T2を最適のT1、T2に決定する。
図2(A)は、消去パワーPeによるランダムパターンのジッターを示し、図2(B)は、消去パワーPeによる2T+5Tパターンのジッターを示し、図2(C)は、消去パワーPeによる5Tに対するRF信号の最大振幅値I5ppとの関係を示し、図2(D)は、消去パワーPeとアシメトリーとの関係を示す。
すなわち、図2(A)及び図2(B)で分かるようにランダムパターンと2T+5Tパターンとは同じ書込み/再生傾向を有し、図2(C)で分かるようにジッターが最小である時、I5ppは最大値を示し、この時のアシメトリー値(図2(D))も所定の範囲内に存在する。したがって、本発明では最適の消去パワーPeの決定において2T+5Tパターンを書き込んだ後、I5pp値が最大である時、最適の消去パワーに決定する。
図3(A)は、書込みパワーPwによるランダムパターンのジッターを示し、図3(B)は、書込みパワーPwによる2T+5Tパターンのジッターを示し、図3(C)は、書込みパワーPwによる5Tに対するRF信号の最大振幅値I5ppとの関係を示す。
すなわち、書込みパワーPwも消去パワーPeと同じく図3(A)及び図3(B)で分かるようにランダムパターンと2T+5Tパターンとは同じ書込み/再生傾向を有し、図3(C)で分かるようにジッターが最小である時、I5ppは最大値を示す。したがって、本発明では書込みパワーPw決定において2T+5Tパターンを書き込んだ後、I5pp値が最大である時、最適の書込みパワーに決定する。
図4(A)は、バイアスパワーPbwによるランダムパターンのジッターを示し、図4(B)、はバイアスパワーPbwによる2T+5Tパターンのジッターを示し、図4(C)は、バイアスパワーPbwによる5Tに対するRF信号の最大振幅値I5ppとの関係を示す。
すなわち、バイアスパワーPbwもやはり消去パワーPeと書込みパワーPwと同じく図4(A)及び図4(B)で分かるようにランダムパターンと2T+5Tパターンは同じ書込み/再生傾向を有し、図4(C)で分かるようにジッターが最小である時、I5ppは最大値を示す。したがって、本発明ではバイアスパワーPbw決定において2T+5Tパターンを書き込んだ後、I5pp値が最大である時、最適のバイアスパワーに決定する。
結論的に、書込みに使われる光パワーPe、Pw、Pbwがジッターによって同じ書込み/再生傾向があるので、Pw、Pe、Pbw条件を順次に変化させながら書き込んだ後で再生してI5pp値が最大である時点のPw、Pe、Pbwを最適のPw、Pe、Pbwに決定する。例えば、Pbw=0.1mWに、Pw=4.7mWに固定し、Pe=1.5mW〜2.5mWに調整した後、I5pp値が最大である時点で最適のPeを決定する。Pbwと決定されたPeとは固定した後、Pwを調整してI5pp値が最大である時点で最適のPwを決定する。決定されたPeとPwとを固定し、Pbwを調整してI5pp値が最大である時点で最適のPbwを決定する。
図5は書込みパターンと光パワーPe、PwまたはPbwが最適化されていない時の一例で書込みパワーが大きくなれば、隣接トラックが消されてジッターが発生する。すなわち、隣接トラックの書込み影響によってクロスイレーズ現象が発生してジッター値に影響を与える現象を示す。
図6(A)に示されているように所定長さ(図では8Tw)を有するマークは図6(B)に示されているようにディスク上に書込みパルス形態で書き込まれ、光パワーと書込みパターンとによる書込み条件要素を示した図である。書込みパルスは書込みパワーPwを有する第1パルスと、バイアスパワーPbwを有する最後のパルス(クーリングパルスという)があり、第1パルスとクーリングパルス間にTwによって個数が変わるマルチパルス列がある。また、スペース期間には消去パワーPeが必要である。T1は第1パルスの幅を示し、dT1は第1パルスの開始点のシフト量を示し、T2はマルチパルスの幅を示し、dT2はクーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素である。
一方、光書込み時に安定した書込み品質を得るために光パワーだけでなく書込みパルス形態の書込みパターンに対する最適化が必要であり、これは光書込み/再生装置及び書込み媒体の特性によって変わるので、図6(B)に示されたような書込みパターンの構成と書込みとに必要なパワーの決定を自動化せねばならない。特に、高密度書込み影響によるクロスイレーズ現象を最小化することも考慮すべきである。このような目的を達成するために実際具現においても単純な回路構造で速い速度の最適化が必要なので、実際書込みパターンと同じ書込み/再生傾向を有する新しい試験書込みパターンが要求される。
したがって、本発明では試験書込みパターンとして最短マークを形成するTとマーク形成によるパワーが飽和される時点のTとを利用し、磁気書込みシステムや光ディスクドライブのようなデータ貯蔵システムで最も多く使われる変調コードは(d、k)制限(ビット1とビット1間に連続されるビット0の数が最小dから最大kまでに制限)をするRLL(run−length−limited)コードであって、RLL(1,7)コード使用時、試験書込みパターンは最短T(ここでは、2T)とマーク形成によるパワーが飽和される時点のT(ここでは、5T)の2つまたはそれ以上のTの組合せで決定できる。このRLL(1,7)コードを使用する光書込み媒体はHD−DVD、HD−DVD
RWのような高密度書込み媒体に該当する。
RWのような高密度書込み媒体に該当する。
また、RLL(2,10)コード使用時、試験書込みパターンは最短T(ここでは、3T)とマーク形成によるパワーが飽和される時点のT(ここでは、6T)の2つまたはそれ以上のTの組合せで決定できる。このRLL(2,10)コードを使用する光書込み媒体はCDとDVD系列の書込み媒体に該当する。
本発明の実施例では最短マークのTである2Tと5Tとの組合せとよりなった書込みパターンを最適化に利用する。
図7(A)は、クーリングパルスの持続時間を示す書込みパターン要素dT2の変化に対するランダムパターンのジッターを示し、図7(B)は、書込みパターン要素dT2の変化に対する2T+5Tパターンのジッターを示し、図7(C)は、書込みパターン要素dT2変化に対する5Tに対するRF信号の最大振幅値I5ppとの関係を示し、図7(D)は、書込みパターン要素dT2変化に対するアシメトリーとの関係を示している。
すなわち、図7(A)及び図7(B)で分かるようにランダムパターンと2T+5Tパターンとの書込み/再生傾向は一致し、図7(C)で分かるようにジッターが最小である時、I5ppは最大であることが分かり、この時、図7(D)に示されたアシメトリー値も所定の範囲内に入っていることが分かる。したがって、最適のdT2はI5ppが最大である時に決定できる。
図8(A)は、第1パルスの開始点のシフト量を示す書込みパターン要素dT1の変化に対するランダムパターンのジッターを示し、図8(B)は、書込みパターン要素dT1の変化に対する2T+5Tパターンのジッターを示し、図8(C)は、書込みパターン要素dT1変化に対するアシメトリーとの関係を示している。
すなわち、図8(A)及び図8(B)で分かるようにランダムパターンと2T+5Tパターンとの書込み/再生傾向は一致し、図8(C)で分かるように書込みパターン要素dT1を変化させる時、ジッターが最小である時点でアシメトリーも最小であることが分かる。したがって、最適のdT1はアシメトリーが最小である時に決定できる。
残りの第1書込みパルス幅を表す書込みパターン要素T1とマルチパルス幅を表す書込みパターン要素T2とは2T+5Tパターンのジッターが最小である時点で最適のT1とT2とを決定できる。
図9は、本発明によるパワーを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートであって、図1に関連させて説明する。
図9において、試験書込みのための標準書込みパワーPw、標準消去パワーPe、標準バイアスパワーPbwを設定し(901段階)、2T+5Tを組み合わせた試験書込みパターンをクロスイレーズ影響をチェックするためにディスク100のテスト領域の複数のトラック(ここでは、3トラック)に連続して書き込む(902段階)。試験書込みパターンが書き込まれた3トラックのうち中間トラックを再生し、エンベロープ検出部120によって検出された5Tに対するRF信号の最大振幅値I5ppを検出する(903段階)。設定された書込みパワーPw、消去パワーPe、バイアスパワーPbwでI5ppが最大値であるかどうかを判断し(904段階)、最大値でなければ、書込みパワーPw、消去パワーPe、またはバイアスパワーPbwを調整する。
例えば、書込みパワーPwとバイアスパワーPbwは固定し、消去パワーPeを所定範囲内で調整してエンベロープ検出部120で検出されたI5ppが最大値になるまで902段階ないし905段階を遂行し続ける。検出されたI5ppが最大値になる時点の消去パワーPeを最適の消去パワーとして決定する。次いで、決定された消去パワーPeとバイアスパワーPbwとを固定し、書込みパワーPwを所定の範囲内で調整してエンベロープ検出部120で検出されたI5ppが最大値になるまで902段階ないし905段階を遂行し続ける。検出されたI5ppが最大値になる時点の書込みパワーPwを最適の書込みパワーとして決定する。最後に、決定された書込みパワーPwと決定された消去パワーPeとを固定し、バイアスパワーPbwを所定範囲内で調整してエンベロープ検出部120で検出されたI5ppが最大値になるまで902段階ないし905段階を遂行し続ける。検出されたI5ppが最大値を有する時点のバイアスパワーPbwを最適のバイアスパワーとして決定する(906段階)。905段階でパワーを調整する順序は製作業者の意図によって変わりうる。
図10は、本発明による書込みパターンを決定する光書込み媒体の自動書込み最適化方法の一実施例によるフローチャートであって、図1に関連させて説明する。図10において、試験書込みのためのパワーPw、Pe、Pbwを設定し、標準パターンを設定する(1001段階)。ここで、試験書込みのためのパワーは図9に示された方法によって決定された最適の書込みパワーPw、最適の消去パワーPe、最適のバイアスパワーPbwを設定するのが望ましいが、標準書込みパワーPw、標準消去パワーPe、標準バイアスパワーPbwを設定しうる。
書込みパターン要素のうち第1パルス幅を表すT1とマルチパルス幅を表すT2とは固定し、第1パルスの開始点のシフト量を示すdT1、クーリングパルスの持続時間を示すdT2は設定して2Tと5Tとを組み合わせた書込みパターンを書き込む(1002段階)。ここで、書込みパターンを1トラックに書き込むこともでき、複数トラックに連続して書き込むこともできる。また、1002段階で書込みパターン要素T1、T2、dT1は固定し、dT2を可変させて最適のdT2を決定した後、dT1を可変させて最適のdT1を決定できるが、処理時間短縮のために2個の書込みパターン要素またはそれ以上の書込みパターン要素を同時に設定できる。
2T+5Tパターンが書き込まれた書込みトラックを再生ユニット112によって再生してRF信号を出力し、アシメトリー検出部140はRF信号のアシメトリー値を検出し、エンベロープ検出部120は5Tに対するRF信号の最大振幅値I5pp値を検出する(1003段階)。最適のdT1はアシメトリー検出部140で検出されたアシメトリー値が最小値である時に決定し、最適のdT2はエンベロープ検出部120で検出されたI5pp値が最大値である時に決定するので、アシメトリー値が最小値であるかまたはI5pp値が最大値であるかを判断し(1004段階)、アシメトリー値が最小値でないか。またはI5pp値が最大値でなければ、dT1またはdT2を調整して(1005段階)アシメトリー値が最小値であり、I5pp値が最大値になるまで1002段階及び1005段階を遂行し続ける。前述した過程を通じてアシメトリー値が最小値であり、I5pp値が最大値であれば、最適のdT1及びdT2を決定する(1006段階)。
決定された最適のdT1及びdT2値を固定し、T1及びT2を設定した後、2T及び5Tを組み合わせた書込みパターンを書き込む(1007段階)。1007段階でも書込みパターンを1トラックに書き込め、複数トラックに書込みうる。また、書込みパターン要素dT1、dT2、T1は固定し、T2を可変させて最適のdT2を決定した後、T1を可変させて最適のT1を決定できるが、処理時間短縮のために2個の書込みパターン要素T1、T2を設定する。
2T+5Tパターンが書き込まれた書込みトラックを再生ユニット112によって再生してRF信号を出力し、ジッター検出部130はRF信号のジッター値を検出する(1008段階)。ジッター値が最小値であるかどうかを判断し(1009段階)、最小値でなければT1及びT2を調整する(1010段階)。ジッター値が最小値になるまで1007段階ないし1010段階を遂行し続ける。ジッター検出部130で検出されたジッター値が最小値になれば、最適のT1及びT2を決定する(1011段階)。
このように、本発明の詳細なる説明では具体的な実施例について説明したが、本発明の範疇から外れない限度内で色々な変形が可能であるのはもとよりである。したがって、本発明の範囲は説明された実施例に限定されて定められてはならず、特許請求の範囲だけでなくこの特許請求の範囲と均等なものによって定められねばならない。
本発明は光記録媒体の記録を最適に遂行する光記録/再生装置に係り、核生成方式だけでなく、拘束成長方式の光記録媒体についての自動記録、すべての記録用CD、DVD及びHD−DVDなどの記録方式、そして特に高密度記録方式のHD−DVD RWディスクの記録に利用できる。
100 ディスク
110 ピックアップ&RF検出部
111 書込みユニット
112 再生ユニット
120 エンベロープ検出部
130 ジッター検出部
140 アシメトリー検出部
150 システムコントローラ
160 WS&APC部
110 ピックアップ&RF検出部
111 書込みユニット
112 再生ユニット
120 エンベロープ検出部
130 ジッター検出部
140 アシメトリー検出部
150 システムコントローラ
160 WS&APC部
Claims (60)
- 光書込み媒体の書込み条件を最適化する方法において、
(a)試験書込みパターンを光記録媒体の複数のトラックに試験記録する段階と、
(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れかある1つのトラックで再生される再生信号の品質を読み取って最適化された書込み条件を決定する段階とを含む方法。 - 前記(a)段階では前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上の長さの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験記録することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記試験書込みパターンは長さTの第1マークと、前記第1マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さNTの第2マークと、を含み、前記Tは書き込み及び/または再生クロックのサイクルであり、Nは整数であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記(a)段階では前記光書き込み媒体はRLL(1,7)コードを使用し、2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記光書き込み媒体はRLL(1,7)コードを使用し、前記試験書込みパターンは2T長さのマーク及び5T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記(a)段階では前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードを使用し、前記試験書込みパターンを2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記(a)段階では前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードを使用し、前記試験書込みパターンは3T長さのマーク及び6T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記(b)段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書込みに必要なパワーを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記(b)段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して書き込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記(b)段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用して書き込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記(b)段階では前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みに必要なパワーを決定する方法において、 (a)試験書込みパターンを前記光書込み媒体の複数トラックに書き込む段階と、 (b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した何れか1つのトラックで再生される信号の大きさを利用して最適の前記パワーを決定する段階とを含む方法。
- 前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペーサとを含むことを特徴とする請求項12に記載の方法。
- 前記試験書込みパターンは長さTの第1マークと、前記第1マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さNTの第2マークと、を含み、前記Tは書込み及び/または再生クロックのサイクルであり、Nは整数であることを特徴とする請求項12に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(1,7)コードを使用し、前記試験書込みパターンを2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペーサとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記光書き込み媒体はRLL(1,7)コードを使用し、前記試験書込みパターンは2T長さのマーク及び5T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードの使用時、前記試験書込みパターンを2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みすることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードを使用し、前記試験書込みバターンは3T長さのマーク及び6T長さのマークと、スペースとを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記再生信号の大きさは試験書込みパターンでマーク形成によるパワーが飽和される時点のTに対する再生信号のピーク対ピーク値として定められることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記(b)段階は、
(b1)前記複数トラックのうち隣接トラックの書込み影響を考慮した中間トラックに書き込まれた試験書込みパターンを再生して再生信号を提供する段階と、
(b2)書込みパワー、バイアスパワー及び消去パワーのうち2個のパワーは固定し、残りの1つのパワーは所定の範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大値である時、最適のパワーとして決定する段階とを含む請求項12に記載の方法。 - 前記(a)段階は、
(a1)試験書込みのための標準書込みパワー、標準消去パワー、標準バイアスパワーを設定する段階と、
(a2)所定の試験書込みパターンを所定数の複数トラックに書き込む段階とを含む請求項12に記載の方法。 - 前記(b)段階は、
(b1)前記複数トラックのうち隣接トラックの影響を考慮した中間トラックに書き込まれた書込みパターンを再生して再生信号を提供する段階と、
(b2)前記再生信号のエンベロープを検出して最大振幅値を検出する段階と、
(b3)書込みパワーとバイアスパワーとを固定し、消去パワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
(b4)前記(b3)段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記(b1)段階ないし前記(b3)段階を遂行し続け、最大振幅値であれば、この時の消去パワーを最適の消去パワーとして決定する段階とを含む請求項21に記載の方法。 - 前記(b)段階は、
(b5)バイアスパワーと最適の消去パワーとを固定し、書込みパワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
(b6)前記(b5)段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記(b1)段階ないし前記(b3)段階を遂行し続け、最大振幅値が検出されれば、この時の書込みパワーを最適の書込みパワーとして決定する段階とをさらに含む請求項22に記載の方法。 - 前記(b)段階は、
(b7)最適の消去パワーと書込みパワーとを固定し、バイアスパワーを所定範囲内で可変しながら前記再生信号の大きさが最大振幅値であるかどうかを判断する段階と、
(b8)前記(b7)段階での判断結果が最大振幅値でなければ、前記(b1)段階ないし前記(b3)段階を遂行し続け、最大振幅値であれば、この時のバイアスパワーを最適のバイアスパワーとして決定する段階とをさらに含む請求項23に記載の方法。 - 前記方法は、
(c)前記(b)段階で決定された最適のパワーを設定し、所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
(d)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
(e)前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とをさらに含む請求項12に記載の方法。 - 前記(e)段階では前記再生信号の大きさが最大振幅値である時、クーリングパルスの持続時間を表わす書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項25に記載の方法。
- (f)前記再生信号のアシメトリー値を利用して試験書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項25に記載の方法。
- 前記(f)段階では前記再生信号のアシメトリー値が最小値である時、第1パルスの開始点のシフト量を表わす書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項27に記載の方法。
- (g)前記再生信号のジッター値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項25に記載の方法。
- 前記(g)段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、第1パルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項29に記載の方法。
- 前記(g)段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、マルチパルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項29に記載の方法。
- 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、
(a)前記光書込み媒体上に試験書込みパターンを書き込む段階と、
(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
(c)前記再生信号の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階とを含む方法。 - 前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項32に記載の方法。
- 前記試験書込みパターンは長さTの第1マークと、前記第1マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さNTの第2マークとを含み、前記Tは書込み及び/または再生クロックのサイクルであり、Nは整数であることを特徴とする請求項32に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(1,7)コード使用時、前記試験書込みパターンを2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験記録することを特徴とする請求項33に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(1,7)コードを使用し、前記試験書込みパターンは2T長さのマーク及び5T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項33に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コード使用時、前記試験書込みパターンを2つまたはそれ以上のTの組合せでマークとスペースとよりなるパターンを利用して試験書込みをすることを特徴とする請求項33に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードを使用し、前記試験書込みパターンは3T長さのマーク及び6T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項33に記載の方法。
- 前記(c)段階では前記再生信号の大きさが最大振幅値である時、クーリングパルスの持続時間を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項32に記載の方法。
- (d)前記再生信号のアシメトリー値を利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項32に記載の方法。
- 前記(d)段階では前記再生信号のアシメトリー値が最小値である時、第1パルスの開始点のシフト量を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項40に記載の方法。
- (e)前記再生信号のジッター値の大きさを利用して書込みパターンを決定する段階をさらに含む請求項32に記載の方法。
- 前記(e)段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、第1パルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項42に記載の方法。
- 前記(e)段階では前記再生信号のジッター値が最小値である時、マルチパルスの幅を表す書込みパターン要素を決定することを特徴とする請求項42に記載の方法。
- 光書込み媒体の試験書込みを通じて書込みパターンを決定する方法において、
(a)第1パルス幅を表す第1書込みパターン要素とマルチパルス幅を表す第2書込みパターン要素とは固定し、第1パルスの開始点のシフト量を表す第3書込みパターン要素とクーリングパルスの持続時間を表す第4書込みパターン要素とは設定して所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
(b)前記試験書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体を再生して再生信号を提供する段階と、
(c)前記再生信号のアシメトリーを検出する段階と、
(d)前記再生信号のエンベロープを検出する段階と、
(e)前記(c)段階で検出された再生信号のアシメトリー値を利用して前記第3書込みパターン要素を決定して、前記(d)段階で検出された再生信号の大きさを利用して前記第4書込みパターン要素を決定する段階とを含む方法。 - 前記方法は、
(f)前記再生信号のジッターを検出する段階と、
(g)前記(e)段階で決定された第3及び第4書込みパターン要素を固定し、前記第1及び第2書込みパターン要素を設定した後、所定の試験書込みパターンを書き込む段階と、
(h)前記(f)段階で検出された再生信号のジッター値を利用して前記第1及び第2書込みパターン要素を決定する段階とをさらに含む請求項45に記載の方法。 - 光書込み/再生装置において、
所定の試験書込みパターンを1つまたはそれ以上の複数のトラックに書込みし、前記光書込み媒体から隣接トラックの影響を考慮した何れか1つのトラックで再生するピックアップ&再生信号検出部と、
前記再生信号の大きさを検出する第1検出部と、
前記再生信号の大きさを利用して最適のパワーを決定するシステムコントローラとを含む装置。 - 前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上の異なる長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項47に記載の装置。
- 前記試験書込みパターンは長さTの第1マークと、前記第1マークより長く、マーク形成によるパワーが飽和されている長さNTの第2マークとを含み、前記Tは書込み及び/または再生クロックのサイクルであり、Nは整数であることを特徴とする請求項47に記載の装置。
- RLL(1,7)コードを使用し、前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上他の長さの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項48に記載の装置。
- 前記光書込み媒体はRLL(1,7)コード使用し、前記試験書き込みパターンは2T長さのマーク及び5T長さのマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項48に記載の方法。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コード使用し、前記試験書込みパターンは2つまたはそれ以上のTの組合せよりなったマークとスペースとを含むことを特徴とする請求項48に記載の装置。
- 前記光書込み媒体はRLL(2,10)コードを使用し、前記試験書込みパターンは3T長さのマーク及び6T長さのマークと、スペースとを含むことを特徴とする48に記載の方法。
- 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号の最大振幅値になる時点で書込みに必要な書込みパワー、消去パワー、バイアスパワーを最適化する条件を決定することを特徴とする請求項47に記載の装置。
- 前記再生信号のアシメトリーを検出する第2検出部と、
前記再生信号のジッターを検出する第3検出部とをさらに含むことを特徴とする請求項47に記載の装置。 - 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号の大きさを利用して第1パルスの開始点のシフト量を表す書込みパターン要素を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項54に記載の装置。
- 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のアシメトリー値を利用してクーリングパルスの持続時間を表す書込みパターン要素を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項54に記載の装置。
- 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用して第1パルスの幅を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項54に記載の装置。
- 前記システムコントローラは前記試験書込みパターンに対する再生信号のジッター値を利用してマルチパルスの幅を最適化する条件を決定することを特徴とする請求項54に記載の装置。
- 高速成長方法及び核生成方式を使用する光書込み媒体上の書込み最適化方法において、
前記光書込み媒体上の複数のトラックに試験書込みパターンを書き込む段階と、
前記書込みパターンが書き込まれた光書込み媒体から隣接トラックの書込み影響を考慮した前記複数のトラックのうち1つから再生される無線周波数信号の品質を評価して最適の書込み条件を決定する段階とを含む方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020066574A KR20040037894A (ko) | 2002-10-30 | 2002-10-30 | 광 기록 매체의 자동 기록 최적화 방법 및 이를 수행하는광 기록/재생 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004152473A true JP2004152473A (ja) | 2004-05-27 |
Family
ID=36121959
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2003369402A Pending JP2004152473A (ja) | 2002-10-30 | 2003-10-29 | 光書込み媒体の自動書込み最適化方法及びそれを遂行する光書込み/再生装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20040160874A1 (ja) |
EP (1) | EP1416477B1 (ja) |
JP (1) | JP2004152473A (ja) |
KR (1) | KR20040037894A (ja) |
CN (1) | CN1264146C (ja) |
DE (1) | DE60335234D1 (ja) |
TW (1) | TWI231488B (ja) |
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- 2003-10-15 US US10/684,837 patent/US20040160874A1/en not_active Abandoned
- 2003-10-23 TW TW092129393A patent/TWI231488B/zh not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
---|---|
TWI231488B (en) | 2005-04-21 |
CN1264146C (zh) | 2006-07-12 |
TW200410230A (en) | 2004-06-16 |
KR20040037894A (ko) | 2004-05-08 |
US20040160874A1 (en) | 2004-08-19 |
EP1416477A2 (en) | 2004-05-06 |
CN1525451A (zh) | 2004-09-01 |
DE60335234D1 (de) | 2011-01-20 |
EP1416477A3 (en) | 2006-10-25 |
EP1416477B1 (en) | 2010-12-08 |
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---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061004 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061107 |