KR102486442B1 - 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법 - Google Patents

편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102486442B1
KR102486442B1 KR1020190067543A KR20190067543A KR102486442B1 KR 102486442 B1 KR102486442 B1 KR 102486442B1 KR 1020190067543 A KR1020190067543 A KR 1020190067543A KR 20190067543 A KR20190067543 A KR 20190067543A KR 102486442 B1 KR102486442 B1 KR 102486442B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
polarizing plate
liquid crystal
polarizing
light
polarizer
Prior art date
Application number
KR1020190067543A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200140638A (ko
Inventor
류재일
남택근
유제혁
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Priority to KR1020190067543A priority Critical patent/KR102486442B1/ko
Priority to JP2021568603A priority patent/JP7410979B2/ja
Priority to EP20818594.2A priority patent/EP3982193A4/en
Priority to CN202080036418.1A priority patent/CN113841083A/zh
Priority to PCT/KR2020/003256 priority patent/WO2020246691A1/ko
Priority to US17/611,873 priority patent/US20220228994A1/en
Publication of KR20200140638A publication Critical patent/KR20200140638A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102486442B1 publication Critical patent/KR102486442B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803Visual inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • G02B1/14Protective coatings, e.g. hard coatings
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3016Polarising elements involving passive liquid crystal elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3083Birefringent or phase retarding elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133528Polarisers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties
    • G01N2021/216Polarisation-affecting properties using circular polarised light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties
    • G01N2021/218Measuring properties of electrooptical or magnetooptical media
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8848Polarisation of light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust
    • G01N2021/945Liquid or solid deposits of macroscopic size on surfaces, e.g. drops, films, or clustered contaminants
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/69Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

본 출원은 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법에 관한 것이다. 본 출원은 편광판에 발생되는 액정얼룩을 우수한 시인성으로 용이하게 검사할 수 있다.

Description

편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법{DEVICE FOR TESTING LIQUID CRYSTAL STAIN OF POLARIZING PLATE AND METHOD FOR TESTING LIQUID CRYSTAL STAIN OF POLARIZING PLATE}
편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법{DEVICE FOR TESTING LIQUID CRYSTAL STAIN OF POLARIZING PLATE AND METHOD FOR TESTING LIQUID CRYSTAL STAIN OF POLARIZING PLATE}
유기발광표시장치(OLED, Organic light emitting display)는 모바일 및 TV 등 다양한 용도로 확대되고 있다.
이러한 유기발광표시장치는 하부에 금속 전극으로 인해 외부로부터 인가되는 면광원을 반사시켜 명실 환경에서의 패널 시인성이 악화되므로 편광판을 포함한다.
편광판은 반사광을 차단하기 위해 빛의 위상을 1/4바퀴 돌려주는 1/4 파장판(QWP, Quarter wave plate)을 포함한다. 이러한 1/4 파장판은 고분자 필름 또는 액정 코팅으로 구현할 수 있다. 그러나, 1/4 파장판으로 액정 코팅을 구현하는 경우, 액정층의 두께 편차나 눌림 등에 의해 반사 시 색감이 다르게 보이는 액정얼룩이 발생되는 문제가 발생하였다.
이러한 액정얼룩은 일반적인 검사 방법으로는 확인이 어려우며, 편광판의 완제품 상에 보호필름 및/또는 이형필름 부착 시 더욱 확인이 어려운 문제가 발생하였다. 따라서, 이러한 문제점을 해결하기 위한 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법이 요구되고 있다.
본 출원의 과제는 편광판에 발생되는 액정얼룩을 우수한 시인성으로 용이하게 검사할 수 있는 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법을 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치는 면광원, 상기 면광원으로부터 광이 인가되도록 배치된 제 1 편광부재, 상기 제 1 편광부재를 투과한 광이 인가되도록 배치되어 상기 인가된 광을 반사하는 편광판, 상기 편광판으로부터 반사된 광이 인가되도록 배치된 제 2 편광부재, 및 상기 제 2 편광부재를 투과한 광이 인가되도록 배치되고, 상기 제 2 편광부재를 투과한 광에 기초하여 상기 편광판의 액정얼룩을 판단하는 검사원을 포함하며, 상기 편광판은 편광자, 및 액정 필름을 포함하는 1/4 파장판을 순차로 포함하고, 상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판의 1/4 파장판으로 인가된다.
또한, 상기 면광원은 상기 제 1 편광부재 측으로 무편광된 광을 방출할 수 있다.
또한, 상기 면광원으로부터 방출되는 광은 상기 편광판에 대한 입사각이 30˚ 내지 60˚일 수 있다.
또한, 상기 제 1 편광부재는 상기 편광판의 편광자와 흡수축이 수직할 수 있다.
또한, 상기 편광판은 보호 필름 및 이형 필름을 더 포함하고, 보호 필름, 편광자, 1/4 파장판 및 이형 필름을 순차로 포함할 수 있다.
또한, 상기 편광판은 유기발광표시장치용 편광판일 수 있다.
또한, 상기 액정 필름은 기재 필름 및 액정층을 순차로 포함할 수 있다.
또한, 상기 액정층은 중합성 액정 화합물을 중합된 상태로 포함할 수 있다.
또한, 상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판의 편광자에서 반사될 수 있다.
또한, 상기 편광판의 편광자로부터 반사되어 방출되는 광은 상기 편광판에 대한 반사각이 30˚ 내지 60˚일 수 있다.
또한, 상기 제 2 편광부재는 상기 편광판의 편광자와 흡수축이 평행할 수 있다.
또한, 상기 제 2 편광부재는 상기 편광판으로부터 반사된 광이 인가될 수 있다.
또한, 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사방법은 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용한 편광판의 액정얼룩 검사방법에 관한 것으로, 면광원으로부터 광을 방출시켜 제 1 편광부재, 편광판, 제 2 편광부재를 순차로 투과시키는 단계, 및 상기 제 2 편광부재를 투과하여 상기 검사원에 인가되는 광에 기초하여 상기 편광판의 액정얼룩을 판단하는 단계를 포함한다.
또한, 상기 편광판에 인가된 광은 반사될 수 있다.
본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법에 의하면, 편광판에 발생되는 액정얼룩을 우수한 시인성으로 용이하게 검사할 수 있다.
도 1은 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다.
도 4는 본 출원의 다른 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다.
도 5는 본 출원의 일 실시예에 따르지 않는 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다.
이하, 첨부된 도면을 참조로 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법을 설명하며, 첨부된 도면은 예시적인 것으로, 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법이 첨부된 도면에 제한되는 것은 아니다.
도 1은 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 나타낸 도면이다. 도 1에 나타낸 바와 같이, 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치는 면광원(100), 제 1 편광부재(200), 편광판(300), 제 2 편광부재(400) 및 검사원(500)을 포함한다. 도 2는 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판을 나타낸 도면이다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 상기 편광판(300)은 편광자(320), 및 1/4 파장판(330)을 순차로 포함한다. 또한, 상기 1/4 파장판(330)은 액정 필름(미도시)을 포함한다. 또한, 상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판(300)의 1/4 파장판(330)으로 인가된다. 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사장치는 편광판(300)에 발생되는 액정얼룩(10)을 우수한 시인성으로 용이하게 검사할 수 있다.
본 명세서에서 용어 「순차로 위치한다」는 각각의 구성이 직렬 구조로 평행하게 위치한 상태를 의미할 수 있다.
상기 면광원(100)은 표면이 균일하게 빛나며 두께가 없는 광원으로서, 종래의 점 또는 선 형태의 광원과 구별될 수 있다. 하나의 예시에서, 본 출원에서 액정얼룩은 불규칙하게 형성된 부정형얼룩으로서, 점광원을 도광판에 의해 확산시키지 않고 이용하는 경우, 액정얼룩의 시인성이 떨어지므로, 면광원을 이용하여 상기 편광판의 액정얼룩을 검사할 수 있다.
상기 면광원(100)은 여러 방향으로 진동하는 무편광된 광을 방출할 수 있다. 상기 면광원(100)으로는 다양한 백색광을 내거나 또는, 가시광선 영역의 스펙트럼 범위에서 연속적인 스펙트럼을 갖는 다양한 유형의 면광원 램프들을 사용할 수 있다. 상기 면광원으로 무편광된 광을 사용함으로써, 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치의 제작비 및 유지비가 저렴할 수 있다. 또 하나의 예시에서, 상기 면광원(100)으로는 점광원이나 선광원을 도광판에 의해 확산시켜 면광원과 동일한 기능을 수행하는 광을 이용할 수 있다.
상기 면광원(100)은 상기 제 1 편광부재(200) 측으로 무편광된 광을 방출할 수 있다. 상기 무편광된 광이 방출된 면광원(100)은 상기 제 1 편광부재(200)를 투과하면서, 상기 제 1 편광부재(200)의 투과축과 평행한 방향으로 편광될 수 있다.
또한, 상기 면광원(100)은 광량을 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 면광원(100)은 광량을 높게 조절함으로써, 시인성을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 면광원(100)으로부터 방출된 광은 입사각을 조절할 수 있다. 하나의 예시에서, 상기 면광원(100)으로부터 방출된 광은 상기 편광판(300)에 대한 입사각이 30˚ 내지 60˚일 수 있다. 예를 들어, 상기 편광판(300)에 대한 상기 면광원(100)으로부터 방출된 광의 입사각은 35˚ 내지 55˚ 또는 40˚ 내지 50˚일 수 있다. 상기 면광원(100)으로부터 방출된 광의 입사각이 전술한 범위를 만족함으로써, 액정얼룩의 시인성이 우수할 수 있다. 또한, 상기 광원(100)으로부터 방출된 광의 입사각이 전술한 범위에 비해 낮을 경우 시감 차이가 적게 나서 검출이 어렵고, 전술한 범위에 비해 높을 경우 표면 반사가 많이 되어 액정얼룩이 검출이 어려울 수 있다.
상기 제 1 편광부재(200)는 상기 면광원으로부터 방출된 광을 특정 방향으로 편광시키기 위한 부분으로, 상기 면광원으로부터 광이 인가되도록 배치될 수 있다.
본 명세서에서 용어 「편광부재 및 편광자」는 어느 한쪽 방향으로 형성된 투과축을 가지면서 입사 광에 대하여 비등방성 투과 특성을 나타내는 기능성 층을 의미할 수 있다. 예를 들어, 편광부재 및 편광자는 여러 방향으로 진동하는 입사 광으로부터 어느 한쪽 방향으로 진동하는 광은 투과하고, 나머지 방향으로 진동하는 광은 반사 또는 흡수하여 차단하는 기능을 가질 수 있다. 이러한 편광자는 예를 들어, 반사형 편광자 또는 흡수형 편광자일 수 있으며, 본 출원의 제 1 편광부재, 제 2 편광부재 및 편광자는 흡수형 편광자일 수 있다.
본 명세서에서 용어 「흡수형 편광자」는 여러 방향으로 진동하는 입사 광으로부터 투과축과 평행한 방향을 가지는 광은 투과하고, 나머지 방향으로 진동하는 광은 흡수하여 차단하는 층을 의미할 수 있다. 하나의 예시에서, 흡수형 편광자는 면 방향으로 서로 직교하는 투과축 및 흡수축을 가질 수 있다. 예를 들면, 상기 투과축과 흡수축이 이루는 각도가 85˚ 내지 95˚ 또는 90˚를 형성할 수 있고, 상기 투과축과 평행한 방향으로 진동하는 광은 투과할 수 있으며, 흡수축과 평행한 방향으로 진동하는 광은 반사 또는 흡수할 수 있다.
본 명세서에서 각도를 정의하면서, 수직, 평행, 직교 또는 수평 등의 용어를 사용하는 경우, 이는 목적하는 효과를 손상시키지 않는 범위에서의 실질적인 수직, 평행, 직교 또는 수평을 의미하는 것으로, 예를 들면, 제조 오차(error) 또는 편차(variation) 등을 감안한 오차를 포함하는 것이다. 예를 들면, 상기 각각의 경우는, 약 ±15˚ 이내의 오차, 약 ±10˚ 이내의 오차 또는 약 ±5˚ 이내의 오차를 포함할 수 있다.
상기 흡수형 편광자로는 이 분야에서 공지되어 있는 통상적인 흡수형 편광자를 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 흡수형 편광자로는 요오드 화합물 또는 유기 염료로 염색된 연신된 중합체막, 예를 들면, 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 사용할 수 있다. 이러한 흡수형 편광자는 통상적으로 투과축 및 상기 투과축에 직교하는 흡수축을 가질 수 있다.
하나의 예시에서, 상기 제 1 편광부재(200)는 상기 편광판(300)의 편광자(320)와 흡수축이 수직할 수 있다. 구체적으로, 상기 제 1 편광부재(200)가 제 1 방향(↔로 도시)으로 흡수축을 가질 경우, 상기 편광판(300)의 편광자(320)는 상기 제 1 편광부재(200)의 흡수축과 직교하는 제 2 방향으로 흡수축(↕로 도시)을 가질 수 있고, 상기 제 1 편광부재(200) 및 편광판(300)의 편광자(320)는 각각의 흡수축과 직교하는 방향(미도시)으로 투과축을 가질 수 있다. 상기 제 1 편광부재 및 편광판의 편광자는 흡수축을 수직하게 가짐으로써, 후술하는 바와 같이, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과하여 선편광된 광이 상기 편광판(300)의 1/4 파장판(330)을 거쳐 원편광된 광을 형성하고, 상기 원편광된 광이 상기 편광판(300)의 편광자(320)에 의해, 구체적으로, 상기 편광판(300)의 편광자(320)와 후술하는 보호 필름(310)의 계면에 의해 반사될 수 있다.
상기 편광판(300)은 액정얼룩(10)을 검사하기 위한 측정 대상이 되는 샘플로서, 검사부(미도시)에 포함될 수 있다. 예를 들어, 상기 편광판(300)은 검사부 상에 배치될 수 있다.
상기 편광판(300)은 상기 제 1 편광부재(200)를 투과한 광이 인가되도록 배치되어 상기 인과된 광을 반사한다. 예를 들어, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과하여 선편광된 광이 상기 편광판(300)의 1/4 파장판(330)을 거쳐 원편광된 광을 형성하고, 상기 원편광된 광이 상기 편광판(300)의 편광자(320)에 의해, 구체적으로, 상기 편광판(300)의 편광자(320)와 후술하는 보호 필름(310)의 계면에 의해 반사될 수 있다. 상기 편광판(300)의 편광자(320)에서 광을 반사시킴으로써, 우원 편광에서 좌원 편광 또는 좌원 편광에서 우원 편광으로 반사시킬 수 있다.
또한, 도 2에 나타낸 바와 같이, 상기 편광판(300)은 보호 필름(310) 및 이형 필름(340)을 더 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 편광판(300)은 보호 필름(310), 편광자(320), 1/4 파장판(330) 및 이형 필름(340)을 순차로 포함할 수 있다. 상기 편광판(300)이 보호 필름(310) 및 이형 필름(340)을 더 포함하는 경우, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과한 광은 상기 편광판(300)의 이형 필름(340)으로 인가되어 투과될 수 있다.
상기 보호 필름(310)은 상기 편광자(320)를 보호하기 위하여 부착되는 필름으로서, TAC 시트와 같이 이 분야에서 공지되어 있는 편광자용 보호 필름일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 상기 편광판(300)은 후술하는 유기발광표시장치에 적용 시, 상기 편광판(300)을 패널에 부착시킬 수 있는 점착제층(미도시)을 더 포함하고, 상기 점착제층을 보호하기 위하여 상기 이형 필름(340)이 상기 점착제층에 부착될 수 있다. 구체적으로, 상기 점착제층은 상기 1/4 파장판과 이형 필름의 사이에 형성될 수 있다. 상기 점착제층은 아크릴계 점착제, 실리콘계 점착제 또는 우레탄계 점착제로 이루어질 수 있고, 상기 이형 필름으로 폴리에틸렌테레프탈레이트계 필름 또는 폴리올레핀계 필름 등이 사용될 수 있다.
하나의 예시에서, 상기 편광판(300)은 유기발광표시장치용 편광판일 수 있다. 구체적으로, 유기발광표시장치는 전극의 노출로 인해 태양광, 조명 등의 외광 반사에 취약하다는 단점이 있어, 전원 OFF 상태에서 표면의 외광 반사를 차단하고 어두운 시감을 갖기 위하여 선편광된 광을 만들기 위한 편광자와 원편광된 광을 만들기 위한 1/4 파장판을 포함하는 편광판을 포함할 수 있다. 그러나, 액정표시장치는 두장의 편광판 사이에 액정을 이용하여 광의 진행 방향을 바꾸거나 빛의 세기를 조절하는 투과형 표시장치로서, 상기 편광판에 선편광된 광을 만드는 편광자를 포함하나 1/4 파장판을 필요로 하지 않는다.
본 명세서에서 용어 「1/4 파장판」은 입사되는 광을 그 파장의 1/4배만큼 위상 지연시킬 수 있는 위상지연 필름을 의미할 수 있다. 이러한 1/4 파장판은 원편광을 선편광으로 만들거나, 또는 선편광을 원편광으로 만들어주는 역할을 수행할 수 있다. 하나의 예시에서, 상기 1/4 파장판은 360 nm의 파장의 광에 대한 면 방향 위상차가 50 nm 내지 250 nm 또는 90 nm 내지 200 nm 정도일 수 있다. 본 명세서에서 용어 「면 방향 위상차」는 「(nx - ny) Х d」로 계산되는 수치이고, 상기 nx는 해당 층의 면상 지상축(slow axis) 방향의 굴절률이며, ny는 해당 층의 면상 진상축(fast axis) 방향의 굴절률이고, d는 사분파장필름의 두께이다. 또한, 본 명세서에서 용어 「지상축(slow axis)」은 1/4 파장판에서 가장 높은 굴절률을 나타내는 방향의 축을 의미할 수 있고, 상기 지상축은 본 명세서 내에서 위상지연 축과 동일한 의미로 사용될 수 있다. 본 명세서에서 용어 「진상축(fast axis)」은 1/4 파장판에서 가장 낮은 굴절률을 나타내는 방향의 축, 즉, 상기 지상축과 직교하는 방향을 의미할 수 있다.
하나의 예시에서, 본 출원의 1/4 파장판(330)은 액정 필름을 포함한다. 예를 들어, 상기 액정 필름은 기재 필름(미도시) 및 액정층(미도시)을 순차로 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 1/4 파장판(330)은 상기 기재 필름 상에 중합성 액정 화합물을 배향 및 중합시켜서 액정층이 형성된 액정 필름일 수 있다.
상기 액정층은 중합성 액정 화합물을 중합된 상태로 포함할 수 있다. 본 명세서에서 용어 「중합성 액정 화합물」은 액정성을 나타낼 수 있는 부위, 예를 들면 메조겐(mesogen) 골격 등을 포함하고, 중합성 관능기를 하나 이상 포함하는 화합물을 의미할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 용어 「중합성 액정 화합물을 중합된 상태로 포함할 수 있다는 것」은 상기 액정 화합물이 중합되어 액정층 내에서 액정 고분자의 주쇄 또는 측쇄와 같은 골격을 형성하고 있는 상태를 의미할 수 있다. 예를 들어, 상기 중합성 액정 화합물은 수평 배항된 상태로 상기 액정층 내에 포함되어 있을 수 있다. 본 명세서에서 용어 「수평 배향」은 중합된 액정 화합물을 포함하는 액정층의 광축이 액정층의 평면에 대하여 약 0˚ 내지 약 25˚, 약 0˚ 내지 약 15˚, 약 0˚ 내지 약 10˚, 약 0˚ 내지 약 5˚ 또는 약 0˚의 경사각을 가지는 경우를 의미할 수 있다.
하나의 예시에서, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과한 광은 상기 편광판(300)의 편광자(320)에서 반사될 수 있다. 구체적으로, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과하여 선편광된 광은 상기 편광판(300)의 1/4 파장판(330)을 투과하여 원편광되고, 상기 원편광된 광은 상기 편광판(300)의 편광자(320)에 입사되어 180˚도 회전될 수 있다. 즉, 상기 상기 편광판(300)의 편광자(320)에 입사된 원편광된 광은 우원 편광에서 좌원 편광 또는 좌원 편광에서 우원 편광으로 반사될 수 있다.
이때, 상기 반사된 광은 상기 편광판(300)의 1/4 파장판(330)을 투과함으로써, 상기 제 1 편광부재(200)를 투과하여 선편광된 광과 수직한 방향으로 정렬될 수 있다. 예를 들어, 상기 반사된 광이 상기 편광판(300)의 액정얼룩(10)이 존재하는 부분을 투과하여 선편광되는 경우, 상기 제 2 편광부재(400)의 흡수축과 일부는 평행하고, 일부는 평행하지 않게 정렬될 수 있고, 이로 인해 반사 시감이 달라질 수 있다. 또한, 상기 반사된 광이 상기 편광판(300)의 액정얼룩(10)이 존재하지 않는 부분을 투과하여 선편광되는 경우, 모두 상기 제 2 편광부재(400)의 흡수축과 수직하게, 즉, 투과축과 평행하게 정렬될 수 있다.
이 때, 상기 편광판(300)의 편광자(320)로부터 반사되어 방출되는 광은 상기 편광판(300)에 대한 반사각이 30˚ 내지 60˚일 수 있다. 예를 들어, 상기 편광판(300)에 대한 상기 반사 전극(400)으로부터 반사되어 방출되는 광의 반사각은 35˚ 내지 55˚ 또는 40˚ 내지 50˚일 수 있다. 상기 반사 전극(400)으로부터 반사되어 방출되는 광의 반사각이 전술한 범위를 만족함으로써, 액정얼룩의 시인성이 우수할 수 있다. 또한, 상기 편광판(300)의 편광자(320)로부터 반사되어 방출되는 광의 반사각이 전술한 범위에 비해 낮을 경우 시감 차이가 적게 나서 검출이 어렵고, 전술한 범위에 비해 높을 경우 표면 반사가 많이 되어 액정얼룩의 검출이 어려울 수 있다.
상기 제 2 편광부재(400)는 편광판(300)의 액정얼룩 유무에 따라 상기 편광판(300)으로부터 반사된 광을 투과 및/또는 흡수하는 부분으로, 상기 편광판(300)으로부터 반사된 광이 인가되도록 배치된다. 구체적으로, 상기 편광판(300) 내에 액정얼룩이 존재하는 부분을 인가하여 반사된 광은 제 2 편광부재(400)를 일부는 투과하고, 제 2 편광부재(400)에 일부는 흡수될 수 있다. 이와 반대로, 상기 편광판(300) 내에 액정얼룩이 존재하지 않는 부분을 인가하여 반사된 광은 제 2 편광부재(400)를 모두 투과할 수 있다. 상기 편광판으로부터 반사된 광이 상기 제 2 편광부재에 인가됨으로써, 검사원에서 검출되는 색을 통해 편광판의 액정얼룩을 검사할 수 있다.
하나의 예시에서, 상기 제 2 편광부재(400)는 상기 편광판(300)의 편광자(320)와 흡수축이 평행할 수 있다. 즉, 상기 제 2 편광부재(400)는 상기 제 1 편광부재(200)와 흡수축이 수직할 수 있다. 구체적으로, 상기 제 2 편광부재(400)가 제 2 방향(↕로 도시)으로 흡수축을 가질 경우, 상기 편광판(300)의 편광자(320)도 제 2 방향(↕로 도시)으로 흡수축을 가질 수 있고, 상기 제 2 편광부재(400) 및 편광판(300)의 편광자(320)는 각각 흡수축과 직교하는 제 1 방향(↔로 도시)으로 투과축을 가질 수 있다. 상기 제 2 편광부재 및 편광판의 편광자는 흡수축을 평행하게 가짐으로써, 상기 제 2 편광부재에 인가된 광을 통해 편광판의 액정얼룩을 검사할 수 있다.
상기 검사원(500)은 상기 제 2 편광부재(400)를 투과한 광에 기초하여 상기 편광판(300)의 액정얼룩(10)을 판단하기 위한 부분으로, 상기 제 2 편광부재(400)를 투과한 광이 인가되도록 배치된다. 구체적으로, 액정얼룩이 존재하여 1/4 파장판(330)에 두께차가 발생된 부분을 투과한 광은 제 2 편광부재(400)를 일부는 투과하고, 제 2 편광부재(400)에 일부는 흡수될 수 있고, 이로 인해 초록색을 나타낼 수 있다. 즉, 상기 제 2 편광부재(400)를 투과한 광이 초록색을 나타내는 부분은 액정얼룩이 존재하는 것으로 판단할 수 있다. 또한, 액정얼룩이 존재하지 않는 1/4 파장판(330)의 부분을 투과한 광은 모두 제 2 편광부재(400)를 투과하여 하얀색에 가까운 밝은색을 나타낼 수 있다. 즉, 상기 검사원(500)에서 검출된 광이 밝은색을 나타내는 부분은 액정얼룩이 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다.
하나의 예시에서, 상기 검사원(500)에서는 육안을 이용하여 직접적으로 편광판의 액정얼룩(10) 검사를 수행할 수 있고, 또 하나의 예시에서, 육안을 대신해 비디오 카메라 등의 촬상기를 이용하여 얻어진 화상을 컴퓨터를 통해 간접적으로 편광판의 액정얼룩(10) 검사를 수행할 수 있다.
본 출원은 또한, 편광판의 액정얼룩 검사방법에 관한 것이다. 예시적인 편광판의 액정얼룩 검사방법은, 전술한 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용한 검사방법에 관한 것이다. 따라서, 후술하는 편광판의 액정얼룩 검사방법에 관한 구체적인 사항은 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치에서 기술한 내용이 동일하게 적용될 수 있으므로, 생략하기로 한다.
본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사방법은 투과시키는 단계 및 판단하는 단계를 포함한다. 본 출원의 편광판의 액정얼룩 검사방법을 사용함으로써, 편광판에 발생되는 액정얼룩을 우수한 시인성으로 용이하게 검사할 수 있다.
상기 투과시키는 단계는 전술한 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 광을 투과시키는 단계로서, 면광원으로부터 광을 방출시켜 제 1 편광부재, 편광판, 제 2 편광부재를 순차로 투과시킨다. 상기 면광원, 제 1 편광부재, 편광판, 제 2 편광부재 및 광의 진행에 대한 구체적인 내용은 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치에서 전술한 바와 동일하므로 생략하기로 한다.
상기 판단하는 단계는 상기 편광판의 액정얼룩을 판단하기 위한 단계로서, 상기 제 2 편광부재를 투과하여 상기 검사원에 인가되는 광에 기초하여 상기 편광판의 액정얼룩으로 판단한다. 즉, 상기 면광원으로부터 상기 검사원으로 광이 도달하여 초록색을 나타내는 경우, 상기 편광판에 액정얼룩이 존재하는 것으로 판단하고, 상기 면광원으로부터 상기 검사원으로 광이 도달하여 하얀색에 가까운 밝은색을 나타내는 경우, 상기 편광판에 액정얼룩이 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다. 또한, 상기 검사원 및 광의 진행에 대한 구체적인 내용은 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치에서 전술한 바와 동일하므로 생략하기로 한다.
하나의 예시에서, 상기 편광판에 인가된 광은 반사될 수 있다. 구체적으로, 상기 편광판의 편광자를 투과한 광이 상기 편광판의 편광자, 더욱 구체적으로, 상기 편광판의 편광자와 보호 필름의 계면에서 반사될 수 있다. 상기 편광판에서 광의 반사를 통해 편광판의 액정얼룩을 검사할 수 있다. 상기 광의 반사에 대한 구체적인 내용은 상기 편광판의 액정얼룩 검사장치에서 전술한 바와 동일하므로 생략하기로 한다.
본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치, 다른 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 일 실시예에 따르지 않는 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여, 편광판의 액정얼룩이 검출되는지 검사를 수행하였다.
본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치는 광원으로 면광원을 사용하고, 상기 면광원을 편광판에 대한 입사각 45˚로 흡수축이 제 1 방향(↔)을 갖는 제 1 편광부재에 인가하여 선편광시키고, 선편광된 광을 액정얼룩이 존재하는 편광판의 1/4 파장판에 인가하여 우원편광시켰다. 이후, 우원편광된 광을 흡수축이 제 2 방향(↕)을 갖는 편광판의 편광자에 인가하여 180˚ 반사시켜 좌원편광시켰다. 이후, 좌원편광된 광을 상기 편광판의 1/4 파장판에 인가하여 투과시킴으로써, 제 1 편광부재를 통과하여 선편광된 광과 수직한 방향으로 정렬시켰다. 이후, 상기 선편광된 광을 흡수축이 제 2 방향(↕)을 갖는 제 2 편광부재에 인가하여 투과시킴으로써, 육안으로 검사하는 검사원에서 검사된 광을 통해 편광판의 액정얼룩이 검출되는 것을 확인하였다. 도 3은 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 초록색이 선명하다는 것을 확인하였다. 즉, 본 출원의 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하는 경우, 우수한 시인성으로 편광판의 액정얼룩의 검사가 가능하다는 것을 확인하였다.
또한, 본 출원의 다른 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치는 제 1 편광부재, 편광판의 편광자 및 제 2 편광부재의 흡수축을 90˚ 회전시킨 것을 제외하고, 상기 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치와 동일한 방법으로 편광판의 액정얼룩 검사를 수행하였다. 도 4는 본 출원의 다른 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다. 도 4에 나타낸 바와 같이, 초록색이 선명하다는 것을 확인하였다. 즉, 본 출원의 다른 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하는 경우, 우수한 시인성으로 편광판의 액정얼룩의 검사가 가능하다는 것을 확인하였다.
또한, 본 출원의 일 실시예에 따르지 않는 편광판의 액정얼룩 검사장치는 광원으로 면광원 대신 점광원을 사용한 것을 제외하고, 상기 일 실시예에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치와 동일한 방법으로 편광판의 액정얼룩 검사를 수행하였다. 도 5는 본 출원의 일 실시예에 따르지 않는 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하기 위해 제 2 편광부재를 디지털카메라로 촬영한 이미지이다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 초록색이 흐릿하다는 것을 확인하였다. 즉, 본 출원의 일 실시예에 따르지 않는 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용하여 편광판의 액정얼룩을 검사하는 경우, 편광판의 액정얼룩이 검출되긴 하였으나, 광량이 균일하지 않아 시인성이 떨어지는 것을 확인하였다.
10: 액정얼룩
100: 면광원
200: 제 1 편광부재
300: 편광판
310: 보호 필름
320: 편광자
330: 1/4 파장판
340: 이형 필름
400: 제 2 편광부재
500: 검사원

Claims (13)

  1. 면광원;
    상기 면광원으로부터 광이 인가되도록 배치된 제 1 편광부재;
    상기 제 1 편광부재를 투과한 광이 인가되도록 배치되어 상기 인가된 광을 반사하는 편광판;
    상기 편광판으로부터 반사된 광이 인가되도록 배치된 제 2 편광부재; 및
    상기 제 2 편광부재를 투과한 광이 인가되도록 배치되고, 상기 제 2 편광부재를 투과한 광에 기초하여 상기 편광판의 액정얼룩을 판단하는 검사원을 포함하며,
    상기 편광판은 편광자, 및 액정 필름을 포함하는 1/4 파장판을 순차로 포함하고,
    상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판의 1/4 파장판으로 인가되며,
    1/4파장판을 통과한 광은 편광자에서 반사된 후, 제2 편광부재로 인가되고,
    상기 제 1 편광부재는 상기 편광판의 편광자와 흡수축이 수직하게 마련되며,
    상기 제 2 편광부재는 상기 편광판의 편광자와 흡수축이 평행하게 마련된, 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 면광원은 상기 제 1 편광부재 측으로 무편광된 광을 방출하는 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 면광원으로부터 방출되는 광은 상기 편광판에 대한 입사각이 30˚ 내지 60˚인 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 편광판은 보호 필름 및 이형 필름을 더 포함하고, 보호 필름, 편광자, 1/4 파장판 및 이형 필름을 순차로 포함하는 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 편광판은 유기발광표시장치용 편광판인 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 액정 필름은 기재 필름 및 액정층을 순차로 포함하는 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 액정층은 중합성 액정 화합물을 중합된 상태로 포함하는 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판의 편광자에서 반사되는 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 편광판으로부터 반사되어 방출되는 광은 상기 편광판에 대한 반사각이 30˚ 내지 60˚인 편광판의 액정얼룩 검사장치.
  11. 삭제
  12. 제 1 항에 따른 편광판의 액정얼룩 검사장치를 이용한 편광판의 액정얼룩 검사방법에 관한 것으로,
    면광원으로부터 광을 방출시켜 제 1 편광부재, 편광판, 제 2 편광부재를 순차로 투과시키는 단계; 및
    상기 제 2 편광부재를 투과하여 상기 검사원에 인가되는 광에 기초하여 상기 편광판의 액정얼룩을 판단하는 단계를 포함하며,
    상기 편광판은 편광자, 및 액정 필름을 포함하는 1/4 파장판을 순차로 포함하고,
    상기 제 1 편광부재를 투과한 광은 상기 편광판의 1/4 파장판으로 인가되며,
    1/4파장판을 통과한 광은 편광자에서 반사된 후, 제2 편광부재로 인가되는 편광판의 액정얼룩 검사방법.
  13. 삭제
KR1020190067543A 2019-06-07 2019-06-07 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법 KR102486442B1 (ko)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190067543A KR102486442B1 (ko) 2019-06-07 2019-06-07 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법
JP2021568603A JP7410979B2 (ja) 2019-06-07 2020-03-09 偏光板の液晶ムラ検査装置および偏光板の液晶ムラ検査方法
EP20818594.2A EP3982193A4 (en) 2019-06-07 2020-03-09 DEVICE AND METHOD FOR DETECTING A LIQUID CRYSTALS MURA EFFECT IN A POLARIZATION PLATE
CN202080036418.1A CN113841083A (zh) 2019-06-07 2020-03-09 偏光板的液晶污点检查装置和偏光板的液晶污点检查方法
PCT/KR2020/003256 WO2020246691A1 (ko) 2019-06-07 2020-03-09 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법
US17/611,873 US20220228994A1 (en) 2019-06-07 2020-03-09 Device and method for inspecting liquid crystal stain of polarizing plate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190067543A KR102486442B1 (ko) 2019-06-07 2019-06-07 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200140638A KR20200140638A (ko) 2020-12-16
KR102486442B1 true KR102486442B1 (ko) 2023-01-09

Family

ID=73652455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190067543A KR102486442B1 (ko) 2019-06-07 2019-06-07 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20220228994A1 (ko)
EP (1) EP3982193A4 (ko)
JP (1) JP7410979B2 (ko)
KR (1) KR102486442B1 (ko)
CN (1) CN113841083A (ko)
WO (1) WO2020246691A1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7256567B1 (ja) * 2022-04-28 2023-04-12 ニシハツ産業株式会社 海苔異物確認装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009069054A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Otsuka Denshi Co Ltd 光学異方性測定装置および光学異方性測定方法
JP2017067664A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 日東電工株式会社 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5973760A (en) * 1997-08-06 1999-10-26 Rockwell Science Center, Inc. Display apparatus having quarter-wave plate positioned to eliminate conflicts with polarized sunglasses
JP3401743B2 (ja) * 1997-10-22 2003-04-28 日東電工株式会社 偏光素子、偏光光源装置及び液晶表示装置
JP2001116925A (ja) 1999-10-20 2001-04-27 Sumitomo Chem Co Ltd 光学シートの検査方法
US6661482B2 (en) * 2001-10-05 2003-12-09 Nitto Denko Corporation Polarizing element, optical element, and liquid crystal display
JP4362335B2 (ja) 2003-08-27 2009-11-11 エスペックテクノ株式会社 検査装置
JP2006078426A (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Konica Minolta Holdings Inc 欠陥検査装置、欠陥検査方法
US20070075279A1 (en) 2005-09-30 2007-04-05 Intergral Vision, Inc. Method and system for automatically inspecting a display including a layer of liquid crystal material
KR101057626B1 (ko) 2008-01-07 2011-08-19 주식회사 엘지화학 화상 분석을 이용한 편광판 얼룩 검사 방법 및 이를 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 시스템
JP2012068641A (ja) * 2008-04-14 2012-04-05 Nitto Denko Corp 光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法
JP2012053077A (ja) * 2010-08-31 2012-03-15 Sumitomo Chemical Co Ltd ロール状偏光板のセット及びその製造方法並びに液晶パネルの製造方法
JP5806837B2 (ja) * 2011-04-11 2015-11-10 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
TW201400800A (zh) 2012-06-18 2014-01-01 Fujifilm Corp 圖案相位差濾光片的檢查裝置以及檢查方法
CN105283783A (zh) * 2013-06-06 2016-01-27 富士胶片株式会社 光学片部件及使用该光学片部件的图像显示装置
JP6766318B2 (ja) 2015-04-15 2020-10-14 大日本印刷株式会社 光学フィルム、転写フィルム、画像表示装置、光学フィルムの製造方法及び転写フィルムの製造方法
WO2016194874A1 (ja) 2015-06-05 2016-12-08 住友化学株式会社 光透過性フィルムの欠陥検査方法、直線偏光子フィルムの製造方法及び偏光板の製造方法
CN107643292B (zh) 2016-07-20 2021-05-04 南京造币有限公司 一种基于液晶玻璃的表面检测装置及其方法
KR20180050802A (ko) * 2016-11-07 2018-05-16 주식회사 엘지화학 유기발광장치
KR102430497B1 (ko) 2017-12-07 2022-08-08 삼성전자주식회사 발광소자의 제조 방법
JP7392278B2 (ja) 2019-03-29 2023-12-06 東洋紡株式会社 液晶化合物積層体の製造方法、及び液晶化合物層の検査方法
JP7404635B2 (ja) 2019-03-29 2023-12-26 東洋紡株式会社 配向液晶化合物層積層体の製造方法
KR20200132731A (ko) 2019-05-15 2020-11-25 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 광학 필름의 검사 방법 및 광학 필름의 제조 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009069054A (ja) * 2007-09-14 2009-04-02 Otsuka Denshi Co Ltd 光学異方性測定装置および光学異方性測定方法
JP2017067664A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 日東電工株式会社 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020246691A1 (ko) 2020-12-10
CN113841083A (zh) 2021-12-24
KR20200140638A (ko) 2020-12-16
US20220228994A1 (en) 2022-07-21
JP7410979B2 (ja) 2024-01-10
EP3982193A4 (en) 2022-07-27
EP3982193A1 (en) 2022-04-13
JP2022532427A (ja) 2022-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11726249B2 (en) Optical retarder segments
JP4960026B2 (ja) フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
CN101360989B (zh) 层叠薄膜的制造方法、层叠薄膜的缺陷检测方法、以及层叠薄膜的缺陷检测装置
US10215854B2 (en) Distance measuring module comprising a variable optical attenuation unit including an LC cell
US20110199561A1 (en) Liquid Crystal Display Device
JP2007004144A5 (ko)
KR20090046778A (ko) 반사 편광기 및 흡수 편광기를 포함하는 편광 빔 스플리터,및 그의 이미지 디스플레이 시스템
CN101360990A (zh) 层叠薄膜的制造方法、层叠薄膜的缺陷检测方法、层叠薄膜的缺陷检测装置、层叠薄膜、以及图像显示装置
TW201534886A (zh) 光學膜之檢查裝置及方法
JP5158468B2 (ja) 被検査基板の検査システム及び被検査基板の検査方法
KR102486442B1 (ko) 편광판의 액정얼룩 검사장치 및 편광판의 액정얼룩 검사방법
JP2008292201A (ja) 積層フィルムの検査方法及び積層フィルムの検査装置
TW201512736A (zh) 用於偵測缺陷基板之液晶調變器及具有該液晶調變器之檢驗裝置
JP2008267991A (ja) 位相差フィルム検査装置、位相差フィルムの検査方法およびこれを用いた位相差フィルムの製造方法
JP2020160422A (ja) 検査方法及び検査装置
JP2022535095A (ja) 偏光板の接着剤ムラ検査装置及び偏光板の接着剤ムラ検査方法
WO2018070830A1 (ko) 광고립 장치
CN112219114A (zh) 显示单元的异物检查系统
KR102041807B1 (ko) 광학 특성 검사기 및 광학 특성 검사 방법
US20100110432A1 (en) Method and system for evaluating optical properties of compensation layer
TW202141083A (zh) 金屬線柵偏光片之影像式判定裝置
JP2011033564A (ja) 光学フィルムの検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant