CN111948176B - 光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明的一实施方式所涉及的光学薄膜的检查方法具备：检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜(10)的检查面(10a)，从在检查面侧配置的光源部(21)照射检查光(L1)，并通过在检查面侧配置的检测部(22)对从光源部照射并由光学薄膜反射出的光进行检测；以及判定工序，根据通过检测部检测出的光的亮度，取得沿着光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品。

Description

光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法

技术领域

本发明涉及一种光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法。

背景技术

作为光学薄膜，存在具有第1相位差层和第2相位差层的相位差层叠体。在相位差层叠体中，第1相位差层和第2相位差层隔着粘接层(例如由紫外线固化树脂粘接剂形成的层)而接合。相位差层叠体的示例是在有机电致发光(有机EL)图像显示装置中应用的圆偏振片(参照日本特开2018-17996号公报)。

在将依次具有第1相位差层、粘接层以及第2相位差层的光学薄膜应用于例如图像显示装置的情况下，不断要求降低上述光学薄膜的干涉不匀。因此，在形成光学薄膜之后，进行与光学薄膜的干涉不匀的程度对应的合格与否的检查。通常，对光学薄膜照射光，并利用目视检查来进行该合格与否的检查。然而，在目视检查中，光学薄膜的合格与否容易依赖于检查者的主观、身体状况等，光学薄膜的性能的可靠性容易降低。

发明内容

本发明的目的是，提供一种能够实现性能可靠性的提高的光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法。

本发明的一侧面所涉及的光学薄膜的检查方法具备：检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在上述第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜的检查面，从在上述检查面侧配置的光源部照射检查光，并通过在上述检查面侧配置的检测部对从上述光源部照射并由上述光学薄膜反射出的光进行检测；以及判定工序，根据通过上述检测部检测出的光的亮度，取得沿着上述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据上述亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品。

在上述检查方法中，根据通过检测部检测出的光的亮度，取得沿着上述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据上述亮度分布对光学薄膜判定是否为合格品。因此，能够客观地判定光学薄膜的良好与否，因此，光学薄膜的性能可靠性提高。

还可以是，一边输送光学薄膜，一边进行检测工序以及判定工序。

还可以是，上述剖面是光学薄膜的宽度方向上的剖面。

还可以是，在上述检测工序中，将来自上述光源部的上述检查光穿过第1偏振滤光片而照射到上述检查面，并且使从上述光源部照射到上述光学薄膜并由上述光学薄膜反射出的光穿过第2偏振滤光片，通过上述检测部来检测。该情况下，例如通过调整第1偏振滤光片以及第2偏振滤光片的配置关系，能够降低光学薄膜的表面反射的影响，并能够更准确地检查光学薄膜。

还可以是，上述第1相位差层及上述第2相位差层之中的一方是1/2波长层，另一方是1/4波长层，在上述检查面虚拟地设定相互正交的x轴以及y轴，从上述检查面侧观察时将上述x轴以及上述y轴的一者设为基准轴，并将相对于上述基准轴逆时针旋转称为正角度方向，该情况下，在上述光学薄膜配置有上述第1相位差层以及上述第2相位差层，以便上述第1相位差层的第1滞相轴以及上述第2相位差层的第2滞相轴满足下述条件(1)～(3)，相对于上述光学薄膜配置有上述第1偏振滤光片以及上述第2偏振滤光片，以便上述第1偏振滤光片的第1吸收轴以及上述第2偏振滤光片的第2吸收轴满足下述条件(4)、(5)以及(6)的条件，

(1)-40°＜θ1＜-10°(θ1是上述第1滞相轴和上述基准轴之间的角度)；

(2)+15°＜θ2＜+50°(θ2是上述第2滞相轴和上述基准轴之间的角度)；

(3)+55°＜θ3＜+65°(θ3是上述第1滞相轴和上述第2滞相轴之间的角度)；

(4)-20°＜θ4＜+20°(θ4是上述第1吸收轴以及上述第2吸收轴中的一者和上述基准轴之间的角度)；

(5)+70°＜θ5＜+110°(θ5是上述第1吸收轴以及上述第2吸收轴中的另一者和上述基准轴之间的角度)；

(6)+70°＜θ6＜+110°(θ6是上述第1吸收轴和上述第2吸收轴之间的角度)。

在上述结构中，能够进一步降低光学薄膜的表面反射。

还可以是，上述光学薄膜具有：偏振片，在层叠方向上，从上述1/2波长层观察时位于与上述1/4波长层相反的一侧；以及第2粘接层，位于上述偏振片和上述1/2波长层之间。

还可以是，上述第1粘接层是活性能量射线固化型粘接剂的固化层。

还可以是，一边输送上述光学薄膜，一边实施上述检测工序。

还可以是，上述检查光的峰值波长是400nm～750nm的范围内。

还可以是，在将上述光学薄膜配置到支承板的主面上的状态下，实施上述检测工序，上述主面的正反射率是45％以下。该情况下，能够降低在支承板的主面的反射的影响，因而容易准确地判定光学薄膜的良好与否。

本发明的另一侧面所涉及的光学薄膜的制造方法包含本发明所涉及的上述光学薄膜的检查方法。

在上述检查方法中，根据通过上述检测部检测出的光的亮度，取得沿着上述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据上述亮度分布对光学薄膜判定是否为合格品。因此，能够客观地判定光学薄膜的良好与否，因此，光学薄膜的性能可靠性提高。其结果，能够制造性能可靠性提高了的光学薄膜。

根据本发明，能够提供一种能够实现性能可靠性的提高的光学薄膜的检查方法以及光学薄膜的制造方法。

附图说明

图1是一实施方式所涉及的包含检查方法的光学薄膜的制造方法的流程图。

图2是表示利用一实施方式所涉及的光学薄膜的制造方法制造出的光学薄膜的概略结构的示意图。

图3是表示光学薄膜的变形例的概略结构的示意图。

图4是用于说明一实施方式所涉及的光学薄膜的检查方法的图。

图5是说明光学薄膜所具有的第1相位差层以及第2相位差层的配置关系的图。

图6是说明相对于光学薄膜的第1偏振滤光片以及第2偏振滤光片的配置关系的图。

图7是表示在实验例中使用的样本S1～S4的检测结果的图表。

图8是表示在目视检查中使用的光学薄膜的概略结构的示意图。

-符号说明-

10，10A...光学薄膜、10a...检查面、11...相位差层叠体、12...第1相位差层、12a...第1滞相轴、13...第2相位差层、13a...第2滞相轴、14...第1粘接层、15，15A...第1保护层、16...第2保护层、17...偏振片、18...第2粘接层、20...检查光学系统、21...光源部、22...检测部、23...第1偏振滤光片、23a...第1吸收轴、24...第2偏振滤光片、24a...第2吸收轴、25...背面板、25a...背面板的主面。

具体实施方式

以下，参照附图来说明本发明的实施方式。在附图中，针对相同或者相应的部分赋予同一符号，并省略重复的说明。附图的尺寸比率与说明的并不一定一致。

图1是一实施方式所涉及的包含检查方法的光学薄膜的制造方法的流程图。光学薄膜的制造方法具有：光学薄膜的形成工序S01、光学薄膜的检查工序S02、光学薄膜的形成条件的变更工序S03、和作为合格品的光学薄膜的回收工序S04。

[形成工序]

在形成工序S01中，形成图2所示的光学薄膜10。光学薄膜10是圆偏振片，例如能够应用于有机电致发光装置。

光学薄膜10具有相位差层叠体11。相位差层叠体11具有：第1相位差层12、第2相位差层13、和将它们粘接的第1粘接层14。通常，光学薄膜10具有保护相位差层叠体11的第1保护层15以及第2保护层16的至少一者。以下，除非另有说明，说明光学薄膜10具有第1保护层15和第2保护层16的情况。

<第1相位差层>

第1相位差层12例如是产生λ/2的相位差的λ/2板(1/2波长层)。第1相位差层12的厚度的示例是1μm～3μm。第1相位差层12的面内相位差(R0)的示例包含236nm±4nm、234nm±5nm以及240nm±5nm。上述面内相位差的示例例如是相对于波长550nm的示例。本实施方式中的面内相位差例如能够通过AxoScan(Axometrics公司制)来测定。

在第1相位差层12是1/2波长层的情况下，能够通过对具有透光性的热塑性树脂薄膜实施延伸处理等以便产生λ/2的相位差来制造。该情况下，第1相位差层12是双折射性薄膜。热塑性树脂的示例是三乙酰纤维素等纤维素酯系树脂。

还可以通过在基材薄膜上形成产生λ/2的相位差的第1液晶层、第1取向层等，来制造第1相位差层12。该情况下，第1液晶层、第1取向层等相当于第1相位差层12。还可以在形成了第1相位差层12之后，将基材薄膜剥离。或者，上述基材薄膜也可以是第1相位差层12的结构要素。基材薄膜的示例与第1保护层15相同。第1保护层15也可以兼顾基材薄膜。

<第2相位差层>

第2相位差层13例如是产生λ/4的相位差的λ/4板(1/4波长层)。第2相位差层13的厚度的示例是0.1μm～2μm。第2相位差层13的面内相位差(R0)的示例包含116nm±4nm以及120nm±5nm。在第1相位差层12的面内相位差是236nm±4nm或者234nm±5nm的情况下，第2相位差层13的面内相位差能够是116nm±4nm。在第1相位差层12的面内相位差是240nm±5nm的情况下，第2相位差层13的面内相位差能够是116nm±4nm。上述面内相位差的示例例如是相对于波长550nm的示例。第2相位差层13的滞相轴(后述的第2滞相轴13a)和第1相位差层12的滞相轴(后述的第1滞相轴12a)所成的角度配置成使光学薄膜10作为圆偏振片发挥功能即可，通常是60°±1°。

在第2相位差层13是1/4波长层的情况下，能够通过对具有透光性的热塑性树脂薄膜实施延伸处理等以便产生λ/4的相位差来制造。该情况下，第2相位差层13是双折射性薄膜。热塑性树脂的示例与第1相位差层12的情况相同。

还可以通过在基材薄膜上形成产生λ/4的相位差的液晶层、取向层等，来制造第2相位差层13。该情况下，第2液晶层、第2取向层等相当于第2相位差层13。还可以在形成了第2相位差层13之后，将基材薄膜剥离。或者，上述基材薄膜也可以是第2相位差层13的结构要素。基材薄膜的示例与第2保护层16相同。第2保护层16也可以兼顾基材薄膜。

第1相位差层12以及第2相位差层13只要是产生相位差的层则不受特别地限制，可以分别是1/2波长层、1/4波长层、正C层等，也可以是表示反向波长色散性的反相位差层。

正C层的面内相位差值Re(550)通常是0～10nm的范围，优选地是0～5nm的范围；厚度方向的相位差值Rth通常是-10～-300nm的范围，优选地是-20～-200nm的范围。

光学薄膜10还可以是上述第1相位差层12为上述λ/4层、且第2相位差层13为λ/2层的光学薄膜。

光学薄膜10还可以是上述第1相位差层12为上述λ/4层、且第2相位差层13为正C层的光学薄膜，还可以是上述第1相位差层12为正C层且第2相位差层13为λ/4层的光学薄膜。

光学薄膜10还可以是除了上述第1相位差层12、第2相位差层13之外还进一步包含相位差层的光学薄膜。例如，在上述第1相位差层12为上述λ/2层且第2相位差层13为上述λ/4层的情况下，还可以进一步包含正C层、反相位差层。

<第1粘接层>

第1粘接层14是配置在第1相位差层12和第2相位差层13之间并将第1相位差层12以及第2相位差层13粘接的层。第1粘接层14的厚度的示例是0.1μm～5.0μm，优选地是0.5μm～4.0μm，更优选地是1.0μm～3.0μm。第1粘接层14能够通过粘合剂或者粘接剂来形成。第1粘接层14的示例是活性能量射线固化型粘接剂的固化层。活性能量射线固化粘接剂是通过紫外线、可见光、电子射线、X射线等活性能量射线的照射而固化的粘接剂。

第1粘接层14还可以由使固化性的树脂成分溶解或者分散于水中而得的公知的水系粘接剂来形成。作为水系粘接剂中含有的树脂成分，列举了聚乙烯醇系树脂、聚氨酯树脂等。包含聚乙烯醇系树脂的水系组合物能够进一步含有固化性成分、交联剂。作为包含聚氨酯树脂的水系组合物，列举了包含聚酯系离聚物型聚氨酯树脂和含有缩水甘油醚基氧基的化合物的水系组合物。所谓聚酯系离聚物型聚氨酯树脂是具有聚酯骨架的聚氨酯树脂，其中引入了少量的离子性成分(亲水成分)。

作为上述粘合剂，能够使用包含丙烯酸系共聚物以及交联剂的丙烯酸系粘合剂。上述丙烯酸系共聚物能够使具有碳原子数1～12的烷基的(甲基)丙烯酸酯单体和具有能够交联的官能团的聚合性单体进行自由基聚合来制造。上述(甲基)丙烯酸酯意指丙烯酸酯以及甲基丙烯酸酯。

作为上述具有碳原子数1～12的烷基的(甲基)丙烯酸酯单体的具体示例，能够列举n-丁基(甲基)丙烯酸酯、2-丁基(甲基)丙烯酸酯、t-丁基(甲基)丙烯酸酯、2-乙基己基(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸乙基酯、(甲基)丙烯酸甲基酯、n-丙基(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸异丙基酯、(甲基)丙烯酸戊基酯、n-辛基(甲基)丙烯酸酯、(甲基)丙烯酸异辛基酯、(甲基)丙烯酸壬基酯、(甲基)丙烯酸癸基酯、(甲基)丙烯酸月桂基酯等，这些中，n-丁基丙烯酸酯、丙烯酸甲基酯或者这些的混合物是优选的。这些能够单独使用或者2种以上混合来使用。

上述具有能够交联的官能团的聚合性单体，作为用于通过与下述交联剂的化学键合来增强粘合剂的凝聚力或者粘合强度来赋予耐久性和切断性的成分，例如能够列举具有羟基的单体、具有羧基的单体、具有酰胺基的单体、具有叔胺基的单体等，这些能够单独使用或者2种以上混合来使用。

交联剂作为用于通过将共聚物适当地交联来强化粘合剂的凝聚力的成分，其种类不受特别地限制。例如能够列举异氰酸酯系化合物、环氧系化合物等，这些能够单独使用或者2种以上混合来使用。

使构成上述粘合剂的各成分溶解于醋酸乙基酯等适当的溶剂中得到粘合剂组合物，在将该粘合剂组合物涂敷到基材上之后，使其干燥来形成粘接层。当存在一部分并未溶解于溶剂的成分的情况下，可以将它们设为在系统中分散了的状态。

在本实施方式中，第1保护层15以及第2保护层16设置在相位差层叠体11的两面。具体地，第1保护层15设置在从第1相位差层12观察时与第1粘接层14相反的侧。第2保护层16设置在从第2相位差层13观察时与第1粘接层14相反的侧。

第1保护层15以及第2保护层16的材料的示例，在本领域中能够列举：环状聚烯烃系树脂；三乙酰纤维素、二乙酰纤维素等醋酸纤维素系树脂；聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯(PET)、聚对苯二甲酸丁二醇酯等聚酯系树脂；聚碳酸酯系树脂薄膜；(甲基)丙烯酸系树脂；聚丙烯系树脂等材料。第1保护层15以及第2保护层16的厚度的示例是30μm～100μm。第1保护层15以及第2保护层16的厚度也可以不同。

在准备各层之后，将这些进行层叠，由此能够形成光学薄膜10。各层可以在形成工序S0中制造，还可以使用购入品。当形成光学薄膜10时，例如还可以，通过将第1相位差层12和第2相位差层13隔着第1粘接层14而贴合来形成相位差层叠体11，之后，在相位差层叠体11贴合第1保护层15以及第2保护层16。或者，还可以当在第1相位差层12贴合第1保护层15并且在第2相位差层13贴合第2保护层16之后，将第1相位差层12和第2相位差层13隔着第1粘接层14而贴合。

在形成工序S01中制造的光学薄膜10还可以是图3所示的光学薄膜10A。光学薄膜10A主要是在以下方面与光学薄膜10不同：在第1相位差层12上隔着第2粘接层18来层叠有偏振片17。以该不同点为中心来说明光学薄膜10A。

<偏振片>

偏振片17是直线偏振片。偏振片17具有有直线偏振光特性的偏振元件。偏振片还可以具有在偏振元件的单面或者两面层叠的热塑性树脂薄膜。

偏振元件例如是使具有吸收各向异性的色素吸附而得的延伸薄膜(或者延伸层)。作为具有吸收各向异性的色素，例如列举了二色性色素。作为二色性色素，具体地使用了碘、二色性有机染料。偏振元件的材料的示例是聚乙烯醇系树脂。偏振元件还可以是将具有吸收各向异性的色素在基材薄膜进行涂敷并固化而得的层等。基材薄膜可以是偏振元件的一部分，还可以在形成偏振元件之后被剥离。基材薄膜的材料与热塑性树脂薄膜相同，热塑性树脂薄膜也可以兼做基材薄膜。

偏振元件的厚度通常是30μm以下，优选地是18μm以下，更优选地是15μm以下。偏振元件的厚度通常是1μm以上，例如可以是5μm以上。

热塑性树脂薄膜的材料的示例能够设为与第1保护层15(或者第2保护层16)的材料的示例相同。热塑性树脂薄膜的厚度优选地是5μm以上且150μm以下，更优选地是5μm以上且100μm以下，进一步优选地是10μm以上且50μm以下。

偏振片17的吸收轴和第1相位差层12的滞相轴(后述的第1滞相轴12a)的角度优选地是71°～74°。

<第2粘接层>

第2粘接层18可以是由与第1粘接层14相同的粘接剂或者粘合剂形成的层，也可以是由不同的粘接剂或者粘合剂形成的层。第2粘接层18也可以是由粘合剂形成的层。粘合剂的示例是以(甲基)丙烯酸系树脂、橡胶系树脂、聚氨酯系树脂、酯系树脂、硅酮系树脂、聚乙烯醚系树脂等为主成分的粘合剂组合物。第2粘接层18的厚度例如是0.1μm～10μm。

光学薄膜10A还可以在偏振片17上具有第1保护层15A。第1保护层15A的材料的示例包含聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)。第1保护层15A的厚度的示例是30μm～100μm。

与光学薄膜10的情况相同地，在准备各层之后，将这些进行层叠，由此能够制造光学薄膜10A。各层可以在形成工序S01中制造，也可以使用购入品。

以下，除非另有说明，说明在形成工序S01中形成光学薄膜10，并对其进行检查的情况。

[检查工序]

在检查工序S02中，检查因第1粘接层14和第1相位差层12的折射率差以及第1粘接层14和第2相位差层13的折射率差的至少一者而引起的界面反射、第1粘接层14的厚度的均一性等影响下产生的干涉不匀的程度是否是容许范围。

图4是用于说明对光学薄膜10进行检查的检查方法的图。在本实施方式中，将第1相位差层12侧的面(在图2的结构中，第1保护层15的表面)设为检查面10a，利用具有光源部21以及检测部22的检查光学系统20来检查光学薄膜10。检查光学系统20是光源部21以及检测部22相对于光学薄膜10而位于相同侧的反射光学系统。检查方法如图1所示那样具有检测工序S02A和判定工序S02B。

<检测工序>

在检测工序S02A中，一边将光学薄膜10在图4的空心箭头方向上输送，一边从光源部21向检查面10a照射检查光L1，并通过检测部22对从光源部21照射并被光学薄膜10反射出的光(以下，称为“反射光L2”)进行检测。

在光学薄膜10是片状的情况下，光学薄膜10例如能够由带状输送机输送。在光学薄膜10是长条的情况下，光学薄膜10例如能够由输送辊等输送。以下，将光学薄膜10的宽度方向(与输送方向正交的方向)称为TD方向，将光学薄膜10的输送方向称为MD方向。输送速度的示例是1m/min～100m/min。

说明检查光学系统20所具有的光源部21以及检测部22。

光源部21输出检查光L1。检查光L1的峰值波长例如是400nm～750nm，优选地是500nm～700nm，更优选地是550nm～680nm，进一步优选地是600nm～650nm。

对于在检查光L1的光源部21处的照度，在与光源部21的距离为15mm的位置处，通常是成为1000～25000[lx]的范围，优选地是成为1000～15000[lx]的范围，更优选地是成为5000～10000[lx]的范围。

检查光L1可以向检查面10a上的1点照射，也可以遍及薄膜宽度整体地照射。

光源部21例如是多个LED被配置成线状而得的线LED光源。该情况下，光源部21的延伸方向是与光学薄膜10的法线n正交并且与例如MD方向正交的方向。

光源部21配置于检查面10a侧。光源部21和检查面10a之间的距离d1通常是100mm～2000mm。距离d1例如是光源部21的光出射面和检查面10a之间的距离。光源部21的光轴和检查面10a的法线n(光学薄膜10的厚度方向)的角度α1[°]通常是1°～60°，优选地是5°～50°，更优选地是10°～45°。

检测部22接收来自检查面10a的反射光L2。检测部22是二维亮度计。检测部22的示例是区域传感器相机(二维传感器相机)，区域传感器相机的示例是CCD相机。检测部22还可以是线状的亮度计(例如，线传感器相机)。

检测部22配置成：能够在检查面10a侧接收检查光L1被光学薄膜10反射出的反射光L2。检测部22的光轴和检查面10a的法线n所成的角度α2的大小与角度α1的大小实质上相同。检测部22和检查面10a之间的距离d2的示例是100mm～2000mm。检测部22和检查面10a之间的距离d2能够是检测部22的受光面和检查面10a的距离。

在本实施方式的检测工序S02A中，使用第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24。第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24还可以是检查光学系统20的一部分。

第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24是具有直线偏振光特性的滤光器。第1偏振滤光片23配置于光源部21和光学薄膜10之间。第2偏振滤光片24配置于光学薄膜10和检测部22之间。因此，从光源部21输出的检查光L1经过第1偏振滤光片23作为直线偏振光而照射到光学薄膜10。被光学薄膜10反射出的检查光L1即反射光L2经由第2偏振滤光片24而入射到检测部22。只要第1偏振滤光片23配置于检查光L1的光路上，且第2偏振滤光片24配置于反射光L2的光路上，则第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置位置不受限制。但是，第1偏振滤光片23考虑从光源部21发出的热的影响，与光源部21隔开距离是更优选的。从光源部21到第1偏振滤光片23的距离优选地是50mm以上。

利用图5以及图6，说明在检查工序S02A中的光学薄膜10、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系。在配置关系的说明中，第1相位差层12的面内相位差是236nm±4nm或者234nm±5nm，第2相位差层13的面内相位差是116nm±4nm。或者，第1相位差层12的面内相位差是240nm±5nm，第2相位差层13的面内相位差是120nm±4nm。

图5是说明光学薄膜10所具有的第1相位差层12以及第2相位差层13的配置关系的图。图5中，利用第1相位差层12所具有的第1滞相轴12a和第2相位差层13所具有的第2滞相轴13a的关系，示出了第1相位差层12和第2相位差层13的配置关系。

图5中的x轴以及y轴是在检查面10a设定的虚拟的轴。只要x轴以及y轴相互正交，则能够任意地设定。作为一例，x轴方向是MD方向。为了规定第1滞相轴12a以及第2滞相轴13a的角度，将y轴设为基准轴RA。在规定相对于基准轴RA的角度的情况下，在从检查面10a侧观察光学薄膜10的情况下，将相对于基准轴RA逆时针旋转(向左旋转)设为正的角度方向，并将顺时针旋转(向右旋转)设为负的角度方向。

如图5所示那样，当将第1滞相轴12a和基准轴RA之间的角度设为θ1，将第2滞相轴13a和基准轴RA之间的角度设为θ2，并将第1滞相轴12a和第2滞相轴13a之间的角度设为θ3时，对于第1相位差层12以及第2相位差层13，将角度θ1、角度θ2以及角度θ3配置成满足下述条件(1)～条件(3)。

(1)-40°＜θ1＜-10°

(2)+15°＜θ2＜+50°

(3)+55°＜θ3＜+65°

图5中，利用阴影线示出了θ1以及θ2的容许范围。通过满足条件(3)，光学薄膜10作为圆偏振片发挥功能。

图6是说明相对于光学薄膜10的第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系的图。图6中，利用第1偏振滤光片23所具有的第1吸收轴23a、和第2偏振滤光片24所具有的第2吸收轴24a的关系，示出了第1偏振滤光片23和第2偏振滤光片24的配置关系。图6中的x轴以及y轴与图5中的x轴以及y轴相同。换言之，图6中的第1吸收轴23a相当于在图4中使第1偏振滤光片23移动到与法线n正交的位置为止(旋转成角度α1成为0°)的状态下，将第1偏振滤光片23的第1吸收轴23a投影到检查面10a而得的轴。关于图6中的第2吸收轴24a，也同样。

如图6所示那样，当将第1吸收轴23a和基准轴RA之间的角度设为θ4，将第2吸收轴24a和基准轴RA之间的角度设为θ5，并将第1吸收轴23a和第2吸收轴24a之间的角度设为θ6时，对于第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24，将角度θ4、角度θ5以及角度θ6配置成满足下述条件(4)～条件(6)。

(4)-20°＜θ4＜+20°

(5)+70°＜θ5＜+110°

(6)+70°＜θ6＜+110°

图6中，利用阴影线示出了θ4以及θ5的容许范围。条件(6)是，相对于第1吸收轴23a以及第2吸收轴24a理想地正交的状态，考虑一定的容许范围来表示第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24处于正交偏振状态这一点的式子。以下，为了说明的方便，将满足条件(6)的第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系称为正交偏振状态。

条件(1)～条件(6)的角度θ1～角度θ6是相对于共通的基准轴RA而规定的，因此，条件(1)～条件(6)规定了在检测工序S02A中的第1相位差层12、第2相位差层13、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系。在利用了图5以及图6的条件(1)～条件(6)的关系的说明中，将y轴设为基准轴RA。然而，基准轴RA也可以是x轴。换言之，可以使光学薄膜10旋转±90°或者180°，也可以使第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系反转。

通过调整光学薄膜10的形成时的第1相位差层12以及第2相位差层13的配置关系、以及光学薄膜10的检查时的光学薄膜10、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的配置关系，能够实现条件(1)～条件(6)的角度θ1～角度θ6。

如图4所示那样，光学薄膜10还可以配置于背面板(支承板)25上。背面板25的主面25a(光学薄膜10侧的面)的正反射率例如是45％以下。背面板25可以使用由具有上述例示的范围的正反射率的材料形成的板，还可以具有在板构件的表面贴合了具有上述例示的范围的正反射率的材料的例如薄片而得的结构。

<判定工序>

在判定工序S02B中，根据通过检测部22检测的反射光L2的亮度，取得沿着光学薄膜10中的宽度方向(TD方向)的剖面的亮度分布。

接着，根据亮度分布来判定光学薄膜10是否为合格品。上述亮度分布例如能够利用解析装置根据通过检测部22而取得的亮度数据来生成。解析装置例如可以是用于实施检测方法的专用装置，还可以是安装了解析用的程序的个人计算机。

在判定工序S02B中，在亮度分布中表示的干涉条纹(振幅的变化)中，按照能够判定干涉不匀的指标(判定指标)进行判定即可。例如可以将亮度分布中的最小亮度对最大亮度之比([最小亮度/最大亮度](％))作为判定指标来进行判定，也可以将最大亮度和亮度分布的平均值(平均亮度)之差([最大亮度-平均亮度]作为判定指标来进行判定。关于光学薄膜10是否是合格品，按照判定方法例如预先根据实验等来设定基准即可。

在判定工序S02B中，在判定为光学薄膜10是次品的情况下(判定工序S02B中，“否”)，实施变更工序S03。

[变更工序]

在变更工序S03中，变更光学薄膜10的形成条件。形成条件的变更例如包含：第1粘接层14的厚度的变更、第1粘接层14的成为基底的构件的平坦性的调整、第1粘接层14的材料即粘接剂的特性等的调整。

在实施了变更工序S03的情况下，再次实施形成工序S01。重复进行形成工序S01、检查工序S02以及变更工序S03，直至在判定工序S02B中判定为光学薄膜10是合格品为止即可

在判定工序S02B中，在判定为光学薄膜10是合格品的情况下(判定工序S02B中，“是”)，实施回收工序S04。

[回收工序]

在回收工序S04中，在与形成了检查用的光学薄膜10的情况相同的条件下，形成光学薄膜10，并回收形成的光学薄膜10即可。例如在光学薄膜10是长条，且一边输送在形成工序S01中形成的光学薄膜10一边实施检查工序S02的情况下，还可以通过将经过了检查工序S02的光学薄膜10例如进行卷绕，来回收光学薄膜10。

在本实施方式的检查方法中，如上述那样，从光源部21将检查光L1照射到光学薄膜10，并利用检测部22对该反射光L2进行检测。根据通过检测部22检测的反射光L2的亮度数据，取得在光学薄膜10的TD方向上的剖面的亮度分布，并根据该亮度分布来判定光学薄膜10是否良好。因此，能够客观地判定光学薄膜10的良好与否。

在例如进行目视检查的情况下，对于检查结果，有可能会产生检查者间的个人差异(也包含观察角度的差异等)、相同检查者的状态(例如身体状况、检查中的疲劳等)、以及光学薄膜10的制造工厂间的差异等。对此，在本实施方式的光学薄膜的检查方法中，将检查光学系统20和光学薄膜10的配置关系以及所使用的检查光L1等固定并且根据亮度分布来进行判定，因此，去除了检查者间(或者同一检查者间)的差异、工厂间的检查方法的差异等。因此，能够客观地判定光学薄膜10的良好与否。

在光学薄膜10的制造方法中，利用上述检查方法来客观地判定光学薄膜10的良好与否，因此，能够有效地制造合格品的光学薄膜10。其结果，光学薄膜10的制造成品率提高。

在光学薄膜10的制造方法中，能够一边输送光学薄膜10一边自动地进行上述的检测工序S02A和判定工序S02B，因此，能够立刻检测次品的产生。其结果，能够更有效地制造合格品的光学薄膜10。

在判定工序S02B中使用的亮度分布表现出反射光L2的干涉条纹。因此，能够根据亮度分布来评价干涉不匀。

在将亮度分布中的最小亮度对最大亮度之比作为判定指标来使用的情况下，能够降低光学薄膜10的材料等的差异的影响。因此，上述最小亮度对最大亮度之比能够具有通用性。

在使用第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24的情况下，能够降低在检查面10a处的表面反射的影响。在光学薄膜10、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24被配置成满足上述条件(1)～条件(6)的情况下，能够将表面反射的影响进一步降低，因而能够更准确地评价因第1粘接层14的影响(也包含与第1粘接层14相邻的层的界面的影响)而产生的干涉不匀。因此，通过光学薄膜10、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24配置成满足上述条件(1)～条件(6)来实施检测工序S02A，能够进一步准确地判定光学薄膜10的良好与否。

当从光源部21输出的检查光L1的峰值波长例如是400nm～750nm，优选地是500nm～700nm，更优选地是600nm～650nm的范围的情况下，波长区域被限制，因此，容易感测干涉不匀。此外，亮度分布的最大值和最小值在数据上变得更加明确。在该观点下，更容易感测干涉不匀。其结果，能够更准确地判定光学薄膜10的良好与否。

当光源部21和光学薄膜10之间的距离d1是100mm～2000mm的情况下，检查光学系统20的设置空间能够缩小。进而，反射光L2的亮度容易提高。同样地，当光学薄膜10和检测部22之间的距离d2是100mm～2000mm的情况下，能够缩小检查光学系统20的设置空间。

若背面板25的正反射率是45％以下，则能够降低来自背面板25的反射的影响。其结果，能够更准确地判定光学薄膜10的良好与否。

以下，说明使用了光学薄膜10的样本的实验例。

[实验例]

在实验例中，作为光学薄膜10的具体的样本，准备了样本S1、样本S2、样本S3以及样本S4。各样本的宽度是1340mm。

(样本S1)

样本S1具有图2所示的结构。即，样本S1具有第2保护层16、第2相位差层13、第1粘接层14、第1相位差层12以及第1保护层15，第2相位差层13、第1粘接层14、第1相位差层12以及第1保护层15按照该顺序被层叠到第2保护层16上。样本S1的俯视观察下的形状是矩形。

第1保护层15以及第2保护层16是三乙酰纤维素树脂薄膜。第1保护层15以及第2保护层16的厚度是80μm。

第1相位差层12是λ/2板。面内相位差是236nm。第2相位差层13是λ/4板。面内相位差是116nm。第1相位差层12的第1滞相轴12a和第2相位差层13的第2滞相轴13a之间的角度θ3(参照图5)是60°。第1相位差层12的厚度是2μm，第2相位差层13的厚度是1μm。

第1粘接层14的材料是环氧树脂系紫外线固化性粘接剂(在波长589nm下折射率是1.54)。第1粘接层14的厚度是3.0μm。

(样本S2)

样本S2除了第1粘接层14的厚度是2.5μm这一点以外，具有与样本S1相同的结构。

(样本S3)

样本S3除了第1粘接层14的厚度是2.0μm这一点以外，具有与样本S1相同的结构。

(样本S4)

样本S4除了作为第1粘接层14的材料使用环氧树脂系紫外线固化性粘接剂(在波长589nm下折射率是1.51)这一点、以及第1粘接层14的厚度是1.5μm这一点以外，具有与样本S1相同的结构。

针对准备的样本S1～S4，实施了使用图4说明的检测工序S02A。除了检查对象不同这一点以外的条件是相同的，因此，将样本S1～S4称为样本S来具体地说明实验例中的检测工序S02A。

作为光源部21，使用了配置多个红色LED而得的线光源。光源部21设置成对检查对象薄膜(样本S)中的宽度中央部照射检查光L1。检查光L1的峰值波长是600nm～650nm。光源部21的光轴和检查面10a的法线n之间的角度α1是20°。同样地，检查面10a的法线n和检测部22的法线n之间的角度α2是20°。光源部21和检查面10a之间的距离是135mm。检查面10a和检测部22之间的距离d2是760mm。此外，对于检查光L1的照度，在与检查光L1的距离为15mm的位置处，以成为6570[1x]的照度来进行。

在检测工序S02A中，使用了区域扫描相机(商品名：G0-5000M-PGE、JAI公司制)、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24。配置了样本S、第1偏振滤光片23以及第2偏振滤光片24以便满足条件(1)～条件(6)。具体地，角度θ1～角度θ6如以下那样。

角度θ1：-26.5°

角度θ2：33.5°

角度θ3：60°

角度θ4：0°

角度θ5：90°

角度θ6：90°

一边以输送速度500mm/s输送样本S，一边实施检测工序S02A。

图7是表示样本S1～S4的检测结果的图表。图中的亮度分布是样本S1～S4的短边方向(宽度方向)的中央部处的剖面的亮度分布(沿着宽度方向的亮度分布)。亮度分布的横轴表示宽度方向的位置(单位：mm，将在检测部位的一端的位置设为0mm来显示)，纵轴表示亮度。

在图7所示的亮度分布中，将最小亮度对最大亮度之比([最小亮度/最大亮度])(％)设为判定指标，验证了与目视评价的关系。

在目视评价中，使用了如下的样本S1a、样本S2a、样本S3a以及样本S4a。样本S1a、样本S2a、样本S3a以及样本S4a对应于样本S1、样本S2、样本S3以及样本S4的目视评价用的样本。

(样本S1a)

如图8所示那样，作为样本S1a，制作了由第3粘接层32、第2相位差层13、第1粘接层14、第1相位差层12、第2粘接层18以及偏振片33构成的光学薄膜30。

构成样本S1a的第2相位差层13、第1粘接层14以及第1相位差层12与样本S1的对应的层相同。第2粘接层18(厚度5μm)以及第3粘接层32(厚度25μm)的材料是丙烯酸系粘合剂。即，第2粘接层18以及第3粘接层32是粘合层。偏振片33是与利用图3说明的偏振片17同样的直线偏振片。偏振片33的吸收轴和第1相位差层12的第1滞相轴12a之间的角度是72.1°～72.9°。

当目视评价时，为了支承样本S1a，将第3粘接层32的面配置在作为支承体的黑亚克力板31上。进而，为了降低偏振片33的表面的颜色不匀，在偏振片33的面上依次层叠了水层34(厚度约1mm)以及玻璃板35(厚度1.1mm)(参照图8)。

(样本S2a～S4a)

作为样本S2a～S4a的光学薄膜的结构，除了具有与样本S2～S4和样本S1的差异相同的差异这一点以外，与光学薄膜30的结构相同。当对样本S2a～S4a进行目视评价时，与样本S1a的情况同样地，将样本S2a～S4a配置在黑亚克力板31上，在样本S2a～S4a所具有的偏振片33的面上层叠水层34以及玻璃板35。

目视评价以1～4评价了目视的结果(数字大的是高评价)。目视评价由4人按照预先决定的目视评价方法来进行，采用相对于各样本S1a～S4a的4人的平均来作为各样本S1a～S4a的目视评价结果。在将样本S1a～样本S4a称为样本Sa的情况下，目视评价按如下这样来进行。即，将样本Sa相对于水平面倾斜地配置。从与上述水平面正交的方向从3波长荧光灯向样本Sa照射光。对倾斜的样本Sa从与其表面垂直的方向观察，目视观察到因从上述荧光灯向样本Sa入射并反射出的光导致的干涉不匀。样本S1a～样本S4a除了具有与样本S1～S4的差异相同的差异这一点以外，结构相同。因此，样本S1a～样本S4a的目视评价的差异相当于样本S1～S4的目视评价的差异。

目视评价和定量评价(使用了检测工序S02A中的亮度数据的评价)的关系如表1那样。从表1的结果可知，目视评价和基于亮度分布的评价(定量评价)之间存在高的相关关系。即，能够验证：能够根据实施检测工序S02A而得的亮度分布，客观地判定光学薄膜10的良好与否。

【表1】

	最小亮度/最大亮度	目视评价结果
			样本S1	60％	4
样本S2	54％	3.4
			样本S3	42％	2.9
样本S4	35％	1

与以上说明的实施方式一起，说明了各种变形例。然而，本发明并不受限于上述实施方式以及各种变形例，而意图包含由权利要求书所表示的、在与权利要求书均等的含义以及范围内的全部变更。

例如，光学薄膜10的检查面10a还可以是第2相位差层13侧的面(在图2以及图3所示的结构中，第2保护层16的表面)。使用光学薄膜10对检查工序S02之后进行了说明，然而还可以取代光学薄膜10而使用光学薄膜10A。光学薄膜具有第1相位差层和第2相位差层、以及将这些粘接的粘接层即可。

第1相位差层并不受限于产生λ/2的相位差的层，第2相位差层并不受限于产生λ/4的相位差的层。第1相位差层以及第2相位差层所产生的相位差是设定成能够实现包含这些的光学薄膜的所期望的光学特性的相位差即可。在第1相位差层以及第2相位差层并不是分别产生λ/2以及λ/4的相位差的层的情况下，按照第1相位差层以及第2相位差层所产生的相位差，设定与条件(1)～条件(6)相当的条件，以便适合于光学薄膜的良好与否判定即可。

在检测工序中，还可以不输送光学薄膜。

在不脱离本发明的主旨的范围内，上述的各种实施方式以及变形例也可以适当组合。

Claims (10)

1.一种光学薄膜的检查方法，其中，

具备：

检测工序，向具有第1相位差层、第2相位差层和配置在所述第1相位差层以及第2相位差层之间的第1粘接层的光学薄膜的检查面，从在所述检查面侧配置的光源部照射检查光，并且通过在所述检查面侧配置的检测部对从所述光源部照射并由所述光学薄膜反射出的光进行检测；以及

判定工序，根据通过所述检测部检测出的光的亮度，取得沿着所述光学薄膜中的剖面的亮度分布，并根据所述亮度分布来判定光学薄膜是否为合格品，

在所述检测工序中，将来自所述光源部的所述检查光穿过第1偏振滤光片而照射到所述检查面，并且将从所述光源部照射到所述光学薄膜并由所述光学薄膜反射出的光穿过第2偏振滤光片，通过所述检测部来检测，

在所述检查面虚拟地设定相互正交的x轴以及y轴，从所述检查面侧观察时将所述x轴以及所述y轴的一者设为基准轴，并将相对于所述基准轴逆时针旋转称为正角度方向，

该情况下，相对于所述光学薄膜配置有所述第1偏振滤光片以及所述第2偏振滤光片，以便所述第1偏振滤光片的第1吸收轴以及所述第2偏振滤光片的第2吸收轴满足下述条件(4)、(5)以及(6)的条件，

(4)-20°＜θ4＜+20°，其中θ4是所述第1吸收轴以及所述第2吸收轴中的一者和所述基准轴之间的角度；

(5)+70°＜θ5＜+110°，其中θ5是所述第1吸收轴以及所述第2吸收轴中的另一者和所述基准轴之间的角度；

(6)+70°＜θ6＜+110°，其中θ6是所述第1吸收轴和所述第2吸收轴之间的角度。

2.根据权利要求1所述的光学薄膜的检查方法，其中，

一边输送所述光学薄膜，一边进行检测工序以及判定工序。

3.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，

所述剖面是光学薄膜的宽度方向上的剖面。

4.根据权利要求1所述的光学薄膜的检查方法，其中，

所述第1相位差层及所述第2相位差层中的一方是1/2波长层，另一方是1/4波长层，

在所述光学薄膜配置有所述第1相位差层以及所述第2相位差层，以便所述第1相位差层的第1滞相轴以及所述第2相位差层的第2滞相轴满足下述条件(1)～(3)，

(1)-40°＜θ1＜-10°，其中θ1是所述第1滞相轴和所述基准轴之间的角度；

(2)+15°＜θ2＜+50°，其中θ2是所述第2滞相轴和所述基准轴之间的角度；

(3)+55°＜θ3＜+65°，其中θ3是所述第1滞相轴和所述第2滞相轴之间的角度。

5.根据权利要求4所述的光学薄膜的检查方法，其中，

所述光学薄膜具有：

偏振片，在层叠方向上，从所述1/2波长层观察时位于与所述1/4波长层相反的一侧；以及

第2粘接层，位于所述偏振片和所述1/2波长层之间。

6.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，

所述第1粘接层是活性能量射线固化型粘接剂的固化层。

7.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，

一边输送所述光学薄膜一边实施所述检测工序。

8.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，

所述检查光的峰值波长是400nm～750nm的范围内。

9.根据权利要求1或2所述的光学薄膜的检查方法，其中，

在将所述光学薄膜配置到支承板的主面上的状态下，实施所述检测工序，

所述主面的正反射率是45％以下。

10.一种光学薄膜的制造方法，包含权利要求1～9中任一项所述的光学薄膜的检查方法。